JPH06314808A - 光電変換半導体装置 - Google Patents

光電変換半導体装置

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JPH06314808A
JPH06314808A JP5173708A JP17370893A JPH06314808A JP H06314808 A JPH06314808 A JP H06314808A JP 5173708 A JP5173708 A JP 5173708A JP 17370893 A JP17370893 A JP 17370893A JP H06314808 A JPH06314808 A JP H06314808A
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electrode
photoelectric conversion
electrodes
semiconductor
crystal semiconductor
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JP5173708A
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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光電変換素子を複数直列接続した構造の光電
変換装置の直列抵抗を小さくすること。 【構成】 絶縁表面を有する透光性有機樹脂基板上に導
電膜の第1の電極、該第1の電極上の光照射により光起
電力を発生させる非単結晶半導体、および前記非単結晶
半導体上の第2の電極を有する光電変換素子を複数個集
積化して前記有機樹脂基板上に設けるに際し、隣合う前
記光電変換素子の第1および第2の電極は前記非単結晶
半導体の両側端部に至らない内部で電気的に直列に連結
させた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光電変換素子または
セル(以下単にセルという)を絶縁表面を有する可曲性
の透光性有機樹脂基板上にレーザスクライブ方法を用い
て複合化するに関し、装置全体としての低価格化を成就
した光電変換装置の作製方法に関する。
【0002】
【発明の概要】この発明は、有機樹脂薄膜とこの上面の
透光性導電膜(CTFという)とがレーザスクライブ
(以下LSという)を実施するのに際し、CTFをスク
ライブしつつも有機樹脂薄膜にまったく損傷を与えるこ
とのない条件が実験的に存在することを見いだし、この
事実を利用して半導体装置特に光電変換装置を作製せん
としたものである。このため、本発明においては、活性
領域に設けられたセルにおける透光性有機樹脂薄膜(以
下OFという)の基板上に、第1の電極と、この電極上
に光照射により光起電力を発生する非単結晶半導体と、
該半導体上の第2の電極とよりなる複数の素子を直列接
続して配設するに関し、隣合った素子間の電気的連結を
活性領域の内部にコンタクトを設けて成就したことを特
長とする。光電変換装置の安価、多量生産のための基板
として可曲性の有機薄膜の使用が求められてきた。
【0003】本発明はこのOF側よりの光照射を可能と
する透光性のOFと、その上の酸化インジュームまたは
酸化スズを主成分とする導電性酸化膜よりなるCTFに
対して、レーザ光を照射した時、このOFを損傷せずに
CTFを選択的に除去することができる条件を実験的に
検討したところ、そのレーザ光を1つの場所に長時間
(数十m秒以上)照射することなく、また走査(スキャ
ン)スピードを適切化することにより、CTFのみを除
去することが可能であることを見いだした。即ち、レー
ザ光の照射によりOFは熱伝導率が小さい(一般には1
〜7×10-4Cal/sec/cm2 /℃/cm)た
め、同じ位置に繰り返しレーザパルスを加えると、この
有機樹脂内に熱が蓄積され、この熱で樹脂が炭化され切
断されてしまう。しかしその繰り返しを1回または数回
とすると、このOFの熱伝導率がCTFの1/103
あるため、逆にCTFのみを選択的にレーザ光の照射さ
れた場所のみ除去することができることを見いだした。
【0004】
