JPH0658870A - Atomic absorption/emission analyzer - Google Patents

Atomic absorption/emission analyzer

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JPH0658870A
JPH0658870A JP20834492A JP20834492A JPH0658870A JP H0658870 A JPH0658870 A JP H0658870A JP 20834492 A JP20834492 A JP 20834492A JP 20834492 A JP20834492 A JP 20834492A JP H0658870 A JPH0658870 A JP H0658870A
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atomic absorption
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autosampler
gas
emission
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一夫 森谷
Koji Iwata
浩二 岩田
Kazuo Oguchi
一夫 小口
Atsushi Kagaya
淳 加賀谷
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Abstract

PURPOSE:To provide an atomic absorption/emission analyzer which prevents dust from entering and exhausts poisonous gas generated within the device. CONSTITUTION:A dust protective cover 35 is provided on the upper surface of a case 34 which houses an auto-sampler 5 and an atomizing device 1 combined with it. In addition, inactive clean gas is injected and blown to the entire surface of the atomizing device 1, and is exhausted outside by an exhaust tube 38 containing an air flow adjusting value 37 and a fan 36.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は原子吸光光度計や発光分
析装置等に係わり、とくにオートサンプラを有する装置
の測定環境を清浄化した原子吸光,発光分析装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an atomic absorption spectrophotometer, an optical emission analyzer and the like, and more particularly to an atomic absorption and emission analyzer in which the measuring environment of an apparatus having an autosampler is cleaned.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6は従来のフレームレス原子吸光光度
計における原子化装置1及びオートサンプラ5の断面図
である。フレームレス原子吸光光度計は鉄鋼,石油,薬
品,食品等の中の微量元素をppb〜pptレベルで分
析するために広く利用されている。また、最近では半導
体の製造過程で使用する純水や試薬の品質管理,あるい
はウェハー洗浄水中の汚染重金属の測定用や、血液や尿
中の重金属に測定等にも用いられている。
2. Description of the Related Art FIG. 6 is a sectional view of an atomizer 1 and an autosampler 5 in a conventional flameless atomic absorption spectrophotometer. The flameless atomic absorption spectrophotometer is widely used for analyzing trace elements in steel, petroleum, chemicals, foods, etc. at the ppb to ppt level. In addition, recently, it is also used for quality control of pure water and reagents used in the manufacturing process of semiconductors, for measurement of contaminated heavy metals in wafer cleaning water, and for measurement of heavy metals in blood and urine.

【0003】また、フレームレス原子吸光光度計には測
定時間を短縮し、測定精度を向上するためにオートサン
プラ5と組み合わせる場合が多い。図6において、試料
は左側のオートサンプラ5により右側の原子化装置1内
に運ばれる。原子化装置1内のキュベット6の両側はグ
ラファイト電極7,8にはさみこまれて金属電極9,1
0に圧入、保持されている。金属電極9,10はボルト
13,14によりそれぞれ電極支持台11,12に固定
され、電極支持台11,12は軸受19を介して2本の
平行な摺動軸15上に摺動可能に載置される。
Further, in many cases, a flameless atomic absorption spectrophotometer is combined with an autosampler 5 in order to shorten the measuring time and improve the measuring accuracy. In FIG. 6, the sample is carried into the atomizer 1 on the right by the autosampler 5 on the left. Both sides of the cuvette 6 in the atomizer 1 are sandwiched between graphite electrodes 7 and 8 and metal electrodes 9 and 1, respectively.
Pressed into 0 and held. The metal electrodes 9 and 10 are fixed to the electrode supporting bases 11 and 12 by bolts 13 and 14, respectively, and the electrode supporting bases 11 and 12 are slidably mounted on two parallel sliding shafts 15 via bearings 19. Placed.

【0004】また、電極支持台11,12間にはパージ
ガス封入口16を有する部材17が設けられている。摺
動軸15の右端はボルト18にて固定され、また、スト
ッパ20と軸受19との間にばね21を設けて電極支持
台11を右方に押圧するようにしているので、キュベッ
ト6の両端にはばね21による圧力が印加されている。
キュベット6の上にはキュベット6の加熱時の空気を遮
断するための取っ手23を有する蓋22が設けられる。
A member 17 having a purge gas filling port 16 is provided between the electrode support bases 11 and 12. The right end of the sliding shaft 15 is fixed by a bolt 18, and a spring 21 is provided between the stopper 20 and the bearing 19 to press the electrode support base 11 to the right. The pressure by the spring 21 is applied to.
A lid 22 having a handle 23 for shutting off air when the cuvette 6 is heated is provided on the cuvette 6.

【0005】オートサンプラ5は、ターンテーブル25
の所定のサンプルカップ24から試料41をノズル27
によりチューブ30内に吸引し、サンプルアーム31が
回転して原子化装置1の蓋22の穴32を介してキュベ
ット6内に所定量の試料41を供給する。ターンテーブ
ル25上のサンプルカップ24は回転軸28により順次
回転して試料をノズル27下に配送する。
The automatic sampler 5 includes a turntable 25.
The sample 41 from the predetermined sample cup 24 of the nozzle 27
The sample arm 31 is rotated and the sample arm 31 is rotated to supply a predetermined amount of the sample 41 into the cuvette 6 through the hole 32 of the lid 22 of the atomization device 1. The sample cup 24 on the turntable 25 is sequentially rotated by the rotary shaft 28 to deliver the sample to the lower part of the nozzle 27.

【0006】なお、ターンテーブル25上には塵埃がサ
ンプルカップ24内に入るのを防止するためにサンプル
カバー26が置かれる。電極支持台11,12には電力
ケーブルが接続され、最大400Aの電流によりキュベ
ット6を加熱して内部の試料を分解し原子化する。この
加熱を誤ると試料が突沸して良好な再現性が得られな
い。また、キュベット6の中心部の原子蒸気に原子スペ
クトル光源の光を照射して原子吸光分析を行なう。
A sample cover 26 is placed on the turntable 25 to prevent dust from entering the sample cup 24. A power cable is connected to the electrode supporting bases 11 and 12, and the cuvette 6 is heated by a maximum current of 400 A to decompose and atomize the sample inside. If this heating is mistaken, the sample will be bumped and good reproducibility cannot be obtained. Further, the atomic vapor at the center of the cuvette 6 is irradiated with light from an atomic spectrum light source for atomic absorption analysis.

【0007】上記フレームレス分析では、試料を乾燥,
灰化,原子化の順に加熱するので通常1検体に1〜3分
間の測定時間を要する。また、サンプルを手動により挿
入すると、さらに時間がかかるうえ、サンプル量もばら
つくので通常オートサンプラーが使用されている。ま
た、実開昭62−178353号公報には、フレームレ
ス原子吸光分析装置の上部をカバーで覆ってキュベット
加熱時に発生する有害ガスを排気ダクトにより排出する
ことが記載されている。
In the frameless analysis, the sample is dried,
Since heating is performed in the order of ashing and atomization, one sample usually requires a measurement time of 1 to 3 minutes. In addition, when a sample is manually inserted, it takes more time and the amount of the sample varies, so an auto sampler is usually used. Further, Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 62-178353 discloses that the upper part of the flameless atomic absorption spectrometer is covered with a cover to discharge harmful gas generated when the cuvette is heated by an exhaust duct.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記フレームレス分析
は分析感度が高いため、室内の塵埃,空気中の汚染ガス
等の影響を大きく受けやすいという問題があった。測定
サンプルには液体の他に、岩石,プラスチック,鉄鋼,
植物,食品等の固体状物も多く、固体状物の場合には硝
酸や塩酸等の酸性試薬あるいは有機溶媒等を用いて液状
化するため、加熱の際の煙や有害な蒸気がキュベット6
周囲に飛散して周辺部品を錆させたり、コンタミネーシ
ョンを起こして分析精度を悪化させる。
Since the frameless analysis has high analysis sensitivity, there is a problem that it is easily affected by dust in the room, polluted gas in the air, and the like. In addition to liquids, rock, plastic, steel,
There are many solid substances such as plants and foods, and when solid substances are liquefied by using an acidic reagent such as nitric acid or hydrochloric acid or an organic solvent, smoke or harmful vapor during heating is generated in the cuvette 6.
It scatters around and rusts the surrounding parts and causes contamination, which deteriorates the analysis accuracy.

【0009】例えば、空気中の塵埃がキュベット内に入
ったり、キュベット6から放出された酸性蒸気がキュベ
ット表面に付着すると、シリコンやナトリウム,マグネ
シウム等の分析精度が大きく低下する。このため、ナト
リウムやシリコン等の分析には予め原子吸光光度計をク
リーンルーム内に設置するようにしていたが、大型化
し、高価格になる等の問題があった。
[0009] For example, if dust in the air enters the cuvette, or if the acidic vapor discharged from the cuvette 6 adheres to the surface of the cuvette, the accuracy of analysis of silicon, sodium, magnesium, etc. is greatly reduced. For this reason, an atomic absorption spectrophotometer was installed in advance in a clean room for the analysis of sodium, silicon, etc., but there were problems such as an increase in size and an increase in price.

【0010】上記実開昭62−178353号公報で
は、原子化装置にカバ−を設けて室内の塵埃の混入を防
ぎ、同時にキュベット加熱時の有毒ガスを排出するよう
にしていたが、オートサンプラを一体にしたフレームレ
ス原子化装置については同様な配慮がなされておらず、
上記原子化装置のカバ−がオートサンプラの動作の邪魔
になったり、オートサンプラにはパージ用ガスが廻らな
い等の問題があった。本発明の目的は、上記クリーンル
ームを用いることなく、また、室内空気やキュベットか
らの有毒ガスによる汚染を防止して高精度で再現性良く
分析することのできるオートサンプラ付きの原子吸光,
発光分析装置を提供することにある。
In Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 62-178353, the atomizer is provided with a cover to prevent dust in the room from being mixed in, and at the same time, to emit toxic gas when the cuvette is heated. The same consideration has not been given to the integrated frameless atomizer,
There are problems that the cover of the atomization device interferes with the operation of the autosampler, and that the purge gas does not flow to the autosampler. An object of the present invention is to use an atomic absorption spectrometer with an autosampler capable of performing analysis with high accuracy and reproducibility by preventing contamination by toxic gas from indoor air or cuvettes without using the clean room.
An object is to provide an optical emission analyzer.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、オートサンプラと原子化装置を収容するケ−スの上
面に着脱可能なカバーを設けるようにする。また、上記
カバーを難燃性透明プラスチック材により構成するよう
する。また、上記ケ−ス内に不活性ガスのパージ用ガス
を供給し排気手段により外部に排気するようにする。ま
た、上記パージ用ガスを塵埃、異種ガス等を予め除去し
たクリ−ンなものとする。さらに、上記排気手段を風量
調整用のバルブとファンを内蔵する排気チュ−ブとする
ようにする。さらに、上記パージ用ガスの吹出口を原子
化装置の近傍に配備するようにする。
In order to solve the above-mentioned problems, a detachable cover is provided on the upper surface of the case that houses the autosampler and the atomizer. Further, the cover is made of a flame-retardant transparent plastic material. Further, an inert gas purging gas is supplied into the case and is exhausted to the outside by an exhaust means. Further, the purge gas is a clean one in which dust, foreign gas, etc. are removed in advance. Further, the exhaust means is an exhaust tube having a valve for adjusting the air flow and a fan. Further, the purge gas outlet is arranged near the atomization device.

【0012】[0012]

【作用】上記カバーはオートサンプラと原子化装置を収
容するケ−ス内に外部から塵埃が侵入することを防止
し、上記難燃性透明プラスチック材のカバーはオートサ
ンプラと原子化装置の動作状態のモニタを可能にする。
また、上記パージ用ガスは原子化装置が発しする有害ガ
スを外部に排気し、また、上記パージ用ガスをクリ−ン
なものとすることにより塵埃、異種ガス等のケ−ス内侵
入が防止される。また、上記排気チュ−ブの風量調整用
のバルブとファンは排気速度の調整を可能にする。ま
た、上記パージ用ガスの吹出口を原子化装置の近傍に配
備することにより、オートサンプラ近傍のパージ用ガス
の流速を緩め、または停滞させて試料の蒸発を防止す
る。
The above-mentioned cover prevents dust from intruding into the case housing the autosampler and the atomizer, and the cover made of the flame-retardant transparent plastic material is the operating state of the autosampler and the atomizer. Enables monitoring of.
Further, the purge gas exhausts the harmful gas emitted by the atomizer to the outside, and the purge gas is made clean to prevent dust, foreign gas, etc. from entering the case. To be done. Further, the valve and the fan for adjusting the air volume of the exhaust tube enable the exhaust speed to be adjusted. Further, by disposing the purge gas outlet in the vicinity of the atomization device, the flow velocity of the purge gas in the vicinity of the autosampler is slowed or stagnated to prevent sample evaporation.

【0013】[0013]

【実施例】図1は本発明によるフレームレス原子吸光光
度計の外観図である。図1においては、原子化装置1に
より原子化した溶液試料原子に光源部2のホロカソード
ランプが発光する目的元素の輝線を照射し,その吸収ス
ペクトルを受光検知部3により検出する。また、ガス制
御部4は原子装置1に流すガス流量を制御し,オートサ
ンプラ5は多数の試料を原子化装置1内のキュベットに
所定の順序で自動的に供給する。
1 is an external view of a flameless atomic absorption spectrophotometer according to the present invention. In FIG. 1, solution sample atoms atomized by the atomization device 1 are irradiated with the emission line of the target element emitted from the hollow cathode lamp of the light source unit 2, and the absorption spectrum is detected by the light reception detection unit 3. Further, the gas control unit 4 controls the flow rate of the gas flowing into the atomic device 1, and the autosampler 5 automatically supplies a large number of samples to the cuvette in the atomic device 1 in a predetermined order.

【0014】図2は上記フレームレス原子吸光光度計の
部分断面図である。ケース34の上部に露出しているオ
ートサンプラ5と原子化装置1をカバー35により隙間
なく覆って外部空気を遮断する。なお、キュベットの加
熱状態やオートサンプラーの動作状況を観察して安全性
を確認するためにカバー3には透明の難燃性プラスチッ
ク材等を用いることが望ましい。
FIG. 2 is a partial sectional view of the frameless atomic absorption spectrophotometer. The autosampler 5 and the atomizing device 1 exposed at the upper part of the case 34 are covered with a cover 35 without any gaps to shut off external air. It should be noted that it is desirable to use a transparent flame-retardant plastic material or the like for the cover 3 in order to confirm the safety by observing the heating state of the cuvette and the operating state of the auto sampler.

【0015】さらに、ケース34前面の継手40にホー
ス39を接続してクリーンな窒素やアルゴン等のパ−ジ
ガスを装置内部に注入し、ケース34後方の排気チュー
ブ38より室外に排気するようにする。このときキュベ
ット6の加熱により発生する有害ガスも排気される。な
お、排気チューブ38内には排気用のファン36と風量
調整用のバルブ37を内蔵してキュベット6加熱時に発
生するを効率良く装置の室外に排出するようにするので
上記有害ガスが分析精度に悪影響を与えたり、周辺の機
器を腐食させたり、また人体に悪影響を与えるすること
を防止することができる。
Further, a hose 39 is connected to a joint 40 on the front of the case 34 to inject a purge gas such as clean nitrogen or argon into the inside of the apparatus, and the exhaust tube 38 behind the case 34 exhausts the gas to the outside. . At this time, harmful gas generated by heating the cuvette 6 is also exhausted. It should be noted that the exhaust tube 38 has a fan 36 for exhaust and a valve 37 for adjusting the air flow so as to efficiently discharge the heat generated when the cuvette 6 is heated to the outside of the apparatus, so that the harmful gas can be analyzed accurately. It is possible to prevent adverse effects, corrosion of peripheral devices, and adverse effects on the human body.

【0016】また、継手40によりホース39からのパ
−ジガスを2分岐してオートサンプラ5の上面両サイド
を通し、原子化装置1の手前に送り込むようにする。こ
の結果、パ−ジガスは原子化装置1の全面にまんべんに
流れるようになる。オートサンプラ5のサンプルカップ
24上面には防塵用のサンプルカバー26が設けられて
いるので、サンプルカップ24をカバー35により二重
に防塵することができる。
Further, the purging gas from the hose 39 is branched into two by the joint 40 and passed through both sides of the upper surface of the autosampler 5 to be sent in front of the atomizer 1. As a result, the purge gas uniformly flows over the entire surface of the atomizer 1. Since the dustproof sample cover 26 is provided on the upper surface of the sample cup 24 of the autosampler 5, the sample cup 24 can be double dustproofed by the cover 35.

【0017】図3は図1に示したフレームレス原子吸光
光度計の上面図である。上記パ−ジガスをサンプルカッ
プ24内の溶液試料周辺部に急速に流すと、試料41が
蒸発してその濃度が変るという問題が発生する。このた
め上記パ−ジガスの出口42をオートサンプラ5の後方
に配置する。この結果、パ−ジガスはオートサンプラ周
辺部で停滞するので試料41の蒸発が防止され、また、
原子化装置1の上面を通過てキュベット6加熱時に発生
する有毒ガスを巻込み排気チューブ38より屋外に排出
される。
FIG. 3 is a top view of the flameless atomic absorption spectrophotometer shown in FIG. When the purge gas is rapidly flown to the peripheral portion of the solution sample in the sample cup 24, there arises a problem that the sample 41 is evaporated and its concentration is changed. Therefore, the purge gas outlet 42 is arranged behind the autosampler 5. As a result, the purge gas stagnates in the periphery of the autosampler, so that evaporation of the sample 41 is prevented, and
Toxic gas generated when the cuvette 6 is heated passes through the upper surface of the atomizer 1 and is trapped outside through the exhaust tube 38.

【0018】図5は上記本発明装置によるナトリウムの
測定データである。図5は0.2ppbの低濃度のナトリウ
ムの測定が再現性良く測定することを示している。これ
に対してが従来装置では図4に示すように測定値が大き
くばらつくので、ナトリウムは0.2ppbレベルで信頼性
高く測定することができなかった。なお、本発明は上記
フレームレス原子吸光光度計のみならず、オートサンプ
ラと組合せて微量分析を行なうフレーム原子吸光光度
計、炎光吸光光度計、ICP(Inductive Coupled Plasm
a)発光分析装置等に適用して同様な効果を得ることがで
きる。
FIG. 5 shows sodium measurement data obtained by the apparatus of the present invention. FIG. 5 shows that the measurement of sodium at a low concentration of 0.2 ppb measures reproducibly. On the other hand, in the conventional device, the measured values greatly fluctuate as shown in FIG. 4, so that sodium could not be reliably measured at the 0.2 ppb level. The present invention is not limited to the flameless atomic absorption spectrophotometer described above, but is also a flame atomic absorption spectrophotometer, flame photoabsorptiometer, ICP (Inductive Coupled Plasm) that performs microanalysis in combination with an autosampler.
a) The same effect can be obtained by applying it to a light emission analyzer or the like.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明により、オートサンプラと原子化
装置に防塵用カバーを設けるので、室内の塵埃がサンプ
ルカップやキュベット内部に侵入して分析精度を低下さ
せることを防止することができる。とくに上記塵埃中に
はシリコンやナトリウム等が多く含まれるのでシリコン
やナトリウム等の分析感度、測定の安定性等を向上する
ことができる。
According to the present invention, since the dustproof cover is provided on the autosampler and the atomizer, it is possible to prevent the dust in the room from entering the inside of the sample cup or the cuvette and lowering the analysis accuracy. In particular, since the dust contains a large amount of silicon, sodium and the like, it is possible to improve the analysis sensitivity of silicon and sodium and the stability of measurement.

【0020】また、カバー内部に不活性ガスのクリーン
ガスを流して室外に排気するので、キュベットの加熱に
より発生する酸性ガスにより装置内部品が発錆すること
防止し、また測定者の健康を保護することができる。さ
らに、酸や有機溶媒を使用する半導体製造装置などでは
装置をクリーンルーム内に入れる必要がなくなるので、
クリーンルームのスペ−スを有効活用でき、経済性を高
めることができる。
Further, since a clean gas of an inert gas is flown inside the cover and is exhausted to the outside of the room, it prevents the acid gas generated by the heating of the cuvette from rusting the parts inside the apparatus and protects the health of the measurer. can do. Furthermore, since it is not necessary to put the equipment in a clean room for semiconductor manufacturing equipment that uses acids and organic solvents,
The space of the clean room can be effectively used and the economical efficiency can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるフレームレス原子吸光光度計の外
観図である。
FIG. 1 is an external view of a flameless atomic absorption spectrophotometer according to the present invention.

【図2】本発明によるフレームレス原子吸光光度計の側
面図である。
FIG. 2 is a side view of a flameless atomic absorption spectrophotometer according to the present invention.

【図3】本発明によるフレームレス原子吸光光度計の上
面図である。
FIG. 3 is a top view of a flameless atomic absorption spectrophotometer according to the present invention.

【図4】従来装置によるナトリウム分析デ−タ例であ
る。
FIG. 4 is an example of sodium analysis data by a conventional device.

【図5】本発明装置によるナトリウム分析デ−タ例であ
る。
FIG. 5 is an example of sodium analysis data by the device of the present invention.

【図6】原子化装置とオートサンプラの断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of an atomizer and an autosampler.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…原子化装置、2…光源部、3…受光検知部、5…オ
ートサンプラ、6…キュベット、7、8…グラファイト
電、9、10…金属電極、11、12…電極支持台、1
3、14、18…ボルト、15…摺動軸、16…パージ
ガス封入口、17…部材、19…軸受、20…ストッ
パ、21…ばね、22…蓋、23…取っ手、24…サン
プルカップ、25…ターンテーブル、26…サンプルカ
バー、27…ノズル、28…回転軸、29…アーム、3
0…チューブ、31…サンプルアーム、32…穴、33
…キュベット穴、34…ケース、35…カバー、36…
ファン、37…バルブ、38…排気チューブ、39…ホ
ース、40…継手、41…試料、42…ガス出口。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Atomization device, 2 ... Light source part, 3 ... Light receiving detection part, 5 ... Autosampler, 6 ... Cuvette, 7, 8 ... Graphite battery, 9, 10 ... Metal electrode, 11, 12 ... Electrode support stand, 1
3, 14, 18 ... Bolt, 15 ... Sliding shaft, 16 ... Purge gas inlet, 17 ... Member, 19 ... Bearing, 20 ... Stopper, 21 ... Spring, 22 ... Lid, 23 ... Handle, 24 ... Sample cup, 25 ... turntable, 26 ... sample cover, 27 ... nozzle, 28 ... rotation axis, 29 ... arm, 3
0 ... Tube, 31 ... Sample arm, 32 ... Hole, 33
… Cuvette hole, 34… Case, 35… Cover, 36…
Fan, 37 ... Valve, 38 ... Exhaust tube, 39 ... Hose, 40 ... Joint, 41 ... Sample, 42 ... Gas outlet.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加賀谷 淳 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Atsushi Kagaya 2326 Imai, Ome-shi, Tokyo Hitachi, Ltd. Device Development Center

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数個のサンプルカップ内の試料を供給
するオートサンプラと試料を原子化してその吸光,発光
特性を測定する原子化装置とを備えた原子吸光、発光分
析装置において、上記オートサンプラと原子化装置を収
容するケ−スの上面に着脱可能なカバーを設けたことを
特徴とする原子吸光、発光分析装置。
1. An atomic absorption / emission analyzer comprising an autosampler for supplying a sample in a plurality of sample cups and an atomization device for atomizing the sample and measuring its absorption and emission characteristics. And an atomic absorption / emission analysis device, wherein a detachable cover is provided on the upper surface of the case that houses the atomization device.
【請求項2】 請求項1において、上記オートサンプラ
と原子化装置を収容するケ−ス内に不活性ガスのパージ
用ガスを供給する手段と上記パージ用ガスの排気手段と
を設けたことを特徴とする原子吸光、発光分析装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising means for supplying an inert gas purging gas and a means for exhausting the purging gas in a case containing the autosampler and the atomizer. Characteristic atomic absorption and emission analyzer.
【請求項3】 請求項2において、上記パージ用ガスの
排気手段を風量調整用のバルブとファンを内蔵する排気
チュ−ブとしたことを特徴とする原子吸光、発光分析装
置。
3. An atomic absorption / emission analysis apparatus according to claim 2, wherein the exhaust means for the purging gas is an exhaust tube containing a valve for adjusting the air flow and a fan.
【請求項4】 請求項2または3において、上記パージ
用ガスの吹出口を原子化装置の近傍に配備したしたこと
を特徴とする原子吸光、発光分析装置。
4. The atomic absorption / emission analysis device according to claim 2 or 3, wherein the outlet for the purging gas is provided in the vicinity of the atomization device.
【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
上記カバーを難燃性透明プラスチック材により構成する
ようにしたことを特徴とする原子吸光、発光分析装置。
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
An atomic absorption / emission analysis device characterized in that the cover is made of a flame-retardant transparent plastic material.
【請求項6】 請求項1ないし5のいずれかにおいて、
上記パージ用ガスを塵埃、異種ガス等を予め除去したも
のとしたことを特徴とする原子吸光、発光分析装置。
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
An atomic absorption / emission spectroscope characterized in that the purging gas is one in which dust, foreign gas, etc. have been removed in advance.
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