JPH0666721A - Identifying method for substance, sensor using the same and semiconductor laser type substrate identifying sensor - Google Patents

Identifying method for substance, sensor using the same and semiconductor laser type substrate identifying sensor

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JPH0666721A
JPH0666721A JP11545992A JP11545992A JPH0666721A JP H0666721 A JPH0666721 A JP H0666721A JP 11545992 A JP11545992 A JP 11545992A JP 11545992 A JP11545992 A JP 11545992A JP H0666721 A JPH0666721 A JP H0666721A
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Abstract

PURPOSE:To obtain a semiconductor laser type substance identifying sensor which can be applied to a micromachining, has a small size and can be integrated. CONSTITUTION:A semiconductor laser type substance identifying sensor comprises a Fabry-Perot type semiconductor laser 1, a photodiode 2, a photoreceiver 3, a recorder 4 and a driving circuit 6. Liquid 8 to be inspected in contact with a light emitting surface of the laser 1 detects a laser output light P of the laser 1 by the photodiode 2 by utilizing a phenomenon of variation in the light P by varying characteristics of the laser 1, and plots the variation in the light P. The laser 1 and the photodiode 2 can be integrated on the same semiconductor substrate by semiconductor integrating technique with small size.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザの発光面に
接触する液体などの物質の物性(特性)に依存して半導
体レーザの励起状態が変化することを利用して物質の識
別または物質の物性を識別する方法およびそれを用いた
半導体レーザ式物質識別センサに関する。特に,本発明
はFIA(Flow Injection Analysis)またはマイクロマ
シニングなどへの適用に好適な小型かつ集積化可能な光
センサのセンシング部およびそのセンシング部を用いた
半導体レーザ式物質識別センサに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention utilizes the fact that the excited state of a semiconductor laser changes depending on the physical properties (characteristics) of a substance such as a liquid contacting the light emitting surface of the semiconductor laser. The present invention relates to a method for identifying physical properties and a semiconductor laser type material identification sensor using the method. In particular, the present invention relates to a sensing unit of a compact and integratable optical sensor suitable for application to FIA (Flow Injection Analysis) or micromachining, and a semiconductor laser type substance identification sensor using the sensing unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】物質,より特定的には液体(または溶
液)を識別(特定)する,あるいは,その液体の物質の
物性を検証するセンサとしては光センサが知られてい
る。そのような光センサの適用例としては,液体の種別
の特定,液体の糖分等の濃度測定,物質表面の水分等の
吸着物の測定あるいは光ファイバを利用した水や油の漏
洩検出などがある。
2. Description of the Related Art An optical sensor is known as a sensor for identifying (specifying) a substance, more specifically a liquid (or solution), or verifying the physical properties of the substance of the liquid. Examples of applications of such optical sensors include identification of the type of liquid, measurement of the concentration of sugar in the liquid, measurement of adsorbates such as water on the surface of the substance, or detection of water or oil leaks using optical fibers. .

【0003】そのような光センサのうち,液体の種別の
特定,液体の糖分等の濃度測定,液体表面の水分等の吸
着物の測定などに使用する光センサは通常,計測対象で
ある液体に光を照射した際の光の反射率,透過率あるい
は屈折率などを測定してその計測結果からその液体の種
別を識別またはその液体の物性を検証している。
Among such optical sensors, the optical sensor used for identifying the type of liquid, measuring the concentration of sugar in the liquid, measuring adsorbed substances such as water on the surface of the liquid is usually used for the liquid to be measured. The reflectance, transmittance, or refractive index of light when irradiated with light is measured, and the type of liquid is identified or the physical properties of the liquid are verified from the measurement results.

【0004】最近のFIAやマイクロマシーニング技術
を用いた各種計測機器においては,検出環境条件,検出
対象の量などの理由で小型かつ高性能なマイクロセンサ
あるいはスマートセンサの開発が要望されている。ま
た,検出原理の観点からも,特に,センシング部は小型
であることが望ましい。さらに,信号処理系を含めたセ
ンサ全体の寸法が小型であることが好ましく,半導体技
術を適用してセンサ全体を集積化することが望ましい。
For various measuring instruments using the FIA or micromachining technology, there is a demand for development of a small and high-performance microsensor or smart sensor due to reasons such as detection environmental conditions and the amount of detection target. Also, from the viewpoint of the detection principle, it is desirable that the sensing unit is particularly small. Further, it is preferable that the size of the entire sensor including the signal processing system is small, and it is desirable to apply the semiconductor technology to integrate the entire sensor.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来知られている光セ
ンサは,しかしながら,それらのいずれもそのセンシン
グ部を,発光部として発光ダイオードまたは単なる光出
射手段としての半導体レーザ,受光部を構成するフォト
ダイオードなど,それぞれが汎用的に使用されている個
別電子部品を組み合わせて構成しているため,センシン
グ部が比較的大きいという問題に遭遇している。その結
果として,光センサの寸法も大きい。かりにこれらの個
別電子部品を通常の一体化技術を適用して一体構造に形
成しても,センサとして要望されている上記要件を満足
させることはできない。
However, in any of the conventionally known photosensors, any of them has a sensing portion, a light emitting diode as a light emitting portion or a semiconductor laser as a simple light emitting means, and a photodetector constituting a light receiving portion. Since it is constructed by combining individual electronic components that are commonly used, such as diodes, we have encountered the problem that the sensing part is relatively large. As a result, the size of the optical sensor is also large. Even if these individual electronic components are formed into an integral structure by applying a normal integration technique, the above requirements required for a sensor cannot be satisfied.

【0006】したがって,本発明は上述した問題に鑑
み,センサの小型化,集積化を可能ならしめる新規な実
用的な物質識別方法の開発と,その物質識別方法を用い
た光センシング部分のセンシング部,および,半導体レ
ーザ式物質識別センサを提供することを目的とする。
Therefore, in view of the above-mentioned problems, the present invention develops a new practical substance identification method that enables miniaturization and integration of a sensor, and a sensing unit of an optical sensing section using the substance identification method. , And a semiconductor laser type substance identification sensor.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本件出願の発明者は,上
述した目的を達成するため,センサ自身が極めて小さく
形成できかつ集積可能なセンサを得るため鋭意研究検討
した結果,半導体レーザの反射面側発光面(光出射面)
に液体などの物質が接触した際生じる接触物質の物性に
起因する半導体レーザ自身の発振状態が変化する原理を
利用し,物質を識別または物質の物性を識別できること
を見出した。したがって,本発明によれば,半導体レー
ザの光出射部(発光面)に接触した物質に応じて規定さ
れるその半導体レーザの発振状態の変化を検出して上記
接触物質の種別または物性を識別する物質識別方法が提
供される。
Means for Solving the Problems The inventors of the present application have earnestly studied to obtain a sensor in which the sensor itself can be made extremely small and can be integrated in order to achieve the above-mentioned object. Side emission surface (light emission surface)
It has been found that the substance can be identified or the physical property of the substance can be identified by utilizing the principle that the oscillation state of the semiconductor laser itself changes due to the physical property of the contact substance generated when the substance such as liquid contacts. Therefore, according to the present invention, the type or physical property of the contact substance is identified by detecting the change in the oscillation state of the semiconductor laser, which is defined according to the substance in contact with the light emitting portion (light emitting surface) of the semiconductor laser. A method for identifying a substance is provided.

【0008】また本発明によれば,光出射部に接触した
物質に応じてその半導体レーザの発振状態が変化する半
導体レーザを光センサのセンシング部としたことを特徴
とする光センサが提供される。
Further, according to the present invention, there is provided an optical sensor characterized in that a semiconductor laser in which the oscillation state of the semiconductor laser changes according to a substance in contact with the light emitting portion is used as a sensing portion of the optical sensor. .

【0009】さらに本発明によれば,半導体レーザと,
この半導体レーザの動作状態を検出する手段と,この半
導体レーザ動作状態検出手段で検出した半導体レーザの
動作状態から半導体レーザの光出射部に接触した物質の
種別または物性を識別する手段とを有する半導体レーザ
式物質識別センサが提供される。特定的には,半導体レ
ーザを一定電流状態で付勢する場合は,半導体レーザ動
作状態検出手段は,半導体レーザの一方の光出射部に対
向する他方の光出射部と所定の間隔を隔てて位置する光
検出手段である。あるいは,半導体レーザを一定出力状
態で付勢する場合は,半導体レーザ動作状態検出手段は
半導体レーザの駆動電流を検出する電流検出手段であ
る。
Furthermore, according to the present invention, a semiconductor laser,
A semiconductor having means for detecting the operating state of the semiconductor laser, and means for identifying the type or physical property of the substance in contact with the light emitting portion of the semiconductor laser from the operating state of the semiconductor laser detected by the semiconductor laser operating state detecting means. A laser based material identification sensor is provided. Specifically, when the semiconductor laser is energized in a constant current state, the semiconductor laser operating state detecting means is located at a predetermined distance from the other light emitting portion facing the one light emitting portion of the semiconductor laser. It is a light detecting means. Alternatively, when the semiconductor laser is energized in a constant output state, the semiconductor laser operating state detecting means is a current detecting means for detecting the drive current of the semiconductor laser.

【0010】半導体レーザはファブリペロー型共振器を
有する半導体レーザまたは同等の半導体レーザであるこ
とが好適である。また半導体レーザは分布帰還型半導体
レーザまたは同等の半導体レーザであることが好適であ
る。
The semiconductor laser is preferably a semiconductor laser having a Fabry-Perot resonator or an equivalent semiconductor laser. The semiconductor laser is preferably a distributed feedback semiconductor laser or an equivalent semiconductor laser.

【0011】また好適には,本発明によれば,光出射部
に接触した物質に応じてその動作状態の変化が規定され
るその半導体レーザと,この半導体レーザの一方の光出
射部と対向する他方の光出射部と所定の間隔を隔てて位
置する受光素子とを同一半導体基板に集積化発光・受光
デバイスとして一体化形成したことを特徴とする光セン
サのセンシング部が提供される。さらに上記センシング
部を用いた半導体レーザ式物質識別センサが提供され
る。この半導体レーザ式物質識別センサは,上記センシ
ング部と,上記センシング部内の半導体レーザを付勢す
る回路と,上記センシング部内の受光素子からの検出信
号を信号処理して上記半導体レーザの光出射部に接触し
た物質の種別または物性を識別する自動物質識別手段
と,該自動物質識別手段で識別した識別結果を出力する
識別結果出力手段とを有する。
Further, according to the present invention, preferably, the semiconductor laser whose change in operating state is regulated according to the substance in contact with the light emitting portion and one light emitting portion of the semiconductor laser are opposed to each other. There is provided a sensing part of an optical sensor, characterized in that the other light emitting part and a light receiving element located at a predetermined interval are integrally formed on the same semiconductor substrate as an integrated light emitting / light receiving device. Further, there is provided a semiconductor laser type substance identification sensor using the sensing unit. This semiconductor laser type substance identification sensor performs signal processing on a detection signal from the sensing section, a circuit for energizing the semiconductor laser in the sensing section, and a light receiving element in the sensing section, and outputs the signal to a light emitting section of the semiconductor laser. The automatic substance identification means for identifying the type or physical property of the contacted substance and the identification result output means for outputting the identification result identified by the automatic substance identification means.

【0012】[0012]

【作用】本発明による上記センシング部を有する光セン
サおよび半導体レーザ式物質識別センサは,半導体レー
ザの発光面に物質が接触する際にその接触物質の物性に
依存して生じる半導体レーザ自身の発振状態の変化を測
定することにより,その接触物質の種別を識別またはそ
の物質の物性を検証する。つまり,半導体レーザの2つ
の対向する発光領域の少なくとも一方の光出射面に気体
や液体などの物質を接触させると接触物質の誘電率(屈
折率)に応じて発光領域の反射率が変化する。この反射
率変化は,たとえば,化合物半導体で形成されたダブル
ヘテロ型半導体レーザの反射損失の変化を引き起こし,
結果的に発振状態,すなわち,しきい値電流および外部
量子微分効率が変化する。その半導体レーザの発振状態
の変化を検出する方法としては,2つの方法があり,半
導体レーザを定電流駆動する場合には発振状態の変化を
レーザ出力変化として検出する,あるいは,定出力駆動
する場合には駆動電流変化として検出する。物質の種別
識別する,あるいは,物質の物性を識別する手段は,予
め決定しておいた上記半導体レーザの発振状態の変化特
性から,検出対象の物質を識別,あるいは,その物質の
物性を識別する。
The optical sensor and the semiconductor laser type substance identification sensor according to the present invention have the oscillation state of the semiconductor laser itself which depends on the physical properties of the contact substance when the substance contacts the light emitting surface of the semiconductor laser. By measuring the change in, the type of the contact substance is identified or the physical properties of the substance are verified. That is, when a substance such as a gas or a liquid is brought into contact with the light emitting surface of at least one of the two facing light emitting regions of the semiconductor laser, the reflectance of the light emitting region changes according to the dielectric constant (refractive index) of the contact substance. This change in reflectance causes, for example, a change in reflection loss of a double hetero semiconductor laser formed of a compound semiconductor,
As a result, the oscillation state, that is, the threshold current and the external quantum differential efficiency change. There are two methods for detecting the change in the oscillation state of the semiconductor laser. When the semiconductor laser is driven by a constant current, the change in the oscillation state is detected as a laser output change, or when the constant output is driven. Is detected as a drive current change. The means for identifying the type of the substance or for identifying the physical property of the substance identifies the substance to be detected or the physical property of the substance from the change characteristic of the oscillation state of the semiconductor laser which is determined in advance. .

【0013】半導体レーザ式物質識別センサは,その主
要部品として,縦および横が数十μmから数百μm,厚
さ約100μm程度の極めて微小な半導体レーザを用い
るため,極めて微小なセンシング部を構成できること,
半導体レーザの微小な発光領域に接触した物質を測定で
きることから微小領域の物質の識別が可能となる。この
ように,光センサのセンシング部分を非常に小型に形成
できるから,それを用いた半導体レーザ式物質識別セン
サも小型になり,マイクロセンサとして実用できる。
Since the semiconductor laser type substance identification sensor uses an extremely minute semiconductor laser having several tens of μm to several hundreds of μm in length and width and about 100 μm in thickness as its main components, an extremely minute sensing section is constructed. What you can do
Since the substance in contact with the minute light emitting region of the semiconductor laser can be measured, the substance in the minute region can be identified. In this way, the sensing portion of the optical sensor can be made extremely small, and the semiconductor laser type substance identification sensor using it can also be made small and can be used as a microsensor.

【0014】ここで用いられる半導体レーザとしては,
ファブリペロー型共振器を有する半導体レーザまたは同
等の半導体レーザが好適である。その理由は,利得が大
きく,内部損失が小さく,反射損失が小さく,増幅が容
易であるからである。ファブリペロー型共振器を有する
半導体レーザは,たとえば,GaAs,AlGaAs,
InGaAs,InGaAsPなどの化合物半導体から
なるダブルヘテロ型レーザあるいは量子井戸レーザであ
る。また,半導体レーザとしては分布帰還型半導体レー
ザ,または,DBR,DFBなどの進行波型半導体レー
ザも好適である。
As the semiconductor laser used here,
A semiconductor laser having a Fabry-Perot resonator or an equivalent semiconductor laser is suitable. The reason is that the gain is large, the internal loss is small, the reflection loss is small, and the amplification is easy. A semiconductor laser having a Fabry-Perot resonator is, for example, GaAs, AlGaAs,
It is a double hetero laser or a quantum well laser made of a compound semiconductor such as InGaAs or InGaAsP. Further, as the semiconductor laser, a distributed feedback type semiconductor laser or a traveling wave type semiconductor laser such as DBR or DFB is also suitable.