【従来の技術】従来、非単結晶半導体即ちアモルファス
シリコンを含む非単結晶シリコンを主成分としたPIN
接合により、光起電力を光照射により発生させんとして
いた。しかしかかる接合を有する半導体の上下の電極は
直列接続をするため、1つのセルの下側電極と隣のセル
の上側電極とを電気的に連結を活性領域の「外側」でさ
せなければならず、かつ各セル間は互いに電気的にアイ
ソレイトされていることを必要な条件としていた。
【0005】図1は従来構造の代表的な例を示してい
る。図1(A)は光電変換装置(1)を透光性のガラス
基板(2)を下側にした背面より見た平面図である。図
面において、光照射により光起電力を発生する活性領域
(14)と、各セル(11),(13)を連結する連結
部(12)を有する非活性領域(15)とを有する。図
1(A)のA─A’,B−B’の縦断面図を対応させて
(B),(C)に示していることより明らかなごとく、
活性領域において各セル(11),(13)はガラス基
板(2)上の第1の電極の透光性導電膜(CTF)の
(3)は各セル間で互いに分離されている。また半導体
(4)は各セル間にて互いに連結されている。また非活
性領域において、セル(13)の上側電極は、セル(1
1)の下側電極と連結部(6),(7)でのコンタクト
(18)で連結し、これを繰り返し5つのセルを外部電
極(8),(9)間にて直列接続をさせている。
【0006】しかしこの従来構造は一見半導体(4)が
1枚であるため製造歩留りが高いように見える。しかし
実際には3種類(第1の導電膜のパターニング用の第1
のマスク、非活性領域形成のための第2のマスク、第2
の導電膜のパターニング用の第3のマスク)のマスクを
用いるが、そのマスクにおいて第1のマスクと第3のマ
スクとがセルファライン方式でないため、マスクずれを
起こしやすい。このずれ(即ち金属マスクにおいては
0.3〜1mmのずれはごく当然である)により、セル
の有効面積が10〜20%も実質的に減少してしまうこ
とが判明した。さらにマスクを用いるため、図1(B)
の活性領域での電極間の開溝であるアイソレイション領
域(22)は、0.2〜1mm例えば0.5mmを有す
るため、セル巾を10mmとする時、2mmずれるとす
るとセル巾(11)は8mmとなり、アイソレイション
巾(22)は2.5mmとなってしまい、20%近くも
有効面積が減少してしまう。またセルの外枠(10)の
占める面積も5〜7%もある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このため上下の電極の
組合せをセルフレジストレイション化することがその効
率の向上のために強く求められていた。また第1図の従
来例においては、基板に非活性領域(15)が設けら
れ、この非活性領域は基板全体における20〜30%も
占めてしまう。このためプロセス上の効率が低くなり、
ひいては製造コストの低下を図ることができない。この
ため非活性領域が存在しない光電変換装置を作ることが
きわめて重要であった。さらに基板がガラス基板である
ため、機械ストレスにより破損しやすい。このため基板
として透光性の可曲性のOFが低価格化、耐機械破損防
止のため求められていた。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明はかかる目的を成
就するためになされたものである。即ち本発明において
は、光照射面側からは複数の第1の電極の分離用の開溝
(巾5〜70μ)が見られるのみである。さらに図1
(A)における領域(15)のごとき非活性領域がまっ
たく存在せず、連結部が即ち各セルのアイソレイション
領域を構成せしめている。加えてLSを用いるマスクレ
スプロセスであるため、第1の開溝をテレビモニターで
積層して、その開溝を基準として所定の位置に光学的に
パターニングを行ういわゆるコンピュータ・エイデッド
・セルフレジストレイション方式を採用することが可能
になった。また第1のセルの第1の電極と、第2のセル
の第2の電極との連結部のコンタクトは、基板の半導体
「内部」(この図2では中央部)に設け、従来例とその
コンタクトの位置がまったく異なる。さらにこの内部コ
ンタクトにより、透光性導電膜の光電変換装置に与える
直列抵抗を小さくできる。この結果、連結部をセルの外
側に設けなかったことにより、著しくその有効面積の効
率の向上を図ることができた。さらにこのコンタクトが
隣合うセル間の半導体をすべて切断する構造で開溝を作
るのではなく、その開溝(20〜90μφ)を1つまた
は複数個不連続に設けることにより、この開溝の存在が
透光性OF面側より実質的に肉眼で見い出し得ず、商品
的にスクライブラインが目障りにならないようにできた
という他の特長を有する。またコンタクトが開孔である
ため、その孔の側周辺のすべての側面が第1の電極と第
2の電極との連結部のコンタクトを構成させることがで
き、この部分での接触抵抗を1 Ω以下に下げることがで
きた。本発明はかかる多くの特長を有するものであっ
て、以下に図面に従ってその詳細を記す。
【0009】
【実施例】図2は本発明の光電変換装置の製造工程およ
び装置を示すものである。図面において、絶縁表面を有
する透光性有機樹脂薄膜基板例えば住友ベークライト社
製スミライト(連続使用温度150〜300℃、光線透
光率80〜92%(厚さ100μ)。熱伝導率3〜7×
10-4Cal/sec/cm2 /℃/cm)を透光性基
板(2)(例えば厚さ100μ、長さ(図面では左右方
向)60cm、巾20cm)として用いた。さらにこの
上面に全面にわたって透光性導電膜例えばITO(約1
500Å)+SnO2 (200〜400Å)またはハロ
ゲン元素が添加された酸化スズを主成分とする透光性導
電膜(1500〜2000Å)を真空蒸着法、プラズマ
CVD法またはスプレー法により形成させた。OFとし
て例えば住友ベークライト社製スミライトFS−130
0を用いた。このOFは連続使用上限温度180℃、熱
伝導率4.3×10-4Cal/sec/cm2/℃/c
m、光線透光率86.3%(100μの厚さとする)、
表面抵抗率5.4×1014Ω、体積抵抗率1.7×10
16Ωcmをその代表例として有する。このOF上にスパ
ッタ法にてITOを700Åの厚さに形成させた。する
とそのシート抵抗は200Ω/□を有していた。
【0010】この図面は4つのセルを直列接続せしめた
場合である。即ち本発明の光電変換装置は、活性領域
(14)を同一基板に100〜2000ケ同時に有する
より大きい20cm×60cmの基体を用いた。各セル
では、第1の導電膜を基体全面に形成した。さらにこの
導電膜を所定の形状にレーザ(ここでは1.06μまた
は0.53μの波長のYAGレーザ)スクライブをマイ
クロコンピュータにより記憶され制御されたパターンに
従って行って第1の開溝(16)を形成した。さらにセ
ルの外側でのリークを除去するため、分離用開溝(2
6),(26’)を形成させた。そしてセル領域(1
1),(13)および外部接続用電極部(8),(9)
を形成させた。即ち、ここにYAGレーザ(発光波長
1.06μ、焦点距離50mm、光径50μ)を照射し
た。その条件として、繰り返し同時に6KHz,平均出
力1.3W,スキャンスピード(走査速度、以下SSと
いう)60cm/分とした。
【0011】スクライビングにより形成された開溝(1
6)は巾約70μ、長さ20cm(図面では1cm)、
深さはOFのそれぞれの第1の電極を完全に切断分離し
た。第1の素子(11)および第2の素子(13)を構
成する巾は10mmとした。この時電子顕微鏡にて調べ
た範囲では、OF表面には何等の損傷もまた部分的な劣
化も見られなかった。このレーザ光は1600℃以上の
温度を有すると推察されるが、連続使用上限温度が18
0℃程度の低い耐熱性しか有さないOFに何等損傷を与
えなかった。即ち、OF上のCTFに対し、選択的に開
溝(16)を作製することができることがわかった。そ
の上、2つのプロープ間には1MΩ以上の抵抗(巾は1
cmとする)を得ることができた。
【0012】図3はレーザ光の繰り返し周波数を可変に
したもので、開溝が形成される場合の電気抵抗を示す。
図面において、スキャンスピード60cm/分、平均出
力0.8W,光径50μのYAGレーザを用いた。する
とその周波数を10KHzより下げてゆくと、曲線(4
5)は7KHz以下で不連続に1MΩ以上(45’)と
なって電気的にアイソレイションを行うことができるよ
うになったことが判明した。しかしこの周波数が4KH
