JPH06308047A - Color liquid crystal panel defect inspection device - Google Patents

Color liquid crystal panel defect inspection device

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JPH06308047A
JPH06308047A JP9769493A JP9769493A JPH06308047A JP H06308047 A JPH06308047 A JP H06308047A JP 9769493 A JP9769493 A JP 9769493A JP 9769493 A JP9769493 A JP 9769493A JP H06308047 A JPH06308047 A JP H06308047A
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JP
Japan
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image data
smoothed
liquid crystal
crystal panel
color liquid
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Application number
JP9769493A
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Japanese (ja)
Inventor
Kunihiro Sato
邦浩 佐藤
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

PURPOSE:To improve inspection accuracy by performing smoothing processing with different smoothness for differential image data, producing smoothed differential image data from two smoothed processing image data and clarifying the judgment criteria of binary processing. CONSTITUTION:A monochrome camera 11 photographs a light controlled color liquid crystal panel A and sends the original image data to an image processor 12. The device 12 processes the original image and detects the interference fringe and indicates it on a display 13. The panel A is lighted with different brightness and differential image data of the original image data is produced, which causes unevenness in density value in the peripheral part in the imteference fringe. So, smoothing processing is performed with different smoothness for the differential image data to produce two smoothed processing image data and then smoothed differential image data. If this smoothed differential image data is binary processed with a predetermined binarizing threshold value, binary processed image data clearly discriminated interference fringe from the peripheral part are obtained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、カラー液晶パネルの干
渉縞欠陥の有無を検査するカラー液晶パネル欠陥検査装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a color liquid crystal panel defect inspection apparatus for inspecting a color liquid crystal panel for the presence of interference fringe defects.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、カラー液晶パネルの干渉縞を検出
する方法としては、次の2つが一般的に行われている。
第1の方法は、カラー液晶パネルを垂直方向または斜め
方向から観察することによって干渉縞を探す目視による
検査方法である。第2の方法は、カラー液晶パネルをカ
メラによって撮影し、その撮影画像に2値化処理を施す
ことによって干渉縞を検査する方法である。
2. Description of the Related Art Conventionally, the following two methods are generally used as methods for detecting interference fringes of a color liquid crystal panel.
The first method is a visual inspection method for observing interference fringes by observing a color liquid crystal panel from a vertical direction or an oblique direction. A second method is a method of inspecting interference fringes by photographing a color liquid crystal panel with a camera and binarizing the photographed image.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記の目視による第1
の方法の場合には、液晶パネル検査の性格上、検査を暗
い場所で行わなければならず、長時間にわたる検査では
検査作業者の疲労度はかなりのものとなっている。ま
た、干渉縞が良く観察できるように1枚ごとにカラー液
晶パネルを動かすため、見え方がパネルごとに異なって
しまい、判定の基準があいまいになるおそれがある。
[Problems to be Solved by the Invention]
In the case of the above method, due to the nature of the liquid crystal panel inspection, the inspection must be performed in a dark place, and the fatigue of the inspection operator is considerable in the inspection for a long time. Further, since the color liquid crystal panels are moved one by one so that the interference fringes can be observed well, the appearance may be different for each panel, and the determination standard may be ambiguous.

【0004】また、カメラによる撮影画像に2値化処理
を施す第2の方法の場合には、干渉縞の現れている部分
と現れていない部分との明るさの差があまりなく、さら
にカラー液晶パネルによって明るさが多少相違する。ま
た、カラー液晶パネルはその構造上、視角により明るさ
が変化するため、カメラによって撮影された画像では、
その上部位置や下部位置あるいは左側位置や右側位置な
ど箇所によって明るさが異なることになる。これらの理
由のため、撮影画像に対する2値化処理において、その
判定基準である2値化閾値を一義的に決定することがき
わめて困難となっており、干渉縞欠陥の検査精度を低い
ものにしている。
Further, in the case of the second method of subjecting the image picked up by the camera to the binarization processing, there is not much difference in brightness between the portion where interference fringes appear and the portion where interference fringes do not appear, and the color liquid crystal is further used. The brightness varies slightly depending on the panel. Also, since the color liquid crystal panel has a structure in which the brightness changes depending on the viewing angle, in the image taken by the camera,
The brightness varies depending on the upper position, the lower position, the left position, and the right position. For these reasons, it is extremely difficult to uniquely determine the binarization threshold value, which is the criterion for the binarization process on the captured image, and the inspection accuracy of the interference fringe defect is reduced. There is.