【0015】半導体レーザおよびフォトダイオードなど
の光検出手段をその形成プロセスにおいて集積化するこ
とが容易であり,集積化発光・受光デバイスとしてセン
シング部を小型にできる。この集積化発光・受光デバイ
スを有するセンシング部に,半導体レーザ付勢回路,自
動物質識別手段および識別結果出力手段を付加すると,
スマートセンサとして,あるいは,FIAやマイクロマ
シーニングに好適に適用可能な半導体レーザ式物質識別
センサが構成される。
Photodetection means such as a semiconductor laser and a photodiode can be easily integrated in the forming process, and the sensing portion can be miniaturized as an integrated light emitting / receiving device. When a semiconductor laser energizing circuit, automatic substance identification means, and identification result output means are added to the sensing unit having this integrated light emitting / receiving device,
As a smart sensor, or a semiconductor laser type substance identification sensor which can be suitably applied to FIA or micromachining is configured.

【0016】[0016]

【実施例】図1に本発明の半導体レーザ式物質識別セン
サの実施例の構成図である。この半導体レーザ式物質識
別センサは,ファブリペロー型共振器を有する半導体レ
ーザ(ファブリペロー型半導体レーザ)1,この半導体
レーザのレーザ出力光を検出するシリコンフォトダイオ
ードあるいはPINフォトダイオードなどのフォトダイ
オード2,このフォトダイオードと協働しフォトダイオ
ード2の検出信号を信号処理する受光回路3,半導体レ
ーザ1の特性変化をレーザ出力光の変化としてプロット
するレコーダ4,半導体レーザ1の駆動電流を検出する
カレントプローブ5,および,半導体レーザ1を付勢す
る駆動回路6から構成されている。後述するように,フ
ォトダイオード2および受光回路3,または,カレント
プローブ5のいずれかを設ければよい。この半導体レー
ザ式物質識別センサを用いて,後述する検出(識別)動
作に従って,試料台7に載置されたファブリペロー型半
導体レーザ1の周囲,特に,その反射面に接触するよう
にピペット9を用いて置かれた検査対象液体8の種別を
特定する。
1 is a block diagram of an embodiment of a semiconductor laser type substance identification sensor of the present invention. This semiconductor laser type substance identification sensor includes a semiconductor laser (Fabry-Perot type semiconductor laser) having a Fabry-Perot type resonator, a photodiode such as a silicon photodiode or a PIN photodiode for detecting laser output light of the semiconductor laser, and the like. A light receiving circuit which cooperates with this photodiode to process a detection signal of the photodiode 2, a recorder which plots a characteristic change of the semiconductor laser 1 as a change of laser output light, and a current probe which detects a driving current of the semiconductor laser 1. 5, and a drive circuit 6 for energizing the semiconductor laser 1. As will be described later, either the photodiode 2 and the light receiving circuit 3, or the current probe 5 may be provided. Using this semiconductor laser type substance identification sensor, the pipette 9 is brought into contact with the periphery of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 placed on the sample stage 7, in particular, its reflective surface, according to a detection (identification) operation described later. The type of the liquid 8 to be inspected placed is specified.

【0017】図2に半導体レーザ1の1例としての断面
構造を示した斜視図を示す。この半導体レーザ1は,た
とえば,共振器長L=300μm,電極幅W=100μ
m,高さH=300μm,つまり,その外形寸法が30
0×300×100μmである化合物半導体をヘテロ接
合したGaAs/AlGaAs量子井戸レーザであり,
図1に示すように,その両端部から,たとえば,2.5
×10μm〜200×10μm程度の波長の光を出射
(放射)する。共振器長Lがファブリペロー型共振器と
しての長さを規定している。
FIG. 2 is a perspective view showing a sectional structure as an example of the semiconductor laser 1. This semiconductor laser 1 has, for example, a cavity length L = 300 μm and an electrode width W = 100 μm.
m, height H = 300 μm, that is, its external dimensions are 30
A GaAs / AlGaAs quantum well laser in which a compound semiconductor of 0 × 300 × 100 μm is heterojunction,
As shown in FIG. 1, from both ends, for example, 2.5
It emits (emits) light having a wavelength of about × 10 μm to 200 × 10 μm. The resonator length L defines the length as a Fabry-Perot resonator.

【0018】図3は図2に示したファブリペロー型半導
体レーザ1の動作特性の変化を記述するため,図2に示
したファブリペロー型半導体レーザ1を模式的に示した
斜視図である。図2および図3を参照すると,ファブリ
ペロー型半導体レーザ1は,量子井戸を規定している活
性層とその両面に形成されたクラッド層とを有し,駆動
回路6から駆動電流Iが印加されると,その両端面から
前面光FLと背面光RLとを出射する。検査対象液体8
が光出射部に接触していないときのレーザ出力光をP0
とする。ファブリペロー型半導体レーザ1の右側の端面
は反射面となっていて,その反射率をRとする。反射面
に屈折率nの検査対象液体8が接触したとき,屈折率n
と反射率をRとの間には式1で規定される関係式が成立
する。
FIG. 3 is a perspective view schematically showing the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 shown in FIG. 2 in order to describe the change in operating characteristics of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 shown in FIG. Referring to FIGS. 2 and 3, the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 has an active layer defining a quantum well and cladding layers formed on both sides thereof, and a drive current I is applied from a drive circuit 6. Then, the front light FL and the back light RL are emitted from both end surfaces thereof. Inspection target liquid 8
The laser output light when P is not in contact with the light emitting portion is P 0
And The right end surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 is a reflecting surface, and its reflectance is R. When the inspection target liquid 8 having a refractive index n comes into contact with the reflecting surface, the refractive index n
And the reflectance R, the relational expression defined by Expression 1 is established.

【数1】 [Equation 1]

【0019】ファブリペロー型半導体レーザ1の上記反
射面に対向する他方の面からもレーザ出力光Pが出力さ
れ,このレーザ出力光Pを受光面が,たとえば,9x9
mmのフォトダイオード2で検出する。フォトダイオー
ド2で検出したレーザ出力光Pは受光回路3を介してレ
コーダ4に入力されてその検出値がプロットされる。
The laser output light P is also output from the other surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 facing the above reflection surface, and the light receiving surface of this laser output light P is, for example, 9 × 9.
It is detected by the photodiode 2 of mm. The laser output light P detected by the photodiode 2 is input to the recorder 4 via the light receiving circuit 3 and the detected value is plotted.

【0020】図4は上記ファブリペロー型半導体レーザ
1の動作特性変化を示すグラフである。ファブリペロー
型半導体レーザ1のレーザ出力光Pは,駆動回路6から
のファブリペロー型半導体レーザ1に印加される駆動電
流Iが電流しきい値Ith以下の小さい領域では線形に増
加するが,その増加率は小さい。駆動電流Iが電流しき
い値Ithを越えると,レーザ出力光Pの増加率は極端に
大きくなり,駆動回路6からファブリペロー型半導体レ
ーザ1に印加される駆動電流Iの増加についてレーザ出
力光Pが大きくなる。検査対象液体8を識別するとき,
駆動回路6は電流しきい値Ith以上の駆動電流Iでファ
ブリペロー型半導体レーザ1を駆動(付勢)する。
FIG. 4 is a graph showing changes in operating characteristics of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1. The laser output light P of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 linearly increases in a small region where the drive current I applied from the drive circuit 6 to the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 is less than or equal to the current threshold value I th. The rate of increase is small. When the drive current I exceeds the current threshold value I th , the rate of increase of the laser output light P becomes extremely large, and the increase of the drive current I applied from the drive circuit 6 to the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 increases the laser output light. P becomes large. When identifying the liquid to be inspected 8,
The drive circuit 6 drives (energizes) the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 with a drive current I equal to or higher than the current threshold value I th .

【0021】式2は電流しきい値Ithと,ファブリペロ
ー型半導体レーザ1の反射率R,共振器長L,電極の面
積S,内部損失αi と,定数β,Γ,I0 との関係を示
す。
Equation 2 is the current threshold I th , the reflectance R of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1, the cavity length L, the electrode area S, the internal loss α i, and the constants β, Γ, I 0 . Show the relationship.

