JPH06318759A - Narrow-line width frequency stabilizing light source - Google Patents
Narrow-line width frequency stabilizing light sourceInfo
- Publication number
- JPH06318759A JPH06318759A JP25581591A JP25581591A JPH06318759A JP H06318759 A JPH06318759 A JP H06318759A JP 25581591 A JP25581591 A JP 25581591A JP 25581591 A JP25581591 A JP 25581591A JP H06318759 A JPH06318759 A JP H06318759A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- semiconductor laser
- laser
- optical
- line width
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザを用いた
狭線幅周波数安定化光源に関する。更に、詳しく述べれ
ば、例えば原子又は分子を封入した吸収セルを用いて原
子又は分子の線形吸収スペクトル線を検出し、この線形
吸収スペクトル線のスロープ部に半導体レーザの発振周
波数を安定化させておき、同時に、この周波数安定化さ
れた半導体レーザから出射された出射レーザ光を再度半
導体レーザ内に戻すことによって自己注入同期効果を発
生させて、発振スペクトル線幅を狭くした狭線幅周波数
安定化光源に関する。本発明は、各種光計測用光源を始
め、高精度光周波数基準光源、物理・化学計測用安定化
光源、コヒーレント光通信用光源等に利用される。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a narrow linewidth frequency stabilized light source using a semiconductor laser. More specifically, for example, an absorption cell enclosing atoms or molecules is used to detect the linear absorption spectrum line of the atoms or molecules, and the oscillation frequency of the semiconductor laser is stabilized in the slope portion of this linear absorption spectrum line. At the same time, the self-injection locking effect is generated by returning the emitted laser light emitted from the frequency-stabilized semiconductor laser to the inside of the semiconductor laser again, and the narrow linewidth frequency stabilized light source in which the oscillation spectrum linewidth is narrowed. Regarding INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is used for various optical measurement light sources, high-accuracy optical frequency reference light sources, stabilized light sources for physical / chemical measurements, light sources for coherent optical communication, and the like.
【0002】[0002]
【従来技術】従来技術として、大津元一による「周波数
変調可能な狭スペクトル線幅半導体レーザ」(電子情報
通信学会技術研究報告OQE87―135、p.35〜
p.40)がある。これは、共焦点共振器(confocal r
esonator) を用いて、半導体レーザの発振周波数を安定
化し、且つ発振スペクトル線幅を狭くしたものである。
すなわち、半導体レーザから出射されたレーザ光を共焦
点共振器に入射させ、共鳴したレーザ光だけが半導体レ
ーザ内に帰還するように光学系を組む。半導体レーザ
は、外部からレーザ光が注入されることにより、その注
入されたレーザ光の光周波数に発振周波数が引き込まれ
ると同時に、発振スペクトル線幅が狭くなる自己注入同
期という現象が発生するため、半導体レーザの発振周波
数を共焦点共振器の共鳴周波数に安定化し、且つ、発振
スペクトル線幅を狭くすることができる。2. Description of the Related Art As a prior art, "Narrow spectrum line width semiconductor laser capable of frequency modulation" by Motoichi Otsu (Technical Research Report of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers OQE87-135, p.
p. 40) This is a confocal resonator (confocal r
esonator) to stabilize the oscillation frequency of the semiconductor laser and narrow the oscillation spectral line width.
That is, the laser light emitted from the semiconductor laser is made incident on the confocal resonator, and an optical system is assembled so that only the resonated laser light is returned to the semiconductor laser. When a semiconductor laser is injected with laser light from the outside, the oscillation frequency is pulled into the optical frequency of the injected laser light, and at the same time, a phenomenon called self-injection locking in which the oscillation spectrum line width is narrowed occurs. The oscillation frequency of the semiconductor laser can be stabilized at the resonance frequency of the confocal resonator, and the oscillation spectrum line width can be narrowed.
【0003】この際、半導体レーザ内の光の位相と帰還
されるレーザ光の位相を揃えるために、帰還されるレー
ザ光の光路長を調整する必要があるが、従来の技術では
この調整を、共焦点共振器からの透過光量を検知して、
位相条件のズレをモニターし、帰還されるレーザ光の光
路中に置いたコーナーミラーの位置をピエゾ素子により
変化させ、光路長を自動調整できる機構を設けることで
行っている。At this time, it is necessary to adjust the optical path length of the returned laser light in order to make the phase of the light inside the semiconductor laser and the phase of the returned laser light equal. By detecting the amount of transmitted light from the confocal resonator,
This is done by monitoring the deviation of the phase conditions, changing the position of the corner mirror placed in the optical path of the returned laser light by a piezo element, and providing a mechanism that can automatically adjust the optical path length.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】本発明においては、従
来の技術における、次の課題を解決した狭線幅周波数安
定化光源を提供することを目的とする。 (1)共焦点共振器で共鳴したレーザ光を半導体レーザ
に帰還する場合、機械的な劣化によって自己注入同期に
よる半導体レーザの発振スペクトル線幅の狭窄度の変動
が低減され、同時に、共焦点共振器を用いているため光
学系が複雑かつ高価になる。 (2)半導体レーザの発振周波数を共焦点共振器の共鳴
周波数に安定化させる場合、周囲の温度変化や振動又は
機械的な劣化によって、周波数基準となる共焦点共振器
の共鳴周波数が変化してしまうため、半導体レーザの発
振周波数において長期周波数安定性及び再現性が得られ
ない。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a narrow linewidth frequency stabilized light source that solves the following problems in the prior art. (1) When the laser light resonated by the confocal resonator is fed back to the semiconductor laser, fluctuations in the constriction degree of the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser due to self-injection locking are reduced due to mechanical deterioration, and at the same time, confocal resonance The optical system is complicated and expensive due to the use of a container. (2) When stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser to the resonance frequency of the confocal resonator, the resonance frequency of the confocal resonator, which is the frequency reference, changes due to ambient temperature changes, vibration, or mechanical deterioration. Therefore, long-term frequency stability and reproducibility cannot be obtained at the oscillation frequency of the semiconductor laser.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明では、上述した
(1)、(2)の課題に対して、つぎの技術的手段を講
じた。 (1)周波数弁別器の周波数特性のスロープ部を用い
て、半導体レーザの発振周波数を安定化させる第1の帰
還系を採用した。 (2)位置変調をかけた平面鏡を用いた第2の帰還系を
採用し、これで半導体レーザから出射された出射レーザ
光を受け、そのFM雑音の振幅強度を特定帯域周波数で
検出し、FM雑音を最も抑圧して自己注入同期系を安定
化させるように平面鏡に位置変調をかけるため、変調信
号源から出射された変調信号でFM雑音の振幅強度を位
相検波することによって、平面鏡の位置を制御する制御
手段を採用した。In order to solve the above-mentioned problems (1) and (2), the present invention takes the following technical means. (1) A first feedback system for stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser is adopted by using the slope portion of the frequency characteristic of the frequency discriminator. (2) A second feedback system using a position-modulated plane mirror is adopted, which receives the emitted laser light emitted from the semiconductor laser and detects the amplitude intensity of the FM noise at a specific band frequency. In order to position-modulate the plane mirror so as to suppress the noise most and stabilize the self-injection locking system, the position of the plane mirror can be detected by phase-detecting the amplitude intensity of FM noise with the modulation signal emitted from the modulation signal source. The control means to control is adopted.
【0006】[0006]
【作用】これらの技術的手段を採用したことで、次に示
すような特有の作用を持つ。 (1)周波数基準として、周波数弁別器の周波数特性の
スロープ部を用いて半導体レーザの発振周波数を安定化
したことにより、共焦点共振器の代わりに平面鏡を用い
ることができるようになり、これによって周囲の温度変
化や振動又は機械的な劣化に対する許容度が増大し、自
己注入同期による半導体レーザの発振スペクトル線幅の
狭窄度の変動が低減され、同時に、光学系が簡易且つ安
価になった。 (2)平面鏡を用いて半導体レーザ内にレーザ光を帰還
するような光学系を採用したことにより、周波数弁別器
として原子又は分子を封入した吸収セルのように半導体
レーザの発振周波数に対して長期周波数安定性及び再現
性を与えるような周波数基準を採用することができるよ
うになった。[Advantages] By adopting these technical means, it has the following unique action. (1) By stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser using the slope portion of the frequency characteristic of the frequency discriminator as a frequency reference, it becomes possible to use a plane mirror instead of the confocal resonator. The tolerance for ambient temperature change, vibration, or mechanical deterioration is increased, and the fluctuation of the narrowing degree of the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser due to self-injection locking is reduced, and at the same time, the optical system becomes simple and inexpensive. (2) By adopting an optical system that returns the laser light into the semiconductor laser by using a plane mirror, it is possible to achieve a long-term oscillation frequency of the semiconductor laser like an absorption cell in which atoms or molecules are enclosed as a frequency discriminator. It has become possible to adopt a frequency reference that provides frequency stability and reproducibility.
【0007】[0007]
【実施例】本発明に係る狭線幅周波数安定化光源の一実
施例を図1に示す。半導体レーザ1で2方向a、bに出
射されたレーザ光のうち、a方向に出射されたレーザ光
は、第1の分岐手段2で2方向c、dに分岐される。c
方向に分岐されたレーザ光は、半導体レーザ1から出射
されたレーザ光の周波数変動を光強度変動に変換する周
波数弁別器3に入射する。FIG. 1 shows an embodiment of a narrow linewidth frequency stabilized light source according to the present invention. Of the laser light emitted by the semiconductor laser 1 in two directions a and b, the laser light emitted in the a direction is branched by the first branching means 2 into two directions c and d. c
The laser light branched in the direction enters a frequency discriminator 3 which converts the frequency fluctuation of the laser light emitted from the semiconductor laser 1 into a light intensity fluctuation.
【0008】周波数弁別器3には、原子又は分子の吸収
特性を利用した装置やエタロンを用いる。本実施例で
は、周波数弁別器3としては、特定の周波数帯域のレー
ザ光を吸収する原子又は分子を封入した吸収セルを用い
る。この吸収セルを透過したレーザ光は光検出器4にお
いて電気信号に変換され、図2に示すような原子又は分
子の線形吸収スペクトル線aが出力される。As the frequency discriminator 3, an apparatus or an etalon utilizing the absorption characteristics of atoms or molecules is used. In this embodiment, as the frequency discriminator 3, an absorption cell in which atoms or molecules that absorb laser light in a specific frequency band are enclosed is used. The laser light transmitted through this absorption cell is converted into an electric signal in the photodetector 4, and a linear absorption spectrum line a of the atom or molecule as shown in FIG. 2 is output.
【0009】d方向に出射したレーザ光は、基準信号発
生手段6として用いる光検出器で電気信号Vに変換され
る。その変換された電気信号Vは、半導体レーザ1の発
振周波数を安定化させる特定周波数fsに対応した基準
電圧値信号として用いられ、差動アンプ5に入力する。
光検出器4により出力された電気信号は差動アンプ5に
入力する。差動アンプ5に入力した2つの信号の電圧値
の差が零になるように半導体レーザ駆動電流源7に電気
的負帰還をかけて半導体レーザ1への注入電流を制御す
ることにより、半導体レーザ1の発振周波数は、前記吸
収セル内に封入された原子又は分子の線形吸収スペクト
ル線のスロープ部に安定化されることになる。The laser light emitted in the d direction is converted into an electric signal V by a photodetector used as the reference signal generating means 6. The converted electric signal V is used as a reference voltage value signal corresponding to a specific frequency fs for stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser 1, and is input to the differential amplifier 5.
The electric signal output by the photodetector 4 is input to the differential amplifier 5. The semiconductor laser driving current source 7 is electrically negatively fed back to control the injection current to the semiconductor laser 1 so that the difference between the voltage values of the two signals input to the differential amplifier 5 becomes zero. The oscillation frequency of 1 is stabilized at the slope portion of the linear absorption spectrum line of the atom or molecule enclosed in the absorption cell.
【0010】以上に示したように、周波数弁別器3と光
検出器4と基準信号発生手段6とを備えた周波数安定化
手段8を含む、半導体レーザ1の発振周波数を安定化す
る第1の制御系9の周波数制御帯域はDC〜10kHz程
度であり、このように半導体レーザ1の発振周波数を安
定化させる方法を差動型周波数安定化法という。As described above, the first frequency stabilizing means 8 including the frequency discriminator 3, the photodetector 4, and the reference signal generating means 6 for stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser 1 is included. The frequency control band of the control system 9 is about DC to 10 kHz, and such a method for stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser 1 is called a differential frequency stabilization method.
【0011】また、半導体レーザ1からb方向に出射さ
れたレーザ光は、第2の分岐手段10により2方向e、
fに分岐される。e方向に出射したレーザ光は、光帰還
手段11によって同一光路上に反射され、半導体レーザ
1内に帰還される。通常、この光帰還手段11として
は、平面鏡を用いる。f方向に分岐されたレーザ光は、
出力光として利用される。Further, the laser beam emitted from the semiconductor laser 1 in the b direction is emitted in the two directions e by the second branching means 10.
It is branched to f. The laser light emitted in the e direction is reflected on the same optical path by the optical feedback means 11 and returned to the inside of the semiconductor laser 1. Normally, a plane mirror is used as the optical feedback means 11. The laser light branched in the f direction is
It is used as output light.
【0012】この際、原子又は分子の線形吸収スペクト
ル線のスロープ部によりFM/AM変換された光周波数
雑音は、光検出器4において出力されるが、光帰還手段
11によって第2の分岐手段10を通して半導体レーザ
1内に帰還されるレーザ光の位相を調整すると、自己注
入同期が発生して前記光周波数雑音が抑圧され、半導体
レーザ1の発振スペクトル線幅を狭くすることができ
る。At this time, the optical frequency noise FM / AM converted by the slope portion of the linear absorption spectrum line of the atom or molecule is output at the photodetector 4, but the second branching means 10 is provided by the optical feedback means 11. When the phase of the laser light fed back into the semiconductor laser 1 through is adjusted, self-injection locking occurs, the optical frequency noise is suppressed, and the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser 1 can be narrowed.
【0013】このように、半導体レーザ1と光帰還手段
11によって自己注入同期系が構成されている。半導体
レーザ1内に帰還されるレーザ光の位相調整について、
詳しく述べる。光帰還手段11の後方に帰還光路長調整
器12を付け、帰還光路長調整器制御器13により帰還
光路長調整器12を制御することによって光帰還手段1
1をレーザ光軸方向に動かし、半導体レーザ1と光帰還
手段11の間の距離を可変する。In this way, the semiconductor laser 1 and the optical feedback means 11 constitute a self-injection locking system. Regarding the phase adjustment of the laser light fed back into the semiconductor laser 1,
Describe in detail. The feedback optical path length adjuster 12 is attached to the rear of the optical feedback means 11, and the feedback optical path length adjuster controller 13 controls the feedback optical path length adjuster 12 to thereby provide the optical feedback means 1.
1 is moved in the laser optical axis direction to change the distance between the semiconductor laser 1 and the optical feedback means 11.
【0014】通常、帰還光路長調整器12にはピエゾ素
子を用い、帰還光路長調整器制御器13にはピエゾ素子
制御器を用いる。光帰還手段11を掃引させると、光検
出器4では、光周波数雑音の振幅強度は周期的に大小を
繰り返す。この光検出器4における出力を図3に示す。
光帰還手段11の位置を調整することによって自己注入
同期がかかると発振スペクトル線幅は狭くなるが、この
状態は、図3における光周波数雑音の振幅強度が小の部
分に対応し、自己注入同期がはずれた状態は光周波数雑
音の振幅強度が大の部分に対応する。したがって、自己
注入同期がかかった状態を保持するためには、光帰還手
段11の位置を制御する必要がある。Usually, a piezo element is used for the feedback optical path length adjuster 12, and a piezo element controller is used for the feedback optical path length adjuster controller 13. When the optical feedback means 11 is swept, the amplitude intensity of optical frequency noise is periodically increased and decreased in the photodetector 4. The output of this photodetector 4 is shown in FIG.
When self-injection locking is applied by adjusting the position of the optical feedback means 11, the oscillation spectrum line width is narrowed. This state corresponds to the portion where the amplitude intensity of the optical frequency noise in FIG. The deviated state corresponds to a large part of the amplitude intensity of the optical frequency noise. Therefore, it is necessary to control the position of the optical feedback means 11 in order to maintain the self-injection locked state.
【0015】本発明では、光検出器4の出力を2つに分
岐し、一方はレーザ周波数の安定化用に前述した差動ア
ンプ5に入力し、他方は検波手段14に入力する。この
検波手段14は、光周波数雑音のうち自己注入同期がか
かっている時と自己注入同期がはずれている時との振幅
強度の変化を、S/N比良く検出できる周波数帯域1M
Hz〜100MHzの光周波数雑音に対応する電気信号のみ
を透過させるフィルタ15と、このフィルタ15を透過
した光周波数雑音の振幅強度に対応する値を出力するレ
ベルメータ16とから成る。In the present invention, the output of the photodetector 4 is branched into two, one of which is input to the above-mentioned differential amplifier 5 for stabilizing the laser frequency, and the other of which is input to the detection means 14. The detection means 14 is a frequency band 1M capable of detecting a change in amplitude intensity between when the self-injection locking is applied and when the self-injection locking is out of the optical frequency noise, with a good S / N ratio.
The filter 15 is configured to transmit only an electric signal corresponding to the optical frequency noise of Hz to 100 MHz, and the level meter 16 for outputting a value corresponding to the amplitude intensity of the optical frequency noise transmitted through the filter 15.
【0016】フィルタ15を透過した特定の帯域の光周
波数雑音は、レベルメータ16に入り、その光周波数雑
音の振幅強度がレベルメータ出力VLとして得られる。こ
こで、フィルタ15を用いないと、レベルメータ16に
おいては半導体レーザ1の全光周波数雑音量が検出され
るが、この全光周波数雑音量は半導体レーザ1の発振ス
ペクトル線幅を狭くする前後で同量であるため、自己注
入同期がかかり光周波数雑音が最も低減される状態を保
持することができない。したがって、検出手段14にお
いてフィルタ15は不可欠な構成要素である。The optical frequency noise of a specific band transmitted through the filter 15 enters the level meter 16, and the amplitude intensity of the optical frequency noise is obtained as the level meter output VL. Here, if the filter 15 is not used, the level meter 16 detects the total optical frequency noise amount of the semiconductor laser 1, but this total optical frequency noise amount is before and after the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser 1 is narrowed. Since the amounts are the same, it is not possible to maintain a state in which self-injection locking is applied and optical frequency noise is most reduced. Therefore, the filter 15 is an indispensable component in the detection means 14.
【0017】図4(a)は光帰還手段11の位置を表
し、図4(b)は光帰還手段11の位置に対する光周波
数雑音を表し、図4(c)はレベルメータ16で出力さ
れる光帰還手段11の位置に対応した光周波数雑音の振
幅強度VL、図4(d)は光帰還手段11に位置変調を
かける変調信号源17からの変調信号で、光周波数雑音
の振幅強度を位相検波することによって位相検波器18
で得られるレベルメータ出力VLの微分値出力VRを表
している。図4から解るように、位相検波器18の微分
値出力VRが零(図4(d)中のD1、D2、D3に対
応)になるように帰還光路長調整器制御器13に電気的
負帰還をかけると、光周波数雑音が最も抑圧されること
になる。位相検波について、以下に詳しく述べる。FIG. 4A shows the position of the optical feedback means 11, FIG. 4B shows the optical frequency noise with respect to the position of the optical feedback means 11, and FIG. 4C shows the output by the level meter 16. Amplitude strength VL of the optical frequency noise corresponding to the position of the optical feedback means 11, FIG. 4D is a modulation signal from the modulation signal source 17 for performing position modulation on the optical feedback means 11, and the amplitude strength of the optical frequency noise is phased. By detecting the phase detector 18
The differential value output VR of the level meter output VL obtained by As can be seen from FIG. 4, the feedback optical path length adjuster controller 13 is electrically negative so that the differential value output VR of the phase detector 18 becomes zero (corresponding to D1, D2, D3 in FIG. 4D). When feedback is applied, optical frequency noise is most suppressed. The phase detection will be described in detail below.
【0018】変調信号源17から出力された変調信号で
光帰還手段11の位置Dhを変調すると、レベルメータ
16では図5(a)、図5(b)、図5(c)に示すよ
うな出力Vhが得られる。すなわち、レベルメータ16
の出力Vhは、光帰還手段11の位置Dhがレベルメー
タの出力が最小になる位置D1の右側にある場合には、
図5(a)のようになり、光帰還手段11の位置Dhが
レベルメータ出力が最小になる位置D1の左側にある場
合には、図5(b)のようになる。光帰還手段11の位
置DhがD1に合致した時には図5(c)のようにな
る。When the position Dh of the optical feedback means 11 is modulated by the modulation signal output from the modulation signal source 17, the level meter 16 displays the positions as shown in FIGS. 5 (a), 5 (b) and 5 (c). The output Vh is obtained. That is, the level meter 16
When the position Dh of the optical feedback unit 11 is on the right side of the position D1 where the output of the level meter is minimum,
As shown in FIG. 5A, when the position Dh of the optical feedback unit 11 is on the left side of the position D1 at which the level meter output is minimum, the result is as shown in FIG. 5B. When the position Dh of the optical feedback unit 11 matches D1, the result is as shown in FIG.
