JPH06285750A - Image recognition distortion correcting method for punching device - Google Patents

Image recognition distortion correcting method for punching device

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JPH06285750A
JPH06285750A JP6715392A JP6715392A JPH06285750A JP H06285750 A JPH06285750 A JP H06285750A JP 6715392 A JP6715392 A JP 6715392A JP 6715392 A JP6715392 A JP 6715392A JP H06285750 A JPH06285750 A JP H06285750A
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image
hole
punching
axis
image recognition
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Shinichi Kato
真一 加藤
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Seikosha KK
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Abstract

PURPOSE:To improve the precision of image recognition by slitting a recognized image into quadrantal parts make correction for each quadrantal parts in accordance with respective correction data. CONSTITUTION:In such a state that a punching means is moved preset distance away from an initial position, a measurement hole is punched in a measurement substrate and image-recognized by using an electromagnetic wave irradiating means 8 and an image-pickup means 26 for position detection. Such action is taken for each quadrantal part into which an image area is split with an X-axis and a Y-axis perpendicular to each other around the initial position. In accordance with the result, correcting data is originated for each quadrantal part. A work is set on the punch and image-recognized by the electromagnetic wave irradiating means 8 and the image pickup means 26, the recognized image is split into quadrantal parts and correction is made for each quadrantal part in accordance with the correction data.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、穿孔装置において、画
像認識を行なう際に生じる画像の歪みを補正する方法に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of correcting image distortion that occurs when performing image recognition in a punching device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より穿孔装置として、電磁波照射手
段および撮像手段を有し、画像認識によりワークの識別
マーク位置を検出して穿孔を行なうものがある。すなわ
ち、ワークにX線などの電磁波を照射し、その画像をX
線カメラなどの撮像手段により撮像して画像認識し、そ
の画像認識結果に基づいて識別マークの位置を検出し
て、それに基づいて穿孔すべき位置を決定し穿孔を行な
っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a punching device, there is one which has an electromagnetic wave irradiating means and an image pickup means, and performs punching by detecting an identification mark position of a work by image recognition. That is, the work is irradiated with electromagnetic waves such as X-rays, and the image is X-rayed.
An image is picked up by an image pickup means such as a line camera, the image is recognized, the position of the identification mark is detected based on the image recognition result, and the position to be punched is determined based on that, and the hole is punched.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法では、
電磁波照射手段および撮像手段によって識別マークが正
確に画像認識されることを前提としており、この前提に
基づいて、対象物に電磁波を照射し画像認識を行なって
いる。しかし、照射手段や撮像手段の精度が悪いと、画
像認識時に歪みを生じて、対象物の位置や寸法などの測
定が全く狂ってしまうという問題点がある。
SUMMARY OF THE INVENTION In the above conventional method,
It is premised that the identification mark is accurately image-recognized by the electromagnetic wave irradiation means and the imaging means, and based on this premise, the target object is irradiated with electromagnetic waves to perform image recognition. However, if the accuracy of the irradiation means or the imaging means is low, distortion occurs during image recognition, and the measurement of the position and dimensions of the target object will be totally wrong.

【0004】特にX線を照射する照射手段を用いる場合
に、撮像手段として用いられるビジコンカメラは、その
構造上あまり高い精度が望めず、外部の磁気などの影響
を受けある程度の歪みを生じることは避けられない。従
って、画像認識の精度が低くなり、その後の穿孔などの
作業に支障をきたしている。
In particular, when an irradiation means for irradiating X-rays is used, the vidicon camera used as the image pickup means cannot be expected to have very high accuracy due to its structure, and it may be distorted to some extent under the influence of external magnetism. Inevitable. Therefore, the accuracy of image recognition becomes low, which hinders the subsequent work such as punching.

【0005】また、従来からX軸方向またはY軸方向の
伸縮率を求めて認識画像から実際の位置関係を割り出そ
うとするものはあったが、ビジコンカメラの構造上生じ
る歪みは、X軸やY軸に沿って均一なものでなく、比較
的不均一な歪み方をする傾向があるため、従来の方法で
は適正な補正はできない。
Conventionally, there has been an attempt to obtain the actual positional relationship from the recognized image by obtaining the expansion / contraction ratio in the X-axis direction or the Y-axis direction, but the distortion caused by the structure of the vidicon camera is the X-axis. Since there is a tendency that the distortion is not uniform along the Y-axis and is relatively non-uniform along the Y-axis, proper correction cannot be performed by the conventional method.

【0006】そこで本発明の目的は、穿孔装置におい
て、画像認識時に生じる歪みを補正することにより、電
磁波照射手段や撮像手段の精度に影響されることなく、
極めて正確な画像認識を可能にするとともに、不均一な
歪みに対しても簡単に効果的な補正を行なえる方法を提
供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to correct the distortion generated at the time of image recognition in the punching device so that the accuracy of the electromagnetic wave irradiation means and the image pickup means is not affected.
It is an object of the present invention to provide a method that enables extremely accurate image recognition and that can easily and effectively correct uneven distortion.

【0007】また本発明のもう一つの目的は、このよう
な画像認識時の歪み補正を、人手による作業上の誤差を
含まずに正確に行なえるようにすることにある。
Another object of the present invention is to enable such distortion correction at the time of image recognition to be accurately performed without including a manual operation error.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては、電磁波照射手段と、撮像手段
と、穿孔手段と、穿孔手段を移動させる穿孔手段移動機
構とを有する穿孔装置を用い、穿孔装置に誤差測定用基
板をセットし、穿孔手段移動機構により穿孔手段を初期
位置から予め設定された所定距離だけ移動させた状態
で、誤差測定用基板に誤差測定用孔を穿孔し、電磁波照
射手段および撮像手段を用いて誤差測定用孔を画像認識
してその位置を検出する。このような誤差測定用孔穿孔
工程および位置検出工程を、初期位置を中心として直交
するX軸およびY軸によって画像領域を分割した4象限
のそれぞれにおいて行ない、その結果に基づいて各象限
ごとにそれぞれの補正データを作成しておく。そして、
ワークを穿孔装置にセットし、電磁波照射手段および撮
像手段によりワークを画像認識し、認識画像を4象限に
分割し、各象限ごとにそれぞれの補正データに基づいて
補正を行なう。
In order to achieve the above object, the present invention provides a punching device having an electromagnetic wave irradiating means, an imaging means, a punching means, and a punching means moving mechanism for moving the punching means. Using, set the error measurement substrate to the punching device, in the state of moving the punching means by the punching means moving mechanism by a predetermined distance set in advance from the initial position, punching the error measuring hole in the error measuring substrate, The position of the error measuring hole is detected by recognizing the image using the electromagnetic wave irradiating means and the image pickup means. The error measuring hole punching step and the position detecting step are performed in each of the four quadrants in which the image area is divided by the X axis and the Y axis orthogonal to each other with the initial position as the center, and based on the result, each quadrant Create the correction data for. And
The work is set in the punching device, the work is image-recognized by the electromagnetic wave irradiation means and the imaging means, the recognized image is divided into four quadrants, and correction is performed for each quadrant based on the correction data.

【0009】この誤差測定用孔は、初期位置を中心とす
る正方形の各頂点にあたる位置に穿孔された孔と、隣り
合う頂点間の2等分点にあたる位置に穿孔された孔とを
含むものである。
The error measuring holes include holes drilled at positions corresponding to the vertices of a square centered on the initial position and holes drilled at positions corresponding to the bisectors between the adjacent vertices.

【0010】[0010]

【作用】本発明によると、誤差測定用孔を穿孔し、この
誤差測定用孔が画像上のどのような位置に認識されるか
を測定する。特に、X軸,Y軸上だけではなく、初期位
置を中心とする正方形の各頂点の位置がどれだけの誤差
を含んで画像認識されるかを測定する。そしてこれをX
軸,Y軸で分割される4象限に分けて行ない、それぞれ
について補正データを算出するため、極めて効果的な補
正データを得ることができる。
According to the present invention, the error measuring hole is punched and the position of the error measuring hole recognized on the image is measured. In particular, it is measured not only on the X-axis and Y-axis, but how much error is included in the position of each vertex of a square centered on the initial position for image recognition. And this is X
Since the correction data is calculated for each of the four quadrants divided by the axis and the Y-axis, extremely effective correction data can be obtained.

【0011】[0011]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図1に本発明に係る穿孔装置の一例を示し
ている。この穿孔装置は、本体ケース1内に後述する撮
像手段,穿孔手段などが格納されており、その上部にワ
ークテーブル4が配設されプリント基板56などが載置
可能になっている。ワークテーブル4上には、台座5を
介して保護カバー6,7が設けられており、この保護カ
バー6,7内には、電磁波を照射する電磁波照射手段が
内蔵されている。本実施例では、電磁波照射手段として
X線発生装置8を用いている。さらに、操作パネル9が
設けられており、使用者が穿孔,画像認識などの作業を
行なうための各種スイッチ10や、画像表示を行なうC
RTディスプレイ11が設けられている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an example of a punching device according to the present invention. In this punching device, an image pickup means, a punching means, and the like, which will be described later, are housed in the main body case 1, and the work table 4 is arranged on the upper part thereof so that the printed circuit board 56 and the like can be placed. Protective covers 6 and 7 are provided on the work table 4 via a pedestal 5, and electromagnetic wave irradiation means for irradiating electromagnetic waves is built in the protective covers 6 and 7. In this embodiment, the X-ray generator 8 is used as the electromagnetic wave irradiation means. Further, an operation panel 9 is provided, and various switches 10 for the user to perform work such as punching and image recognition, and C for displaying an image.
An RT display 11 is provided.

【0012】この穿孔装置の要部断面を図2〜4に、ブ
ロック図を図5にそれぞれ示している。図面上方が保護
カバー6の内部を示しており、X線発生装置8と、この
下方に固定されておりX線の通路部13aを有する保護
筒13と、X線発生装置8および保護筒13を支持する
とともに図示しない駆動機構により上下動可能な支持部
材14が設けられている。この保護カバー6,7および
保護筒13によりX線12が外部に漏れる恐れはない。
2 to 4 and a block diagram of the punching device are shown in FIGS. The upper part of the drawing shows the inside of the protective cover 6, and includes an X-ray generator 8, a protective cylinder 13 fixed below the protective cover 13 and having an X-ray passage portion 13a, the X-ray generator 8 and the protective cylinder 13. A support member 14 is provided that supports and is vertically movable by a drive mechanism (not shown). The protective covers 6 and 7 and the protective cylinder 13 prevent the X-ray 12 from leaking to the outside.

【0013】図面下方に本体ケース1の内部を示してい
る。図3に示すように、本体ケース1に固定されている
1対の脚部15上に、中央部に孔部を有する支持板1
6,17が固着されている。図2に示すように、支持板
16,17の一端部(図2左方)にはモータ保持部材1
8が固着されており、このモータ保持部材18によって
モータ19が保持されている。モータ19の駆動軸には
カップリング20を介してリードスクリュー21が連結
されており、リードスクリュー21は支持板17により
回転可能に支持されている。このリードスクリュー21
の上方にはベース板22が配設してあり、このベース板
22の下面に固着されているナット23がリードスクリ
ュー21に螺合している。また、図3に示すように、支
持板17上にはレール24が敷設してあり、ベース板2
2の下面に固着されているスライダ25がレール24に
嵌合している。このような構成であるため、モータ19
の駆動によりリードスクリュー21が回転し、ナット2
3およびスライダ25と一体的にベース板22が図2左
右方向に移動する。
The inside of the body case 1 is shown at the bottom of the drawing. As shown in FIG. 3, on a pair of legs 15 fixed to the main body case 1, a support plate 1 having a hole in the center is formed.
6 and 17 are fixed. As shown in FIG. 2, the motor holding member 1 is attached to one end portion (left side in FIG. 2) of the support plates 16 and 17.
8 is fixed, and the motor 19 is held by the motor holding member 18. A lead screw 21 is connected to a drive shaft of the motor 19 via a coupling 20, and the lead screw 21 is rotatably supported by a support plate 17. This lead screw 21
A base plate 22 is disposed above the base plate 22, and a nut 23 fixed to the lower surface of the base plate 22 is screwed into the lead screw 21. Further, as shown in FIG. 3, rails 24 are laid on the support plate 17, and the base plate 2
A slider 25 fixed to the lower surface of the rail 2 is fitted to the rail 24. With such a configuration, the motor 19
Drive the lead screw 21 to rotate, and the nut 2
3 and the slider 25, the base plate 22 moves in the left-right direction in FIG.

【0014】ベース板22上には、電磁波の照射を受け
る対象物の画像を映し出す撮像手段が、支持板27,2
8,29を介して固定されている。本実施例では電磁波
としてX線を用いているため、撮像手段としてX線カメ
ラ26を用いている。X線カメラ26は画像処理回路
(図5参照)30に接続されている。
On the base plate 22, image pickup means for displaying an image of an object to be irradiated with electromagnetic waves is provided on the support plates 27, 2.
It is fixed via 8, 29. Since X-rays are used as electromagnetic waves in this embodiment, the X-ray camera 26 is used as the image pickup means. The X-ray camera 26 is connected to an image processing circuit (see FIG. 5) 30.