【0005】本発明は、このような事情に鑑みて創案さ
れたものであって、撮影画像に2値化処理を施すことで
干渉縞欠陥を検査する方式のカラー液晶パネル欠陥検査
装置において、2値化処理の判定基準を明確なものにし
て干渉縞欠陥の検査精度を向上することを目的とする。
The present invention was devised in view of such circumstances, and in a color liquid crystal panel defect inspection apparatus of a system for inspecting interference fringe defects by subjecting a photographed image to binarization, It is an object of the present invention to improve the inspection accuracy of interference fringe defects by clarifying the criterion for the binarization process.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係るカラー液晶
パネル欠陥検査装置は、カラー液晶パネルの全面をある
明るさで点灯表示させる手段と、前記カラー液晶パネル
の全面を前記とは異なる明るさで点灯表示させる手段
と、前記カラー液晶パネルを撮影する手段と、撮影した
原画像データを一時記憶し前記明るさを異にする2つの
原画像データの差分をとって差分画像データを作成する
手段と、この差分画像データを一時記憶しある平滑度で
平滑化処理する手段と、前記差分画像データを前記とは
異なる平滑度で平滑化処理する手段と、前記平滑度を異
にする2つの平滑化処理画像データの差分をとって平滑
化差分画像データを作成する手段と、この平滑化差分画
像データを所定の2値化閾値をもって2値化処理する手
段とを備えたことを特徴とするものである。
A color liquid crystal panel defect inspection apparatus according to the present invention comprises means for illuminating and displaying the entire surface of a color liquid crystal panel with a certain brightness, and a whole surface of the color liquid crystal panel having a brightness different from that described above. Means for lighting up and displaying, means for photographing the color liquid crystal panel, means for temporarily storing the photographed original image data, and means for obtaining difference image data by taking a difference between two original image data having different brightness. A means for temporarily storing the difference image data with a certain smoothness, a means for smoothing the difference image data with a different smoothness from the above, and two smoothers with different smoothness. And a means for binarizing the smoothed difference image data with a predetermined binarization threshold. It is an butterfly.

【0007】[0007]

【作用】明るさを異ならせてカラー液晶パネルを点灯表
示させ両者の原画像データの差分画像データを作成する
と、干渉縞部分の濃度値はほとんど0になるのに対して
干渉縞周辺部分はノイズ等の影響で濃度値にムラが生じ
る。また、干渉縞部分と干渉縞周辺部分との境界は不明
確なものである。この状態で2値化処理して干渉縞を明
確に割り出すことはほぼ不可能である。そこで、差分画
像データに対して平滑度を異ならせて平滑化処理を行
い、2つの平滑化処理画像データを作成し、さらにそれ
ら両平滑化処理画像データの差分をとって平滑化差分画
像データを作成すると、ノイズムラがほぼ完全に除去さ
れることとなり、干渉縞部分が干渉縞周辺部分と明確に
区分されることになる。この平滑化差分画像データに対
して所定の2値化閾値をもって2値化処理すると、干渉
縞部分が干渉縞周辺部分からきわめて明確に識別された
状態の2値化処理画像データが得られる。
When the color liquid crystal panel is lit and displayed with different brightness and the difference image data of the original image data of both is created, the density value of the interference fringe portion becomes almost 0, while the noise around the interference fringe portion becomes noise. As a result, the density value becomes uneven. Further, the boundary between the interference fringe portion and the peripheral portion of the interference fringe is unclear. In this state, it is almost impossible to binarize and clearly determine the interference fringes. Therefore, smoothing processing is performed with different smoothness for the difference image data, two smoothing processed image data are created, and the difference between the two smoothed processed image data is calculated to obtain the smoothed difference image data. When created, the noise unevenness is almost completely removed, and the interference fringe portion is clearly separated from the interference fringe peripheral portion. When the smoothed difference image data is binarized with a predetermined binarization threshold value, binarized image data in a state where the interference fringe portion is very clearly identified from the peripheral portion of the interference fringe is obtained.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明に係るカラー液晶パネル欠陥検
査装置の一実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a color liquid crystal panel defect inspection apparatus according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0009】まず、図2により検査対象であるカラー液
晶パネルAの構造につき概念的に説明する。カラー液晶
パネルAは、2枚のガラス板1,2の間に液晶3を封入
したもので、液晶3の表面張力によりガラス板1,2ど
うしが引き寄せられて間隙寸法が不均一になるのを防止
するため、液晶3内で両ガラス板1,2間にスペーサ4
を分散的に介在させている。なお、ここでは画素電極,
共通電極,RGB3原色のカラーフィルター,偏向板,
駆動用のトランジスタなどは省略してある。
First, the structure of the color liquid crystal panel A to be inspected will be conceptually described with reference to FIG. The color liquid crystal panel A is one in which a liquid crystal 3 is enclosed between two glass plates 1 and 2, and the surface tension of the liquid crystal 3 draws the glass plates 1 and 2 together to make the gap size non-uniform. To prevent this, a spacer 4 is placed between the glass plates 1 and 2 in the liquid crystal 3.
Are interspersed in a distributed manner. In addition, here, the pixel electrode,
Common electrode, RGB three primary color filters, deflector,
Driving transistors and the like are omitted.

【0010】ところで、カラー液晶パネルAにおいて干
渉縞欠陥が現れるのは、スペーサ4の分布が不均一にな
って両ガラス板1,2間の間隙寸法が微妙に不均一にな
ることがその一因である。
By the way, the interference fringe defect appears in the color liquid crystal panel A because the distribution of the spacers 4 becomes nonuniform and the gap size between the glass plates 1 and 2 becomes slightly nonuniform. Is.

【0011】図1は実施例に係るカラー液晶パネル欠陥
検査装置の概略構成を示すブロック図である。図1にお
いて、10はカラー液晶パネル点灯制御装置、11はモ
ノクロカメラ、12は画像処理装置、13は画像表示用
ディスプレイ、14はホストコンピュータである。点灯
制御装置10は、ホストコンピュータ14からの指令に
基づきカラー液晶パネルAを種々の条件で点灯制御する
ものである。モノクロカメラ11は、その点灯制御され
ているカラー液晶パネルAを撮影し、その原画像データ
を画像処理装置12に送出するものである。画像処理装
置12は、モノクロカメラ11から送られてきた原画像
データに後述する各種の処理を施してカラー液晶パネル
Aに現れる干渉縞を検出するものである。ディスプレイ
13は、画像処理装置12に送られてきた原画像データ
の画像および画像処理装置12で画像処理した処理画像
を表示するものである。ホストコンピュータ14は、点
灯制御装置10に対して各種の点灯条件の指令を与える
一方、画像処理装置12によって得られた干渉縞欠陥デ
ータを処理することにより、干渉縞欠陥の位置,大き
さ,程度などを演算するものである。
FIG. 1 is a block diagram showing the schematic arrangement of a color liquid crystal panel defect inspection apparatus according to an embodiment. In FIG. 1, 10 is a color liquid crystal panel lighting control device, 11 is a monochrome camera, 12 is an image processing device, 13 is an image display, and 14 is a host computer. The lighting control device 10 controls lighting of the color liquid crystal panel A under various conditions based on a command from the host computer 14. The monochrome camera 11 photographs the color liquid crystal panel A whose lighting is controlled, and sends the original image data to the image processing device 12. The image processing device 12 detects various interference fringes appearing on the color liquid crystal panel A by performing various processes described below on the original image data sent from the monochrome camera 11. The display 13 displays an image of the original image data sent to the image processing device 12 and a processed image that has been subjected to image processing by the image processing device 12. The host computer 14 gives commands of various lighting conditions to the lighting control device 10 and, at the same time, processes the interference fringe defect data obtained by the image processing device 12 to determine the position, size and degree of the interference fringe defect. And so on.

【0012】図3は、ディスプレイ13に表示される画
像を示す。表示される画像には、モノクロカメラ11で
撮影されたカラー液晶パネルAの原画像と、その原画像
のデータを画像処理装置12で画像処理した処理画像と
がある。図3の(a)は、ホストコンピュータ14のグ
ラフィック機能を用いてカラー液晶パネルAの全面を白
に点灯表示させたときの原画像を示す。この原画像には
干渉縞21が現れている。この干渉縞21は、その周辺
部20に比べると暗くなって現れる。
FIG. 3 shows an image displayed on the display 13. The displayed image includes an original image of the color liquid crystal panel A captured by the monochrome camera 11 and a processed image obtained by image-processing the data of the original image by the image processing device 12. FIG. 3A shows an original image when the entire surface of the color liquid crystal panel A is illuminated and displayed in white by using the graphic function of the host computer 14. Interference fringes 21 appear in this original image. The interference fringe 21 appears darker than the peripheral portion 20.

【0013】図3の(b)は、図(a)の場合よりも少
し暗い状態でカラー液晶パネルAの全面を白に点灯表示
させたときの原画像を示す。干渉縞23は、やはりその
周辺部22に比べて暗くなって現れる。図(b)の干渉
縞周辺部22は、図(a)の干渉縞周辺部20よりも暗
くなっている。しかし、図(b)の干渉縞23と図
(a)の干渉縞21とは、明るさの差はほとんどない。
FIG. 3B shows an original image when the entire surface of the color liquid crystal panel A is illuminated and displayed in white in a slightly darker state than the case of FIG. The interference fringe 23 also appears darker than the peripheral portion 22. The interference fringe peripheral portion 22 in FIG. 9B is darker than the interference fringe peripheral portion 20 in FIG. However, there is almost no difference in brightness between the interference fringes 23 in FIG. 7B and the interference fringes 21 in FIG.

【0014】以上のように、点灯制御装置10によりカ
ラー液晶パネルAの全面を白に点灯表示させるときの明
るさを異ならせて、図(a)と図(b)の原画像データ
を得ておき、それらを記憶させておく。次いで、画像処
理装置12により、前記2つの原画像データの差分をと
った差分画像データを作成し、その差分画像をディスプ
レイ13において図(c)のように表示する。2つの原
画像データの差分をとるというのは、図(a)の原画像
データと図(b)の原画像データとにつき、同一位置の
画素の濃度値を比較するもので、図(a)の濃度値から
図(b)の濃度値を減算した結果の濃度値を同じ位置で
の差分画像データの濃度値とするものである。ただし、
減算の結果の濃度値がマイナスとなるときは、その画素
位置の濃度値を0に置き換えるものとする。
As described above, the lighting control device 10 changes the brightness when the entire surface of the color liquid crystal panel A is lit and displayed in white to obtain the original image data of FIGS. Keep them in memory. Next, the image processing device 12 creates difference image data by taking the difference between the two original image data, and displays the difference image on the display 13 as shown in FIG. Taking the difference between two original image data is to compare the density values of pixels at the same position between the original image data of FIG. (A) and the original image data of FIG. (B). The density value obtained as a result of subtracting the density value of FIG. 6B from the density value of is used as the density value of the difference image data at the same position. However,
When the density value resulting from the subtraction becomes negative, the density value at that pixel position is replaced with 0.

【0015】図(c)において、干渉縞部分25は、図
(a)の干渉縞21と図(b)の干渉縞23との差分で
あり、これらは明るさにおいてほとんど差がないので、
干渉縞部分25の濃度値はほとんど0である。干渉縞周
辺部分24は、図(a)の干渉縞周辺部20とそれより
も暗い図(b)の干渉縞周辺部22との差分であるか
ら、干渉縞周辺部分24の濃度値は0よりも大きい。
In FIG. 2C, the interference fringe portion 25 is the difference between the interference fringe 21 in FIG. 1A and the interference fringe 23 in FIG. 2B, and there is almost no difference in brightness.
The density value of the interference fringe portion 25 is almost zero. The interference fringe peripheral portion 24 is the difference between the interference fringe peripheral portion 20 in FIG. 7A and the interference fringe peripheral portion 22 in FIG. Is also big.

【0016】ところで、実際には、図(a)および図
(b)の原画像データにはノイズが含まれているし、バ
ックライトの明るさも場所によって異なる。また、視角
により明るさが変わる。こういった要因により、差分画
像データにおいて干渉縞周辺部分24の濃度値も干渉縞
部分25の濃度値も均一とはなっておらず、広い範囲に
わたってムラを生じている。しかも、干渉縞の性質上、
干渉縞周辺部分24と干渉縞部分25との境界は明確な
ものではなく、濃度値がゆるやかに変化する状態となっ
ている。これが一般的な現象である。
By the way, actually, the original image data of FIGS. 3A and 3B contains noise, and the brightness of the backlight also differs depending on the location. Also, the brightness changes depending on the viewing angle. Due to these factors, the density value of the interference fringe peripheral portion 24 and the density value of the interference fringe portion 25 are not uniform in the difference image data, and unevenness occurs over a wide range. Moreover, due to the nature of the interference fringes,
The boundary between the interference fringe peripheral portion 24 and the interference fringe portion 25 is not clear, and the density value gradually changes. This is a common phenomenon.

【0017】このような事情により、従来例のように2
値化閾値を固定した単純2値化では干渉縞を明確に検出
することがきわめてむずかしいのである。
Due to such circumstances, as in the conventional example,
It is extremely difficult to detect the interference fringe clearly in the simple binarization in which the threshold value is fixed.

【0018】そこで、本実施例においては、画像処理装
置12により図(c)の処理画像データに対して平滑化
処理を施し、図(d)に示すような平滑化処理画像デー
タを得る。そして、これとともに、同じく図(c)の差
分画像データに対してより強い平滑化処理を施し、図
(e)に示すような平滑化処理画像データを得る。これ
らの平滑化処理画像データはともに記憶させておく。平
滑化処理をより強くするには、平滑化のためのフィルタ
ーをより容量の大きいものにするとか、平滑化回数をよ
り多くすることで対処できる。この結果、図(e)の平
滑化処理画像は図(d)の平滑化処理画像に比べてより
滑らかな状態となっている。
Therefore, in the present embodiment, the image processing apparatus 12 performs the smoothing process on the processed image data of FIG. 6C to obtain the smoothed image data as shown in FIG. Along with this, stronger smoothing processing is also performed on the difference image data of FIG. 6C to obtain smoothed image data as shown in FIG. Both of these smoothed image data are stored. In order to make the smoothing process stronger, it is possible to deal with it by using a filter with a larger capacity for smoothing or by increasing the number of smoothing times. As a result, the smoothed image of FIG. 6E is in a smoother state than the smoothed image of FIG.

【0019】このように、図(c)に示す差分画像デー
タに対して異なる平滑度で平滑化処理を施して、図
(d)と図(e)に示す平滑化処理画像データを得た
後、画像処理装置12は、図(d)の平滑化処理画像デ
ータと図(e)の平滑化処理画像データの差分を取った
平滑化差分画像データを作成する。ここでも、同一位置
の画素において、それぞれ図(d)の濃度値から図
(e)の濃度値を減算した結果の濃度値を同じ位置の画
素での平滑化差分画像データの濃度値とし、その差分の
濃度値による平滑化差分画像データの画像をディスプレ
イ13に図(f)のように表示する。ただし、減算の結
果の濃度値がマイナスとなるときは、その画素位置の濃
度値を0に置き換えるものとする。
After the smoothing processing is performed on the differential image data shown in FIG. 6C with different smoothness in this way, the smoothed image data shown in FIGS. The image processing device 12 creates smoothed difference image data that is the difference between the smoothed image data of FIG. 7D and the smoothed image data of FIG. Here again, in the pixel at the same position, the density value of the result obtained by subtracting the density value of FIG. 6E from the density value of FIG. 6D is set as the density value of the smoothed difference image data at the pixel of the same position, and An image of the smoothed difference image data based on the difference density value is displayed on the display 13 as shown in FIG. However, when the density value resulting from the subtraction becomes negative, the density value at that pixel position is replaced with 0.

【0020】2段の平滑化処理後の差分をとった図
(f)の平滑化差分画像データにおいては、図(c)の
差分画像データで見られたノイズがほぼ完全に除去され
ている。
In the smoothed difference image data of FIG. 6F obtained by taking the difference after the two-stage smoothing processing, the noise seen in the difference image data of FIG. 6C is almost completely removed.

【0021】すなわち、平滑化差分画像データにおいて
干渉縞部分31は干渉縞周辺部分30に対して明確に区
分されることになる。そこで、画像処理装置12は、図
(f)の平滑化差分画像データに対してさらに雑音除去
処理を行った上で所要の2値化閾値をもって単純2値化
処理を施す。すると、図(g)に示すように、干渉縞部
分33が干渉縞周辺部分32とはきわめて明確に識別さ
れた状態での2値化処理画像データが得られることとな
る。
That is, in the smoothed difference image data, the interference fringe portion 31 is clearly divided from the interference fringe peripheral portion 30. Therefore, the image processing device 12 further performs noise removal processing on the smoothed difference image data of FIG. 6F, and then performs simple binarization processing with a required binarization threshold value. Then, as shown in FIG. 9G, the binarized image data in a state where the interference fringe portion 33 is very clearly distinguished from the interference fringe peripheral portion 32 is obtained.

【0022】図4は、上記の画像処理のうちで、図3の
(c)の差分画像データから(f)の平滑化差分画像デ
ータおよび(g)の2値化処理画像データを作成する際
の動作原理を説明する波形図である。これらの波形図は
1次元的に示したものである。実際には2次元的なもの
である。横軸に画素位置、縦軸に濃度値をとっている。
FIG. 4 shows a case where the smoothed differential image data of (f) and the binarized image data of (g) are created from the differential image data of (c) of FIG. 3 in the above image processing. 3 is a waveform diagram illustrating the operating principle of FIG. These waveform diagrams are shown one-dimensionally. In reality, it is two-dimensional. The horizontal axis represents the pixel position and the vertical axis represents the density value.

【0023】図4の(a)に示す波形40は図(c)の
差分画像データをイメージしたものである。凹んだ部分
41,42は干渉縞の現れている部分、すなわち、濃度
値がほぼ0の干渉縞部分25に対応している。波形40
に図(d)の平滑化処理を施したものが図4の(b)に
示す波形43であり、波形40にさらに強い図(e)の
平滑化処理を施したものが波形44である。平滑化処理
により、周囲に比べて凹んでいる部分はより高いレベル
となり、凸となっている部分はより低いレベルとなる。
波形44は、波形43に比べてより平滑化されているこ
とが明らかである。
A waveform 40 shown in FIG. 4A is an image of the differential image data shown in FIG. The recessed portions 41 and 42 correspond to the portion where interference fringes appear, that is, the interference fringe portion 25 where the density value is almost zero. Wave 40
The waveform 43 shown in FIG. 4B is the waveform 43 shown in FIG. 4D, and the waveform 44 is the waveform 40 shown in FIG. Due to the smoothing process, the concave portions have a higher level and the convex portions have a lower level than the surroundings.
It is clear that waveform 44 is more smoothed than waveform 43.

【0024】次に、波形43から波形44を差し引いた
ものが図4の(c)に示す波形45であり、この波形4
5は図3の(f)に相当している。干渉縞部分の内部で
より明るいところが濃度値0となる。そこで、例えば濃
度値0を2値化閾値46として、波形45に2値化処理
を施すと、図4の(d)に示すような境界において立ち
上がり・立ち下がりの急峻な波形47となる。これは図
3の(g)の干渉縞部分33をイメージしたものであ
り、干渉縞部分が明確に識別される状態となっている。
Next, a waveform 45 obtained by subtracting the waveform 44 from the waveform 43 is a waveform 45 shown in FIG.
5 corresponds to (f) of FIG. The brighter portion inside the interference fringe portion has a density value of 0. Therefore, for example, when the density value 0 is used as the binarization threshold value 46 and the waveform 45 is binarized, a steep rise / fall waveform 47 is formed at the boundary as shown in FIG. This is an image of the interference fringe portion 33 in FIG. 3G, and the interference fringe portion is clearly identified.