【0019】このレベルメータ16の出力Vhを、変調
信号源17からの変調信号と位相検波器18で位相検波
して、位置変調される光帰還手段11の中心位置Dhに
対する振幅の異なる2種類の山の振幅差をモニターする
と、位相検波器18ではレベルメータ16で出力される
光帰還手段12の位置変化に対する光周波数雑音の振幅
強度の微分値出力が得られる。光帰還手段11の位置D
hがレベルメータ出力が最小になる位置D1の近傍にあ
るとき、光帰還手段11の位置Dhとレベルメータ出力
が最小になる位置D1との差と、位相検波器出力VRと
の間には、直線関係があり、この位相検波器出力VRを
帰還光路長調整器制御器13に電気的負帰還を行い、位
相検波器出力VRが零になるようにすれば、光帰還手段
11の位置Dhはレベルメータ出力が最小になる位置D
1に安定化されることになり、光周波数雑音は最も抑圧
されることになる。The output Vh of the level meter 16 is phase-detected by the modulation signal from the modulation signal source 17 and the phase detector 18, and two kinds of different amplitudes with respect to the center position Dh of the position-modulated optical feedback means 11 are detected. When the amplitude difference of the peaks is monitored, the phase detector 18 can obtain the differential value output of the amplitude intensity of the optical frequency noise with respect to the position change of the optical feedback unit 12 output by the level meter 16. Position D of optical feedback means 11
When h is in the vicinity of the position D1 at which the level meter output is minimum, the difference between the position Dh of the optical feedback unit 11 and the position D1 at which the level meter output is minimum and the phase detector output VR are: There is a linear relationship, and if the phase detector output VR is electrically negatively fed back to the feedback optical path length adjuster controller 13 so that the phase detector output VR becomes zero, the position Dh of the optical feedback means 11 becomes. Position D where the level meter output becomes the minimum
It will be stabilized at 1, and the optical frequency noise will be suppressed most.
【0020】このように帰還光路長調整器制御器13と
変調信号源17と位相検波器18とから成る制御手段1
9によって半導体レーザ1の光周波数雑音を抑圧するこ
とができる。この制御手段19を含む第2の制御系20
により、半導体レーザ1から光帰還手段11までの光路
長Lを制御すれば、DCからC/2L[Hz](Cは空気
中における光速を表す)までの周波数雑音を抑圧するこ
とができる。このような自己注入同期系においては、半
導体レーザ1から光帰還手段11までの光路長Lを大き
くするにしたがって半導体レーザ1の発振スペクトル線
幅は狭くなる。As described above, the control means 1 including the feedback optical path length adjuster controller 13, the modulation signal source 17, and the phase detector 18
9 makes it possible to suppress the optical frequency noise of the semiconductor laser 1. A second control system 20 including this control means 19
Thus, if the optical path length L from the semiconductor laser 1 to the optical feedback means 11 is controlled, frequency noise from DC to C / 2L [Hz] (C represents the speed of light in air) can be suppressed. In such a self-injection locking system, the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser 1 becomes narrower as the optical path length L from the semiconductor laser 1 to the optical feedback means 11 is increased.
【0021】また、この実施例においては、光帰還手段
11により半導体レーザ1からの出射レーザ光を反射さ
せて半導体レーザ1内に帰還させていたが、図6に示す
ように、この出射レーザ光を一端がミラーコーティング
されたファイバ21内に入射し、このコーティング面に
より反射させ、再び半導体レーザ1内に帰還させること
も可能である。この場合、帰還光路長調整器12のまわ
りにファイバ21を巻き付け、該帰還光路長調整器12
を帰還光路長調整器制御器13で制御することにより、
ファイバ21中の導波路を光路とした光路長を調整し、
帰還させるレーザ光の位相を調整することで自己注入同
期を発生させ、半導体レーザ1の発振スペクトル線幅を
狭くすることもできる。Further, in this embodiment, the laser light emitted from the semiconductor laser 1 was reflected by the optical feedback means 11 and returned to the inside of the semiconductor laser 1. However, as shown in FIG. It is also possible to make the light incident on the inside of the fiber 21 whose one end is mirror-coated, to be reflected by this coating surface and to be returned to the inside of the semiconductor laser 1. In this case, the fiber 21 is wound around the return optical path length adjuster 12, and the return optical path length adjuster 12
By controlling the feedback optical path length adjuster controller 13,
Adjust the optical path length with the waveguide in the fiber 21 as the optical path,
By adjusting the phase of the laser light to be fed back, self-injection locking can be generated and the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser 1 can be narrowed.
