JPH0664084B2 - 光感震器 - Google Patents
光感震器Info
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- JPH0664084B2 JPH0664084B2 JP60079365A JP7936585A JPH0664084B2 JP H0664084 B2 JPH0664084 B2 JP H0664084B2 JP 60079365 A JP60079365 A JP 60079365A JP 7936585 A JP7936585 A JP 7936585A JP H0664084 B2 JPH0664084 B2 JP H0664084B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fixed
- light source
- servo
- light
- light beam
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V1/00—Seismology; Seismic or acoustic prospecting or detecting
- G01V1/16—Receiving elements for seismic signals; Arrangements or adaptations of receiving elements
- G01V1/18—Receiving elements, e.g. seismometer, geophone or torque detectors, for localised single point measurements
- G01V1/181—Geophones
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/13—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by measuring the force required to restore a proofmass subjected to inertial forces to a null position
- G01P15/132—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by measuring the force required to restore a proofmass subjected to inertial forces to a null position with electromagnetic counterbalancing means
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- Geophysics (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、大略、関心のある点の加速度、速度、又は変
位を検知する検知器に関するものであって、更に詳細に
は、光源と、互いに所定の距離離隔されている少なくと
も2個の光電素子と、該光源と光電素子との間に配設さ
れており該光源からの光ビームを該光電素子上に合焦さ
せる光学系とを有する検知器であって目的物の加速度、
速度、又は変位を検知する為に使用するのに適した検知
器に関するものである。更に詳細には、本発明は、地下
の層構造を検知する為の光感震器(optical seismic de
tector)として使用するのに特に適したサーボ加速度計
に関するものである。
位を検知する検知器に関するものであって、更に詳細に
は、光源と、互いに所定の距離離隔されている少なくと
も2個の光電素子と、該光源と光電素子との間に配設さ
れており該光源からの光ビームを該光電素子上に合焦さ
せる光学系とを有する検知器であって目的物の加速度、
速度、又は変位を検知する為に使用するのに適した検知
器に関するものである。更に詳細には、本発明は、地下
の層構造を検知する為の光感震器(optical seismic de
tector)として使用するのに特に適したサーボ加速度計
に関するものである。
従来技術 ジオフォン(geophone)と呼ばれる感震器は従来公知で
ある。ジオフォンは基本的には震動‐電気変換器であっ
て、それを使用する場合には、通常、大地の表面に埋め
込む。ジオフォンを植設した場所から離れた位置で擾乱
が発生されると、その擾乱は地中内を伝播し、その反射
擾乱がジオフォンで収集されて地下構造の解析に使用さ
れる。この場合、ジオフォンは基本的に大地表面の運
動、即ち大地表面の点の加速度、速度、又は変位を検知
する。幾つかの変形例があるが、ジオフォンは、主に、
可動質量と、該質量を懸下する為のスプリングと、該ス
プリングによって懸下される可動質量をその中に収納す
るケースとで構成されている。この構成において、例え
ば、反射擾乱を受け取ることによって、該ケースが運動
状態とされると、該スプリングを介して該可動質量と該
ケースとの間に相対運動が発生し、この相対運動を利用
して関心のある点の加速度、速度、又は変位を測定する
為に電圧の如き変数を発生させる。
ある。ジオフォンは基本的には震動‐電気変換器であっ
て、それを使用する場合には、通常、大地の表面に埋め
込む。ジオフォンを植設した場所から離れた位置で擾乱
が発生されると、その擾乱は地中内を伝播し、その反射
擾乱がジオフォンで収集されて地下構造の解析に使用さ
れる。この場合、ジオフォンは基本的に大地表面の運
動、即ち大地表面の点の加速度、速度、又は変位を検知
する。幾つかの変形例があるが、ジオフォンは、主に、
可動質量と、該質量を懸下する為のスプリングと、該ス
プリングによって懸下される可動質量をその中に収納す
るケースとで構成されている。この構成において、例え
ば、反射擾乱を受け取ることによって、該ケースが運動
状態とされると、該スプリングを介して該可動質量と該
ケースとの間に相対運動が発生し、この相対運動を利用
して関心のある点の加速度、速度、又は変位を測定する
為に電圧の如き変数を発生させる。
一方、サーボ加速度計が最近多くの注目を浴びる様にな
ってきた。このサーボ加速度計は基本的にはフィードバ
ック回路を具備した加速度計であって、閉ループの検知
システムを構成するものである。加速度計は、従来、工
作機械や建造物の震動を測定する為に使用されており、
それは、主に、加速度を検知する為の可動質量と該可動
質量を支持する為のスプリングとで構成されている。こ
の様な加速度計においては、加速度によって可動質量に
付与される力が電気的に検知されて加速度を検知する。
この様な加速度計は、通常、開ループ検知システムを構
成している。従って、加速度応答性ジオフォンは加速度
計の一種として考えることが可能である。
ってきた。このサーボ加速度計は基本的にはフィードバ
ック回路を具備した加速度計であって、閉ループの検知
システムを構成するものである。加速度計は、従来、工
作機械や建造物の震動を測定する為に使用されており、
それは、主に、加速度を検知する為の可動質量と該可動
質量を支持する為のスプリングとで構成されている。こ
の様な加速度計においては、加速度によって可動質量に
付与される力が電気的に検知されて加速度を検知する。
この様な加速度計は、通常、開ループ検知システムを構
成している。従って、加速度応答性ジオフォンは加速度
計の一種として考えることが可能である。
サーボ加速度計は上述した通常の加速度計を改良したも
のであり、それは可動質量を元の位置へ復帰させる為の
力乃至はトルクを発生するのに必要な電流から加速度を
測定する様に構成されている。従って、サーボ加速度計
は、通常の開ループ型加速度計と比べて、精度のみなら
ず安定性が著しく向上されている。サーボ加速度計の目
覚ましい特徴の1つは静的加速度感度であり、これによ
りサーボ加速度計は配向角度の測定に使用することが可
能となり、姿勢制御への適用の可能性を示している。
のであり、それは可動質量を元の位置へ復帰させる為の
力乃至はトルクを発生するのに必要な電流から加速度を
測定する様に構成されている。従って、サーボ加速度計
は、通常の開ループ型加速度計と比べて、精度のみなら
ず安定性が著しく向上されている。サーボ加速度計の目
覚ましい特徴の1つは静的加速度感度であり、これによ
りサーボ加速度計は配向角度の測定に使用することが可
能となり、姿勢制御への適用の可能性を示している。
上述した如く、サーボ加速度計は多くの点で開ループ型
加速度計よりも著しく優れたものであるが、一層広く且
つ広範に使用される為にはなお改良される必要がある。
加速度計よりも著しく優れたものであるが、一層広く且
つ広範に使用される為にはなお改良される必要がある。
構 成 本発明は、以上の点に鑑みなされたものであって、高分
解能及び高感度で関心のある点の加速度、速度、又は変
位を検知することの可能な改良した検知器を提供するこ
とを主目的とする。本発明の別の目的とするところは、
高精度及び高感度で振動を検知する為の改良された検知
器を提供することである。本発明の更に別の目的とする
ところは、極めて高い分解能及び感度で加速度を検知す
る改良したサーボ加速度計を提供することである。本発
明の更に別の目的とするところは、関心のある点の加速
度、速度、又は変位を検知する検知器で動作上信頼性が
あり寸法が小型の検知器を提供することである。
解能及び高感度で関心のある点の加速度、速度、又は変
位を検知することの可能な改良した検知器を提供するこ
とを主目的とする。本発明の別の目的とするところは、
高精度及び高感度で振動を検知する為の改良された検知
器を提供することである。本発明の更に別の目的とする
ところは、極めて高い分解能及び感度で加速度を検知す
る改良したサーボ加速度計を提供することである。本発
明の更に別の目的とするところは、関心のある点の加速
度、速度、又は変位を検知する検知器で動作上信頼性が
あり寸法が小型の検知器を提供することである。
以下、添付の図面を参照に、本発明の具体的実施の態様
に付いて詳細に説明する。
に付いて詳細に説明する。
第1図には沖合垂直震動測定システムが概略示されてお
り、このシステムにおいて本発明の1実施例に基づいて
構成された光感震器を好適に使用することが可能であ
る。図示した如く、沖合作業台1が建設されており、そ
の上には測定・制御装置2が支持されている。ダウンホ
ールケーブル4が測定・制御装置2から地中に穿設され
た穿孔3を介して延在しており、その下端部にはダウン
ホール工具5が設けられている。ダウンホール工具5は
その中に本発明の光感震器を収納しており、該光感震器
はケーブル4を介して測定・制御装置2へ操作接続され
ている。後に詳述する如く、ダウンホール工具5の内部
に設けられている光感震器は、基本的には、サーボ加速
度計から構成されており、従ってそれはダウンホール工
具5の設置場所における加速度を検知する。
り、このシステムにおいて本発明の1実施例に基づいて
構成された光感震器を好適に使用することが可能であ
る。図示した如く、沖合作業台1が建設されており、そ
の上には測定・制御装置2が支持されている。ダウンホ
ールケーブル4が測定・制御装置2から地中に穿設され
た穿孔3を介して延在しており、その下端部にはダウン
ホール工具5が設けられている。ダウンホール工具5は
その中に本発明の光感震器を収納しており、該光感震器
はケーブル4を介して測定・制御装置2へ操作接続され
ている。後に詳述する如く、ダウンホール工具5の内部
に設けられている光感震器は、基本的には、サーボ加速
度計から構成されており、従ってそれはダウンホール工
具5の設置場所における加速度を検知する。
沖合作業台1から離れた位置において海上に浮ぶボート
6は震動源7を有しており、該震動源7はエアガン等で
構成することが可能である。震動源7が震動波乃至は擾
乱を発生すると、該震動波は幾つかの地層、図示例にお
いては8a,8b,8c,8dを有する地中内を伝播する。ここで
は、地層8cを油層と仮定する。震動波7aは地層8a,8b,8c
を介して伝播し、地層8bと8dとの間の界面で反射してダ
ウンホール工具5内の光感震器に到達する。一方、別の
震動波7cは地層8a,8b,8cを介して伝播した後、直接的に
ダウンホール工具5の内部の光感震器へ到達する。この
様に、種々の震動波がダウンホール工具5内部の光感震
器へ到達して異なった加速度を付与し、従ってこの様に
して収集された震動データから地下構造の解析を行なう
ことが可能である。注意すべきことであるが、ダウンホ
ール工具5は、通常、穿孔3内の複数個の異なった深さ
で順次測定を行なう。
6は震動源7を有しており、該震動源7はエアガン等で
構成することが可能である。震動源7が震動波乃至は擾
乱を発生すると、該震動波は幾つかの地層、図示例にお
いては8a,8b,8c,8dを有する地中内を伝播する。ここで
は、地層8cを油層と仮定する。震動波7aは地層8a,8b,8c
を介して伝播し、地層8bと8dとの間の界面で反射してダ
ウンホール工具5内の光感震器に到達する。一方、別の
震動波7cは地層8a,8b,8cを介して伝播した後、直接的に
ダウンホール工具5の内部の光感震器へ到達する。この
様に、種々の震動波がダウンホール工具5内部の光感震
器へ到達して異なった加速度を付与し、従ってこの様に
して収集された震動データから地下構造の解析を行なう
ことが可能である。注意すべきことであるが、ダウンホ
ール工具5は、通常、穿孔3内の複数個の異なった深さ
で順次測定を行なう。
第2図は、本発明の1実施例に基づいて構成された光感
震器10を概略斜視図で示してあり、理解される如く、図
示した光感震器は基本的にサーボ加速度計の構成を有し
ている。簡単化の為に図示して無いが、実際上の適用に
おいては、第2図に示した構造全体は完全に封止したケ
ース内に包囲状態とされ、そのケースはダウンホール工
具5の内部に固着される。第2図に示した如く、光感震
器10は基台板11を有しており、それは上述したケース
(不図示)へ固着させることが可能である。基台板11上
には、直立した状態で屈曲可能なヒンジ乃至は可撓性接
続板13が固着されている。この接続板13は、形状が大略
矩形であり、両側に水平溝13aが設けられており、該板1
3を局所的に極めて薄くして可及的にスプリング特性を
除去している。接続板13には又中央矩形開口が設けられ
ており、その屈曲性をさらに向上させている。理解され
る如く、接続板13は1方向にのみ、即ち非屈曲状態にお
ける接続板13の面に垂直な方向にのみ屈曲する。
震器10を概略斜視図で示してあり、理解される如く、図
示した光感震器は基本的にサーボ加速度計の構成を有し
ている。簡単化の為に図示して無いが、実際上の適用に
おいては、第2図に示した構造全体は完全に封止したケ
ース内に包囲状態とされ、そのケースはダウンホール工
具5の内部に固着される。第2図に示した如く、光感震
器10は基台板11を有しており、それは上述したケース
(不図示)へ固着させることが可能である。基台板11上
には、直立した状態で屈曲可能なヒンジ乃至は可撓性接
続板13が固着されている。この接続板13は、形状が大略
矩形であり、両側に水平溝13aが設けられており、該板1
3を局所的に極めて薄くして可及的にスプリング特性を
除去している。接続板13には又中央矩形開口が設けられ
ており、その屈曲性をさらに向上させている。理解され
る如く、接続板13は1方向にのみ、即ち非屈曲状態にお
ける接続板13の面に垂直な方向にのみ屈曲する。
垂直支持ロッド12が垂直に延在して接続板13の上端表面
に固着されており、水平支持ロッド15は垂直支持ロッド
12に固着されている。図示した如く、垂直支持ロッド12
は水平支持ロッド15の中心を垂直に交差して延在してお
り、従ってそれにより十字架形状の支持構造体を画定し
ている。水平支持ロッド15は、実際上、本加速度構造に
おける可動質量を構成している。水平支持ロッド15上方
には、1/4ピッチのグラジエントインデックスロッド
レンズ14(セルフォックレンズとも呼称される)が垂直
支持ロッド12の上部を延在しそこに固着して設けられて
いる。注意すべきことであるが、本発明は1/4ピッチ
のグラジエントインデックスロッドレンズに限定される
べきものでは無く、任意のピッチのグラジエントインデ
ックスロッドレンズを使用することが可能である。この
様なセルフォックレンズを使用することは構成上の一体
性が向上され且つ製造が簡単化されるので望ましい。即
ち、垂直支持ロッド12に孔乃至は溝を設け、次いでロッ
ドレンズ14をこの孔乃至は溝内に挿入し適宜の接着剤で
固定させることが必要とされるに過ぎない。
に固着されており、水平支持ロッド15は垂直支持ロッド
12に固着されている。図示した如く、垂直支持ロッド12
は水平支持ロッド15の中心を垂直に交差して延在してお
り、従ってそれにより十字架形状の支持構造体を画定し
ている。水平支持ロッド15は、実際上、本加速度構造に
おける可動質量を構成している。水平支持ロッド15上方
には、1/4ピッチのグラジエントインデックスロッド
レンズ14(セルフォックレンズとも呼称される)が垂直
支持ロッド12の上部を延在しそこに固着して設けられて
いる。注意すべきことであるが、本発明は1/4ピッチ
のグラジエントインデックスロッドレンズに限定される
べきものでは無く、任意のピッチのグラジエントインデ
ックスロッドレンズを使用することが可能である。この
様なセルフォックレンズを使用することは構成上の一体
性が向上され且つ製造が簡単化されるので望ましい。即
ち、垂直支持ロッド12に孔乃至は溝を設け、次いでロッ
ドレンズ14をこの孔乃至は溝内に挿入し適宜の接着剤で
固定させることが必要とされるに過ぎない。
水平支持ロッド15に巻着されて一対のトルクコイル16a
及び16bが夫々垂直支持ロッド12の両側に設けられてい
る。又、一対の永久磁石17a及び17bが水平支持ロッド15
の両側に配設されており、該磁石17a及び17bの各々は支
持ロッド15の対応する端面から所定の距離離隔し且つそ
れに対向して位置されて所定の磁極、N又はS極、を有
している。従って、トルクコイル16a及び16bを介して流
れる電流の方向を制御することによって、水平支持ロッ
ド15は接続板13で屈曲されて永久磁石17a及び17bの選択
した一方へ近接して移動することが可能である。これら
の永久磁石17a及び17bは位置を固定して設けられてお
り、且つこれらは好適には前述したケースに固着して設
けられる。
及び16bが夫々垂直支持ロッド12の両側に設けられてい
る。又、一対の永久磁石17a及び17bが水平支持ロッド15
の両側に配設されており、該磁石17a及び17bの各々は支
持ロッド15の対応する端面から所定の距離離隔し且つそ
れに対向して位置されて所定の磁極、N又はS極、を有
している。従って、トルクコイル16a及び16bを介して流
れる電流の方向を制御することによって、水平支持ロッ
ド15は接続板13で屈曲されて永久磁石17a及び17bの選択
した一方へ近接して移動することが可能である。これら
の永久磁石17a及び17bは位置を固定して設けられてお
り、且つこれらは好適には前述したケースに固着して設
けられる。
更に、光源18が設けられており、それは、好適には、レ
ーザダイオード又は発光ダイオードで構成されており、
且つ光源18はそれに一定の駆動電流を供給する電源回路
19へ接続されている。光源18も、好適には、前述したケ
ース上に固着されている。ロッドレンズ14に関して光源
18とは反対側には受光素子20が配設されており、該受光
素子20は図示例においてはワンチップの二重ホトダイオ
ード素子である。換言すると、素子20はモノリシック構
造で単一の半導体チップから構成されており、それには
所定の小さな間隙をあけて並設されている一対のホトダ
イオードが設けられている。後に更に詳説する如く、注
意すべきことであるが、これらの一対の組み込んだホト
ダイオード間の間隙は極めて小さく形成することが可能
であり、例えば、2乃至3ミクロンから10ミクロンの間
の範囲内とすることが可能であり、従って同様に小さな
スポット径を持った光ビームを提供することの可能なロ
ッドレンズ14によって与えられる合焦機能と相まって、
本システムの感度及び分解能を著しく向上させることが
可能である。図示したホトダイオード素子20には更に第
3ホトダイオード20cが設けられており、それは大略U
字形状をしており、従って実質的に対構成のホトダイオ
ード20a及び20bを取り囲んでいる。この第3ホトダイオ
ード20cは整合(アライメント)を行なうのに使用され
る。即ち、本システムにおいては、本システムにおいて
使用される光ビームのスポットが非常に小さいので、ど
こにビームスポットが位置されているかを見出すことが
困難なことがある。従って、この様な検知ホトダイオー
ド対20a及び20bの周囲に整合領域を設けることが望まし
い。
ーザダイオード又は発光ダイオードで構成されており、
且つ光源18はそれに一定の駆動電流を供給する電源回路
19へ接続されている。光源18も、好適には、前述したケ
ース上に固着されている。ロッドレンズ14に関して光源
18とは反対側には受光素子20が配設されており、該受光
素子20は図示例においてはワンチップの二重ホトダイオ
ード素子である。換言すると、素子20はモノリシック構
造で単一の半導体チップから構成されており、それには
所定の小さな間隙をあけて並設されている一対のホトダ
イオードが設けられている。後に更に詳説する如く、注
意すべきことであるが、これらの一対の組み込んだホト
ダイオード間の間隙は極めて小さく形成することが可能
であり、例えば、2乃至3ミクロンから10ミクロンの間
の範囲内とすることが可能であり、従って同様に小さな
スポット径を持った光ビームを提供することの可能なロ
ッドレンズ14によって与えられる合焦機能と相まって、
本システムの感度及び分解能を著しく向上させることが
可能である。図示したホトダイオード素子20には更に第
3ホトダイオード20cが設けられており、それは大略U
字形状をしており、従って実質的に対構成のホトダイオ
ード20a及び20bを取り囲んでいる。この第3ホトダイオ
ード20cは整合(アライメント)を行なうのに使用され
る。即ち、本システムにおいては、本システムにおいて
使用される光ビームのスポットが非常に小さいので、ど
こにビームスポットが位置されているかを見出すことが
困難なことがある。従って、この様な検知ホトダイオー
ド対20a及び20bの周囲に整合領域を設けることが望まし
い。
このホトダイオード素子20も好適には前述したケース上
に固定して設け、又内蔵されたホトダイオード20a,20b,
20cに夫々接続されている3本の別々の配線21a,21b,21c
を介してサーボ増幅器22へ電気的に接続されている。サ
ーボ増幅器22の詳細な構造に付いては後述するが、それ
はA.C.出力用の端子25へ接続されると共に、配線17を介
して対構成のトルクコイル16a,16bの一方の端部へ接続
されている。対構成のトルクコイル16a,16bの他端はD.
C.出力用の別の端子24へ接続されており、且つ出力抵抗
23の一端へ接続されている。該出力抵抗23の他端は配線
26を介して接地接続されている。
に固定して設け、又内蔵されたホトダイオード20a,20b,
20cに夫々接続されている3本の別々の配線21a,21b,21c
を介してサーボ増幅器22へ電気的に接続されている。サ
ーボ増幅器22の詳細な構造に付いては後述するが、それ
はA.C.出力用の端子25へ接続されると共に、配線17を介
して対構成のトルクコイル16a,16bの一方の端部へ接続
されている。対構成のトルクコイル16a,16bの他端はD.
C.出力用の別の端子24へ接続されており、且つ出力抵抗
23の一端へ接続されている。該出力抵抗23の他端は配線
26を介して接地接続されている。
動作に付いて説明すると、平衡状態においては、水平支
持ロッド15は一対の永久磁石17a,17bの間の中心位置に
位置されており、従ってロッドレンズ14は光源18と光検
知器20との間に画定される光路と整合して位置される。
水平支持ロッド15に加速度が付与されると、ロッド15は
付与された加速度から派生する慣性力に起因して中心位
置から離れて揺動する。この様な揺動運動は光検知器20
で検知され、その際にこの様な揺動運動の量に関する情
報を持った電気信号を発生する。次いで、この様にして
発生された電気信号はサーボ増幅器22へ印加され、該サ
ーボ増幅器22は一対のトルクコイル16a,16bへフィード
バック信号を供給し、従ってトルクコイル16a,16bは電
磁界を発生して水平支持ロッド15を元の中心位置へ復帰
させる。即ち、トルクコイル16a,16bは永久磁石17a,17b
によって夫々発生される夫々の磁界中に存在する様に位
置されており、従ってフィードバック電流がトルクコイ
ル16a,16bを介して流されると、永久磁石17a,17bによっ
て形成される磁界と干渉することの可能な電磁界が発生
される。永久磁石17a,17bは位置が固定されており且つ
ロッド15は揺動可能であるので、これらの2つの磁界の
間の干渉の結果としてロッド15が移動される。
持ロッド15は一対の永久磁石17a,17bの間の中心位置に
位置されており、従ってロッドレンズ14は光源18と光検
知器20との間に画定される光路と整合して位置される。
水平支持ロッド15に加速度が付与されると、ロッド15は
付与された加速度から派生する慣性力に起因して中心位
置から離れて揺動する。この様な揺動運動は光検知器20
で検知され、その際にこの様な揺動運動の量に関する情
報を持った電気信号を発生する。次いで、この様にして
発生された電気信号はサーボ増幅器22へ印加され、該サ
ーボ増幅器22は一対のトルクコイル16a,16bへフィード
バック信号を供給し、従ってトルクコイル16a,16bは電
磁界を発生して水平支持ロッド15を元の中心位置へ復帰
させる。即ち、トルクコイル16a,16bは永久磁石17a,17b
によって夫々発生される夫々の磁界中に存在する様に位
置されており、従ってフィードバック電流がトルクコイ
ル16a,16bを介して流されると、永久磁石17a,17bによっ
て形成される磁界と干渉することの可能な電磁界が発生
される。永久磁石17a,17bは位置が固定されており且つ
ロッド15は揺動可能であるので、これらの2つの磁界の
間の干渉の結果としてロッド15が移動される。
サーボ増幅器22からトルクコイル16a,16bへ供給される
フィードバック電流は、ロッド15へ付与される加速度に
比例しており(ここで、可動質量は実質的に水平支持ロ
ッド15によって構成させるものと仮定しているが、実際
には、可動質量は、コイル16a,16bや、垂直支持ロッド1