z以下ではこのCTFに加えて下地のOFをもその中心
部(ガウス分布のエネルギ密度の最も高い領域)で損傷
してしまった。このことにより、OF上のCTFのLS
(レーザスクライブ)には(44)に示す範囲が適して
いた。
【0013】さらに、この下地のOFに損傷を与えるこ
となくCTFのみを除去する領域を調べたところ、図4
を得た。即ち、SSを0〜120cm/分、平均出力0
〜3W、繰り返し周波数6KHz、焦点距離50cm、
レーザ光の直径50μのYAGレーザとすると、領域
(49)即ち点A,B,C,D,E,Fで囲まれる範囲
はOFの損傷がなくCTFのみで除去することができ
た。
【0014】さらに領域(47)はCTFすらも除去す
ることができない領域であり、領域(46)はパルス光
がCTF上で連続せず、破線のごとく不連続な穴溝を得
たのみであった。領域(48)は。CTFのみならず下
地のOFに対しても損傷を与えてしまった領域であっ
た。このことにより下地のOFに対して損傷を与えるこ
となく、CTFのみを選択的に開溝として除去すること
のできる領域(19)があることがわかった。
【0015】図2(A)の平面図またA─A’, F─
F’における縦断面図を(A─1)((A─2)にそれ
ぞれ示す。次に図2(B)の平面図に示すごとく、光照
射により光起電力を発生する水素または弗素が添加され
た非単結晶半導体を、この電極(3)、開溝(16)の
すべての上面に均質の膜厚に形成させる。この半導体
(4)は例えばSix 1-x (0<x<1一般にはx=
0.7〜0.8)のP型を約100Åの厚さに、さらに
I型の水素またはハロゲン元素が添加された珪素を主成
分とする半導体を0.4〜0.8μの厚さに、さらにN
型の微結晶化した珪素またはN型のSix 1-x (0<
x<1 x〜0.9)を主成分とする半導体のPIN接
合構造とした。もちろんこれをP(Six 1-x x=
0.7〜0.8)─I(Si)─N(μCSi)─P
(Six 1-x x=0.7〜0.8)─I(Six
1-x x=0.6〜0.8)─N(微結晶化CSiま
たはSix 1-x 0<x<1)といったPINPIN
構造のタンデム構造としてもよい。
【0016】さらに第2の開孔(15)をレーザ光によ
り形成させ、図2(B)におけるB−B’,C−C’の
縦断面図を(B−1)、(B─2)に対応して示してい
る。かくして第2の開孔(15)はOFの表面には損傷
を与えずに第1の電極の側面(17)を露出させた。こ
の時、CTFの上端部を0〜5μの巾で露呈させる結
果、連結はCTF(3)の側面および上面が連結部のコ
ンタクトを構成する。この第2の開孔(15)の形成条
件は第1の開溝を形成する条件とレーザ光をパルスを不
連続に(15)の位置のみに加える以外は同一である。
即ち、半導体の存在は実質的に無視しても差支えなく、
図3、図4の特性を用いることができた。もちろん、こ
のレーザ光をさらに1/2程度に弱くしてCTFをスク
ライブさせず半導体のみをスクライブし、コンタクトと
してCTFの上部(上表面)としてもよい。
【0017】次に図2(C)のパターンを形成させた。
図2(C)のD−D’,E−E’,G─G’に対応した
縦断面図を(C─2),(C─3),(C─1)に示し
ている。即ち、半導体(4)上に第2の電極を電子ビー
ム蒸着法によりITOを100〜1600Å例えば10
50Åの厚さに設け、さらにクロムを主成分とする金属
を500〜2000Åの厚さに形成させた。すると、開
口(15)において、第1の透光性導電膜(3)の側面
(17)に対し、ITOの導電性酸化物がコンタクト
し、オーム接触をさせることができた。
【0018】このクロムは融点1800℃、沸点266
0℃、熱伝導度0.2cal/(cm.sec.de
g)を有している。特にこの熱伝導率は他が金属例えば
チタンの0.05に比べて4倍を有し、銀の0.998
の1/5であり、この熱伝導率が0.1〜0.3の範囲
がレーザ加工にもっとも好ましいと推定される。即ち、
レーザ照射でアルミニューム等の酸化物を作りにくく、
かつ下地と反応しにくい金属として特にすぐれたもので
あった。またこの下のITOがないとレーザ光は下側の
半導体をも容易にスクライブし、その周辺を多結晶半導
体化してしまった。またITOのみではレーザ光が透過
