JPH0638111B2 - Timing device - Google Patents
Timing deviceInfo
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- JPH0638111B2 JPH0638111B2 JP26706684A JP26706684A JPH0638111B2 JP H0638111 B2 JPH0638111 B2 JP H0638111B2 JP 26706684 A JP26706684 A JP 26706684A JP 26706684 A JP26706684 A JP 26706684A JP H0638111 B2 JPH0638111 B2 JP H0638111B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/32—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using change of resonant frequency of a crystal
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、高精度電子計時等の高度な温度補償が必要な
計時装置に関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a timing device that requires a high degree of temperature compensation such as high precision electronic timing.
従来、温度検知回路の出力のバラツキを補正する手段と
して、発振周期が温度に比例する温度検知回路の出力に
対し、第１のプリセッタブル（プログラマブル）分周器
で温度に対する傾きを調整し、第２のプリセッタブル分
周器で温度の切片を調整していた。すなわち第２図に示
したように、温度検出回路２０３の出力を、外部設定手
段２０１に従ったプリセット値から分周して０を検出す
る第１のプリセッタブル分周器２０４と、切片の調整デ
ータ２０２を基準として、ゲート２０５の出パルスをカ
ウントする第２のプリセッタブル分周器２０６が必要で
あった。Conventionally, as a means for correcting variations in the output of the temperature detection circuit, the slope of the output of the temperature detection circuit whose oscillation period is proportional to temperature is adjusted with a first presettable (programmable) frequency divider, The temperature intercept was adjusted with a presettable divider of 2. That is, as shown in FIG. 2, the output of the temperature detection circuit 203 is divided from a preset value according to the external setting means 201 to detect 0 and a first presettable frequency divider 204, and the adjustment of the intercept. A second presettable frequency divider 206 that counts the output pulses of the gate 205 based on the data 202 was required.
しかし上述の回路は１０bit程度のプリセッタブルカウ
ンタを２個必要とし、集積回路上に占める面積は非常に
大きかった。本発明はこのバラツキを補正する測温回路
において、その占有面積の縮少を図ることを目的とす
る。However, the above circuit requires two presettable counters of about 10 bits, and the area occupied on the integrated circuit is very large. An object of the present invention is to reduce the occupied area of the temperature measuring circuit that corrects this variation.
本発明は温度検知回路の出力で、その温度に対する傾き
の調整と、温度の切片の調整を時間的に分けて、同一の
分周手段で行なうものである。According to the present invention, the output of the temperature detection circuit is used to adjust the inclination with respect to the temperature and the adjustment of the temperature intercept by the same frequency dividing means.
第３図に本発明の実施例を示す。３０１，３０２は第１
の外部設定スイッチ、３０３，３０４が第２の外部設定
スイッチである。また、３０５〜３０８，３１１，３１
２が信号の切換を行なう。３０９，３１０，３１３，３
１４，３１５がプリセッタブルダウンカウンタである。
３１６〜３１８が０検出回路、３１９が第１図の１０
７，３２０が１０８に相当する。FIG. 3 shows an embodiment of the present invention. 301 and 302 are the first
External setting switches, and 303 and 304 are second external setting switches. In addition, 305 to 308, 311 and 31
2 switches signals. 309, 310, 313, 3
Reference numerals 14 and 315 denote presettable down counters.
316 to 318 are 0 detection circuits and 319 is 10 in FIG.
7,320 corresponds to 108.
３０１，３０２で設定されるデータをＰとし、信号ＳＷ
がＨレベルにあるとき、フリップフロップ３１３，３１
４の出力はＰにセットされる。このときφ1024＝１０２
４Ｈｚのパルスが、このカウンタに入力されすべての出
力が０になると、０検出回路が働き３１７の出力はＬレ
ベルとなる。この出力は1/2ＨｚとＮＯＲゲートを通る
ことにより３１９のように、０検出の時間から1/2Ｈｚ
の立上りまでのパルス巾が作られる。この３１９のパル
ス巾は次の式で表わされる。The data set by 301 and 302 is P, and the signal SW
Is at the H level, flip-flops 313, 31
The output of 4 is set to P. At this time φ1024 = 102
When a 4 Hz pulse is input to this counter and all outputs become 0, the 0 detection circuit operates and the output of 317 becomes L level. This output is 1 / 2Hz and 1 / 2Hz from the time of 0 detection like 319 by passing through the NOR gate.
The pulse width up to the rising edge of is created. The pulse width of this 319 is expressed by the following equation.
次にこのパルス巾の中に温度検知回路からの出力ｓを
入力すると、３２０のとおりとなり、このパルスの数
は、 となる。信号３１９が立下がった直後、切換信号ＳＷが
Ｌレベルとなり、プリセッタブルダウンカウンタは３０
３，３０４の設定値ｑでセットされる。次にプリセッタ
ブルカウンタの入力には３２０の信号が入力されるた
め、プリセット値ｑよりパルス分だけダウンカウントを
行なう。パルスが全部入力し終わった後のカウンタのＱ
出力は、次のようになる。 Next, when the output s from the temperature detection circuit is input into this pulse width, it becomes as shown in 320, and the number of this pulse is Becomes Immediately after the signal 319 falls, the switching signal SW becomes L level, and the presettable down counter becomes 30
The set value q of 3,304 is set. Next, since the signal of 320 is input to the input of the presettable counter, the preset value q is counted down by the number of pulses. Q of counter after inputting all pulses
The output looks like this:
この出力は温度情報となり、例えば水晶振動子の二次特
性をＲＯＭのデータとして持ち、外部温度に依ってＲＯ
Ｍデータを呼び出す構成の、高精度電子時計において
は、(3)式はアドレス値となる。また周囲温度を表示す
る温度計においては、(3)式は温度計の表示数値そのも
のとなる。 This output serves as temperature information. For example, the secondary characteristic of the crystal unit is stored as ROM data, and the RO
In a high-precision electronic timepiece configured to call M data, equation (3) is an address value. For a thermometer that displays the ambient temperature, equation (3) is the display value itself of the thermometer.
前者の場合ｐとｑの数値は次のように決定する。まず任
意の３点の温度での水晶発振周波数偏差と温度検知回路
の発振周波数を測定する。In the former case, the numerical values of p and q are determined as follows. First, the crystal oscillation frequency deviation at three arbitrary temperatures and the oscillation frequency of the temperature detection circuit are measured.
△ｙ＝β（θ−θMAX）２＋ｙ０ ……(4) ｓ＝ａθ＋ｂ ……(5) △ｙ：水晶発振周波数偏差 β：水晶の二次温度係数 θMAX：水晶の頂点温度 ｙ０：水晶のオフセット θ：温度 ｓ：温度検知回路の発振周波数 ａ： 〃 の傾き ｂ： 〃 の切片 (4)，(5)式より温度θを消去して三元二次方程式を解く
ことにより、 ｓθMAX＝ａθMAX＋ｂ が求まる。Δy = β (θ−θ MAX ) 2 + y 0 (4) s = a θ + b (5) Δy: Crystal oscillation frequency deviation β: Crystal secondary temperature coefficient θ MAX : Crystal peak temperature y 0 : Offset of crystal θ: Temperature s: Oscillation frequency of temperature detection circuit a: Slope of 〃 b: Intercept of 〃 By eliminating temperature θ from Eqs. (4) and (5), and solving the ternary quadratic equation, sθ MAX = a θ MAX + b Is required.
これより、 という式が成り立ち、右辺はすべて既知であることか
ら、Ｐとｑの値が求まる。Than this, The above equation holds true and all the right sides are known, so the values of P and q can be obtained.
また後者のように温度計となるようにすると、２点にお
いて温度検知回路の出力を測定しその時表示したい数値
をＮにあてはめる。すなわち下式 ｉ＝１．２ に従い二元一次方程式を解くことによりＰとｑが求ま
る。When the latter is used as a thermometer, the output of the temperature detection circuit is measured at two points and the numerical value to be displayed at that time is applied to N. That is, P and q can be obtained by solving the binary linear equation according to i = 1.2.
第５図に本発明による他の実施例を示す。第３図との相
違は外部設定手段として不揮発性メモリを使っているこ
とである。不揮発性メモリは５０９，５１０でそのゲー
トは何にも接続されないフローティングゲートとなって
いる。５１１，５１２は５０７と５０９を基本単位とす
る１セルを表わしている。不揮発性メモリへのデータ書
込はｂ０〜ｂｎとＳＷを制御し、ＶPPに−１５Ｖ程度の
電圧を印加することによって行なう。今ＳＷがＨレベル
とすると、５１１，５１２のＰチャンネルトランジスタ
はセルのゲートがＨレベルのためＯＦＦしている。５０
７，５０８はＯＮするため、５１６，５１７のＮＯＲゲ
ートの入力にはそれぞれメモリ５０９，５１０のデータ
が入力される。FIG. 5 shows another embodiment according to the present invention. The difference from FIG. 3 is that a nonvolatile memory is used as the external setting means. Nonvolatile memories 509 and 510 have floating gates whose gates are not connected to anything. 511 and 512 represent one cell having 507 and 509 as a basic unit. Data writing to the non-volatile memory is performed by controlling b 0 to b n and SW, and applying a voltage of about −15 V to V PP . If SW is now at H level, the P-channel transistors 511 and 512 are off because the cell gate is at H level. Fifty
Since 7, 508 are turned on, the data of the memories 509, 510 are input to the inputs of the NOR gates of 516, 517, respectively.
データが入力された以後の動作は第３図に示した実施例
と同一である。カウンタはダウンカウンタでもアップカ
ウンタでもよい。設定値を操作することにより、最終出
力は同一となる。一定のパルス巾を作った後ＳＷ＝Ｌレ
ベルとなると、次は５１１，５１２のデータがカウンタ
に入力されることになる。このような不揮発性メモリを
使うことによって集積回路上におけるパッド数を大巾に
節減することができる。The operation after the data is input is the same as that of the embodiment shown in FIG. The counter may be a down counter or an up counter. By operating the set value, the final output becomes the same. When SW = L level after making a constant pulse width, the data of 511 and 512 are input to the counter next time. By using such a non-volatile memory, the number of pads on the integrated circuit can be significantly reduced.
以上述べてきたように本発明を実施することにより、分
周手段が１個、例えば１０bit分のフリップフロップだ
けで、温度検知回路の出力の傾き、および切片を調整す
ることができる。温度検知回路の特性を考慮すると、プ
リセッタブル分周器は約９〜１１bit程度必要となる。
この様に分周手段を共用することができるため、本発明
の計時装置を集積回路に形成する際、大幅な占有面積の
縮少を図ることができる。By implementing the present invention as described above, the inclination and intercept of the output of the temperature detection circuit can be adjusted by only one frequency dividing means, for example, a flip-flop for 10 bits. Considering the characteristics of the temperature detection circuit, the presettable frequency divider requires about 9 to 11 bits.
Since the frequency dividing means can be shared in this way, when the time measuring device of the present invention is formed in an integrated circuit, the occupied area can be greatly reduced.
【図面の簡単な説明】 第１図 本発明のブロック図 第２図 従来例のブロック図 第３図 本発明による実施例を示した図 第４図 第３図のタイムチャート図 第５図 本発明による他の実施例を示した図 １０１，１０２……外部設定手段 １０３〜１０５……切換スイッチ １０６……プリセッタブル分周回路 １０７……ＮＯＲゲート、１０８……ＡＮＤゲート １０８……温度検知回路 ２０１，２０２……外部設定手段 ２０３……温度検知回路 ２０４，２０６……プリセッタブル分周回路 ２０５……ＡＮＤゲート ３０１〜３０４……スイッチ ３０５，３０７，３１１，３１５……インバータ ３０６，３０８，３１２……４入力ＡＮＤゲート ３０９，３１０，３１７〜３１９……ＮＯＲゲート ３１３，３１４……フリップフロップ ３１６……ＯＲゲート ３２０……ＡＮＤゲート ５０１〜５０４，５０７，５０８……ＭＯＳトランジス
タ ５０９，５１０……不揮発性メモリ ５１１，５１２……不揮発性メモリセル ５１３，５１４，５２０……インバータ ５１５……４入力ＯＲＡＮＤゲート ５１６，５１７，５２２〜５２４……ＮＯＲゲート ５１８，５１９……フリップフロップ ５２１……ＯＲゲート ５２５……ＡＮＤゲート ５０５，５０６……抵抗BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 Block diagram of the present invention FIG. 2 Block diagram of conventional example FIG. 3 Diagram showing an embodiment according to the present invention FIG. 4 Time chart diagram of FIG. 101, 102 ... External setting means 103-105 ... Changeover switch 106 ... Presettable frequency divider circuit 107 ... NOR gate, 108 ... AND gate 108 ... Temperature detection circuit 201 , 202 ... External setting means 203 ... Temperature detection circuit 204, 206 ... Presettable frequency divider circuit 205 ... AND gates 301-304 ... Switches 305, 307, 311, 315 ... Inverters 306, 308, 312 ... ... 4-input AND gates 309, 310, 317 to 319 ... NOR gates 313, 314 ... flip-flop 316 ... O R gate 320 ... AND gate 501-504, 507, 508 ... MOS transistor 509, 510 ... Non-volatile memory 511, 512 ... Non-volatile memory cell 513, 514, 520 ... Inverter 515 ... 4-input OR AND gate 516, 517, 522 to 524 ... NOR gate 518, 519 ... Flip-flop 521 ... OR gate 525 ... AND gate 505, 506 ... Resistor
Claims (1)
周し計時信号を出力する分周手段とを備えた計時装置に
おいて、 温度変化に対応して出力が変化する温度情報検出手段
と、前記分周手段の分周比を設定する第１及び第２の分
周比設定手段と、前記分周比設定手段の出力を前記分周
手段に選択的に供給する第１の切り換手段と、前記分周
手段の出力に基づき所定時間前記温度情報検出手段の出
力信号を出力するゲート回路と、前記発信回路の出力に
基づく基準信号と前記ゲート回路の出力を切換え前記分
周手段に選択的に入力する第２の切換え手段とを有し、
前記第１の切換え手段を前記第２の切換え手段と連動し
て動作させてなることを特徴とする計時装置。1. A temperature measuring device comprising an oscillating circuit and a frequency dividing means for dividing an output signal of the oscillating circuit to output a time measuring signal, and a temperature information detecting means for changing an output in response to a temperature change. First and second frequency division ratio setting means for setting the frequency division ratio of the frequency dividing means, and first switching means for selectively supplying the output of the frequency division ratio setting means to the frequency dividing means. A gate circuit that outputs the output signal of the temperature information detecting means for a predetermined time based on the output of the frequency dividing means, and a reference signal based on the output of the transmitting circuit and the output of the gate circuit, and select the frequency dividing means. Second switching means for inputting the
A timepiece device characterized in that the first switching means is operated in conjunction with the second switching means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26706684A JPH0638111B2 (en) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | Timing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26706684A JPH0638111B2 (en) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | Timing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61144537A JPS61144537A (en) | 1986-07-02 |
| JPH0638111B2 true JPH0638111B2 (en) | 1994-05-18 |
Family
ID=17439558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26706684A Expired - Lifetime JPH0638111B2 (en) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | Timing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0638111B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3633939A1 (en) * | 1986-10-04 | 1988-04-14 | Heraeus Gmbh W C | TRANSMISSION OF SIGNALS FROM A SENSOR UNIT |
-
1984
- 1984-12-18 JP JP26706684A patent/JPH0638111B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61144537A (en) | 1986-07-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |