JPH06274944A - Fine pattern forming device - Google Patents

Fine pattern forming device

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JPH06274944A
JPH06274944A JP6453593A JP6453593A JPH06274944A JP H06274944 A JPH06274944 A JP H06274944A JP 6453593 A JP6453593 A JP 6453593A JP 6453593 A JP6453593 A JP 6453593A JP H06274944 A JPH06274944 A JP H06274944A
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resist
fine pattern
transmittance
layer
pattern forming
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Shinichi Katsuta
伸一 勝田
Kenichi Ishizuka
賢一 石塚
Kazuhiko Yamada
一彦 山田
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To make a forming pit and groove thin in width at the time of forming plural replicas from a master disk in which fine patterns modulated into, photosensitive materials by laser exposure are recorded. CONSTITUTION:A converged laser beam constituted of two preceding beam 4 and succeeding beam 5 whose positions are shifted back-and-front and right- and-left is used for an object to be exposed, the transmittance of a light fading layer 3 is increased by the preceding beam 4, and the part of a resist 2 at which the succeeding beam 5 and the preceding beam 4 are overlapped is irradiated to a resist photosensitive level by the beams 4 and 5. Then, the forming bit and groove can be made thin, and the plural replicas can be formed without depending on the wavelength of a using light source or the number of the openings of an objective lens.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、再生専用ROM型光デ
ィスクのピット形成、あるいは記録可能光ディスクのト
ラッキング用溝形成において線幅を細くする為のレーザ
ビームを使用した微細パターン形成装置(以下、マスタ
ーライターと称す)に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fine pattern forming apparatus using a laser beam for narrowing the line width in the formation of pits in a read-only ROM type optical disc or in the formation of tracking grooves in a recordable optical disc (hereinafter referred to as a master. It is called a writer).

【0002】[0002]

【従来の技術】情報化社会の進展により組織、個人共に
扱うデータ量は飛躍的に増大しつつある。その中にあっ
て光ディスクは、再生専用としてのROM媒体、あるい
は記録可能なタイプとして追記型、書換型等が開発され
各方面で使用され始めている。大容量と言われる光ディ
スクに於いても益々の高密度化が要求されつつある。特
に画像情報を扱うと膨大なデータとなり従来の片面30
0MB(情処用130mm追記型、書換型ディスク)、
片面540MB(CD)、片面600MB(CD−RO
M)と言った光ディスクでは容量不足に陥る。
2. Description of the Related Art Due to the progress of information society, the amount of data handled by both organizations and individuals is increasing dramatically. Among them, as the optical disc, a read-only ROM medium or a recordable type such as a write-once type and a rewritable type has been developed and is being used in various fields. There is a growing demand for higher densities even in optical disks that are said to have a large capacity. Especially when image information is handled, it becomes a huge amount of data.
0MB (130mm write-once, rewritable disc for information),
One side 540MB (CD), one side 600MB (CD-RO
The optical disk described as M) has a shortage of capacity.

【0003】そこで、ディスク片面あたりの容量の増大
化が求められるがこれを達成するためには形成されるピ
ットあるいは溝自体の幅を細くする必要がある。これ迄
にこの様な光ディスク上に形成されるパターンの微細化
に関しては、特許公開平1ー098142「光ディスク
マスタリング装置」では、非線形光学素子を用いて波長
を短くした光源を使用して露光する方法、特許公開平1
ー317241「光ディスク原盤作製法」では、光退色
性層の問題点を示し、プロセス上の改善方法としてフォ
トレジスト膜表面を露光前に現像液に曝して表面に難溶
化層を形成することでピットの微細化を図ろうとしてい
る。プロセスのみでの微細化は、露光現像に関わる温
度、時間の管理が厳しくなる一方、更なる微細化には対
応できない。また、非線形素子を使用して、波長を短く
する手法は、光学系が複雑になり調整が難しい問題を有
している。
Therefore, it is required to increase the capacity per one side of the disk, but in order to achieve this, it is necessary to narrow the width of the pit or groove itself to be formed. Regarding the miniaturization of the pattern formed on such an optical disc, the method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 1-098142 “Optical disc mastering device” is performed by using a light source with a wavelength shortened by using a non-linear optical element. , Patent Publication No. 1
-317241 "Optical disc mastering method" shows the problem of the photobleaching layer. As a process improvement method, the photoresist film surface is exposed to a developer before exposure to form a sparingly soluble layer on the surface of the pit. Is trying to miniaturize. The miniaturization only by the process makes it difficult to control the temperature and time involved in the exposure and development, but cannot cope with further miniaturization. Further, the method of shortening the wavelength by using a non-linear element has a problem that the optical system becomes complicated and adjustment is difficult.

【0004】次に、従来のマスターライターについて図
面を参照して説明する。
Next, a conventional master writer will be described with reference to the drawings.

【0005】図4は従来例のマスターライターの構成
図、図5は図4のマスターライターによる光退色性層を
用いた微細パターンの形成方法の一例を示す基体の断面
図である。
FIG. 4 is a block diagram of a conventional master writer, and FIG. 5 is a sectional view of a substrate showing an example of a method for forming a fine pattern using a photobleaching layer by the master writer of FIG.

【0006】図4において、このマスターライターで
は、光源であるArガスレーザー11(λ:457.9
nm)からでたレーザー光は絞り12、オートレーザー
コントロール13、絞り14、波長板15、偏光ビーム
スプリッタ16bを経てビームを2系統に分割する。す
なわちサブビーム系は、パワー制御用のE/Oモジュレ
ータ21b、絞り22b、シャッター23’bを経て、
ビームスプリッタ24b、λ/4板25へ、メインビー
ム系は、メインビーム変調用のE/Oモジュレータ17
b、NDフィルター18b、ミラー19b、絞り22
b、シャッター23bを経て、ビームスプリッタ24b
でサブビーム系と再度合成されコリメータレンズ26で
拡大した平行光としてシャッター27を経て集光レンズ
(対物レンズ)28aを有する光学ヘッド28へ入れら
れる。スピンドル31上にある被露光体(レジスト、光
退色性層付きガラス原盤)へ光学ヘッド28から照射が
行われるが、フォーカスサーボは、レジストの感光波長
からはずれているHe−Neレーザー(波長:633n
m)30により行われている。後方ビーム系(メインビ
ーム系)と先行ビーム系(サブビーム系)は、被露光体
であるディスク半径方向に平行に並び接することなく設
けられている。
In FIG. 4, in this master writer, an Ar gas laser 11 (λ: 457.9) which is a light source is used.
The laser light emitted from (nm) passes through the diaphragm 12, the automatic laser control 13, the diaphragm 14, the wave plate 15, and the polarization beam splitter 16b to split the beam into two systems. That is, the sub beam system passes through the E / O modulator 21b for power control, the diaphragm 22b, and the shutter 23'b,
The main beam system is connected to the beam splitter 24b and the λ / 4 plate 25 by the E / O modulator 17 for main beam modulation.
b, ND filter 18b, mirror 19b, diaphragm 22
b, shutter 23b, beam splitter 24b
Then, it is re-combined with the sub-beam system and expanded as collimated light by the collimator lens 26, and enters the optical head 28 having a condenser lens (objective lens) 28a through a shutter 27. The object to be exposed (resist, glass master with a photobleachable layer) on the spindle 31 is irradiated from the optical head 28, but the focus servo uses a He-Ne laser (wavelength: 633n) deviating from the photosensitive wavelength of the resist.
m) 30. The rear beam system (main beam system) and the preceding beam system (sub beam system) are arranged in parallel in the radial direction of the disk, which is the object to be exposed, without being in contact with each other.

