JPH0659193A - Microscope - Google Patents

Microscope

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JPH0659193A
JPH0659193A JP4231618A JP23161892A JPH0659193A JP H0659193 A JPH0659193 A JP H0659193A JP 4231618 A JP4231618 A JP 4231618A JP 23161892 A JP23161892 A JP 23161892A JP H0659193 A JPH0659193 A JP H0659193A
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observation
objective lens
area
visual field
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Chikaya Ikou
知加也 伊香
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Nikon Corp
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Abstract

PURPOSE:To securely observe a specimen slide glass through the microscope without any omission. CONSTITUTION:An encoder 4 detects the position coordinates of a stage below the objective. Information output means 1 and 2 output information showing unit observation visual fields on a specimen which are determined by optical characteristics of the objective. A control part 3 calculates an observed area on the specimen from the stage position information from the encoder 4 and the unit observation visual fields from the information output means 1 and 2 and displays the observed area on the specimen at a display part 6 according to the output.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は顕微鏡に係り、特に顕微
鏡を用いたスライド標本の検鏡における標本の観察漏れ
を防止するための顕微鏡に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope, and more particularly to a microscope for preventing omission of observation of a slide specimen using a microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、顕微鏡観察では、観察の効率化の
ためにスライドガラスのほぼ全面に標本を載せて行うス
クリーニング作業が行われることがある。このスクリー
ニング作業では熟練した検査者により大量の標本試料が
所定の時間内に手際よく検査される。その際、実際の作
業としては、喀痰等の検査試料をスライドガラスの全面
に塗布し、そのスライドガラスをほぼ全面にわたり顕微
鏡で漏れなく検鏡し、その中で異常の疑いのある部位を
発見し、マーキング等によりチェックし、必要な再検査
を行わせる方法がとられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in microscope observation, there is a case where a screening operation is performed by placing a sample on almost the entire surface of a slide glass in order to improve the efficiency of observation. In this screening operation, a large amount of specimen samples are skillfully inspected within a predetermined time by a trained inspector. At that time, as an actual work, an inspection sample such as sputum was applied to the entire surface of the slide glass, and the slide glass was microscopically examined over almost the entire surface with a microscope to find a site suspected to be abnormal. Checking with marking, etc., the necessary re-inspection is performed.

【0003】図7はスクリーニング作業における顕微鏡
による観察手順の一例を示したものである。この観察方
法ではスライドガラス11の載置されている図示しない
ステージをX方向に移動し、スライドガラス11を隅部
から連続して観察し、スライドガラス11の他端でY方
向に視野分ずらして順次、顕微鏡視野の直径に等しい幅
の観察軌跡によりスライドガラス11の全面をトレース
するようになっている。このとき隣合う観察軌跡にすき
間が出ないように僅かに重なりを設けながら観察してい
た。
FIG. 7 shows an example of a microscope observation procedure in a screening operation. In this observation method, a stage (not shown) on which the slide glass 11 is placed is moved in the X direction, the slide glass 11 is continuously observed from the corner, and the other end of the slide glass 11 is shifted in the Y direction by the field of view. The entire surface of the slide glass 11 is sequentially traced by an observation locus having a width equal to the diameter of the field of view of the microscope. At this time, the observations were made with a slight overlap so that no gap was formed between adjacent observation loci.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前述のよう
なスクリーニング作業では、検査精度は検査者の熟練度
に依存し、ステージの微妙なずらし方の狂いによって
は、試料の見落とし部分が生じるおそれがある。また、
ステージを所定方向Aに移動させている時にある点12
aで作業が中断した場合など、作業を再開する際、ステ
ージを移動させる方向を方向Bと間違えることもあり、
その場合には明らかに観察漏れ領域Cが発生し、そのよ
うな場合観察漏れに気付かないことが多い。このため検
査漏れによる診断ミス等が発生し、検査の内容によって
は重大な問題が生じるおそれもある。このようにスクリ
ーニング作業を伴う顕微鏡観察の検査は、検査者に対す
る作業負担が大きいものであり、作業効率の向上と作業
負担の軽減の要請がある。
However, in the screening work as described above, the inspection accuracy depends on the skill of the inspector, and there is a possibility that the sample may be overlooked due to a slight deviation of the stage. is there. Also,
Point 12 when moving the stage in the predetermined direction A
When the work is restarted, such as when the work is interrupted at a, the direction in which the stage is moved may be mistaken for the direction B,
In that case, an observation omission region C obviously occurs, and in such a case, the observation omission is often not noticed. For this reason, a diagnosis error or the like may occur due to an omission of the inspection, and a serious problem may occur depending on the content of the inspection. As described above, the inspection of the microscope observation accompanied by the screening work imposes a heavy work burden on the inspector, and there is a demand for improving work efficiency and reducing the work burden.

【0005】そこで、本発明の目的は前述した従来の技
術が有する問題点を解消し、スライドガラスのスクリー
ニング作業においてスライドガラス観察状況を監視し、
観察漏れの箇所を確実に認識し、所定の手段により再観
察を促して検査を確実に行えるようにした顕微鏡を提供
することにある。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, to monitor the slide glass observation situation in the slide glass screening operation,
It is an object of the present invention to provide a microscope in which an omission of observation is surely recognized and re-observation is promoted by a predetermined means so that an inspection can be surely performed.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は対物レンズに対してステージを移動して該
ステージ上に載せた標本を顕微鏡観察する顕微鏡におい
て、前記対物レンズに対する前記ステージの位置座標を
検出するステージ位置検出手段と、前記対物レンズの光
学特性により決定される前記標本上の単位観察視野を表
す情報を出力する情報出力手段と、前記ステージ位置検
出手段からのステージ位置情報と前記情報出力手段から
の単位観察視野とから前記標本上の観察済領域を算出す
る算出手段と、前記算出手段の出力に基づいて前記標本
の観察済領域を表示する表示手段とを備えたことを特徴
とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a microscope for observing a sample placed on the stage by moving the stage with respect to the objective lens, wherein the stage with respect to the objective lens is used. Position detecting means for detecting the position coordinates of the object, information output means for outputting information representing a unit observation visual field on the sample determined by the optical characteristics of the objective lens, and stage position information from the stage position detecting means. And calculation means for calculating the observed area on the sample from the unit observation field of view from the information output means, and display means for displaying the observed area of the sample based on the output of the calculating means. It is characterized by.

【0007】この場合、前記算出手段は、前記観察済領
域を一時記憶する観察済領域記憶手段と、前記顕微鏡観
察の終了を検知する検知手段と、警告動作を行う警告手
段とを有し、前記算出手段は、前記検知手段で顕微鏡観
察の終了を検知した時に、前記標本上の観察すべき領域
と前記観察済領域記憶手段により一時記憶された観察済
領域とを比較して未観察済領域がある場合に前記警告手
段を動作させることが好ましい。
In this case, the calculation means has an observed area storage means for temporarily storing the observed area, a detection means for detecting the end of the microscope observation, and a warning means for performing an alarm operation. When the detection means detects the end of the microscope observation by the detection means, the unobserved area is compared by comparing the area to be observed on the specimen with the observed area temporarily stored by the observed area storage means. It is preferable to activate the warning means in some cases.

【0008】また、前記情報出力手段は、観察光路上に
設置された前記対物レンズを認識する対物レンズ検知手
段と、対物レンズを含めた観察光学系による単位観察領
域の情報を記憶する単位観察視野記憶手段とを有し、前
記単位観察視野記憶手段から、前記対物レンズ検出手段
により認識した対物レンズを含めた観察光学系の単位観
察視野の情報を出力することが好ましい。
The information output means includes an objective lens detection means for recognizing the objective lens installed on the observation optical path, and a unit observation field of view for storing information on a unit observation area by an observation optical system including the objective lens. It is preferable to have a storage means, and to output the information of the unit observation visual field of the observation optical system including the objective lens recognized by the objective lens detection means from the unit observation visual field storage means.

【0009】また、観察終了時に前記観察済み視野領域
を示したフラグ情報が前記標本の全体領域を観察した時
に得られるフラグ情報に対して抜けがあるかを判断し、
抜けがある場合に所定の警告手段を動作させるようにす
ることが好ましい。
At the end of the observation, it is determined whether or not the flag information indicating the observed visual field region is missing from the flag information obtained when observing the entire region of the sample,
It is preferable to activate a predetermined warning means when there is a disconnection.