【0025】以下、図5に示すフローチャートに従っ
て、このカラー液晶パネル欠陥検査装置の処理手順につ
いて説明する。まず、点灯制御装置10によりカラー液
晶パネルAの全画素を点灯させ白色表示する(ステップ
S1)。このときの点灯状態は比較的明るいものとす
る。白色表示されたカラー液晶パネルAをモノクロカメ
ラ11で撮影し、その原画像データを画像処理装置12
に送出する(ステップS2,図3の(a)参照)。次
に、再びカラー液晶パネルAの全画素を点灯させ白色表
示するが、このときはステップS1の場合よりも暗くす
る(ステップS3)。
The processing procedure of this color liquid crystal panel defect inspection apparatus will be described below with reference to the flow chart shown in FIG. First, all pixels of the color liquid crystal panel A are lit by the lighting control device 10 to display white (step S1). The lighting state at this time is relatively bright. The color liquid crystal panel A displayed in white is photographed by the monochrome camera 11, and the original image data is taken by the image processing device 12.
(Step S2, see FIG. 3A). Next, all the pixels of the color liquid crystal panel A are turned on again to display white, but at this time, it is made darker than in the case of step S1 (step S3).

【0026】そのカラー液晶パネルAを再びモノクロカ
メラ11で撮影し、その原画像データを画像処理装置1
2に送出する(ステップS4,図3の(b)参照)。画
像処理装置12において上記のようにして得られた明る
い方の原画像データの濃度値から暗い方の原画像データ
の濃度値を同一画素ごとに減算し、差分画像データを作
成する(ステップS5,図3の(c)参照)。
The color liquid crystal panel A is photographed again by the monochrome camera 11, and the original image data is taken by the image processing apparatus 1.
2 (step S4, see FIG. 3B). In the image processing apparatus 12, the density value of the darker original image data is subtracted from the density value of the brighter original image data obtained as described above for each same pixel to create difference image data (step S5). (See FIG. 3C).

【0027】次いで、前記差分画像データに対してまず
平滑度の小さい平滑化処理を施し、図3の(d)に相当
する平滑化処理画像データを得る(ステップS6)。さ
らに、前記差分画像データに対してより平滑度の大きい
平滑化処理を施し、図3の(e)に相当する平滑化処理
画像データを得る(ステップS7)。そして、それら2
つの平滑化処理された平滑化処理画像データどうしの差
分の平滑化差分画像データを作成する(ステップS8,
図3の(f)参照)。これにより、ノイズや濃度値のム
ラを除去することができる。最後に、所要の2値化閾値
46をもって2値化処理を行い、干渉縞部分33を干渉
縞周辺部分32から明確に分離した2値化処理画像デー
タを作成する(ステップS9,図3の(g)参照)。
Next, the difference image data is first subjected to a smoothing process with a small smoothness to obtain smoothed image data corresponding to (d) of FIG. 3 (step S6). Further, the difference image data is subjected to smoothing processing having a higher smoothness to obtain smoothed image data corresponding to (e) of FIG. 3 (step S7). And those two
The smoothed difference image data of the difference between the two smoothed image data that have been smoothed is created (step S8,
See (f) of FIG. 3. This makes it possible to remove noise and unevenness in density value. Finally, binarization processing is performed with a required binarization threshold value 46 to create binarized image data in which the interference fringe portion 33 is clearly separated from the interference fringe peripheral portion 32 (step S9, in FIG. g)).

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、明るさ
を異にする2つの原画像データの差分画像データを作成
し、その差分画像データに対して平滑度を異にする2段
階の平滑化処理を施して2つの平滑化処理画像データを
作成し、さらにその差分をとって平滑化差分画像データ
を作成することで、干渉縞部分を干渉縞周辺部分から明
確に区分できるようになるため、その平滑化処理画像デ
ータに対して所定の2値化閾値をもって2値化処理する
ことにより、干渉縞欠陥を高い精度をもって検出するこ
とができる。
As described above, according to the present invention, the difference image data of two original image data having different brightness is created, and the difference image data has two stages of different smoothness. Smoothing processing is performed to create two smoothing processed image data, and the difference is further taken to create smoothed difference image data so that the interference fringe portion can be clearly separated from the interference fringe peripheral portion. Therefore, by performing binarization processing on the smoothed image data with a predetermined binarization threshold value, the interference fringe defect can be detected with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係るカラー液晶パネル欠陥
検査装置の概略構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a color liquid crystal panel defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】検査対象であるカラー液晶パネルの構造を概念
的に示した断面図である。
FIG. 2 is a sectional view conceptually showing the structure of a color liquid crystal panel to be inspected.

【図3】実施例において動作説明に供するものでディス
プレイに表示される画像の状態図である。
FIG. 3 is a state diagram of an image displayed on a display for explaining the operation in the embodiment.

【図4】実施例において動作説明に供する波形図であ
る。
FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the operation in the example.

【図5】実施例の動作説明に供するフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A……カラー液晶パネル 1,2……ガラス板 3……液晶 4……スペーサ 10……カラー液晶パネル点灯制御装置 11……モノクロカメラ 12……画像処理装置 13……画像表示用ディスプレイ 14……ホストコンピュータ 20,22……原画像データにおける干渉縞周辺部 21,23……原画像データにおける干渉縞 24……差分画像データにおける干渉縞周辺部分 25……差分画像データにおける干渉縞部分 26,28……平滑化処理画像データにおける干渉縞周
辺部分 27,29……平滑化処理画像データにおける干渉縞部
分 30……平滑化差分画像データにおける干渉縞周辺部分 31……平滑化差分画像データにおける干渉縞部分 32……2値化処理画像データにおける干渉縞周辺部分 33……2値化処理画像データにおける干渉縞部分
A: Color liquid crystal panel 1, 2 ... Glass plate 3 ... Liquid crystal 4 ... Spacer 10 ... Color liquid crystal panel lighting control device 11 ... Monochrome camera 12 ... Image processing device 13 ... Image display display 14 ... ... host computer 20,22 ... interference fringe peripheral part in original image data 21,23 ... interference fringe in original image data 24 ... interference fringe peripheral part in difference image data 25 ... interference fringe part 26 in difference image data 26, 28 ... Peripheral part of interference fringes in smoothed image data 27, 29 ... Interference fringe part in smoothed image data 30 ... Peripheral part of interference fringes in smoothed difference image data 31 ... Interference in smoothed difference image data Stripe part 32 ... Peripheral part of interference fringes in binarized image data 33. Interference fringes part that

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カラー液晶パネルの全面をある明るさで
点灯表示させる手段と、前記カラー液晶パネルの全面を
前記とは異なる明るさで点灯表示させる手段と、前記カ
ラー液晶パネルを撮影する手段と、撮影した原画像デー
タを一時記憶し前記明るさを異にする2つの原画像デー
タの差分をとって差分画像データを作成する手段と、こ
の差分画像データを一時記憶しある平滑度で平滑化処理
する手段と、前記差分画像データを前記とは異なる平滑
度で平滑化処理する手段と、前記平滑度を異にする2つ
の平滑化処理画像データの差分をとって平滑化差分画像
データを作成する手段と、この平滑化差分画像データを
所定の2値化閾値をもって2値化処理する手段とを備え
たことを特徴とするカラー液晶パネル欠陥検査装置。
1. A means for illuminating and displaying the entire surface of a color liquid crystal panel with a certain brightness, a means for illuminating and displaying the entire surface of the color liquid crystal panel with a brightness different from the above, and a means for photographing the color liquid crystal panel. A means for temporarily storing the captured original image data and taking a difference between the two original image data having different brightnesses to create difference image data, and smoothing the difference image data with a smoothness temporarily stored. Processing means, means for smoothing the difference image data with a smoothness different from that described above, and difference between the two smoothed image data having different smoothnesses to obtain smoothed difference image data And a means for binarizing the smoothed difference image data with a predetermined binarization threshold value.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001235396A (en) * 1999-12-16 2001-08-31 Furukawa Electric Co Ltd:The Method of inspecting defect of optical fiber

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001235396A (en) * 1999-12-16 2001-08-31 Furukawa Electric Co Ltd:The Method of inspecting defect of optical fiber

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