JPH0653032U - 電食穴あけ加工中に浸食ゾーンを浄化する装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電食穴あけ加工設備における加工時間を短縮
し、加工能率を高めることにある。 【構成】 本考案の装置は、工具電極と工作物とに、時
間的に隣り合う２つの第１の上下運動のストロークより
小さいストロークの相対的な第２の上下運動を本質的に
同じ大きさの前記２つの第１の上下運動の中間に１回以
上実行させるように２ステージに構成されていることに
特徴を有する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、誘電体内で、工作物と工具電極とに相対的な上下運動、好ましくは 工具電極に工作物に対する上下運動を行なわせる、電食穴あけ加工中に浸食ゾー ンを浄化する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

この種の浄化装置は、放電加工機のような電食穴あけ設備たとえば皿もみ設備 、型掘り設備において公知である。前記上下運動は、浸食ゾーンの浄化用特に清 掃用に使用する油のような誘電体にポンピング効果をもたらす。

【０００３】 以下の手順は、型掘り浸食加工中に通常採用されている。所望の幾何学的形状 、所望の表面性状、浸食強度、摩耗量等得ようとする加工目的とともに、たとえ ば使用する浄化装置、使用する電極、加工されるべき工作物等実際の浸食設備を 基礎として、実在する科学技術指針を基に、幾何学（ΔＲ，Δβ，ΔＺ，ΔＸ， ΔＹ）および方法の特定のパラメータ（Ｕ，Ｉ，Ｔ，Ｑ等）またいわゆるオフラ インパラメータは、以下のように定義されている。

【０００４】 ΔＲ：放射状の前進ステップ （たとえば、段階的に広げるため） Δβ：放射状の加工移動のための角度増分 ΔＺ：Ｚ軸増分 ΔＸ：Ｘ軸増分 ΔＹ：Ｙ軸増分 Ｕ：無負荷電圧 Ｉ：電流強度 Ｔ：パルス長 Ｑ：浄化度

【０００５】 前記オフラインパラメータが注意深く選択されるならば、浸食プロセスを開始 することができる。この浸食プロセスは、たとえば、点弧遅延時間ｔd 、短絡部 位ｔc のようなパルスの特定の物理的パラメータにより特徴付けることができる 。これらのパラメータは、サーボ感度 、間隙のサーボ基準電圧 、浸食ゾーン の浄化度ΔＱ’、時間間隔Δτ等のいわゆるオンラインアクションにより影響さ れる。

【０００６】 電食型掘りプロセスの特性は、プロセスの効率およびプロセスの安定性により 特徴付けることができる。プロセスの効率は、たとえば無負荷および短絡等、物 理的なプロセスの効率の情報を与える。プロセスの安定性は、スピンドル・スリ ーブの運動等機械の動特性の情報を与える。

【０００７】 プロセスの効率および安定性は、多くのプロセスの問題により低下する。不運 にも、浸食プロセスは、プロセスにより生じる問題または外部から導入される問 題を常に伴なう。

【０００８】 一般に、電食型掘り加工中、プロセスの作用は、加工すなわち浄化ゾーンの底 でアークが形成されるように開始するとき、仕事を保証するために必要である。 このような場合のために、電食設備は、いわゆる自動的に短絡させないシステム のような監視システムを備える。型掘り浸食設備において、これらのシステムは 、上下運動を頻繁に実行させ、また故障の場合にスピンドル・スリーブの反転運 動を簡単に行なわせることができる。

【０００９】 このような上下運動は、タイマー運動と称されており、また、加工ゾーンを清 くするために行なわれ、従って加工プロセスを安全にする。

【００１０】 これらのタイマー運動すなわち上下運動を短絡の場合に実行することだけでな く、これが可能である限りは短絡を防ぐように規則的な間隔で実行することは公 知である。ある作用周波数は機械のオペレータにより与えることができ、換言す れば２つの上下運動間に特定の時間間隔がある。この作用周波数は、一般に所与 のオフラインパラメータに依存するが、工作物中への工具電極の侵入深さにも依 存する。

【００１１】 このようなことから、上下運動のストローク高さを浸食ゾーンの深さに追従さ せて変化させることが提案されている（例えば、実開昭４８−８８５９４号公報 、特公昭５５−８２９１号公報）。しかし、このような従来の方法および装置で は、時間的に隣り合う上下運動のストローク高さが本質的に同じであり、従って 全ての上下運動のストローク高さが大きい。

【００１２】 このように上下運動のストローク高さが大きいと、放電の中間に長い休憩時間 を必要とするから、加工効率が低下するのみならず、浸食ゾーン内の清掃用液体 （誘電体液）中の微粒子が長い休止期間の間に不規則に集中し、その結果放電の 方向が安定せず、望まない方向への放電を生じる。

【００１３】 また、これを防止すべく休憩時間を短くすると、上下運動のストローク高さが 大きい場合、浸食ゾーン、ひいては浸食ゾーン内の清掃用液体が綺麗になりすぎ 、その結果浸食ゾーン内の清掃用液体の導電性が低下しすぎ、正常の放電を生じ させるためには、工具電極を工作物に必要以上に接近させなければならず、結果 として上下運動のストローク高さが大きくなり、加工効率が低下する。

【００１４】 さらに、上下運動のストローク高さが大きいと、重い工具電極の場合に、その 工具電極が工作物に直接接触して電気的な短絡状態を生じることを防止するよう に、設備の機械的強度および精度等を高め、工具電極の上下運動の速度を遅くし なければならす、その結果設備が高価になるのみならず、加工速度および加工能 率が低下する。

【００１５】

【解決しようとする課題】 本考案は、電食穴あけ加工設備における加工時間を短縮し、加工能率を高める ことを目的とする。

【００１６】

【解決手段、作用、効果】

上記の目的は、本考案によれば、工具電極と工作物とに、時間的に隣り合う２ つの第１の上下運動のストロークより小さいストロークの相対的な第２の上下運 動を本質的に同じ大きさの前記２つの第１の上下運動の中間に１回以上実行させ るように２ステージに構成されていることにより解決される。

【００１７】 本考案は、浸食ゾーンを浄化しかつ部分的な汚染物を除去することにより浸食 ゾーンを清くするためには、長いストロークの上下運動の中間に、短いストロー クの上下運動を行なわせると好適である、ということを見出したことに基礎を置 く。

【００１８】 短いストロークの上下運動は、長いストロークの上下運動に比べ、実質的に有 効な浸食時間に影響を与えないし、浸食ゾーンからの清掃用液体のゆっくりした 流れを形成する。また、清掃用液体の前記流れは、浮遊物が浸食ゾーンに集中す ることを防止し、浮遊物を浸食ゾーンから移動させる。さらに、清掃用液体によ る浮遊物の排出は遅く、不安定した放電を生じるおそれが少ない。このように、 時間的に隣り合う２つの通常のすなわち第１の上下運動の中間に短いストローク の第２の上下運動を１回以上行なわせることは、無駄時間の短縮ひいては加工効 率の増大を導くだけでなく、プロセスの安定性の低下が通常の長いストロークの 上下運動のときよりはるかに小さくなる。

【００１９】 それゆえに、本考案によれば、本質的に同じ長さを有する長いストロークの上 下運動の中間に、短いストロークの上下運動を少なくとも１回実行させるから、 加工時間が短縮し、加工能率が高くなる。

【００２０】 長いストロークの上下運動のためには、先の上下運動のストロークの高さを利 用することが好ましい。２つの第１の上下運動の中間に行なわれる短いストロー クの第２の上下運動のストローク高さまたは周波数は、好ましくは、一定に維持 される。これにより、加工時間を短縮することおよびプロセスのシーケンスを監 視することが簡単な手法で可能になる。本考案の方法は、周波数について第１お よび第２の上下運動間で区別せず、その代りに各それぞれの上下運動を前のもの に関して同じ時間間隔とするように、特に容易に実施することができる。