【0015】また、ベース板22上には、穿孔手段移送
機構としてのXYテーブル機構31が配設されている。
その構成を以下に説明する。ベース板22の一端部(図
2左方)にはモータ保持部材32が固着されており、こ
のモータ保持部材32にはモータ33が保持されてい
る。モータ33の駆動軸にはカップリング34を介して
X軸リードスクリュー35が連結されており、X軸リー
ドスクリュー35は支持部材36,37により回転可能
に支持されている。このX軸リードスクリュー35の上
方にはXテーブル38が配設してあり、このXテーブル
38の下面に固着されているナット39がX軸リードス
クリュー35に螺合している。また、図3に示すよう
に、ベース板22上にはレール40が敷設してあり、X
テーブル38の下面に固着されているスライダ41がレ
ール40に嵌合している。このような構成であるため、
モータ33の駆動によりX軸リードスクリュー35が回
転し、ナット39およびスライダ41と一体的にXテー
ブル38が図2左右方向に移動する。
Further, on the base plate 22, an XY table mechanism 31 as a punching means transfer mechanism is arranged.
The configuration will be described below. A motor holding member 32 is fixed to one end portion (left side in FIG. 2) of the base plate 22, and a motor 33 is held on the motor holding member 32. An X-axis lead screw 35 is connected to the drive shaft of the motor 33 via a coupling 34, and the X-axis lead screw 35 is rotatably supported by support members 36 and 37. An X table 38 is disposed above the X axis lead screw 35, and a nut 39 fixed to the lower surface of the X table 38 is screwed onto the X axis lead screw 35. Further, as shown in FIG. 3, a rail 40 is laid on the base plate 22,
A slider 41 fixed to the lower surface of the table 38 is fitted to the rail 40. With such a configuration,
The X-axis lead screw 35 is rotated by the drive of the motor 33, and the X table 38 is integrally moved with the nut 39 and the slider 41 in the horizontal direction in FIG.

【0016】図3に示すように、Xテーブル38にも同
様にモータ保持部材42によりモータ43が固定され、
タイミングベルト44を介してY軸リードスクリュー4
6が連結されている。Y軸リードスクリュー46は、支
持部材47,48により回転可能に支持されており、Y
テーブル49に固着されているナット50が螺合してい
る。また、Y軸リードスクリュー46の両側部には1対
のレール51が敷設してあり、Yテーブル49に固着さ
れているスライダ52が嵌合している。このような構成
であるため、モータ43の駆動によりY軸リードスクリ
ュー46が回転し、ナット50およびスライダ52と一
体的にYテーブル49が図3左右方向に移動する。この
ようにしてXYテーブル機構31が構成されており、Y
テーブル49はベース板22に対して移動自在である。
As shown in FIG. 3, the motor 43 is similarly fixed to the X table 38 by the motor holding member 42.
Y-axis lead screw 4 via timing belt 44
6 are connected. The Y-axis lead screw 46 is rotatably supported by support members 47 and 48, and
A nut 50 fixed to the table 49 is screwed. Further, a pair of rails 51 is laid on both sides of the Y-axis lead screw 46, and a slider 52 fixed to a Y-table 49 is fitted therein. With such a configuration, the Y-axis lead screw 46 is rotated by the drive of the motor 43, and the Y table 49 is integrally moved with the nut 50 and the slider 52 in the horizontal direction in FIG. In this way, the XY table mechanism 31 is configured, and Y
The table 49 is movable with respect to the base plate 22.

【0017】Yテーブル49には、保持フレーム53お
よび切屑カバー54を介して穿孔手段55が取り付けら
れている。この穿孔手段55は、スピンドルモータ55
aと、その上端に固着してあるコレットチャック55b
と、コレットチャック55bに保持されるドリル55c
などの穿孔部材とから構成されている。そして、スピン
ドルモータ55aの駆動によりドリル55cが回転しな
がら上昇し、後述するプリント基板56などのワークを
穿孔するものである。
A punching means 55 is attached to the Y table 49 via a holding frame 53 and a chip cover 54. This punching means 55 is a spindle motor 55.
a and a collet chuck 55b fixed to the upper end thereof
And a drill 55c held by the collet chuck 55b
And the perforating member. Then, by driving the spindle motor 55a, the drill 55c is raised while rotating and punches a work such as a printed circuit board 56 described later.

【0018】以上の構成であるため、X線カメラ26お
よび穿孔手段55がベース板22と一体的に本体ケース
1に対し図2左右方向(X軸方向)に移動可能であると
ともに、穿孔手段55はさらにベース板22上で移動自
在である。
With the above construction, the X-ray camera 26 and the punching means 55 are movable in the left-right direction (X-axis direction) in FIG. Is further movable on the base plate 22.

【0019】この本体ケース1上にはワークテーブル4
が設けられており、その上に穿孔すべきワークであるプ
リント基板56が載置される。ワークテーブル4には孔
部4aが穿設されており、X線カメラ26または穿孔手
段55は孔部4aおよびプリント基板56を介して前述
のX線発生装置8と対向可能である。すなわち、図4に
おいてはX線カメラ26が孔部4aおよびプリント基板
56を介してX線発生装置8と対向する状態であり、こ
の状態からモータ19を作動させてベース板22を移動
させ、穿孔手段55を孔部4aおよびプリント基板56
を介してX線発生装置8と対向させた状態を図4に示し
ている。なお、図4においては、図示しない駆動機構に
より支持部材14を下降させ、保護筒13をプリント基
板56に密着させている。これにより、穿孔時にプリン
ト基板56が移動しないように保持される。通路部13
aは筒状なので、ドリル55cにより損傷する恐れはな
い。
A work table 4 is provided on the main body case 1.
Is provided, on which the printed circuit board 56, which is a work to be perforated, is placed. The work table 4 is provided with a hole 4a, and the X-ray camera 26 or the punching means 55 can face the above-mentioned X-ray generator 8 through the hole 4a and the printed board 56. That is, in FIG. 4, the X-ray camera 26 is in a state of facing the X-ray generator 8 via the hole 4a and the printed circuit board 56, and in this state, the motor 19 is operated to move the base plate 22 for punching. The means 55 is provided for the hole 4a and the printed board 56.
FIG. 4 shows a state of being opposed to the X-ray generator 8 via the. In FIG. 4, the support member 14 is moved down by a drive mechanism (not shown) to bring the protective cylinder 13 into close contact with the printed circuit board 56. As a result, the printed circuit board 56 is held so as not to move during punching. Passage 13
Since a is cylindrical, there is no risk of damage by the drill 55c.

【0020】次に、この穿孔装置における画像認識の歪
み補正データの作成方法について、図2〜6を参照して
説明する。まず、ドリル55cが正確な原点位置(X線
発生装置8の中心と対向する位置)にあるか否かを確認
し、ドリル55cがずれていた場合は、モータ19,3
3,43を駆動して、ドリル55cをX線発生装置8の
中心と対向するように移動させ、ここを初期位置として
改めて設定する(A)。これによって、画像処理におけ
る原点と穿孔手段55の原点(初期位置)とを一致させ
る。
Next, a method of creating distortion correction data for image recognition in this punching device will be described with reference to FIGS. First, it is confirmed whether or not the drill 55c is at an accurate origin position (position facing the center of the X-ray generator 8). If the drill 55c is displaced, the motors 19 and 3 are
3 and 43 are driven to move the drill 55c so as to face the center of the X-ray generator 8 and set again as the initial position (A). As a result, the origin in the image processing and the origin (initial position) of the punching means 55 are matched.

【0021】次に、誤差測定用基板70(図7参照)に
穿孔すべき孔の位置を選択する(B)。具体的には、本
実施例では図8に示すように、原点71iを中心とする
正方形の頂点をなす4点(71a〜71d)と、隣り合
う頂点の2等分点にあたる4点(71e〜71h)と
の、合計8点についてのデータを求めて、それに基づい
て補正データを作成するようにしている。そこで、上記
8点のうちのどの点の穿孔および座標認識を行なうか
を、使用者がスイッチ10(図1参照)から入力し記憶
回路60(図5参照)に記憶させる。
Next, the position of the hole to be drilled in the error measuring substrate 70 (see FIG. 7) is selected (B). Specifically, in this embodiment, as shown in FIG. 8, four points (71a to 71d) forming the vertices of a square centered on the origin 71i and four points (71e to 71e to the bisector of adjacent vertices). 71h), a total of 8 points of data are obtained, and correction data is created based on the data. Therefore, the user inputs from the switch 10 (see FIG. 1) which of the above eight points is to be punched and the coordinates are to be recognized, and is stored in the storage circuit 60 (see FIG. 5).

【0022】そして、誤差測定用基板70(図7参照)
をワークテーブル4上に載置し(C)、穿孔手段55に
より基板70に穿孔する(D)。例えばステップBにお
いて誤差測定用孔71aを選択した場合、原点位置71
iから右上に所定距離移動した位置(図7に示す通り、
本実施例では右に2mm、上に2mmの位置)にドリル
55cが位置するように、XYテーブル機構31を作動
させる。そして、スピンドルモータ55aを作動させ
て、ドリル55cにより誤差測定用基板70に図7に示
す誤差測定用孔71aを穿孔する。穿孔したら、ドリル
55cはステップAにおいて設定した初期位置へ戻され
る。
The error measuring substrate 70 (see FIG. 7)
Is placed on the work table 4 (C), and the substrate 70 is perforated by the perforation means 55 (D). For example, when the error measuring hole 71a is selected in step B, the origin position 71
The position moved a predetermined distance from i to the upper right (as shown in FIG. 7,
In the present embodiment, the XY table mechanism 31 is operated so that the drill 55c is located at a position 2 mm to the right and 2 mm above. Then, the spindle motor 55a is actuated, and the error measuring board 70 is punched with the error measuring hole 71a shown in FIG. 7 by the drill 55c. After drilling, the drill 55c is returned to the initial position set in step A.

【0023】次に、モータ19を作動させて、X線カメ
ラ26がX線発生装置8と対向するようにベース板22
を移動させる。そして、X線発生装置8から誤差測定用
基板70にX線を照射してそのX線像をX線カメラ26
で撮像し、画像処理回路30により誤差測定用孔71a
の座標を求める(E)。
Next, the motor 19 is actuated so that the X-ray camera 26 faces the X-ray generator 8 and the base plate 22.
To move. Then, the error measuring substrate 70 is irradiated with X-rays from the X-ray generator 8 and the X-ray image is taken by the X-ray camera 26.
The image processing circuit 30 captures an image with the error measurement hole 71a.
(E).

【0024】本実施例では、所定枚数(n枚)の誤差測
定用基板について上記のような誤差測定用孔71aの穿
孔を行ない、その座標の平均をとるようにしている。そ
こで、n枚の誤差測定用基板の穿孔が完了したか否かを
判断し(F)、完了していない場合には、次の誤差測定
用基板(図示せず。)を穿孔装置にセットし(C)、穿
孔(D)、孔座標認識(E)を行なう。このようにして
誤差測定用基板を交換しながらステップC〜Eを繰り返
し、n枚の基板の穿孔および孔座標認識を完了させる。
ステップFにおいて、n枚の基板の穿孔および孔座標認
識が完了したことが確認されたら、これらn枚の基板に
ついてそれぞれ求めた孔の座標の平均をとり、この座標
の平均をこの誤差測定用孔71aの位置として記憶回路
60に記憶する(G)。以上で誤差測定用孔71aに関
する穿孔および画像認識が完了する。
In the present embodiment, the error measuring holes 71a as described above are formed on a predetermined number (n) of error measuring substrates, and the coordinates of the holes are averaged. Therefore, it is judged whether or not the punching of n error measuring substrates is completed (F), and if not completed, the next error measuring substrate (not shown) is set in the punching device. (C), drilling (D), and hole coordinate recognition (E) are performed. In this way, steps C to E are repeated while exchanging the error measurement substrate, and the perforation and hole coordinate recognition of n substrates are completed.
In step F, when it is confirmed that the drilling and hole coordinate recognition of n substrates are completed, the coordinates of the holes obtained for these n substrates are averaged, and the average of these coordinates is used as the error measuring hole. The position 71a is stored in the storage circuit 60 (G). This completes the perforation and image recognition of the error measuring hole 71a.

【0025】次に、全ての誤差測定孔(本実施例では8
個)の穿孔および画像認識が完了したか否かを判定する
(H)。まだ全ての誤差測定孔の穿孔および画像認識が
完了していない場合は、ステップBに戻り次の孔位置を
選択する。ここでは、誤差測定用孔71b(図8参照)
を選択する。そして誤差測定用基板を交換してセットし
(C)、孔71bを穿孔すべき位置(本実施例では原点
71iからX方向右に2mmの位置)にドリル55cを
移動させ、誤差測定用基板70に誤差測定用孔71aを
穿孔する(D)。穿孔したら、ドリル55cを初期位置
へ戻す。それから、X線発生装置8,X線カメラ26お
よび画像処理回路30を用いて、誤差測定用孔71bの
座標を求める(E)。そして、穿孔した基板の枚数を確
認し(F)、所定枚数nに到達したら、それぞれの座標
の平均をとることにより誤差測定用孔71bの座標を定
め(E)、これを記憶回路(図5参照)に記憶させる。
Next, all the error measuring holes (8 in this embodiment)
It is determined whether or not perforation and image recognition have been completed (H). If the drilling of all the error measurement holes and the image recognition have not been completed yet, the process returns to step B to select the next hole position. Here, the error measuring hole 71b (see FIG. 8)
Select. Then, the error measuring board is set by exchanging (C), and the drill 55c is moved to a position where the hole 71b should be drilled (a position 2 mm to the right in the X direction from the origin 71i in this embodiment), and the error measuring board 70 is moved. An error measuring hole 71a is drilled in (D). After drilling, the drill 55c is returned to the initial position. Then, using the X-ray generator 8, the X-ray camera 26 and the image processing circuit 30, the coordinates of the error measuring hole 71b are obtained (E). Then, the number of punched substrates is confirmed (F), and when the predetermined number n is reached, the coordinates of the error measuring holes 71b are determined by averaging the respective coordinates (E), and this is stored in the storage circuit (FIG. 5). ).

【0026】このようにして、ステップB〜Hを繰り返
して、誤差測定用孔71a〜71hの全てについての座
標認識を行なう。モータ19,33,43は精度よく
(誤差は数μm程度)制御できるため、実際に穿孔した
誤差測定孔71a〜71hの位置は、1枚の基板上に穿
孔されたと仮定して示すと、図8のように均等間隔L
(本実施例では2mm)で正方形の輪郭に沿って並ぶよ
うに位置する。すなわち、孔71a,71b,71c,
71dは、正方形の各頂点にあたる位置に設けられてお
り、孔71a,71b,71c,71dを頂点として、
一辺の長さが2L(4mm)の正方形72が構成され
る。そして、隣り合う各頂点間を2等分する位置、すな
わち正方形72の4辺を2等分するように孔71e,7
1f,71g,71hがそれぞれ位置している。そして
この正方形の中心に原点71iが位置する。
In this manner, steps B to H are repeated to perform coordinate recognition on all the error measuring holes 71a to 71h. Since the motors 19, 33, and 43 can be controlled accurately (with an error of about several μm), the positions of the error measurement holes 71a to 71h that are actually punched are shown on the assumption that they are punched on one substrate. Equal spacing L as 8
(2 mm in the present embodiment), and they are located side by side along a square contour. That is, the holes 71a, 71b, 71c,
71d is provided at a position corresponding to each vertex of the square, and the holes 71a, 71b, 71c, 71d are used as the vertex,
A square 72 having a side length of 2 L (4 mm) is formed. Then, the holes 71e, 7 are formed so as to divide the space between adjacent vertices into two equal parts, that is, to divide the four sides of the square 72 into two equal parts.
1f, 71g, and 71h are located, respectively. The origin 71i is located at the center of this square.

【0027】ところが、従来の問題点として前述したよ
うに、X線カメラ26によって生じる歪みによって、ス
テップEにおいて認識しステップGにおいて平均を求め
た孔71a〜71hの画像上の座標は、正確な正方形を
構成せず、図9に示すようにゆがんた配列状態となる。
そこでこの座標データをもとにして画像の歪みを補正す
るための補正データを作成する(I)。その方法につい
て以下に説明する。なお、以下の説明において、孔71
a〜71iの画像上の位置は71a´〜71i´のよう
に「´」を付して示している。
However, as described above as a conventional problem, the coordinates on the image of the holes 71a to 71h recognized in step E and averaged in step G due to the distortion generated by the X-ray camera 26 are accurate squares. , And a distorted array state is formed as shown in FIG.
Therefore, based on this coordinate data, correction data for correcting the image distortion is created (I). The method will be described below. In the following description, the holes 71
The positions of a to 71i on the image are shown by adding "'" like 71a' to 71i '.

【0028】図9に示すように、予めX線カメラ26に
設定してある十字状の基準線(X軸,Y軸)26a,2
6bに基づいて、画像を第1象限72a,第2象限72
b,第3象限72d,第4象限72cに分割する。以下
に、図10,11に基づいて、第1象限72aにおいて
補正データ(補正式)を求める方法を説明する。なお、
便宜上、画像認識を行なうべき点をPとし、これが画像
認識における歪みによりP´の位置に認識されたと仮定
する。そして、Pの座標を(X,Y)とし、P´の座標
を(X´,Y´)とする。
As shown in FIG. 9, cross-shaped reference lines (X-axis, Y-axis) 26a, 2 which are preset in the X-ray camera 26.
6b, the image is displayed in the first quadrant 72a and the second quadrant 72.
b, the third quadrant 72d, and the fourth quadrant 72c. Hereinafter, a method of obtaining correction data (correction formula) in the first quadrant 72a will be described with reference to FIGS. In addition,
For convenience, let P be the point at which image recognition is to be performed, and assume that this is recognized at the position P ′ due to distortion in image recognition. Then, the coordinates of P are (X, Y), and the coordinates of P'are (X ', Y').

【0029】X軸方向について、原点71i´から2等
分点71f´までの距離dx1 と、2等分点71e´か
ら頂点71a´までの距離dx2 とを求める。そして、
Y軸方向について、原点71i´から2等分点71e´
までの距離dy1 ,2等分点71f´から頂点71a´
までの距離dy2 を求める。これに基づいて、まずX軸
方向についての補正式を求める。なお、X軸方向の補正
式を求める際には、Y軸方向の誤差は省略している。
In the X-axis direction, a distance dx1 from the origin 71i 'to the bisector 71f' and a distance dx2 from the bisector 71e 'to the apex 71a' are obtained. And
About the Y-axis direction, the bisector 71e 'from the origin 71i'
Distance dy1, bisector 71f 'to vertex 71a'
Find the distance dy2 to. Based on this, first, a correction formula in the X-axis direction is obtained. When obtaining the correction formula in the X-axis direction, the error in the Y-axis direction is omitted.

【0030】図10には実際の各点の位置関係(歪みを
含まない状態)を示しており、図11には歪みを含んで
画像認識された位置関係を示している。図10において
は、点Pを通るX軸に平行な直線72を引き、この直線
72とY軸26bとの交点をR、頂点71aと2等分点
71fとを通る直線73と直線72との交点をQと表し
ている。図11においても同様に、点P´を通るX軸に
平行な直線74を引き、原点71i´と2等分点71e
´とを通る直線75aと直線74との交点をR´、頂点
71a´と2等分点71f´とを通る直線75bと直線
74との交点をQ´とする。
FIG. 10 shows the actual positional relationship of each point (state without distortion), and FIG. 11 shows the positional relationship of image recognition including distortion. In FIG. 10, a straight line 72 that passes through the point P and is parallel to the X axis is drawn, the intersection of this straight line 72 and the Y axis 26b is R, and the straight line 73 and the straight line 72 that pass through the apex 71a and the bisector 71f. The intersection is represented by Q. Similarly in FIG. 11, a straight line 74 passing through the point P ′ and parallel to the X-axis is drawn, and the origin 71i ′ and the bisector 71e are drawn.
It is assumed that the intersection of the straight line 75a and the straight line 74 passing through ′ is R ′, and the intersection of the straight line 75b passing through the apex 71a ′ and the bisecting point 71f ′ and the straight line 74 is Q ′.