2や、ロッドレンズ14等のその他の要素を包含してい
る)、従ってフィーバック電流を測定することによって
ロッド15へ付与される加速度を測定することが可能であ
る。この様に、サーボ加速度計は、可動質量に付与され
る力を開ループ回路で直接的に測定する開ループ型加速
度計とはその構造が著しく異なっている。即ち、サーボ
加速度計では外部的な擾乱によって影響されることが無
く、且つ周波数特性に優れており、従って高い精度及び
安定性を得ることが可能である。
フィードバック電流は、ロッド15へ付与される加速度に
比例しており(ここで、可動質量は実質的に水平支持ロ
ッド15によって構成させるものと仮定しているが、実際
には、可動質量は、コイル16a,16bや、垂直支持ロッド1
2や、ロッドレンズ14等のその他の要素を包含してい
る)、従ってフィーバック電流を測定することによって
ロッド15へ付与される加速度を測定することが可能であ
る。この様に、サーボ加速度計は、可動質量に付与され
る力を開ループ回路で直接的に測定する開ループ型加速
度計とはその構造が著しく異なっている。即ち、サーボ
加速度計では外部的な擾乱によって影響されることが無
く、且つ周波数特性に優れており、従って高い精度及び
安定性を得ることが可能である。
後に詳説する如く、二重光検知器20は小さな間隙を間に
設けて互いに並置された一対の検知ホトダイオード20a,
20bを有している。好適実施例においては、ビームスポ
ットは一対の検知ホトダイオード20a,20bの間の間隙と
実質的に等しい寸法であり、2乃至3ミクロンから10ミ
クロンの範囲内のオーダである。ロッド15が平衡即ち中
心位置に位置している場合、光源18から射出される光ビ
ームはロッドレンズ14を介して一対の検知ホトダイオー
ド20a,20bの間の中心位置上に合焦される。然し乍ら、
ロッド15がそれに付与される加速度の方向に応じて何れ
かの方向へ揺動すると、ロッドレンズ14も移動しその際
にそこを通過する光ビームを光検知器20の表面上で位置
を変化させる。換言すると、ビームスポットは次第に一
対の検知ホトダイオード20a,20bの対応する一方の中へ
移動し、その際に対応するホトダイオード20a,20bから
中心位置からのビームスポットのズレの程度に関する情
報を持った電気信号を発生させる。
設けて互いに並置された一対の検知ホトダイオード20a,
20bを有している。好適実施例においては、ビームスポ
ットは一対の検知ホトダイオード20a,20bの間の間隙と
実質的に等しい寸法であり、2乃至3ミクロンから10ミ
クロンの範囲内のオーダである。ロッド15が平衡即ち中
心位置に位置している場合、光源18から射出される光ビ
ームはロッドレンズ14を介して一対の検知ホトダイオー
ド20a,20bの間の中心位置上に合焦される。然し乍ら、
ロッド15がそれに付与される加速度の方向に応じて何れ
かの方向へ揺動すると、ロッドレンズ14も移動しその際
にそこを通過する光ビームを光検知器20の表面上で位置
を変化させる。換言すると、ビームスポットは次第に一
対の検知ホトダイオード20a,20bの対応する一方の中へ
移動し、その際に対応するホトダイオード20a,20bから
中心位置からのビームスポットのズレの程度に関する情
報を持った電気信号を発生させる。
第3図は、第2図に示した光感震器内に設けられている
二重光検知器20の詳細な構成を示した平面図である。図
示した如く、二重光検知器20は単一の半導体チップの形
状に構成されており、且つ小さな距離dだけ互いに離隔
された一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bを具
備しており、その距離dは好適には2乃至3ミクロンか
ら10ミクロンの範囲内であり、更に大略U字形状をして
おり且つ一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bを
実質的に取り囲む第3ホトダイオード20cが設けられて
いる。一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bは垂
直方向へ幾分長尺状であり、且つ第1及び第2ホトダイ
オード20a,20bは、外部回路へ接続する為に、夫々、リ
ード31a,31bを介して電極パッド30a,30bへ接続されてい
る。同様に、第3ホトダイオード20cはリード31cを介し
て残りの電極パッド30cへ接続されている。注意すべき
ことであるが、二重光検知器20は単一の半導体チップの
形態に製造されているので、一対の検知ホトダイオード
20a,20bの間の間隙dは実際的に可能な範囲で可及的に
小さく設定することが可能であり、従ってそれにより分
解能を著しく向上させることが可能である。この特徴の
重要性は、合焦光学系を構成するロッドレンズ14と結合
されて増加されるものであり、該ロッドレンズ14は光源
18からの光ビームを二重光検知器20の表面上に合焦さ
せ、その際に任意の寸法のビームスポットを得ることを
可能とし、このことも本検知システム全体の分解能及び
感度を向上させることに貢献する。
二重光検知器20の詳細な構成を示した平面図である。図
示した如く、二重光検知器20は単一の半導体チップの形
状に構成されており、且つ小さな距離dだけ互いに離隔
された一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bを具
備しており、その距離dは好適には2乃至3ミクロンか
ら10ミクロンの範囲内であり、更に大略U字形状をして
おり且つ一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bを
実質的に取り囲む第3ホトダイオード20cが設けられて
いる。一対の第1及び第2ホトダイオード20a,20bは垂
直方向へ幾分長尺状であり、且つ第1及び第2ホトダイ
オード20a,20bは、外部回路へ接続する為に、夫々、リ
ード31a,31bを介して電極パッド30a,30bへ接続されてい
る。同様に、第3ホトダイオード20cはリード31cを介し
て残りの電極パッド30cへ接続されている。注意すべき
ことであるが、二重光検知器20は単一の半導体チップの
形態に製造されているので、一対の検知ホトダイオード
20a,20bの間の間隙dは実際的に可能な範囲で可及的に
小さく設定することが可能であり、従ってそれにより分
解能を著しく向上させることが可能である。この特徴の
重要性は、合焦光学系を構成するロッドレンズ14と結合
されて増加されるものであり、該ロッドレンズ14は光源
18からの光ビームを二重光検知器20の表面上に合焦さ
せ、その際に任意の寸法のビームスポットを得ることを
可能とし、このことも本検知システム全体の分解能及び
感度を向上させることに貢献する。
第4図は、第2図に示した光感震器内に設けられている
サーボ増幅器22の1実施例を示した回路図である。図示
した如く、サーボ増幅器22は第1検知ホトダイオード20
aに接続されている第1入力端子32と、第2検知ホトダ
イオード20bに接続されている第2入力端子33とを有し
ている。第1入力端子32は演算増幅器(以後、単にオペ
アンプと呼称する)34の反転入力端へ接続されており、
該オペアンプ34の出力端は抵抗R5を介してオペアンプ38
の反転入力端と抵抗R8を介してオペアンプ39の反転入力
端へ接続されている。同様に、第2入力端子33はオペア
ンプ35の反転入力端へ接続されており、該オペアンプ35
の出力端は抵抗R7を介してオペアンプ38の非反転入力端
と抵抗R9を介してオペアンプ39の反転入力端とへ接続さ
れている。従って、オペアンプ34及び35の各々は夫々の
検知ホトダイオード20a,20bからの光電流信号を電圧信
号へ変換させる。テスト端子36,37が夫々オペアンプ34,
35の出力端に接続して設けられている。
サーボ増幅器22の1実施例を示した回路図である。図示
した如く、サーボ増幅器22は第1検知ホトダイオード20
aに接続されている第1入力端子32と、第2検知ホトダ
イオード20bに接続されている第2入力端子33とを有し
ている。第1入力端子32は演算増幅器(以後、単にオペ
アンプと呼称する)34の反転入力端へ接続されており、
該オペアンプ34の出力端は抵抗R5を介してオペアンプ38
の反転入力端と抵抗R8を介してオペアンプ39の反転入力
端へ接続されている。同様に、第2入力端子33はオペア
ンプ35の反転入力端へ接続されており、該オペアンプ35
の出力端は抵抗R7を介してオペアンプ38の非反転入力端
と抵抗R9を介してオペアンプ39の反転入力端とへ接続さ
れている。従って、オペアンプ34及び35の各々は夫々の
検知ホトダイオード20a,20bからの光電流信号を電圧信
号へ変換させる。テスト端子36,37が夫々オペアンプ34,
35の出力端に接続して設けられている。
オペアンプ38は、実際上、比較器として機能し、その出
力端は抵抗R15を介してオペアンプ48の反転入力端へ接