【0022】このように、原子又は分子の線形吸収スペ
クトル線のスロープ部に半導体レーザ1のレーザ周波数
を安定化させ、同時に、原子又は分子の線形吸収スペク
トル線のスロープ部に周波数安定化された半導体レーザ
1からの出射レーザ光を半導体レーザ1内に帰還するこ
とにより、発振スペクトル線幅を狭くした狭線幅周波数
安定化光源を実現した。As described above, the laser frequency of the semiconductor laser 1 is stabilized at the slope portion of the linear absorption spectrum line of the atom or molecule, and at the same time, the frequency-stabilized semiconductor is stabilized at the slope portion of the linear absorption spectrum line of the atom or molecule. By returning the laser light emitted from the laser 1 to the semiconductor laser 1, a narrow linewidth frequency stabilized light source with a narrow oscillation spectrum linewidth was realized.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上述べたように、本発明による狭線幅
周波数安定化光源は、レーザ光の周波数変動量を光強度
変動量に変換する周波数弁別器として、例えば原子又は
分子の吸収線を使うこともできるため、このような吸収
線に光周波数を安定化し、且つ周波数安定化された出射
レーザ光を半導体レーザに帰還する際に、光周波数雑音
が最も抑圧される位置に光帰還手段を合わせることで自
己注入同期を発生させ、半導体レーザの発振スペクトル
線幅を狭くすることにより、次に示すような効果を有す
る。 (1)周波数基準として周波数弁別器の周波数特性のス
ロープ部を用いて半導体レーザの発振周波数を安定化し
たことにより、共焦点共振器の代わりに平面鏡を用いる
ことが出来るようになり、これによって周囲の温度変化
や振動又は機械的な劣化に対する許容度が増大し、自己
注入同期による半導体レーザの発振スペクトル線幅の狭
窄度の変動が低減され、同時に光学系が簡易且つ安価に
なった。 (2)平面鏡を用いて半導体レーザ内にレーザ光を帰還
する光学系を採用したことにより、周波数弁別器として
原子又は分子を封入した吸収セルのように半導体レーザ
の発振周波数に対して長期周波数安定性及び再現性を与
えるような周波数基準を採用することが出来るようにな
った。As described above, the narrow linewidth frequency stabilizing light source according to the present invention serves as a frequency discriminator for converting the frequency fluctuation amount of laser light into the light intensity fluctuation amount, for example, an absorption line of an atom or a molecule. Since it can also be used, when an optical frequency is stabilized on such an absorption line, and when the frequency-stabilized emitted laser light is fed back to the semiconductor laser, an optical feedback means is provided at a position where optical frequency noise is most suppressed. The self-injection locking is generated by matching and the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser is narrowed, so that the following effects are obtained. (1) By stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser by using the slope portion of the frequency characteristic of the frequency discriminator as the frequency reference, it becomes possible to use a plane mirror instead of the confocal resonator. The tolerance for the temperature change, vibration, or mechanical deterioration is increased, and the fluctuation of the narrowing degree of the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser due to self-injection locking is reduced, and at the same time, the optical system becomes simple and inexpensive. (2) By adopting an optical system that returns laser light into the semiconductor laser using a plane mirror, long-term frequency stability against the oscillation frequency of the semiconductor laser, such as an absorption cell in which atoms or molecules are enclosed as a frequency discriminator It has become possible to adopt a frequency reference that gives good performance and reproducibility.
【図1】本発明に係る狭線幅周波数安定化光源の構成の
一実施例を示す。FIG. 1 shows an embodiment of the configuration of a narrow linewidth frequency stabilized light source according to the present invention.
【図2】光検出器で出力される、吸収セル内に封入され
た原子又は分子の線形吸収スペクトル線を示す。FIG. 2 shows the linear absorption spectral line of an atom or molecule encapsulated in an absorption cell output at a photodetector.
【図3】光帰還手段の位置を可変した時、原子又は分子
の線形吸収スペクトル線のスロープ部によりFM/AM
変換された光周波数雑音の様子を示す。FIG. 3 shows the FM / AM due to the slope portion of the linear absorption spectrum line of atoms or molecules when the position of the optical feedback means is changed.
A state of the converted optical frequency noise is shown.
【図4】(a)光帰還手段の位置を表す。FIG. 4A shows the position of an optical feedback unit.
【図4】(b)光帰還手段の位置に対する光周波数雑音
を表す。FIG. 4B shows optical frequency noise with respect to the position of the optical feedback unit.
【図4】(c)光周波数雑音の振幅強度を表す。FIG. 4C shows the amplitude intensity of optical frequency noise.
【図4】(d)位相検波器で得られるレベルメータ出力
の微分波形を表す。FIG. 4 (d) shows a differential waveform of the level meter output obtained by the phase detector.
【図5】変調信号源から出力された変調信号により光帰
還手段の位置を変調したときのレベルメータ出力波形を
示す。FIG. 5 shows a level meter output waveform when the position of the optical feedback unit is modulated by the modulation signal output from the modulation signal source.
【図6】半導体レーザから出射されたレーザ光をファイ
バに入射し、コーティング面で反射させて、再度半導体
レーザ内に入射させることにより、半導体レーザの発振
スペクトル線幅を狭くする光学系を示す。FIG. 6 shows an optical system in which a laser beam emitted from a semiconductor laser is incident on a fiber, reflected by a coating surface, and then re-incident inside the semiconductor laser to narrow the oscillation spectrum line width of the semiconductor laser.
1:半導体レーザ 2:第1の分岐手段 3:周波数弁別器(吸収セル) 4:光検出器 5:差動アンプ 6:基準信号発生手段 7:半導体レーザ駆動電流源 8:周波数安定化手段 9:第1の制御系 10:第2の分岐手段 11:光帰還手段 12:帰還光路長調整器 13:帰還光路長調整器制御器 14:検波手段 15:フィルタ 16:レベルメータ 17:変調信号源 18:位相検波器 19:制御手段 20:第2の制御系 21:ファイバ 1: Semiconductor laser 2: First branching means 3: Frequency discriminator (absorption cell) 4: Photodetector 5: Differential amplifier 6: Reference signal generating means 7: Semiconductor laser driving current source 8: Frequency stabilizing means 9 : First control system 10: Second branching means 11: Optical feedback means 12: Returning optical path length adjuster 13: Returning optical path length adjuster controller 14: Detection means 15: Filter 16: Level meter 17: Modulation signal source 18: Phase detector 19: Control means 20: Second control system 21: Fiber
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成6年5月13日[Submission date] May 13, 1994
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】図面の簡単な説明[Name of item to be corrected] Brief description of the drawing
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図1】本発明に係る狭線幅周波数安定化光源の構成の
一実施例を示す。FIG. 1 shows an embodiment of the configuration of a narrow linewidth frequency stabilized light source according to the present invention.
