JP2000339780A - Production of master disk of optical disk - Google Patents

Production of master disk of optical disk

Info

Publication number
JP2000339780A
JP2000339780A JP11154534A JP15453499A JP2000339780A JP 2000339780 A JP2000339780 A JP 2000339780A JP 11154534 A JP11154534 A JP 11154534A JP 15453499 A JP15453499 A JP 15453499A JP 2000339780 A JP2000339780 A JP 2000339780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoresist layer
exposure
bimodal
light
pit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11154534A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Takamoto
健治 高本
Hideyuki Ishimaru
秀行 石丸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11154534A priority Critical patent/JP2000339780A/en
Publication of JP2000339780A publication Critical patent/JP2000339780A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a pit and a groove having a smaller width than the limit of the diameter of a light beam for exposure determined by its wavelength and the aperture of a lens. SOLUTION: In an exposure step in which the surface of a photoresist layer 2 is exposed with a light beam whose intensity is modulated with the lapse of time in accordance with information to be recorded to record the information as a latent image 15 in the photoresist layer 2, the photoresist layer 2 is subjected to multiple exposure with a light beam 12 which regulates the width Pw of a pit 8 by the interval between two condensing spot parts 12a, 12b and a light beam 13 whose intensity is modulated in accordance with information to be recorded.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクを樹脂
の射出成形などにより生産するための金型となるスタン
パを作るための光ディスク原盤の製造方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a master optical disc for producing a stamper which becomes a mold for producing an optical disc by injection molding of a resin or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】CD、DVDなどの光ディスクは、回転
する記録円板(ディスク媒体)にレーザーを照射して情
報の記録と再生を行う大容量メモリであって、記録密度
が高く、しかも大量情報の可搬性を有する大きな特徴を
備えていることから、近年の情報化社会の進展に伴う情
報量の飛躍的な増大に対応できるものとして注目されて
いる。この光ディスクは、一般に、図8に示すような工
程を経て製造されている。
2. Description of the Related Art Optical disks such as CDs and DVDs are large-capacity memories for recording and reproducing information by irradiating a rotating recording disk (disk medium) with a laser, and have a high recording density and a large amount of information. Because of its great portability, it has attracted attention as being able to cope with the dramatic increase in the amount of information accompanying the progress of the information society in recent years. This optical disc is generally manufactured through the steps shown in FIG.

【0003】すなわち、同図(a)に示すように、円板
状のガラス基板1の主面上を表面研磨および洗浄して、
そのガラス基板1の主面上には、同図(b)に示すよう
にポジ型ホトレジスト(感光性樹脂)を一様に塗布して
乾燥させることにより、ホトレジスト層2を形成する。
続いて、同図(c)に示すように、ホトレジスト層2に
は、記録すべき情報信号に対応して明滅するレーザービ
ームLが集光レンズ3で集光して照射される。これによ
り、ホトレジスト層2には、レーザービームLの露光に
よって所定情報に対応したピット列の潜像4が形成され
る。この潜像4は、ガラス基板1が回転され、且つレー
ザービームLがガラス基板1の径方向に移動されること
により、ホトレジスト層2上に所定のトラックピッチで
螺旋状または同心円状に形成される。
That is, as shown in FIG. 1 (a), the main surface of a disk-shaped glass substrate 1 is polished and cleaned.
On the main surface of the glass substrate 1, a photoresist layer 2 is formed by uniformly applying a positive photoresist (photosensitive resin) and drying as shown in FIG.
Subsequently, as shown in FIG. 3C, a laser beam L that blinks in response to an information signal to be recorded is condensed and irradiated on the photoresist layer 2 by a condenser lens 3. Thus, a latent image 4 of a pit row corresponding to predetermined information is formed on the photoresist layer 2 by exposure to the laser beam L. The latent image 4 is spirally or concentrically formed at a predetermined track pitch on the photoresist layer 2 by rotating the glass substrate 1 and moving the laser beam L in the radial direction of the glass substrate 1. .

【0004】つぎに、露光したホトレジスト層2が現像
されることにより、同図(d)に示すように、ホトレジ
スト層2の露光部分である潜像4が現像液で除去されて
微小な凹部、つまりピット8が形成される。このピット
8が形成されたホトレジスト層2を乾燥させてガラス基
板1上に定着させると、上記ピット8の列を有した光デ
ィスク原盤7が出来上がる。
Next, as the exposed photoresist layer 2 is developed, as shown in FIG. 1D, the latent image 4 which is an exposed portion of the photoresist layer 2 is removed by a developing solution, and fine concave portions are formed. That is, pits 8 are formed. When the photoresist layer 2 on which the pits 8 are formed is dried and fixed on the glass substrate 1, an optical disk master 7 having the above-described row of pits 8 is completed.

【0005】さらに、上記光ディスク原盤7におけるホ
トレジスト層2上に、ニッケルなどの金属をめっきして
導電膜(図示せ)を形成したのちに、この導電膜を有す
るガラス基板1を電鋳槽中に浸漬することにより、同図
(e)に示すように、導電膜上に肉厚の金属層9が形成
される。この金属層9は、ガラス基板1から取り外され
たのちにレジスト層2および導電膜が除去されると、同
図(f)に示すスタンパ(金型)10となる。
Further, after a conductive film (not shown) is formed by plating a metal such as nickel on the photoresist layer 2 of the optical disk master 7, a glass substrate 1 having this conductive film is placed in an electroforming tank. By immersion, a thick metal layer 9 is formed on the conductive film as shown in FIG. When the resist layer 2 and the conductive film are removed after the metal layer 9 is removed from the glass substrate 1, the stamper (die) 10 shown in FIG.

【0006】つぎに、上記スタンパ10を射出成形装置
の所定位置に取り付けて型締めしたのちに、同図(f)
示すように、溶融した透明樹脂材料をスタンパ10上に
射出して、樹脂材料をこれの硬化後に取り出すと、所定
の情報記録面を有する樹脂製の光ディスクレプリカ11
が得られる。この光ディスクレプリカ11の情報記録面
上に反射膜を形成し、さらに反射膜上に保護膜を形成す
ると、光ディスクが得られる。
Next, after the stamper 10 is attached to a predetermined position of the injection molding apparatus and the mold is clamped, FIG.
As shown, when the molten transparent resin material is injected onto the stamper 10 and the resin material is cured and taken out, the resin optical disk replica 11 having a predetermined information recording surface is formed.
Is obtained. When a reflective film is formed on the information recording surface of the optical disk replica 11 and a protective film is further formed on the reflective film, an optical disk can be obtained.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
大容量と言われる光ディスクにおいても益々の高密度化
が要求されつつあり、特に,画像情報を扱おうとした場
合に膨大な情報量となり、既存の光ディスクでは容量不
足となる。記録容量の増大を図るためには、形成される
ピット8やトラッキング用の溝自体の幅を細くし、ピッ
ト長を短縮し、トラックピッチに対応するピット8列間
の間隔を微細化することにより、高密度化することが考
えられる。ピット8の幅および溝の幅を細くするために
は、これらの寸法を決定するレーザービームLの露光ビ
ーム径を微細化する必要がある。この露光ビーム径は、
レーザーの波長λに比例し、且つ集光レンズ3の開口度
NAに反比例する関係にある。したがって、ピット8の
幅および溝幅を細くするためには、波長λを短波長化す
るか、レンズ開口度NAを大きくすればよいことにな
る。
However, in recent years,
Higher densities are also being demanded for optical disks that are said to have large capacities. In particular, when attempting to handle image information, the amount of information becomes enormous, and the capacity of existing optical disks becomes insufficient. In order to increase the recording capacity, the width of the pits 8 to be formed and the tracking grooves themselves are reduced, the pit length is reduced, and the interval between the eight pit rows corresponding to the track pitch is reduced. It is conceivable to increase the density. In order to reduce the width of the pit 8 and the width of the groove, it is necessary to reduce the diameter of the exposure beam of the laser beam L that determines these dimensions. This exposure beam diameter is
The relationship is proportional to the wavelength λ of the laser and inversely proportional to the aperture NA of the condenser lens 3. Therefore, in order to reduce the width of the pit 8 and the groove width, it is necessary to shorten the wavelength λ or increase the lens aperture NA.

【0008】しかしながら、レンズ開口度NA(NA≦
1)は、現状のマスタリングでは既に0.9 を越えるもの
が使用されており、今以上の改善の余地が殆どない。一
方、波長λについては、連続発振ができ、十分に絞り込
める単一モードレーザーであって、寿命、安定性、ノイ
ズなどの問題を一応解決しているレーザーとして、波長
λが近紫外領域の364 nm程度を使用せざるをえない。
すなわち、波長λおよびレンズ開口度NAは、上記以上
の短波長化や高NA化を望むのが難しい。一方、トラッ
クピッチは、少なくともピット8の幅や溝幅よりも大き
く設定する必要がある上に、小さくし過ぎると、トラッ
クエラー信号の急激な低下を招いて光ディスクとしての
特性を確保できなくなる。
However, the lens aperture NA (NA ≦ NA)
In the case of 1), the current mastering has already used the one with a value exceeding 0.9, and there is little room for improvement. On the other hand, the wavelength λ is a single mode laser that can continuously oscillate and can be narrowed down sufficiently and solves problems such as life, stability, and noise. It is inevitable to use about nm.
That is, it is difficult to reduce the wavelength λ and the lens aperture NA to be shorter than those described above and to increase the NA. On the other hand, the track pitch needs to be set to be at least larger than the width of the pit 8 or the groove width. If the track pitch is too small, the track error signal is sharply reduced, and the characteristics as an optical disc cannot be secured.

【0009】そこで、ピットの微細化に関しては、ホト
レジスト層上に水溶性有機膜(光退色性層)を形成する
ことにより、光学系で制限されていた解像度の劣化に伴
うパターン形状の劣化をコントラスト拡張効果によって
改善し、微細なパターンを形成する方法(特公平4-1610
6 号公報参照)や、ホトレジスト層上に光退色性層を形
成するとともに、露光用のマスターライター光学系に超
解像マスクを設置してビーム径を細く絞った超解像ビー
ムを用いることにより、超解像ビームのサイドローブの
影響を防止しながら超解像ビームで微細なピットおよび
溝を形成する方法(特開平6-302015号公報参照)が提案
されている。
Therefore, regarding the miniaturization of pits, by forming a water-soluble organic film (photobleachable layer) on the photoresist layer, the deterioration of the pattern shape due to the deterioration of the resolution limited by the optical system is contrasted. A method of forming a fine pattern by improving by the expansion effect (Japanese Patent Publication No. 4-1610)
No. 6) and forming a photobleachable layer on a photoresist layer and installing a super-resolution mask on the master writer optical system for exposure and using a super-resolution beam with a narrowed beam diameter. A method of forming fine pits and grooves with a super-resolution beam while preventing the influence of side lobes of the super-resolution beam (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-302015) has been proposed.

【0010】しかしながら、上記の各方法では、トラッ
クピッチを微細化する場合に、隣接するピット列の露光
時に所謂かぶりが発生して、光退色性層によるコントラ
スト拡張効果が失われ、所期の目的を達成することがで
きない。すなわち、ガラス基板の回転状態において順次
露光しながらトラックピッチを狭くして高密度化する場
合には、レーザービームの周縁の傾斜角度があるため
に、光退色性層の退色領域が重なり、退色領域の重畳部
分におけるトラックピッチ間でコントラスト拡張効果が
得られない。つまり、光退色性層の形成に用いられてい
るコントラストエンハンスメントリソグラフィ材料は、
透過率変化の挙動が非可逆であるため、一旦露光による
退色によって透過率が増大してしまうと、その光退色性
層にはコントラスト拡張効果がなくなるためである。そ
のため、後に露光されたトラックでは幅広の潜像となる
露光時のクロストークが発生してしまい、その結果、露
光パターンのピッチを狭くして高密度なリソグラフィを
行うことは極めて困難となる。
However, in each of the above methods, when the track pitch is reduced, so-called fogging occurs at the time of exposing an adjacent pit row, so that the contrast expanding effect of the photobleachable layer is lost. Can not achieve. That is, in the case where the track pitch is narrowed and the density is increased while sequentially exposing in the rotating state of the glass substrate, due to the inclination angle of the peripheral edge of the laser beam, the bleached areas of the photobleachable layer overlap, and the bleached area. No contrast expansion effect can be obtained between track pitches in the superimposed portion of. In other words, the contrast enhancement lithography material used to form the photobleachable layer is:
This is because, since the transmittance change behavior is irreversible, once the transmittance increases due to fading due to exposure, the photobleachable layer loses the contrast expansion effect. For this reason, crosstalk during exposure that results in a wide latent image occurs in a track exposed later, and as a result, it is extremely difficult to narrow the pitch of the exposure pattern and perform high-density lithography.

【0011】そこで、本発明は、上記従来の課題に鑑み
てなされたもので、波長とレンズ開口度で決定する露光
ビーム径の制限を越える微小な幅のピットおよび溝を形
成することが可能な光ディスク原盤の製造方法を提供す
ることを目的とするものである。
Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and it is possible to form pits and grooves having a minute width exceeding the limit of the exposure beam diameter determined by the wavelength and the lens aperture. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a master optical disc.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の光ディスク原盤の製造方法は、基板の表面
にホトレジストを塗布してホトレジスト層を形成する工
程と、記録すべき情報に対応して経時的に光強度が変調
された光ビームで前記ホトレジスト層の表面を露光し
て、前記ホトレジスト層に情報を潜像として記録する露
光工程と、前記ホトレジストを現像して前記基板上に記
録情報に対応するピット列を形成する現像工程とを有
し、前記露光工程において、前記ピットの幅を二つの集
光スポット部の間隔で規制する光ビームと、記録すべき
情報に基づき光強度が変調された光ビームとを少なくと
も含む複数の光ビームを多重露光するようにしたことを
特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for manufacturing a master optical disc according to the present invention comprises a step of forming a photoresist layer by applying a photoresist on the surface of a substrate, Exposing the surface of the photoresist layer with a light beam whose light intensity has been modulated over time, recording an information on the photoresist layer as a latent image, and developing the photoresist to record on the substrate A developing step of forming a pit row corresponding to information, wherein in the exposing step, a light beam that regulates the width of the pit by an interval between two condensed spot portions, and a light intensity based on information to be recorded A plurality of light beams including at least a modulated light beam are subjected to multiple exposure.

【0013】この光ディスク原盤の製造方法では、情報
記録用のピットの幅を二つの集光スポット部の間隔によ
って設定しながらホトレジスト層を露光しており、この
二つの集光スポット部の間隔は、レーザービームの露光
ビーム径を小さく設定する場合の制限条件となっている
レーザーの波長および集光レンズの開口度とは無関係に
設定できるから、従来のレーザービームにおける最小の
露光ビーム径よりも小さくすることが可能である。した
がって、この露光工程では、レーザーの波長および集光
レンズの開口度による限界を越えた微細な幅のピットの
形成が可能な潜像をホトレジスト層に形成することがで
きるから、情報を一層高密度化して記録することができ
る。
In this method of manufacturing a master optical disc, the photoresist layer is exposed while the width of the pits for recording information is set according to the distance between the two light-condensing spots. It can be set irrespective of the laser wavelength and the aperture of the condenser lens, which are the limiting conditions when setting the exposure beam diameter of the laser beam small, so that it is smaller than the minimum exposure beam diameter of the conventional laser beam It is possible. Therefore, in this exposure step, a latent image capable of forming a pit having a fine width exceeding the limit based on the wavelength of the laser and the aperture of the condenser lens can be formed on the photoresist layer. And record it.

【0014】上記発明において、ピットの幅を決定する
二つの集光スポット部を有する双峰性ビームと、単一の
集光スポット部を有して記録すべき情報に基づき光強度
が変調された単峰性ビームとを用いてホトレジスト層を
露光することが好ましい。
In the above invention, the light intensity is modulated based on a bimodal beam having two converging spots for determining the width of the pit and information to be recorded having a single converging spot. Preferably, the photoresist layer is exposed using a unimodal beam.

【0015】これにより、二つの集光スポット部を有す
る双峰性ビームを用いていることから、双峰性ビームと
単峰性ビームとの2種類の光ビームを多重露光するだけ
でよい。ホトレジスト層には、双峰性ビームの二つの集
光スポット部の間に細い幅の未露光部分が形成されてい
き、この未露光部分を、情報に基づき光強度が変調され
た光ビームで露光することにより、双峰性ビームの二つ
の集光スポット部の間隔で決定される微細な幅のピット
を形成することができる。
Thus, since a bimodal beam having two converging spots is used, only two types of light beams, a bimodal beam and a monomodal beam, need to be subjected to multiple exposure. In the photoresist layer, an unexposed portion with a narrow width is formed between the two converging spots of the bimodal beam, and this unexposed portion is exposed with a light beam whose light intensity is modulated based on information. By doing so, it is possible to form a pit having a fine width determined by the interval between the two converging spot portions of the bimodal beam.

【0016】また、上記双峰性ビームは、超解像フィル
タを透過することによって位相および振幅を可変制御さ
れた光ビームをレンズで集光して得ることができる。こ
れにより、二つの集光スポット部を有する双峰性ビーム
を極めて簡単な手段で得られるとともに、二つの集光ス
ポット部の間隔を容易に小さく設定することができる。
Further, the bimodal beam can be obtained by condensing a light beam whose phase and amplitude are variably controlled by passing through a super-resolution filter by a lens. This makes it possible to obtain a bimodal beam having two converging spot portions by extremely simple means, and to easily set a small interval between the two converging spot portions.

【0017】また、上記双峰性ビームの二つの集光スポ
ット部の間はホトレジスト層の露光が不能な光強度に設
定され、単峰性ビームは、その集光スポット部の中心が
前記双峰性ビームの二つの集光スポット部の間の中央部
に位置する相対関係で前記ホトレジスト層上に結像され
るようにすることが好ましい。
Further, the light intensity between the two converging spots of the bimodal beam is set so that the photoresist layer cannot be exposed. It is preferable that an image is formed on the photoresist layer in a relative relationship located at a central portion between two condensed spots of the neutral beam.

【0018】これにより、双峰性ビームの二つの集光ス
ポット部の間に形成されるホトレジスト層の未露光部分
に対して、その中央に単峰性ビームが位置する位置関係
となるから、単峰性ビームによって露光した箇所に未露
光部分が生じることがなく、記録情報に対応したピット
列を確実に形成することができる。
Thus, the unexposed portion of the photoresist layer formed between the two converging spots of the bimodal beam has a positional relationship in which the monomodal beam is located at the center thereof. An unexposed portion does not occur at a location exposed by the peak beam, and a pit row corresponding to the recorded information can be reliably formed.

【0019】上記発明において、複数の各トラックのピ
ット列をそれぞれ隣接して形成するに際して、互いに隣
接する二つのトラックにおける前列目のトラックの露光
時において双峰性ビームの一方の集光スポット部によっ
て露光済みの領域に、後列目のトラックの露光時に前記
双峰性ビームの他方の集光スポット部の露光領域を重ね
合わせて露光することが好ましい。
In the above invention, when the pit rows of the plurality of tracks are formed adjacent to each other, one of the converging spot portions of the bimodal beam is used during exposure of the track in the front row of the two adjacent tracks. It is preferable that the exposed area is overlapped with the exposure area of the other converging spot portion of the bimodal beam when exposing the track in the rear row.

【0020】これにより、ホトレジスト層には、ピット
の形成箇所以外に未露光箇所が生じるのを確実に防止で
き、トラックピッチは、双峰性ビームの一方の集光スポ
ット部の直径と同一の微細なものになるとともに、双峰
性ビームの二つの集光スポット部の間隔で決定するピッ
トの幅よりも確実に大きなものにできる。
Thus, it is possible to reliably prevent an unexposed portion from being formed in the photoresist layer in addition to the pit formation portion, and the track pitch is the same as the diameter of one converging spot of the bimodal beam. In addition, the width of the pit can be surely made larger than the width of the pit determined by the interval between the two focused spots of the bimodal beam.

【0021】上記発明において、ホトレジスト層の表面
に光退色性膜を形成し、前記ホトレジスト層を、前記光
退色性膜を介して複数の光ビームで多重露光することが
好ましい。
In the above invention, it is preferable that a photobleachable film is formed on the surface of the photoresist layer, and the photoresist layer is subjected to multiple exposure with a plurality of light beams through the photobleachable film.

【0022】これにより、ホトレジスト層は、光退色性
膜によるコントラスト拡張効果によってコントラストが
増強された単峰性ビームで露光されるから、現像時にお
いて、端側壁を基板に対してより垂直に除去される。そ
のため、ホトレジスト層にはピット長を一層微細化した
ピットを形成することが可能となる。また、この光ディ
スク原盤に形成されるピットは、光退色性膜のコントラ
スト拡張効果によってエッジにテーパーの少ないものと
なるから、この光ディスク原盤を用いて製作される光デ
ィスクは、ディスク信号の品質が格段に向上したものと
なる。
Thus, the photoresist layer is exposed to a unimodal beam whose contrast has been enhanced by the contrast expansion effect of the photobleachable film, so that during development, the end sidewalls are removed more perpendicularly to the substrate. You. For this reason, it is possible to form pits in which the pit length is further reduced in the photoresist layer. In addition, the pits formed on the optical disk master have a small taper at the edge due to the contrast expansion effect of the photobleachable film. Therefore, the optical disk manufactured using this optical disk master has a remarkable disc signal quality. It will be improved.

【0023】上記手段において、ホトレジスト層および
光退色性膜を、露光波長における屈折率が一致する材料
でそれぞれ形成することが好ましい。
In the above means, it is preferable that the photoresist layer and the photobleachable film are respectively formed of materials having the same refractive index at the exposure wavelength.

【0024】これにより、露光時に光退色性膜とホトレ
ジスト層の界面での光の多重反射を抑制することができ
るから、現像により得られたピットの表面に荒れが生じ
なくなり、この光ディスク原盤を用いて製作した光ディ
スクのディスク再生信号の品質低下を防止できる。
This makes it possible to suppress the multiple reflection of light at the interface between the photobleachable film and the photoresist layer at the time of exposure, so that the surface of the pit obtained by development does not become rough, and this optical disk master is used. Thus, it is possible to prevent the quality of the disc reproduction signal of the optical disc manufactured by the above method from being degraded.

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について図面を参照しつつ詳細に説明する。本発明の
第1の実施の形態に係る光ディスク原盤の製造方法は、
図8(b)に示すガラス基板1上にホトレジスト層2を
形成するホトレジスト塗布工程と、同図(c)に示すホ
トレジスト層2の表面に記録すべき情報に対応して光強
度を変調したレーザービームLを露光して情報を潜像と
して記録する露光工程と、同図(d)に示す露光したホ
トレジスト層2を現像してガラス基板1の表面上に記録
情報に対応するピット8列を形成する現像工程とを有し
ており、製造工程自体は従来の製造方法と同じである
が、上記各工程のうちの露光工程が相違することを特徴
としている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. The method for manufacturing a master optical disc according to the first embodiment of the present invention includes:
A photoresist coating step of forming a photoresist layer 2 on a glass substrate 1 shown in FIG. 8B, and a laser whose light intensity is modulated corresponding to information to be recorded on the surface of the photoresist layer 2 shown in FIG. An exposure step of exposing the beam L to record information as a latent image, and developing the exposed photoresist layer 2 shown in FIG. 1D to form eight rows of pits on the surface of the glass substrate 1 corresponding to the recorded information. The manufacturing process itself is the same as the conventional manufacturing method, but is characterized in that the exposure process is different among the above steps.

【0026】すなわち、この実施の形態の光ディスク原
盤の製造方法における露光工程では、図1(a)に示す
ように、ガラス基板1上のホトレジスト層2に対して、
集光レンズ(図示せず)により集光されて二つの集光ス
ポット部12a,12bを有する双峰性ビーム12と、
集光レンズにより集光されて単一の集光スポット部13
aを有する単峰性ビーム13とによる多重露光を行うこ
とを特徴としている。なお、同図において双峰性ビーム
12を破線で図示しているのは、便宜上、両ビーム1
2,13を明確に区別して図示するためである。
That is, in the exposure step in the method of manufacturing an optical disc master according to this embodiment, as shown in FIG.
A bimodal beam 12 condensed by a converging lens (not shown) and having two converging spot portions 12a and 12b;
A single condensing spot portion 13 condensed by a condensing lens
It is characterized in that multiple exposure is performed with the unimodal beam 13 having a. Note that the bimodal beam 12 is shown by a broken line in FIG.
This is for clearly distinguishing the illustrations 2 and 13.

【0027】上記双峰性ビーム12における二つの集光
スポット部12a,12b間部分は、ホトレジスト層2
の解像が不能な極めて低い露光強度になっており、ホト
レジスト層2における両集光スポット部12a,12b
間の部分は露光されない。一方、単峰性ビーム13の集
光スポット部13aは、その中心が双峰性ビーム12に
おける二つの集光スポット部12a,12b間の中央部
に相対して結像するよう位置決めされており、この集光
スポット部13aはホトレジスト層2における二つの集
光スポット部12a,12b間の未露光部分を露光して
いく。
The portion between the two converging spots 12a and 12b in the bimodal beam 12 is
The exposure intensity is extremely low, which makes it impossible to resolve the light spots.
The portion in between is not exposed. On the other hand, the focused spot 13a of the unimodal beam 13 is positioned such that the center forms an image relative to the center between the two focused spots 12a and 12b in the bimodal beam 12, The light condensing spot 13a exposes an unexposed portion of the photoresist layer 2 between the two light condensing spots 12a and 12b.

【0028】図1(b)は、双峰性ビーム12の二つの
集光スポット部12a,12bおよび単峰性ビーム13
の一つの集光スポット部13aによるホトレジスト層2
の露光状態を示す説明図であり、双峰性ビーム12およ
び単峰性ビーム13による露光部分をそれぞれ方向の異
なる斜線で示している。双峰性ビーム12は、記録すべ
き情報に拘わらず常に所定の光強度に設定されて、ホト
レジスト層2に対し常に二つの集光スポット部12a,
12bで露光する状態を保持したまま移動される。すな
わち、双峰性ビーム12はホトレジスト層2に対し両集
光スポット部12a,12b間に未露光部分を常に残存
しながら移動される。一方、単峰性ビーム13は、記録
すべき情報に対応して光強度を経時的に変調されなが
ら、ホトレジスト層2に残存する上記の未露光部分を集
光スポット部13aによって露光しながら移動される。
FIG. 1B shows two converging spot portions 12 a and 12 b of the bimodal beam 12 and a unimodal beam 13.
Photoresist layer 2 formed by one condensing spot 13a
FIG. 4 is an explanatory view showing an exposure state of FIG. 3, in which portions exposed by the bimodal beam 12 and the unimodal beam 13 are indicated by oblique lines having different directions. The bimodal beam 12 is always set to a predetermined light intensity irrespective of the information to be recorded.
It is moved while maintaining the state of exposure at 12b. That is, the bimodal beam 12 is moved with respect to the photoresist layer 2 while always leaving an unexposed portion between both the condensed spot portions 12a and 12b. On the other hand, the unimodal beam 13 is moved while the light intensity is modulated with time according to the information to be recorded, while exposing the unexposed portion remaining on the photoresist layer 2 by the condensing spot portion 13a. You.

【0029】したがって、この実施の形態では、ポジ型
ホトレジスト層2における各集光スポット部12a,1
2b、13aの何れもが未露光の部分によってピット8
を得るための潜像15が形成されることになる。この潜
像15に基づき形成されるピット8の幅PW は、双峰性
ビーム12の二つの集光スポット部12a,12bの間
隔PD によって決定され、そのピット長PL は単峰性ビ
ーム13の光強度の変調による未露光時間によって決定
されることになる。
Therefore, in this embodiment, each light condensing spot portion 12a, 1 in the positive type photoresist layer 2 is formed.
The pit 8 is formed by an unexposed portion in each of 2b and 13a.
Is formed. The width P W of the pit 8 formed on the basis of the latent image 15 is determined by the distance P D between the two converging spots 12a and 12b of the bimodal beam 12, and the pit length P L is a unimodal beam. 13 is determined by the unexposed time due to the modulation of the light intensity.

【0030】単峰性ビーム13の集光スポット部13a
は、レーザーの波長λとレンズ開口度NAとで決定され
る最小のスポット径を有する既存のビーム形状のもので
あるが、この単峰性ビーム13の集光スポット部13a
の露光によるホトレジスト層2の情報記録用のピット8
の幅PW は双峰性ビーム12の二つの集光スポット部1
2a,12bの間隔PD によって決定され、さらに、二
つの集光スポット部12a,12bの間隔PD は、レー
ザービームLの露光ビーム径を小さく設定する場合の制
限条件となっているレーザーの波長λおよび集光レンズ
3の開口度NAとは無関係に設定できるから、従来のレ
ーザービームLにおける最小の露光ビーム径よりも小さ
くすることが可能である。すなわち、この露光工程で
は、レーザーの波長λおよび集光レンズ3の開口度NA
による限界を越えた微細な幅PW のピット8の形成が可
能な潜像15を形成することができる。
Condensing spot 13a of unimodal beam 13
Is an existing beam shape having a minimum spot diameter determined by the wavelength λ of the laser and the lens aperture NA.
Pits 8 for recording information on the photoresist layer 2 by exposure to light
Width P W is the two bimodal beam 12 focused spot portion 1 of
2a, is determined by a distance P D of 12b, furthermore, the two focused spots portion 12a, the distance P D of 12b, the wavelength of the laser that is the limiting conditions for setting a small exposure beam diameter of the laser beam L Since it can be set irrespective of λ and the aperture NA of the condenser lens 3, it can be made smaller than the minimum exposure beam diameter of the conventional laser beam L. That is, in this exposure step, the wavelength λ of the laser and the aperture NA of the condenser lens 3 are set.
Image 15 capable of forming a pit 8 having a fine width PW exceeding the limit due to the above.

【0031】また、図2は、ピット8列を形成済みのト
ラックに隣接するトラックに対して順次露光してピット
8列を形成していく場合の説明図を示す。n番目のトラ
ックに対するピット8列の露光が終了したのちに、この
n番目に隣接するn+1番目のトラックに対するピット
8列の露光に際しては、双峰性ビーム12の一方の集光
スポット部12aによる露光領域17を、n番目のトラ
ックの露光時において双峰性ビーム12の他方の集光ス
ポット部12bによって露光済み領域14に重ね合わせ
るように位置決め設定する。これにより、ホトレジスト
層2には、ピット8の形成箇所以外に未露光箇所が生じ
るのを防止できる。また、トラックピッチTP は、双峰
性ビーム12の集光スポット部12a,12bの直径と
同一の微細なものであって、双峰性ビーム12の二つの
集光スポット部12a,12bの間隔PD で決定するピ
ット8の幅PW よりも確実に大きなものとすることがで
きる。
FIG. 2 is an explanatory view showing a case where tracks adjacent to a track on which eight rows of pits have been formed are sequentially exposed to form eight rows of pits. After the exposure of the eight rows of pits on the n-th track is completed, the exposure of the eight rows of pits on the (n + 1) -th track adjacent to the n-th track is performed by the one condensing spot portion 12a of the bimodal beam 12. The region 17 is positioned and set so as to overlap the exposed region 14 by the other converging spot portion 12b of the bimodal beam 12 during the exposure of the n-th track. Thereby, it is possible to prevent the photoresist layer 2 from being left unexposed at locations other than the locations where the pits 8 are formed. The track pitch T P is the same as the diameter of the converging spots 12 a and 12 b of the bimodal beam 12, and is the same as the distance between the two converging spots 12 a and 12 b of the bimodal beam 12. than the width P W of the pit 8 for determining at P D can be reliably large.

【0032】なお、双峰性ビーム12による露光は、同
一領域に対して隣接する二つのトラックの各ピット8列
の露光時にそれぞれ各集光スポット部12a,12bに
よって2回行うことになるので、各集光スポット部12
a,12bの光強度は、2回の露光によってホトレジス
ト層2を感光できるレベルに設定しておくのが好まし
い。
The exposure with the bimodal beam 12 is performed twice by each of the condensed spot portions 12a and 12b at the time of exposing eight rows of pits of two tracks adjacent to the same area. Each focusing spot 12
The light intensities a and 12b are preferably set to a level at which the photoresist layer 2 can be exposed by two exposures.

【0033】図3は、上記の第1の実施の形態に係る光
ディスク原盤の製造方法における露光工程を具現化した
光ディスク原盤露光装置を示すブロック構成図である。
同図において、ガスレーザー光源18から出射されたレ
ーザー光は、第1の反射ミラー19で直交方向に反射さ
れたのちに、1/2波長板20を経て第1の偏光分離素
子(偏光ビームスプリッタ)21に入射され、1/2波
長板20に基づいて決定する光強度で2分割された2系
統のビームが、第1の偏光分離素子21から分岐して双
峰性ビーム系22および単峰性ビーム系23にそれぞれ
出射される。
FIG. 3 is a block diagram showing an optical disk master exposure apparatus that embodies the exposure step in the method for manufacturing an optical disk master according to the first embodiment.
In FIG. 1, a laser beam emitted from a gas laser light source 18 is reflected by a first reflection mirror 19 in an orthogonal direction, and then passes through a half-wave plate 20 to a first polarization separation element (polarization beam splitter). 2.) A two-beam split into two beams at a light intensity determined based on the half-wave plate 20 and split into two beams from the first polarization splitting element 21 and a bimodal beam system 22 and a unimodal beam. Each of the light beams is emitted to the neutral beam system 23.

【0034】双峰性ビーム系22に出射された光ビーム
は、第2の反射ミラー24で再び直交方向に反射された
のちに、高速光シャッタからなる第1の光変調器27に
よって記録情報とは無関係に常時一定の光強度になるよ
う変調され、さらに、超解像フィルタ28を透過するこ
とによって位相および振幅を制御されて、第2の偏光分
離素子29に入射される。この双峰性ビーム系22の光
ビームは、上記超解像フィルタ28を透過することによ
って位相および振幅を制御されたのちに、後述の対物レ
ンズ34で集光されることにより、図1および図2に示
した双峰性ビーム12となるが、上記の超解像フィルタ
28については後述する。
The light beam emitted to the bimodal beam system 22 is reflected again in the orthogonal direction by the second reflection mirror 24, and then recorded by the first optical modulator 27 comprising a high-speed optical shutter. Irrespective of the phase, is modulated so as to always have a constant light intensity. Further, the light is transmitted through the super-resolution filter 28, the phase and the amplitude are controlled, and the light is incident on the second polarization separation element 29. The light beam of the bimodal beam system 22 is controlled in phase and amplitude by passing through the super-resolution filter 28, and is then condensed by an objective lens 34, which will be described later. The bimodal beam 12 shown in FIG. 2 will be described. The super-resolution filter 28 will be described later.

【0035】一方、単峰性ビーム系23に出射された光
ビームは、第2の光変調器30で記録すべき情報に対応
して経時的に光強度を変調されたのちに、光偏光素子3
1を経て第3の反射ミラー32で再び直交方向に反射さ
れて、第2の偏光分離素子29に入射する。双峰性ビー
ム系22と単峰性ビーム系23の各光ビームは、偏光分
離素子29によって再度合成されたのちに、移動可能な
光学ヘッド33に設けられている対物レンズ(集光レン
ズ)34に入射する。対物レンズ34は、両ビーム系2
2,23からの各々の光ビームを集光することにより、
図1および図2に示した二つの集光スポット部12a,
12bを有する双峰性ビーム12および単一の集光スポ
ット部13aを有する単峰性ビーム13を形成して、ガ
ラス基板1上のホトレジスト層2の表面に結像させる。
このとき、上記の光偏光素子31は、単峰性ビーム13
の集光スポット部13aの中心が双峰性ビーム12にお
ける二つの集光スポット部12a,12b間の中央部に
相対する位置関係になるよう精密に位置決めして両集光
ビーム12,13を結像させるよう設定する。
On the other hand, the light beam emitted to the unimodal beam system 23 has its light intensity modulated with time in accordance with information to be recorded by the second optical modulator 30, and then the light polarization element 3
After passing through 1, the light is again reflected in the orthogonal direction by the third reflection mirror 32 and enters the second polarization separation element 29. After the light beams of the bimodal beam system 22 and the unimodal beam system 23 are recombined by the polarization splitter 29, an objective lens (condensing lens) 34 provided on a movable optical head 33. Incident on. The objective lens 34 is a dual beam system 2
By focusing each light beam from 2, 23,
The two converging spot portions 12a shown in FIGS.
A bimodal beam 12 having 12b and a unimodal beam 13 having a single focused spot 13a are formed and imaged on the surface of the photoresist layer 2 on the glass substrate 1.
At this time, the above-mentioned light polarizing element 31 outputs the unimodal beam 13.
Is precisely positioned so that the center of the condensed spot portion 13a of the bimodal beam 12 is in a positional relationship relative to the central portion between the two condensed spot portions 12a and 12b. Set to image.

【0036】上面にホトレジスト層2を有するガラス基
板1はスピンドル37によって回転され、これと同時
に、光学ヘッド33は対物レンズ34をガラス基板1の
周端部から中心部に向けて半径方向に所定の移動速度で
移動させていく。これにより、ホトレジスト層2には、
図1および図2で説明したような各トラック毎のピット
8列がスパイラル状に形成されていく。
The glass substrate 1 having the photoresist layer 2 on its upper surface is rotated by a spindle 37. At the same time, the optical head 33 moves the objective lens 34 from the peripheral end of the glass substrate 1 toward the center in a predetermined direction. Move at moving speed. Thereby, the photoresist layer 2 has
Eight rows of pits for each track as described with reference to FIGS. 1 and 2 are formed in a spiral shape.

【0037】つぎに、上記超解像フィルタ28につい
て、図4を参照しながら説明する。同図(a)〜(c)
は三種の超解像フィルタ28A〜28Cの形状を示す図
であり、いずれの超解像フィルタ28A〜28Cにおい
ても、対物レンズ34に入射する光ビームの振幅(光強
度)または位相分布を変化させている。(a)の超解像
フィルタ28Aは、円形の半分が遮光部になっており、
この遮光部によって光ビームの振幅を変えて、光ビーム
を1/2波長(π)だけ位相をシフトさせて対物レンズ
34に入射させるものである。(b)の超解像フィルタ
28Bは、相対向する二つの扇形の遮光部によって光ビ
ームの振幅をそれぞれ変えて、光ビームを1/2波長
(π)ずつ位相をシフトさせて対物レンズ34に入射さ
せるものである。(c)の超解像フィルタ28Cは、相
対向する二つの扇形の遮光部と中心部の円形の遮光部と
を有し、残る二つの相対向する扇形の光透過部分にそれ
ぞれ光ビームをπおよび−πだけ位相をシフトさせるも
のである。
Next, the super-resolution filter 28 will be described with reference to FIG. (A) to (c) of FIG.
FIG. 3 is a diagram showing the shapes of three types of super-resolution filters 28A to 28C. In each of the super-resolution filters 28A to 28C, the amplitude (light intensity) or phase distribution of a light beam incident on the objective lens 34 is changed. ing. In the super-resolution filter 28A of (a), a half of the circle is a light shielding portion,
The amplitude of the light beam is changed by the light-shielding portion, and the phase of the light beam is shifted by を wavelength (π) to be incident on the objective lens 34. The super-resolution filter 28B of (b) changes the amplitude of the light beam by two opposing fan-shaped light-shielding portions, and shifts the phase of the light beam by 波長 wavelength (π) to the objective lens 34. It is intended to be incident. The super-resolution filter 28C of (c) has two opposing fan-shaped light-shielding portions and a circular light-shielding portion at the center, and applies a light beam to each of the remaining two opposing fan-shaped light-transmitting portions by π. And by -π.

【0038】上記の何れの超解像フィルタ28A〜28
Cを用いた場合にも、これら超解像フィルタ28A〜2
8Cを透過させることによって変化させた光ビームを対
物レンズ34で集光すると、(d)に示すような光強度
分布を有する双峰性ビーム12を得ることができる。な
お、(d)には単峰性ビーム13の光強度分布を双峰性
ビーム12に対応させて2点鎖線で示してある。
Any of the above super-resolution filters 28A-28
C, these super-resolution filters 28A to 28A-2
When the light beam changed by transmitting 8C is condensed by the objective lens 34, a bimodal beam 12 having a light intensity distribution as shown in FIG. In (d), the light intensity distribution of the unimodal beam 13 is shown by a two-dot chain line corresponding to the bimodal beam 12.

【0039】また、同図(e)には双峰性ビーム12の
二つの集光スポット部12a,12bと単峰性ビーム1
3の単一の集光スポット部13aとの相対位置関係を示
してあり、双峰性ビーム12の二つの集光スポット部1
2a,12bの間隔PD は、図1および図2で説明した
ように、形成すべきピット8の幅PW を決定するもので
ある。この(e)に比較のために二つの集光スポット部
12a,12bに対応して示した単峰性ビーム13の集
光スポット部13aのビーム径PR は、レーザービーム
の波長λとレンズ開口度NAとで決定される最小値に設
定されたものである。この集光スポット部13aの径P
R と二つの集光スポット部12a,12bの間隔PD
の比較から明らかなように、ビーム径PR は、波長λと
レンズ開口度NAとにより決定されて、小さくするのに
限界があるのに対し、双峰性ビーム12の二つの集光ス
ポット部12a,12bの間隔PD は、任意の超解像フ
ィルタ28A〜28Cを通すことにより、最小値のビー
ム径PR よりも小さくすることができる。
FIG. 3E shows two converging spots 12a and 12b of the bimodal beam 12 and the unimodal beam 1
3 shows a relative positional relationship with the single converging spot 13a, and shows two converging spots 1 of the bimodal beam 12.
2a, the interval P D of 12b is to determine the width P W of as described in FIGS. 1 and 2, to be formed pits 8. The two focused spots section 12a for comparison to (e), the beam diameter P R of the focused spot portion 13a of the unimodal beam 13 shown in correspondence to 12b, the laser beam having a wavelength λ and lens aperture It is set to the minimum value determined by the degree NA. The diameter P of this condensing spot 13a
R and two focused spots section 12a, as is apparent from the comparison between the distance P D of 12b, the beam diameter P R is determined by the wavelength λ and lens numerical aperture NA, there is a limit in reducing whereas, the two focused spots 12a of the bimodal beam 12, the distance P D of 12b, by passing the optional super-resolution filter 28A to 28C, is smaller than the beam diameter P R of the minimum value be able to.

【0040】図3の光ディスク原盤露光装置では、双峰
性ビーム系22の第1の光変調器27が記録すべき情報
にかかわらず常に光ビームを一定の光強度に設定して透
過させている。これにより、ガラス基板1上のホトレジ
スト層2には、双峰性ビーム12の二つの集光スポット
部12a,12bの間隔PD に相当する細い幅の未露光
部分が常時形成されていく。このホトレジスト層2の未
露光部分は、単峰性ビーム系23において第2の光変調
器30が記録すべき情報に応じて経時的に光強度を変調
させた光ビームを対物レンズ34で集光してなる単峰性
ビーム13の集光スポット部13aで露光されていくの
で、ホトレジスト層2における上記未露光部分には、二
つの集光スポット部12a,12bの間隔PD に相当す
る幅PWのピット8の列が形成されていく。
In the optical disk master exposure apparatus shown in FIG. 3, the first light modulator 27 of the bimodal beam system 22 always transmits a light beam at a constant light intensity regardless of information to be recorded. . Thus, the photoresist layer 2 on the glass substrate 1, the unexposed portions of the narrow width corresponding to the distance P D of two focused spots portions 12a, 12b of the bimodal beam 12 is gradually formed constantly. The unexposed portion of the photoresist layer 2 is condensed by the objective lens 34 with a light beam whose light intensity is temporally modulated according to the information to be recorded by the second light modulator 30 in the unimodal beam system 23. since then in condensing spot portion 13a of the unimodal beam 13 formed by gradually exposed, the aforementioned unexposed portion of the photoresist layer 2, a width corresponding to the distance P D of two focused spots portions 12a, 12b P A row of W pits 8 is formed.

【0041】図5は、本発明の第2の実施の形態に係る
光ディスク原盤の製造方法を工程順に示した工程図であ
る。先ず、(a)に示すホトレジスト塗布工程におい
て、十分な平坦性と清浄度が確保されたガラス基板1上
にホトレジストを回転塗布して、ホトレジスト層2を形
成する。つぎに、(b)に示すように、ホトレジスト層
2の表面に、光退色性を有する水溶性の光退色性材料を
回転塗布して、光退色性膜38を成膜する。光退色性材
料としては、例えば、露光波長がアルゴンレーザーの36
4 nmの場合に、この364 nm付近の波長において光退
色性を有するものを用いる。すなわち、光退色性膜38
は、露光波長における屈折率がホトレジスト層2のレジ
スト材料と一致する光退色性材料を選択して、その光退
色性材料を塗布して形成する。具体的には、光退色性材
料として、例えば、信越化学工業株式会社製のACEM
−364iM(商品登録名)を用いるのが好ましい。
FIG. 5 is a process chart showing a method of manufacturing an optical disc master according to the second embodiment of the present invention in the order of steps. First, in a photoresist coating step shown in FIG. 3A, a photoresist is spin-coated on a glass substrate 1 having sufficient flatness and cleanliness to form a photoresist layer 2. Next, as shown in (b), a water-soluble photobleachable material having photobleachability is spin-coated on the surface of the photoresist layer 2 to form a photobleachable film 38. As the photobleachable material, for example, the exposure wavelength is 36
In the case of 4 nm, a material having photobleaching property at a wavelength around 364 nm is used. That is, the photobleachable film 38
Is formed by selecting a photobleachable material whose refractive index at the exposure wavelength matches the resist material of the photoresist layer 2 and applying the photobleachable material. Specifically, as a photobleachable material, for example, ACEM manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
It is preferable to use -364iM (product registration name).

【0042】続いて、(c)の露光工程において、記録
すべき情報に対応する記録信号に基づき光変調された単
峰性ビーム13と、記録すべき情報にかかわらず常に一
定の光強度に変調された双峰性ビーム12とにより、光
退色性膜38を介してホトレジスト層2を多重露光す
る。ここで、光退色性膜38とホトレジスト層2とは、
上述のようにアルゴンレーザーの露光波長である364 n
m付近の波長において屈折率が互いにほぼ一致する光退
色性材料およびレジスト材料をそれぞれ選択して形成さ
れているので、露光時における光退色性膜38とホトレ
ジスト層2との界面での多重反射を抑止することができ
る。
Subsequently, in the exposure step (c), the unimodal beam 13 light-modulated based on the recording signal corresponding to the information to be recorded is modulated to a constant light intensity regardless of the information to be recorded. The photoresist layer 2 is subjected to multiple exposure with the bimodal beam 12 through the photobleachable film 38. Here, the photobleachable film 38 and the photoresist layer 2 are
As described above, the exposure wavelength of the argon laser is 364 n
Since the photobleachable material and the resist material whose refractive indices are substantially equal to each other at wavelengths near m are selected and formed, multiple reflection at the interface between the photobleachable film 38 and the photoresist layer 2 during exposure is prevented. Can be deterred.

【0043】なお、(c)では、単峰性ビーム13によ
る露光無し、つまりピット8の形成信号が有る状態を左
方側に、単峰性ビーム13による露光有り、つまりピッ
ト8の形成信号が無い状態を右方側にそれぞれ示してい
る。したがって、ホトレジスト層2における左方側のト
ラックには双峰性ビーム12の二つの集光スポット部1
2a,12bによる各露光部分の間に潜像15が形成さ
れ、ホトレジスト層2における右方側のトラックには単
峰性ビーム13の単一の集光スポット部13aと双峰性
ビーム12の二つの集光スポット部12a,12bとに
よって幅方向の全体が露光されて、潜像15が形成され
ない。ここで、ホトレジスト層2には、光退色性膜38
を介して双峰性ビーム12の二つの集光スポット部12
a,12bで露光されることにより、光退色性膜38に
よるコントラスト拡張効果により微細な潜像15を形成
することができる。この露光工程の詳細については、図
6において詳述する。
In (c), the state where there is no exposure by the unimodal beam 13, that is, the state where there is a signal for forming the pit 8 is on the left side, and the state where there is exposure by the monomodal beam 13, that is, the signal for forming the pit 8 is The absence of each is shown on the right side. Therefore, the two converging spots 1 of the bimodal beam 12 are provided on the left track of the photoresist layer 2.
A latent image 15 is formed between the exposed portions 2a and 12b, and a single focused spot portion 13a of the unimodal beam 13 and a bimodal beam 12 are formed on the right track of the photoresist layer 2. The whole of the width direction is exposed by the two condensing spot portions 12a and 12b, and the latent image 15 is not formed. Here, the photobleachable film 38 is formed on the photoresist layer 2.
Through the two focused spots 12 of the bimodal beam 12
Exposure at a and 12b makes it possible to form a fine latent image 15 by the contrast expansion effect of the photobleachable film 38. Details of this exposure step will be described later with reference to FIG.

【0044】つぎに、(d)に示すように、純水による
洗浄を行うことにより、水溶性の光退色性膜38が除去
される。続いて、ホトレジスト層2が現像されることに
より、同図(e)に示すように、ポジ型のホトレジスト
層2の露光箇所が現像液で除去されて、ホトレジスト層
2の未露光部分である潜像15が残存してピット8が形
成される。ホトレジスト層2は、上述のように光退色性
膜38によるコントラスト拡張効果によってコントラス
トが増強された単峰性ビーム13の集光スポット部13
aで露光されているから、現像時において、端側壁をガ
ラス基板1に対してより垂直に除去される。これによ
り、ホトレジスト層2にはピット長Pl を一層微細化し
たピット8を形成することが可能となる。
Next, as shown in FIG. 5D, the water-soluble photobleachable film 38 is removed by washing with pure water. Subsequently, as the photoresist layer 2 is developed, the exposed portions of the positive type photoresist layer 2 are removed with a developing solution as shown in FIG. The pit 8 is formed with the image 15 remaining. As described above, the photoresist layer 2 has a condensed spot portion 13 of the unimodal beam 13 whose contrast has been enhanced by the contrast expansion effect of the photobleachable film 38.
Since the exposure is carried out at a, the end side wall is removed more perpendicularly to the glass substrate 1 during development. This makes it possible to form pits 8 in the photoresist layer 2 in which the pit length Pl is further reduced.

【0045】このピット8が形成されたホトレジスト層
2を乾燥させてガラス基板1上に定着させると、ピット
8の列をトラック毎に有した光ディスク原盤7が出来上
がる。この光ディスク原盤7に形成されたピット8は、
光退色性膜38のコントラスト拡張効果によってエッジ
にテーパーの少ないものとなるから、この光ディスク原
盤7を用いて製作される光ディスクは、ディスク信号の
品質が格段に向上したものとなる。なお、(e)におい
て2点鎖線で示した領域は、(c)において図示してい
ないが、隣接するトラックのピット8列が上述と同様に
して形成されるときの露光領域であって、ピット8が形
成されない。
When the photoresist layer 2 having the pits 8 formed thereon is dried and fixed on the glass substrate 1, an optical disk master 7 having a row of pits 8 for each track is completed. The pits 8 formed on the optical disk master 7 are
Since the edge is less tapered due to the contrast expansion effect of the photobleachable film 38, the optical disk manufactured using the optical disk master 7 has a significantly improved disk signal quality. The area shown by the two-dot chain line in (e) is an exposure area when eight rows of pits of adjacent tracks are formed in the same manner as described above, although not shown in (c). 8 is not formed.

【0046】ところで、この実施の形態では、上述のよ
うに、光退色性膜38とホトレジスト層2とを露光波長
における屈折率が互いにほぼ一致する光退色性材料およ
びレジスト材料をそれぞれ選択して形成することによ
り、露光時の光退色性膜38とホトレジスト層2との界
面での多重反射を抑止しているので、現像後にホトレジ
スト層2上に残像して形成されたピット8には、荒れの
無い表面が得られる。これにより、次工程を経て製作さ
れた光ディスクには、ディスク再生信号の品質低下が生
じない。
In this embodiment, as described above, the photobleachable film 38 and the photoresist layer 2 are formed by selecting a photobleachable material and a resist material whose refractive indices at the exposure wavelength are substantially equal to each other. By doing so, multiple reflections at the interface between the photobleachable film 38 and the photoresist layer 2 during exposure are suppressed, so that the pits 8 formed afterimages on the photoresist layer 2 after development have rough surfaces. No surface is obtained. As a result, the quality of the disc reproduction signal does not decrease in the optical disc manufactured through the next process.

【0047】図6は、図5(c)の露光工程において双
峰性ビーム12および単峰性ビーム13を多重露光する
状態の説明図で、(a)は概略縦断面、(b)は概略平
面をそれぞれ示している。第1の実施の形態と同様に、
双峰性ビーム12における二つの集光スポット部12
a,12b間の部分は、ホトレジスト層2の解像が不能
な極めて低い露光強度になっており、ホトレジスト層2
における両集光スポット部12a,12b間の部分は露
光されない。一方、単峰性ビーム13の集光スポット部
13aは、その中心が双峰性ビーム12における二つの
集光スポット部12a,12b間の中央部に相対して結
像するよう位置決めされており、この集光スポット部1
3aはホトレジスト層2における二つの集光スポット部
12a,12b間の未露光部分を露光していく。
FIGS. 6A and 6B are explanatory views showing a state in which the bimodal beam 12 and the unimodal beam 13 are subjected to multiple exposure in the exposure step of FIG. 5C, wherein FIG. 6A is a schematic longitudinal section, and FIG. Each plane is shown. As in the first embodiment,
Two focused spots 12 in bimodal beam 12
The portion between a and 12b has an extremely low exposure intensity at which the resolution of the photoresist layer 2 is not possible.
Is not exposed between the two condensing spot portions 12a and 12b. On the other hand, the focused spot 13a of the unimodal beam 13 is positioned such that the center forms an image relative to the center between the two focused spots 12a and 12b in the bimodal beam 12, This focusing spot 1
3a exposes an unexposed portion between the two condensed spot portions 12a and 12b in the photoresist layer 2.

【0048】図6(b)は、双峰性ビーム12の二つの
集光スポット部12a,12bおよび単峰性ビーム13
の一つの集光スポット部13aによるホトレジスト層2
の露光状態を示し、双峰性ビーム12および単峰性ビー
ム13による各々の露光部分をそれぞれ方向の異なる斜
線で示している。双峰性ビーム12は、記録すべき情報
にかかわらず、ホトレジスト層2に対し常に二つの集光
スポット部12a,12bで露光する状態を保持したま
ま移動される。すなわち、双峰性ビーム12はホトレジ
スト層2に対し両集光スポット部12a,12b間に細
い幅PD の未露光部分を残存しながら移動される。一
方、単峰性ビーム13は、記録すべき情報に対応して光
強度を経時的に変調されながら、ホトレジスト層2に残
存する上記の未露光部分を集光スポット部13aによっ
て露光しながら移動される。
FIG. 6B shows two condensed spot portions 12 a and 12 b of the bimodal beam 12 and the unimodal beam 13.
Photoresist layer 2 formed by one condensing spot 13a
, And the respective portions exposed by the bimodal beam 12 and the unimodal beam 13 are indicated by oblique lines having different directions. Regardless of the information to be recorded, the bimodal beam 12 is moved while always keeping the photoresist layer 2 exposed at the two focused spots 12a and 12b. That is, the bimodal beam 12 is moved with respect to the photoresist layer 2 while leaving an unexposed portion having a small width P D between the condensed spot portions 12a and 12b. On the other hand, the unimodal beam 13 is moved while the light intensity is modulated with time according to the information to be recorded, while exposing the unexposed portion remaining on the photoresist layer 2 by the condensing spot portion 13a. You.

【0049】したがって、この実施の形態では、第1の
実施の形態と同様に、ポジ型ホトレジスト層2における
各集光スポット部12a,12b、13aの何れもが未
露光の部分が形成すべきピット8の潜像15となり、形
成されるピット8の幅PW は、双峰性ビーム12の二つ
の集光スポット部12a,12bの間隔PD によって決
定される。一方、ピット長PL は単峰性ビーム13の光
強度の変調による未露光時間によって決定されるのであ
るが、この実施の形態では、単峰性ビーム13の光強度
が光退色性膜38によってコントラスト増強されるの
で、ピット長PLは、光退色性膜38を設けない第1の
実施の形態の場合よりも短く設定することが可能とな
る。また、この第2の実施の形態によって形成されるピ
ット8は,そのエッジにテーパーが少ないので、光ディ
スクとした場合にディスク信号の品質が格段に向上す
る。
Therefore, in this embodiment, as in the first embodiment, each of the condensed light spots 12a, 12b, and 13a in the positive photoresist layer 2 has a pit where an unexposed portion is to be formed. 8, the width P W of the pit 8 to be formed is determined by the distance P D between the two converging spots 12a and 12b of the bimodal beam 12. On the other hand, the pit length P L is determined by the unexposed time due to the modulation of the light intensity of the unimodal beam 13. In this embodiment, the light intensity of the unimodal beam 13 is controlled by the photobleaching film 38. since the contrast enhancement, pit length P L, it is possible to set shorter than that in the first embodiment without the photobleachable film 38. Further, the pits 8 formed according to the second embodiment have little taper at the edges, so that the quality of a disc signal is remarkably improved when the pit 8 is used as an optical disc.

【0050】単峰性ビーム13の集光スポット部13a
は、レーザーの波長λとレンズ開口度NAとで決定され
る最小のスポット径を有する既存のビーム形状のもので
あるが、この単峰性ビーム13の集光スポット部13a
によって露光するホトレジスト層2の未露光部分の幅は
双峰性ビーム12の二つの集光スポット部12a,12
bの間隔PD によって決定され、さらに、二つの集光ス
ポット部12a,12bの間隔PD は、レーザービーム
Lの露光ビーム径を小さく設定する場合の制限条件とな
っているレーザーの波長λおよび集光レンズ3の開口度
NAとは無関係に設定できるから、従来のレーザービー
ムLの最小露光ビーム径よりも小さくすることが可能で
ある。すなわち、この露光工程では、レーザーの波長λ
および集光レンズ3の開口度NAによる限界を越えた微
細な幅PW のピット8の形成が可能な潜像15を形成す
ることができる。
Condensing spot 13a of unimodal beam 13
Is an existing beam shape having a minimum spot diameter determined by the wavelength λ of the laser and the lens aperture NA.
The width of the unexposed portion of the photoresist layer 2 to be exposed by the light beam has two converging spot portions 12a and 12a of the bimodal beam 12.
b is determined by a distance P D, the further distance P D of two focused spots portions 12a, 12b, the wavelength λ and of the laser that is the limiting conditions for setting a small exposure beam diameter of the laser beam L Since it can be set independently of the aperture NA of the condenser lens 3, it can be made smaller than the conventional minimum exposure beam diameter of the laser beam L. That is, in this exposure step, the wavelength λ of the laser
In addition, a latent image 15 capable of forming a pit 8 having a fine width PW exceeding the limit of the aperture NA of the condenser lens 3 can be formed.

【0051】また、ピット8列を形成する済みのトラッ
クに隣接するトラックに対して順次露光してピット8列
を形成していく場合は、図2で説明した通りに行う。す
なわち、n番目のトラックに対するピット8列の露光が
終了したのちに、このn番目に隣接するn+1番目のト
ラックに対するピット8列の露光に際しては、双峰性ビ
ーム12の一方の集光スポット部12aによる露光領域
17を、n番目のトラックの露光時において双峰性ビー
ム12の一方の集光スポット部12bによる露光済み領
域14に重ね合わせるように位置決め設定する。これに
より、ホトレジスト層2には、ピット8の形成箇所以外
に未露光箇所が生じるのを防止できる。また、トラック
ピッチは、双峰性ビーム12の集光スポット部12a,
12bの直径と同一の微細なものであるとともに、双峰
性ビーム12の二つの集光スポット部12a,12bの
間隔PD で決定するピット8の幅PW よりも確実に大き
なものとすることができる。
In the case where the tracks adjacent to the tracks on which the eight pit rows have been formed are sequentially exposed to form the eight pit rows, the same procedure as described with reference to FIG. 2 is performed. That is, after the exposure of the eight rows of pits to the n-th track is completed, when exposing the eight rows of pits to the (n + 1) -th track adjacent to the n-th track, one of the converging spot portions 12a of the bimodal beam 12 is exposed. Is set so as to overlap the exposed area 14 of the convergent spot 12b of the bimodal beam 12 during the exposure of the n-th track. Thereby, it is possible to prevent the photoresist layer 2 from being left unexposed at locations other than the locations where the pits 8 are formed. Also, the track pitch is the converging spot portion 12a of the bimodal beam 12,
12b with those same fine and diameter, to ensure greater than the width P W of the pit 8 for determining an interval P D of two focused spots portions 12a, 12b of the bimodal beam 12 Can be.

【0052】図7は、上記第2の実施の形態に係る光デ
ィスク原盤の製造方法における露光工程を具現化した光
ディスク原盤露光装置を示すブロック構成図であり、同
図において、図3と同一若しくは同等のものには同一の
符号を付してある。この光ディスク原盤露光装置が図3
の装置と相違するのは、ホトレジスト層2の表面に光退
色性膜38を形成した構成のみである。
FIG. 7 is a block diagram showing an optical disk master exposing apparatus embodying an exposure step in the method for manufacturing an optical disk master according to the second embodiment. In FIG. Are given the same reference numerals. This optical disk master exposure apparatus is shown in FIG.
The only difference from the above device is the configuration in which the photobleachable film 38 is formed on the surface of the photoresist layer 2.

【0053】したがって、この光ディスク原盤露光装置
は、図3の装置とほぼ同様に作用し、双峰性ビーム系2
2の第1の光変調器27が記録すべき情報にかかわらず
常に光ビームを一定の光強度に設定して透過させること
により、ガラス基板1上のホトレジスト層2には、光退
色性膜38を介して双峰性ビーム12の二つの集光スポ
ット部12a,12bの間隔PD に相当する細い幅の未
露光部分が常時形成されていく。このホトレジスト層2
の未露光部分は、単峰性ビーム系23の第2の光変調器
30が記録すべき情報に応じて経時的に光強度を変調さ
せた光ビームを対物レンズ34で集光してなる単峰性ビ
ーム13の集光スポット部13aで露光されていくの
で、ホトレジスト層2における上記未露光部分には、二
つの集光スポット部12a,12bの間隔PD に相当す
る幅PW のピット8の列が形成されていく。
Therefore, this optical disk master exposure apparatus operates almost in the same manner as the apparatus shown in FIG.
The first light modulator 27 always sets the light beam at a constant light intensity and transmits the light beam regardless of the information to be recorded, so that the photobleachable film 38 is formed on the photoresist layer 2 on the glass substrate 1. unexposed portions of the narrow width equivalent is gradually formed constantly bimodal two focused spots portion 12a of the beam 12, 12b interval P D via the. This photoresist layer 2
The unexposed portion is formed by condensing a light beam whose light intensity is temporally modulated in accordance with the information to be recorded by the second light modulator 30 of the unimodal beam system 23 by the objective lens 34. since Minesei gradually exposed with focused spot portion 13a of the beam 13, the above-mentioned unexposed portion of the photoresist layer 2, the width P W corresponding to the interval P D of two focused spots portions 12a, 12b pit 8 Are formed.

【0054】[0054]

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク原盤の
製造方法によれば、露光工程において、ピットの幅を二
つの集光スポット部の間隔で規制する光ビームと、記録
すべき情報に基づき光強度が変調された光ビームとを少
なくとも含む複数の光ビームをホトレジスト層に多重露
光するようにしたので、情報記録用のピットの幅を二つ
の集光スポット部の間隔によって設定しながらホトレジ
スト層を露光でき、この二つの集光スポット部の間隔
は、レーザービームの露光ビーム径を小さく設定する場
合の制限条件となっているレーザーの波長および集光レ
ンズの開口度とは無関係に設定できるから、従来のレー
ザービームにおける最小の露光ビーム径よりも小さくす
ることが可能である。したがって、露光工程では、レー
ザーの波長および集光レンズの開口度による限界を越え
た微細な幅のピットの形成が可能な潜像をホトレジスト
層に形成することができるから、情報を一層高密度化し
て記録することができる。
As described above, according to the method for manufacturing an optical disk master of the present invention, in the exposure step, the width of the pit is controlled by the distance between the two condensed spots and the information to be recorded. Since a plurality of light beams including at least a light beam having a modulated light intensity are subjected to multiple exposure on the photoresist layer, the width of the pits for information recording is set by the distance between the two condensed spot portions while the photoresist layer is formed. The distance between the two focused spots can be set independently of the laser wavelength and the aperture of the focusing lens, which are the limiting conditions when setting the exposure beam diameter of the laser beam small. It is possible to make the diameter smaller than the minimum exposure beam diameter of the conventional laser beam. Therefore, in the exposure process, a latent image capable of forming a pit having a fine width exceeding the limit due to the laser wavelength and the aperture of the condenser lens can be formed in the photoresist layer, so that information can be further densified. Can be recorded.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係る光ディスク原
盤の製造方法における露光工程において双峰性ビームお
よび単峰性ビームでホトレジスト層を多重露光する状態
の説明図で、(a)は概略縦断面、(b)は概略平面を
それぞれ示す。
FIG. 1 is an explanatory view showing a state in which a photoresist layer is subjected to multiple exposure with a bimodal beam and a monomodal beam in an exposure step in a method for manufacturing an optical disc master according to a first embodiment of the present invention, and FIG. A schematic longitudinal section, (b) shows a schematic plane, respectively.

【図2】同上露光工程における隣接する互いに隣接する
トラックの各ピット列を形成するときの双峰性ビームの
位置決め状態を示す説明図。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a positioning state of a bimodal beam when forming each pit row of adjacent tracks adjacent to each other in the same exposure step.

【図3】同上露光工程を具現化した光ディスク原盤露光
装置を示すブロック構成図。
FIG. 3 is a block diagram showing an optical disk master exposure apparatus embodying the same exposure step.

【図4】(a)〜(c)は同上光ディスク原盤露光装置
における超解像フィルタの種類を示す説明図、(d)は
その超解像フィルタと対物レンズとによって得られる双
峰性ビームの光強度分布図、(e)は双峰性ビームの二
つの集光スポット部と単峰性ビームの集光スポット部と
の相対位置関係を示す説明図。
4 (a) to 4 (c) are explanatory diagrams showing types of super-resolution filters in the optical disk master exposure apparatus, and FIG. 4 (d) is a diagram of a bimodal beam obtained by the super-resolution filters and the objective lens. FIG. 4E is an explanatory diagram showing a relative positional relationship between two converging spots of a bimodal beam and a converging spot of a unimodal beam.

【図5】(a)〜(e)は本発明の第2の実施の形態に
係る光ディスク原盤の製造方法を工程順に示した工程
図。
FIGS. 5A to 5E are process diagrams showing a method of manufacturing an optical disc master according to a second embodiment of the present invention in the order of processes.

【図6】同上露光工程において双峰性ビームおよび単峰
性ビームでホトレジスト層を多重露光する状態の説明図
で、(a)は概略縦断面、(b)は概略平面をそれぞれ
示す。
FIGS. 6A and 6B are explanatory views showing a state in which the photoresist layer is subjected to multiple exposure with a bimodal beam and a unimodal beam in the same exposure step, wherein FIG. 6A shows a schematic longitudinal section, and FIG.

【図7】同上露光工程を具現化した光ディスク原盤露光
装置を示すブロック構成図。
FIG. 7 is a block diagram showing an optical disk master exposure apparatus embodying the same exposure step.

【図8】(a)〜(f)は一般的な光ディスク原盤の製
造方法を示した工程図。
FIGS. 8A to 8F are process diagrams showing a general method of manufacturing an optical disc master.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板(基板) 2 ホトレジスト層 8 ピット 12 双峰性ビーム 12a,12b 双峰性ビームの集光スポット部 13 単峰性ビーム 13a 単峰性ビームの集光スポット部 15 潜像 28,28A〜28C 超解像フィルタ 34 対物レンズ(レンズ) 38 光退色性膜 PW ピットの幅DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass substrate (substrate) 2 Photoresist layer 8 Pit 12 Bimodal beam 12a, 12b Condensing spot part of bimodal beam 13 Unimodal beam 13a Condensing spot part of unimodal beam 15 Latent image 28, 28A- 28C Super Resolution Filter 34 Objective Lens (Lens) 38 Photobleachable Film P W Pit Width

フロントページの続き Fターム(参考) 2H097 AA03 AA13 CA17 5D119 AA22 BA01 BB09 DA01 EB14 JA63 5D121 BB02 BB04 BB26 BB38 Continuation of the front page F term (reference) 2H097 AA03 AA13 CA17 5D119 AA22 BA01 BB09 DA01 EB14 JA63 5D121 BB02 BB04 BB26 BB38

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の表面にホトレジストを塗布してホ
トレジスト層を形成する工程と、 記録すべき情報に対応して経時的に光強度が変調された
光ビームで前記ホトレジスト層の表面を露光して、前記
ホトレジスト層に情報を潜像として記録する露光工程
と、 前記ホトレジストを現像して前記基板上に記録情報に対
応するピット列を形成する現像工程とを有し、 前記露光工程では、前記ピットの幅を二つの集光スポッ
ト部の間隔で規制する光ビームと、記録すべき情報に基
づき光強度が変調された光ビームとを少なくとも含む複
数の光ビームを多重露光するようにしたことを特徴とす
る光ディスク原盤の製造方法。
A step of applying a photoresist on the surface of a substrate to form a photoresist layer, and exposing the surface of the photoresist layer with a light beam whose light intensity is modulated with time according to information to be recorded. An exposure step of recording information as a latent image on the photoresist layer, and a developing step of developing the photoresist to form a pit row corresponding to the recorded information on the substrate, wherein the exposing step comprises: Multiple exposure is performed on a plurality of light beams including at least a light beam that regulates the width of a pit by an interval between two focused spot portions and a light beam whose light intensity is modulated based on information to be recorded. A method for manufacturing a master optical disc.
【請求項2】 ピットの幅を決定する二つの集光スポッ
ト部を有する双峰性ビームと、単一の集光スポット部を
有して記録すべき情報に基づき光強度が変調された単峰
性ビームとを用いてホトレジスト層を露光するようにし
た請求項1に記載の光ディスク原盤の製造方法。
2. A bimodal beam having two converging spots for determining a pit width, and a single peak having a single converging spot and having a light intensity modulated based on information to be recorded. 2. The method according to claim 1, wherein the photoresist layer is exposed using a neutral beam.
【請求項3】 双峰性ビームは、超解像フィルタを透過
することによって位相および振幅を可変制御された光ビ
ームをレンズで集光して得るようにした請求項2に記載
の光ディスク原盤の製造方法。
3. The optical disk master according to claim 2, wherein the bimodal beam is obtained by condensing a light beam whose phase and amplitude are variably controlled by passing through a super-resolution filter by a lens. Production method.
【請求項4】 双峰性ビームの二つの集光スポット部の
間はホトレジスト層の露光が不能な光強度に設定され、
単峰性ビームは、その集光スポット部の中心が前記双峰
性ビームの二つの集光スポット部の間の中央部に位置す
る相対関係で前記ホトレジスト層上に結像されるように
なっている請求項2または3に記載の光ディスク原盤の
製造方法。
4. A light intensity that cannot expose the photoresist layer between two converging spots of the bimodal beam,
The unimodal beam is focused on the photoresist layer such that the center of the focused spot is located at the center between the two focused spots of the bimodal beam. 4. The method of manufacturing an optical disk master according to claim 2, wherein
【請求項5】 複数の各トラックのピット列をそれぞれ
隣接して形成するに際して、互いに隣接する二つのトラ
ックにおける前列目のトラックの露光時において双峰性
ビームの一方の集光スポット部によって露光済みの領域
に、後列目のトラックの露光時に前記双峰性ビームの他
方の集光スポット部の露光領域を重ね合わせて露光する
ようにした請求項2〜4の何れかに記載の光ディスク原
盤の製造方法。
5. When forming a pit row of each of a plurality of tracks adjacent to each other, one of the converging spot portions of the bimodal beam has been exposed at the time of exposing a track in a front row of two tracks adjacent to each other. 5. The method of manufacturing an optical disc master according to claim 2, wherein an exposure area of the other converging spot portion of the bimodal beam is overlapped and exposed to a region of the second row when exposing a track in a rear row. Method.
【請求項6】 ホトレジスト層の表面に光退色性膜を形
成し、前記ホトレジスト層を、前記光退色性膜を介して
複数の光ビームで多重露光するようにした請求項1〜5
の何れかに記載の光ディスク原盤の製造方法。
6. A photobleachable film is formed on a surface of a photoresist layer, and the photoresist layer is subjected to multiple exposure with a plurality of light beams through the photobleachable film.
The method for manufacturing an optical disk master according to any one of the above.
【請求項7】 ホトレジスト層および光退色性膜を、露
光波長における屈折率が一致する材料でそれぞれ形成す
るようにした請求項6に記載の光ディスク原盤の製造方
法。
7. The method of manufacturing an optical disk master according to claim 6, wherein the photoresist layer and the photobleachable film are formed of materials having the same refractive index at the exposure wavelength.
JP11154534A 1999-06-02 1999-06-02 Production of master disk of optical disk Pending JP2000339780A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11154534A JP2000339780A (en) 1999-06-02 1999-06-02 Production of master disk of optical disk

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11154534A JP2000339780A (en) 1999-06-02 1999-06-02 Production of master disk of optical disk

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000339780A true JP2000339780A (en) 2000-12-08

Family

ID=15586370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11154534A Pending JP2000339780A (en) 1999-06-02 1999-06-02 Production of master disk of optical disk

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000339780A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0411525B1 (en) A method of making optical disk master and an optical disk
JP2868682B2 (en) optical disk
JPH07153081A (en) Optical disc and method for reproducing the disc
JP2000231745A (en) Optical recording medium, original disk for manufacturing optical recording medium, and its manufacture
JPS60170045A (en) Production of optical disk with address and guide groove
JP2977531B2 (en) Master disk for optical disk and method of manufacturing the same
JPH0453015B2 (en)
KR100234292B1 (en) Manufacturing method of master disc
JP2000256889A (en) Production of disk for duplication of stamper and production of optical recording medium
JP2000339780A (en) Production of master disk of optical disk
US20050128930A1 (en) Optical information-recording medium and method for producing the same
JP2002197725A (en) Recording medium, master disk of recording medium and manufacturing method for recording medium
JP3222834B2 (en) Optical disc and optical disc recording / reproducing method
JP2001110096A (en) Method of manufacturing information recording medium
KR100188922B1 (en) Method of manufacturing glass substrate and photo mask for optical disc
JPH09190649A (en) Optical information recording medium
JP2713083B2 (en) Fine pattern drawing method
JP2000048409A (en) Optical recording medium, master disk for production of optical recording medium and optical recording and reproducing device
JPH02126436A (en) Manufacture of optical master disk
JP2001006178A (en) Method and apparatus for optical recording
JP2002150621A (en) Method for manufacturing optical disk master disk, optical disk master disk, optical disk and optical disk master disk exposure device
JPH0729220A (en) Formation of fine pattern having plural heights
JPH10302300A (en) Production of stamper for recording medium, exposing method and recorder/reproducer
JPH06302015A (en) Apparatus for production of optical master disk
JPS62223837A (en) Manufacture of optical recording master disk