JPH0666514A - Interferometer apparatus - Google Patents
Interferometer apparatusInfo
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- JPH0666514A JPH0666514A JP4240120A JP24012092A JPH0666514A JP H0666514 A JPH0666514 A JP H0666514A JP 4240120 A JP4240120 A JP 4240120A JP 24012092 A JP24012092 A JP 24012092A JP H0666514 A JPH0666514 A JP H0666514A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、レンズ等の被検物体の
表面状態をレーザ干渉計を用いて検査するための干渉計
装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interferometer device for inspecting a surface state of an object to be inspected such as a lens by using a laser interferometer.
【0002】[0002]
【従来の技術】レンズその他の被検物体の仕上げ精度の
検査は、通常、ニュートンゲージ(乃至ニュートン原
器)を用い、このニュートンゲージを通して被検物体、
例えばレンズに光を照射し、ニュートンゲージにおける
基準面からの反射光と、被検物体からの反射光とにより
生じる干渉縞の本数(通常、ニュートン本数と呼ばれ
る)を測定することにより行われる。ここで、検査の対
象となる被検レンズにニュートンゲージを直接重ね合わ
せて、このニュートンゲージに照明光を照射し、ニュー
トンゲージの基準面からの反射光と、被検レンズの被検
面からの反射光との間で生じる干渉縞を肉眼で観察する
のが最も簡易な検査方式である。しかしながら、検査時
において、ニュートンゲージが被検レンズに接触させる
ようにしているので、その取り扱いを慎重に行わない
と、両者に傷等が発生するおそれがある。特に、ニュー
トンゲージは繰り返し使用されることから、極めて早期
に全面にわたって傷が累積して、ニュートンゲージを頻
繁に交換する必要がある。また、両者の重ね合わせ部に
塵埃その他の異物が入り込むと、干渉縞の観察を正確に
行えなくなり、このために、検査前に必ず両者の重ね合
わせ面をクリーニングする必要があり、この作業が極め
て面倒である等といった種々の問題点がある。2. Description of the Related Art Generally, a Newton gauge (or Newton prototype) is used to inspect the finishing accuracy of a lens or other object to be inspected, and the object to be inspected through this Newton gauge,
For example, it is performed by irradiating a lens with light and measuring the number of interference fringes (normally called Newton number) generated by the reflected light from the reference surface of the Newton gauge and the reflected light from the object to be measured. Here, the Newton gauge is directly superposed on the lens to be inspected, the illumination light is irradiated to this Newton gauge, and the reflected light from the reference surface of the Newton gauge and the surface to be inspected of the lens to be inspected The simplest inspection method is to observe the interference fringes generated with the reflected light with the naked eye. However, since the Newton gauge is brought into contact with the lens to be inspected at the time of inspection, there is a possibility that scratches or the like may occur on both unless care is taken carefully. In particular, since the Newton gauge is repeatedly used, it is necessary to frequently replace the Newton gauge because scratches are accumulated on the entire surface very early. Also, if dust or other foreign matter enters the overlapping part of the two, it becomes impossible to observe the interference fringes accurately. Therefore, it is necessary to clean the overlapping surface of the both before the inspection, and this work is extremely difficult. There are various problems such as being troublesome.
【0003】そこで、レーザ干渉計を用いることによっ
て、被検レンズとを非接触状態にして検査するようにし
たものも知られている。即ち、レーザ発振器からのレー
ザ光を導光用光学系を通して基準レンズに照射し、この
基準レンズの基準面において一部を反射させて、これを
参照光とし、またその透過光の一部を基準レンズに対面
する状態に装着した被検レンズの被検面で物体光として
反射させて、これら参照光と物体光との間で生じる干渉
縞を干渉縞観察手段により観察するように構成したもの
である。Therefore, it is known that a laser interferometer is used to make an inspection in a non-contact state with a lens to be inspected. That is, laser light from a laser oscillator is applied to a reference lens through a light guide optical system, a part of the reference surface of the reference lens is reflected, and this is used as a reference light, and a part of the transmitted light is used as a reference light. It is configured so that the interference fringes generated between the reference light and the object light are reflected by the reflected light as the object light on the surface to be inspected of the lens to be inspected mounted so as to face the lens. is there.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】前述したように、レー
ザ干渉計を用いれば、被検レンズを基準レンズと非接触
で検査できるので、ニュートンゲージを直接被検レンズ
と重ね合わせる方式に比較して、被検レンズにも、また
基準レンズにも傷が発生する不都合等を確実に防止され
る。しかしながら、前述した従来技術のものにあって
は、レーザ発振器,導光用光学系,基準レンズ及び干渉
縞観察手段からなる干渉計本体は筐体内に装着されてい
るが、被検レンズは着脱可能としなければならない関係
から、開放空間に配置され、しかも被検レンズの焦点距
離等の関係で、干渉計本体と被検レンズとの間の光路長
はある程度の長さを持たせる必要がある。As described above, when the laser interferometer is used, the lens to be inspected can be inspected in a non-contact manner with the reference lens. Therefore, compared with the method in which the Newton gauge is directly superposed on the lens to be inspected. Therefore, it is possible to reliably prevent the inconvenience that the test lens and the reference lens are damaged. However, in the above-mentioned conventional technology, the interferometer body including the laser oscillator, the light guiding optical system, the reference lens, and the interference fringe observation means is mounted in the housing, but the lens to be inspected is removable. Therefore, the optical path length between the interferometer main body and the lens to be inspected needs to be set to a certain length because of the relationship of the focal length of the lens to be inspected, etc.
【0005】通常、レンズの検査が行われるのは、レン
ズの製造現場であり、このレンズの製造現場は必ずしも
レーザ光を用いた検査装置を配置するのに適した環境と
は言えない。即ち、製造現場は開放空間である以上、当
然に雰囲気中に空気流が存在し、特に空調設備その他空
気の流れが生じる設備が設けられている場合には、空気
流がより激しくなる。従って、この周囲の空気流の影響
で、干渉計本体と被検レンズとの間における物体光の光
路中でレーザ光がゆらぐ、所謂擾乱が発生することがあ
る。このような擾乱が発生すると、観察される干渉縞が
安定せず、特にコンピュータを用いた画像処理装置によ
って干渉縞を解析する等によって被検レンズの仕上げ精
度を検出する場合等にあっては、安定した干渉縞の測定
を行うことができないと、測定誤差が生じる等といった
欠点がある。Usually, the lens is inspected at a lens manufacturing site, and this lens manufacturing site is not necessarily an environment suitable for disposing an inspection device using a laser beam. That is, since the manufacturing site is an open space, the air flow naturally exists in the atmosphere, and particularly when the air-conditioning equipment and other equipment for generating the air flow are provided, the air flow becomes more intense. Therefore, due to the influence of the surrounding air flow, a so-called disturbance in which the laser light fluctuates in the optical path of the object light between the interferometer body and the lens to be measured may occur. When such a disturbance occurs, the observed interference fringes are not stable, and especially when detecting the finishing accuracy of the lens to be inspected by analyzing the interference fringes by an image processing apparatus using a computer, If stable interference fringes cannot be measured, there are drawbacks such as measurement errors.
【0006】そこで、本出願人は、このような空気流に
よるレーザ光の擾乱を防止するために、干渉計本体をハ
ウジング内に収納させて設け、このハウジングに開口を
形成して、この開口に被検物体をセットする被検物体マ
ウント部を形成する構成としたものを開発した。このよ
うな構成を採用すれば、ハウジング外の空気流、即ち外
乱要因によるレーザ光の擾乱を防止できるが、このよう
な構成によっても、なお問題点がない訳ではない。即
ち、ハウジング内において、レーザ発振器等が発熱源と
なっているので、ハウジング内で空気の対流が発生する
ことになり、この対流がレーザ光に対する擾乱の原因と
なるおそれがある。Therefore, in order to prevent the disturbance of the laser beam due to such an air flow, the applicant of the present invention houses the interferometer body in a housing, forms an opening in the housing, and forms an opening in the opening. We have developed a structure that forms an object mount part for setting the object. If such a configuration is adopted, it is possible to prevent the disturbance of the laser light due to the air flow outside the housing, that is, the disturbance factor, but such a configuration is not without problems. That is, since the laser oscillator or the like is a heat source in the housing, air convection occurs in the housing, and this convection may cause disturbance to the laser light.
【0007】本発明は以上のような従来技術の課題を解
決するためになされたものであって、その目的とすると
ころは、外乱要因はもとより、干渉計本体自体に起因す
る原因で擾乱が生じて、干渉縞情報が不安定になるのを
確実に防止できるようにした干渉計装置を提供すること
にある。The present invention has been made in order to solve the problems of the prior art as described above, and its purpose is to cause a disturbance not only due to a disturbance factor but also due to the interferometer body itself. Thus, it is another object of the present invention to provide an interferometer device capable of reliably preventing the interference fringe information from becoming unstable.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、基準部材から反射する参照光と、被
検物体マウント部にセットした被検物体から反射する物
体光との間で干渉させる際に、物体光の光路を囲繞させ
るように擾乱防止部材を設ける構成としたことをその特
徴とするものである。In order to achieve the above-mentioned object, the present invention is designed to provide a light source between a reference light reflected from a reference member and an object light reflected from an object to be inspected set on an object mount portion to be inspected. The feature is that the disturbance prevention member is provided so as to surround the optical path of the object light when the interference is caused.
【0009】[0009]
【作用】レーザ光の光路のうち、レーザ発振器から基準
部材までの間は干渉計本体の筐体内に収納されている。
従って、擾乱の問題が生じることはない。しかし、基準
部材と被検物体マウント部との間は、相互に近接・離間
する方向に移動させる必要があり、このために、基準部
材から被検物体までの、所謂物体光の光路は干渉計本体
の筐体内に収納させることはできない。また、干渉計本
体全体をハウジング内に収納しても、干渉計本体にはレ
ーザ発振器等の発熱源があるために、この干渉計本体の
全体をハウジング内に収納させていたのでは、ハウジン
グの内部に空気の対流が生じるおそれがある。そこで、
本発明においては、物体光の光路を囲繞するように擾乱
防止部材を設けるように構成した。In the optical path of the laser light, the space between the laser oscillator and the reference member is housed in the housing of the interferometer body.
Therefore, the problem of disturbance does not occur. However, it is necessary to move the reference member and the object mounting part in a direction in which they approach and separate from each other. Therefore, the optical path of so-called object light from the reference member to the object to be measured is an interferometer. It cannot be stored in the main body housing. Even if the entire interferometer body is housed in the housing, since the interferometer body has a heat source such as a laser oscillator, the entire interferometer body may be housed in the housing. Air convection may occur inside. Therefore,
In the present invention, the disturbance prevention member is provided so as to surround the optical path of the object light.
【0010】干渉計本体のうち、発熱源となるのは、レ
ーザ発振器であって、このレーザ発振器は基準部材から
ある程度離れた位置に配置されるのが一般的である。従
って、基準部材から被検物体までの間の物体光の光路に
は格別発熱源となるものはない。このために、当該の部
位を擾乱防止部材によって他から隔離するようになし、
しかもこの隔離された空間を出来るだけ小さな空間とす
れば、擾乱防止部材の内部の空気は確実に静止した状態
に保持される。この結果、物体光の光路が擾乱されるの
を防止でき、安定した干渉縞の観察が可能となる。In the interferometer main body, a heat source is a laser oscillator, and the laser oscillator is generally arranged at a position apart from the reference member to some extent. Therefore, there is no particular heat source in the optical path of the object light from the reference member to the object to be inspected. For this reason, the site concerned should be isolated from others by a disturbance prevention member,
Moreover, if the isolated space is made as small as possible, the air inside the disturbance preventing member is reliably held in a stationary state. As a result, the optical path of the object light can be prevented from being disturbed, and stable interference fringes can be observed.
【0011】[0011]
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。まず、図1乃至図3に本発明の第1の実施
例を示す。図中、1は干渉計本体を示し、この干渉計本
体1は定盤2に装着され、この定盤2は本体機枠3上に
装着されている。定盤2にはレーザ光導光用の開口2a
が形成されており、この開口2aの上面部には、被検物
体としての被検レンズ5を着脱可能に装着されるレンズ
マウント部6が設けられている。また、定盤2の内部に
は、干渉計本体1の移動手段7が設けられている。Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, FIGS. 1 to 3 show a first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes an interferometer main body, which is mounted on a surface plate 2 which is mounted on a main body machine frame 3. The platen 2 has an opening 2a for guiding a laser beam.
Is formed, and a lens mount portion 6 to which a lens 5 to be inspected as an object to be inspected is detachably attached is provided on the upper surface of the opening 2a. Further, inside the surface plate 2, a moving means 7 of the interferometer main body 1 is provided.
【0012】干渉計本体1の一例を図3に示す。この図
に示されているのは、所謂フィゾー型の干渉計である
が、本発明で用いられる干渉計としては、このタイプの
ものに限定されないことはいうまでもない。而して、同
図において、10はHe−Neレーザ等からなるレーザ
発振器10であって、このレーザ発振器10から出力さ
れたレーザ光はビーム発散用の発散レンズ11によっ
て、一度集光させた後に、発散させる。そして、この発
散レンズ11の集光位置にはピンホール12が配設され
ており、これによって集光した光以外を光路からカット
するようにしている。ピンホール12を通過した光はビ
ームスプリッタ13の反射面13aに反射せしめられ
る。このビームスプリッタ13での反射光は1/4波長
板14を介してコリメータレンズ15によって平行光と
なされ、この平行光は基準部材としての基準レンズ16
に入射される。基準レンズ16の入射面16aは反射防
止コーティングが施されており、またこの入射面16a
とは反対側の面は基準面16bで、この基準面16bか
らの反射光は、被検レンズ5の被検面5aから反射する
物体光である測定波面に対し、参照光として基準波面を
形成する。An example of the interferometer body 1 is shown in FIG. Although a so-called Fizeau interferometer is shown in this figure, it goes without saying that the interferometer used in the present invention is not limited to this type. In the figure, 10 is a laser oscillator 10 composed of a He-Ne laser or the like, and the laser light output from this laser oscillator 10 is once condensed by a diverging lens 11 for beam divergence. , Diverge. A pinhole 12 is provided at the condensing position of the diverging lens 11 so that light other than the condensed light is cut from the optical path. The light passing through the pinhole 12 is reflected by the reflecting surface 13a of the beam splitter 13. The reflected light from the beam splitter 13 is collimated by a collimator lens 15 via a quarter-wave plate 14, and the collimated light is a reference lens 16 as a reference member.