【0031】ここで、以下の関係式がなりたつ。 RP/RQ=R´P´/R´Q´…(1) X/L=X´/R´Q´……………(2) ところでこの計算においてはY軸方向の歪みを無視する
ため、原点71i´と2等分点71e´との距離をL
(2mm)と等しいとみなす。すなわち、点R´は原点
71i´と2等分点71e´とを結ぶ線分を、Y´:
(L−Y´)に内分する点であり、同様に点Q´は2等
分点71f´と頂点71a´とを結ぶ線分を、Y´:
(L−Y´)に内分する点であるとみなされる。従って
次式がなりたつ。 R´Q´={Y´×dx2 +(L−Y´)×dx1 }/L…(3) そこで、式(3) を式(2) に代入すると、点P´の座標X
´が求められる。 X=X´×L2 /{Y´×dx2 +(L−Y´)×dx
1 } これにより、画像認識により求められた点P´の座標
(X´,Y´)および距離dx1 ,dx2 により実際の
点Pの座標Xが求められる。
Here, the following relational expressions hold. RP / RQ = R'P '/ R'Q' ... (1) X / L = X '/ R'Q' ... (2) By the way, in this calculation, the distortion in the Y-axis direction is ignored. , The distance between the origin 71i ′ and the bisector 71e ′ is L
Equal to (2 mm). That is, the point R'is a line segment connecting the origin 71i 'and the bisector 71e', and Y ':
It is a point that is internally divided into (L−Y ′), and similarly, the point Q ′ is a line segment connecting the bisecting point 71f ′ and the apex 71a ′.
It is regarded as a point that is internally divided into (L-Y '). Therefore, the following equation holds. R'Q '= {Y' * dx2 + (L-Y ') * dx1} / L ... (3) Then, if Formula (3) is substituted into Formula (2), the coordinate X of the point P'will be set.
'Is required. X = X '* L2 / (Y' * dx2 + (L-Y ') * dx
1} Thereby, the coordinate X of the actual point P is obtained from the coordinates (X ', Y') of the point P'obtained by the image recognition and the distances dx1 and dx2.

【0032】また、これと同様の方法で点Pの座標Yを
計算すると以下の関係になる。 Y=Y´×L2 /{X´×dy2 +(L−X´)×dy
1 } なお、この計算は、上記X軸方向の補正データを求める
例のX軸とY軸を入れ変えるだけで容易に行なえる。そ
してここでは、X軸方向の誤差は無視している。
When the coordinate Y of the point P is calculated by the same method, the following relation is obtained. Y = Y '* L2 / (X' * dy2 + (L-X ') * dy
1} Note that this calculation can be easily performed by simply replacing the X axis and the Y axis in the example of obtaining the correction data in the X axis direction. And here, the error in the X-axis direction is ignored.

【0033】X軸上およびY軸上の誤差は微小なもので
あるため、上記のように、X軸方向の座標を求める際に
はY軸方向の誤差を無視し、Y軸方向の座標を求める際
にはX軸方向の誤差を無視しても実質的に問題はない。
Since the errors on the X-axis and the Y-axis are minute, as described above, when obtaining the coordinates in the X-axis direction, the error in the Y-axis direction is ignored and the coordinates in the Y-axis direction are calculated. When obtaining the error, there is practically no problem even if the error in the X-axis direction is ignored.

【0034】次に、図12,13に基づいて、第4象限
72cにおいて補正データ(補正式)を求める方法を説
明する。前述と同様に、画像認識を行なうべき点をUと
し、これが画像認識における歪みによりU´の位置に認
識されたと仮定する。そして、Uの座標を(X1,Y
1)とし、U´の座標を(X´1,Y´1)とする。な
お第4象限であるので、Y1およびY´1は負の値であ
る。
Next, a method of obtaining correction data (correction formula) in the fourth quadrant 72c will be described with reference to FIGS. Similarly to the above, it is assumed that the point at which image recognition is to be performed is U, and this is recognized at the position of U ′ due to distortion in image recognition. Then, let the coordinates of U be (X1, Y
1) and the coordinates of U ′ are (X′1, Y′1). Since it is in the fourth quadrant, Y1 and Y'1 are negative values.

【0035】X軸方向について、前述の距離dx1 と、
2等分点71g´から頂点71b´までの距離dx3 を
求める。そして、Y軸方向について、原点71i´から
2等分点71g´までの距離dy3 ,2等分点71f´
から頂点71b´までの距離dy4 を求める。
In the X-axis direction, the above-mentioned distance dx1
The distance dx3 from the bisector 71g 'to the vertex 71b' is obtained. Then, in the Y-axis direction, the distance dy3 from the origin 71i 'to the bisector 71g', the bisector 71f '.
The distance dy4 from the top to the vertex 71b 'is obtained.

【0036】図12には実際の各点の位置関係を示して
おり、図13には歪みを含んで画像認識された位置関係
を示している。図12において、点Uを通る直線76を
引き、この直線76とY軸26bとの交点をS、頂点7
1bと2等分点71fとを通る直線77と直線76との
交点をTとする。図13においても同様に、点U´を通
る直線78を引き、原点71i´と2等分点71g´と
を通る直線79aと直線78との交点をS´、頂点71
b´と2等分点71f´とを通る直線79bと直線78
との交点をT´とする。
FIG. 12 shows the actual positional relationship between the respective points, and FIG. 13 shows the positional relationship in which the image is recognized including distortion. In FIG. 12, a straight line 76 passing through the point U is drawn, and the intersection of this straight line 76 and the Y axis 26b is S, and the vertex 7
Let T be the intersection of a straight line 77 and a straight line 76 passing through 1b and the bisector 71f. Also in FIG. 13, similarly, a straight line 78 passing through the point U ′ is drawn, and an intersection point of the straight line 79a passing through the origin 71i ′ and the bisecting point 71g ′ and the straight line 78 is S ′, and the vertex 71.
A straight line 79b and a straight line 78 passing through b'and the bisector 71f '
Let the intersection with and be T '.

【0037】そこで、第1象限72aの場合と同様に計
算を行なうと、以下の関係式がなりたつ。 X1=X´1×L2 /{−Y´1×dx3 +(L+Y´
1)×dx1 } Y1=Y´1×L2 /{X´1×dy4 +(L−X´
1)×dy3 } このようにして、画像認識により求められた点U´の座
標(X´1,Y´1)および距離dx1 ,dx3 ,dy
3 ,dy4 により実際の点Uの座標(X1,Y1)が求
められる。同様にして、第2象限や第3象限に関して
も、歪みを補正するための計算式が得られる。
Therefore, when the same calculation as in the first quadrant 72a is performed, the following relational expression is established. X1 = X'1 * L2 / (-Y'1 * dx3 + (L + Y '
1) xdx1} Y1 = Y'1xL2 / {X'1xdy4 + (L-X '
1) × dy3} In this way, the coordinates (X'1, Y'1) of the point U'obtained by image recognition and the distances dx1, dx3, dy
The coordinates (X1, Y1) of the actual point U are obtained from 3 and dy4. Similarly, with respect to the second quadrant and the third quadrant, a calculation formula for correcting the distortion can be obtained.

【0038】以上のように、図5に示す画像処理回路3
0で誤差測定用孔71a〜71hの画像認識を行ない、
演算回路63により各象限72a,72b,72c,7
2dのそれぞれの補正式を求め、記憶回路60に記憶さ
せておく。なお、これらの回路およびモータ19,3
3,43,25aの制御は制御回路(CPU)62によ
り行なわれる。
As described above, the image processing circuit 3 shown in FIG.
When 0, the image recognition of the error measuring holes 71a to 71h is performed,
Each of the quadrants 72a, 72b, 72c, 7 by the arithmetic circuit 63
The respective correction expressions of 2d are obtained and stored in the storage circuit 60. In addition, these circuits and the motors 19 and 3
Control of 3, 43 and 25a is performed by a control circuit (CPU) 62.

【0039】これらの工程を穿孔装置使用開始時の初期
動作として行なっておいて、それから、実際に穿孔すべ
きプリント基板56の穿孔を行なう。この穿孔工程のフ
ローチャートを図14に示している。
These steps are performed as an initial operation at the start of use of the punching device, and then the printed circuit board 56 to be actually punched is punched. A flow chart of this punching process is shown in FIG.

【0040】まず、前述のステップAと同様に、ドリル
55cの中心と画像上の原点とを一致させる(a)。そ
して、図2に示すように、ワークテーブル4上にプリン
ト基板56をセットし(b)、そして、X線発生装置
8,X線カメラ26,画像処理回路58によって識別マ
ーク61を画像認識する(c)。このとき、画像に歪み
を生じるので、図9と同様にX軸26a,Y軸26bに
より4つの象限72a,72b,72c,72dに分割
する。そして、演算回路63により、記憶回路60に記
憶させていたそれぞれの補正データに基づいて、各象限
ごとに補正する(d)。
First, as in step A described above, the center of the drill 55c is aligned with the origin on the image (a). Then, as shown in FIG. 2, the printed board 56 is set on the work table 4 (b), and the identification mark 61 is image-recognized by the X-ray generator 8, the X-ray camera 26, and the image processing circuit 58 ( c). At this time, since the image is distorted, the image is divided into four quadrants 72a, 72b, 72c, 72d by the X axis 26a and the Y axis 26b as in FIG. Then, the arithmetic circuit 63 corrects each quadrant based on the correction data stored in the storage circuit 60 (d).

【0041】その後、この補正の結果認識されたマーク
61の中心へ穿孔手段55を移動させる。すなわち、図
4に示すように、モータ19の駆動によりベース板22
を所定距離(X線カメラと穿孔手段間の間隔)だけ移動
するとともに、モータ33,43を駆動してXテーブル
38,Yテーブル49を移動させることにより、上記の
ようにして補正された正確な穿孔位置へ穿孔手段55を
移動させる。そしてスピンドルモータ55aに駆動され
るドリル55cにより、プリント基板56を穿孔する
(e)。これにより位置決め用マーク61の原点への正
確な穿孔が完了する。そこで穿孔作業を続行するか否か
を判断し(f)、続行する場合はステップb〜eを繰り
返し、ステップfにおいて穿孔作業を続行しないと判断
された時点で全工程を終了する。
After that, the punching means 55 is moved to the center of the mark 61 recognized as a result of this correction. That is, as shown in FIG.
Is moved by a predetermined distance (a distance between the X-ray camera and the punching means), and the motors 33 and 43 are driven to move the X table 38 and the Y table 49. The piercing means 55 is moved to the piercing position. Then, the printed board 56 is perforated by the drill 55c driven by the spindle motor 55a (e). This completes the accurate perforation of the positioning mark 61 at the origin. Therefore, it is determined whether or not the drilling work is continued (f), and when it is continued, steps b to e are repeated, and when it is determined in step f that the drilling work is not continued, all the processes are finished.

【0042】以上のように本発明の方法によると、X線
カメラ26などの撮像手段の構造上の問題などに起因す
る画像認識時の歪みを補正することにより、正確な画像
認識を行なうことができる。特に、ビジコンカメラなど
による歪みは、X軸やY軸に沿って均一なものではな
く、不均一になる場合が多いが、4つの象限ごとに設定
された補正データに基づいて補正を行なうため、効果的
な補正が行なえ、極めて正確な画像認識が可能である。
As described above, according to the method of the present invention, accurate image recognition can be performed by correcting the distortion at the time of image recognition due to the structural problem of the image pickup means such as the X-ray camera 26. it can. In particular, the distortion due to the vidicon camera is not uniform along the X-axis and the Y-axis and is often non-uniform, but since the correction is performed based on the correction data set for each of the four quadrants, Effective correction can be performed and extremely accurate image recognition is possible.

【0043】しかも、標準ゲージなどを用いる必要がな
く、穿孔装置に備えられている穿孔手段によって穿孔し
た誤差測定用孔に基づいて補正データの作成を行なうた
め、他部材を用いる必要がないとともに、標準ゲージを
セットする工程がないため手作業による誤差も生じな
い。
Moreover, since it is not necessary to use a standard gauge or the like and the correction data is created based on the error measuring hole punched by the punching means provided in the punching device, it is not necessary to use any other member. Since there is no step to set the standard gauge, there will be no error due to manual work.

【0044】また、撮像手段の中心軸とXYテーブルの
軸とが相対的に傾いているような場合に生じる誤差も、
本発明の方法に基づいて補正することができ、画像認識
が正確に行なえる。
Further, an error caused when the central axis of the image pickup means and the axis of the XY table are relatively inclined,
Correction can be made based on the method of the present invention, and image recognition can be accurately performed.

【0045】補正データを求める作業は、画像認識装置
の使用開始時などに行なえば、その後しばらくは行なう
必要がなく、最初に求めた補正データに基づいて正確な
画像認識が可能である。
If the operation for obtaining the correction data is performed at the start of use of the image recognition device, it is not necessary to perform it for a while after that, and accurate image recognition can be performed based on the initially obtained correction data.

【0046】なお本発明は、電磁波照射手段と撮像手段
とを用いて画像認識を行なう穿孔装置全般について同様
な効果を達成することができる。X線を利用する場合に
特に効果的なものではあるが、光を照射する装置などに
ついても適用できる。 また、補正データを求める方法
としては、本実施例における計算法に限られず、4つの
象限ごとに適切な補正データを算出することができれ
ば、いかなる計算法を用いても構わない。
The present invention can achieve the same effect with respect to the perforation apparatus as a whole for performing image recognition using the electromagnetic wave irradiation means and the image pickup means. Although it is particularly effective when using X-rays, it can also be applied to a device that irradiates light. Further, the method for obtaining the correction data is not limited to the calculation method in the present embodiment, and any calculation method may be used as long as appropriate correction data can be calculated for each of the four quadrants.

【0047】なお、上記実施例においては、1枚の誤差
測定用基板に1個ずつの誤差測定用孔を形成している
が、これに限定されるものではなく、1枚の基板に多数
の孔を設けてもよい。また上記実施例では、複数枚の基
板の同一個所に孔を明けその平均をとることにより精度
を高めているが、これに限られるものではない。
In the above embodiment, one error measurement substrate is provided with one error measurement hole, but the number of error measurement holes is not limited to this, and a large number of error measurement holes are provided on one substrate. You may provide a hole. Further, in the above-described embodiment, the accuracy is improved by forming holes in the same place of a plurality of substrates and averaging the holes, but the present invention is not limited to this.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上のように本発明によると、画像認識
時に歪みを生じても、それを補正することにより正確な
画像認識を行なうことができ、特に、4つの象限ごとに
設定された補正データに基づいて補正を行なうため、極
めて効果的な補正が行なえ、画像認識の精度が非常に向
上する。
As described above, according to the present invention, even if distortion occurs during image recognition, it is possible to perform accurate image recognition by correcting it, and in particular, correction set for each of four quadrants. Since correction is performed based on the data, extremely effective correction can be performed, and the accuracy of image recognition is greatly improved.

【0049】また、穿孔手段により穿孔した孔に基づい
て補正データを作成するため、誤差が生じる恐れも小さ
い。
Further, since the correction data is created based on the holes punched by the punching means, the risk of error is small.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本実施例に係る穿孔装置を示す縮小斜視図FIG. 1 is a reduced perspective view showing a punching device according to an embodiment.

【図2】穿孔装置の要部断面図FIG. 2 is a sectional view of a main part of a punching device.

【図3】図2のW−W線断面図3 is a sectional view taken along line WW of FIG.

【図4】穿孔装置のベース板移動時の要部断面図FIG. 4 is a sectional view of an essential part of the punching device when the base plate is moved.

【図5】穿孔装置のブロック図FIG. 5 is a block diagram of a punching device.

【図6】補正データ作成のフローチャートFIG. 6 is a flowchart for creating correction data.

【図7】誤差測定用孔を示す説明図FIG. 7 is an explanatory view showing an error measuring hole.

【図8】誤差測定用孔の実際の位置関係を示す説明図FIG. 8 is an explanatory diagram showing an actual positional relationship of error measurement holes.

【図9】誤差測定用孔の認識画像を示す説明図FIG. 9 is an explanatory diagram showing a recognition image of an error measuring hole.

【図10】誤差測定用孔の第1象限の実際の位置関係を
示す説明図
FIG. 10 is an explanatory diagram showing the actual positional relationship of the error measurement holes in the first quadrant.

【図11】誤差測定用孔の第1象限の認識画像を示す説
明図
FIG. 11 is an explanatory view showing a recognition image in the first quadrant of the hole for error measurement.

【図12】誤差測定用孔の第3象限の実際の位置関係を
示す説明図
FIG. 12 is an explanatory diagram showing the actual positional relationship of the error measurement hole in the third quadrant.

【図13】誤差測定用孔の第3象限の認識画像を示す説
明図
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a recognition image of a third quadrant of the hole for error measurement.

【図14】プリント基板穿孔のフローチャートFIG. 14 is a flowchart for punching a printed circuit board.

【符号の説明】 8 電磁波照射手段(X線発生装置) 26 撮像手段(X線カメラ) 26a X軸 26b Y軸 55 穿孔手段 56 ワーク(プリント基板) 70 誤差測定用基板 71a〜71h 誤差測定用孔 72a 第1象限 72b 第2象限 72c 第4象限 72d 第3象限[Explanation of Codes] 8 Electromagnetic Wave Irradiation Means (X-ray Generator) 26 Imaging Means (X-ray Camera) 26a X Axis 26b Y Axis 55 Perforation Means 56 Work (Printed Circuit Board) 70 Error Measurement Substrates 71a to 71h Error Measurement Holes 72a 1st quadrant 72b 2nd quadrant 72c 4th quadrant 72d 3rd quadrant

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 3/00 K 6921−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H05K 3/00 K 6921-4E

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電磁波照射手段と、撮像手段と、穿孔手
段と、上記穿孔手段を移動させる穿孔手段移動機構とを
有する穿孔装置を用い、 上記穿孔装置に誤差測定用基板をセットし、上記穿孔手
段移動機構により上記穿孔手段を初期位置から予め設定
された所定距離だけ移動させた状態で、上記誤差測定用
基板に誤差測定用孔を穿孔する工程と、 上記電磁波照射手段および上記撮像手段を用いて上記誤
差測定用孔を画像認識してその位置を検出する工程とを
含み、 上記初期位置を中心として直交するX軸およびY軸によ
って画像領域を分割した4象限のそれぞれにおいて、上
記誤差測定用孔の穿孔工程および上記位置検出工程を行
ない、その結果に基づいて上記各象限ごとにそれぞれの
補正データを作成しておき、 ワークを上記穿孔装置にセットし、上記電磁波照射手段
および上記撮像手段により上記ワークを画像認識し、上
記認識画像を上記4象限に分割し、各象限ごとにそれぞ
れの上記補正データに基づいて補正を行なうことを特徴
とする穿孔装置における画像認識の歪み補正方法。
1. A perforation apparatus having an electromagnetic wave irradiation means, an imaging means, a perforation means, and a perforation means movement mechanism for moving the perforation means is used, and an error measurement substrate is set in the perforation apparatus, and the perforation is performed. Using the means for moving the punching means from the initial position by a predetermined distance set in advance to punch an error measuring hole in the error measuring substrate; And recognizing the position of the hole for error measurement by detecting the position of the hole for error measurement in each of the four quadrants in which the image area is divided by the X-axis and the Y-axis orthogonal to the initial position. The hole punching step and the position detecting step are performed, and based on the results, correction data is created for each quadrant, and the workpiece is set in the punching device. The workpiece is image-recognized by the electromagnetic wave irradiation means and the imaging means, the recognized image is divided into the four quadrants, and correction is performed for each quadrant based on the correction data. Distortion correction method for image recognition in punching device.
【請求項2】 上記誤差測定用孔は、上記初期位置を中
心とする正方形の各頂点にあたる位置に穿孔された孔
と、隣り合う上記頂点間の2等分点にあたる位置に穿孔
された孔とを含むことを特徴とする請求項1に記載の穿
孔装置における画像認識の歪み補正方法。
2. The hole for error measurement is a hole drilled at a position corresponding to each vertex of a square centered on the initial position, and a hole drilled at a position corresponding to a bisector between adjacent vertexes. The distortion correction method for image recognition in a punching device according to claim 1, further comprising:
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007086555A1 (en) * 2006-01-30 2007-08-02 Seiko Precision Inc. Boring method and boring device
JP2007201349A (en) * 2006-01-30 2007-08-09 Seiko Precision Inc Boring method and boring apparatus
KR100955449B1 (en) * 2006-01-30 2010-05-04 세이코 프레시죤 가부시키가이샤 Boring method and boring device
JP4542046B2 (en) * 2006-01-30 2010-09-08 セイコープレシジョン株式会社 Drilling method and drilling device

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