JPH06326384A - Semiconductor laser element drive circuit - Google Patents

Semiconductor laser element drive circuit

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JPH06326384A
JPH06326384A JP11161293A JP11161293A JPH06326384A JP H06326384 A JPH06326384 A JP H06326384A JP 11161293 A JP11161293 A JP 11161293A JP 11161293 A JP11161293 A JP 11161293A JP H06326384 A JPH06326384 A JP H06326384A
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JP
Japan
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voltage
semiconductor laser
laser device
current
temperature
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Application number
JP11161293A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuaki Inoue
泰明 井上
Kimihide Mizuguchi
公秀 水口
Hiroshi Tsuchiya
博 土屋
Toyozo Nishida
豊三 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide a semiconductor laser element drive circuit, which controls constant light output without using a laser beam for monitor. CONSTITUTION:An impedance variable element TR1 connected in series to a semiconductor laser element LD is provided, a voltage in a resistor R, to respond to a drive current of the element LD and a voltage, which is generated responding to this environmental temperature obtainable by detecting the environmental temperature of the element LD by a thermistor Th1, are compared with each other by a comparison amplifier OP1, and the element TR1 is controlled responding to an output voltage, which is outputted responding to the compared result, to set the light output of the element LD so as to become constant.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子の光
出力を一定に調整する半導体レーザ素子駆動回路に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser device driving circuit for adjusting the optical output of a semiconductor laser device to a constant level.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザ素子はその素子温度が変動
することにより光出力が変動する。そこで、従来は素子
温度が変化しても一定の光出力を得るために、半導体レ
ーザ素子の後方端面から出力されたモニター用レーザ光
をフォトダイオードで検出して、このモニター用レーザ
光の強度に応じて駆動電流を自動調整するAPC(Auto
matic Power Control)機能が設けられている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor laser device, the optical output fluctuates as the device temperature fluctuates. Therefore, conventionally, in order to obtain a constant light output even if the element temperature changes, the laser light for monitoring output from the rear end surface of the semiconductor laser element is detected by a photodiode, and the intensity of this laser light for monitoring is detected. APC (Auto
matic power control) function is provided.

【0003】図5は従来のAPC機能付駆動回路を示す
回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional drive circuit with an APC function.

【0004】直流電源電圧+Vccは半導体レーザ素子L
Dのアノードに印加され、そのカソードはインピーダン
ス可変素子たるトランジスタTRのコレクターに接続さ
れ、そのエミッタは抵抗R51を介して接地されている。
DC power supply voltage + V cc is a semiconductor laser device L
It is applied to the anode of D, its cathode is connected to the collector of a transistor TR which is an impedance variable element, and its emitter is grounded via a resistor R 51 .

【0005】また、前記直流電源電圧+Vccは、前記半
導体レーザ素子LDの後端面側に配置されたPINフォ
トダイオードPDのカソードに印加され、そのアノード
は抵抗R52を介して接地されている。またこのPINフ
ォトダイオードPDのアノードは、比較増幅器OPのマ
イナス(−)入力端子に接続されており、その出力端子
は抵抗R53を介して前記トランジスタTRのベースに接
続されている。この抵抗R53と前記トランジスタTR間
には、接地されたコンデンサーCが接続されている。ま
た前記比較増幅器OPのプラス(+)入力端子は、マイ
ナス電源端子が接地された基準電源Vr(基準電圧:
r)のプラス電源端子に接続されている。
The DC power supply voltage + V cc is applied to the cathode of the PIN photodiode PD arranged on the rear end face side of the semiconductor laser element LD, and the anode thereof is grounded via the resistor R 52 . The anode of the PIN photodiode PD is connected to the minus (-) input terminal of the comparison amplifier OP, and the output terminal thereof is connected to the base of the transistor TR via the resistor R53 . A grounded capacitor C is connected between the resistor R 53 and the transistor TR. The positive (+) input terminal of the comparison amplifier OP has a negative power supply terminal grounded to a reference power supply V r (reference voltage:
Vr ) is connected to the positive power supply terminal.

【0006】斯る回路では、直流電源電圧+Vccが印加
されることにより、半導体レーザ素子LDが駆動され、
前端面からレーザ光が出力されると共に後端面よりモニ
ター用レーザ光が出力される。
In such a circuit, the semiconductor laser device LD is driven by applying the DC power supply voltage + V cc ,
The laser light is output from the front end face and the monitor laser light is output from the rear end face.

【0007】このモニター用レーザ光はPINフォトダ
イオードPDで受光され、受光量に応じて前記フォトダ
イオードPDに起電流Iが発生する。この起電流Iは抵
抗R 52を流れて、前記受光量に応じた電圧VM(=I・
52)を発生する。前記比較増幅器OPは、この電圧V
Mと前記基準電圧Vrとを比較して該電圧VMが一定にな
るように前記トランジスタTRのベースに電圧を印加し
て前記半導体レーザ素子LDの光出力を一定に制御す
る。
This monitor laser light is a PIN photo diode.
Light is received by the iodine PD, and the photo sensor
An electromotive current I is generated in the ion PD. This electromotive current I is
Anti-R 52Flowing through the voltage VM(= I ・
R52) Occurs. The comparison amplifier OP has this voltage V
MAnd the reference voltage VrAnd the voltage VMIs constant
Voltage is applied to the base of the transistor TR
To control the light output of the semiconductor laser device LD to a constant value.
It

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記A
PC機能付駆動回路は、モニター用レーザ光が小さい
(例えば後端面側の反射率が高い)半導体レーザ素子や
面発光型半導体レーザ素子のようにモニター用レーザ光
が出力されない半導体レーザ素子には使用できず、また
外部光学系で反射された光等がフォトダイオードPDに
入射される場合には、精度よくモニター用レーザ光を受
光できないため、光出力を一定に調節することが困難で
あった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the above A
The drive circuit with the PC function is used for a semiconductor laser device that does not output the monitoring laser light, such as a semiconductor laser device that emits a small laser light for monitoring (for example, the reflectance on the rear end face side is high) or a surface emitting semiconductor laser device. When the light reflected by the external optical system or the like is incident on the photodiode PD, it is difficult to accurately receive the monitor laser light, and it is difficult to adjust the light output to a constant level.

【0009】従って、本発明はモニター用レーザ光を用
いることなく光出力を一定に調節する半導体レーザ素子
駆動回路を提供することを目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a semiconductor laser device driving circuit for adjusting the light output to a constant level without using a monitor laser beam.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体レーザ素
子駆動回路は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ
素子に直列に接続されたインピーダンス可変素子と、前
記半導体レーザ素子を駆動する駆動電流に応じた第1の
電圧を発生する電流電圧変換手段と、前記半導体レーザ
素子の環境温度に応じた第2の電圧を発生する温度電圧
変換手段と、前記第1の電圧と第2の電圧とを比較する
比較増幅器を備え、前記比較増幅器から出力された出力
電圧に応じて前記半導体レーザ素子の光出力が一定にな
るように前記インピーダンス可変素子を制御することを
特徴とする。
A semiconductor laser device driving circuit according to the present invention responds to a semiconductor laser device, an impedance variable device connected in series with the semiconductor laser device, and a drive current for driving the semiconductor laser device. The current-voltage converting means for generating the first voltage, the temperature-voltage converting means for generating the second voltage according to the environmental temperature of the semiconductor laser device, and the first voltage and the second voltage are compared. The impedance variable element is controlled so that the optical output of the semiconductor laser element becomes constant according to the output voltage output from the comparison amplifier.

【0011】[0011]

【作用】本発明の構成によれば、電流電圧変換手段で得
られる駆動電流に応じた第1の電圧と、温度電圧変換手
段で得られる半導体レーザ素子の環境温度に応じた第2
の電圧とを、比較増幅器で比較し得られた出力電圧に応
じて半導体レーザ素子に直列に接続されたインピーダン
ス可変素子を半導体レーザ素子の光出力が一定にするよ
うに制御するので、モニター用レーザ光を用いる必要が
ない。
According to the structure of the present invention, the first voltage according to the drive current obtained by the current-voltage converting means and the second voltage according to the ambient temperature of the semiconductor laser device obtained by the temperature-voltage converting means.
Is controlled by a comparator amplifier to control the impedance variable element connected in series with the semiconductor laser element so that the optical output of the semiconductor laser element becomes constant according to the output voltage obtained by the comparison amplifier. No need to use light.

【0012】[0012]

【実施例】本発明の第1実施例に係る半導体レーザ素子
駆動回路を図面を参照して説明する。図1は本実施例の
半導体レーザ素子駆動回路を示す回路図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A semiconductor laser device driving circuit according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor laser device driving circuit of this embodiment.

【0013】半導体レーザ素子(レーザ・ダイオード)
LDのアノードには電圧+Vccが印加され、そのカソー
ドはインピーダンス可変素子たるトランジスタTR1
コレクターに接続され、そのエミッタは電流電圧変換手
段たる抵抗R1を介して接地されている。このトランジ
スタTR1のベースには、抵抗R2を介して比較増幅器た
るオペアンプOP1の出力端子が接続されている。
Semiconductor laser device (laser diode)
A voltage + Vcc is applied to the anode of the LD, its cathode is connected to the collector of a transistor TR 1 which is an impedance variable element, and its emitter is grounded via a resistor R 1 which is a current-voltage converting means. The output terminal of an operational amplifier OP 1 which is a comparison amplifier is connected to the base of the transistor TR 1 via a resistor R 2 .

【0014】前記オペアンプOP1のプラス(+)入力
端子には、温度電圧変換手段が接続されている。即ちこ
の入力端子には、抵抗R3及び抵抗R4を介して負極側が
接地された基準電源Vr1(基準電圧:Vr1)の正極側と
接続されると共に、一定電圧+Vh1(Vh1>Vr1)が印
加された負の温度係数を有する環境温度(周囲温度)検
出用サーミスタTh1(以下、この抵抗値はRh1と記す)
が前記抵抗R3を介して接続されている。尚、負の温度
係数を有するサーミスタTh1は、従来周知のように温度
が高い場合には抵抗Rh1が小さくなり、逆に温度が低い
場合には抵抗R h1が大きくなる。また、このサーミスタ
h1は、半導体レーザ素子LDの素子温度と関係のある
環境温度が検知できる部分に適宜絶縁して設ければよ
く、例えば半導体レーザ素子LDを載置するヒートシン
ク等に設けてもよく、また半導体レーザ素子LDが密閉
したキャップ内に設置されている場合はこのキャップ内
に適宜設ければよく、可能であれば半導体レーザ素子L
Dに密着させてもよい。
The operational amplifier OP1Plus (+) input
Temperature-voltage conversion means is connected to the terminal. That is,
The input terminal of the resistor R3And resistance RFourThrough the negative electrode side
Grounded reference power source Vr1(Reference voltage: Vr1) And the positive electrode side
Connected and fixed voltage + Vh1(Vh1> Vr1) Is a mark
Environmental temperature (ambient temperature) detection with added negative temperature coefficient
Demand thermistor Th1(Hereafter, this resistance value is Rh1Will be written)
Is the resistance R3Connected through. Negative temperature
Thermistor T with coefficienth1Is the temperature
If R is high, the resistance Rh1Is smaller and the temperature is lower
In case of resistance R h1Grows larger. Also this thermistor
Th1Is related to the element temperature of the semiconductor laser element LD
It should be provided by properly insulating the part where the ambient temperature can be detected.
For example, a heat sink for mounting the semiconductor laser device LD
It may be provided on the ground, and the semiconductor laser element LD is hermetically
In this cap, if it is installed in
May be appropriately provided in the semiconductor laser device L if possible.
You may make it adhere to D.

【0015】前記オペアンプOP1のマイナス(−)入
力端子は、抵抗R5及び前記抵抗R1を介して接地されて
いる。
The negative (-) input terminal of the operational amplifier OP 1 is grounded via the resistor R 5 and the resistor R 1 .

【0016】半導体レーザ素子LDは一定光出力の場
合、素子温度増加に対して動作電流I OPが略単調に増加
するので、この回路ではその素子温度で一定光出力とな
る動作電流IOPがVB(電圧VBは 素子温度増加に対し
て略単調増加する)/R1であるように設定されてい
る。尚、本実施例のトランジスタTR1は電流増幅率が
大きいので、半導体レーザ素子LDの駆動電流IOPと抵
抗R1を流れる電流I1は略等しい。
The semiconductor laser device LD has a constant light output.
Operating temperature I with increasing element temperature OPIncreases almost monotonically
Therefore, in this circuit, a constant light output is obtained at the element temperature.
Operating current IOPIs VB(Voltage VBIs for the element temperature increase
Increase almost monotonically) / R1Is set to be
It Incidentally, the transistor TR of this embodiment1Is the current gain
Since it is large, the driving current I of the semiconductor laser element LD is large.OPAnd
Anti-R1Current I flowing through1Are almost equal.

【0017】斯る回路では初期時を含めた動作状態にお
いて、前記抵抗R1には電流I1が流れて、前記オペアン
プOP1のマイナス端子にはVA=I1・R1の第1の電圧
が印加される。また、前記サーミスタTh1と抵抗R4
は電流I2=(Vh1−Vr1)/(Rh1+R4)が流れて、
前記オペアンプOP1のプラス端子には、基準電圧Vr1
と温度に依存するサーミスタTh1の抵抗Rh1と抵抗R4
によって分圧されてなる電圧との和となる第2の電圧V
B=Vr1+I2・R4が印加される。
In such a circuit, in the operating state including the initial state, a current I 1 flows through the resistor R 1 and the first terminal of V A = I 1 · R 1 is applied to the negative terminal of the operational amplifier OP 1. A voltage is applied. Further, a current I 2 = (V h1 −V r1 ) / (R h1 + R 4 ) flows through the thermistor T h1 and the resistor R 4 ,
The positive terminal of the operational amplifier OP 1 has a reference voltage V r1
And resistance R h1 and resistance R 4 of the thermistor T h1 depending on temperature
The second voltage V that is the sum of the voltage divided by
B = V r1 + I 2 · R 4 is applied.

【0018】前記オペアンプOP1は、この電圧VAと電
圧VBとを比較して、その結果に応じた電圧を前記トラ
ンジスタTR1のベースに印加して前記電流I1、即ち半
導体レーザ素子LDの駆動電流IOPを光出力が一定にな
るように制御する。詳説すると、半導体レーザ素子LD
の素子温度が上昇して電圧VBが大きくなった(VB>V
Aになった)場合には、前記ベースに印加される電流が
大きくなって、この結果半導体レーザ素子LDの印加電
流IOPが増加し、最終的に電圧VAが大きくなった電圧
Bに等しくなるように駆動電流IOPが調整される。 逆
に、半導体レーザ素子LDの温度が下降して電圧VB
小さくなった(VB<VAになった)場合には、前記ベー
スに印加される電流が小さくなって、この結果半導体レ
ーザ素子LDの駆動電流IOPが減少し、最終的に電圧V
Aが小さくなった電圧VBに等しくなるように印加電流I
OPが調整される。
The operational amplifier OP 1 compares the voltage V A with the voltage V B and applies a voltage corresponding to the result to the base of the transistor TR 1 to generate the current I 1 , that is, the semiconductor laser element LD. Drive current I OP is controlled so that the optical output becomes constant. More specifically, a semiconductor laser device LD
Element temperature rises and voltage V B increases (V B > V
In the case of A ), the current applied to the base is increased, and as a result, the applied current I OP of the semiconductor laser device LD is increased, and finally the voltage V A is increased to the voltage V B. The drive current I OP is adjusted to be equal. On the contrary, when the temperature of the semiconductor laser device LD is lowered and the voltage V B is decreased (V B <V A ), the current applied to the base is decreased, and as a result, the semiconductor laser is reduced. The drive current I OP of the element LD decreases and finally the voltage V
I applied current I to be equal to the voltage V B that A is reduced
OP is adjusted.

【0019】尚、この回路では半導体レーザ素子LDの
光出力の大きさは、前記抵抗R1の設定値によって設定
できる。また前記抵抗R2、R3、R5は省くことも可能
である。
In this circuit, the magnitude of the optical output of the semiconductor laser element LD can be set by the set value of the resistor R 1 . Further, the resistors R 2 , R 3 and R 5 can be omitted.

【0020】この回路において、半導体レーザ素子LD
が光出力100mW(温度25℃での動作電流IOPは2
80mA)で一定に動作する時に動作電流IOPがサーミ
スタTh1位置の温度増加に対してα=0.62mA/℃
で単調増加する特性を有し、且つ384Ωの抵抗R4
直列に接続されたサーミスタTh1(温度25℃における
抵抗Rh1は1KΩ)はこれらの間に電圧1Vが印加され
た時にこのサーミスタで発生する電圧が温度の増加に対
してβ=5.67mV/℃で略単調増加する特性を有す
る場合に、前記抵抗R1は次式(1)から約9Ωに設定
される。
In this circuit, the semiconductor laser device LD
Has an optical output of 100 mW (operating current I OP at a temperature of 25 ° C is 2
When operating at a constant current of 80 mA, the operating current I OP is α = 0.62 mA / ° C with respect to the temperature increase at the thermistor T h1 position
The thermistor T h1 (having a resistance R h1 of 1 KΩ at a temperature of 25 ° C.) in which a resistance R 4 of 384 Ω is connected in series has a characteristic of monotonically increasing at 1 V between them. When the generated voltage has a characteristic of increasing substantially monotonically at β = 5.67 mV / ° C with respect to an increase in temperature, the resistance R 1 is set to about 9Ω from the following equation (1).

【0021】 α・R1=β ・・・(1) また、電圧Vr1は次式(2)から約1.9Vに設定され
る。
Α · R 1 = β (1) Further, the voltage V r1 is set to about 1.9 V from the following equation (2).

【0022】 IOP・R1=Vr1+1・R4/(R4+Rh1) ・・・(2) 尚、抵抗R4の値は、サーミスタTh1の電圧変化を温度
変化に対してもっも直線的にするように従来周知の計算
方法により設定されている。
I OPR 1 = V r1 + 1R 4 / (R 4 + R h1 ) ... (2) The value of the resistor R 4 depends on the voltage change of the thermistor T h1 with respect to temperature change. Is set by a conventionally known calculation method so as to be linear.

【0023】斯る回路では、モニター用レーザ光を用い
る必要はなく、前記半導体レーザ素子PDの環境温度を
サーミスタTh1の抵抗Rh1に依存した電圧VBとして検
出して、この電圧VBと電流I1に応じた電圧VAとをオ
ペアンプOP1で比較し、この結果生じた電圧によりト
ランジスタTR1のベース電圧を変化させることによ
り、駆動電流IOPを変化させてこの半導体レーザ素子L
Dの光出力を一定に調整できる。
In such a circuit, it is not necessary to use the laser light for monitoring, and the environmental temperature of the semiconductor laser device PD is detected as the voltage V B depending on the resistance R h1 of the thermistor T h1 , and this voltage V B is detected. The operational amplifier OP 1 compares the voltage V A corresponding to the current I 1 with the resulting voltage, and the base voltage of the transistor TR 1 is changed by the resulting voltage to change the drive current I OP and the semiconductor laser device L.
The light output of D can be adjusted to be constant.

【0024】次に、第2実施例を第2図に示す回路図を
用いて説明する。
Next, a second embodiment will be described with reference to the circuit diagram shown in FIG.

【0025】半導体レーザ素子LDのアノードには電圧
+Vccが印加されており、そのカソードはインピーダン
ス可変素子たる第1のトランジスタTR11のコレクター
に接続され、そのエミッタは電流電圧変換手段たる抵抗
11を介して接地されている。このトランジスタTR11
のベースには、比較増幅器たる第2のトランジスタTR
12のコレクタが接続されており、そのベースは前記抵抗
11を介して接地されている。
A voltage + V cc is applied to the anode of the semiconductor laser element LD, the cathode thereof is connected to the collector of the first transistor TR 11 which is an impedance variable element, and the emitter thereof is a resistor R 11 which is a current-voltage converting means. Grounded through. This transistor TR 11
The base of is the second transistor TR, which is a comparison amplifier.
Twelve collectors are connected and their bases are grounded via the resistor R 11 .

【0026】前記第2のトランジスタTR12のエミッタ
には、抵抗R12と負の温度係数を有するサーミスタT
h11(その抵抗はRh11と記す)が並列に接続され、この
抵抗R 12とサーミスタTh11の両端間に電源V11(電
圧:V11)が接続されている。
The second transistor TR12The emitter of
Has a resistance R12And a thermistor T having a negative temperature coefficient
h11(The resistance is Rh11, Are connected in parallel,
Resistance R 12And the thermistor Th11Power supply V across11(Den
Pressure: V11) Is connected.

【0027】前記電源V11の負極は、基準電源V
r12(基準電圧:Vr12)の正極に接続され、その負極が
接地されている。この構成によって温度電圧変換手段が
構成される。
The negative electrode of the power source V 11 is the reference power source V 11.
It is connected to the positive electrode of r12 (reference voltage: V r12 ) and its negative electrode is grounded. With this configuration, the temperature-voltage conversion means is configured.

【0028】前記サーミスタTh11は、半導体レーザ素
子LDの素子温度と関係のある環境温度が検知できる部
分に適宜絶縁して設ければよく、例えば半導体レーザ素
子LDを載置するヒートシンク等に設けてもよく、また
半導体レーザ素子LDが密閉したキャップ内に設置され
ている場合はこのキャップ内に適宜設ければよく、可能
であれば半導体レーザ素子LDに密着させてもよい。
The thermistor T h11 may be provided by appropriately insulating it at a portion where the ambient temperature related to the element temperature of the semiconductor laser element LD can be detected. For example, it is provided on a heat sink or the like on which the semiconductor laser element LD is mounted. Also, when the semiconductor laser element LD is installed in a closed cap, it may be appropriately provided in this cap, and if possible, it may be brought into close contact with the semiconductor laser element LD.

【0029】半導体レーザ素子LDは一定光出力の場
合、素子温度増加に対して動作電流I OPが略単調に増加
するので、この回路ではその素子温度で一定光出力とな
る動作電流IOPが{VB(電圧VBは 素子温度増加に対
して略単調増加する)− VBE(第2のトランジスタT
12のベース・エミッタ間の電圧:略一定)}/R11
あるように設定されている。尚、このこの第1のトラン
ジスタTR11は電流増幅率が大きいので、半導体レーザ
素子LDの駆動電流IOPと抵抗R11を流れる電流I 11
略等しい。
The semiconductor laser device LD has a constant light output.
Operating temperature I with increasing element temperature OPIncreases almost monotonically
Therefore, in this circuit, a constant light output is obtained at the element temperature.
Operating current IOPIs {VB(Voltage VBIs against the increase in element temperature
And then increases almost monotonically) -VBE(Second transistor T
R12Voltage between base and emitter of: constant)} / R11so
Is set to be. In addition, this first tran
Dista TR11Has a large current amplification factor, so a semiconductor laser
Drive current I of element LDOPAnd resistance R11Current I flowing through 11Is
Almost equal.

【0030】斯る回路では、前記抵抗R11には電流I11
が流れて、前記トランジスタTR12のベースにはVA1
11・R11の第1の電圧が印加される。
[0030] In斯Ru circuit comprises the resistor R 11 current I 11
Flows to the base of the transistor TR 12 and V A1 =
A first voltage of I 11 · R 11 is applied.

【0031】また、前記トランジスタTR12のエミッタ
には、温度に依存するサーミスタT h11の抵抗Rh11と抵
抗R12によって電圧V11が分圧されてなる電圧にVr12
が加算された式(3)に示す第2の電圧VB1が印加され
る。
Further, the transistor TR12The emitter of
Is a thermistor T that is temperature dependent h11Resistance Rh11And
Anti-R12Voltage V11Is divided by the voltage Vr12
The second voltage V shown in equation (3)B1Is applied
It

【0032】 VB1=V11・R12/(R12+Rh11)+Vr12 ・・・(3) 前記第2のトランジスタTR12は、この電圧VA1と電圧
B1とを比較して、その結果に応じた電圧を前記第1の
トランジスタTR11のベースに印加して、電流I11、即
ち駆動電流IOP(IOPはI11に略等しい)を光出力が一
定になるように制御する。
V B1 = V 11 · R 12 / (R 12 + R h11 ) + V r12 (3) The second transistor TR 12 compares the voltage V A1 with the voltage V B1 and A voltage corresponding to the result is applied to the base of the first transistor TR 11 , and the current I 11 , that is, the drive current I OP (I OP is substantially equal to I 11 ) is controlled so that the light output becomes constant. .

【0033】即ち、半導体レーザ素子LDの温度が上昇
して電圧VB1が大きくなった(VB1>VA1+VBE)場合
には、前記第2のトランジスタTR12のエミッタに印加
される電圧が大きくなって、第1のトランジスタTR11
のベースに印加する電流が増大する。この結果電流I11
が増加し、最終的に電圧(VA1+VBE)が大きくなった
電圧VB1に等しくなるように電流I11が調整される。逆
に、半導体レーザ素子LDの温度が下降して電圧VB1
小さくなった(VB1<VA1+VBEになった)場合には、
前記第1のトランジスタTR11のベースに印加される電
流が小さくなって、この結果電流I11が減少し、最終的
に電圧(VA1+VBE)が小さくなった電圧VB1に等しく
なるように電流I11が調整される。
That is, when the temperature of the semiconductor laser device LD rises and the voltage V B1 increases (V B1 > V A1 + V BE ), the voltage applied to the emitter of the second transistor TR 12 is increased. Becoming larger, the first transistor TR 11
The current applied to the base of is increased. As a result, the current I 11
Is increased, and finally the current I 11 is adjusted so that the voltage (V A1 + V BE ) becomes equal to the increased voltage V B1 . On the contrary, when the temperature of the semiconductor laser device LD drops and the voltage V B1 becomes small (V B1 <V A1 + V BE ),
The current applied to the base of the first transistor TR 11 is reduced, and as a result, the current I 11 is reduced so that the voltage (V A1 + V BE ) is finally equal to the reduced voltage V B1. The current I 11 is adjusted.

【0034】尚、この回路では半導体レーザ素子LDの
光出力の大きさは、前記抵抗R11の設定値によって設定
できる。また、各素子の設定値は第1実施例と同様の方
法で設定される。
In this circuit, the magnitude of the light output of the semiconductor laser element LD can be set by the set value of the resistor R 11 . The set value of each element is set by the same method as in the first embodiment.

【0035】次に、第3実施例を第3図に示す回路図を
用いて説明する。尚、第2実施例と異なる点は、第2実
施例で用いた電源V11、電源Vr12をそれぞれ可変抵抗
に代えると共に定電流ダイオードを用いた点であり、第
2実施例と同一部分には同一符号を付してその説明は割
愛する。
Next, a third embodiment will be described with reference to the circuit diagram shown in FIG. The difference from the second embodiment is that the power supply V 11 and the power supply V r12 used in the second embodiment are replaced by variable resistors and a constant current diode is used. Are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted.

【0036】電圧+Vccは半導体レーザ素子LDのアノ
ードに印加されると共に、温度電圧変換手段に印加され
る。即ち定電流ダイオードD1のアノードに印加されそ
のカソードはサーミスタTh11及び抵抗R12に並列に接
続された可変抵抗VR1、及び可変抵抗VR2をこの順序
に介して接地されている。尚、サーミスタTh11の抵抗
h11と抵抗R12はVR1<<Rh11+R12になるように
設定されている。
The voltage + V cc is applied to the anode of the semiconductor laser device LD and also to the temperature-voltage conversion means. That is, the constant current diode D 1 is applied to the anode and its cathode is grounded through the thermistor T h11 and the variable resistor VR 1 and the variable resistor VR 2 connected in parallel to the resistor R 12 in this order. The resistances R h11 and R 12 of the thermistor T h11 are set so that VR 1 << R h11 + R 12 .

【0037】斯る回路は、定電流ダイオードD1を介し
ているので、可変抵抗VR2には一定電流I21が流れ
る。また、可変抵抗VR1の抵抗値は抵抗Rhと抵抗R12
の和より小さいので、可変抵抗VR1にも実質的に電流
21が流れる。この結果、可変抵抗VR1及び可変抵抗
VR2は、それぞれI21・VR1の電圧を有する定電圧電
源、I21・VR2の電圧を有する定電圧電源として機能
する。言い換えると、可変抵抗VR1、VR2はそれぞれ
第2実施例の第1の電源V11、電源Vr12と同じ機能を
する。
Since such a circuit passes through the constant current diode D 1 , a constant current I 21 flows through the variable resistor VR 2 . The resistance values of the variable resistor VR 1 are the resistances R h and R 12
Current I 21 substantially flows through the variable resistor VR 1 as well. As a result, the variable resistors VR 1 and VR 2 respectively function as a constant voltage power source having a voltage of I 21 · VR 1 and a constant voltage power source having a voltage of I 21 · VR 2 . In other words, the variable resistors VR 1 and VR 2 have the same functions as the first power source V 11 and the power source V r12 of the second embodiment, respectively.

【0038】従って、第2実施例と同様の機能を行うの
で、第2実施例と同様の効果を得られる。また、可変抵
抗VR1、VR2の抵抗値を変えることにより、異なる特
性の半導体レーザ素子LDに容易に対応できる。尚、特
定の半導体レーザ素子専用に用いる場合には、可変抵抗
VR1、VR2を単なる抵抗や定電圧ダイオードに変えて
も勿論よい。
Therefore, since the same function as that of the second embodiment is performed, the same effect as that of the second embodiment can be obtained. Further, by changing the resistance values of the variable resistors VR 1 and VR 2 , it is possible to easily deal with the semiconductor laser elements LD having different characteristics. When used exclusively for a specific semiconductor laser device, the variable resistors VR 1 and VR 2 may be replaced by simple resistors or constant voltage diodes.

【0039】次に、第4実施例に係る半導体レーザ素子
駆動回路を図4に示す回路図を用いて説明する。この回
路は第2実施例と同様に特定性質の半導体レーザ素子専
用に用いる回路であって、第2、第3実施例に比べて更
に簡略化されている。尚、第2実施例と同一部分には同
一符号を付してその説明は割愛する。
Next, a semiconductor laser device driving circuit according to the fourth embodiment will be described with reference to the circuit diagram shown in FIG. This circuit is a circuit exclusively used for a semiconductor laser device having a specific property as in the second embodiment, and is further simplified as compared with the second and third embodiments. The same parts as those in the second embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0040】電圧+Vccは半導体レーザ素子LDのアノ
ードに印加されると共に、温度電圧変換手段に印加され
る。即ち抵抗R13を介して、サーミスタTh11及び抵抗
12に並列に接続された定電圧ダイオードD2のカソー
ドに接続され、そのアノードは接地されている。
The voltage + V cc is applied to the anode of the semiconductor laser device LD and also to the temperature-voltage conversion means. That is, it is connected via a resistor R 13 to the cathode of a constant voltage diode D 2 connected in parallel to the thermistor T h11 and resistor R 12 , and its anode is grounded.

【0041】斯る回路では、定電圧ダイオードD2によ
り、サーミスタTh11と抵抗R12に一定の電圧が印加さ
れ、この電圧は抵抗Rh11と抵抗R12によって分圧され
て第2のトランジスタTR12のエミッタに印加される。
In such a circuit, a constant voltage is applied to the thermistor T h11 and the resistor R 12 by the constant voltage diode D 2 , and this voltage is divided by the resistors R h11 and R 12 to generate the second transistor TR. Applied to 12 emitters.

【0042】斯る回路では、第2実施例での電源Vr12
に対応する部分を省略しているが、抵抗R11の抵抗値を
選択することにより、また定電圧ダイオードD2が第2
実施例の電源V11と同様に機能するので、第2実施例と
略同様の効果が得られる。
In such a circuit, the power source V r12 in the second embodiment is used.
Although the portion corresponding to is omitted, by selecting the resistance value of the resistor R 11 , the constant voltage diode D 2 can be changed to the second
Since it functions in the same manner as the power source V 11 of the embodiment, the same effect as that of the second embodiment can be obtained.

【0043】また、サーミスタTh1、Th11に正の温度
係数を有するサーミスタを用いる場合には、Th1とR4
の位置、Th11とR12の位置を交換すればよい。
When the thermistors T h1 and T h11 are thermistors having a positive temperature coefficient, T h1 and R 4 are used.
The position of T h11 and the position of R 12 may be exchanged.

【0044】[0044]

【発明の効果】本発明の半導体レーザ素子駆動回路は、
半導体レーザ素子に直列に接続されたインピーダンス可
変素子と、前記半導体レーザ素子を駆動する駆動電流に
応じた第1の電圧を発生する電流電圧変換手段と、前記
半導体レーザ素子の環境温度に応じた第2の電圧を発生
する温度電圧変換手段と、前記第1の電圧と第2の電圧
とを比較する比較増幅器を備え、前記比較増幅器から出
力された出力電圧に応じて前記インピーダンス可変素子
を前記半導体レーザ素子の光出力が一定になるように制
御するので、本発明はモニター用レーザ光を用いる必要
がない。
The semiconductor laser device driving circuit of the present invention is
A variable impedance element connected in series to the semiconductor laser element, a current-voltage converting means for generating a first voltage according to a drive current for driving the semiconductor laser element, and a first variable voltage element depending on an environmental temperature of the semiconductor laser element. A temperature-voltage converting means for generating a voltage of 2; and a comparison amplifier for comparing the first voltage and the second voltage, wherein the impedance variable element is provided in accordance with the output voltage output from the comparison amplifier. Since the light output of the laser element is controlled to be constant, the present invention does not need to use the monitor laser light.

【0045】この結果、モニター用レーザ光が小さい半
導体レーザ素子や面発光型半導体レーザ素子のようにモ
ニター用レーザ光が出力されない半導体レーザ素子等に
も使用でき、また精度よくモニター用レーザ光を受光で
きない構成の場合にも好適である。
As a result, it can be used for a semiconductor laser device that does not output a monitoring laser beam, such as a semiconductor laser device that emits a small monitoring laser beam or a surface-emitting type semiconductor laser device. It is also suitable in the case of a configuration that cannot be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例に係る半導体レーザ素子駆
動回路を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a semiconductor laser device driving circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施例に係る半導体レーザ素子駆
動回路を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a semiconductor laser device driving circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3実施例に係る半導体レーザ素子駆
動回路を示す回路図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a semiconductor laser device driving circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第4実施例に係る半導体レーザ素子駆
動回路を示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a semiconductor laser device driving circuit according to a fourth embodiment of the present invention.

【図5】従来の半導体レーザ素子駆動回路を示す回路図
である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a conventional semiconductor laser device driving circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

LD 半導体レーザ素子 TR1 トランジスタ(インピーダンス素子) OP1 オペアンプ(比較増幅器) R1、R11 抵抗(電流電圧変換手段) R4、R12 抵抗(温度電圧変換手段) Th1、Th11 サーミスタ(温度電圧変換手段) TR11 第1のトランジスタ(インピーダンス素
子) TR12 第2のトランジスタ(比較増幅器)
LD semiconductor laser element TR 1 transistor (impedance element) OP 1 operational amplifier (comparison amplifier) R 1 , R 11 resistance (current-voltage conversion means) R 4 , R 12 resistance (temperature-voltage conversion means) T h1 , T h11 thermistor (temperature Voltage conversion means) TR 11 first transistor (impedance element) TR 12 second transistor (comparison amplifier)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西田 豊三 大阪府守口市京阪本通2丁目18番地 三洋 電機株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Toyzo Nishida 2-18 Keihan Hondori, Moriguchi City, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ
素子に直列に接続されたインピーダンス可変素子と、前
記半導体レーザ素子を駆動する駆動電流に応じた第1の
電圧を発生する電流電圧変換手段と、前記半導体レーザ
素子の環境温度に応じた第2の電圧を発生する温度電圧
変換手段と、前記第1の電圧と第2の電圧とを比較する
比較増幅器を備え、 前記比較増幅器から出力された出力電圧に応じて前記半
導体レーザ素子の光出力が一定になるように前記インピ
ーダンス可変素子を制御することを特徴とする半導体レ
ーザ素子駆動回路。
1. A semiconductor laser device, an impedance variable device connected in series to the semiconductor laser device, and a current-voltage conversion means for generating a first voltage according to a drive current for driving the semiconductor laser device, A temperature-voltage conversion unit that generates a second voltage according to the ambient temperature of the semiconductor laser device and a comparison amplifier that compares the first voltage and the second voltage are provided, and the output output from the comparison amplifier A semiconductor laser device driving circuit, wherein the impedance variable device is controlled so that the optical output of the semiconductor laser device becomes constant according to a voltage.
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