続されると共に、抵抗R13を介してオペアンプ46の反転
入力端へ接続されている。従って、オペアンプ38はその
出力端において検知ホトダイオード20a,20bからの2つ
の検知信号の間の差信号を供給し、その差信号は中心位
置に関するレンズ14の変位に比例している。オペアンプ
38の出力端に接続してA.C.出力端子45が設けられてお
り、それは第2図に示した端子25へ接続されている。一
方、オペアンプ46の非反転入力端は抵抗R14を介して接
地接続されており、その出力端はD.C.出力端子47へ接続
されていて、該端子47は第2図に示した端子24へ接続さ
れている。オペアンプ46は、実際上、ローパスフィルタ
として機能し、所定のカットオフ周波数以上の高周波数
成分を除去して低周波数成分を得ることを可能としてい
る。オペアンプ46の非反転入力端は抵抗R18を介して接
地接続されており、その出力端は信号出力端子49に接続
されており、該端子49は第2図に示したトルクコイル16
a,16bの一端に接続されている。従って、オペアンプ48
は、オペアンプ38からの変位信号とオペアンプ46からの
変位信号の低周波数成分との和を受け取り、この和信号
に比例してトルクコイル16a,16bへ駆動電流を供給す
る。即ち、第1及び第2入力端子32及び33へ供給された
入力信号は、夫々のオペアンプ34及び35によって適宜増
幅された後、比較器として機能するオペアンプ38で比較
され、その出力信号はオペアンプ48で増幅された後に信
号出力端子49へ供給される。
力端は抵抗R15を介してオペアンプ48の反転入力端へ接
続されると共に、抵抗R13を介してオペアンプ46の反転
入力端へ接続されている。従って、オペアンプ38はその
出力端において検知ホトダイオード20a,20bからの2つ
の検知信号の間の差信号を供給し、その差信号は中心位
置に関するレンズ14の変位に比例している。オペアンプ
38の出力端に接続してA.C.出力端子45が設けられてお
り、それは第2図に示した端子25へ接続されている。一
方、オペアンプ46の非反転入力端は抵抗R14を介して接
地接続されており、その出力端はD.C.出力端子47へ接続
されていて、該端子47は第2図に示した端子24へ接続さ
れている。オペアンプ46は、実際上、ローパスフィルタ
として機能し、所定のカットオフ周波数以上の高周波数
成分を除去して低周波数成分を得ることを可能としてい
る。オペアンプ46の非反転入力端は抵抗R18を介して接
地接続されており、その出力端は信号出力端子49に接続
されており、該端子49は第2図に示したトルクコイル16
a,16bの一端に接続されている。従って、オペアンプ48
は、オペアンプ38からの変位信号とオペアンプ46からの
変位信号の低周波数成分との和を受け取り、この和信号
に比例してトルクコイル16a,16bへ駆動電流を供給す
る。即ち、第1及び第2入力端子32及び33へ供給された
入力信号は、夫々のオペアンプ34及び35によって適宜増
幅された後、比較器として機能するオペアンプ38で比較
され、その出力信号はオペアンプ48で増幅された後に信
号出力端子49へ供給される。
注意すべきことであるが、本システムがオペアンプ46の
カットオフ周波数よりも低い周波数領域で動作する場合
には、本システムはサーボ加速度計として機能するが、
本システムがオペアンプ46のカットオフ周波数よりも高
い周波数領域で動作する場合には、サーボ機構は働かな
いので、本システムは変位検知器として機能する。好適
実施形態においては、第2図に示した構造におけるサー
ボ機構の時定数を1msec乃至3secの範囲内に設定する。
この範囲内において、高周波数領域では、本システムは
サーボ加速度計として機能し、一方低周波数領域では、
変位検知器として機能する。
カットオフ周波数よりも低い周波数領域で動作する場合
には、本システムはサーボ加速度計として機能するが、
本システムがオペアンプ46のカットオフ周波数よりも高
い周波数領域で動作する場合には、サーボ機構は働かな
いので、本システムは変位検知器として機能する。好適
実施形態においては、第2図に示した構造におけるサー
ボ機構の時定数を1msec乃至3secの範囲内に設定する。
この範囲内において、高周波数領域では、本システムは
サーボ加速度計として機能し、一方低周波数領域では、
変位検知器として機能する。
一方、残りのオペアンプ39の非反転入力端は可変抵抗40
へ接続されており、その可変抵抗40は抵抗R10と直列に
接続されると共に電圧基準として機能するツェナーダイ
オード41と並列接続されており、その出力端子はダーリ
ントン対42へ接続されていて、該ダーリントン対42は光
源出力端子44へ接続されると共に、ダイオード43を介し
て接地接続されている。ダーリントン対42も電源電圧
(図示例では、−15V)へ接続されている。光源出力端
子44は第2図に示した電源回路19へ接続させることが可
能である。従って、オペアンプ39は夫々の検知ホトダイ
オード20a,20bからの2つの信号の和を受け取り、この
和信号を電圧基準41と可変抵抗40との結合によって発生
される比較信号と比較して、その際にその出力として差
信号を供給する。この差信号はダーリントン対42によっ
て増幅されて光源18を駆動する為に使用される。その結
果、光源18は比較信号に比例して常に一定の光を射出す
る。尚、図示した如く、その他にも抵抗Rやコンデンサ
Cで適宜設けられている。
へ接続されており、その可変抵抗40は抵抗R10と直列に
接続されると共に電圧基準として機能するツェナーダイ
オード41と並列接続されており、その出力端子はダーリ
ントン対42へ接続されていて、該ダーリントン対42は光
源出力端子44へ接続されると共に、ダイオード43を介し
て接地接続されている。ダーリントン対42も電源電圧
(図示例では、−15V)へ接続されている。光源出力端
子44は第2図に示した電源回路19へ接続させることが可
能である。従って、オペアンプ39は夫々の検知ホトダイ
オード20a,20bからの2つの信号の和を受け取り、この
和信号を電圧基準41と可変抵抗40との結合によって発生
される比較信号と比較して、その際にその出力として差
信号を供給する。この差信号はダーリントン対42によっ
て増幅されて光源18を駆動する為に使用される。その結
果、光源18は比較信号に比例して常に一定の光を射出す
る。尚、図示した如く、その他にも抵抗Rやコンデンサ
Cで適宜設けられている。
理解すべきことであるが、第4図に示した特定の構成は
第2図に示した光感震器におけるサーボ増幅器22として
使用するのに適しているが、本発明は図示したサーボ増
幅器にのみ制限されるべきものではなく、任意のその他
の構成のサーボ増幅器を使用することも可能である。
第2図に示した光感震器におけるサーボ増幅器22として
使用するのに適しているが、本発明は図示したサーボ増
幅器にのみ制限されるべきものではなく、任意のその他
の構成のサーボ増幅器を使用することも可能である。
次に、本発明の別の側面に付いて特に第5図乃至第8図
を参照して説明する。本発明のこの側面によれば、関心
のある点の変位を検知する為に特に構成された検知器が
提供される。この様な変位検知器の基本的な構成を概略
第5図に示してある。注意すべきことであるが、本明細
書全体を通して行なう如く、同様の要素は同様の数字で
表している。第5図に示した如く、本発明を実施した変
位検知器は、光ビームを射出する為の光源18と、光源18
からの光ビームを合焦する為の凸レンズ50と、詳細に上
述した二重光検知器20と、二重光検知器20に接続されて
いる処理装置51とを有している。第5図に示した要素の
場合、光源18とレンズ50と二重光検知器20からなる3つ
の要素の1つが他の位置を固定された2つに関して位置
を移動自在である様に構成されている。その様な支持構
成の1例は第2図に示されており、即ち、その場合、光
源18と二重光検知器20とが位置を固定して設けられ、レ
ンズ50が光源18と二重光検知器20とに関して相対的に移
動自在に設けられる。然し乍ら、注意すべきことである
が、この場合にはフィードバック回路は設けていない。
処理装置51は、例えば、オペアンプ比較器を有してお
り、その一方の入力端をホトダイオード20a,20bの一方
に接続し、他方の入力端を他方のホトダイオードに接続
させる。このオペアンプ比較器はレンズ50、即ち関心の
ある点の静止支持構成体と相対的な位置を表す出力信号
を供給する。注意すべきことであるが、レンズ50の代り
に、光源18か又は二重光検知器20の何れかをその他と相
対的に移動自在に構成することも可能である。
を参照して説明する。本発明のこの側面によれば、関心
のある点の変位を検知する為に特に構成された検知器が
提供される。この様な変位検知器の基本的な構成を概略
第5図に示してある。注意すべきことであるが、本明細
書全体を通して行なう如く、同様の要素は同様の数字で
表している。第5図に示した如く、本発明を実施した変
位検知器は、光ビームを射出する為の光源18と、光源18
からの光ビームを合焦する為の凸レンズ50と、詳細に上
述した二重光検知器20と、二重光検知器20に接続されて
いる処理装置51とを有している。第5図に示した要素の
場合、光源18とレンズ50と二重光検知器20からなる3つ
の要素の1つが他の位置を固定された2つに関して位置
を移動自在である様に構成されている。その様な支持構
成の1例は第2図に示されており、即ち、その場合、光
源18と二重光検知器20とが位置を固定して設けられ、レ
ンズ50が光源18と二重光検知器20とに関して相対的に移
動自在に設けられる。然し乍ら、注意すべきことである
が、この場合にはフィードバック回路は設けていない。
処理装置51は、例えば、オペアンプ比較器を有してお
り、その一方の入力端をホトダイオード20a,20bの一方
に接続し、他方の入力端を他方のホトダイオードに接続
させる。このオペアンプ比較器はレンズ50、即ち関心の
ある点の静止支持構成体と相対的な位置を表す出力信号
を供給する。注意すべきことであるが、レンズ50の代り
に、光源18か又は二重光検知器20の何れかをその他と相
対的に移動自在に構成することも可能である。
第6図は第5図に示した構成から変形した別の構成を示
している。この変形した構成においては、凸レンズ50を
凹面鏡52で置換されている。光源18としては、好適に
は、He-Ne,Ar,YAG,CO2レーザ等のレーザや、レーザダ
イオードや、発光ダイオードや、エレクトロルミネセン
ス(EL)装置や、プラズマ放電装置等を使用する。然し
乍ら、好適な光源は高輝度の光を射出する極めて小さな
発光領域を持ったものである。
している。この変形した構成においては、凸レンズ50を
凹面鏡52で置換されている。光源18としては、好適に
は、He-Ne,Ar,YAG,CO2レーザ等のレーザや、レーザダ
イオードや、発光ダイオードや、エレクトロルミネセン
ス(EL)装置や、プラズマ放電装置等を使用する。然し
乍ら、好適な光源は高輝度の光を射出する極めて小さな
発光領域を持ったものである。
第7図及び第8図は、二重光検知器20の別の構成を示し
ており、これらは本変位検知器に使用するのに適してい
る。第7図に示した構成においては、単一の半導体チッ
プの形態の光検知器50に所定の間隙dをもって互いに並
置された一対の検知ホトダイオード55a,55bを具備して
いる。例えば、間隙dが約10ミクロンに設定されてお
り、レンズによって約5倍に拡大された約10ミクロンの
直径を持ったビームスポットを使用する場合、2Åのオ
ーダのレンズの変位を検知することが可能である。光検
知器55には更に4個の整合用ホトダイオード55c乃至55f
が設けられており、これらは一対の検知ホトダイオード
55a,55bを実質的に取り囲んで配列されている。一方、
第8図はマルチプル光検知器56を示しており、それは互
いに所定の距離dだけ離隔し長手軸を配列方向と直交す
る方向へ向けて1列状に配列されている複数個の(図示
例では6個)ホトダイオード56aを有している。この様
な構成は本変位検知器の動作範囲を拡大することを可能
とする。光検知器56には更に整合ホトダイオード56b,56
cも設けられている。
ており、これらは本変位検知器に使用するのに適してい
る。第7図に示した構成においては、単一の半導体チッ
プの形態の光検知器50に所定の間隙dをもって互いに並
置された一対の検知ホトダイオード55a,55bを具備して
いる。例えば、間隙dが約10ミクロンに設定されてお
り、レンズによって約5倍に拡大された約10ミクロンの
直径を持ったビームスポットを使用する場合、2Åのオ
ーダのレンズの変位を検知することが可能である。光検
知器55には更に4個の整合用ホトダイオード55c乃至55f
が設けられており、これらは一対の検知ホトダイオード
55a,55bを実質的に取り囲んで配列されている。一方、
第8図はマルチプル光検知器56を示しており、それは互
いに所定の距離dだけ離隔し長手軸を配列方向と直交す
る方向へ向けて1列状に配列されている複数個の(図示
例では6個)ホトダイオード56aを有している。この様
な構成は本変位検知器の動作範囲を拡大することを可能
とする。光検知器56には更に整合ホトダイオード56b,56
cも設けられている。
次に、本発明の更に別の側面に付いて特に第9図乃至第
12図を参照して説明する。本発明のこの側面によれば、
関心のある点の振動を検知する為に使用するのに特に適
した検知器が提供される。この様な本発明を具現化した
振動検知器の1例を第9図に示してある。気がついたか
も知れないが、図示した振動検知器は第2図に示した光
感震器と構成が類似しているが、この場合にも、フィー
ドバック回路は設けられていない。第9図に示した振動
検知器は支持体60を有しており、それは水平基台60aと
該基台60aと一体的で且つそれから大略垂直上方向へ延
在する複数個のアーム60b乃至60eを有している。例え
ば、アーム60bは水平基台60aと一体的にその一端に設け
られており、又レーザダイオードや発光ダイオード等の
光源18がアーム60bの上部端面に固定して取り付けられ
ている。一方、アーム60cは同様に水平基台60aと一体的
でその他端に設けられており、その上部端面に二重光検
知器20を固定的に支持している。アーム60bと60cとの間
の中間には、スプリング板の如き男性接続体61を介して
基台60a上に装着して揺動部材62が配設されている。ス
プリング61を設けてあるので、揺動部材62は、それが外
力が付与されて中心位置から移動されたとしても、自動
的に元の中心位置に復帰することが可能である。残りの
アーム60d,60eが揺動部材62から離隔してその両側に配
設して基台60aと一体的に設けられている。従って、ア
ーム60d及び60eは、実際上、揺動部材62の運動を制限す
る為のストッパとして機能する。
12図を参照して説明する。本発明のこの側面によれば、
関心のある点の振動を検知する為に使用するのに特に適
した検知器が提供される。この様な本発明を具現化した
振動検知器の1例を第9図に示してある。気がついたか
も知れないが、図示した振動検知器は第2図に示した光
感震器と構成が類似しているが、この場合にも、フィー
ドバック回路は設けられていない。第9図に示した振動
検知器は支持体60を有しており、それは水平基台60aと
該基台60aと一体的で且つそれから大略垂直上方向へ延
在する複数個のアーム60b乃至60eを有している。例え
ば、アーム60bは水平基台60aと一体的にその一端に設け
られており、又レーザダイオードや発光ダイオード等の
光源18がアーム60bの上部端面に固定して取り付けられ
ている。一方、アーム60cは同様に水平基台60aと一体的
でその他端に設けられており、その上部端面に二重光検
知器20を固定的に支持している。アーム60bと60cとの間
の中間には、スプリング板の如き男性接続体61を介して
基台60a上に装着して揺動部材62が配設されている。ス
プリング61を設けてあるので、揺動部材62は、それが外
力が付与されて中心位置から移動されたとしても、自動
的に元の中心位置に復帰することが可能である。残りの
アーム60d,60eが揺動部材62から離隔してその両側に配
設して基台60aと一体的に設けられている。従って、ア
ーム60d及び60eは、実際上、揺動部材62の運動を制限す
る為のストッパとして機能する。
第9図に図示した実施例においては、凸レンズ50を揺動
部材62の上部端面に固着して設けられている。この凸レ
ンズ50は、光源18から射出された光ビームを一対の検知
ホトダイオード20a,20bを具備する光検知器20の主表面
上に合焦させるべく機能する。従って、注意すべきこと
であるが、凸レンズ50は任意のその他の合焦要素と置換
することが可能であり、実際上、それは好適には、主に
構造的一体生を向上させることが可能であるという理由
により、前述した如きロッドレンズと置換することが望
ましい。光検知器20は配線63を介して処理装置51と接続
されており、従って揺動部材62の運動によって起生され
るビームスポットの運動を検知することが可能である。
本実施例においては、レンズ50が静止している光源18と
光検知器20とに対して移動自在に構成されている。然し
乍ら、別の構成として、光源18と、レンズ50と、光検知
器20の何れか1つを他の2つに対して移動自在に構成す
ることが可能である。
部材62の上部端面に固着して設けられている。この凸レ
ンズ50は、光源18から射出された光ビームを一対の検知
ホトダイオード20a,20bを具備する光検知器20の主表面
上に合焦させるべく機能する。従って、注意すべきこと
であるが、凸レンズ50は任意のその他の合焦要素と置換
することが可能であり、実際上、それは好適には、主に
構造的一体生を向上させることが可能であるという理由
により、前述した如きロッドレンズと置換することが望
ましい。光検知器20は配線63を介して処理装置51と接続
されており、従って揺動部材62の運動によって起生され
るビームスポットの運動を検知することが可能である。
本実施例においては、レンズ50が静止している光源18と
光検知器20とに対して移動自在に構成されている。然し
乍ら、別の構成として、光源18と、レンズ50と、光検知
器20の何れか1つを他の2つに対して移動自在に構成す
ることが可能である。
第10図は、本振動検知器の別の実施例を示している。こ
の場合、箱の様な任意の形状をしたハウジング乃至はケ
ース70が設けられており、且つ光源18及び二重光検知器
20は互いに離隔されてケース70の壁に固着されている。
揺動部材72は可動質量を構成しており、一対のスプリン
グ71a及び71bによって懸下されてケース72の内側に配設
されている。これらのスプリング71a及び71bは、揺動部
材72を所定の位置へ位置させる傾向を有する様に選択さ
れている。凹面鏡52が揺動部材72の1側面上に固着され
ており、光源18からの光ビームを光検知器20の表面上へ
合焦させており、該光検知器20は配線63を介して処理装
置51へ接続されている。この様な構成において、ケース
70へ振動が印加されると、揺動部材72とケース70との間
に相対運動が起生され、それにより光検知器20上に合焦
されているビームが移動する。単一チップの形態の二重
光検知器を使用しているので、検知感度は著しく高く、
製造工程における取り付け及び整合ステップは著しく簡
単化されている。
の場合、箱の様な任意の形状をしたハウジング乃至はケ
ース70が設けられており、且つ光源18及び二重光検知器
20は互いに離隔されてケース70の壁に固着されている。
揺動部材72は可動質量を構成しており、一対のスプリン
グ71a及び71bによって懸下されてケース72の内側に配設
されている。これらのスプリング71a及び71bは、揺動部
材72を所定の位置へ位置させる傾向を有する様に選択さ
れている。凹面鏡52が揺動部材72の1側面上に固着され
ており、光源18からの光ビームを光検知器20の表面上へ
合焦させており、該光検知器20は配線63を介して処理装
置51へ接続されている。この様な構成において、ケース
70へ振動が印加されると、揺動部材72とケース70との間
に相対運動が起生され、それにより光検知器20上に合焦
されているビームが移動する。単一チップの形態の二重
光検知器を使用しているので、検知感度は著しく高く、
製造工程における取り付け及び整合ステップは著しく簡
単化されている。
第11図及び第12図は、第9図に示した実施例から変形し
それと基本的に同様の構成をもった別の2つの実施例を
示している。第11図の実施例においては、光源18とレン
ズ50とが位置を固定されており、光検知器20は位置を移
動自在である。一方、第12図の実施例においては、光検
知器20とレンズ50とが位置を固定してあり、光源18は位
置を移動自在である。
それと基本的に同様の構成をもった別の2つの実施例を
示している。第11図の実施例においては、光源18とレン
ズ50とが位置を固定されており、光検知器20は位置を移
動自在である。一方、第12図の実施例においては、光検
知器20とレンズ50とが位置を固定してあり、光源18は位
置を移動自在である。
効 果 以上、詳説した如く、本発明によれば、関心のある点の
加速度、速度、変位、又は振動を高精度で且つ高感度で
検知する検知器が提供される。単一半導体チップの形態
の二重光検知器を使用した場合には、分解能及び感度が
著しく向上され、且つ2つのホトダイオードの間のアラ
イメントを取ることを必要としないので、取り付け工程
が著しく簡単化される。その上、同一の単一基板上に2
つ又はそれ以上のホトダイオードを特定のパターン状に
設けているので、構造的一体性は極めて高く、何等問題
を発生すること無しに厳しい条件下においても使用する
ことを可能としている。更に、光源からの光ビームを光
検知器上へ合焦させる光学系として例えばセルフォック
レンズ等のロッドレンズを使用する場合には、製造プロ
セスを簡単化すると共に検知器の構造的一体性を更に増
加させることが可能である。
加速度、速度、変位、又は振動を高精度で且つ高感度で
検知する検知器が提供される。単一半導体チップの形態
の二重光検知器を使用した場合には、分解能及び感度が
著しく向上され、且つ2つのホトダイオードの間のアラ
イメントを取ることを必要としないので、取り付け工程
が著しく簡単化される。その上、同一の単一基板上に2
つ又はそれ以上のホトダイオードを特定のパターン状に
設けているので、構造的一体性は極めて高く、何等問題
を発生すること無しに厳しい条件下においても使用する
ことを可能としている。更に、光源からの光ビームを光
検知器上へ合焦させる光学系として例えばセルフォック
レンズ等のロッドレンズを使用する場合には、製造プロ
セスを簡単化すると共に検知器の構造的一体性を更に増
加させることが可能である。
以上、本発明の具体的実施の態様に付いて詳細に説明し
たが、本発明はこれら具体例にのみ限定されるべきもの
では無く、本発明の技術的範囲を逸脱すること無しに種
々の変形が可能であることは勿論である。
たが、本発明はこれら具体例にのみ限定されるべきもの
では無く、本発明の技術的範囲を逸脱すること無しに種
々の変形が可能であることは勿論である。
第1図は本発明を具体化した光感震器を好適に適用する
ことの可能な沖合垂直震動測定システムを示した概略
図、第2図はサーボ加速度計の原理に基づいて構成した
光感震器の全体的構成を示した概略図、第3図は本発明
に使用するのに適した二重光検知器の構成を示した平面
図、第4図は第2図に示したサーボ増幅器22の詳細な構
成を示した回路図、第5図は本発明の別の側面に従い構
成された関心のある点の変位を検知する変位検知器の1
実施例を示した概略図、第6図は第5図に示した構成か
ら変形して構成した変位検知器の別の実施例を示した概
略図、第7図及び第8図は第5図又は第6図に示した検
知器に使用するのに適した二重光検知器の別の構成を示
した各平面図、第9図は本発明の更に別の側面に従い構
成した関心のある点の振動を検知する為の振動検知器の
1実施例を示した概略図、第10図は第9図のものと同一
の原理に基ずいて構成された振動検知器の別の実施例を
示した概略図、第11図及び第12図は第9図に示した構成
の変形例を示した各概略図、である。 (符号の説明) 11:基台 12:垂直支持ロッド 13:接続板 14:ロッドレンズ(セルフォックレンズ) 15:水平支持ロッド 16:トルクコイル 17:永久磁石 18:光源 20:二重光検知器 22:サーボ増幅器 50:凸レンズ 52:凹面鏡 61,71:スプリング 62:72:揺動部材
ことの可能な沖合垂直震動測定システムを示した概略
図、第2図はサーボ加速度計の原理に基づいて構成した
光感震器の全体的構成を示した概略図、第3図は本発明
に使用するのに適した二重光検知器の構成を示した平面
図、第4図は第2図に示したサーボ増幅器22の詳細な構
成を示した回路図、第5図は本発明の別の側面に従い構
成された関心のある点の変位を検知する変位検知器の1
実施例を示した概略図、第6図は第5図に示した構成か
ら変形して構成した変位検知器の別の実施例を示した概
略図、第7図及び第8図は第5図又は第6図に示した検
知器に使用するのに適した二重光検知器の別の構成を示
した各平面図、第9図は本発明の更に別の側面に従い構
成した関心のある点の振動を検知する為の振動検知器の
1実施例を示した概略図、第10図は第9図のものと同一
の原理に基ずいて構成された振動検知器の別の実施例を
示した概略図、第11図及び第12図は第9図に示した構成
の変形例を示した各概略図、である。 (符号の説明) 11:基台 12:垂直支持ロッド 13:接続板 14:ロッドレンズ(セルフォックレンズ) 15:水平支持ロッド 16:トルクコイル 17:永久磁石 18:光源 20:二重光検知器 22:サーボ増幅器 50:凸レンズ 52:凹面鏡 61,71:スプリング 62:72:揺動部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 近藤 真通 東京都多摩市豊ケ丘4丁目2番地4―503 (56)参考文献 特開 昭58−90173(JP,A)
Claims (6)
- 【請求項1】サーボ加速度計において、 支持体、 前記支持体上の固定位置に設けた永久磁石、 前記永久磁石と磁気的に干渉可能な磁界を発生可能なよ
うに設けたコイル、 前記永久磁石に関し相対的に移動自在に前記コイルを支
持するために垂直支持ロッドと前記垂直支持ロッドに担
持された水平支持ロッドとを具備する可動支持手段、 光ビームを射出するために前記支持体上の固定位置に設
けた光源、 前記光源から離隔して配置されており前記光源からの光
ビームを受光するために前記支持体上の固定位置に設け
た受光手段、 前記受光手段に結合されており前記受光手段上に入射す
る前記光ビームの位置を表す信号を発生する信号発生手
段、 前記光源と前記受光手段との間において前記可動支持手
段に固着されており、前記垂直支持ロッドに固着したグ
ラジエントインデックスロッドレンズを具備しており、
前記受光手段上でのレンズ変位を拡大させる光学系、 前記信号発生手段から発生された信号に応答して前記コ
イルへ駆動電流を供給するサーボ増幅器、 を有することを特徴とするサーボ加速度計。 - 【請求項2】特許請求の範囲第1項において、前記可動
支持手段が、更に、一端を前記支持体に固着し且つ他端
を前記垂直支持ロッドの底部に固着した可撓接続板を有
していることを特徴とするサーボ加速度計。 - 【請求項3】特許請求の範囲第2項において、前記可撓
接続板の両側面上には水平溝を形成して薄化領域を設け
ており、それにより前記接続板が前記薄化領域に沿って
屈曲することを可能としたことを特徴とするサーボ加速
度計。 - 【請求項4】特許請求の範囲第3項において、前記可撓
接続板には中央開口を設けてありその可撓性を向上させ
たことを特徴とするサーボ加速度計。 - 【請求項5】特許請求の範囲第1項乃至第4項の内のい
ずれか1項において、前記グラジエントインデックスロ
ッドレンズが1/4ピッチを有することを特徴とするサ
ーボ加速度計。 - 【請求項6】位置を固定して設けた少なくとも1個の永
久磁石、前記永久磁石と相対的に移動自在に設けた可動
支持手段、前記可動支持手段に支持されており前記永久
磁石と磁気的に干渉可能な磁界を発生することの可能な
少なくとも1個のコイル、光ビームを射出するために位
置を固定して設けた光源、前記光源からの前記光ビーム
を受光し前記光ビームの入射位置を表す信号を発生する
受光手段、前記可動支持手段上に固着されており前記光
ビームを前記受光手段上に合焦させる光学系、前記受光
手段から発生された前記信号に応答して前記コイルへ駆
動電源を付与するサーボ増幅器、を有するサーボ加速度
計において、前記受光手段が互いに所定の距離離隔され
て単一の半導体チップ上に形成された少なくとも2個の
検知ホトダイオードを有しており、且つ少なくとも1個
の整合ホトダイオードが前記検知ホトダイオードを少な
くとも部分的に取り囲んだ状態で前記チップに形成され
ていることを特徴とするサーボ加速度計。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60079365A JPH0664084B2 (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 光感震器 |
US06/910,585 US4792931A (en) | 1985-04-16 | 1986-09-23 | Optical seismic detector |
EP86402297A EP0264509B1 (en) | 1985-04-16 | 1986-10-15 | Optical seismic detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60079365A JPH0664084B2 (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 光感震器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61239164A JPS61239164A (ja) | 1986-10-24 |
JPH0664084B2 true JPH0664084B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=13687852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60079365A Expired - Lifetime JPH0664084B2 (ja) | 1985-04-16 | 1985-04-16 | 光感震器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4792931A (ja) |
EP (1) | EP0264509B1 (ja) |
JP (1) | JPH0664084B2 (ja) |
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JPH0692980B2 (ja) * | 1989-03-24 | 1994-11-16 | リオン株式会社 | 振動測定装置 |
JP2687242B2 (ja) * | 1989-08-10 | 1997-12-08 | ジェコー株式会社 | サーボ加速度計 |
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US5223710A (en) * | 1992-03-06 | 1993-06-29 | Digital Equipment Corporation | Optical angular position sensing system for use with a galvanometer |
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US5936294A (en) * | 1996-05-28 | 1999-08-10 | Motorola, Inc. | Optical semiconductor component and method of fabrication |
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US6867411B2 (en) | 2000-10-30 | 2005-03-15 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Optically rebalanced accelerometer |
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WO2019059798A1 (en) * | 2017-09-21 | 2019-03-28 | Rosneft Oil Company | SEISMIC SENSOR |
US11835333B2 (en) | 2021-12-17 | 2023-12-05 | International Business Machines Corporation | Rotational oscillation sensor with a multiple dipole line trap system |
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NL6801683A (ja) * | 1968-02-06 | 1969-08-08 | ||
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US4028659A (en) * | 1972-10-18 | 1977-06-07 | Kinemetrics, Inc. | Strong motion accelerograph with self-starter and electrical as well as light outputs |
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JPS5890173A (ja) * | 1981-11-25 | 1983-05-28 | Tokyo Keiki Co Ltd | 加速度計の偏位検出装置 |
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-
1985
- 1985-04-16 JP JP60079365A patent/JPH0664084B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-09-23 US US06/910,585 patent/US4792931A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-10-15 EP EP86402297A patent/EP0264509B1/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0264509B1 (en) | 1992-02-19 |
JPS61239164A (ja) | 1986-10-24 |
EP0264509A1 (en) | 1988-04-27 |
US4792931A (en) | 1988-12-20 |
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