【図2】光検出器で出力される、吸収セル内に封入され
た原子又は分子の線形吸収スペクトル線を示す。FIG. 2 shows the linear absorption spectral line of an atom or molecule encapsulated in an absorption cell output at a photodetector.
【図3】光帰還手段の位置を可変した時、原子又は分子
の線形吸収スペクトル線のスロープ部によりFM/AM
変換された光周波数雑音の様子を示す。FIG. 3 shows the FM / AM due to the slope portion of the linear absorption spectrum line of atoms or molecules when the position of the optical feedback means is changed.
A state of the converted optical frequency noise is shown.
【図4】(a)光帰還手段の位置を表す。 (b)光帰還手段の位置に対する光周波数雑音を表す。 (c)光周波数雑音の振幅強度を表す。 (d)位相検波器で得られるレベルメータ出力の微分波
形を表す。FIG. 4A shows the position of an optical feedback unit. (B) Represents optical frequency noise with respect to the position of the optical feedback means. (C) Represents the amplitude strength of optical frequency noise. (D) Shows the differential waveform of the level meter output obtained by the phase detector.
【図5】光帰還手段の位置Dhが、レベルメータの出力
が最小になる位置D1の右側にあるときのレベルメータ
出力波形を示す。FIG. 5 shows a level meter output waveform when the position Dh of the optical feedback unit is on the right side of the position D1 at which the output of the level meter is minimized.
【図6】光帰還手段の位置Dhが、レベルメータの出力
が最小になる位置D1の左側にあるときのレベルメータ
出力波形を示す。FIG. 6 shows a level meter output waveform when the position Dh of the optical feedback unit is on the left side of the position D1 where the output of the level meter is minimum.
【図7】光帰還手段の位置Dhが、レベルメータの出力
が最小になる位置D1に一致したときのレベルメータ出
力波形を示す。FIG. 7 shows a level meter output waveform when the position Dh of the optical feedback unit coincides with the position D1 where the output of the level meter becomes minimum.
【図8】半導体レーザから出射されたレーザ光をファイ
バに入射し、コーティング面で反射させて、再度半導体
レーザ内に入射させることにより、半導体レーザの発振
スペクトル線幅を狭くする光学系を示す。FIG. 8 shows an optical system for narrowing the oscillation spectrum line width of a semiconductor laser by making laser light emitted from a semiconductor laser incident on a fiber, reflecting it by a coating surface, and making it enter the inside of the semiconductor laser again.
【符号の説明】 1 半導体レーザ 2 第1の分岐手段 3 周波数弁別器(吸収セル) 4 光検出器 5 差動アンプ 6 基準信号発生手段 7 半導体レーザ駆動電流源 8 周波数安定化手段 9 第1の制御系 10 第2の分岐手段 11 光帰還手段 12 帰還光路長調整器 13 帰還光路長調整器制御器 14 検波手段 15 フィルタ 16 レベルメータ 17 変調信号源 18 位相検波器 19 制御手段 20 第2の制御系 21 ファイバ[Description of Reference Signs] 1 semiconductor laser 2 first branching means 3 frequency discriminator (absorption cell) 4 photodetector 5 differential amplifier 6 reference signal generating means 7 semiconductor laser drive current source 8 frequency stabilizing means 9 first Control system 10 Second branching means 11 Optical feedback means 12 Feedback optical path length adjuster 13 Feedback optical path length adjuster controller 14 Detection means 15 Filter 16 Level meter 17 Modulation signal source 18 Phase detector 19 Control means 20 Second control System 21 fiber
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing
【補正対象項目名】全図[Correction target item name] All drawings
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【図1】 [Figure 1]
【図2】 [Fig. 2]
【図3】 [Figure 3]
【図8】 [Figure 8]
【図4】 [Figure 4]
【図5】 [Figure 5]
【図6】 [Figure 6]
【図7】 [Figure 7]
Claims (2)
の発振周波数を安定化させる少なくとも該半導体レーザ
から出射されたレーザ光の周波数変動を光強度変動に変
換する周波数弁別器(3)と該周波数弁別器を透過した
レーザ光強度を電気信号に変換出力する光検出器(4)
とを備えた周波数安定化手段(8)と、前記半導体レー
ザより出射されたレーザ光の一部を受けてこのレーザ光
を前記半導体レーザに戻す光帰還手段(11)と、前記
半導体レーザより出射されたレーザ光が前記光帰還手段
を経て該半導体レーザへ帰還するまでの光路長を可変さ
せる帰還光路長調整器(12)と、前記光検出器から出
力された電気信号から所望の帯域の電気信号のみを透過
させ、この透過した電気信号の振幅強度を測定する検波
手段(14)と、該検波手段の出力を受けて前記振幅強
度を低減させるべく前記帰還光路長調整器を制御する制
御手段(19)とを備えたことを特徴とする狭線幅周波
数安定化光源。1. A semiconductor laser (1), a frequency discriminator (3) for stabilizing the oscillation frequency of the semiconductor laser, and converting a frequency fluctuation of at least laser light emitted from the semiconductor laser into a light intensity fluctuation, and Photodetector that converts the laser light intensity transmitted through the frequency discriminator into an electrical signal and outputs it (4)
A frequency stabilizing means (8), a light feedback means (11) for receiving a part of the laser light emitted from the semiconductor laser and returning the laser light to the semiconductor laser, and emitting the light from the semiconductor laser. A feedback optical path length adjuster (12) for varying the optical path length of the reflected laser light before returning to the semiconductor laser through the optical feedback means, and an electric signal of a desired band from the electric signal output from the photodetector. A detection means (14) for transmitting only a signal and measuring the amplitude intensity of the transmitted electric signal, and a control means for receiving the output of the detection means and controlling the feedback optical path length adjuster to reduce the amplitude intensity. (19) A narrow linewidth frequency-stabilized light source comprising:
数において吸収を呈する原子又は分子を封入した吸収セ
ルであることを特徴とする請求項1に記載の狭線幅周波