【数2】 また電流しきい値Ithとファブリペロー型半導体レーザ
1に検査対象液体8が接触していない時のレーザ出力光
Pとの関係を式3に示す。
[Equation 2] Further, the relationship between the current threshold value I th and the laser output light P when the inspection target liquid 8 is not in contact with the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 is shown in Expression 3.

【数3】 式3において,hはプランクの定数,νは発振レーザ光
の振動数,qは注入電子の電荷,ηd は外部微分量子効
率,Iは駆動電流を示す。
[Equation 3] In Equation 3, h is Planck's constant, ν is the oscillation laser beam frequency, q is the charge of injected electrons, η d is the external differential quantum efficiency, and I is the drive current.

【0022】図4における実線はファブリペロー型半導
体レーザ1の反射面に検査対象液体8が接触しない特性
曲線を示す。ファブリペロー型半導体レーザ1の反射面
に検査対象液体8が接触すると,図4に破線で示したよ
うに,ファブリペロー型半導体レーザ1の駆動電流I・
レーザ出力光Pの特性は変化する。電流しきい値Ith
大きくなり,電流しきい値Ith以上の駆動電流Iにおい
てレーザ出力光Pの増加率は小さくなる。この動作特性
の変化は,ファブリペロー型半導体レーザ1の発光面に
検査対象液体8が接触することによるファブリペロー型
半導体レーザ1の発振状態の変化に起因する。したがっ
て,レコーダ4において,ファブリペロー型半導体レー
ザ1の動作特性変化を記録して分析すれば,ファブリペ
ロー型半導体レーザ1の反射面に接触している検査対象
液体8が識別できる。
The solid line in FIG. 4 shows a characteristic curve in which the liquid 8 to be inspected does not come into contact with the reflecting surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1. When the inspection target liquid 8 comes into contact with the reflection surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1, as shown by the broken line in FIG.
The characteristics of the laser output light P change. The current threshold I th becomes large, and the increase rate of the laser output light P becomes small at the drive current I equal to or larger than the current threshold I th . This change in the operating characteristics is caused by the change in the oscillation state of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 due to the inspection target liquid 8 coming into contact with the light emitting surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1. Therefore, if the recorder 4 records and analyzes the change in the operating characteristics of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1, the inspection target liquid 8 in contact with the reflective surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 can be identified.

【0023】その識別原理をさらに詳細に述べる。図5
は検査対象液体8として,ベンゼンをピペット9でファ
ブリペロー型半導体レーザ1の反射面に接触させたとき
の時間経過に対するシリコンフォトダイオード2で検出
したレーザ出力光Pの挙動を示すグラフである。検査対
象液体8がファブリペロー型半導体レーザ1の反射面に
接触する前のほぼ270mWであるレーザ出力光P
0 は,時間0秒において検査対象液体8がファブリペロ
ー型半導体レーザ1の発光面に接触すると軌跡a−bに
示すように急激に100mW程度まで低下し,期間cの
間レーザ出力光Pはほぼ100mWの状態で維持され
る。その後,期間dからもとのレーザ出力光P0 に向か
って上昇しはじめ,過渡状態を経た後,時点eにおいて
急激にレーザ出力光が落ち込んだ後,再びもとのレーザ
出力光P0 に復帰する。期間cにおけるレーザ出力光P
の低下値は検査対象液体8の種別に応じて変化する。し
たがって,予め,この低下値を調べておけば,フォトダ
イオード2を介して検出したレーザ出力光Pをレコーダ
4で記録することにより,検査対象液体8の種別が特定
できる。また図5に示したように,検査対象液体8がフ
ァブリペロー型半導体レーザ1の発光面に接触すると急
激なレーザ出力光Pの変化が起こるから,検査対象液体
8を迅速に識別できる。換言すれば,検出時間が非常に
速い。
The identification principle will be described in more detail. Figure 5
6 is a graph showing the behavior of the laser output light P detected by the silicon photodiode 2 with respect to the passage of time when benzene as the inspection target liquid 8 is brought into contact with the reflective surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 with a pipette 9. The laser output light P is about 270 mW before the liquid 8 to be inspected comes into contact with the reflection surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1.
0 indicates that when the liquid to be inspected 8 comes into contact with the light emitting surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 at time 0 seconds, it sharply drops to about 100 mW as shown by a trace ab, and the laser output light P is almost constant during the period c. It is maintained at 100 mW. After that, the laser output light P 0 begins to rise from the period d toward the original laser output light P 0 , and after a transient state, the laser output light sharply drops at the time point e and then returns to the original laser output light P 0 again. To do. Laser output light P in period c
The decrease value of is changed according to the type of the liquid 8 to be inspected. Therefore, if the decrease value is checked in advance, the type of the liquid 8 to be inspected can be specified by recording the laser output light P detected through the photodiode 2 with the recorder 4. Further, as shown in FIG. 5, when the inspection target liquid 8 comes into contact with the light emitting surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1, a rapid change in the laser output light P occurs, so that the inspection target liquid 8 can be quickly identified. In other words, the detection time is very fast.

【0024】このように,図1に示した半導体レーザ式
物質識別センサによれば,その検出原理から,非常に短
時間で検査対象液体8を識別できるが,ピペット9でフ
ァブリペロー型半導体レーザ1に検査対象液体8をドロ
ップさせる場合は,ファブリペロー型半導体レーザ1の
発光面に対する検査対象液体8の接触状態の不安定性か
ら,図5に示した期間cではその再現性が高くないこと
を見出した。そこで,図5に示した期間eにおける特性
変化に着目してその特性変化の安定性を検証した。図6
は駆動電流を変化させたときの時間経過に対するレーザ
ー光出力Pの変化を示す実測データをプロットしたグラ
フである。図6に示すように,図5における期間eの特
性は安定しており,再現性が高いから,図1に示したピ
ペット9を用いた識別方法においては,図5に示した期
間eにおける特性変化を検出して検査対象液体8を識別
することが,高い信頼性で識別する上で好適である。
As described above, according to the semiconductor laser type substance identification sensor shown in FIG. 1, the liquid 8 to be inspected can be identified in a very short time due to its detection principle. However, the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 can be identified by the pipette 9. When the liquid 8 to be inspected is dropped onto the surface of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1, it is found that the reproducibility is not high in the period c shown in FIG. 5 due to the instability of the contact state of the liquid 8 to be inspected. It was Therefore, focusing on the characteristic change in the period e shown in FIG. 5, the stability of the characteristic change was verified. Figure 6
[Fig. 4] is a graph plotting measured data showing a change in laser light output P with respect to time when a drive current is changed. As shown in FIG. 6, the characteristic of the period e in FIG. 5 is stable and has high reproducibility. Therefore, in the identification method using the pipette 9 shown in FIG. 1, the characteristic in the period e shown in FIG. It is preferable to detect the change and identify the liquid 8 to be inspected for highly reliable identification.

【0025】図7は,横軸に示した屈折率nを持つ,黒
丸で示したベンゼン,トリクレン,i−ブタノールおよ
びメチルエチルケトン(MEK)のレーザ出力光Pの変
化,および,白丸で示したベンゼン,トリクレン,i−
ブタノールおよびメチルエチルケトン(MEK)の電流
しきい値Ithの変化をレコーダ4においてプロットした
グラフを示す。この測定は,駆動回路6からファブリペ
ロー型半導体レーザ1をピーク値700mA,パルス幅
0.1μs,パルス間隔10μsのパルス電流で駆動し
た結果である。このように,大気中でのレーザ出力光P
0 とピペット9によって半導体レーザ1の発光面に検査
対象液体8が接触した時のレーザ出力光Pの差がその液
体の持つ屈折率nに応じて変化することが判る。したが
って,上述したように,フォトダイオード2でレーザ出
力光Pの変化を検出してレコーダ4でその特性をプロッ
トすると,検査対象液体8の種別が特定できる。また検
査対象液体8の物性を分析しようとする場合に,フォト
ダイオード2でそのレーザ出力光Pを検出してレコーダ
4でその検出値をプロットすれば,その液体の物性を知
ることができる。この識別結果は,液体の屈折率に応じ
てレーザ出力が充分に変化しており,本半導体レーザ式
物質識別センサを用いて液体を識別することが充分,実
用できることが検証できた。
FIG. 7 shows changes in laser output light P of benzene, trichlene, i-butanol and methyl ethyl ketone (MEK) indicated by black circles having a refractive index n shown on the horizontal axis, and benzene indicated by white circles. Trichlene, i-
3 is a graph showing changes in the current threshold value I th of butanol and methyl ethyl ketone (MEK) plotted in the recorder 4. This measurement is a result of driving the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 from the drive circuit 6 with a pulse current having a peak value of 700 mA, a pulse width of 0.1 μs, and a pulse interval of 10 μs. Thus, the laser output light P in the atmosphere
It is understood that the difference between the laser output light P when the liquid 8 to be inspected comes into contact with the light emitting surface of the semiconductor laser 1 by 0 and the pipette 9 changes according to the refractive index n of the liquid. Therefore, as described above, when the photodiode 2 detects a change in the laser output light P and the recorder 4 plots the characteristic thereof, the type of the inspection target liquid 8 can be specified. When the physical properties of the liquid 8 to be inspected are to be analyzed, the physical properties of the liquid can be known by detecting the laser output light P by the photodiode 2 and plotting the detected values by the recorder 4. As a result of this identification, it was verified that the laser output was sufficiently changed according to the refractive index of the liquid, and that the liquid could be sufficiently identified by using the semiconductor laser type substance identification sensor to be practically used.

【0026】図8は反射率Rを横軸にとった場合のベン
ゼン,トリクレン,i−ブタノールおよびメチルエチル
ケトンのレーザ出力光Pの値(黒丸)と,電流しきい値
thの値(白丸)を示す。図7に示した特性と図8に示
した特性とは,式1〜式3を用いて関係づけられる。
FIG. 8 shows the value of the laser output light P (black circle) of benzene, trichlene, i-butanol and methyl ethyl ketone and the value of the current threshold value I th (white circle) when the reflectance R is plotted on the horizontal axis. Show. The characteristics shown in FIG. 7 and the characteristics shown in FIG. 8 are related using Expressions 1 to 3.

【0027】以上の例は,フォトダイオード2でファブ
リペロー型半導体レーザ1のレーザ出力光Pの変化を検
出して検査対象液体8を特定する,あるいは,検査対象
液体8の物性を分析する例を述べたが,図7および図8
は,フォトダイオード2におけるレーザ出力光Pの監視
に代えて,カレントプローブ5で駆動回路6からファブ
リペロー型半導体レーザ1に印加される電流の電流しき
い値Ithの変化を検出しても上記同様,検査対象液体8
の特定または検査対象液体8の物性を分析できることを
示している。つまり,ファブリペロー型半導体レーザ1
を一定電流状態で付勢する場合は,フォトダイオード2
などの半導体レーザの出力光を検出する光検出手段を用
いればよく,ファブリペロー型半導体レーザ1を一定出
力状態で付勢する場合は,カレントプローブ5などの半
導体レーザの駆動電流を検出する電流検出手段を用いれ
ばよい。
In the above example, the photodiode 2 is used to detect a change in the laser output light P of the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 to specify the liquid 8 to be inspected, or to analyze the physical properties of the liquid 8 to be inspected. As mentioned above, FIG. 7 and FIG.
In place of monitoring the laser output light P in the photodiode 2, the current probe 5 detects the change in the current threshold I th of the current applied from the drive circuit 6 to the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 as described above. Similarly, the liquid to be inspected 8
It is shown that the physical property of the liquid 8 to be identified or to be inspected can be analyzed. In other words, Fabry-Perot type semiconductor laser 1
When energizing the diode in a constant current state, the photodiode 2
A light detecting means for detecting the output light of the semiconductor laser, such as, may be used. When energizing the Fabry-Perot type semiconductor laser 1 in a constant output state, current detection for detecting the drive current of the semiconductor laser such as the current probe 5 is performed. Means may be used.

【0028】図9は,本発明の第2実施例として上述し
た本発明の半導体レーザ式物体識別センサを,容器27
に収容された検査対象液体28を識別するため,そのセ
ンシング部を検査対象液体28に浸漬させた構成図を示
す。この半導体レーザ式物体識別センサのセンシング部
は,半導体レーザの電極部11c,監視用レーザ出力光
出射面11a,レーザ出力光反射面11bを有し,監視
用レーザ出力光出射面11aと所定の間隙30を隔てて
配設されたフォトダイオード12とが電極部11cの対
向電極とヒートシンクを兼ねる導電性基台21に一体構
成されている。ファブリペロー型半導体レーザ11はそ
の励起によって発熱するのでヒートシンクとしても機能
する基台21で効率よく冷却する。このセンシング部に
は,上述した受光回路3,レコーダ4,および,駆動回
路6に相当する回路が設けられるが,図9にはこれらの
回路は図示していない。フォトダイオード12にはケー
ブル31,32を介して受光回路3およびレコーダ4に
接続され,半導体レーザ11の電極部11cと基台21
にはケーブル33,34を介して駆動回路6に接続され
る。
FIG. 9 shows a container 27 of the semiconductor laser type object identification sensor of the present invention described above as the second embodiment of the present invention.
A configuration diagram in which the sensing unit is immersed in the inspection target liquid 28 in order to identify the inspection target liquid 28 stored in FIG. The sensing portion of the semiconductor laser type object identification sensor has an electrode portion 11c of the semiconductor laser, a monitoring laser output light emitting surface 11a, and a laser output light reflecting surface 11b, and a predetermined gap with the monitoring laser output light emitting surface 11a. A photodiode 12 arranged with a gap of 30 is integrally configured on a conductive base 21 which also functions as a counter electrode of the electrode portion 11c and a heat sink. Since the Fabry-Perot type semiconductor laser 11 generates heat due to its excitation, it is efficiently cooled by the base 21 which also functions as a heat sink. The sensing unit is provided with circuits corresponding to the above-described light receiving circuit 3, recorder 4, and drive circuit 6, but these circuits are not shown in FIG. The photodiode 12 is connected to the light receiving circuit 3 and the recorder 4 via cables 31 and 32, and the electrode portion 11c of the semiconductor laser 11 and the base 21 are connected to each other.
Is connected to the drive circuit 6 via cables 33 and 34.

【0029】半導体レーザ11は,ケーブル33を介し
て電極部11cに印加され,基台21を介して戻る電流
経路を流れる駆動回路6からの駆動電流Iで励起され
て,監視用レーザ出力光出射面11aおよびレーザ出力
光反射面11bの両側から光を出射する。レーザ出力光
反射面11bが液体28に接触し半導体レーザ11の動
作特性が変化させられる。監視用レーザ出力光出射面1
1aに対向して間隙30を隔てて配設されたフォトダイ
オード12がそのレーザ出力光Pの変化を検出して,上
記同様,レコーダ4において検査対象液体28の種別を
識別する。この検査対象液体28に浸漬されたセンシン
グ部を用いた半導体レーザ式物質識別センサによって
も,図7および図8に図示した識別結果と同様の結果が
得られた。特に,図9に示した半導体レーザ11を検査
対象液体28内に浸漬させた状態における検査対象液体
28の識別においては,図1に示したピペット9を用い
た方法と異なり,図5に示した期間cにおいても高い再
現性を示した。つまり,第1実施例のように,図5の期
間eにおける過渡状態を検出する以前に検査対象液体2
8を識別できることが判った。したがって,図9に示し
た半導体レーザ式物質識別センサにおいては,高い信頼
性で短時間で検査対象液体28の種別を識別できる。
The semiconductor laser 11 is applied to the electrode portion 11c via the cable 33 and is excited by the drive current I from the drive circuit 6 flowing through the current path returning via the base 21 to emit monitoring laser output light. Light is emitted from both sides of the surface 11a and the laser output light reflection surface 11b. The laser output light reflecting surface 11b comes into contact with the liquid 28 and the operating characteristics of the semiconductor laser 11 are changed. Laser output light emission surface 1 for monitoring
The photodiode 12 arranged facing the 1a with a gap 30 therebetween detects the change in the laser output light P, and the recorder 4 identifies the type of the liquid 28 to be inspected in the same manner as described above. The semiconductor laser type substance identification sensor using the sensing unit immersed in the liquid to be inspected 28 also provided the same results as the identification results shown in FIGS. 7 and 8. In particular, in the identification of the inspection target liquid 28 in the state where the semiconductor laser 11 shown in FIG. 9 is immersed in the inspection target liquid 28, unlike the method using the pipette 9 shown in FIG. The reproducibility was high even in the period c. That is, as in the first embodiment, the liquid 2 to be inspected before the transient state is detected in the period e of FIG.
It turns out that 8 can be identified. Therefore, in the semiconductor laser type substance identification sensor shown in FIG. 9, the type of the inspection target liquid 28 can be identified in a short time with high reliability.

【0030】本発明の半導体レーザ式物質識別センサの
第3実施例を述べる。図10は図9に示したセンシング
部を集積化発光・受光デバイスとして半導体基板に集積
して形成した断面斜視図である。このセンシング部は,
半導体基板40の一方の側に半導体レーザ41を形成
し,分離溝43を介して半導体基板41と対向する他方
の側にフォトダイオード42を形成してある。半導体レ
ーザ41には電極41cが形成されている。このセンシ
ング部に,図9に示したように受光回路3,レコーダ
4,カレントプローブ5,駆動回路6などが接続されて
半導体レーザ式物質識別センサが構成される。
A third embodiment of the semiconductor laser type substance identification sensor of the present invention will be described. FIG. 10 is a cross-sectional perspective view of the sensing unit shown in FIG. 9 integrated and formed on a semiconductor substrate as an integrated light emitting / receiving device. This sensing unit
A semiconductor laser 41 is formed on one side of the semiconductor substrate 40, and a photodiode 42 is formed on the other side facing the semiconductor substrate 41 via the separation groove 43. An electrode 41c is formed on the semiconductor laser 41. As shown in FIG. 9, a light receiving circuit 3, a recorder 4, a current probe 5, a driving circuit 6 and the like are connected to the sensing unit to form a semiconductor laser type substance identification sensor.

【0031】センシング部の具体的な例を示す。半導体
基板40はGaAsで形成され,幅10μmの分離溝4
3で分離した右側の半導体レーザ41は,共振器長L=
300μm,電極幅W=100μmのGaAs/AlG
aAs多重量子井戸構造を有する量子井戸結晶のファブ
リペロー型半導体レーザである。分離溝43の左側はG
aAsのフォトダイオード42である。駆動回路6はこ
のファブリペロー型半導体レーザ41をピーク値700
mA,パルス幅0.1μs,パルス間隔10μsのパル
ス電流で駆動する。
A specific example of the sensing unit will be shown. The semiconductor substrate 40 is made of GaAs and has a separation groove 4 with a width of 10 μm.
The semiconductor laser 41 on the right side separated by 3 has a cavity length L =
GaAs / AlG with 300 μm and electrode width W = 100 μm
It is a Fabry-Perot type semiconductor laser of a quantum well crystal having an aAs multiple quantum well structure. The left side of the separation groove 43 is G
It is the photodiode 42 of aAs. The drive circuit 6 sets the Fabry-Perot type semiconductor laser 41 to a peak value of 700
It is driven by a pulse current of mA, pulse width 0.1 μs, and pulse interval 10 μs.

【0032】図11は図10に示した集積化発光・受光
デバイスのセンシング部を用いた半導体レーザ式物質識
別センサにおける物質,ベンゼン,トリクレンおよびメ
チルエチルケトンの屈折率nとファブリペロー型半導体
レーザ43のレーザ出力光Pの変化を示す。縦方向の線
は測定値のばらつきを示す。ベンゼン,トリクレン,メ
チルエチルケトンのレーザ出力光Pにはばらつきがあっ
ても,これらの間には充分な開きがあり正確にそれらを
識別できることが判る。つまり,図10に示したセンシ
ング部を用いても充分,検査対象液体28の種別を識別
でき,実用できることが判った。
FIG. 11 shows the refractive index n of the substances, benzene, trichlene and methyl ethyl ketone, and the laser of the Fabry-Perot type semiconductor laser 43 in the semiconductor laser type substance identification sensor using the sensing part of the integrated light emitting / receiving device shown in FIG. The change of the output light P is shown. The vertical lines show the variation in the measured values. It can be seen that even if the laser output light P of benzene, trichlene, and methyl ethyl ketone varies, there is a sufficient gap between them and they can be accurately identified. In other words, it was found that even if the sensing unit shown in FIG. 10 is used, the type of the liquid 28 to be inspected can be identified and can be put into practical use.

【0033】図12は本発明の第4実施例としての半導
体レーザ式物質識別センサの構成を示す図である。この
半導体レーザ式物質識別センサ50は,集積化発光・受
光デバイス51,半導体レーザ付勢回路52,自動物質
識別手段53,および,識別結果出力手段54が図示の
ごとく接続されている。集積化発光・受光デバイス51
は,図10に図解したセンシング部,つまり,半導体基
板40に分離溝43を隔てて集積された半導体レーザ4
1とフォトダイオード42とからなるものと同等であ
る。半導体レーザ付勢回路52は上述した駆動回路6と
同等の集積化発光・受光デバイス51内の半導体レーザ
41を付勢する回路である。自動物質識別手段53はマ
イクロコンピュータなどで構成され,上述したレコーダ
4に代えて,上述したレーザ出力光の変化からプログラ
ム処理によって自動的に検査対象液体28を識別する。
識別結果出力手段54は,たとえば,液晶などの表示装
置を含み,自動物質識別手段53で識別した結果を視認
可能な状態で表示する。この識別結果出力手段54には
プリンタなどを付加して記録可能にすることができる。
FIG. 12 is a diagram showing the structure of a semiconductor laser type substance identification sensor as a fourth embodiment of the present invention. The semiconductor laser type substance identification sensor 50 is connected with an integrated light emitting / receiving device 51, a semiconductor laser energizing circuit 52, an automatic substance identifying means 53, and an identification result outputting means 54 as shown in the figure. Integrated light emitting / receiving device 51
Is a sensing unit illustrated in FIG. 10, that is, a semiconductor laser 4 integrated with a semiconductor substrate 40 with a separation groove 43 therebetween.
1 and the photodiode 42. The semiconductor laser energizing circuit 52 is a circuit for energizing the semiconductor laser 41 in the integrated light emitting / receiving device 51 equivalent to the driving circuit 6 described above. The automatic substance identification means 53 is constituted by a microcomputer or the like, and instead of the recorder 4 described above, the inspection target liquid 28 is automatically identified by a program process from the change in the laser output light described above.
The identification result output means 54 includes, for example, a display device such as a liquid crystal, and displays the result identified by the automatic substance identification means 53 in a visually recognizable state. A printer or the like can be added to the identification result output means 54 to enable recording.

【0034】この半導体レーザ式物質識別センサ50に
よれば,自動的に検査対象液体28の種別を容易に識別
できる。特に,自動物質識別手段53が半導体レーザ付
勢回路52を複数回駆動し,集積化発光・受光デバイス
51内のフォトダイオード42から複数回のレーザ出力
光Pを入力して複数回の信号処理を行うことにより,よ
り正確な検査対象液体28の識別が可能となる。また,
自動物質識別手段53の処理プログラムによって,検査
対象液体28の物性を検証することもできる。
According to the semiconductor laser type substance identification sensor 50, the type of the inspection target liquid 28 can be easily identified automatically. In particular, the automatic substance identification means 53 drives the semiconductor laser energizing circuit 52 a plurality of times, inputs the laser output light P a plurality of times from the photodiode 42 in the integrated light emitting / receiving device 51, and processes the signal a plurality of times. By doing so, it becomes possible to more accurately identify the inspection target liquid 28. Also,
It is also possible to verify the physical properties of the liquid to be inspected 28 by the processing program of the automatic substance identification means 53.

【0035】この半導体レーザ式物質識別センサ50は
FIAやマイクロマシーニングなどに好適である。さら
に,現在の半導体集積技術を適用すれば,自動物質識別
手段53を集積化発光・受光デバイス51に集積するこ
とができ,センシング部とその信号処理部とを一体構成
したスマートセンサが実現できる。
The semiconductor laser type substance identification sensor 50 is suitable for FIA, micromachining and the like. Further, if the current semiconductor integration technology is applied, the automatic substance identification means 53 can be integrated in the integrated light emitting / receiving device 51, and a smart sensor in which a sensing unit and its signal processing unit are integrally configured can be realized.

【0036】本発明の半導体レーザ式物質識別センサま
たは光センサのセンシング部分を実現するには,上述し
た実施例に限定されない。たとえば,本発明の半導体レ
ーザとしては,上述したファブリペロー型共振器を有す
る半導体レーザに限らず,ファブリペロー型共振器を有
する半導体レーザと同等の特性を有する他の半導体レー
ザ,たとえば,活性層に回折格子を形成したDBR,D
FBなどの進行波形半導体レーザを用いることもでき
る。また本発明の半導体レーザとして分布帰還型半導体
レーザまたは同等の半導体レーザを好適に用いることが
できる。
To realize the sensing portion of the semiconductor laser type substance identification sensor or the optical sensor of the present invention, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments. For example, the semiconductor laser of the present invention is not limited to the semiconductor laser having the Fabry-Perot type resonator described above, but may be another semiconductor laser having the same characteristics as the semiconductor laser having the Fabry-Perot type resonator, for example, an active layer. DBR and D with a diffraction grating
A traveling wave semiconductor laser such as FB can also be used. As the semiconductor laser of the present invention, a distributed feedback semiconductor laser or an equivalent semiconductor laser can be preferably used.

【0037】以上に述べた実施例は,本発明の半導体レ
ーザ式物質識別センサまたはセンシング部の検出原理を
実証する基本的な構成について述べたが,本発明の半導
体レーザ式物質識別センサまたはセンシング部は種々の
状況または用途,たとえば,FIAやマイクロマシーニ
ング技術を用いた各種計測機器における検査対象液体の
識別またはその物性の分析に適用できる。また検査対象
物質として液体または溶液について例示したが,本発明
に上述した液体以外の液体は勿論,屈折率の違いによっ
て半導体レーザの動作特性を変化させるその他の物質の
識別にも適用できる。
Although the above-mentioned embodiments have been described with respect to the basic constitution for demonstrating the detection principle of the semiconductor laser type substance identification sensor or sensing unit of the present invention, the semiconductor laser type substance identification sensor or sensing unit of the present invention is described. Can be applied to various situations or applications, for example, identification of a liquid to be inspected or analysis of its physical properties in various measuring instruments using FIA or micromachining technology. Although the liquid or the solution has been exemplified as the substance to be inspected, the present invention can be applied to the identification of not only the liquid other than the liquid described above in the present invention but also other substances that change the operation characteristics of the semiconductor laser due to the difference in the refractive index.

【0038】[0038]

【発明の効果】以上述べたように,本発明によれば,半
導体レーザ自身の変化を利用する原理に基づき,FIA
やマイクロマシーニングなどに適した微小な実用性の高
いセンサを構成できる。また本センサのセンシング部は
微小な半導体レーザから構成されるため,センサシステ
ムの微小化,集積化が実現できた。さらに本発明の半導
体レーザ式物質識別センサまたはセンシング部をFIA
やマイクロマシーニング技術を用いた各種計測機器に適
用することにより,計測システムの小型化,高性能化に
寄与する。本発明のセンシング部またはこのセンシング
部を用いた半導体レーザ式物質識別センサは応答性が早
く,迅速な検査対象物質の識別およびその物質の物性の
検証ができる。本発明のセンシング部と信号処理部とを
半導体基板に一体集積してスマートセンサを構成するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the FIA is based on the principle of utilizing the change of the semiconductor laser itself.
It is possible to configure a minute sensor with high practicability suitable for or micromachining. Since the sensing part of this sensor is composed of a minute semiconductor laser, the sensor system can be miniaturized and integrated. Furthermore, the semiconductor laser type substance identification sensor or sensing unit of the present invention is provided with FIA.
When applied to various measuring instruments that use the micromachining technology, it contributes to downsizing and high performance of the measuring system. The sensing unit of the present invention or the semiconductor laser type substance identification sensor using this sensing unit has a quick response and can quickly identify the substance to be inspected and verify the physical properties of the substance. The sensing unit and the signal processing unit of the present invention can be integrated on a semiconductor substrate to form a smart sensor.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例の半導体レーザ式物質識別
センサの構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a semiconductor laser type substance identification sensor according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した半導体レーザの詳細な断面構造を
示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a detailed sectional structure of the semiconductor laser shown in FIG.

【図3】図2に示した半導体レーザの動作原理を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram showing an operating principle of the semiconductor laser shown in FIG.

【図4】図1に示した半導体レーザの基本動作特性と,
その半導体レーザ1の反射面に接触した液体に依存して
変化するその半導体レーザーの動作特性変化を示すグラ
フである。
FIG. 4 shows basic operating characteristics of the semiconductor laser shown in FIG.
6 is a graph showing a change in operating characteristics of the semiconductor laser, which changes depending on the liquid in contact with the reflecting surface of the semiconductor laser 1.

【図5】図1に示した半導体レーザに接触した液体によ
る時間経過に対するその半導体レーザの出力変化を示す
グラフである。
5 is a graph showing changes in the output of the semiconductor laser shown in FIG. 1 over time due to the liquid contacting the semiconductor laser.

【図6】図5に示した期間eにおける種々の半導体レー
ザの駆動電流における時間経過に対するレーザー出力変
化を示すグラフである。
6 is a graph showing changes in laser output with time of driving currents of various semiconductor lasers in a period e shown in FIG.

【図7】本発明の半導体レーザ式物体識別センサによる
液体の種別を識別するための,横軸を物質の屈折率とし
たときの,半導体レーザのレーザ出力変化および電流し
きい値変化を示すグラフである。
FIG. 7 is a graph showing a laser output change and a current threshold change of the semiconductor laser when the horizontal axis is the refractive index of the substance for identifying the type of liquid by the semiconductor laser type object identification sensor of the present invention. Is.

【図8】本発明の半導体レーザ式物体識別センサによる
液体の種別を識別するための,横軸を反射率としたとき
の,半導体レーザのレーザ出力変化および電流しきい値
変化を示すグラフである。
FIG. 8 is a graph showing a laser output change and a current threshold change of the semiconductor laser when the horizontal axis is the reflectance for identifying the liquid type by the semiconductor laser type object identification sensor of the present invention. .

【図9】本発明の第2実施例としての半導体レーザ式物
質識別センサのセンシング部の断面斜視図である。
FIG. 9 is a sectional perspective view of a sensing portion of a semiconductor laser type substance identification sensor as a second embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第3実施例としての光センサのセン
シング部を集積化発光・受光デバイスとして一体化した
断面斜視図である。
FIG. 10 is a sectional perspective view in which a sensing portion of an optical sensor as a third embodiment of the present invention is integrated as an integrated light emitting / receiving device.

【図11】図10に示したセンシング部を用いて測定し
た液体の測定結果を示すグラフである。
11 is a graph showing a measurement result of a liquid measured by using the sensing unit shown in FIG.

