JPH06331674A - ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路 - Google Patents
ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路Info
- Publication number
- JPH06331674A JPH06331674A JP13933093A JP13933093A JPH06331674A JP H06331674 A JPH06331674 A JP H06331674A JP 13933093 A JP13933093 A JP 13933093A JP 13933093 A JP13933093 A JP 13933093A JP H06331674 A JPH06331674 A JP H06331674A
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- Japan
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- ssr
- state relay
- test
- voltage
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＳＳＲのｄｖ／ｄｔ試験の自動化及び試験結
果の信頼性を高めること。 【構成】 ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔでオンしない場合
は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端に電圧が発生しないので、
パイロットサイリスタＴＨがオンしない。従って、表示
用電源ＥＳから電源が供給されないために発光ダイオー
ドＰＬは点灯しない。一方、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔ
波形でオンした場合は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端に電圧
が発生するので、パイロットサイリスタＴＨがオンす
る。これにより発光ダイオードＰＬは点灯する。このよ
うに上記発光ダイオードＰＬが点灯するか否かにより、
良品、不良品の選別ができ、かつ、その信号を２値化し
て試験回路乃至試験装置の自動化が可能になると共に、
試験の信頼性を向上させることができる。
果の信頼性を高めること。 【構成】 ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔでオンしない場合
は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端に電圧が発生しないので、
パイロットサイリスタＴＨがオンしない。従って、表示
用電源ＥＳから電源が供給されないために発光ダイオー
ドＰＬは点灯しない。一方、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔ
波形でオンした場合は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端に電圧
が発生するので、パイロットサイリスタＴＨがオンす
る。これにより発光ダイオードＰＬは点灯する。このよ
うに上記発光ダイオードＰＬが点灯するか否かにより、
良品、不良品の選別ができ、かつ、その信号を２値化し
て試験回路乃至試験装置の自動化が可能になると共に、
試験の信頼性を向上させることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ソリッド・ステート・
リレー（以下、ＳＳＲと略記する。）の特性、特にｄｖ
／ｄｔ特性の試験回路に関するものである。
リレー（以下、ＳＳＲと略記する。）の特性、特にｄｖ
／ｄｔ特性の試験回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＳＳＲは、小信号で負荷側の電力を制御
でき、信号側と負荷側が電気的に絶縁されている。負荷
側が交流電力の場合には交流の零電圧近傍でオン・オフ