数安定化光源。2. The narrow linewidth frequency stabilized light source according to claim 1, wherein the frequency discriminator (3) is an absorption cell enclosing atoms or molecules exhibiting absorption at a predetermined frequency.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25581591A JP3165193B2 (en) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | Narrow linewidth frequency stabilized light source |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25581591A JP3165193B2 (en) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | Narrow linewidth frequency stabilized light source |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06318759A true JPH06318759A (en) | 1994-11-15 |
JP3165193B2 JP3165193B2 (en) | 2001-05-14 |
Family
ID=17284014
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25581591A Expired - Fee Related JP3165193B2 (en) | 1991-09-06 | 1991-09-06 | Narrow linewidth frequency stabilized light source |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3165193B2 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008084888A (en) * | 2006-09-25 | 2008-04-10 | Advantest Corp | Optical frequency stabilization light source and optical frequency stabilizer |
KR100892017B1 (en) * | 2006-11-07 | 2009-04-07 | 캐논 가부시끼가이샤 | Injection-locked pulsed laser, interferometer, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US7608808B2 (en) | 2006-11-07 | 2009-10-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Injection-locked pulsed laser with high wavelength stability |
CN115064935A (en) * | 2022-06-16 | 2022-09-16 | 中国科学院国家授时中心 | Laser control device and method for simultaneously realizing frequency stability and line width narrowing |
CN117374734A (en) * | 2023-12-08 | 2024-01-09 | 杭州视光半导体科技有限公司 | Self-injection locking narrow linewidth multi-wavelength laser based on optical resonator |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102593715B (en) * | 2012-03-09 | 2013-12-25 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | Frequency stabilizing device of semiconductor laser and adjusting method thereof |
-
1991
- 1991-09-06 JP JP25581591A patent/JP3165193B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008084888A (en) * | 2006-09-25 | 2008-04-10 | Advantest Corp | Optical frequency stabilization light source and optical frequency stabilizer |
KR100892017B1 (en) * | 2006-11-07 | 2009-04-07 | 캐논 가부시끼가이샤 | Injection-locked pulsed laser, interferometer, exposure apparatus, and device manufacturing method |
US7608808B2 (en) | 2006-11-07 | 2009-10-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Injection-locked pulsed laser with high wavelength stability |
US7910871B2 (en) | 2006-11-07 | 2011-03-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Injection-locked laser, interferometer, exposure apparatus, and device manufacturing method |
CN115064935A (en) * | 2022-06-16 | 2022-09-16 | 中国科学院国家授时中心 | Laser control device and method for simultaneously realizing frequency stability and line width narrowing |
CN117374734A (en) * | 2023-12-08 | 2024-01-09 | 杭州视光半导体科技有限公司 | Self-injection locking narrow linewidth multi-wavelength laser based on optical resonator |
CN117374734B (en) * | 2023-12-08 | 2024-03-15 | 杭州视光半导体科技有限公司 | Self-injection locking narrow linewidth multi-wavelength laser based on optical resonator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3165193B2 (en) | 2001-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6891149B1 (en) | Optical phase detector | |
KR100733172B1 (en) | Tunable laser control system | |
US7471710B2 (en) | Narrow linewidth semiconductor laser device | |
JPH0766482A (en) | Variable wavelength light source | |
US4730105A (en) | Apparatus for the stabilization of the output intensity of a laser using a Fabry-Perot cavity | |
US3697887A (en) | Laser frequency stabilization system and method | |
CN107482476A (en) | A kind of laser frequency stabilising arrangement | |
US8264284B2 (en) | Atomic frequency acquisition device based on self-mixing interference | |
JP3054494B2 (en) | Wavelength stabilized light source device | |
KR0160925B1 (en) | Bit frequency stabilization apparatus of pulse light and probe light for detecting the distribution of optical fiber strain | |
JPH06318759A (en) | Narrow-line width frequency stabilizing light source | |
US4987574A (en) | Helium-neon lasers | |
US4964132A (en) | Laser arrangement with frequency stabilized and intensity stabilized laser emission | |
US11539185B2 (en) | Laser apparatus | |
JP2937418B2 (en) | Semiconductor laser device | |
KR100559185B1 (en) | Method and apparatus for stabilizing laser frequency using electromagnetically induced transparency | |
KR102620196B1 (en) | Laser Oscillation Apparatus Capable of Stabilizing Frequency Characteristics of Laser to Be Oscillated | |
US6243401B1 (en) | Methods and apparatus for wavelength measurement and tracking using a semiconductor laser amplifier | |
JPH067099B2 (en) | Gas sensor using tunable etalon | |
JP3145504B2 (en) | Laser frequency sweep device | |
JP2002100833A (en) | Method of generating high-precision optical frequency marker, and apparatus | |
JPH04115584A (en) | Frequency stabilized semiconductor laser | |
KR0128526B1 (en) | Tunable laser stabilizing system and detector | |
JPH04100286A (en) | Optical frequency stabilized light source | |
JPH0327859B2 (en) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |