JPH0648427Y2 - Oscilloscope probe capacitance calibration circuit - Google Patents

Oscilloscope probe capacitance calibration circuit

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JPH0648427Y2
JPH0648427Y2 JP1988145440U JP14544088U JPH0648427Y2 JP H0648427 Y2 JPH0648427 Y2 JP H0648427Y2 JP 1988145440 U JP1988145440 U JP 1988145440U JP 14544088 U JP14544088 U JP 14544088U JP H0648427 Y2 JPH0648427 Y2 JP H0648427Y2
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JP
Japan
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probe
signal
oscilloscope
calibration
variable capacitance
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JP1988145440U
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Inventor
明宏 田原
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日立電子株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は,オシロスコープに使用するプローブの容量校
正回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a capacitance calibration circuit for a probe used in an oscilloscope.

〔考案の概要〕[Outline of device]

オシロスコープに使用するプローブのうち,例えば10:1
減衰比のプローブは,高インピーダンスであるため,高
周波においては,容量比によって減衰比が決定される。
この容量比はプローブの終端回路の可変容量コンデンサ
を調整し,測定の前に合わせる必要がある。しかし,こ
の作業は低容量のドライバを使用し,校正用方形波を観
測しながら,方形波特性が平坦になるように調整しなけ
ればならない。この作業は手間がかかる。そこで本考案
はこの作業を自動的に行なうため,オシロスコープ本体
側の入力容量をマイクロコンピュタの制御下に置き,プ
ローブにオシロスコープの入力容量を合わせるようにし
たものである。
Of the probes used in the oscilloscope, for example, 10: 1
Since the attenuation ratio probe has high impedance, the attenuation ratio is determined by the capacitance ratio at high frequencies.
This capacitance ratio must be adjusted before measurement by adjusting the variable capacitor of the probe termination circuit. However, for this work, it is necessary to use a low-capacity driver and observe the calibration square wave while adjusting so that the square wave characteristics become flat. This work is troublesome. Therefore, in order to perform this work automatically in the present invention, the input capacitance of the oscilloscope body is placed under the control of the microcomputer and the input capacitance of the oscilloscope is matched to the probe.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来,プローブは第3図に示すようにプローブヘッド1,
同軸ケーブル2,終端回路3の3つから構成され,このう
ち高周波での減衰比はコンデンサC1とケーブルの容量,
コンデンサC2,オシロスコープ本体の入力容量で決ま
る。減衰比はコンデンサC1に対し,ケーブルの容量,コ
ンデンサC2,オシロスコープの入力容量を加えた容量の
比で決まり,1:9であれば減衰比10:1(1/10)プローブと
なる。ここでプローブ容量の調整は校正用方形波信号13
をプローブに入力し,CRT管面にて方形波特性が平坦にな
るように可変コンデンサC2を調整していた。
Conventionally, the probe has a probe head 1, as shown in FIG.
It consists of three parts, a coaxial cable 2 and a termination circuit 3. Of these, the attenuation ratio at high frequency is the capacitor C1 and the cable capacitance,
Determined by the capacitor C2 and the input capacitance of the oscilloscope body. The attenuation ratio is determined by the ratio of the capacity of the cable, the capacity of the capacitor C2, and the input capacity of the oscilloscope to the capacity of the capacitor C1. If the ratio is 1: 9, the attenuation ratio is 10: 1 (1/10). Here, adjustment of the probe capacitance is performed by the calibration square wave signal 13
Was input to the probe and the variable capacitor C2 was adjusted so that the square wave characteristics were flat on the CRT tube surface.

〔考案が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the device]

前述の従来技術には,可変コンデンサC2を調整する時
に,専用のドライバを使用する必要があり,その専用ド
ライバを常に備えて置く必要があるため,余分な管理を
しなければならないという欠点がある。また,プローブ
を取付けたりはずしたりする機会は多く,その度校正信
号で確認し,再調整するのは手間がかかる。本考案は,
これらの問題を解決するため,オシロスコープ本体側入
力容量を自動的にプローブ側の容量に合わせる手段を設
け,前述した調整作業を簡略化することを目的とする。
The above-mentioned conventional technique has a drawback in that it is necessary to use a dedicated driver when adjusting the variable capacitor C2, and it is necessary to always have the dedicated driver, so that extra management must be performed. . In addition, there are many occasions when the probe is attached or removed, and it is troublesome to check and readjust each time with the calibration signal. The present invention is
In order to solve these problems, a means for automatically adjusting the input capacitance on the oscilloscope body side to the capacitance on the probe side is provided to simplify the above-mentioned adjustment work.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

本考案は上記の目的を達成するため,オシロスコープ本
体の入力部に並列に可変容量ダイオードを設け,その制
御電圧を本体内蔵のマイクロコンピュータにて制御可能
にしたものである。マイクロコンピュータは増幅器を経
た入力信号をAD変換し,そのデータを処理し最適な制御
電圧を前記可変容量ダイオードに供給するようにしたも
のである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a variable capacitance diode in parallel with the input section of the oscilloscope body, and the control voltage thereof can be controlled by a microcomputer incorporated in the body. The microcomputer AD-converts the input signal that has passed through the amplifier, processes the data, and supplies an optimum control voltage to the variable capacitance diode.

〔作用〕[Action]

その結果,プローブを取り付けたときに,プローブを校
正用方形波発振器に接続し,マイクロコンピュータの最
適補正電圧検出のプログラムを起動させれば,自動的に
プローブ容量補正を行なうことが可能となる。
As a result, when the probe is attached, the probe capacitance can be automatically corrected by connecting the probe to the calibration square wave oscillator and activating the program for detecting the optimum correction voltage of the microcomputer.

〔実施例〕〔Example〕

以下,本考案の一実施例を第1図により説明する。従来
可変容量コンデンサであったプローブ終端回路2内のコ
ンデンサC2を固定とし,オシロスコープ本体3内に可変
容量ダイオード7として代りに設ける。ここで,可変容
量ダイオードと直列に挿入されているスイッチS1は,本
考案のプローブを接続したときのみONとなるリレーの接
点で,これは10:1プローブを使用しないときは,オシロ
スコープの入力容量を変化しないようにするために設け
る。また,もう一つ同じく直列に挿入されているコンデ
ンサC3は直流分をカットするためのもので,大きな容量
値のものを使用する。可変容量ダイオード7はマイクロ
コンピュータ11から制御されたDA変換器9から制御電圧
を受けて適当な容量値となる。一方,この容量値を最適
にする検出手段としてアッテネータ5と初段増幅器6を
経た信号をAD変換するAD変換器10を設けた。変換データ
はマイクロコンピュータ11に供給される。通常,DA変換
器9は前回校正を行なったときの制御電圧を出力するだ
けであるが,校正時にはAD変換器10のデータに応じ,制
御電圧を変化させ量的な値を求める。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. The capacitor C2 in the probe termination circuit 2 which was a variable capacitor in the past is fixed, and the variable capacitor diode 7 is provided in the oscilloscope body 3 instead. Here, the switch S1 inserted in series with the variable capacitance diode is the contact of the relay that turns on only when the probe of the present invention is connected. This is the input capacitance of the oscilloscope when the 10: 1 probe is not used. It is provided to prevent the change. Another capacitor C3, which is also inserted in series, is to cut the DC component, and a capacitor with a large capacitance value is used. The variable capacitance diode 7 receives a control voltage from the DA converter 9 controlled by the microcomputer 11 and has an appropriate capacitance value. On the other hand, an AD converter 10 for AD-converting the signal passed through the attenuator 5 and the first stage amplifier 6 is provided as a detecting means for optimizing the capacitance value. The converted data is supplied to the microcomputer 11. Normally, the DA converter 9 only outputs the control voltage when the previous calibration was performed, but during the calibration, the control voltage is changed according to the data of the AD converter 10 to obtain a quantitative value.

次にこの校正のアルゴリズムの一例を説明する。校正時
にはプローブを校正用方形波発振器(通常オシロスコー
プに装備されているCAL端子)に接続し,校正起動スイ
ッチS2をONとする。するとマイクロコンピュータ11は校
正プログラムの実行に入いり,AD変換器10を起動させ
る。AD変換器は約1Mサンプル/秒の速度で1KHZ校正用方
形波信号を10周期分程度AD変換する。第2図に示すよう
に変換データのうち,立上り直後のデータD1と立下り直
前のデータD2を抽出し,それぞれ平均値を算出,一致し
たかどうかを比較する。一致しなければDA変換器9のデ
ータを1LSB増加あるいは減少させ,一致するまで前記処
理を繰り返えす。一方,データD1,D2の平均値が一致し
たときは,可変容量ダイオード7の制御電圧が最適値に
なったことを意味し,校正を終了する。このとき,制御
電圧が適当でない場合の例を,第2図データDmax,Dmin
で示す。ここまで説明した処理のアルゴルズムは初歩的
な一例であり,終了するまでに時間を要することは明ら
かであるが,高等な手法により速く終了させる方法は数
多く考えられる。
Next, an example of this calibration algorithm will be described. At the time of calibration, connect the probe to the calibration square wave oscillator (usually the CAL terminal equipped on the oscilloscope) and turn on the calibration start switch S2. Then, the microcomputer 11 starts executing the calibration program and activates the AD converter 10. The AD converter performs AD conversion of 1 KHZ calibration square wave signal for about 10 cycles at a speed of about 1 Msample / sec. As shown in FIG. 2, out of the converted data, the data D1 immediately after the rising edge and the data D2 immediately before the falling edge are extracted, and their average values are calculated and compared to determine whether they match. If they do not match, the data of the DA converter 9 is increased or decreased by 1 LSB, and the above process is repeated until they match. On the other hand, when the average values of the data D1 and D2 match, it means that the control voltage of the variable capacitance diode 7 has reached the optimum value, and the calibration is completed. At this time, an example when the control voltage is not appropriate is shown in Fig. 2 data Dmax, Dmin.
Indicate. The algorithm described above is a rudimentary example, and it is clear that it will take some time to complete, but there are many possible methods for completing it quickly by advanced methods.

これまで述べた校正手段は,例えば10:1プローブを接続
した時のみ有効となる。接続しないときは,前述したよ
うにスイッチS1をOFFとし,オシロスコープ本体3の所
定の入力容量になるようにしなければならない。10:1プ
ローブを接続したかどうか検出手段として,プローブセ
ンサ付のBNCコネクタJ1を使用する。コネクタJ1の接触
子が10:1プローブのコネクタに設けられた突起でアース
にショートされる構造のものを流用する。10:1プローブ
を接続すると,リレー駆動回路8がONとなりリレーコイ
ルK1に電流が流れ,スイッチS1がONとなる。これにより
10:1プローブを接続したときは自動的に,可変容量ダイ
オード7が有効になる。なお,当然のことながら,プロ
ーブの交換時に,そのプローブに応じて,スイッチS1を
手動で操作する構造であっても良いことは言うまでもな
い。
The calibration method described so far is valid only when, for example, a 10: 1 probe is connected. When not connected, as described above, the switch S1 must be turned off so that the oscilloscope body 3 has a predetermined input capacitance. The BNC connector J1 with a probe sensor is used as a means of detecting whether or not a 10: 1 probe is connected. A connector whose connector J1 has a structure in which the contact is short-circuited to the ground by a protrusion provided on the connector of the 10: 1 probe is used. When the 10: 1 probe is connected, the relay drive circuit 8 turns on, a current flows through the relay coil K1, and the switch S1 turns on. This
When a 10: 1 probe is connected, the variable capacitance diode 7 is automatically activated. Needless to say, the switch S1 may be manually operated according to the probe when the probe is replaced.

〔考案の効果〕[Effect of device]

本考案によれば,プローブの校正時に校正用の低容量ド
ライバを使用することなく,また管面の校正信号波形を
観測することなく,校正端子にプローブを接続し,校正
スタートボタンを押すだけで校正を終了させることがで
きる。
According to the present invention, when the probe is calibrated, the probe is connected to the calibration terminal and the calibration start button is pressed without using a low-capacity driver for calibration and observing the calibration signal waveform on the tube surface. Calibration can be ended.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の実施例の構成を示すブロック図,第2
図は校正用方形波信号を入力したときのAD可変データの
例を示す波形図。第3図は従来例のブロック図。 1:プローブヘンド,2:プローブ終端回路,3:オシロスコー
プ本体,5:アッテネータ,6:初段増幅器,7:可変容量ダイ
オード,12:垂直信号,S2:校正起動スイッチ,K1,S1:リレ
ー,14:アースクリップ。
FIG. 1 is a block diagram showing the construction of an embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a waveform diagram showing an example of AD variable data when a calibration square wave signal is input. FIG. 3 is a block diagram of a conventional example. 1: Probe Hend, 2: Probe termination circuit, 3: Oscilloscope body, 5: Attenuator, 6: First stage amplifier, 7: Variable capacitance diode, 12: Vertical signal, S2: Calibration start switch, K1, S1: Relay, 14: Ground clip.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】オシロスコープ本体内の被測定信号の信号
路とアースとの間に設けた可変容量ダイオードと、前記
被測定信号をデジタル信号に変換するA/D変換器と、該
デジタル信号により前記可変容量ダイオードの最適バイ
アス値を求める信号処理回路と、該信号処理回路からの
バイアス値をバイアス電圧に変換し前記可変容量ダイオ
ードに供給するD/A変換器と、前記可変容量ダイオード
と直列に接続したスイッチと、被校正プローブをオシロ
スコープ本体の前期被測定信号の入力接栓に接続したこ
とを検出する検出手段と、該検出手段からの被校正プロ
ーブ検出信号により前記スイッチを閉じるように制御す
る制御手段とを有することを特徴とするオシロスコープ
のプローブ容量校正回路。
1. A variable capacitance diode provided between a signal path of a signal under measurement in an oscilloscope body and a ground, an A / D converter for converting the signal under measurement into a digital signal, and the digital signal A signal processing circuit for obtaining the optimum bias value of the variable capacitance diode, a D / A converter for converting the bias value from the signal processing circuit into a bias voltage and supplying the bias voltage to the variable capacitance diode, and the variable capacitance diode connected in series Switch, a detection means for detecting that the probe to be calibrated is connected to the input plug of the signal under test of the oscilloscope main body, and a control for closing the switch by the probe probe detection signal from the detection means. A probe capacitance calibration circuit for an oscilloscope, comprising:
JP1988145440U 1988-11-09 1988-11-09 Oscilloscope probe capacitance calibration circuit Expired - Lifetime JPH0648427Y2 (en)

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