できるいわゆるゼロクロス機能を持たせることが可能で
ある。このような機能を有していることから各種電気・
電子機器等で使用されている。これらを製造し、特性を
試験する項目の中に、ｄｖ／ｄｔ動作試験がある。この
試験は、負荷側の電圧が高く、かつ、負荷電圧の立ち上
がりが早い場合でも、当該ＳＳＲが零電圧近傍でオンす
るか否かを試験するものである。これらの関係を図２及
び図３に示す。なお、図２はＳＳＲの負荷側に印加され
る電圧波形を示し、横軸に時間、縦軸に印加電圧をとっ
てある。また、図３は試験するＳＳＲの概略とその試験
回路が示してある。
でき、信号側と負荷側が電気的に絶縁されている。負荷
側が交流電力の場合には交流の零電圧近傍でオン・オフ
できるいわゆるゼロクロス機能を持たせることが可能で
ある。このような機能を有していることから各種電気・
電子機器等で使用されている。これらを製造し、特性を
試験する項目の中に、ｄｖ／ｄｔ動作試験がある。この
試験は、負荷側の電圧が高く、かつ、負荷電圧の立ち上
がりが早い場合でも、当該ＳＳＲが零電圧近傍でオンす
るか否かを試験するものである。これらの関係を図２及
び図３に示す。なお、図２はＳＳＲの負荷側に印加され
る電圧波形を示し、横軸に時間、縦軸に印加電圧をとっ
てある。また、図３は試験するＳＳＲの概略とその試験
回路が示してある。
【０００３】すなわち、図３において、ＳＳＲは主スイ
ッチング素子ＭＴＨを有し、そのゲートと一方の主端子
間にゼロクロス回路Ｚが接続されている。他方、ＳＳ
Ｒの，端子間には抵抗Ｒ４と発光ダイオードＤ１が
直列に接続される共に、同じく信号側の端子，間に
はオン信号源ＥＳが接続されている。このように、ＳＳ
Ｒは信号側と負荷側が光学的に絶縁されている。一方、
負荷側端子，間にはオシロスコープＯＳが接続さ
れ、さらに、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、切り替えスイッチ
Ｓ、可変試験電源ＥＴ、コンデンサＣ１，Ｃ２がそれぞ
れ図示のように接続され試験回路を構成している。
ッチング素子ＭＴＨを有し、そのゲートと一方の主端子
間にゼロクロス回路Ｚが接続されている。他方、ＳＳ
Ｒの，端子間には抵抗Ｒ４と発光ダイオードＤ１が
直列に接続される共に、同じく信号側の端子，間に
はオン信号源ＥＳが接続されている。このように、ＳＳ
Ｒは信号側と負荷側が光学的に絶縁されている。一方、
負荷側端子，間にはオシロスコープＯＳが接続さ
れ、さらに、抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、切り替えスイッチ
Ｓ、可変試験電源ＥＴ、コンデンサＣ１，Ｃ２がそれぞ
れ図示のように接続され試験回路を構成している。
【０００４】上記のようなＳＳＲの試験回路において、
当該ＳＳＲの特性試験を行なう場合、次のような手順に
より行なう。まず、ＳＳＲの信号端子，にはオン信
号電源ＥＳから直流を加え、ＳＳＲ内の発光ダイオード
Ｄ１を発光させる。次いで、試験用電源ＥＴでコンデン
サＣ１に充電しておいた電荷をＳＳＲの負荷端子，
に抵抗Ｒ２，Ｒ３を介して印加する。この時の電圧波形
を図２に破線で示す。なお、この場合の波形の立ち上が
り勾配を試験用電源ＥＴ及び抵抗Ｒ２及びコンデンサＣ
２で所望の値になるように設定しておく。
当該ＳＳＲの特性試験を行なう場合、次のような手順に
より行なう。まず、ＳＳＲの信号端子，にはオン信
号電源ＥＳから直流を加え、ＳＳＲ内の発光ダイオード
Ｄ１を発光させる。次いで、試験用電源ＥＴでコンデン
サＣ１に充電しておいた電荷をＳＳＲの負荷端子，
に抵抗Ｒ２，Ｒ３を介して印加する。この時の電圧波形
を図２に破線で示す。なお、この場合の波形の立ち上が
り勾配を試験用電源ＥＴ及び抵抗Ｒ２及びコンデンサＣ
２で所望の値になるように設定しておく。
【０００５】上記の印加電圧でＳＳＲ内の主スイッチン
グ素子ＭＴＨがターンオンする。この時の，端子間
の電圧波形をオシロスコープＯＳで観察すると、図２の
実線のようにＶＥＴ１のピーク電圧以降、印加電圧ＶＥ
Ｔは下がる。この時の時間はｔ１である。仮に、主スイ
ッチング素子ＭＴＨがターンオンしないと、印加電圧波
