JPH06347487A - 可プログラム安全規格自動テスター - Google Patents
可プログラム安全規格自動テスターInfo
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- JPH06347487A JPH06347487A JP5152658A JP15265893A JPH06347487A JP H06347487 A JPH06347487 A JP H06347487A JP 5152658 A JP5152658 A JP 5152658A JP 15265893 A JP15265893 A JP 15265893A JP H06347487 A JPH06347487 A JP H06347487A
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- Japan
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- circuit
- output
- voltage
- control system
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 交流耐電圧、直流耐電圧、絶縁インピダンス
及び交流接地インピダンステストを単一機体に融合し、
各テストサーキットの出力は共同で同一拡大器と可プロ
グラム信号源を使用する。 【効果】 複雑ポイントに対して異なるパラメーターの
連続自動テストをすることができ、完整したシリース界
面と汎用界面合流列制御功能をもち、且つ自流テストシ
ステムを配合して全自動のテストと記録をすることがで
きる。更にマイクロプロセス制御システムを制御センタ
ーにし、組合せ言語を使用して制御パターンにリード
し、面板のキー、顕示器、出力信号、メーター読み取
り、シリース界面及び汎用界面合流列等、すべてがマイ
クロプロセス制御システムで作動を制御することができ
る。
及び交流接地インピダンステストを単一機体に融合し、
各テストサーキットの出力は共同で同一拡大器と可プロ
グラム信号源を使用する。 【効果】 複雑ポイントに対して異なるパラメーターの
連続自動テストをすることができ、完整したシリース界
面と汎用界面合流列制御功能をもち、且つ自流テストシ
ステムを配合して全自動のテストと記録をすることがで
きる。更にマイクロプロセス制御システムを制御センタ
ーにし、組合せ言語を使用して制御パターンにリード
し、面板のキー、顕示器、出力信号、メーター読み取
り、シリース界面及び汎用界面合流列等、すべてがマイ
クロプロセス制御システムで作動を制御することができ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は可プログラム安全規格自
動テスターに係り、主要は８０５１シリーズＣＰマイク
ロプロセス制御システムを応用して制御センターにし、
ならびにＡＳＭ−５１で言語を組合せて制御プログラム
にリード（read）し、面板のキー、顕示器、出力信号、
メーターの読み取り、ＲＳ−２３２シリース界面および
ＧＰＩＢ汎用界面合流列等を駆使し、すべてＣＰＵマイ
クロプロセス制御システムによって作動を制御し、そし
て交流耐電圧、直流耐電圧、絶縁インピダンスおよび交
流接地インピダンステストサーキットの出力の際には拡
大器及び可パターン信号源を共用するので線路が比較的
に簡単であり、安定圧と安定電流率が良くなると共にパ
ターン制御出力と界面制御功能を達成することができ
る。
動テスターに係り、主要は８０５１シリーズＣＰマイク
ロプロセス制御システムを応用して制御センターにし、
ならびにＡＳＭ−５１で言語を組合せて制御プログラム
にリード（read）し、面板のキー、顕示器、出力信号、
メーターの読み取り、ＲＳ−２３２シリース界面および
ＧＰＩＢ汎用界面合流列等を駆使し、すべてＣＰＵマイ
クロプロセス制御システムによって作動を制御し、そし
て交流耐電圧、直流耐電圧、絶縁インピダンスおよび交
流接地インピダンステストサーキットの出力の際には拡
大器及び可パターン信号源を共用するので線路が比較的
に簡単であり、安定圧と安定電流率が良くなると共にパ
ターン制御出力と界面制御功能を達成することができ
る。
【０００２】
【従来の技術】一般によく知られている市面上の安全規
格自動テスターの多くが単一功能または共用功能（線路
が繁雑であるので、安定圧と安定電流率が極めて悪い）
の機体であり、且つ自動化と界面功能に欠け、亦／また
は完整ではないので、全自動化のテストおよび完整した
記録を果たすことができないものであった。而も負荷に
対して交流耐圧、直流電圧、絶縁インピダンス亦／また
は交流接地インピダンスの各種テストをする時に、必ず
同時に多セットの異なるテストに必要とする機体を仕入
れなければならないので、無形中に使用者の負担を増加
している。
格自動テスターの多くが単一功能または共用功能（線路
が繁雑であるので、安定圧と安定電流率が極めて悪い）
の機体であり、且つ自動化と界面功能に欠け、亦／また
は完整ではないので、全自動化のテストおよび完整した
記録を果たすことができないものであった。而も負荷に
対して交流耐圧、直流電圧、絶縁インピダンス亦／また
は交流接地インピダンスの各種テストをする時に、必ず
同時に多セットの異なるテストに必要とする機体を仕入
れなければならないので、無形中に使用者の負担を増加
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記一般使用の安全規
格自動テスターの各種欠点に鑑み、発明者は長期に亘る
努力研究及び絶え間ない実験を経て、遂に本発明を開発
設計したもので、その目的は一種の「可プログラム安全
規格自動テスター」を提供するものである。
格自動テスターの各種欠点に鑑み、発明者は長期に亘る
努力研究及び絶え間ない実験を経て、遂に本発明を開発
設計したもので、その目的は一種の「可プログラム安全
規格自動テスター」を提供するものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明による可プログラ
ム安全規格自動テスターはマイクロプロセス制御システ
ム、パワー拡大サーキット、交直流切替サーキット、デ
ィジタルアナログ切替サーキット、可パターン正弦波発
生サーキット、電圧電流テストサーキットから組成され
る。
ム安全規格自動テスターはマイクロプロセス制御システ
ム、パワー拡大サーキット、交直流切替サーキット、デ
ィジタルアナログ切替サーキット、可パターン正弦波発
生サーキット、電圧電流テストサーキットから組成され
る。
【０００５】マイクロプロセス制御システムは制御項目
に入力キーボード、面板顕示器、状態指示、出力電圧／
電流の大きさ、出力電圧／電流読み取り、出力電圧周波
数、シリース界面、汎用界面シンク列及び出力切替等を
含み、シグナルチップマイクロプロセッサーを制御中心
にして組合せ言語を制御プログラムとすることができ
る。
に入力キーボード、面板顕示器、状態指示、出力電圧／
電流の大きさ、出力電圧／電流読み取り、出力電圧周波
数、シリース界面、汎用界面シンク列及び出力切替等を
含み、シグナルチップマイクロプロセッサーを制御中心
にして組合せ言語を制御プログラムとすることができ
る。
【０００６】パワー拡大サーキットはリニアのパワー拡
大器であり、直接接地抵抗テストをすることができる恒
流出力、又は昇圧トランスで昇圧した後に高圧出力を発
生することができる。
大器であり、直接接地抵抗テストをすることができる恒
流出力、又は昇圧トランスで昇圧した後に高圧出力を発
生することができる。
【０００７】交直流切替サーキットは出力が交流耐電圧
パターンの時、昇圧トランスの出力高圧は直接出力で
き、周波数の出力はマイクロプロセス制御システムによ
り制御する。仮に出力が直流耐電圧パターンであれば、
高圧継電気により自動的に切替整流フィルターした高圧
直流で出力し、もって出力フィルターコンデンサーの容
量を減少しまたは出力のリップルウェーブ電流を減少す
る。又、出力が絶縁抵抗テストパターンの時は、直流出
力エンドに限流レジスタンをシリース接続することがで
きる交直流切替サーキットである。
パターンの時、昇圧トランスの出力高圧は直接出力で
き、周波数の出力はマイクロプロセス制御システムによ
り制御する。仮に出力が直流耐電圧パターンであれば、
高圧継電気により自動的に切替整流フィルターした高圧
直流で出力し、もって出力フィルターコンデンサーの容
量を減少しまたは出力のリップルウェーブ電流を減少す
る。又、出力が絶縁抵抗テストパターンの時は、直流出
力エンドに限流レジスタンをシリース接続することがで
きる交直流切替サーキットである。
【０００８】ディジタルアナログ切替サーキットは先ず
ハード線路で出力した交直流電圧または電流アナログ信
号を拡大、整流、フィルターした後に、更に切り替えて
マイクロプロセス制御システムで読み取りでき、バイナ
リー制ディシタルコードに提供することができる。
ハード線路で出力した交直流電圧または電流アナログ信
号を拡大、整流、フィルターした後に、更に切り替えて
マイクロプロセス制御システムで読み取りでき、バイナ
リー制ディシタルコードに提供することができる。
【０００９】可パターン正弦波発生サーキットは基本的
には一つのディジタル合成の正弦波を発生し、周波数と
振動幅はすべてマイクロプロセス制御システムの制御を
受けることができる。
には一つのディジタル合成の正弦波を発生し、周波数と
振動幅はすべてマイクロプロセス制御システムの制御を
受けることができる。
【００１０】交流電源は一応トランスに入力して変圧し
た後にそれぞれ整流フィルターサーキットに入って整流
フィルターをなし、直流安定圧サーキットは電圧値を持
続させる。その整流フィルター後の電源は併せてパワー
拡大サーキットに入り電力を拡大し、一方直流安定圧サ
ーキットを経て安定した後の電源はマイクロプロセス制
御システムに連接供応する。そのマイクロプロセス制御
システムはそれぞれシリース界面、汎用界面合流列、面
板顕示器、入力キーボード、可プログラムサインウェー
ブ発生サーキット及び周辺出力ウェーブ形成電圧等に対
する制御をなし、その中、可プログラムサインウェーブ
発生サーキットは一つのマイクロプロセス制御システム
で制御した周波数または電圧を提供し、プレ拡大サーキ
ットを経て信号を増強して、その後に亦パワー拡大サー
キットに送りこんで拡大するものである。
た後にそれぞれ整流フィルターサーキットに入って整流
フィルターをなし、直流安定圧サーキットは電圧値を持
続させる。その整流フィルター後の電源は併せてパワー
拡大サーキットに入り電力を拡大し、一方直流安定圧サ
ーキットを経て安定した後の電源はマイクロプロセス制
御システムに連接供応する。そのマイクロプロセス制御
システムはそれぞれシリース界面、汎用界面合流列、面
板顕示器、入力キーボード、可プログラムサインウェー
ブ発生サーキット及び周辺出力ウェーブ形成電圧等に対
する制御をなし、その中、可プログラムサインウェーブ
発生サーキットは一つのマイクロプロセス制御システム
で制御した周波数または電圧を提供し、プレ拡大サーキ
ットを経て信号を増強して、その後に亦パワー拡大サー
キットに送りこんで拡大するものである。
【００１１】パワー拡大サーキットで拡大された電源は
切替スイッチセットを経て正確なセレクト切替をなし、
その切替スイッチセットの一端には適度に再び上昇可能
の昇圧トランスを接設ける。一応上昇した後の電源はそ
れぞれ電圧電流テストサーキット内及びテストしようと
する交流または直流耐電圧及び絶縁インピダンスの負荷
を外接することが可能である高圧出力端子に送りこま
れ、而して切替スイッチセットの他の一端はそれぞれ電
圧電流テストサーキット及びテストしようとする交流接
地インピダンスの負荷と連接することができる恒流出力
端子を接設けてある。
切替スイッチセットを経て正確なセレクト切替をなし、
その切替スイッチセットの一端には適度に再び上昇可能
の昇圧トランスを接設ける。一応上昇した後の電源はそ
れぞれ電圧電流テストサーキット内及びテストしようと
する交流または直流耐電圧及び絶縁インピダンスの負荷
を外接することが可能である高圧出力端子に送りこま
れ、而して切替スイッチセットの他の一端はそれぞれ電
圧電流テストサーキット及びテストしようとする交流接
地インピダンスの負荷と連接することができる恒流出力
端子を接設けてある。
【００１２】電圧電流テストサーキットは、それぞれ一
つの交直流電圧または電流のアナログ信号をバイナリー
制ディジタルコードに切り替えることにより、マイクロ
プロセス制御システムで読み取ったディジタルアナログ
を切り替えてサーキットに供応し、可プログラムサイン
ウェーブ発生サーキットでディジタル合成のサインウェ
ーブを発生して連接する。
つの交直流電圧または電流のアナログ信号をバイナリー
制ディジタルコードに切り替えることにより、マイクロ
プロセス制御システムで読み取ったディジタルアナログ
を切り替えてサーキットに供応し、可プログラムサイン
ウェーブ発生サーキットでディジタル合成のサインウェ
ーブを発生して連接する。
【００１３】
【作用】本発明による可プログラム安全規格自動テスタ
ーの主要は交流耐電圧、直流耐電圧、絶縁インピダンス
及び交流接地インピダンステストを単一機体に融合して
いる。各テストサーキットの出力は共同で同一拡大器と
可プログラム信号源を使用することにより、線路をより
精密簡単にし、安定圧と安定電流率を優良にする。これ
により複雑ポイントに対して異なるパラメーター（para
meter）の連続自動テストをすることができて、完整し
たシリース界面と汎用界面合流列制御功能をもち、且つ
自流テストシステムを配合して全自動のテストと記録を
行う。並びにマイクロプロセス制御システムを制御セン
ターにし、組合せ言語を使用して制御パターンにリード
し、面板のキー、顕示器、出力信号、メーター読み取
り、シリース界面及び汎用界面合流列等、すべてがマイ
クロプロセス制御システムで作動を制御する。
ーの主要は交流耐電圧、直流耐電圧、絶縁インピダンス
及び交流接地インピダンステストを単一機体に融合して
いる。各テストサーキットの出力は共同で同一拡大器と
可プログラム信号源を使用することにより、線路をより
精密簡単にし、安定圧と安定電流率を優良にする。これ
により複雑ポイントに対して異なるパラメーター（para
meter）の連続自動テストをすることができて、完整し
たシリース界面と汎用界面合流列制御功能をもち、且つ
自流テストシステムを配合して全自動のテストと記録を
行う。並びにマイクロプロセス制御システムを制御セン
ターにし、組合せ言語を使用して制御パターンにリード
し、面板のキー、顕示器、出力信号、メーター読み取
り、シリース界面及び汎用界面合流列等、すべてがマイ
クロプロセス制御システムで作動を制御する。
【００１４】本発明の装置構造の特徴及びその功効につ
いて、更により認識と了解できるよう、ここでシステム
の架構表示図にパターン流程図を配合して詳細に次ぎに
説明する。
いて、更により認識と了解できるよう、ここでシステム
の架構表示図にパターン流程図を配合して詳細に次ぎに
説明する。
【００１５】
【実施例】図１で示すのを参照すると、本発明は一種の
「可プログラム安全規格自動テスター」で、主要はマイ
クロプロセス制御システム１、パワー拡大サーキット
２、交直流切替サーキット３、デイジタルアナログ切替
サーキット４及び可プログラムサインウェーブ発生サー
キット５等を含むもので組成する；交流電源６は一つの
入力トランス７と連接し、その入力トランス７はそれぞ
れ整流フィルターサーキット８及び直流安定圧サーキッ
ト９と連接する、その中、整流フィルターサーキット８
は一つのパワー拡大サーキット２に接ぎ設け、而して直
流安定圧サーキット９はマイクロプロセス制御システム
１に連接している、そのマイクロプロセス制御システム
１はそれぞれ更にＲＳ−２３２シリース界面１６、ＧＰ
ＩＢ汎用界面合流列１７、面板顕示器１５、入力キーボ
ード１４及び可プログラムサインウェーブ発生サーキッ
ト５を接ぎ設ける、その中、可プログラムサインウェー
ブ発生サーキット５は一つのプレ（pre）拡大サーキッ
ト１３に接ぎ設け、そのプレ拡大サーキット１３はパワ
ー拡大サーキット２に接ぎ設けている。
「可プログラム安全規格自動テスター」で、主要はマイ
クロプロセス制御システム１、パワー拡大サーキット
２、交直流切替サーキット３、デイジタルアナログ切替
サーキット４及び可プログラムサインウェーブ発生サー
キット５等を含むもので組成する；交流電源６は一つの
入力トランス７と連接し、その入力トランス７はそれぞ
れ整流フィルターサーキット８及び直流安定圧サーキッ
ト９と連接する、その中、整流フィルターサーキット８
は一つのパワー拡大サーキット２に接ぎ設け、而して直
流安定圧サーキット９はマイクロプロセス制御システム
１に連接している、そのマイクロプロセス制御システム
１はそれぞれ更にＲＳ−２３２シリース界面１６、ＧＰ
ＩＢ汎用界面合流列１７、面板顕示器１５、入力キーボ
ード１４及び可プログラムサインウェーブ発生サーキッ
ト５を接ぎ設ける、その中、可プログラムサインウェー
ブ発生サーキット５は一つのプレ（pre）拡大サーキッ
ト１３に接ぎ設け、そのプレ拡大サーキット１３はパワ
ー拡大サーキット２に接ぎ設けている。
【００１６】パワー拡大サーキット２に一つの切替スイ
ッチセット１０を接ぎ設け、その切替スイッチセット１
０の一端を昇圧トランス１１に連接して、昇圧トランス
１１を交直流切替サーキット３で連接する、その交直流
切替サーキット３はそれぞれ電圧電流テストサーキット
１２及び高圧出力端子を接ぎ設け、而して切替スイッチ
セット１０の他の一端も亦電圧電流テストサーキット１
２及び恒流出力端子１９と連接する、その電圧電流テス
トサーキット１２はそれぞれ更にデイジタルアナログ切
替サーキット４と可プログラムサインウェーブ発生サー
キット５等を連接し、デイジタルアナログ切替サーキッ
ト４は併せてマイクロプロセス制御システム１を接ぎ設
けている。
ッチセット１０を接ぎ設け、その切替スイッチセット１
０の一端を昇圧トランス１１に連接して、昇圧トランス
１１を交直流切替サーキット３で連接する、その交直流
切替サーキット３はそれぞれ電圧電流テストサーキット
１２及び高圧出力端子を接ぎ設け、而して切替スイッチ
セット１０の他の一端も亦電圧電流テストサーキット１
２及び恒流出力端子１９と連接する、その電圧電流テス
トサーキット１２はそれぞれ更にデイジタルアナログ切
替サーキット４と可プログラムサインウェーブ発生サー
キット５等を連接し、デイジタルアナログ切替サーキッ
ト４は併せてマイクロプロセス制御システム１を接ぎ設
けている。
【００１７】マイクロプロセス制御システム１は８０３
１シリースシングルチップマイクロプロセッサー制御セ
ンターにし、制御項目には入力キーボード１４、面板顕
示器１５、状態指示、出力電圧／電流の大きさ、出力電
圧／電流読み取り、出力電圧周波数、ＲＳ−２３２シリ
ース界面１６、ＧＰＩＢ汎用界面合流列１７及び出力切
替等を含む。
１シリースシングルチップマイクロプロセッサー制御セ
ンターにし、制御項目には入力キーボード１４、面板顕
示器１５、状態指示、出力電圧／電流の大きさ、出力電
圧／電流読み取り、出力電圧周波数、ＲＳ−２３２シリ
ース界面１６、ＧＰＩＢ汎用界面合流列１７及び出力切
替等を含む。
【００１８】パワー拡大サーキット２はリニアのパワー
拡大器で、出力容量は約１２Ｖ３５Ａ、直接接地インピ
ダンステストを可能とする恒流出力で、または昇圧トラ
ンス１１により昇圧した後に高圧を発生して出力する。
拡大器で、出力容量は約１２Ｖ３５Ａ、直接接地インピ
ダンステストを可能とする恒流出力で、または昇圧トラ
ンス１１により昇圧した後に高圧を発生して出力する。
【００１９】交直流切替サーキット３は、出力を交流耐
電圧パターンとする時に、昇圧トランス１１の出力高圧
を直接出力できて、周波数はマイクロプロセス制御シス
テム１で５０〜６０ヘルツの間に制御する；若し出力が
直流耐電圧パターンの時は、高圧リレーにより自動切替
し整流フィルター後の高圧直流を出力する、この時トラ
ンスの入力交流周波数は７５０ヘルツで、もって出力フ
ィルターコンデンサーの容量を減少しまたは出力のリッ
プルウエーブ電流を減少する；また、出力が絶縁インピ
ダンステストパターンの時は、直流出力端に更に１０Ｍ
Ωのレジスタンス限流をシリース接続する。
電圧パターンとする時に、昇圧トランス１１の出力高圧
を直接出力できて、周波数はマイクロプロセス制御シス
テム１で５０〜６０ヘルツの間に制御する；若し出力が
直流耐電圧パターンの時は、高圧リレーにより自動切替
し整流フィルター後の高圧直流を出力する、この時トラ
ンスの入力交流周波数は７５０ヘルツで、もって出力フ
ィルターコンデンサーの容量を減少しまたは出力のリッ
プルウエーブ電流を減少する；また、出力が絶縁インピ
ダンステストパターンの時は、直流出力端に更に１０Ｍ
Ωのレジスタンス限流をシリース接続する。
【００２０】ディジタルアナログ切替サーキット４は、
先ずハードウエア線路から出力した交直流電圧または電
流アナログ信号を一応拡大、整流、フィルターした後
に、再びバイナリー制のディジタルコードに切替えて、
マイクロプロセス制御システム１の読み取りに供応す
る。
先ずハードウエア線路から出力した交直流電圧または電
流アナログ信号を一応拡大、整流、フィルターした後
に、再びバイナリー制のディジタルコードに切替えて、
マイクロプロセス制御システム１の読み取りに供応す
る。
【００２１】可プログラムサインウェーブ発生サーキッ
ト５は、基本的に一つのディジタル合成のサインウェー
ブを発生し、各周期は１０２４ヶのポイントで組成さ
れ、電圧解析度は８ビットで、周波数と振動幅はすべて
マイクロプロセス制御システム１で制御する。
ト５は、基本的に一つのディジタル合成のサインウェー
ブを発生し、各周期は１０２４ヶのポイントで組成さ
れ、電圧解析度は８ビットで、周波数と振動幅はすべて
マイクロプロセス制御システム１で制御する。
【００２２】交流電源６は入力トランス７で変圧した後
にそれぞれ整流フィルターサーキット８に送りこんで整
流フィルターをなし及び直流安定圧サーキット９に送り
こみ電圧値をして持続安定させ、整流フィルターを経た
後の交流電源６はパワー拡大サーキット２に入り電力を
拡大する、別に直流安定圧サーキット９を経て安定圧し
た後の電源はマイクロプロセス制御システム１に供応
し、そのマイクロプロセス制御システム１はそれぞれＲ
Ｓ−２３２シリース界面１６、ＧＰＩＢ汎用界面合流列
１７、面板顕示器１５、入力キーボード１４、可プログ
ラムサインウェーブ発生サーキット５及び周辺出力波形
または電圧等に対する制御をなす、その中、可プログラ
ムサインウェーブ発生サーキット５は一つのマイクロプ
ロセス制御システム１の制御を受けた周波数または電圧
を提供することができ、プレ（pre)拡大サーキット１３
を経て信号の強化をなし、而る後に亦パワー拡大サーキ
ット２に送りこんで拡大する。
にそれぞれ整流フィルターサーキット８に送りこんで整
流フィルターをなし及び直流安定圧サーキット９に送り
こみ電圧値をして持続安定させ、整流フィルターを経た
後の交流電源６はパワー拡大サーキット２に入り電力を
拡大する、別に直流安定圧サーキット９を経て安定圧し
た後の電源はマイクロプロセス制御システム１に供応
し、そのマイクロプロセス制御システム１はそれぞれＲ
Ｓ−２３２シリース界面１６、ＧＰＩＢ汎用界面合流列
１７、面板顕示器１５、入力キーボード１４、可プログ
ラムサインウェーブ発生サーキット５及び周辺出力波形
または電圧等に対する制御をなす、その中、可プログラ
ムサインウェーブ発生サーキット５は一つのマイクロプ
ロセス制御システム１の制御を受けた周波数または電圧
を提供することができ、プレ（pre)拡大サーキット１３
を経て信号の強化をなし、而る後に亦パワー拡大サーキ
ット２に送りこんで拡大する。
【００２３】拡大後の大電力は切替スイッチセット１０
を経て正確なセレクト切替えをする。その切替スイッチ
セット１０の一端には昇圧トランス１を接ぎ設けて、入
ってきた電力１１を適度に再上昇し、再上昇された後の
電力はそれぞれ電圧電流テストサーキット１２及び高圧
出力端子１８に送りこみ、その高圧出力端子１８はテス
トしようとする負荷を接ぐことができ、もって負荷の交
流又は直流耐電圧及び絶縁インピダンスをテストする、
別途に、切替スイッチセット１０の他の一端はそれぞれ
電圧電流テストサーキット１２及び恒流出力端子１９を
接ぎ設け、恒流出力端子１９はテストしようとする負荷
と連接できて、負荷の交流接地インピダンスをテストす
ることができる。
を経て正確なセレクト切替えをする。その切替スイッチ
セット１０の一端には昇圧トランス１を接ぎ設けて、入
ってきた電力１１を適度に再上昇し、再上昇された後の
電力はそれぞれ電圧電流テストサーキット１２及び高圧
出力端子１８に送りこみ、その高圧出力端子１８はテス
トしようとする負荷を接ぐことができ、もって負荷の交
流又は直流耐電圧及び絶縁インピダンスをテストする、
別途に、切替スイッチセット１０の他の一端はそれぞれ
電圧電流テストサーキット１２及び恒流出力端子１９を
接ぎ設け、恒流出力端子１９はテストしようとする負荷
と連接できて、負荷の交流接地インピダンスをテストす
ることができる。
【００２４】電圧電流テストサーキット１２はそれぞれ
テストしえた信号をディジタルアナログ切替サーキット
４と可プログラムサインウェーブ発生サーキット５に送
りこむ、そのデイジタルアナログ切替サーキット４は送
りこまれた交直流電圧または電流のアナログ信号をバイ
ナリー制のデイジタルコードに切り替えて、マイクロプ
ロセス制御システム１の読み取りに供応する。
テストしえた信号をディジタルアナログ切替サーキット
４と可プログラムサインウェーブ発生サーキット５に送
りこむ、そのデイジタルアナログ切替サーキット４は送
りこまれた交直流電圧または電流のアナログ信号をバイ
ナリー制のデイジタルコードに切り替えて、マイクロプ
ロセス制御システム１の読み取りに供応する。
【００２５】使用者はキーボードから入力設定したパラ
メーターが、マイクロプロセス制御システム１を経て分
析演算し、且つ設定した条件により出力し、並びに出力
状態を読み取り、負荷と設定値について演算比較をな
し、設定した基準に符合しているかを判定する。
メーターが、マイクロプロセス制御システム１を経て分
析演算し、且つ設定した条件により出力し、並びに出力
状態を読み取り、負荷と設定値について演算比較をな
し、設定した基準に符合しているかを判定する。
【００２６】図２で示すのは、本発明のパターン流程図
で、パターンが「スタート」２０を始動すると、「周辺
集積サーキット始め」２１に入り、模数とアドレスを企
画し、システム状態を設定して、その後に「ＲＳ−２３
２シリース界面、ＧＰＩＢ汎用界面合流列始め」２２に
入り、「代表図号」２３を顕示し出し、「演算パラメー
ター」に入って読み取り２４を修正し、然る後に「時間
間隔０.１秒」２５の決策に入る、若しも時間が０.１秒
に達すると「テスト進行」２６の決策をなし、そうでな
いと「キーボードスキャニング」４０に入り、並びに
「プッシュキーがはいってるか」４１の決策をなす、若
しもプッシュキーが確実にキーインしておれば「プッシ
ュキーの解除」４２をなし、並びに「功能執行」４３の
功能執行を終えて「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻
り、そうでないと直接「時間間隔０.１秒」２５の決策
に戻って、新たにテストを進行する。
で、パターンが「スタート」２０を始動すると、「周辺
集積サーキット始め」２１に入り、模数とアドレスを企
画し、システム状態を設定して、その後に「ＲＳ−２３
２シリース界面、ＧＰＩＢ汎用界面合流列始め」２２に
入り、「代表図号」２３を顕示し出し、「演算パラメー
ター」に入って読み取り２４を修正し、然る後に「時間
間隔０.１秒」２５の決策に入る、若しも時間が０.１秒
に達すると「テスト進行」２６の決策をなし、そうでな
いと「キーボードスキャニング」４０に入り、並びに
「プッシュキーがはいってるか」４１の決策をなす、若
しもプッシュキーが確実にキーインしておれば「プッシ
ュキーの解除」４２をなし、並びに「功能執行」４３の
功能執行を終えて「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻
り、そうでないと直接「時間間隔０.１秒」２５の決策
に戻って、新たにテストを進行する。
【００２７】「テスト進行」２６の決策が、若しも未だ
に判断せねば直接「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻
り、新たにテストを進行するが、そうでないと「テスト
時間顕示」２７をし、並びに「設定時間がついたか」２
８の決策に入り、若しも時間がつけば「出力停止」３１
をなし、並びに「符合基準の良好判定」３２をして、
「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻り、その他のテス
トを進行することができる。
に判断せねば直接「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻
り、新たにテストを進行するが、そうでないと「テスト
時間顕示」２７をし、並びに「設定時間がついたか」２
８の決策に入り、若しも時間がつけば「出力停止」３１
をなし、並びに「符合基準の良好判定」３２をして、
「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻り、その他のテス
トを進行することができる。
【００２８】設定テスト時間が若しも未着であれば、即
ち「出力電圧または電流をディジタルアナログ切替」２
９に対して、アナログ信号をマイクロプロセッサーに受
入れられるディジタルコードに切替え、並びに「一秒毎
に一回読み取り」３０の決策に入る、若しも「一秒毎に
一回読み取り」３０の決策に符号しておれば、「読み取
り並び電流値顕示」３３をし、そうでないと「時間間隔
０.１秒」２５の決策に戻り、新たにテストを進行す
る。
ち「出力電圧または電流をディジタルアナログ切替」２
９に対して、アナログ信号をマイクロプロセッサーに受
入れられるディジタルコードに切替え、並びに「一秒毎
に一回読み取り」３０の決策に入る、若しも「一秒毎に
一回読み取り」３０の決策に符号しておれば、「読み取
り並び電流値顕示」３３をし、そうでないと「時間間隔
０.１秒」２５の決策に戻り、新たにテストを進行す
る。
【００２９】「読み取り並び電流値顕示」３３後に、
「過電流を発生しているか」３４の判定に入り、若しも
過電流を発生しておれば、「出力停止」３８、「符合し
ない基準の判定を顕示し且つ警報を出す」３９をなし、
並びに「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻り、その他
のテストを進行する、若しも過電流を発生していなけれ
ば、「読み取り並び電圧値顕示」３５に入り、更に「イ
ンピダンスの換算と顕示」３６に入り、最後に「インピ
ダンステスト値が設定値より大きいか」３７の決策に入
り、若しもインピダンスのテスト値が設定値よりも大き
い時は、「出力停止」３８をし、「基準に合わない判定
を顕示し且つ警報を出す」３９をし、並びに「時間間隔
０.１秒」２５の決策に戻り、新たにテストを進行し、
一旦インピダンステスト値が設定値より小さいまたは等
しいようになると、「時間間隔０.１秒」２５の決策に
戻り、次セットのテストを進行する。
「過電流を発生しているか」３４の判定に入り、若しも
過電流を発生しておれば、「出力停止」３８、「符合し
ない基準の判定を顕示し且つ警報を出す」３９をなし、
並びに「時間間隔０.１秒」２５の決策に戻り、その他
のテストを進行する、若しも過電流を発生していなけれ
ば、「読み取り並び電圧値顕示」３５に入り、更に「イ
ンピダンスの換算と顕示」３６に入り、最後に「インピ
ダンステスト値が設定値より大きいか」３７の決策に入
り、若しもインピダンスのテスト値が設定値よりも大き
い時は、「出力停止」３８をし、「基準に合わない判定
を顕示し且つ警報を出す」３９をし、並びに「時間間隔
０.１秒」２５の決策に戻り、新たにテストを進行し、
一旦インピダンステスト値が設定値より小さいまたは等
しいようになると、「時間間隔０.１秒」２５の決策に
戻り、次セットのテストを進行する。
【００３０】
【発明の効果】本発明によれば、交流耐電圧、直流耐電
圧、絶縁インピダンス及び交流接地インピダンステスト
を単一機体に融合し、各テストサーキットの出力は共同
で同一拡大器と可プログラム信号源を使用し、線路をよ
り精密簡単にして、安定圧と安定電流率を尚更優良にし
たもので、複雑ポイントに対して異なるパラメーター
（parameter）の連続自動テストをすることができて、
完整したシリース界面と汎用界面合流列制御功能をも
ち、且つ自流テストシステムを配合して全自動のテスト
と記録をすることができ、並びにマイクロプロセス制御
システムを制御センターにし、組合せ言語を使用して制
御パターンにリードして、面板のキー、顕示器、出力信
号、メーター読み取り、シリース界面及び汎用界面合流
列等、すべてがマイクロプロセス制御システムで作動を
制御することができる。このような装置構造は今迄にな
く、且つ非常に実用であり功効を増進することができる
ので、実に一つの理想的な発明と言えるものである。
圧、絶縁インピダンス及び交流接地インピダンステスト
を単一機体に融合し、各テストサーキットの出力は共同
で同一拡大器と可プログラム信号源を使用し、線路をよ
り精密簡単にして、安定圧と安定電流率を尚更優良にし
たもので、複雑ポイントに対して異なるパラメーター
（parameter）の連続自動テストをすることができて、
完整したシリース界面と汎用界面合流列制御功能をも
ち、且つ自流テストシステムを配合して全自動のテスト
と記録をすることができ、並びにマイクロプロセス制御
システムを制御センターにし、組合せ言語を使用して制
御パターンにリードして、面板のキー、顕示器、出力信
号、メーター読み取り、シリース界面及び汎用界面合流
列等、すべてがマイクロプロセス制御システムで作動を
制御することができる。このような装置構造は今迄にな
く、且つ非常に実用であり功効を増進することができる
ので、実に一つの理想的な発明と言えるものである。
【図１】本発明のシステム架構を示す図である。
【図２】本発明のパターン流程を示す図である。
１ マイクロプロセス制御システム ２ パワー拡大サーキット ３ 交直流切替サーキット ４ デイジタルアナログ切替サーキット ５ サインウェーブ発生サーキット ６ 交流電 ７ 入力トランス ８ 整流フィルターサーキット ９ 直流安定圧サーキット １０ 切替スイッチセット １１ 昇圧トランス １２ 電圧電流テストサーキット １３ プレ拡大サーキット １４ 入力キーボード １５ 面板顕示器 １６ ＲＳ−２３２シリース界面 １７ ＧＰＩＢ汎用界面 １８ 高圧出力端子 １９ 恒流出力端子
Claims (4)
- 【請求項１】 マイクロプロセス制御システム、パワー
拡大サーキット、交直流切替サーキット、ディジタルア
ナログ切替サーキット、可パターン正弦波発生サーキッ
ト、電圧電流テストサーキットから組成される可プログ
ラム安全規格自動テスターであって、 マイクロプロセス制御システムは制御項目に入力キーボ
ード、面板顕示器、状態指示、出力電圧／電流の大き
さ、出力電圧／電流読み取り、出力電圧周波数、シリー
ス界面、汎用界面シンク列及び出力切替等を含み、シグ
ナルチップマイクロプロセッサーを制御中心にして組合
せ言語を制御プログラムとすることができ；パワー拡大
サーキットはリニアのパワー拡大器であり、直接接地抵
抗テストをすることができる恒流出力、又は昇圧トラン
スで昇圧した後に高圧出力を発生することができ；交直
流切替サーキットは出力が交流耐電圧パターンの時、昇
圧トランスの出力高圧は直接出力でき、周波数の出力は
マイクロプロセス制御システムにより制御し；仮に出力
が直流耐電圧パターンであれば、高圧継電気により自動
的に切替整流フィルターした高圧直流で出力し、もって
出力フィルターコンデンサーの容量を減少しまたは出力
のリップルウェーブ電流を減少し；又、出力が絶縁抵抗
テストパターンの時は、直流出力エンドに限流レジスタ
ンをシリース接続することができる交直流切替サーキッ
トであり；ディジタルアナログ切替サーキットは先ずハ
ード線路で出力した交直流電圧または電流アナログ信号
を拡大、整流、フィルターした後に、更に切り替えてマ
イクロプロセス制御システムで読み取りでき、バイナリ
ー制ディシタルコードに提供することができ；可パター
ン正弦波発生サーキットは基本的には一つのディジタル
合成の正弦波を発生し、周波数と振動幅はすべてマイク
ロプロセス制御システムの制御を受けることができ；交
流電源は一応トランスに入力して変圧した後にそれぞれ
整流フィルターサーキットに入って整流フィルターをな
し、直流安定圧サーキットは電圧値を持続させ、その整
流フィルター後の電源は併せてパワー拡大サーキットに
入り電力を拡大し、一方直流安定圧サーキットを経て安
定した後の電源はマイクロプロセス制御システムに連接
供応し、そのマイクロプロセス制御システムはそれぞれ
シリース界面、汎用界面合流列、面板顕示器、入力キー
ボード、可プログラムサインウェーブ発生サーキット及
び周辺出力ウェーブ形成電圧等に対する制御をなし、そ
の中、可プログラムサインウェーブ発生サーキットは一
つのマイクロプロセス制御システムで制御した周波数ま
たは電圧を提供し、プレ拡大サーキットを経て信号を増
強して、その後に亦パワー拡大サーキットに送りこんで
拡大するものであり；パワー拡大サーキットで拡大され
た電源は切替スイッチセットを経て正確なセレクト切替
をなし、その切替スイッチセットの一端には適度に再び
上昇可能の昇圧トランスを接設け、一応上昇した後の電
源はそれぞれ電圧電流テストサーキット内及びテストし
ようとする交流または直流耐電圧及び絶縁インピダンス
の負荷を外接することが可能である高圧出力端子に送り
こまれ、而して切替スイッチセットの他の一端はそれぞ
れ電圧電流テストサーキット及びテストしようとする交
流接地インピダンスの負荷と連接することができる恒流
出力端子を接設けており；電圧電流テストサーキット
は、それぞれ一つの交直流電圧または電流のアナログ信
号をバイナリー制ディジタルコードに切り替えることに
より、マイクロプロセス制御システムで読み取ったディ
ジタルアナログを切り替えてサーキットに供応し、可プ
ログラムサインウェーブ発生サーキットでディジタル合
成のサインウェーブを発生して連接することを特徴とす
る可プログラム安全規格自動テスター。 - 【請求項２】 パワー拡大サーキットの出力容量が約１
２Ｖ３５Ａであることを特徴とする請求項１記載の可プ
ログラム安全規格自動テスター。 - 【請求項３】 交直流切替サーキットの出力が、交流耐
電圧パターンの時、周波数はマイクロプロセス制御シス
テムにより５０〜６０ヘルツの間に制御され；仮に出力
が直流耐電圧パターンの時に、トランスの入力交流周波
数は７５０ヘルツで、又出力が絶縁インピダンステスト
パターンである時は、直流の出力端に一つの１０ＭΩの
抵抗をシリースして限流することを特徴とする請求項１
記載の可プログラム安全規格自動テスター。 - 【請求項４】 可プログラムサインウェーブ発生サーキ
ットは、サインウェーブをなすもので、各一周期は１０
２４ヶのポイントで組成され、電圧解析度が８ビットで
あることを特徴とする請求項１記載の可プログラム安全
規格自動テスター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5152658A JPH06347487A (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 可プログラム安全規格自動テスター |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5152658A JPH06347487A (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 可プログラム安全規格自動テスター |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06347487A true JPH06347487A (ja) | 1994-12-22 |
Family
ID=15545255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5152658A Pending JPH06347487A (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 可プログラム安全規格自動テスター |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06347487A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105699927A (zh) * | 2016-03-16 | 2016-06-22 | 国家电网公司 | 直流系统绝缘监察校验装置 |
| CN108872912A (zh) * | 2018-08-28 | 2018-11-23 | 中车兰州机车有限公司 | 电力机车车顶绝缘检测装置的测试装置 |
| CN109581261A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-04-05 | 河南省计量科学研究院 | 接地导通电阻测试仪校准系统 |
| CN114295907A (zh) * | 2021-12-01 | 2022-04-08 | 曹妃甸港矿石码头股份有限公司 | 一种变频器充放电综合试验设备及方法 |
| CN114415069A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-29 | 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院 | 一种配电变压器自动切换检测系统及方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55135758A (en) * | 1979-04-09 | 1980-10-22 | Toshiba Corp | Automatic test unit |
| JPS60227123A (ja) * | 1984-04-25 | 1985-11-12 | Nec Corp | 自動測定システム |
-
1993
- 1993-06-01 JP JP5152658A patent/JPH06347487A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55135758A (en) * | 1979-04-09 | 1980-10-22 | Toshiba Corp | Automatic test unit |
| JPS60227123A (ja) * | 1984-04-25 | 1985-11-12 | Nec Corp | 自動測定システム |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105699927A (zh) * | 2016-03-16 | 2016-06-22 | 国家电网公司 | 直流系统绝缘监察校验装置 |
| CN108872912A (zh) * | 2018-08-28 | 2018-11-23 | 中车兰州机车有限公司 | 电力机车车顶绝缘检测装置的测试装置 |
| CN109581261A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-04-05 | 河南省计量科学研究院 | 接地导通电阻测试仪校准系统 |
| CN109581261B (zh) * | 2018-12-06 | 2024-03-15 | 河南省计量测试科学研究院 | 接地导通电阻测试仪校准系统 |
| CN114295907A (zh) * | 2021-12-01 | 2022-04-08 | 曹妃甸港矿石码头股份有限公司 | 一种变频器充放电综合试验设备及方法 |
| CN114295907B (zh) * | 2021-12-01 | 2023-12-12 | 曹妃甸港矿石码头股份有限公司 | 一种变频器充放电综合试验设备及方法 |
| CN114415069A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-29 | 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院 | 一种配电变压器自动切换检测系统及方法 |
| CN114415069B (zh) * | 2021-12-31 | 2022-10-21 | 国网湖北省电力有限公司电力科学研究院 | 一种配电变压器自动切换检测系统及方法 |
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