【００２１】 好ましくは、第２の上下運動のストローク高さは、第１の上下運動のストロー ク高さの、２０分の１から４分の３であり、より好ましくは１０分の１から２分 の１、さらに好ましくは６分の１から３分の１である。第２の上下運動のストロ ーク高さが一定となるように、第１の上下運動の平均ストローク高さを基準とし て使用することができる。これは操作上の観点から比較的簡単に実行することが できるが、工作物中への工具電極の侵入深さの増大とともに、タイマー周波数す なわち上下運動周波数が高くなるかまたは２つの第１の上下運動の間の第２の上 下運動の回数を減じなければならない結果となる。

【００２２】 しかし、第２の上下運動のストローク高さを第１の上下運動のストローク高さ に適合させると、両上下運動のストローク高さが工作物中への工具電極の侵入深 さの増大とともに大にすることができ、また、確実な情況において周波数を増大 させまたは第２の上下運動回数を減じる必要がない。従って、上下運動のストロ ーク高さの増大は、浄化効果を高め、また、工作物中への工具電極の侵入深さが 大きい場合特に浸食ゾーンを良好に浄化することになる。

【００２３】 好ましくは、最適の上下運動周波数は、設定段階の間に浸食プロセスを自由に 行ない、上下運動を展開する短絡情況の間に実行し、２つの展開する短絡情況間 の平均時間間隔を決定することにより、決定される。この時間間隔は、その後上 下運動用の期間として与えられ、それにより前記期間は好ましくは安全値だけ短 くされ、換言すれば周波数が対応して高められる。

【００２４】 プロセスの状態を修正するように上下運動の周波数を自動的に適応させること により、加工時間はさらに短縮する。このように周波数を自動的に適応させるこ とは、時間の変化する計数期間内に、実際の上下運動回数にかかわらず、短絡が 何回生じたかを計数することにより実行することができる。もし、短い計数期間 の間または直接的に続く複数の短い絡計数期間の間に１以上の短絡が生じたとき 、所与の上下運動周波数を高くする。これに対し、長い計数期間の間またはいく つかの直接的に続く複数の長い計数期間の間に短絡がないと、その後上下運動周 波数を低くする。

【００２５】 プロセスの状態を修正すべく上下運動を適合させることは、たとえば、西独実 用新案登録第２７３４６８２号明細書および特開昭５９−６９２２０号公報によ り公知である。

【００２６】

【実施例】

（従来例の説明）

【００２７】 図１は、浸食の間時間ｔに対する工具電極と工作物との間の距離Ｈの関係を示 す。図１によれば、工具電極は、一定の時間間隔で最大ストローク高さＨ₁ に工 作物から引き離され、その後一定値となるよう工作物に接近される。このような タイマー運動すなわち上下運動の期間中は、浸食は行なわれない。この期間に対 応する時間間隔をｔHSで示す。これに続く時間間隔ｔerosに浸食が行なわれ、こ の期間を矢印Ｐで示す。前記上下運動を参照符号Ａ1 で示す。

【００２８】 （実施例の説明）

【００２９】 図２に示す本考案の実施例は、２回の長いストロークの上下運動すなわち第１ の上下運動Ａ1 の中間に複数の短いストロークの上下運動すなわち第２の上下運 動Ｂ1 を実行する点で従来と本質的に異なる。第２図によれば、浸食プロセスは ゼロに等しい時刻ｔに開始される。所与の時間間隔ｔ₁ ，ｔ₂ ，ｔ₃ ・・・ｔn に、工具電極を取り付けているスピンドル・スリーブの各第２の上下運動Ｂ1 が Ｚ浸食の場合にＺ方向へ実行される。代表的な実施例において、数ｎは１０であ り、また、２つの第１の上下運動Ａ1 の間の時間間隔は一定、たとえば、以下の とおりである。

【００３０】 ｔm −ｔm_-1 ＝一定

【００３１】 ここに、ｍは整数であり、以下のとおりである。

【００３２】 １≦ｍ≦１０

【００３３】 各第２の上下運動Ｂ1 のストローク高さｈ₁ は、ほぼ１ｍｍである。１０回の 第２の上下運動Ｂ1 の後、ほぼ４．５ｍｍのストローク高さＨ₁ を有する第１の 上下運動Ａ1 が実行される。この後、再び１０回の第２の上下運動Ｂ1 が行なわ れ、時刻２Ｔ（＝２×ｔn₊₁ ）に、前回の第１の上下運動Ａ1 のストローク高さ Ｈ₁ と本質的に同じストローク高さＨ₂ の第１の上下運動Ａ1 が再び実行される 。さらに、ｎ回の第２の上下運動Ｂ1 の後、さらに第１の上下運動Ａ1 が同様に 行なわれる。

【００３４】 図示の実施例において、第１の上下運動Ａ1 のストローク高さＨは、工作物３ ’中への工具電極３の侵入深さに関係して漸次増大される。工作物中への工具電 極の侵入深さの時間的な基本増分は第３図に示す実施例に従って測定され、スト ローク高さの漸増を確実にし、そして以後の基準が作られる。図示の実施例では 、ストローク高さＨ₁ ，Ｈ₂ およびＨ₃ は、それぞれ、４．５ｍｍ，４．５５ｍ ｍおよび４．６ｍｍである。

【００３５】 一般原則として、第２の上下運動Ｂ1 は、たとえば前回の第１の上下運動のス トローク高さに対し固定された比となるように、侵入深さの増大にともなって増 大させることができる。

【００３６】 明らかなように、第２の上下運動Ｂ1 は、時間的に隣り合う２つの第１の上下 運動Ａ1 の中間で、それらの時間間隔、周波数または上げ下げ比を修正すること ができる。

【００３７】 特に、たとえば、第２の上下運動Ｂ1 の回数は、工作物中への工具電極の侵入 深さの増大とともに減少させることができる。

【００３８】 図示の実施例において、上下運動の開始時の時間間隔は、それが第１の上下運 動Ａ1 または第２の上下運動のいずれであっても、同一である。第２図において 、各第２の上下運動Ｂ1 の開始時刻はｔa₁，ｔa₂・・・ｔan、Ｔ＋ｔa₁・・・で 示されており、第１の上下運動Ａ1 の開始時刻はＴa ，２Ｔa で示されている

【００３９】 図３に示す回路は、開始段階すなわち設定段階の間の最適なタイマー周波数す なわち上下運動周波数の設定、浸食の間変化する浸食ゾーンの状態に対する前記 上下運動周波数の適合化、および工作物３’中への工具電極３の侵入深さの増大 にともなう上下運動のストローク高さの適合化を自動的に行うことを可能にする 。

【００４０】 図３において、パルス発生器４は、作業間隙を規定する複数の電極に所定の電 圧および電流のパルスを供給する。前記電極は、工具電極３と、ワークピース電 極すなわち工作物３とである。前記作業間隙は、浄化すべきゾーンすなわち浸食 ゾーンであり、また、矢印Ｐで示す。

【００４１】 通常の作業状態の基で、ドライバ２は、工具電極３の前面とこれに直接対面す る工作物３’の面との間の間隔が本質的に一定となるように、工具電極３を工作 物３’に対し連続的に移動させる。ドライバ２の作動は、制御回路１により制御 される。

【００４２】 浸食が先に説明したようにＺ方向に行なわれないとき、これの代りにＸまたは Ｙ方向に行なうべく、ドライバ２は工具電極３を工作物３’に対しＸまたはＹ方 向へ移動させる。浸食ゾーンの電流および電圧の状態は、電流が流れたことすな わち短絡を表わす短絡信号Ｃを出力するスパーク電位分析器５により監視される 。短絡信号Ｃは、比較器７において基準値回路６の基準信号と比較される。短絡 信号Ｃが基準信号より高いと、比較器７は出力信号Ｔを制御回路１の第１の訂正 入力端子１７に供給する。出力信号Ｔは、浸食ゾーンを清掃するために第１の上 下運動Ａ1 （図２参照）を生じさせる。

【００４３】 今までに説明した回路部位は、それ自体公知である。比較器７から制御回路１ にさらに信号が供給され、その結果工具電極３と工作物３’との間に上記の一定 の間隙が本質的に維持されるように、工作物３’中への工具電極３の前進が制御 される。

【００４４】 短絡信号Ｔの発生と無関係に、一定の時間間隔で工具電極３を上下運動させる ことすなわち第１の上下運動Ａ1 は第１図に従って公知であるが、付加的な上下 運動すなわち第２の上下運動Ｂ1 は発生する短絡信号Ｔにより引き起される。

【００４５】 これらの上下運動の間の最適な時間間隔を設定するために、第３図に示す実施 例は、第１のカウンタ８と、これの入力端子に接続されたクロック信号発生器９ と、第２のカウンタ１０と、カウンタ８，１０の出力端子に接続された加算分割 回路１１と、回路１１およびレジスタ１３の出力端子に接続された減算回路１２ と、減算回路１２の出力端子に接続されたメモリ兼調整回路すなわちメモリー兼 訂正回路１４とを有する。

【００４６】 設定段階の間すなわち浸食プロセスの開始時、比較器７とカウンタ８との間に 配置されたスイッチＳ₁ 、比較器７とカウンタ１０との間に配置されたスイッチ Ｓ₂ および減算回路１２とメモリ兼訂正回路１４との間に配置されたスイッチＳ ₅ は、それぞれ、閉すなわち導通状態におかれている。これに対し、スイッチＳ ₃ およびＳ₄ は、開すなわち非導通状態におかれている。スイッチＳ₃ が非導通 状態であると、メモリ兼訂正回路１４に記憶された値の訂正が防止される。また 、スイッチＳ₃ 非導通状態であると、メモリ兼訂正回路１４は単にメモリとして 作用する。スイッチＳ₄ が非導通状態であると、スイッチＳ₄ の入力端子に接続 された比較器１５からの制御信号がカウンタ８にリセット信号として伝達される ことおよび制御回路１に制御信号として伝達されることが防止される。

【００４７】 上下運動を開始するために、設定段階において制御回路１は短絡信号Ｔによっ てだけで制御される。このとき、クロック信号発生器９は、タイミング信号をカ ウンタ８の計数入力端子に連続的に供給する。短絡信号Ｔは、カウンタ８のリセ ット入力の１つを制御し、そのカウンタの計数値を解除する。その結果、カウン タ８の出力信号ＥＴは、２つの短絡間、より正確には２つの発展する短絡情況間 すなわち短絡状態間の時間を示す。カウンタ１０の計数入力には短絡信号Ｔが供 給され、従ってカウンタ１０の出力信号Ｎは設定段階の間に発生した短絡回数を 示す。

【００４８】 加算分割回路１１の計算入力には、カウンタ８，１０の信号ＥＴおよびＮが供 給される。加算分割回路１１は、カウンタ８の信号ＥＴを加算し、得られた和を カウンタ１０の出力信号Ｎで割る。このため、加算分割回路１１の出力信号すな わち平均値信号ＥＴＡは、カウンタ８の出力信号の算術平均すなわち比較器７の 出力信号Ｔにより生じた２つの上下運動間の平均時間を示す。

【００４９】 平均値信号ＥＴＡと、レジスタ１３の出力信号ΔＥとは、減算回路１２の計算 入力端子に供給される。レジスタ１３の出力信号ΔＥは、平均値信号ＥＴＡから 減算回路１２において減算された正の値である。従って、減算回路１２は平均値 信号ＥＴＡから信号ΔＥを減算する。減算回路１２の出力信号ＥＳは、２つの短 絡信号Ｔ間の時間の平均値ＥＴＡからの安全期間を有する。設定段階の間に、出 力信号ＥＳは、メモリ兼訂正回路１４に記憶され、その後比較器１５用の基準値 として利用される。

【００５０】 設定段階の終りに、スイッチＳ₁ ，Ｓ₂ ，Ｓ₅ は導通状態に切り換えられるの に対し、スイッチＳ₃ ，Ｓ₄ は非導通状態に切り換えられる。以下の作業段階に おいて、クロック信号発生器９は カウンタ８にタイミング信号を供給する。カ ウンタ８の第２の計数入力用の出力信号Ｚは、比較器１５の１つの入力端子に供 給される。比較器１５の他の入力端子には、メモリ兼訂正回路１４の出力信号Ｅ Ｓ１が供給され、この信号ＥＳ１は訂正が回路１４においてなされたとき信号Ｅ Ｓに等しい。カウンタ８の出力信号Ｚがメモリ兼訂正回路１４の出力信号ＥＳ１ の値に達するやいなや、比較器１５は制御信号Ｔ１をカウンタ８のリセット入力 端子に供給し、該カウンタをリセットする。これに続いて、カウンタ８は再び計 数すべき状態になる。比較器１５の出力信号Ｔ１は、制御回路１の入力端子１８ へも制御入力として供給される。

【００５１】 これにより、制御回路１は、その１つの出力端子１８’からドライバ２に制御 信号を供給する。ドライバ２は、これが制御回路１の出力端子１８’の信号によ りトリガされて第２の上下運動Ｂ1 を実行させ、制御回路１の他の出力端子１７ ’の信号によりトリガされて第１の上下運動Ａ1 を実行させるように、２ステー ジの形に構成されている。このため、制御回路１は、２種の出力端子１７’，１ ８’のいずれか１つに信号を出力するように構成されている。しかし、出力端子 １７’は、たとえ入力端子１７，１８に信号が同時に入力しても、入力端子１７ に信号が入力されたときいつでも出力端子１７’から信号を出力するように、優 先付けられている。従って、たとえ短絡信号Ｔが発生されても、入力端子１７， １８を橋絡する周波数分割器１６から信号が供給されたときと同じに、常に長い ストロークの第１の上下運動Ａ1 が実行される。

【００５２】 周波数分割器１６は、比較器１５からの（ｎ＋１）番目の信号Ｔ毎に該信号を 制御回路１の入力端子１７に伝達するように、設計されている。従って、ｎ回の 第２の上下運動Ｂ1 の後に、第１の上下運動Ａ1 がｎ回の第２の上下運動Ｂ1 に 続いて実行される。さらに、前記上下運動間の時間間隔は、メモリ兼訂正回路１ ４の出力信号ＥＳ１により表わされた時間と同じである。よって、前記上下運動 の周波数は、ＥＳ１の逆数に対応する。

【００５３】 メモリ兼訂正回路１４から出力される基準値ＥＳ１を修正するために、２つの カウンタ１０’および１０”がそれぞれ閾値ステージすなわち閾値回路２０’お よび２０”の入力の側に接続されている。閾値回路２０’および２０”の出力端 子は、それぞれ、修正信号−ΔＥＳおよび＋ΔＥＳをメモリ兼訂正回路１４に供 給するように、メモリ兼訂正回路１４の入力端子に接続されている。両カウンタ ２０’，２０”の計数入力端子には比較器７の短絡出力信号Ｔが入力され、この ため両カウンタ２０’，２０”は短絡回数を計数する。両カウンタ２０’，２０ ”のリセット入力端子には、クロック信号発生器９のクロック信号が分割器Ｄ₁ ，Ｄ₂ を経て供給される。分割器Ｄ₁ ，Ｄ₂ は、カウンタ２０’，２０”の計数 時間を決定する。クロック信号発生器９のクロック信号は、分割器Ｄ₂ の除数が 分割器Ｄ₁ のそれより大きくなるように分割される。このため、カウンタ１０” は、カウンタ１０’より長時間計数する。

【００５４】 与えられた計数時間内にカウンタ１０’により計数された短絡回数が閾値回路 ２０’に設定された閾値より小さいと、閾値回路２０’は信号を出力しない。し かし、カウンタ１０’により計数された短絡回数が閾値回路２０’の前記閾値と 等しいか前記閾値より大きいと、閾値回路２０’はメモリ兼訂正回路１４へ修正 信号−ΔＥＳを供給する。修正信号−ΔＥＳからの出現は、正規の上下運動にも かかわらず、短絡の発生回数が余りにも多いことを意味し、その結果として比較 器１５用の基準値ＥＳ１を減少させねばならない、すなわち上下運動の周波数を 高くしなければならない。

【００５５】 しかし、カウンタ１０”により計数された短絡回数が閾値回路２０”に設定さ れた閾値に到達するかこれを越えると、閾値回路２０”は信号を出力しない。こ れに対し、カウンタ１０”により計数された短絡回数が閾値回路２０”の前記閾 値より小さいと、閾値回路２０”は修正信号＋ΔＥＳをメモリ兼訂正回路１４へ 供給する。閾値回路２０”からの修正信号＋ΔＥＳの出現は、正規の上下運動に もかかわらず、短絡の発生回数が余りにも少ないことを意味し、その結果として 比較器１５用の基準値ＥＳ１を増大させねばならない、すなわち上下運動の周波 数を低くすることができる。従って、最少回数の正規の上下運動を実行すること が確実になる。

【００５６】 前記メモリ兼訂正回路の動的平滑化は、分割器Ｄ₃ またはＤ₄ が閾値回路２０ ’，２０”の出力側に接続され、それにより閾値回路２０’，２０”がその第３ の出力信号をメモリ兼訂正回路１４に供給することにより達成される。

【００５７】 上下運動Ａ1 ，Ｂ1 のストローク高さＨ，ｈを変更するために、工作物３’へ の工具電極３の侵入深さを決定する測定回路２３が配置されている。測定回路２ ３の出力信号ｄは修正回路２２に供給され、該修正回路は信号をドライバ２に供 給し、その結果として、工作物３’中への工具電極３の侵入深さが好ましくは連 続的でなく段階的に増大するように、上下運動Ａ1 ，Ｂ1 のストローク高さが変 更される。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の上下運動の運動シーケンスを示す図、第
２図は本考案の上下運動の運動シーケンスを示す図であ
る。

【図２】本考案の上下運動の運動シーケンスを示す図で
ある。

【図３】図に示す上下運動を実行する装置の一実施例を
示す回路のブロック図である。

【符号の説明】

１ 制御回路 ２ ドライバ ３ 工具電極 ３’ 工作物 ４ パルス発生器 ５ スパーク電位分析器 ６ 基準回路 ７ 比較器 ８ カウンタ ９ パルス発生器 １０，１０’，１０” カウンタ １１ 加算分割回路 １２ 減算回路 １３ レジスタ １４ メモリ兼訂正回路 １５ 比較器 １６ 周波数分割器 ２０’，２０” 閾値回路 ２２ 修正回路 ２３ 測定回路 Ｄ₁ ，Ｄ₂ ，Ｄ₃ ，Ｄ₄ 分割器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 マルコ ボッカドーロ スイス国 ヴェルスキオ ブロジローロ （無番地) (72)考案者 シルヴァーノ マジネッティ スイス国 ロカルノ ヴィア アレ ヴィ ーニェ 38

Claims (5)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 工具電極(3) と工作物(3')とに相対的な
   第１の上下運動 (Ａ1 ) を誘電体内で複数回実行させる
   上下運動手段(1,2,8,14,15,16)を含む、電食穴あけ加工
   中に浸食ゾーンを浄化する装置であって、前記上下運動
   手段(1,2,8,14,15,16)は、前記工具電極(3) と前記工作
   物(3')とに、時間的に隣り合う２つの第１の上下運動
   (Ａ1 ) のストローク(H) より小さいストローク(h) の
   相対的な第２の上下運動 (Ｂ1 ) を本質的に同じ大きさ
   の前記２つの第１の上下運動 (Ａ1 ) の中間に１回以上
   実行させるように２ステージ形(16)に設計されている、
   浄化装置。
2. 【請求項２】 前記浸食ゾーンに短絡状態が展開する場
   合に短絡信号(T) を発生する短絡監視手段(5,6,7) であ
   って前記短絡信号(T) が発生されたとき、前記上下運動
   手段(1,2,8,14,15,16)が付加的な上下運動を実行させる
   ように、前記上下運動手段(1,2,8,14,15,16)に接続され
   た短絡監視手段(5,6,7) と、前記付加的な上下運動の周
   波数を決定する手段(10',10",20',20") であってこれの
   信号出力端子が前記上下運動 (Ａ1 , Ｂ1 ) の所与の時
   間間隔(ES1) を修正するために前記上下運動手段(1,2,
   8,14,15,16)内の訂正手段(14)の訂正入力端子に接続さ
   れた周波数決定手段(10',10",20',20") とをさらに含
   む、実用新案登録請求の範囲第１項に記載の浄化装置。
3. 【請求項３】 前記短絡により開始された前記付加的な
   上下運動の周波数を決定する前記手段(10',10",20',2
   0") は、予め定められた計数期間(D₁)内に行なわれる前
   記付加的な上下運動を計数する計数回路(10') と、該計
   数回路に接続された閾値回路(20'）であって前記計数回
   路(10') の値が予め定められた第１の閾値を超過すると
   き、予め定められた第１の時間間隔(ES)を減じるための
   訂正信号(-ΔES) を前記上下運動手段(1,2,8,14,15,16)
   内の前記訂正手段(14)の第１の訂正入力端子に供給する
   ように、前記第１の訂正入力端子に接続された閾値回路
   (20'）とを含む、実用新案登録請求の範囲第２項に記載
   の浄化装置。
4. 【請求項４】 前記短絡により開始された前記付加的な
   上下運動の周波数を決定する前記手段(10',10",20',2
   0") は、予め定められた第２の計数期間(D₁)内に行なわ
   れる前記付加的な上下運動を計数する第２の計数回路(1
   0") と、該第２の計数回路に接続された第２の閾値回路
   (20") であって前記第２の計数回路(10") の値が予め定
   められた第２の閾値を超過しないとき、訂正信号(+ΔE
   S) を前記上下運動手段(1,2,8,14,15,16)内の前記訂正
   手段(14)の第２の訂正入力端子に供給するように、前記
   第２の訂正入力端子に接続された第２の閾値回路(20"）
   とを含む、実用新案登録請求の範囲第１項または第２項
   に記載の浄化装置。
5. 【請求項５】 前記上下運動手段(1,2,8,14,15,16)は、
   前記第１の上下運動(Ａ1 ) のストローク高さ(H) を設
   定する訂正手段(22)と、前記工作物(3')中への前記工具
   電極(3) の侵入深さを決定する手段(23)であってこれの
   信号出力端子が前記ストローク高さを決定する前記訂正
   手段(22)の訂正入力端子に接続された侵入深さ決定手段
   (23)とを有する、実用新案登録請求の範囲第１項〜第４
   項のいずれか１項に記載の浄化装置。