【0010】[0010]

【作用】本発明によれば、対物レンズに対してステージ
を移動して該ステージ上に載せた標本を顕微鏡観察する
顕微鏡において、ステージ位置検出手段で前記対物レン
ズに対する前記ステージの位置座標を検出し、情報出力
手段で前記対物レンズの光学特性により決定される前記
標本上の単位観察視野を表す情報を出力し、算出手段で
前記ステージ位置検出手段からのステージ位置情報と前
記情報出力手段からの単位観察視野とから前記標本上の
観察済領域を算出し、その出力に基づいて前記標本の観
察済領域を表示手段で表示するようにしたので、前記ス
テージを移動して観察した状態及びその観察済領域を逐
次視覚により確認できるので、標本の観察漏れ等を防止
することができる。
According to the present invention, in a microscope for observing a sample placed on the stage by moving the stage with respect to the objective lens, the stage position detecting means detects the position coordinate of the stage with respect to the objective lens. Information output means outputs information representing a unit observation visual field on the sample determined by optical characteristics of the objective lens, and calculation means outputs stage position information from the stage position detection means and unit from the information output means. The observed area on the specimen is calculated from the observation field of view, and the observed area of the specimen is displayed on the display means based on the output thereof. Since the region can be sequentially confirmed visually, omission of observation of the sample can be prevented.

【0011】この場合、前記算出手段を前記観察済領域
を一時記憶する観察済領域記憶手段と、前記顕微鏡観察
の終了を検知する検知手段と、警告動作を行う警告手段
とで構成し、前記検知手段で顕微鏡観察の終了を検知し
た時に、前記標本上の観察すべき領域と前記観察済領域
記憶手段により一時記憶された観察済領域とを比較して
未観察済領域がある場合に前記警告手段を動作させるよ
うにしたので、未観察領域が生じるのを確実に防止する
ことができる。
In this case, the calculating means is composed of an observed area storage means for temporarily storing the observed area, a detecting means for detecting the end of the microscope observation, and a warning means for performing a warning operation. When the end of the microscopic observation is detected by the means, the area to be observed on the specimen is compared with the observed area temporarily stored by the observed area storage means, and if there is an unobserved area, the warning means Since it is operated, it is possible to reliably prevent an unobserved region from occurring.

【0012】また、前記情報出力手段を観察光路上に設
置された前記対物レンズを認識する対物レンズ検知手段
と、対物レンズを含めた観察光学系による単位観察領域
の情報を記憶する単位観察視野記憶手段とで構成し、前
記単位観察視野記憶手段から、前記対物レンズ検出手段
により認識した対物レンズを含めた観察光学系の単位観
察視野の情報を出力するようにしたので、効率良く観察
済領域を認識することができる。
Further, the information output means is an objective lens detection means for recognizing the objective lens installed on the observation optical path, and a unit observation visual field memory for storing information of a unit observation area by an observation optical system including the objective lens. Since the unit observation visual field storage means outputs the information of the unit observation visual field of the observation optical system including the objective lens recognized by the objective lens detection means, the observed area can be efficiently generated. Can be recognized.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明による顕微鏡の一実施例につい
て添付図面を参照して説明する。図1は本発明による顕
微鏡の概略構成を示したブロック図である。同図におい
て、符号1は情報出力手段の一部を構成するレボルバ番
地検出部を示しており、このレボルバ番地検出部1は現
在観察光路上にあるレボルバの位置を認識し、レボルバ
に装着されている複数種類の対物レンズのうちから観察
光路上の停止位置にあるレボルバ孔に装着されている対
物レンズを認識することができる。
An embodiment of a microscope according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a microscope according to the present invention. In the figure, reference numeral 1 indicates a revolver address detection unit which constitutes a part of the information output means. The revolver address detection unit 1 recognizes the position of the revolver currently on the observation optical path and is attached to the revolver. The objective lens attached to the revolver hole at the stop position on the observation optical path can be recognized from among the plurality of types of objective lenses that are present.

【0014】また、データメモリ2は読み出し専用のR
OMから構成されており、レボルバに装着された対物レ
ンズの実視野寸法や各対物レンズおよび接眼レンズに関
する情報が格納されている。これらの情報を参照して光
路上の対物レンズの実視野寸法と、この視野寸法に応じ
て所定のグリッド状に分割されている視野分割数(以
後、視野数と記す。)とが制御部3に読み出されるよう
になっている。さらに、この制御部3には顕微鏡のステ
ージの絶対位置座標を検出するエンコーダ4が接続され
ている。このエンコーダ4からのステージ位置情報によ
り制御部3では、現在観察している視野の中心位置の
(x,y)座標を算出できるようになっている。
The data memory 2 is a read-only R memory.
The OM is composed of an OM and stores the actual field size of the objective lens mounted on the revolver and information about each objective lens and eyepiece. With reference to these pieces of information, the actual visual field size of the objective lens on the optical path and the visual field division number (hereinafter referred to as the visual field number) divided into a predetermined grid shape according to the visual field size are determined by the control unit 3. It is designed to be read by. Further, an encoder 4 for detecting absolute position coordinates of the stage of the microscope is connected to the control unit 3. Based on the stage position information from the encoder 4, the control unit 3 can calculate the (x, y) coordinates of the center position of the currently observed visual field.

【0015】ところで、前述の実視野の直径は観察光路
上にセットされている対物レンズの倍率や接眼レンズの
倍率等により異なる。また、通常視野範囲は視野絞り等
の光学手段により円形に規定されているので、現在観察
している視野範囲をもっと簡単に認識する方法がとられ
ている。すなわち、本実施例では円形の実視野に内接す
る正方形で示された四角形の視野(以後、実効視野と記
す。)を設定し、その実効視野内を所定数の2次元グリ
ッドに分割し、前述の視野中心座標(x,y)をもとに
この実効視野内の範囲に存在する2次元グリッドのセル
数をもとにその範囲を観察済み領域として認識してい
る。
By the way, the diameter of the above-mentioned actual visual field varies depending on the magnification of the objective lens set on the observation optical path, the magnification of the eyepiece lens, and the like. Further, since the visual field range is usually defined in a circular shape by an optical means such as a field stop, a method of more easily recognizing the currently observed visual field range is adopted. That is, in this embodiment, a quadrangle field of view (hereinafter referred to as an effective field of view) indicated by a square inscribed in a circular real field of view is set, and the effective field of view is divided into a predetermined number of two-dimensional grids. Based on the visual field center coordinates (x, y), the range is recognized as an observed area based on the number of cells of the two-dimensional grid existing in the range within the effective visual field.

【0016】この実効視野内の領域を具体的に認識する
ために、前述の内接四角形の面積計算を行い、制御部3
に接続された書き込み読み出し可能なR/Wメモリ5内
のメモリ領域に視野中心座標と、視野内にあることを認
識するフラグとを順次書き込めるようにしている(図1
参照)。本実施例では図2(a)に示したように実視野
12の中心座標(x,y)を中心とした内接四角形の実
効視野13内の2次元グリッドの個々のセルに相当する
R/Wメモリ5内のメモリ領域にフラグ「1」をたてる
ようになっている。このとき図2(b)は高倍率の対物
レンズによる実効視野13を示したものであり、同図
(a)の実効視野13に対してその視野面積は1/4と
なり、R/Wメモリ5内の対応する1/4の範囲のメモ
リ領域にフラグがたてられる。このように光路上にある
レボルバの情報により観察視野を所定の2次元グリッド
に分割し、観察の軌跡をトレースしてその観察済み部分
に相当するメモリ領域にフラグをたてるようにしたの
で、観察済みであることを示す情報をR/Wメモリ5内
に次々と記憶させていくことができる。
In order to specifically recognize the area within the effective visual field, the area of the inscribed quadrangle is calculated and the control unit 3
The coordinates of the center of the visual field and the flag for recognizing that the visual field is in the visual field can be sequentially written in the memory area in the writable / readable R / W memory 5 connected to (FIG. 1).
reference). In the present embodiment, as shown in FIG. 2A, R / corresponding to each cell of the two-dimensional grid in the effective visual field 13 of an inscribed quadrangle centered on the center coordinates (x, y) of the real visual field 12. A flag "1" is set in the memory area of the W memory 5. At this time, FIG. 2B shows the effective visual field 13 by the high-magnification objective lens, and the visual field area becomes 1/4 of the effective visual field 13 of FIG. The corresponding 1/4 range of the memory area is flagged. In this way, the observation field of view is divided into a predetermined two-dimensional grid according to the information of the revolver on the optical path, the trace of the observation is traced, and the memory area corresponding to the observed portion is flagged. It is possible to store information indicating that the processing has been completed in the R / W memory 5 one after another.

【0017】さらにR/Wメモリ5内に記憶された観察
済み領域の情報はLCD表示部6によりモニタすること
ができるようになっている。図3はR/Wメモリ5とL
CD表示部6との関係を模式的に示した説明図である。
同図において、LCD表示部6には図示しないステージ
上にあるスライドガラス11とほぼ相似形の横長モニタ
領域6Aが設定されており、各表示画素へ送られる発光
情報と、R/Wメモリ5内に記憶された観察済み領域の
情報とは写像関係にある。
Further, the information of the observed area stored in the R / W memory 5 can be monitored by the LCD display section 6. Figure 3 shows R / W memory 5 and L
FIG. 7 is an explanatory diagram schematically showing the relationship with the CD display unit 6.
In the figure, a horizontally long monitor area 6A having a shape similar to that of a slide glass 11 on a stage (not shown) is set in the LCD display section 6, and the light emission information sent to each display pixel and the R / W memory 5 are set. There is a mapping relationship with the information of the observed area stored in.

【0018】これによりスライドガラス11を観察した
ときの軌跡は、R/Wメモリ5からの表示指令として制
御部3を介してLCD表示部6に出力され、LCD表示
部6のモニタ領域6Aの画面には観察軌跡を模式的に表
した像がリアルタイムで表示される。表示方法としては
現在視野内にある部分は点滅カーソル6aで表示され、
観察された部分は点灯表示6bされ、あたかも観察とと
もに表示部が帯状に塗りつぶされていくように表現する
ことができる。また、制御部3には観察作業の終了を検
知スイッチを介してスライドガラスのセット状態で判断
する作業終了検出器8が設けられている。
As a result, the locus when observing the slide glass 11 is output to the LCD display section 6 via the control section 3 as a display command from the R / W memory 5, and the screen of the monitor area 6A of the LCD display section 6 is displayed. A real-time image of the observation locus is displayed on. As a display method, the part currently in the field of view is displayed with a blinking cursor 6a,
The observed portion is illuminated and displayed 6b, and it can be expressed as if the display portion was painted in a band shape as if observed. Further, the control section 3 is provided with a work end detector 8 which judges the end of the observation work through the detection switch in the set state of the slide glass.

【0019】図4は実視野12に対して正確な内接四角
形の実効視野13を設定してそれに対応する2次元グリ
ッドのセルを設定するのと異なり、実視野12内に完全
に含まれるような2次元グリッドにのみフラグ「1」を
たてるようにした変形例の実効視野14を示したもので
ある。この方法によれば、内接四角形等を正確に算出し
ないでも、あらかじめ所定寸法に設定しておいた2次元
グリッドと実視野の直径とから視野内に存在する2次元
グリッドを大まかに抽出でき、容易に実効視野14の情
報をR/Wメモリ5に書き込むことができる。
In FIG. 4, unlike the actual visual field 12, an accurate inscribed quadrangle effective visual field 13 is set and corresponding two-dimensional grid cells are set, so that the actual visual field 12 is completely included. 7 shows an effective visual field 14 of a modified example in which the flag "1" is set only in such a two-dimensional grid. According to this method, it is possible to roughly extract the two-dimensional grid existing in the visual field from the two-dimensional grid preset to a predetermined size and the diameter of the actual visual field, without accurately calculating the inscribed quadrangle, etc. The information of the effective visual field 14 can be easily written in the R / W memory 5.

【0020】ここで、スライドガラス11をステージに
固定するための標本ホルダと、スライドガラス11が所
定位置にセットされていることを認識するための検出ス
イッチの構成について説明する。符号30は標本ホルダ
を示しており、この標本ホルダ30の端面にスライドガ
ラス11を押さえつけるように標本押えレバー31が取
着されている。さらに標本ホルダ30内にはマイクロス
イッチ32が装着されており、マイクロスイッチ32は
スライドガラス11が定位置に保持されたときにON状
態になるようにセットされている。
The structure of the sample holder for fixing the slide glass 11 to the stage and the detection switch for recognizing that the slide glass 11 is set at a predetermined position will be described. Reference numeral 30 indicates a sample holder, and a sample pressing lever 31 is attached to the end surface of the sample holder 30 so as to press the slide glass 11. Further, a micro switch 32 is mounted in the sample holder 30, and the micro switch 32 is set so as to be in an ON state when the slide glass 11 is held at a fixed position.

【0021】次に、以上のような構成からなる装置の動
作について図6の動作フローチャートを参照して説明す
る。まず、検査に先立ち、R/Wメモリ5とLCD表示
部6のモニタ領域6Aの画面とをクリアする(ステップ
100)。次いでレボルバ番地検出部1から現在光路上
にある対物レンズのレボルバ情報を読み出し(ステップ
110)、このレボルバ情報をもとにデータメモリ2か
ら対応する視野数情報を読み出す(ステップ120)。
さらにこの視野数情報をもとに実効視野13内の2次元
グリッドの範囲を算出する(ステップ130)。これと
同時にエンコーダによるステージの座標を読み出し、実
視野12の中心座標を算出し(ステップ140)、この
中心座標と前述の2次元グリッドの各セルの位置をもと
にR/Wメモリ5の所定記憶領域にフラグ「1」をたて
(ステップ150)、その記憶領域に対応する表示部6
のモニタ領域6Aをリアルタイムで表示点灯する(ステ
ップ160)。
Next, the operation of the apparatus having the above configuration will be described with reference to the operation flowchart of FIG. First, prior to the inspection, the R / W memory 5 and the screen of the monitor area 6A of the LCD display unit 6 are cleared (step 100). Next, the revolver information of the objective lens currently on the optical path is read from the revolver address detection unit 1 (step 110), and the corresponding field number information is read from the data memory 2 based on this revolver information (step 120).
Further, the range of the two-dimensional grid in the effective visual field 13 is calculated based on this visual field number information (step 130). At the same time, the coordinates of the stage are read by the encoder to calculate the center coordinates of the real visual field 12 (step 140), and the predetermined coordinates of the R / W memory 5 are calculated based on the center coordinates and the position of each cell of the above-mentioned two-dimensional grid. A flag "1" is set in the storage area (step 150), and the display unit 6 corresponding to the storage area is set.
The monitor area 6A is displayed and lit in real time (step 160).