し、半導体のみを実質的にスクライブしてしまった。こ
れらのことより、裏面電極はITOとクロムとの2層膜
が最適であった。
【0019】裏面電極の反射性を利用して特性改良を図
るには、前記したITO(1050Å)+Ti(20
Å)またはAg(100〜200Å)+Cr(1000
〜3000Å)が好ましかった。この後、図2(C)に
おいてレーザスクライブ(20)を行った。これはYA
Gレーザ(波長1.06μ,0.53μ)をテレビモニ
ターにて第1の開溝をモニターしつつ、それより50〜
200μ第2のセル側(13)にはいった位置にて開溝
を作った。レーザ光の平均出力0.5〜1.3Wとし、
ビーム径30〜50μφ、ビーム走査スピード0.1〜
1m/分、一般には0.3m/分として行った。
【0020】かくするとITO+Crの組合せにより熱
伝導率が他の金属に比べて適度に小さいため、半導体に
その熱を伝え、この半導体に導電性の多結晶体とずれる
ことなくこの第2の電極用の導体のみをスクライブして
除去させることができた。さらにこの第3の開溝(2
0)をアセトン等の洗浄溶液にて溶去することは残存物
を除去するために好ましい。
【0021】またこの半導体(3)がP型半導体層、I
型半導体層、N型半導体層と例えば1つの,PIN接合
を有し、このN型半導体層が微結晶または多結晶構造を
有する。その電気伝導度が1〜200(Ωcm)-1と高
い伝導度を持つ場合、本発明のN型半導体層を室温〜1
50℃の温度で酸化(10〜200時間)させ、絶縁物
化することによりパッシベイションおよびリーク電流発
生を防止することはきわめて重要であった。
【0022】かくして、連結部(12)において、セル
(13)の第1の電極(23’)と、セル(11)の第
2の電極(25)とが酸化物コンタクトによりオーム接
触を第2の開溝(18)を介してしている。特に連結部
(12)におけるコンタクト(17)は、第2の開孔
(15)により作られた第1の電極の側面または側面と
0〜5μの巾の第1の電極の上端面とで成就され、いわ
ゆるサイドコンタクト構造を有している。即ち2つのセ
ルはわずか10〜70μφの第2の開孔のサイドコンタ
クトで十分であり、この部分に第2の電極を構成する材
料を密接させて電気的に直列接続をさせている。(C─
1),(C─2)の縦断面図より明らかなごとく、半導
体(4)上に第2の電極(5)が形成されているにすぎ
ない。そしてこの第3の開溝(20)はその下の半導体
を多結晶化することなく、また実質的に半導体をえぐる
ことなく電極のみを分離して各素子の第2の電極間を電
気的にアイソレイトさせることができた。さらに図2
(C)において、これらの上面に有機樹脂(28)例え
ばシリコーン、エポキシまたはポリイミドを10〜10
0μの厚さにコーティングして完成させている。
【0023】その結果、この図面より明らかなごとく、
この光電変換装置は、例えば図面に示されているごと
く、1cm×5cmの光電変換装置を同じ大きさの透光
性OF上に1つ作るのではなく、20cm×20cmま
たは20cm×60cmまたは40cm×40cmの大
きな同一透光性OF基板上に一度に多数の光電変換装置
を作ることが可能となった。
【0024】そして最後にこれらを(70)の境界で裁
断法により切断し、それぞれの光電変換装置にした。こ
のためには、従来より知られた光電変換装置のごとく活
性領域と非活性領域とを作るのではなく、すべて実質的
に活性領域とし、かつレーザ光による開溝を端から端ま
で作り、レーザ光の走査スピードを大きなOF上で常に
一定にさせていることが重要である。さもないと、SS
が遅い部分ではOFに損傷がおきてしまうからである。
【0025】図2(C)での開溝(20),(27),
(27’)が端から端まで走査されているのは、量産化
を考えた時重要である。もちろんこれらの開溝は入射光
側からはまったく見られないため高商品価値化を下げな
い。また図2(C)において明らかなごとく、セルの有
効面積は連結部(12)の10〜300μ巾のきわめて
わずかな部分を除いて他のすべてが有効であり、実効面
積は90%以上を得ることができ、従来例の80%に比
べ本発明構造は格段に優れたものであった。これらのこ
とを考慮すると、本発明は以下の大きな特長を有するこ