形は、コンデンサＣ１の充電電圧ＶC＝印加電圧ＶETと
が略等しくなり、上記の破線のようになる。ここで、印
加電圧ＶET1で主スイッチング素子ＭＴＨがターンオン
するのはＳＳＲ内のゼロクロス回路Ｚが、負荷側の印加
電圧の立ち上がり勾配（ｄｖ／ｄｔ）に追従できている
場合である。
グ素子ＭＴＨがターンオンする。この時の，端子間
の電圧波形をオシロスコープＯＳで観察すると、図２の
実線のようにＶＥＴ１のピーク電圧以降、印加電圧ＶＥ
Ｔは下がる。この時の時間はｔ１である。仮に、主スイ
ッチング素子ＭＴＨがターンオンしないと、印加電圧波
形は、コンデンサＣ１の充電電圧ＶC＝印加電圧ＶETと
が略等しくなり、上記の破線のようになる。ここで、印
加電圧ＶET1で主スイッチング素子ＭＴＨがターンオン
するのはＳＳＲ内のゼロクロス回路Ｚが、負荷側の印加
電圧の立ち上がり勾配（ｄｖ／ｄｔ）に追従できている
場合である。
【０００６】しかし、ＳＳＲ内に組み込まれているゼロ
クロス回路Ｚ、主スイッチング素子ＭＴＨ等の特性のバ
ラツキによってある値以上のｄｖ／ｄｔになると、この
ＳＳＲはオンしない。ＳＳＲがオンしない時にオシロス
コープＯＳでは図２の破線の印加電圧波形が観察され
る。このように、従来は負荷側の印加電圧のｄｖ／ｄｔ
を所定の値に設定しておき、図２の実線のようなターン
オン波形か、又はターンオンしないで破線のような波形
かを、オシロスコープＯＳで観察してＳＳＲの良品、不
良品を目視により試験していた。
クロス回路Ｚ、主スイッチング素子ＭＴＨ等の特性のバ
ラツキによってある値以上のｄｖ／ｄｔになると、この
ＳＳＲはオンしない。ＳＳＲがオンしない時にオシロス
コープＯＳでは図２の破線の印加電圧波形が観察され
る。このように、従来は負荷側の印加電圧のｄｖ／ｄｔ
を所定の値に設定しておき、図２の実線のようなターン
オン波形か、又はターンオンしないで破線のような波形
かを、オシロスコープＯＳで観察してＳＳＲの良品、不
良品を目視により試験していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の上記のようなＳ
ＳＲの特性試験回路では、ＳＳＲの負荷側の電圧波形を
オシロスコープで目視観察していたので、試験の自動化
ができなかった。また、目視検査なので、見誤りもあり
試験結果の信頼性が低かった。
ＳＲの特性試験回路では、ＳＳＲの負荷側の電圧波形を
オシロスコープで目視観察していたので、試験の自動化
ができなかった。また、目視検査なので、見誤りもあり
試験結果の信頼性が低かった。
【０００８】
【発明の目的】本発明は、上記のような課題を解決する
ためになされたもので、目視をすることなく、ＳＳＲの
特性試験におけるｄｖ／ｄｔ試験の自動化及び試験結果
の信頼性を高めることを目的とするものである。
ためになされたもので、目視をすることなく、ＳＳＲの
特性試験におけるｄｖ／ｄｔ試験の自動化及び試験結果
の信頼性を高めることを目的とするものである。
【０００９】
【問題点を解決するための手段】本発明のソリッド・ス
テート・リレーの特性試験回路は、ソリッド・ステート
・リレーの負荷側端子間に所定の立ち上がり勾配を有す
る電圧波形を印加して該ソリッド・ステート・リレーの
オン動作を試験するソリッド・ステート・リレーの特性
試験回路において、上記負荷側端子には試験電源と電圧
検出抵抗が接続され、該電圧検出抵抗によって得た電圧
を、表示用電源と表示用素子およびスイッチング素子の
直列体の該スイッチング素子のオン信号として入力し、
前記ソリッド・ステート・リレーのオン動作の有無を前
記表示素子に表示させることを特徴とするものである。
テート・リレーの特性試験回路は、ソリッド・ステート
・リレーの負荷側端子間に所定の立ち上がり勾配を有す
る電圧波形を印加して該ソリッド・ステート・リレーの
オン動作を試験するソリッド・ステート・リレーの特性
試験回路において、上記負荷側端子には試験電源と電圧
検出抵抗が接続され、該電圧検出抵抗によって得た電圧
を、表示用電源と表示用素子およびスイッチング素子の
直列体の該スイッチング素子のオン信号として入力し、
前記ソリッド・ステート・リレーのオン動作の有無を前
記表示素子に表示させることを特徴とするものである。
【００１０】
【作用】本発明のソリッド・ステート・リレーの特性試
験回路においては、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔでオンし
ない場合は、電圧検出抵抗の両端に電圧が発生しないの
で、パイロットサイリスタがオンしない。従って、表示
用電源から電源が供給されないために発光ダイオードは
点灯しない。一方、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔ波形でオ
ンした場合は、電圧検出抵抗の両端に電圧が発生するの
で、パイロットサイリスタがオンする。これにより発光
ダイオードは点灯する。このように上記発光ダイオード
が点灯するか否かにより、良品、不良品の選別ができ、
かつ、その信号を２値化して試験回路乃至試験装置の自
動化が可能になると共に、試験の信頼性を向上させるこ
とができる。
験回路においては、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔでオンし
ない場合は、電圧検出抵抗の両端に電圧が発生しないの
で、パイロットサイリスタがオンしない。従って、表示
用電源から電源が供給されないために発光ダイオードは
点灯しない。一方、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔ波形でオ
ンした場合は、電圧検出抵抗の両端に電圧が発生するの
で、パイロットサイリスタがオンする。これにより発光
ダイオードは点灯する。このように上記発光ダイオード
が点灯するか否かにより、良品、不良品の選別ができ、
かつ、その信号を２値化して試験回路乃至試験装置の自
動化が可能になると共に、試験の信頼性を向上させるこ
とができる。
【００１１】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図１を参照して説
明する。まず、本発明のＳＳＲの特性試験回路は次のよ
うに構成されている。尚、ＳＳＲ内の構成は従来と同様
であるため、その説明は省略する。また、ＳＳＲの信号
側端子，間には、従来と同様にオン信号源ＥＳが接
続されている。負荷側端子，間に接続された試験電
源は、電圧検出抵抗Ｒ５を介して接続される。また、表
示用電源Ｅ２と表示用素子ＰＬ，抵抗Ｒ７及びスイッチ
ング素子ＴＨが直列に接続されている。表示用電源Ｅ２
と表示用素子ＰＬの間にはタイマリレーＴＲＹが挿入さ
れ、該タイマリレーの接点の「閉」により該素子ＰＬが
発光するように構成されている。さらに、表示用素子Ｐ
Ｌと並列にノルマルオフの接点を備えたリレーＲＹが、
表示用電源に接続されている。
明する。まず、本発明のＳＳＲの特性試験回路は次のよ
うに構成されている。尚、ＳＳＲ内の構成は従来と同様
であるため、その説明は省略する。また、ＳＳＲの信号
側端子，間には、従来と同様にオン信号源ＥＳが接
続されている。負荷側端子，間に接続された試験電
源は、電圧検出抵抗Ｒ５を介して接続される。また、表
示用電源Ｅ２と表示用素子ＰＬ，抵抗Ｒ７及びスイッチ
ング素子ＴＨが直列に接続されている。表示用電源Ｅ２
と表示用素子ＰＬの間にはタイマリレーＴＲＹが挿入さ
れ、該タイマリレーの接点の「閉」により該素子ＰＬが
発光するように構成されている。さらに、表示用素子Ｐ
Ｌと並列にノルマルオフの接点を備えたリレーＲＹが、
表示用電源に接続されている。
【００１２】次に、上記の構成のＳＳＲの特性試験回路
の測定手順を説明する。まず、ＳＳＲの信号入力端子
，にオン信号源ＥＳからオン信号を出力しておく。
また、コンデンサＣ１に、抵抗Ｒ１を介し、試験用電源
ＥＴで充電された電荷を、スイッチＳを図示の実線のよ
うにして抵抗Ｒ２，Ｒ３を介し、ＳＳＲの負荷側端子
，間に供給する。この時、ＳＳＲが図２に示す破線
のように所定のｄｖ／ｄｔ波形でターンオンしない時
は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端には電圧が発生しない。従
って、パイロットサイリスタＴＨのゲートにはゲート電
圧が流れない。その結果、パイロットサイリスタＴＨが
オンしないため、表示用電源Ｅ２からは発光ダイオード
ＰＬには電源が供給されず点灯しない。該発光ダイオー
ドＰＬが点灯しないので、当該ＳＳＲは不良品として選
別される。
の測定手順を説明する。まず、ＳＳＲの信号入力端子
，にオン信号源ＥＳからオン信号を出力しておく。
また、コンデンサＣ１に、抵抗Ｒ１を介し、試験用電源
ＥＴで充電された電荷を、スイッチＳを図示の実線のよ
うにして抵抗Ｒ２，Ｒ３を介し、ＳＳＲの負荷側端子
，間に供給する。この時、ＳＳＲが図２に示す破線
のように所定のｄｖ／ｄｔ波形でターンオンしない時
は、電圧検出抵抗Ｒ５の両端には電圧が発生しない。従
って、パイロットサイリスタＴＨのゲートにはゲート電
圧が流れない。その結果、パイロットサイリスタＴＨが
オンしないため、表示用電源Ｅ２からは発光ダイオード
ＰＬには電源が供給されず点灯しない。該発光ダイオー
ドＰＬが点灯しないので、当該ＳＳＲは不良品として選
別される。
【００１３】次に、図２の実線で示すように、当該ＳＳ
Ｒが所定のｄｖ／ｄｔ波形でターンオンした場合は、電
圧検出抵抗Ｒ５の両端には電圧が発生し、抵抗Ｒ６を介
してパイロットサイリスタＴＨにゲート電流が流れ、該
サイリスタＴＨはターンオンする。該サイリスタＴＨが
ターンオンすると、表示用電源Ｅ２からタイマリレーＴ
ＲＹの接点を介して電源が供給され、発光ダイオードＰ
Ｌが発光する。同時に、リレーＲＹのコイルに電流が流
れ、当該リレーＲＹの接点が閉となり、タイマリレーＴ
ＲＹの時間がカウントされる。この間に発光ダイオード
ＰＬの発光によって、このＳＳＲは良品として選別され
る。次に、スイッチＳは、図示の破線のように右側に切
り替えられ再びコンデンサＣ１を充電する。タイマリレ
ーＴＲＹが設定時間になったならば、該リレーＴＲＹの
接点が一時的に閉となり、これに随伴し、リレーＲＹの
接点が開となり、タイマリレーＴＲＹはリセットされて
再びその接点は閉となる。
Ｒが所定のｄｖ／ｄｔ波形でターンオンした場合は、電
圧検出抵抗Ｒ５の両端には電圧が発生し、抵抗Ｒ６を介
してパイロットサイリスタＴＨにゲート電流が流れ、該
サイリスタＴＨはターンオンする。該サイリスタＴＨが
ターンオンすると、表示用電源Ｅ２からタイマリレーＴ
ＲＹの接点を介して電源が供給され、発光ダイオードＰ
Ｌが発光する。同時に、リレーＲＹのコイルに電流が流
れ、当該リレーＲＹの接点が閉となり、タイマリレーＴ
ＲＹの時間がカウントされる。この間に発光ダイオード
ＰＬの発光によって、このＳＳＲは良品として選別され
る。次に、スイッチＳは、図示の破線のように右側に切
り替えられ再びコンデンサＣ１を充電する。タイマリレ
ーＴＲＹが設定時間になったならば、該リレーＴＲＹの
接点が一時的に閉となり、これに随伴し、リレーＲＹの
接点が開となり、タイマリレーＴＲＹはリセットされて
再びその接点は閉となる。
【００１４】以上のように、ＳＳＲが所定のｄｖ／ｄｔ
波形でターンオンするか、又はターンオンしないかは表
示用発光ダイオードＰＬの点灯状態で認識できる。さら
には該発光ダイオードＰＬを他の装置を駆動するための
ＳＳＲの入力用としても良いし、メカニカルリレーのコ
イルとしても良く、これによって試験結果を２値化信号
として図示を省略した選別機構の駆動用信号として利用
すれば試験装置ないし試験回路の自動化が容易に実現で
きる。なお、図１中のゼナーダイオードＺＤは、パイロ
ットサイリスタＴＨのゲート電圧ＶGが定格値以上にな
らないように保護用として用いるものである。
波形でターンオンするか、又はターンオンしないかは表
示用発光ダイオードＰＬの点灯状態で認識できる。さら
には該発光ダイオードＰＬを他の装置を駆動するための
ＳＳＲの入力用としても良いし、メカニカルリレーのコ
イルとしても良く、これによって試験結果を２値化信号
として図示を省略した選別機構の駆動用信号として利用
すれば試験装置ないし試験回路の自動化が容易に実現で
きる。なお、図１中のゼナーダイオードＺＤは、パイロ
ットサイリスタＴＨのゲート電圧ＶGが定格値以上にな
らないように保護用として用いるものである。
【００１５】
【発明の効果】本発明は以上のように構成したので、従
来のようにオシロスコープの画面を見ることなくＳＳＲ
の特性を試験することができる。また、試験結果を電気