【0007】図5において、ガラス基板1の上にレジス
ト2と光退色性層3をスピンコートを中心にした塗布方
法により設ける。これを変調されたレーザービーム5´
にて光退色性層3越しにレジスト2に露光する。透過率
上昇領域32でレジスト感光に必要な光量を透過するこ
とによりレジスト感光領域33が形成される。これを光
退色性層3除去後、現像、乾燥を行うことでピット、溝
が形成される。光退色性層3を用いることによりレジス
ト2上に形成されるピットあるいは溝のエッジ部は、光
退色性層3無しの場合よりも鋭くなり良好な変調が得ら
れるが、形成されるピットあるいは溝の幅そのものは光
源波長、使用する対物レンズの開口数により決定される
ことから細くすることには限界がある。
In FIG. 5, a resist 2 and a photobleaching layer 3 are provided on a glass substrate 1 by a coating method centering on spin coating. This is modulated laser beam 5 '
The resist 2 is exposed through the photobleachable layer 3. A resist photosensitive region 33 is formed by transmitting a light amount necessary for resist exposure in the transmittance increasing region 32. After removal of the photobleachable layer 3, this is developed and dried to form pits and grooves. By using the photobleachable layer 3, the edges of the pits or grooves formed on the resist 2 are sharper than those without the photobleachable layer 3 and good modulation can be obtained. Since the width itself is determined by the wavelength of the light source and the numerical aperture of the objective lens used, there is a limit to making it narrow.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマスタ
ーライターを使用して作成した光ディスクのままでその
高密度化を図ると幾つかの大きな技術的課題に直面す
る。即ち、記録密度を上げるということは単位面積によ
り多くのデータを書き込むことになる。従来のピット幅
や溝幅のまま高密度化を図ると理屈の上でトラックピッ
チよりもピット幅あるいは溝幅が細い間は単位面積のデ
ータ量は増すが、それ以上の高密度化は望めない。また
実際は、トラックエラー信号の急激な低下を招くことか
らピット幅、溝幅がトラックピッチよりも細くてもディ
スクとしての特性が確保できなくなる。
If the optical disc produced by using the above-mentioned conventional master writer is used to increase its density, it will face some major technical problems. That is, increasing the recording density means writing more data in a unit area. If the conventional pit width and groove width are increased to increase the density, theoretically, the amount of data per unit area increases while the pit width or groove width is narrower than the track pitch, but higher density cannot be expected. . In fact, since the track error signal is drastically reduced, the characteristics of the disk cannot be secured even if the pit width and the groove width are smaller than the track pitch.

【0009】基本的には、露光に用いるマスターライタ
ーに登載されているビーム径を微小化することが望まれ
る。露光ビーム径(波長λ/開口数NA)を小さくすれ
ばよいことからNAを大きくするか、λを短波長化すれ
ばよい。NA(NA≦1)は、現状のマスタリングでは
既に0.9を越える物が使用されており、改善の幅は、
小さい。また、フォーカスサーボの焦点深度も更に厳し
くなる傾向がある。従ってλを小さくすることが望まれ
るが現状のマスタリング用光源としては、連続発振が出
来、十分に絞り込める単一モードレーザーであり、寿
命、安定性、ノイズ等の問題を一応解決しているレーザ
ーとしては、λが近紫外域を使用せざるを得ない。この
近紫外域の波長の光に対してもNAの大きな空気中で使
用することから難しく、更に可視域から外れるとビーム
そのものが見えなくなることから、光学系調整にも支障
をきたす。
Basically, it is desired to miniaturize the beam diameter registered on the master writer used for exposure. Since the exposure beam diameter (wavelength λ / numerical aperture NA) may be reduced, NA may be increased or λ may be shortened. NA (NA ≦ 1) has already exceeded 0.9 in the current mastering, and the extent of improvement is
small. In addition, the depth of focus of the focus servo tends to become more severe. Therefore, it is desirable to reduce λ, but the current mastering light source is a single-mode laser that can continuously oscillate and can be sufficiently narrowed down. It is a laser that solves problems such as lifetime, stability, and noise. As a result, λ cannot help but use the near-ultraviolet region. It is difficult to use light with a wavelength in the near-ultraviolet region as well because it is used in the air with a large NA, and when it goes out of the visible region, the beam itself cannot be seen, which causes trouble in adjusting the optical system.

【0010】また、光源の短波長化は、限りなく進むと
いった手段でないことから当然なが限度が見られる。
Further, the shortening of the wavelength of the light source is naturally limited because it is not a means for advancing infinitely.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、現状の
光学系を用い、より細いピットあるいは溝を形成するこ
とにある。
An object of the present invention is to form finer pits or grooves using the existing optical system.

【0012】そのため、本発明のマスターライターは、
進行方向に対し前後左右に位置をずらした2個の集束レ
ーザービームを用い、先行するビームが光退色性層の透
過率を上昇させ、後方ビームの先行ビームと重なり合う
部分がレジスト感光レベルにまで照射することを特徴と
する。また、本発明のマスターライターで、回転基体へ
の描画を行う場合には先行ビームが後方ビームよりも内
周側に位置に設置して、先行ビームと後方ビームが連続
照射により重なり合う部分のみを連続溝、あるいは連続
突起部とする。また先行ビームと後方ビームとの片方が
連続照射、片方がパルス照射を行うことにより微細凹状
ピット、あるいは凸状ピットを形成することを特徴とす
る。
Therefore, the master writer of the present invention is
Uses two focused laser beams that are displaced to the front, back, left, and right with respect to the traveling direction, and the preceding beam raises the transmittance of the photobleaching layer, and the portion overlapping the preceding beam of the rear beam is irradiated to the resist exposure level. It is characterized by doing. Further, in the master writer of the present invention, when writing is performed on the rotating substrate, the preceding beam is installed at a position closer to the inner circumference side than the backward beam, and only the portion where the preceding beam and the backward beam overlap by continuous irradiation is continuous. Grooves or continuous protrusions. Further, it is characterized in that fine concave pits or convex pits are formed by continuous irradiation of one of the preceding beam and the rear beam and pulse irradiation of the other.

【0013】さらに、ここに示した連続溝と凹状ピット
は、ポジレジスト上に光退色性層を形成して露光を行
い、連続突起と凸状ピットの形成はネガレジスト上に光
退色性層を形成することを特徴とする。
Further, the continuous groove and the concave pit shown here are exposed by forming a photobleaching layer on the positive resist, and the continuous protrusion and the convex pit are formed by forming the photobleaching layer on the negative resist. It is characterized by forming.

【0014】このレジスト上に設ける光退色性層は、ニ
トロン化合物系材料であり、初期透過率が10%以下に
なる様な光学密度、膜厚に設定する。レジストと光退色
層との間にポリビニルアルコールを主材料とした水溶性
の拡散防止層を設け、露光後に純水あるいは専用の溶剤
にて除去たのちに現像を行う。
The photobleaching layer provided on the resist is made of a nitrone compound material and is set to have an optical density and a film thickness such that the initial transmittance is 10% or less. A water-soluble diffusion-preventing layer containing polyvinyl alcohol as a main material is provided between the resist and the photobleaching layer. After exposure, the layer is removed with pure water or a dedicated solvent and then developed.

【0015】[0015]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0016】図1は本発明によるマスターライターの一
実施例の構成図、図2は図1のマスターライターによる
光退色性層を用いた微細パターンの形成方法の一例を示
す基体の断面図である。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a master writer according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of a substrate showing an example of a method for forming a fine pattern using a photobleachable layer by the master writer of FIG. .

【0017】図1において、本実施例のマスターライタ
ーの動作は、従来例のマスターライターの動作とほぼ同
じでその動作を説明するための図としては図4と同じで
ある。光源であるArガスレーザー11(λ:457.
9nm)からでたレーザー光が絞り12、オートレーザ
ーコントロール13、絞り14、波長板15、偏光ビー
ムスプリッタ16aを経てビームを2系統に分割する。
すなわちサブビーム系は、パワー制御用のE/Oモジュ
レータ21a、絞り22a、シャッター23’aを経
て、ビームスプリッタ24a、λ/4板25へ、メイン
ビーム系は、メインビーム変調用のE/Oモジュレータ
17a、NDフィルター18a、ミラー19a、絞り2
2a、シャッター23aを経て、ビームスプリッタ24
aでサブビーム系と再度合成されコリメータレンズ26
で拡大した平行光としてシャッター27を経て集光レン
ズ(対物レンズ)28aを有する光学ヘッド28へ入れ
られる。スピンドル31上にある被露光体(レジスト、
光退色性層付きガラス原盤)へ光学ヘッド28から照射
が行われるが、フォーカスサーボは、レジストの感光波
長からはずれているHe−Neレーザー(波長:633
nm)30により行われている。
In FIG. 1, the operation of the master writer of this embodiment is almost the same as the operation of the conventional master writer, and the diagram for explaining the operation is the same as that of FIG. Ar gas laser 11 (λ: 457.
The laser light emitted from (9 nm) passes through the diaphragm 12, the automatic laser control 13, the diaphragm 14, the wave plate 15, and the polarization beam splitter 16a to split the beam into two systems.
That is, the sub-beam system goes through the E / O modulator 21a for power control, the diaphragm 22a, and the shutter 23'a to the beam splitter 24a and the λ / 4 plate 25, and the main beam system is the E / O modulator for main beam modulation. 17a, ND filter 18a, mirror 19a, diaphragm 2
2a, shutter 23a, beam splitter 24
The collimator lens 26 is recombined with the sub-beam system at a.
The parallel light magnified in (1) is passed through the shutter 27 and is incident on the optical head 28 having a condenser lens (objective lens) 28a. The exposed object (resist,
The optical head 28 irradiates the glass master with a photobleachable layer, but the focus servo is a He-Ne laser (wavelength: 633) deviating from the photosensitive wavelength of the resist.
nm) 30.

【0018】そして、従来例と大きく異なる点は、先行
ビームと後方ビームとが被露光体上では隣接して焦点を
形成して重複部を形成するように設置されている点であ
る。
A major difference from the conventional example is that the leading beam and the trailing beam are arranged so as to form adjacent focal points on the object to be exposed to form an overlapping portion.

【0019】図2において、基板1はマスタリング露光
に使用する面粗さを抑えた物で、ここではガラスを使用
しており、その基板1上にフォトレジスト2をスピンコ
ート法を中心とした塗布方法で形成する。ピット深さ
は、光源及びトラッキング方式により決定する必要があ
るが、レジスト膜厚が直接的に支配することから十分な
管理を行う必要がある。レジストとしてはポジ型、ネガ
型両方があげられるが、ノボラック系のネガ型レジスト
が使いやすい。レジスト2の上には、光退色性層3をや
はりスピンコート法を中心にした塗布方法で設ける。こ
の光退色性層3は、使用する光源波長により透過率が変
化するが基本的には未露光部では、透過率が低く、露光
後に急激に透過率を上昇させる。また透過率上昇過程に
おいては、照射量により透過率が変化する。この光退色
性層3としては、ニトロン化合物系材料であり、初期透
過率が10%以下になる様な光学密度、膜厚に設定す
る。レジストと光退色層との間にポリビニルアルコール
を主材料とした水溶性の拡散防止層を設け、露光後に純
水あるいは専用の溶剤にて除去たのちに現像を行う。
In FIG. 2, a substrate 1 is a substrate having a reduced surface roughness used for mastering exposure, glass is used here, and a photoresist 2 is applied onto the substrate 1 mainly by a spin coating method. It is formed by the method. The pit depth needs to be determined by the light source and the tracking method, but since the resist film thickness directly controls it, it is necessary to manage it sufficiently. Both positive and negative resists can be used, but a novolak-based negative resist is easy to use. The photobleachable layer 3 is provided on the resist 2 by a coating method centered on the spin coating method. The photobleachable layer 3 has a transmittance that varies depending on the wavelength of the light source used, but basically the transmittance is low in the unexposed portion, and the transmittance rapidly increases after exposure. Further, in the process of increasing the transmittance, the transmittance changes depending on the irradiation amount. The photobleachable layer 3 is made of a nitrone compound material and is set to have an optical density and a film thickness such that the initial transmittance is 10% or less. A water-soluble diffusion-preventing layer containing polyvinyl alcohol as a main material is provided between the resist and the photobleaching layer. After exposure, the layer is removed with pure water or a dedicated solvent and then developed.

【0020】この様な被露光体に対し、先行ビーム4が
先ず光退色性層3に照射され、先行ビームによる退色領
域6が形成される。一方、後方ビーム5により退色領域
7が形成される。この先行ビームによる退色領域6と後
方ビームによる退色領域7との重複部分8は二度にわた
るビーム照射により一度しか照射されていない6、7領
域よりも光退色が進行している。このため、この照射パ
ワーを調整することによりレジスト露光領域9が形成さ
れる。これは、先行ビームと後方ビームとの重複領域で
あることから原理的には、限りなく細い溝、もしくはピ
ットを形成することが可能になる。
On such an object to be exposed, the preceding beam 4 is first irradiated onto the photobleaching layer 3 to form a fading region 6 due to the preceding beam. On the other hand, the rear beam 5 forms a fading area 7. The overlapping portion 8 of the fading area 6 due to the preceding beam and the fading area 7 due to the rear beam has undergone photobleaching more than the areas 6 and 7 which are irradiated only once by beam irradiation twice. Therefore, the resist exposure region 9 is formed by adjusting the irradiation power. Since this is an overlapping region of the front beam and the rear beam, it is theoretically possible to form infinitely narrow grooves or pits.

【0021】図3は図2の露光パワーとレジスト露光領
域を概念的に説明するための図、図3(a)はレジスト
感光に必要な透過率と光退色性能透過率との関係を示す
グラフ、図3(b)は図2の露光パワーとレジスト露光
領域を示す基体の正面図である。
FIG. 3 is a diagram for conceptually explaining the exposure power and the resist exposure region in FIG. 2, and FIG. 3A is a graph showing the relationship between the transmittance required for resist exposure and the photobleaching performance transmittance. 3 (b) is a front view of the substrate showing the exposure power and resist exposure area of FIG.

【0022】図2(a)では、先行ビーム強度4´がレ
ジスト感光に必要な透過率強度10よりも低い。一方後
方ビーム強度5´も同様であるが、重複している領域で
はレジスト感光に必要な透過率強度よりも高くなる。こ
の為、図2(b)では、先行ビーム痕跡4”と後方ビー
ム痕跡5”との重複領域における痕跡9´が形成され
る。これらマスターライターを用いた露光後、光退色性
層3を除去後、現像乾燥行程を経て、重複領域にがピッ
ト、あるいは溝として形成される。
In FIG. 2A, the preceding beam intensity 4'is lower than the transmittance intensity 10 required for resist exposure. On the other hand, the rear beam intensity 5'is also the same, but in the overlapping region, it becomes higher than the transmittance intensity required for resist exposure. Therefore, in FIG. 2B, a trace 9 ′ is formed in the overlapping region of the preceding beam trace 4 ″ and the backward beam trace 5 ″. After exposure using these master writers, the photobleachable layer 3 is removed, and after a development and drying process, pits or grooves are formed in the overlapping region.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のマスター
ライターでは、先行ビーム、後方ビームを重ね合わせた
領域の光退色性層透過率を制御して、レジスト露光を行
うことで、従来の光学系を用いながらも開口数、使用光
源波長に支配されることなく限りなく細いピット、溝を
形成することが可能であるという効果を奏する。
As described above, in the master writer according to the present invention, the resist exposure is performed by controlling the photobleaching layer transmittance in the region where the preceding beam and the backward beam are superposed, and the conventional optical Even if the system is used, it is possible to form infinitely thin pits and grooves without being influenced by the numerical aperture and the wavelength of the light source used.