とが判明した。
【0026】
【発明の効果】即ち、本発明は〔1〕透光性有機樹脂膜
の大面積基板に同時に多数の光電変換装置を作り、これ
を分割して各基板上に1つの光電変換装置を作る方式を
採用することにより低価格の製造が可能となった。この
ため、従来の1/3〜1/5の価格(1ケあたり30〜
50円)での製造が可能である。〔2〕第1の開溝と第
2の開孔、第3の開溝とがコンピュータにより制御され
たセルフレジストレイション方式のため、セルの有効面
積が大きく、かつその同一バッチで作られた各光電変換
装置間のバラツキが少ない〔3〕LSによるマスクレス
工程であるため、製造歩留りが高い〔4〕各セル間分離
の第1の開溝のスクライブラインの巾が10〜100μ
ときわめて小さく、かつ第2の開孔も10〜50μφと
きわめて小さく、また第3の開溝は透光性OF面側から
はまったく見えない。その結果肉眼によりハイブリット
化がされていることを確認され得ず、高付加商品価値を
与えることができた。
【0027】図2において、第2の開孔(15)は1つ
のみを半導体内部の特に中央付近に存在させた。しかし
この開孔は、複数ケ(2〜4ケ)を破線的にY方向に第
1および第3の開溝の間に作製しても、また櫛目形状に
半導体(3)の内部に第1の開溝(16)にそって形成
させてもよい。
【0028】以上の説明は本発明の図2のパターンには
限定されない。セルの数、大きさはその設計仕様によっ
て定められるものである。また半導体はプラズマCVD
法、減圧CVD法、光CVD法または光プラズマCVD
法を用いた。非単結晶シリコンを主成分とするPIN接
合、ヘテロ接合、タンデム接合のみに限らず多くの構造
への応用が可能である。
【0029】なお本発明は透光性有機樹脂上に透光性導
電膜を密接させた場合を示した。しかし本発明は、有機
樹脂上に窒化珪素または酸化珪素の膜を300〜300
0Åの厚さにバリア層として形成し、その上に透光性導
電膜を形成してもよいことはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来の光電変換装置の縦断面図である。
【図2】 本発明の光電変換装置の平面図および縦断面
図を製造工程に従って示したものである。
【図3】 本発明の有機樹脂上の透明導電膜をレーザス
クライブした時のレーザスクライブによる電気抵抗の変
化を示す。
【図4】 本発明の有機樹脂上の透明導電膜をレーザス
クライブした時のレーザスクライブの可能な領域を示
す。
【符号の説明】
2 透光性基板 3 第1の電極 4 半導体 5 第2の電極 15 開孔

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁表面を有する透光性有機樹脂基板上
    に導電膜の第1の電極、該第1の電極上の光照射により
    光起電力を発生させる非単結晶半導体、および前記非単
    結晶半導体上の第2の電極を有する光電変換素子を複数
    個集積化して前記有機樹脂基板上に設けるに際し、隣合
    う前記光電変換素子の第1および第2の電極は前記非単
    結晶半導体の両側端部に至らない内部で電気的に直列に
    連結した連結部を有することを特徴とする光電変換半導
    体装置。
  2. 【請求項2】 絶縁表面を有する透光性有機樹脂基板上
    に配列された複数の第1の電極、該第1の電極および該
    電極間の開溝を覆って設けられた光照射により光起電力
    を発生させる非単結晶半導体、および前記第1の電極に
    対応して前記半導体上に設けられた複数の第2の電極と
    を有する複数の光電変換素子を備え、隣合う前記光電変
    換素子の第1および第2の電極は前記非単結晶半導体の
    端部に至らない内部で電気的に直列に連結した連結部を
    有するとともに、前記第1の電極または第2の電極のう
    ち少なくともどちらか一方の電極の外周部領域のうち電
    極間連結部分以外の領域に、前記電極の端部に沿ってリ
    ーク防止のための分離用開溝を設けたことを特徴とする
    光電変換半導体装置。
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