JPH0652224B2 - 冷凍サイクルの試験方法 - Google Patents

冷凍サイクルの試験方法

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JPH0652224B2
JPH0652224B2 JP63213047A JP21304788A JPH0652224B2 JP H0652224 B2 JPH0652224 B2 JP H0652224B2 JP 63213047 A JP63213047 A JP 63213047A JP 21304788 A JP21304788 A JP 21304788A JP H0652224 B2 JPH0652224 B2 JP H0652224B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、冷蔵庫等に用いられる冷凍サイクルの試験を
製造ラインにおいて行なう場合に好適する冷凍サイクル
の試験方法に関する。
(従来の技術) 従来より、例えば冷蔵庫を製造するに際には、その冷蔵
庫に用いられる冷凍サイクル関係の試験を、冷凍サイク
ル組立ラインの最終段階で行なうようにしている。この
場合、上記試験内容としては、冷凍サイクル用のコンプ
レッサモータを定格入力電圧で運転してその基本的な諸
特性を試験する性能試験と、上記コンプレッサモータに
対して、予め決められた温度条件下で定格入力電圧以下
の低電圧を印加することによりそのコンプレッサモータ
の起動特性を試験する低電圧起動試験が含まれる。しか
るに従来では、上記性能試験及び低電圧起動試験を切離
して行なうようにしており、具体的には、冷凍サイクル
を組上げた後にこれを運転させてまず性能試験を行な
い、この後に冷凍サイクルの運転を停止させて低電圧起
動試験を行なうようにしている。
(発明が解決しようとする課題) 上記従来構成では、冷凍サイクルの性能試験を行なった
後に、コンプレッサモータの運転を停止させた状態で、
その冷凍サイクルが組込まれた冷蔵庫を組立ライン上に
比較的長い時間(例えば20分程度)放置して内部の圧
力差の平衡化、つまり冷媒ガス圧力の安定化を図った後
に、コンプレッサモータの低電圧起動試験を行なう必要
がある。このため、組立ラインを長くしなければなら
ず、これが工場内スペースの有効利用の障害になると共
に、組立ライン上に多数の試験待ち冷蔵庫が滞ることに
なって組立効率の悪化を招くという問題点があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、試験のための所要時間を短縮し得てその試験に必
要な組立ライン長を短くでき、以て試験に必要なスペー
スの縮小並びに組立効率の向上を図り得る等の効果を奏
し、しかも低電圧起動試験の精度向上も図り得る冷凍サ
イクルの試験方法を提供するにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明による冷凍サイクルの試験方法は、冷凍サイクル
用のコンプレッサモータに対して定格入力電圧以下の低
電圧を印加することにより、そのコンプレッサモータの
起動特性を試験する低電圧起動試験を行なった後に、直
ちにコンプレッサモータに定格入力電圧を与えて冷凍サ
イクルの諸特性を試験する性能試校を行なうようにした
点に特徴を有し、特に上記低電圧起動試験時にはコンプ
レッサモータに対する印加電圧をその機種毎に予め得て
おいて最低起動電圧の温度変化状態に基づいて温度補正
するようにしたものである。
(作用) 冷凍室サイクル用コンプレッサモータの低電圧起動試験
は、そのコンプレッサモータを定格入力電圧を運転する
性能試験の前に行なわれると共に、冷凍サイクル内の冷
媒ガス圧力が安定するまで待つことなく試験を開始でき
るものであり、以て低電圧起動試験開始までの時間を短
縮することができる。また、この低電圧起動試験後には
直ちに性能試験に移行することができるから、所謂リキ
ッドバック現象による起動不良防止のための待ち時間が
不要となり、この面からも試験時間を短縮することがで
きる。以上の結果、試験のための全体の所要時間を大巾
に短縮することが可能となる。また、前記低電圧起動試
験時においてコンプレッサモータの温度が一定しない場
合でも、コンプレッサモータに対する印加電圧がその機
種毎に予め得ておいた最低起動電圧の温度変化状態に基
づいて温度補正されることになるから、コンプレッサモ
ータの温度が試験雰囲気の温度に馴染むまで待たなくて
も上記試験を精度良く実行することができる。
(実施例) 第1図には例えば冷蔵庫の製造ラインの概略的な平面図
が示されている。この第1図において、1は冷凍サイク
ル組立ラインで、これは図中矢印方向へ移動するスラッ
トコンベアより成り、このコンベア上で冷蔵庫本体2の
組立及びその冷蔵庫本体2への冷凍サイクルの組付けを
含む組立工程が行なわれる。特に、この場合、上記組立
工程の最終段階で冷凍サイクル内への冷媒ガスの充填工
程が行なわれ、以て冷凍サイクルが完成されるようにな
っている。3は冷凍サイクル組立ライン1を経た冷蔵庫
本体2を搬送するための第1の検査用組立ラインで、こ
れは図中矢印方向へ移動するスラットコンベアより成
り、このコンベア上の冷蔵庫本体2に対し後述する低電
圧起動試験及び性能試験が行なわれる。そして、上記各
試験を経た冷蔵庫本体2は、図示しない最終組立ライン
上及び図中矢印方向へ移動する第2の検査用組立ライン
4上にて、最終的な組立工程及び出荷検査工程が夫々行
なわれた後に、梱包出荷ライン5を経て出荷される。
尚、上記第1及び第2の検査用組立ライン3及び4は、
一定温度雰囲気内に設置されている。
さて、第1の検査用組立ライン3上では、冷蔵庫本体2
の冷凍サイクル用コンプレッサモータに対し、その定格
入力電圧(例えば100V)より低い後述のような試験
電圧V0を印加して起動の適否を判定するという低電圧
起動試験を実行した後に、直ちに試験電圧を定格入力電
圧に切換えて、冷凍サイクルの諸特性を試験するという
性能試験を実行する。尚、この場合、上記試験電圧の切
換は、例えばリレーを介して行なうものであって、コン
プレッサモータの断電状態が短時間(例えば0.5秒程
度)で回復するようになっており、従ってコンプレッサ
モータが所謂リキッドバック現象によりロックする虞は
全くない。
しかして、低電圧起動試験における試験電圧Voは、以
下のような事情を考慮して設定される。つまり、試験精
度を高めるためには、コンプレッサモータの温度が第1
の検査用組立ライン3の温度に馴染むまでの比較的長い
時間待機すれば良いが、これでで、試験に要する時間が
いたずらに長引くことになる。このような問題点に対処
するためには、試験電圧をコンプレッサモータの最低起
動電圧の温度特性に応じて変化させることが有効である
と考えられる。しかしながら、上記最低起動電圧は、冷
凍サイクルに充填された冷媒ガス圧力が温度により変化
するのに応じて概ね直線的に変動する性質があるもの
の、コンプレッサモータのオイル粘度も影響するため、
コンプレッサモータの機種の如何によっては温度に対し
て直線的に変化しない場合があり、従って試験電圧を温
度に応じて単純に変化させるだけでは、低電圧起動試験
の適否判定が不正確になる虞がある。このため、本実施
例では、コンプレッサモータの機種毎に複数ポイントの
温度t1〜tmにおいて起動可能な複数種類の最低保証
電圧V1〜Vmを予め実験等により求めておき、これら
のデータに基づいて例えばシーケンサにより前記試験電
圧V0を設定するようにしている。
即ち、試験電圧V0は次式で得られる。
V0=V1(T)+Vip(T) 但し、V1(T)は、コンプレッサモータの冷凍サイク
ル組立ライン1での温度T(つまりコンプレッサモータ
の実際の温度)での最低保証電圧、Vip(T)は上記温
度Tでの試験機インピーダンス補正分である。ここで、
上記最低保証電圧V1(T)は前述した温度t1〜tm
における最低保証電圧V1〜Vmに基づいた計算により
得られるものであり、このような計算例を以下に述べる
(但し、以下において、iは1以上m以下の不特定整数
を示す)。
(1)tm<Tの場合…… V1(T)=(Vm−Vm-1)/(tm−tm-1) ×(T−tm)+Vm Vl(T)=(Vi+1−Vi)/(ti+1−ti)(2)t
1≦T<ti+1の場合…… ×(T−ti+1)+Vi+1 (3)T≦t1の場合…… V1(T)=(V2−V1)/(t2−t1) ×(T−t1)+V1 尚、第2図は上記のようにして得られる試験電圧V0の
例を示すものであり、この例では4ポイントの温度t1
〜t4に対応した最低保証電圧V1〜V4に基づいて前
記最低保証電圧V1(T)及び試験電圧Voを得てい
る。
また、本実施例では、上述のような低電圧起動試験を、
その冷凍サイクル内へ冷媒ガスを充填した後に20分以
上待つことなく例えば5分経過したときに開始するよう
にしている(この間コンプレッサモータは運転しな
い)。このとき、冷凍サイクル内の冷媒ガス圧力は、第
3図に一例を示すように、その充填後に指数関数的に減
少した後に安定するものであり、完全に安定するまでに
20分以上要する(但し、この第3図はコンプレッサモ
ータの温度が27℃の例)。また、上記冷凍サイクルの
低電圧起動試験の条件は、冷凍サイクル内の冷媒ガス圧
力が安定した状態(つまり、コンプレッサモータが起動
し易い状態)を基準として定められたものであるから、
その低電圧起動試験のクリアを優先する場合には、冷媒
ガスの充填後に20分以上経過したときに当該試験を行
なえば良い。これに対して、本実施例では、上述のよう
に冷凍サイクル内への冷媒ガスを充填した後20分以上
待つことなく例えば5分経過したときに開始するように
した結果、冷凍サイクル内の冷媒ガス圧力が指数関数的
に低下した後であって、まだ上記ガス圧力が若干高い状
態、換言すればコンプレッサモータの起動条件が若干厳
しい状態にて低電圧起動試験が行なわれるものであり、
従ってコンプレッサモータの起動特性を確認するという
点では何等支障がないものである。尚、実際の製品に使
用されるコンプレッサモータは、上記低電圧起動試験を
十分にクリアできる余裕をもって設計されている。
上記した本実施例によれば、冷凍サイクル用のコンプレ
ッサモータの低電圧起動試験を、冷凍サイクルの性能試
験の前に行なうようにしているから、その低電圧起動試
験の開始時において、従来のようにコンプレッサモータ
が停止した後冷凍サイクル内の冷媒ガス圧力が安定化す
るまでの比較的長い時間待機する必要がなくなる。しか
も、この低電圧起動試験時において、コンプレッサモー
タに対し印加する試験電圧をそのコンプレッサモータの
温度に応じて補正するようにしているから、コンプレッ
サモータが第1の検査用組立ライン3の温度まで馴染む
まで待たずとも当該試験の精度を高めることができる。
また、上記低電圧起動式験は、冷凍サイクル内に冷媒ガ
スを充填した後に例えば5分経過した時点で行なえば良
いから、冷凍サイクルの組立完了から低電圧起動試験開
始までの待ち時間を、それほど長く確保する必要がない
ものであり、総じて第1の検査用組立ライン3上での試
験に要する時間を短縮できる。しかも、上述のような低
電圧起動試験後には、コンプレッサモータに印加する試
験電圧を瞬時に切換えて性能試験に移るようにしている
から、所謂リキッドバック現象による起動不良防止のた
めの待ち時間が不要となり、この面からも第1の検査用
組立ライン3上での試験に要する全体の時間を大巾に短
縮できる。従って、以上のように第1の検査用組立ライ
ン3上での試験に要する時間を短縮できる結果、その組
立ライン3のライン長を短くできるものであり、これに
て低電圧起動試験及び性能試験に必要なスペースの縮小
を図り得ると共に、試験待ちの冷蔵庫本体2の数を減ら
すことができて組立効率の向上を実現できるものであ
る。
尚、上記実施例では、冷媒ガスの充填後に低電圧起動試
験を行なうにあたって、冷凍サイクル内の冷媒ガス圧力
を考慮しないようにしたが、その冷媒ガス圧力の変化分
を考慮した電圧をコンプレッサモータに印加するように
しても良い。
その他、本発明は上記し且つ図面に示した実施例に限定
されるものではなく、例えば冷蔵庫用の冷凍サイクルに
限らずエアコン用の冷凍サイクルの試験にも適用できる
等、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施する
ことができる。
[発明の効果] 本発明によれば以上の説明によって明らかなように、コ
ンプレッサモータを定格入力電圧で運転して冷凍サイク
ルの諸特性を試験する性能試験、並びに上記コンプレッ
サモータに対して予め決められた温度条件下で定格入力
電圧以下の低電圧を印加することによりその起動特性を
試験する低電圧起動試験を行なうにあたって、前記低電
圧起動試験を行なった後に直ちに前記性能試験を行なう
と共に、上記低電圧起動試験時にはコンプレッサモータ
に対する印加電圧をその機種毎に予め得ておいた最低起
動電圧の温度変化状態に基づいて温度補正する構成とし
たので、試験に必要な組立ライン長を短くできて、試験
に必要なスペースの縮小並びに組立効率の向上等を図り
得ると共に、低電圧起動試験の精度向上を図り得るとい
う優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】 図面は本発明の一実施例を説明するためのもので、第1
図は冷蔵庫の概略的な製造ラインを示す平面図、第2図
は低電圧起動試験時における試験電圧の一例を示す特性
図、第3図は冷媒ガス充填後における冷凍サイクル内の
ガス圧力の変化状態を示す特性図である。 図中、1は組立用検査ライン、2は冷蔵庫本体、3は第
1の検査用組立ライン、4は第2の検査用組立ライン、
5は梱包出荷ラインを示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】冷凍サイクル用のコンプレッサモータを定
    格入力電圧で運転してその冷凍サイクルの諸特性を試験
    する性能試験、並びに上記コンプレッサモータに対して
    定格入力電圧以下の低電圧を印加することによりそのコ
    ンプレッサモータの起動特性を試験する低電圧起動試験
    を行なうにあたって、前記低電圧起動試験を行なった後
    に直ちに前記性能試験を行なうと共に、上記低電圧起動
    試験時にはコンプレッサモータに対する印加電圧をその
    機種毎に予め得ておいた最低起動電圧の温度変化状態に
    基づいて温度補正するようにしたことを特徴とする冷凍
    サイクルの試験方法。
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IT1257203B (it) * 1992-05-29 1996-01-10 Merloni Elettrodomestici Spa Sistema automatico di collaudo funzionale per apparecchi elettrodomestici
EP0837310A3 (en) * 1996-10-18 1999-03-10 SANYO ELECTRIC Co., Ltd. Quality test system for electric appliances
EP0837309A3 (en) * 1996-10-18 1999-03-10 SANYO ELECTRIC Co., Ltd. Method and system for testing performance of refrigeration units
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