【0024】また、本発明のマスターライターでは、基
本的に光退色性層を使用していることから形成されるピ
ットエッジが鋭くなり、非常に微細なピット、溝ながら
もその後のスタンパ形成、射出成形時における転写不良
を緩和することが可能になるという効果を奏する。
Further, in the master writer of the present invention, the pit edge formed is basically sharp due to the use of the photobleaching layer, and even after forming very fine pits and grooves, subsequent stamper formation and injection. It is possible to reduce transfer defects during molding.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるマスターライターの一実施例の構
成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a master writer according to the present invention.

【図2】図1のマスターライターによる光退色性層を用
いた微細パターンの形成方法の一例を示す基体の断面図
である。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a substrate showing an example of a method of forming a fine pattern using a photobleachable layer by the master writer of FIG.

【図3】図2の露光パワーとレジスト露光領域を概念的
に説明するための図である。図3(a)はレジスト感光
に必要な透過率と光退色性能透過率との関係を示すグラ
フである。図3(b)は図2の露光パワーとレジスト露
光領域を示す基体の正面図である。
FIG. 3 is a diagram for conceptually explaining the exposure power and the resist exposure area of FIG. FIG. 3A is a graph showing the relationship between the transmittance required for resist exposure and the light fading performance transmittance. FIG. 3B is a front view of the substrate showing the exposure power and the resist exposure area of FIG.

【図4】従来例のマスターライターの構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a conventional master writer.

【図5】図4のマスターライターによる光退色性層を用
いた微細パターンの形成方法の一例を示す基体の断面図
である。
5 is a sectional view of a substrate showing an example of a method for forming a fine pattern using a photobleaching layer by the master writer of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 レジスト 3 光退色性層 4 先行ビーム 4´ 先行ビームによる光退色透過率 4” 先行ビームによる透過率変化領域 5 後方ビーム 5´ 後方ビームによる光退色透過率 5” 後方ビームによる透過率変化領域 6 先行ビームによる退色領域 7 後方ビームによる退色領域 8 先行ビームと後方ビームが重複して退色がより進
んだ領域 9 レジスト感光領域 9′ 先行後方ビーム重複によるレジスト感光可能な透
過率変化領域 10 レジスト感光に必要な透過率 11 Arガスレーザー 12 絞り 13 オートレーザーコントロール 14 絞り 15 波長板 16a,16b 偏光ビームスプリッタ 17a,17b E/Oモジュレータ 18a,18b NDフィルター 19a,19b ミラー 20a,20b 絞り 21a,21b E/Oモジュレータ 22a,22b 絞り 23a,23b シャッタ 23′a,23′b シャッタ 24a,24b ビームスプリッタ 25 λ/4板 26 コリメーターレンズ 27 シャッタ 28 光学ヘッド 28a 集光レンズ(対物レンズ) 29 ミラー 30 He−Neレーザー 31 スピンドル 32 透過率上昇領域 33 レジスト感光領域
1 substrate 2 resist 3 photobleaching layer 4 preceding beam 4'photobleaching transmittance due to preceding beam 4 "transmissivity change area due to preceding beam 5 back beam 5 'photobleaching transmittance due to rear beam 5" transmittance change due to rear beam Area 6 Fading area due to preceding beam 7 Fading area due to rear beam 8 Area where fading is advanced due to overlap of preceding and backward beams 9 Resist photosensitive area 9 ′ Resist sensitive area due to overlap of preceding and posterior beams 10 Transmissivity change area 10 Resist Transmittance required for photosensitization 11 Ar gas laser 12 Aperture 13 Auto laser control 14 Aperture 15 Wave plate 16a, 16b Polarizing beam splitter 17a, 17b E / O modulator 18a, 18b ND filter 19a, 19b Mirror 20a, 20b Aperture 21a, 21b E / O module 22a, 22b diaphragm 23a, 23b shutter 23'a, 23'b shutter 24a, 24b beam splitter 25 λ / 4 plate 26 collimator lens 27 shutter 28 optical head 28a condenser lens (objective lens) 29 mirror 30 He- Ne laser 31 Spindle 32 Transmittance increasing area 33 Resist photosensitive area

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被露光体に対し前後左右に位置をずらし
た先行する先行ビームおよび後方にある後方ビームの2
個の集束レーザービームと、前記先行ビームが光退色性
層の透過率を上昇させ、前記先行ビームと前記後方ビー
ムとの重なり合う部分がレジスト感光レベルにまで照射
してレジスト上に直接描画する手段と、重なり合うレジ
スト上の部分をそれらのビームによりレジスト感光レベ
ルにまで照射して前記レジスト上に直接描画する手段と
を有することを特徴とする微細パターン形成装置。
1. A front beam and a rear beam which are positioned rearward and rearward with respect to an object to be exposed and which are rearward.
And a means for directly writing on the resist by irradiating the focused laser beam and the preceding beam to increase the transmittance of the photobleaching layer, and irradiating the overlapping portion of the preceding beam and the backward beam to the resist photosensitive level. , A means for irradiating the overlapping portions on the resist to the resist exposure level with these beams to draw directly on the resist.
【請求項2】 微細パターンを形成する回転基体上へス
パイラル(らせん)状に内周から記録する際に、前記回
転基体への描画を行う場合に先行ビームが後方ビームよ
りも内周側に位置することを特徴とする請求項1記載の
微細パターン形成装置。
2. When recording from the inner periphery in a spiral shape on a rotating substrate forming a fine pattern from the inner periphery, the preceding beam is positioned on the inner periphery side of the rear beam when drawing is performed on the rotating substrate. The fine pattern forming apparatus according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記先行ビームと前記後方ビームが連続
照射により重なり合う部分のみを連続溝、あるいは連続
突起部とすることを特徴とする請求項1または請求項2
記載の微細パターン形成装置。
3. The continuous groove or the continuous protrusion is formed only in a portion where the preceding beam and the rear beam overlap each other by continuous irradiation.
The fine pattern forming apparatus described.
【請求項4】 前記先行ビームと前記後方ビームとの片
方が連続照射、片方がパルス照射を行うことにより微細
凹状ピット、あるいは凸状ピットを形成することを特徴
とする請求項1または請求項2または請求項3記載の微
細パターン形成装置。
4. A fine concave pit or a convex pit is formed by performing continuous irradiation on one of the preceding beam and the rear beam and performing pulse irradiation on the other one of them. Alternatively, the fine pattern forming apparatus according to claim 3.
【請求項5】 連続溝と凹状ピットは、ポジレジスト上
に光退色性層を形成して露光を行い、連続突起と凸状ピ
ットの形成はネガレジスト上に光退色性層を形成するこ
とを特徴とする請求項3または4記載の微細パターン形
成装置。
5. The continuous groove and the concave pit are exposed by forming a photobleaching layer on the positive resist, and the continuous protrusion and the convex pit are formed by forming the photobleaching layer on the negative resist. The fine pattern forming apparatus according to claim 3 or 4, which is characterized in that.
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JPS63263647A (en) * 1987-04-21 1988-10-31 Nec Corp Exposing method for master disk of optical disk
JPH0528498A (en) * 1991-07-19 1993-02-05 Ricoh Co Ltd Photoirradiation method and optical information recording medium and recording method and reproducing method using this medium

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