信号として出力できるので、試験装置乃至試験回路の自
動化を実現できるなどの効果がある。
来のようにオシロスコープの画面を見ることなくＳＳＲ
の特性を試験することができる。また、試験結果を電気
信号として出力できるので、試験装置乃至試験回路の自
動化を実現できるなどの効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すＳＳＲの特性試験回路
図である。
図である。
【図２】上記試験回路を用いてＳＳＲに電圧を印加した
場合の電圧波形図である。
場合の電圧波形図である。
【図３】従来のＳＳＲの特性試験回路図である。
ＳＳＲ ソリッド・ステート・リレー ＰＬ 発光ダイオード ＥＳ オン信号源 Ｚ ゼロクロス回路 ＭＴＨ 主スイッチング素子 ＴＨ パイロットサイリスタ Ｄ１ 発光ダイオード ＺＤ ゼナーダイオード Ｓ スイッチ Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，Ｒ６，Ｒ７ 抵抗 Ｒ５ 電圧検出抵抗 Ｃ１，Ｃ２ コンデンサ ＥＴ， 試験用電源 Ｅ２ 表示用電源 ＴＲＹ タイマリレー ＲＹ リレー ， 負荷側端子 ， 信号側端子
Claims (2)
- 【請求項１】 ソリッド・ステート・リレーの負荷側端
子間に所定の立ち上がり勾配を有する電圧波形を印加し
て該ソリッド・ステート・リレーのオン動作を試験する
ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路において、 上記負荷側端子には試験電源と電圧検出抵抗が接続さ
れ、該電圧検出抵抗によって得た電圧を、表示用電源と
表示用素子およびスイッチング素子の直列体の該スイッ
チング素子のオン信号として入力し、前記ソリッド・ス
テート・リレーのオン動作の有無を前記表示素子に表示
させることを特徴とするソリッド・ステート・リレーの
特性試験回路。 - 【請求項２】 上記表示用素子を選別装置の駆動信号と
して利用することを特徴とする請求項１に記載のソリッ
ド・ステート・リレーの特性試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13933093A JPH06331674A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13933093A JPH06331674A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331674A true JPH06331674A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=15242809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13933093A Pending JPH06331674A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | ソリッド・ステート・リレーの特性試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06331674A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100696856B1 (ko) * | 2004-09-30 | 2007-03-20 | 주식회사 디이엔티 | 평판표시장치의 ｔｃｐ 출력핀 접속 오류 테스트 장치 및방법과 평판표시장치의 오류 테스트 시스템 |
-
1993
- 1993-05-19 JP JP13933093A patent/JPH06331674A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100696856B1 (ko) * | 2004-09-30 | 2007-03-20 | 주식회사 디이엔티 | 평판표시장치의 ｔｃｐ 출력핀 접속 오류 테스트 장치 및방법과 평판표시장치의 오류 테스트 시스템 |
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