Is incident on. The incident surface 16a of the reference lens 16 is provided with an antireflection coating, and the incident surface 16a
The surface on the side opposite to is a reference surface 16b, and the reflected light from this reference surface 16b forms a reference wavefront as reference light with respect to the measurement wavefront which is the object light reflected from the surface 5a to be measured of the lens 5 to be measured. To do.
【0013】レンズマウント部6に被検レンズ5が装着
されると、レーザ発振器10からレーザ導光用光学系を
構成する発散レンズ11,ピンホール12,ビームスプ
リッタ13及びコリメータレンズ15を経て基準レンズ
16に入射され、その一部はこの基準レンズ16の基準
面16aで反射し、他は被検レンズ5に入射されて、こ
の被検レンズ5の被検面5aで反射する。基準レンズ1
6の基準面16a及び被検レンズ5の被検面5aからの
反射光はコリメータレンズ15により収束せしめられな
がら、1/4波長板14を経てビームスプリッタ13に
戻される。ここで、この戻り光はビームスプリッタ13
の反射面13aを透過する。そして、このビームスプリ
ッタ13の透過光の光路には、絞り17及び結像レンズ
18が設けられており、この結像レンズ18の結像位置
に、基準面16bからの参照光と被検面5aからの物体
光との間の干渉作用によって、干渉縞が結像される。こ
の結像位置にCCD等からなる撮像手段19が設けられ
ており、この撮像手段19で干渉縞が撮影される。When the lens 5 to be inspected is mounted on the lens mount portion 6, the laser oscillator 10 passes through a diverging lens 11, a pinhole 12, a beam splitter 13 and a collimator lens 15 which form an optical system for guiding a laser beam, and then a reference lens. 16 is incident on the reference lens 16, a part of which is reflected by the reference surface 16 a of the reference lens 16, and the other is incident on the subject lens 5 and reflected by the subject surface 5 a of the subject lens 5. Reference lens 1
The reflected light from the reference surface 16 a of 6 and the surface 5 a of the lens 5 to be tested is converged by the collimator lens 15 and returned to the beam splitter 13 via the quarter-wave plate 14. Here, this return light is reflected by the beam splitter 13.
Is transmitted through the reflective surface 13a. A diaphragm 17 and an imaging lens 18 are provided in the optical path of the transmitted light of the beam splitter 13, and the reference light from the reference surface 16b and the surface 5a to be inspected are provided at the imaging position of the imaging lens 18. The interference fringes are imaged by the interference effect with the object light from. An image pickup unit 19 including a CCD or the like is provided at this image forming position, and an interference fringe is photographed by this image pickup unit 19.
【0014】以上のように、干渉縞を観察することによ
って、被検レンズ5の表面状態の検査が行われるが、こ
の被検レンズ5の検査を正確に行うには、被検レンズ5
がレンズマウント部6に正確に位置決めされなければな
らない。また、この干渉計装置によって検査される被検
レンズ5としては、球面レンズ,シリンドリカルレンズ
等、各種のものが用いられる。このために、レンズマウ
ント部6は、それぞれ被検レンズの種類に応じて最適な
ものを用いなければならない。このために、定盤2にお
ける開口2a上にはXYステージ20が装着されてお
り、このXYテーブル20上にレンズマウント部6は水
平方向に位置微調整可能に装着されている。例えば、球
面レンズを被検レンズ5とする場合には、レンズマウン
ト部6にはそれぞれ120°位相を変えて3箇所に突起
が設けられて、これら各突起の上に被検レンズ5の被検
面5aの外周縁近傍の部位を当接させることにより位置
決めされる。As described above, the surface state of the lens 5 to be inspected is inspected by observing the interference fringes. To accurately inspect the lens 5 to be inspected, the lens 5 to be inspected
Must be accurately positioned on the lens mount 6. As the lens 5 to be inspected by this interferometer device, various lenses such as a spherical lens and a cylindrical lens are used. For this reason, it is necessary to use the optimum lens mount portion 6 according to the type of the lens to be inspected. Therefore, the XY stage 20 is mounted on the opening 2a of the surface plate 2, and the lens mount portion 6 is mounted on the XY table 20 such that the position of the lens mount 6 can be finely adjusted in the horizontal direction. For example, when a spherical lens is used as the lens 5 to be inspected, the lens mount portion 6 is provided with protrusions at three positions with different phases by 120 °, and the protrusion of the lens 5 to be inspected is provided on each of these protrusions. Positioning is performed by abutting a portion of the surface 5a near the outer peripheral edge.
【0015】次に、被検レンズ5を検査するに当って
は、この被検レンズ5の曲率等に応じて干渉計本体1と
レンズマウント部6との間の位置調整を行う必要があ
り、また干渉計本体1を被検レンズ5の干渉縞観察位置
とキャッツアイポイントとに変位させる必要もあること
から、干渉計本体1はレンズマウント部6に近接・離間
する方向に往復変位可能な構成としている。このため
に、レンズマウント部6は固定しておき、干渉計本体1
を移動手段7により昇降させるように構成している。こ
の移動手段7は、図1及び図2から明らかなように、定
盤2にガイドレール21を垂設して、このガイドレール
21に干渉計本体1をスライド可能に支承させ、この干
渉計本体1にねじ軸22を挿通することによって、ガイ
ドレール21に沿って往復移動させるように構成してい
る。そして、ねじ軸22の先端に笠歯車伝達手段23を
介して、操作ハンドル24に連結されており、この操作
ハンドル24を操作することによって、干渉計本体1と
被検レンズ5との間の相対位置関係の調整ができるよう
になっている。Next, when inspecting the lens 5 to be inspected, it is necessary to adjust the position between the interferometer main body 1 and the lens mount portion 6 in accordance with the curvature of the lens 5 to be inspected. Further, since it is necessary to displace the interferometer main body 1 between the observing position of the interference fringes of the lens 5 to be inspected and the cat's eye point, the interferometer main body 1 is reciprocally displaceable in the direction of approaching and separating from the lens mount 6. I am trying. For this purpose, the lens mount 6 is fixed and the interferometer body 1
Is moved up and down by the moving means 7. As is clear from FIGS. 1 and 2, the moving means 7 has a guide rail 21 vertically laid on a surface plate 2, and the interferometer body 1 is slidably supported by the guide rail 21. The screw shaft 22 is inserted into the shaft 1 to reciprocate along the guide rail 21. The screw shaft 22 is connected to the operation handle 24 via the bevel gear transmission means 23 by operating the operation handle 24 so that the relative distance between the interferometer body 1 and the lens 5 to be inspected. The positional relationship can be adjusted.
【0016】定盤2の下面には、筒状部材からなる擾乱
防止部材25の上端部がボルト等により取り付けられて
おり、この擾乱防止部材25は下方に延在されている。
擾乱防止部材25は、物体光の光路に空気流が生じるの
を防止するためのものであって、干渉計本体1における
基準レンズ16の装着部は、その外径が細径となった縮
径部1aが所定の長さ分だけ形成されており、擾乱防止
部材25は、この縮径部1aを挿嵌できる内径を備えて
いる。ここで、干渉計本体1は、その基準レンズ16の
被検レンズ5に対して相対位置を調整するために、昇降
変位されるようになっており、この干渉計本体1の位置
に拘らず、物体光の光路は常にこの擾乱防止部材25の
内部に位置するようになっている。また、この干渉計本
体1の擾乱防止部材25への嵌合部は、干渉計本体1の
移動に支障を来さない程度において、可及的に隙間がな
い状態となっている。これによって、物体光の光路は外
部から隔離されて、比較的狭い空間内においてほぼ密閉
された状態となり、その外部に空気流等が発生していた
としても、この擾乱防止部材25の内部の空気がゆらぐ
ことがないように保持される。On the lower surface of the surface plate 2, an upper end portion of a disturbance preventing member 25 made of a cylindrical member is attached by a bolt or the like, and the disturbance preventing member 25 extends downward.
The disturbance preventing member 25 is for preventing an air flow from being generated in the optical path of the object light, and the mounting portion of the reference lens 16 in the interferometer main body 1 has a reduced outer diameter. The portion 1a is formed by a predetermined length, and the disturbance preventing member 25 has an inner diameter into which the reduced diameter portion 1a can be fitted. Here, the interferometer body 1 is adapted to be displaced up and down in order to adjust the relative position of the reference lens 16 with respect to the lens 5 to be inspected, and regardless of the position of the interferometer body 1, The optical path of the object light is always located inside the disturbance prevention member 25. Further, the fitting portion of the interferometer main body 1 to the disturbance prevention member 25 is in a state where there is no gap as much as possible so long as it does not hinder the movement of the interferometer main body 1. As a result, the optical path of the object light is isolated from the outside and is almost sealed in a relatively narrow space. Even if an air flow or the like is generated outside, the air inside the disturbance prevention member 25 is Is held so that it does not fluctuate.
【0017】本実施例は前述のように構成されるもので
あって、この装置を用いて被検レンズ5の表面状態の検
査を行うに当っては、まず所定の口径及び曲率半径のレ
ンズのニュートン本数を測定するのに適した基準レンズ
16を干渉計本体1に装着しておき、レンズマウント部
6は、被検レンズ5の外径寸法に応じて、その外周縁近
傍部を支承するのに最適な寸法のものを持ったものを取
り付けておく。そして、操作ハンドル24を操作して、
干渉計本体1が、被検レンズ5をセットした時に、ニュ
ートン本数の測定を行うのに最適な相対位置関係となる
ように調整する。この状態で、被検レンズ5をレンズマ
ウント部6にセットして、その被検面5aと基準レンズ
16の基準面16bとの間の干渉縞を撮影して、ニュー
トン本数に応じて被検レンズ5の被検面5aの仕上げ精
度の検査を行うことができる。The present embodiment is constructed as described above, and in inspecting the surface condition of the lens 5 to be inspected using this apparatus, first, a lens having a predetermined aperture and radius of curvature is used. A reference lens 16 suitable for measuring the number of Newtons is mounted on the interferometer main body 1, and the lens mount portion 6 supports a portion near the outer peripheral edge thereof according to the outer diameter dimension of the lens 5 to be inspected. Install the one with the optimum size for. Then, operate the operation handle 24,
The interferometer main body 1 is adjusted so that when the lens 5 to be inspected is set, the interferometer main body 1 has an optimum relative positional relationship for measuring the number of Newtons. In this state, the lens 5 to be inspected is set on the lens mount 6 and the interference fringes between the surface 5a to be inspected and the reference surface 16b of the reference lens 16 are photographed, and the lens to be inspected is determined according to the number of Newtons. It is possible to inspect the finishing accuracy of the surface 5a to be inspected.
【0018】ところで、前述した干渉計本体1における
レーザ発振器10から基準レンズ16を経て被検レンズ
5に入射される光及びこの被検レンズ5からの反射光が
撮像手段19上に結像される全光路でレーザ光にゆらぎ
がないようにしなければならない。干渉計本体1は通常
筐体内に収納されているから、外乱要因の影響を受ける
ことはない。然るに、基準レンズ16から被検レンズ5
までの間の物体光の光路は干渉計本体1における筐体の
外部に位置するので、この部位に空気流があると、光路
にゆらぎが発生するおそれがある。しかしながら、この
物体光の光路は擾乱防止部材25により囲繞されてお
り、その内部の空間は静止状態に保持されるので、外部
における空気流の影響で物体光の光路に擾乱が発生する
ことはない。この結果、撮像手段19に結像される干渉
縞が安定し、その正確な観察が可能になると共に、画像
処理手段を用いて干渉縞情報の解析、即ち干渉縞の本数
及びその形状を自動的に判断する場合等において、その
判定誤差が生じるのを防止できる。By the way, the light incident on the lens 5 to be inspected through the reference lens 16 from the laser oscillator 10 in the interferometer body 1 and the reflected light from this lens 5 to be inspected are imaged on the image pickup means 19. There must be no fluctuations in the laser light along the entire optical path. Since the interferometer main body 1 is normally housed in the housing, it is not affected by disturbance factors. Therefore, the reference lens 16 to the test lens 5
Since the optical path of the object light up to is located outside the housing of the interferometer main body 1, fluctuations in the optical path may occur if there is an airflow at this portion. However, since the optical path of this object light is surrounded by the disturbance prevention member 25 and the space inside is kept stationary, no disturbance occurs in the optical path of the object light due to the effect of the air flow outside. . As a result, the interference fringes imaged on the image pickup means 19 are stabilized, and accurate observation thereof is possible. At the same time, the interference fringe information is analyzed by using the image processing means, that is, the number and shape of the interference fringes are automatically determined. It is possible to prevent the determination error from occurring in the case of making the determination.
【0019】擾乱防止部材25は干渉計本体1の基準レ
ンズ16を装着した部位を覆っており、しかもキャッツ
アイポイントから干渉縞観察位置に至るまでの干渉計本
体1の移動ストロークの全範囲で常に物体光の光路を完
全に覆うことができるようになっているので、この光路
における擾乱は確実に防止できる。しかも、この擾乱防
止部材25の内部は物体光の光路を囲繞する比較的狭い
空間となっており、かつ内部に発熱源等のように、温度
の偏在を生じる要因がないので、擾乱防止部材25の内
部の空気の対流を最小限にすることができる。The disturbance preventing member 25 covers the portion of the interferometer main body 1 where the reference lens 16 is attached, and moreover, is always in the entire movement stroke of the interferometer main body 1 from the cat's eye point to the interference fringe observation position. Since the optical path of the object light can be completely covered, the disturbance in this optical path can be surely prevented. Moreover, the inside of the disturbance prevention member 25 is a relatively narrow space surrounding the optical path of the object light, and there is no factor that causes uneven temperature distribution such as a heat source inside the disturbance prevention member 25. Convection of air inside the can be minimized.
【0020】ここで、被検レンズ5が球面レンズである
場合には、レンズマウント部6における突起を設けて、
この突起により位置決め・支持させるようにするのが好
ましい。ただし、このように構成すると、被検レンズ5
とレンズマウント部6との間に若干の隙間が形成される
ことになる。そして、この隙間を介して空気流が内部に
入り込むおそれがある。これを防止するには、突起の高
さを低くする等によりある程度効果はあるが、さらに定
盤2における開口2aを形成した位置に蓋体26を開閉
可能に設け、この蓋体26によってレンズマウント部6
に被せるようにすることによって、完全に外部から隔離
できる。なお、この蓋体26の内面からレーザ光が反射
しないようにするには、この内面に反射防止処理を施し
ておけば良い。また、このように蓋体26によりレンズ
マウント部6を覆うようにすると、外部からの有害光を
遮断することができる。Here, when the lens 5 to be inspected is a spherical lens, a protrusion is provided in the lens mount portion 6,
It is preferable to position and support the protrusions. However, with this configuration, the lens 5
A slight gap is formed between the lens mount portion 6 and the lens mount portion 6. Then, there is a possibility that the airflow may enter the inside through this gap. In order to prevent this, there is an effect to some extent by lowering the height of the protrusions, etc., but a lid 26 is provided at the position where the opening 2a is formed in the surface plate 2 so as to be openable and closable, and the lens mount is provided by this lid 26. Part 6
It can be completely isolated from the outside by putting it on. In order to prevent the laser light from being reflected from the inner surface of the lid 26, the inner surface may be subjected to antireflection treatment. Further, by covering the lens mount portion 6 with the lid 26 in this manner, harmful light from the outside can be blocked.
【0021】次に、図4及び図5に本発明の第2の実施
例を示す。本実施例においては、干渉計本体側を固定
し、被検レンズ側を干渉計本体に対して近接・離間する
方向に移動させるように構成している。而して、図中3
0は装置の本体機枠を示し、この本体機枠30には干渉
計本体1が固定的に装着されている。そして、干渉計本
体1の上部側には筒体31が延在されている。一方、レ
ンズマウント部6は擾乱防止部材32に設けられてい
る。この擾乱防止部材32は、天板部32aと周胴部3
2bとからなり、レンズマウント部6は天板部32aに
設けられており、このレンズマウント部6の位置には物
体光を通過させる開口が形成されている。周胴部32b
の下端部は筒体31に嵌合されており、この嵌合状態を
保ったままで擾乱防止部材32は上下方向に可動となっ
ている。Next, FIGS. 4 and 5 show a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the interferometer main body side is fixed, and the lens side to be inspected is moved in a direction of approaching and separating from the interferometer main body. Thus, 3 in the figure
Reference numeral 0 indicates a main body frame of the apparatus, and the interferometer main body 1 is fixedly mounted on the main body frame 30. A cylindrical body 31 extends on the upper side of the interferometer body 1. On the other hand, the lens mount portion 6 is provided on the disturbance prevention member 32. The disturbance prevention member 32 includes a top plate portion 32a and a peripheral body portion 3
2b, the lens mount portion 6 is provided on the top plate portion 32a, and an opening for passing object light is formed at the position of the lens mount portion 6. Body 32b
The lower end of the is fitted into the tubular body 31, and the disturbance preventing member 32 is movable in the vertical direction while maintaining this fitted state.
【0022】擾乱防止部材32はモータ33により昇降
駆動されるものであり、この擾乱防止部材32における
周胴部32bには連結部材34が連結されており、この
連結部材34はモータ33により回転されるねじ軸35
に係合すると共に、ガイド部材36にも係合している。
従って、モータ33を作動させることによって、干渉計
本体1はレンズマウント部6に近接・離間する方向に変
位可能となっている。また、図中において、37は擾乱
防止部材32に取り付けられて、レンズマウント部6を
開閉動作させるための蓋体である。The disturbance preventing member 32 is driven up and down by a motor 33, and a connecting member 34 is connected to a peripheral body portion 32b of the disturbance preventing member 32. The connecting member 34 is a screw rotated by the motor 33. Axis 35
And the guide member 36 as well.
Therefore, by operating the motor 33, the interferometer main body 1 can be displaced in a direction of approaching or separating from the lens mount portion 6. Further, in the figure, reference numeral 37 is a lid body attached to the disturbance prevention member 32 for opening and closing the lens mount portion 6.
【0023】以上のように構成しても、干渉計本体1と
レンズマウント部6との間の物体光の光路は擾乱防止部
材32によって外部から隔離した状態に保持され、この
物体光の光路の擾乱を確実に防止できるようになる。Even with the above construction, the optical path of the object light between the interferometer body 1 and the lens mount 6 is kept in a state of being isolated from the outside by the disturbance prevention member 32, and the optical path of the object light is kept. The disturbance can be surely prevented.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は干渉計本
体と被検物体との間の物体光の光路を囲繞させるように
擾乱防止部材を設ける構成としたので、外部の空気流の
影響で物体光の光路に擾乱が発生するのを防止できると
共に、レーザ発振器の熱等により生じる空気の対流の影
響で光路が擾乱することもなく、この物体光の光路とな
る空間の空気は常に静止した状態に保持されて、干渉縞
の安定化が図られて、正確な干渉縞情報の観測が可能と
なり、被検物体の検査精度及び効率が向上する等の効果
を奏する。As described above, according to the present invention, the disturbance preventing member is provided so as to surround the optical path of the object light between the interferometer body and the object to be inspected. Can prevent turbulence from occurring in the optical path of the object light, and the optical path will not be disturbed by the influence of air convection caused by heat of the laser oscillator, etc. In this state, the interference fringes are stabilized, accurate interference fringe information can be observed, and the inspection accuracy and efficiency of the object to be inspected are improved.
【図1】本発明の第1の実施例における干渉計装置の全
体構成を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing an overall configuration of an interferometer device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1のX−X断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line XX of FIG.
【図3】干渉計装置における光学システムの構成図であ
る。FIG. 3 is a configuration diagram of an optical system in the interferometer device.
【図4】本発明の第2の実施例における干渉計装置の全
体構成を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing an overall configuration of an interferometer device according to a second embodiment of the present invention.
【図5】図4の外観図である。5 is an external view of FIG.
1 干渉計本体 2 定盤 5 被検レンズ 6 レンズマウント部 7 移動手段 10 レーザ発振器 16 基準レンズ 25,32 擾乱防止部材 26,37 蓋体 32a 天板部 32b 周胴部 33 モータ 35 ねじ軸 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Interferometer main body 2 Surface plate 5 Test lens 6 Lens mount part 7 Moving means 10 Laser oscillator 16 Reference lens 25,32 Disturbance prevention member 26,37 Lid 32a Top plate part 32b Circumferential body part 33 Motor 35 Screw shaft
Claims (4)
のレーザ光の導光用光学系と、この導光用光学系から導
かれたレーザ光の一部を反射させ、一部を透過させる基
準部材と、干渉縞観察手段とを備えた干渉計本体を用
い、基準部材に対して所定の間隔だけ隔てた位置に被検
物体マウント部を設け、この被検物体マウント部に被検
物体をセットして、前記基準部材から反射する参照光
と、被検物体マウント部にセットした被検物体から反射
する物体光との間で干渉させて、前記干渉縞観察手段に
より干渉縞の観察を行う干渉計装置において、前記物体
光の光路を囲繞させるように擾乱防止部材を設ける構成
としたことを特徴とする干渉計装置。1. A laser oscillator, an optical system for guiding a laser beam from the laser oscillator, and a reference member for reflecting a part of the laser beam guided from the optical system for guiding and transmitting a part thereof. And an interferometer main body provided with an interference fringe observation means, and an object mount part to be inspected is provided at a position separated by a predetermined distance from the reference member, and the object to be inspected is set on the object mount part to be inspected. An interferometer for observing the interference fringes by the interference fringe observation means by causing interference between the reference light reflected from the reference member and the object light reflected from the object to be inspected set on the object mount part to be inspected. The interferometer device is characterized in that a disturbance prevention member is provided so as to surround the optical path of the object light.
し、前記擾乱防止部材をこの定盤に連結して設け、前記
干渉計本体の少なくとも一部をこの擾乱防止部材の内部
に位置させた状態で、この干渉計本体を被検物体に対し
て近接・離間する方向に変位可能な構成としたことを特
徴とする請求項1記載の干渉計装置。2. The object mount portion to be inspected is mounted on a surface plate, the disturbance prevention member is provided so as to be connected to the surface plate, and at least a part of the interferometer body is located inside the disturbance prevention member. The interferometer apparatus according to claim 1, wherein the interferometer body is configured to be displaceable in a direction in which the interferometer body approaches and separates from the object to be inspected.
ト部を設け、この擾乱防止部材に、前記干渉計本体また
はそれから延在させて設けた筒体の少なくとも一部を嵌
合させた状態で、前記被検物体マウント部を干渉計本体
に近接・離間する方向に変位可能としたことを特徴とす
る請求項1記載の干渉計装置。3. The disturbance prevention member is provided with the test object mount, and the disturbance prevention member is fitted with at least a part of the interferometer main body or a cylindrical body extending from the interferometer main body. The interferometer apparatus according to claim 1, wherein the object mount portion to be inspected is displaceable in a direction of approaching or separating from an interferometer body.
ットされる被検物体を覆う蓋体を開閉可能に設ける構成
としたことを特徴とする請求項1記載の干渉計装置。4. The interferometer apparatus according to claim 1, wherein a lid for covering the object to be inspected set therein is provided on the object mounting portion so as to be openable and closable.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24012092A JP3271321B2 (en) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | Interferometer device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24012092A JP3271321B2 (en) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | Interferometer device |
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---|---|
JPH0666514A true JPH0666514A (en) | 1994-03-08 |
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Family
ID=17054794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP24012092A Expired - Lifetime JP3271321B2 (en) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | Interferometer device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3271321B2 (en) |
-
1992
- 1992-08-18 JP JP24012092A patent/JP3271321B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
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