【0022】このようにしてスライドガラス11全面を
観察して検査が終了したら、スライドガラス11を標本
ホルダ30から取り去る。このとき前述のマイクロスイ
ッチ32がOFF状態になったことを確認して(ステッ
プ170)、すなわち検査が終了したことを認識して制
御部3はスライドガラス11の検査領域の全範囲に対応
するR/Wメモリ5内の記憶領域をチェックする(ステ
ップ180、190)。このときR/Wメモリ5の記憶
領域の全部のフラグが立っていれば、検査は正常終了し
たことを意味しており、次の標本についての検査を継続
して行えば良い。一方、一部に観察漏れがあるような場
合には、フラグが「0」の部分が残っており、表示部6
の画面にもその部分が発光せず塗りつぶされないままに
ある。この状態を検査者が気づくように表示画面をその
まま保持するとともに警告ブザー7を鳴らす(ステップ
210)。
In this way, when the entire surface of the slide glass 11 is observed and the inspection is completed, the slide glass 11 is removed from the sample holder 30. At this time, the control unit 3 confirms that the micro switch 32 is turned off (step 170), that is, recognizes that the inspection is completed, and the control unit 3 corresponds to the entire range of the inspection area of the slide glass 11. The storage area in the / W memory 5 is checked (steps 180, 190). At this time, if all flags in the storage area of the R / W memory 5 are set, it means that the inspection has been completed normally, and the inspection for the next sample may be continued. On the other hand, if there is a partial omission in the observation, the portion with the flag “0” remains and the display unit 6
The part of the screen does not illuminate and remains unpainted. The display screen is held as it is so that the inspector notices this state, and the warning buzzer 7 is sounded (step 210).

【0023】この状態で標本セット状態検出スイッチが
ONならば、再観察を行い、OFFならばONになるま
で警告ブザー7を動作させても良い(ステップ21
0)。このとき制御部3内のハードウェア回路により現
在位置のカーソルが表示画面上で点滅表示するように制
御されているので、この点滅表示をガイドとして未観察
部分まで容易にステージを移動することができる。この
状態で未観察と表示されている領域を再観察することに
よりR/Wメモリ5の記憶領域のフラグにすべて「1」
が立つようにすれば良い。この結果全部のフラグが立っ
ていれば、正常終了として、次の標本を観察するために
R/Wメモリ5と表示画面のクリアを行う。
In this state, if the sample set state detection switch is ON, re-observation is performed, and if OFF, the warning buzzer 7 may be operated until it is turned ON (step 21).
0). At this time, since the cursor at the current position is controlled to blink on the display screen by the hardware circuit in the control unit 3, the stage can be easily moved to the unobserved portion using this blinking display as a guide. . By re-observing the area displayed as unobserved in this state, all the flags of the storage area of the R / W memory 5 are set to "1".
Should be set. As a result, if all the flags are set, it is determined that the process has ended normally, and the R / W memory 5 and the display screen are cleared to observe the next sample.

【0024】以上の手順により、検査者は確実に標本の
スクリーニング作業を行うことが可能となる。なお、図
5は観察によりR/Wメモリ5の記憶領域にフラグがた
てられる様子を2次元グリッドの各セルにフラグ「1」
をたてて模式的に表示したものである。また図3に示し
た表示部の画面と対応させた場合、このフラグ「1」の
部分が次々に塗りつぶされていく領域に相当すると考え
て良い。
By the above procedure, the inspector can reliably perform the sample screening operation. It should be noted that FIG. 5 shows that the storage area of the R / W memory 5 is flagged by observation by a flag "1" for each cell of the two-dimensional grid.
It is displayed in a vertical fashion. Further, when it is made to correspond to the screen of the display unit shown in FIG. 3, it can be considered that the portion of the flag “1” corresponds to a region filled in successively.

【0025】以上の動作を実際の対物レンズを想定して
説明すると、10×の対物レンズの場合、実効視野に相
当する内接正方形の一辺は1.4mm程度となる。そこ
で、2次元グリッドをこの内接正方形1個分として仮定
すると、標本のスライドガラスを1.4mm平方の2次
元グリッドのセルに分割でき、このときのスライドガラ
ス上の観察視野のセル数をフラグ数に換算すると、セル
数とフラグの情報量とは等しくなる。すなわち、標本で
の実際の刻み領域に対応してR/Wメモリに対して1区
画当たり1バイトを割り当てたとすると、標本1枚に対
して約970バイト程度のメモリ領域を要することにな
る。
The above operation will be described assuming an actual objective lens. In the case of a 10 × objective lens, one side of the inscribed square corresponding to the effective visual field is about 1.4 mm. Therefore, assuming that the two-dimensional grid is one inscribed square, the slide glass of the sample can be divided into cells of a two-dimensional grid of 1.4 mm square, and the number of cells in the observation field on the slide glass at this time is flagged. When converted into a number, the number of cells and the information amount of the flag become equal. That is, assuming that 1 byte is assigned to each R / W memory in correspondence with the actual stepped area in the sample, a memory area of about 970 bytes is required for one sample.

【0026】実際には、図2に示したように実効視野1
3のエリアに比べ、セル数が多く設定されているので、
メモリ領域においてたてられるフラグ数は相当多くな
る。しかし、求められる観察精度によっては実効視野全
体を1個のセルとみなし、これに対して1個のフラグを
対応させるような記憶の仕方もデータ数を圧縮させるた
めには有効である。
Actually, as shown in FIG.
Since the number of cells is set larger than in the area of 3,
The number of flags set in the memory area is considerably large. However, depending on the required observation accuracy, the entire effective field of view is regarded as one cell, and a storage method in which one flag is associated with this is also effective for compressing the number of data.

【0027】また、表示部6で観察済み領域を表示する
方法としては、前述のようなLCDによる画面表示の方
が検査者への訴求力が大きいといえるが、見落とし部分
を座標値で認識し、LED等により文字情報表示した
り、接続された外部プリンタ等によりリスト出力したり
することもできる。さらに前述の標本ホルダに取り付け
られたマイクロスイッチの他、光電スイッチ等の他の様
々な手段により標本が標本ホルダの正規位置にセットさ
れているかを確認することができる。
Further, as a method of displaying the observed area on the display unit 6, it can be said that the screen display by the LCD as described above is more appealing to the inspector, but the overlooked portion is recognized by the coordinate value. It is also possible to display character information by means of an LED or the like, or to output a list using a connected external printer or the like. Furthermore, it is possible to confirm whether the sample is set in the normal position of the sample holder by various other means such as a photoelectric switch attached to the sample holder described above.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、スライドガラス全面を顕微鏡により連続的に
観察する際に、観察漏れを確実に防止できるとともに、
万一観察漏れがあってもその部位が的確に指示されるの
で、再検査に要する時間も最小限とすることができ、細
胞診断検査等において極めて効率的な検査を行え、検査
者に対する作業負担も大きく軽減されるという効果を奏
する。
As is apparent from the above description, according to the present invention, it is possible to reliably prevent omission of observation when continuously observing the entire surface of the slide glass with a microscope.
Even if there is an omission in observation, the part is accurately indicated, so the time required for re-inspection can be minimized, and extremely efficient inspection can be performed in cytodiagnosis tests, etc., and the work burden on the inspector Also has the effect of being greatly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による顕微鏡の一実施例を示したブロッ
ク構成図。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a microscope according to the present invention.

【図2】実効視野と2次元グリッドとの関係の一例を示
した説明図。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of a relationship between an effective visual field and a two-dimensional grid.

【図3】スライドガラス上の観察済み領域とLCD表示
部での表示状態との関係を示した説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between an observed region on a slide glass and a display state on an LCD display unit.

【図4】実効視野と2次元グリッドとの関係の一例を示
した説明図。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a relationship between an effective visual field and a two-dimensional grid.

【図5】2次元グリッドのセルとメモリ領域でのフラグ
との関係を示した説明図。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a relationship between cells of a two-dimensional grid and flags in a memory area.

【図6】本発明による装置の動作の一例を示した動作フ
ローチャート。
FIG. 6 is an operation flowchart showing an example of the operation of the device according to the present invention.

【図7】スライドガラスの観察状況を模式的に示した説
明図。
FIG. 7 is an explanatory view schematically showing an observation situation of a slide glass.

【図8】標本セット状態を検知するスイッチの一例を示
した説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a switch for detecting a sample set state.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レボルバ番地検出部 2 データメモリ 3 制御部 4 顕微鏡ステージ位置検出部 5 R/Wメモリ 6 LCD表示部 7 警告ブザー 8 作業終了検出器 11 スライドガラス 12 顕微鏡実視野 13、14 顕微鏡実効視野 30 標本ホルダ 31 マイクロスイッチ 32 標本押え 1 Revolver address detection unit 2 Data memory 3 Control unit 4 Microscope stage position detection unit 5 R / W memory 6 LCD display unit 7 Warning buzzer 8 Work completion detector 11 Slide glass 12 Microscope actual field of view 13, 14 Microscope effective field of view 30 Specimen holder 31 Micro switch 32 Sample holder

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】対物レンズに対してステージを移動して該
ステージ上に載せた標本を顕微鏡観察する顕微鏡におい
て、 前記対物レンズに対する前記ステージの位置座標を検出
するステージ位置検出手段と、 前記対物レンズの光学特性により決定される前記標本上
の単位観察視野を表す情報を出力する情報出力手段と、 前記ステージ位置検出手段からのステージ位置情報と前
記情報出力手段からの単位観察視野とから前記標本上の
観察済領域を算出する算出手段と、 前記算出手段の出力に基づいて前記標本の観察済領域を
表示する表示手段とを備えたことを特徴とする顕微鏡。
1. A microscope for observing a sample placed on the stage by moving the stage with respect to the objective lens, the stage position detecting means for detecting position coordinates of the stage with respect to the objective lens, and the objective lens. On the sample from the information output means for outputting information representing the unit observation visual field on the sample determined by the optical characteristics of the sample, the stage position information from the stage position detection means and the unit observation visual field from the information output means. And a display unit for displaying the observed region of the sample based on the output of the calculating unit.
【請求項2】前記算出手段は、前記観察済領域を一時記
憶する観察済領域記憶手段と、前記顕微鏡観察の終了を
検知する検知手段と、警告動作を行う警告手段とを有
し、 前記算出手段は、前記検知手段で顕微鏡観察の終了を検
知した時に、前記標本上の観察すべき領域と前記観察済
領域記憶手段により一時記憶された観察済領域とを比較
して未観察済領域がある場合に前記警告手段を動作させ
ることを特徴とする請求項1記載の顕微鏡。
2. The calculation means includes an observation area storage means for temporarily storing the observation area, a detection means for detecting the end of the microscope observation, and a warning means for performing a warning operation. The means compares the area to be observed on the specimen with the observed area temporarily stored by the observed area storage means when the end of the microscope observation is detected by the detecting means, and there is an unobserved area. The microscope according to claim 1, wherein the warning means is operated in some cases.
【請求項3】前記情報出力手段は、観察光路上に設置さ
れた前記対物レンズを認識する対物レンズ検知手段と、
対物レンズを含めた観察光学系による単位観察領域の情
報を記憶する単位観察視野記憶手段とを有し、 前記単位観察視野記憶手段から、前記対物レンズ検出手
段により認識した対物レンズを含めた観察光学系の単位
観察視野の情報を出力することを特徴とする請求項1記
載の顕微鏡。
3. The information output means includes an objective lens detection means for recognizing the objective lens installed on an observation optical path,
An observation optical system including an objective lens recognized by the objective lens detection means from the unit observation visual field storage means, and unit observation visual field storage means for storing information on a unit observation area by an observation optical system including the objective lens. The microscope according to claim 1, wherein the information of the unit observation visual field of the system is output.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020536277A (en) * 2017-10-04 2020-12-10 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. Paste slide judgment system

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6420449A (en) * 1987-04-30 1989-01-24 Korabi Internatl Teremetoritsu Remote physiological diagnosis circuit network
JPH063597A (en) * 1992-06-22 1994-01-14 Olympus Optical Co Ltd Microscope still picture observing system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6420449A (en) * 1987-04-30 1989-01-24 Korabi Internatl Teremetoritsu Remote physiological diagnosis circuit network
JPH063597A (en) * 1992-06-22 1994-01-14 Olympus Optical Co Ltd Microscope still picture observing system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020536277A (en) * 2017-10-04 2020-12-10 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドLeica Biosystems Imaging, Inc. Paste slide judgment system
US11434082B2 (en) 2017-10-04 2022-09-06 Leica Biosystems Imaging, Inc. Stuck slide determination system

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