【図12】本発明の第4実施例としての半導体レーザ式
物質識別センサの構成図である。
FIG. 12 is a configuration diagram of a semiconductor laser type substance identification sensor as a fourth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・半導体レーザ(ファブリペロー型半導体レーザ) 2・・フォトダイオード 3・・受光回路 4・・レコーダ 5・・カレントプローブ 6・・駆動回路 7・・試料台 8・・検査対象液体 9・・ピペット 11・・半導体レーザ(ファブリペロー型半導体レー
ザ) 11a・・監視用レーザ出力光出射面 11b・・レーザ出力光反射面 11c・・電極部 12・・フォトダイオード 21・・基台 27・・容器 28・・検査対象液体 30・・間隙 31〜34・・ケーブル 40・・半導体基板 41・・半導体レーザ 41c・・電極 42・・フォトダイオード 43・・分離溝 50・・半導体レーザ式物質識別センサ 51・・集積化発光・受光デバイス 52・・半導体レーザ付勢回路 53・・自動物質識別手段 54・・識別結果出力手段
1 ・ ・ Semiconductor laser (Fabry-Perot type semiconductor laser) 2 ・ ・ Photodiode 3 ・ ・ Photodetector circuit 4 ・ ・ Recorder 5 ・ ・ Current probe 6 ・ ・ Drive circuit 7 ・ ・ Sample stage 8 ・ ・ Inspected liquid 9 ・ ・Pipette 11 ... Semiconductor laser (Fabry-Perot type semiconductor laser) 11a ... Laser output light emitting surface for monitoring 11b ... Laser output light reflecting surface 11c ... Electrode part 12 ... Photodiode 21 ... Base 27 ... Container 28 .. Liquid to be inspected 30 .. Gap 31-34 .. Cable 40 .. Semiconductor substrate 41 .. Semiconductor laser 41c .. Electrode 42 .. Photodiode 43 .. Separation groove 50 .. Semiconductor laser type substance identification sensor 51. ..Integrated light emitting / light receiving device 52..Semiconductor laser energizing circuit 53..Automatic substance identification means 54..Identification result output means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 軽部 征夫 神奈川県川崎市宮前区東有馬1−3−16 (72)発明者 刈田 保樹 神奈川県藤沢市辻堂新町4−3−1 エヌ オーケー株式会社内 (72)発明者 西岡 政雄 東京都板橋区蓮根2−30−19−204 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Masao Karubu 1-3-16 Higashiarima, Miyamae-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa (72) Inventor Yasuki Karita 4-3-1 Tsujido Shinmachi, Fujisawa-shi, Kanagawa NOK Co., Ltd. (72) Inventor Masao Nishioka 2-30-19-204 Hasune, Itabashi-ku, Tokyo

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体レーザの光出射部に接触した物質に
応じて規定されるその半導体レーザの発振状態の変化を
検出して上記接触物質の種別または物性を識別する物質
識別方法。
1. A substance identification method for identifying the type or physical property of the contact substance by detecting a change in the oscillation state of the semiconductor laser, which is defined according to the substance in contact with the light emitting portion of the semiconductor laser.
【請求項2】光出射部に接触した物質に応じてその半導
体レーザの発振状態が変化する半導体レーザを光センサ
のセンシング部分としたことを特徴とする光センサ。
2. An optical sensor, wherein a semiconductor laser, in which the oscillation state of the semiconductor laser changes depending on a substance in contact with the light emitting portion, is used as a sensing portion of the optical sensor.
【請求項3】半導体レーザと,該半導体レーザの動作状
態を検出する手段と,該半導体レーザ動作状態出手段で
検出した半導体レーザの動作状態から上記半導体レーザ
の光出射部に接触した物質を種別または物性を識別する
手段とを有する半導体レーザ式物質識別センサ。
3. A semiconductor laser, a means for detecting the operating state of the semiconductor laser, and a substance which comes into contact with the light emitting portion of the semiconductor laser from the operating state of the semiconductor laser detected by the semiconductor laser operating state outputting means. Alternatively, a semiconductor laser type substance identification sensor having means for identifying physical properties.
【請求項4】上記半導体レーザを一定電流状態で付勢す
る場合は,上記半導体レーザ動作状態検出手段は,半導
体レーザの一方の光出射部に対向する他方の光出射部と
所定の間隔を隔てて位置する光検出手段である請求項3
記載の半導体レーザ式物質識別センサ。
4. When the semiconductor laser is energized in a constant current state, the semiconductor laser operating state detecting means is separated from the other light emitting portion of the semiconductor laser by a predetermined distance. 4. The light detecting means located at
The semiconductor laser type substance identification sensor described.
【請求項5】上記半導体レーザを一定出力状態で付勢す
る場合は,上記半導体レーザ動作状態検出手段は上記半
導体レーザの駆動電流を検出する電流検出手段である請
求項3記載の半導体レーザ式物質識別センサ。
5. The semiconductor laser type material according to claim 3, wherein when the semiconductor laser is energized in a constant output state, the semiconductor laser operating state detecting means is a current detecting means for detecting a drive current of the semiconductor laser. Identification sensor.
【請求項6】上記半導体レーザがファブリペロー型共振
器を有する半導体レーザまたは同等の半導体レーザであ
る請求項3〜5いずれか記載の半導体レーザ式物質識別
センサ。
6. The semiconductor laser type substance identification sensor according to claim 3, wherein the semiconductor laser is a semiconductor laser having a Fabry-Perot resonator or an equivalent semiconductor laser.
【請求項7】上記半導体レーザが分布帰還型半導体レー
ザまたは同等の半導体レーザである請求項3〜5いずれ
か記載の半導体レーザ式物質識別センサ。
7. The semiconductor laser type substance identification sensor according to claim 3, wherein the semiconductor laser is a distributed feedback semiconductor laser or an equivalent semiconductor laser.
【請求項8】光出射部に接触した物質に応じてその動作
状態の変化が規定されるその半導体レーザと,該半導体
レーザの上記一方の光出射部に対向する他方の光出射部
と所定の間隔を隔てて位置する受光素子とを同一半導体
基板に集積化発光・受光デバイスとして一体化形成した
ことを特徴とする光センサのセンシング部。
8. A semiconductor laser in which a change in its operating state is regulated according to a substance in contact with the light emitting portion, and a predetermined light emitting portion that opposes the one light emitting portion of the semiconductor laser. A sensing part of an optical sensor, characterized in that a light-receiving element located at a distance is integrally formed on the same semiconductor substrate as a light-emitting / light-receiving device.
【請求項9】上記センシング部と,上記センシング部内
の半導体レーザを付勢する回路と,上記センシング部内
の受光素子からの検出信号を信号処理して上記半導体レ
ーザの光出射部に接触した物質の種別または物性を識別
する自動物質識別手段と,該自動物質識別手段で識別し
た識別結果を出力する識別結果出力手段とを有する請求
項8記載の半導体レーザ式物質識別センサ。
9. A sensing unit, a circuit for energizing a semiconductor laser in the sensing unit, and a detection signal from a light receiving element in the sensing unit for signal processing to detect a substance in contact with a light emitting unit of the semiconductor laser. 9. The semiconductor laser type substance identification sensor according to claim 8, further comprising: an automatic substance identification means for identifying a type or a physical property; and an identification result output means for outputting an identification result identified by the automatic substance identification means.
【請求項10】上記半導体レーザがファブリペロー型共
振器を有する半導体レーザまたは同等の半導体レーザで
ある請求項8または9記載の半導体レーザ式物質識別セ
ンサ。
10. The semiconductor laser type substance identification sensor according to claim 8, wherein the semiconductor laser is a semiconductor laser having a Fabry-Perot resonator or an equivalent semiconductor laser.
【請求項11】上記半導体レーザが分布帰還型半導体レ
ーザまたは同等の半導体レーザである請求項8または9
記載の半導体レーザ式物質識別センサ。
11. The semiconductor laser is a distributed feedback semiconductor laser or an equivalent semiconductor laser.
The semiconductor laser type substance identification sensor described.
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