JPH06268522A - Capacitor array type d/a converter circuit - Google Patents

Capacitor array type d/a converter circuit

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JPH06268522A
JPH06268522A JP4946793A JP4946793A JPH06268522A JP H06268522 A JPH06268522 A JP H06268522A JP 4946793 A JP4946793 A JP 4946793A JP 4946793 A JP4946793 A JP 4946793A JP H06268522 A JPH06268522 A JP H06268522A
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JP
Japan
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capacitor array
reference potential
capacitance
capacitor
reset
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Application number
JP4946793A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsuro Itakura
倉 哲 朗 板
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

PURPOSE:To provide a D/A converter circuit employing a capacitor array whose capacitance total sumis small. CONSTITUTION:The D/A converter consists of capacitor arrays (11, 12) in which lots of capacitors (Ci) are connected in common at their respective one-side terminals, an integration means (10) connected to the common connecting point of the capacitor arrays, integrating the charge of each capacitor and resetting the integrated charge with a reset signal, reference potential application means (Vrefn, Vrefn + 1) applying respectively plural kinds of different reference potential sets with a predetermined relation, a reset means (13) connected between the other terminals of the capacitor arrays and the reference potential application means to reset the capacitor of the capacitor array with the reset signal, and a reference potential selection means (140 connected to the other terminals of the capacitor array via the reset means and selecting an optimum reference potential among plural kinds of reference potential sets with a received digital signal in plural bits.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、容量列形DA変換回
路、特に容量総和の小さい容量列(以下、必要に応じ、
キャパシタアレイという。を有するDA変換回路に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a capacitance series DA conversion circuit, and more particularly to a capacitance series having a small total capacitance (hereinafter, if necessary,
It is called a capacitor array. The present invention relates to a DA conversion circuit having.

【0002】多数の走査線により少なくとも瞬間時な静
止画像を再生する画像表示装置においては、入力された
画像データを走査線毎にディジタル−アナログ(以下D
−A)変換するため容量列(キャパシタアレイ)形DA
変換回路が用いられている。
In an image display device which reproduces a still image at least instantaneously by a large number of scanning lines, input image data is digital-analog (hereinafter D) for each scanning line.
-A) Capacitive array type DA for conversion
A conversion circuit is used.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来の容量列形DA変換回路の典型例
が、図21に示されている。このDA変換回路は、2の
べき乗で徐々に容量値が変化する多数のキャパシタが列
状に並べられたキャパシタアレイと、リセット信号によ
り各キャパシタの保持電荷をリセットするリセット手段
3と、各ビットb1 ,*b1 ,…bm 及び*bm を有す
るディジタル信号と基準電位Vref とによりキャパシタ
アレイの各容量Ciの他端に選択した基準電位を印加す
る基準電位選択手段4と、そして、前記キャパシタアレ
イの各容量Ciの総和を一方の入力として接地電位を他
方の入力とする演算増幅回路OPを備え容量性の負荷に
対して駆動電圧を供給する積分手段10と、より構成さ
れている。なお、ディジタル信号*b1 はディジタル信
号b1 の反転信号を示している。
2. Description of the Related Art FIG. 21 shows a typical example of a conventional capacitor array DA conversion circuit. This DA converter circuit includes a capacitor array in which a large number of capacitors whose capacitance values gradually change by powers of 2 are arranged in a row, reset means 3 for resetting the charge held in each capacitor by a reset signal, and each bit b1. , * B1, ... Bm and * bm and a reference potential Vref for applying the selected reference potential to the other end of each capacitor Ci of the capacitor array, and each of the capacitor arrays. The integrating means 10 is provided with an operational amplifier circuit OP having a sum of the capacitances Ci as one input and a ground potential as the other input, and supplying the drive voltage to a capacitive load. The digital signal * b1 represents an inverted signal of the digital signal b1.

【0004】この図21に示されるDA変換回路は、最
上位ビット(most significant bit-MSB)用の容量が最
下位ビット(least siggnificant bit-LSB)用の容量2
m-1倍となり、容量の総和が大きくなってしまう問題が
ある。この問題に対処するため従来よりキャパシタアレ
イを2段に構成する提案がなされている。
In the DA conversion circuit shown in FIG. 21, the capacity for the most significant bit (MSB) is 2 for the least significant bit (LSB).
There is a problem that the total capacity becomes large because it becomes m-1 times. In order to deal with this problem, it has been conventionally proposed to configure the capacitor array in two stages.

【0005】このキャパシタアレイを2段用いたDA変
換回路を図22に示す。図22において、DA変換回路
は、2段のキャパシタアレイ1及び2を有する以外には
図21のDA変換回路と略々同じ構成を有する。このD
A変換回路は、Y.S.Yee 等により、IEEE Journal of So
lid-State Circuits,vol.sc-14, Aug. 1979 において
“A Two-State Weighted Capacitor Network for D/A-A
/D Conversion ”と題して述べられている。キャパシタ
アレイの容量は、i≦mに対してCi =2i-1 C1 で与
えられ、また、i≧m+1に対して、Ci =2i-m-1
1 で与えられている。また、Cc =C1 で与えられてい
る。
FIG. 22 shows a DA conversion circuit using two stages of this capacitor array. 22, the DA conversion circuit has substantially the same configuration as the DA conversion circuit of FIG. 21 except that it has two-stage capacitor arrays 1 and 2. This D
The A conversion circuit is based on the IEEE Journal of So by YSYee and others.
lid-State Circuits, vol.sc-14, Aug. 1979 “A Two-State Weighted Capacitor Network for D / AA
/ D Conversion ". The capacitance of a capacitor array is given by Ci = 2 i-1 C1 for i≤m, and Ci = 2 im-1 for i≥m + 1. C
It is given at 1. Further, it is given by Cc = C1.

【0006】以下簡単に動作を説明する。まずリセット
信号によりスイッチSWRG,SWRC,SWR1,… …,
SWRm+nが閉じて全ての容量は、両端子を等価的にGN
Dに接続され保持電荷をリセットされる。リセット期間
はディジタル信号の各ビットbi ,/bi (/は否定
(反転)論理を示す。以下、同じ。)は例えば図23に
示すようにAND回路により、ともにゼロにセットされ
ており、スイッチSW1,… …,SWRm+n,SWB1,
… …,SWBm+nは開放状態である。リセット期間が終
了すると、スイッチSWRG,SWRC,SWR1,… …,
SWRm+nは開放となり、入力されるディジタル信号の各
ビットbi ,/bi によりキャパシタアレイの各容量C
i (i=1〜m+n )の一端の電位として、基準電位Vre
f あるいは接地電位GNDが与えられる。この時、容量
Cc にかかる電圧Vc は、 と求められる。よって、積分手段10を演算増幅回路O
Pとともに構成する容量CG に蓄えられる電荷Qは、 となり、出力Vout は、
The operation will be briefly described below. First, the reset signal causes the switches SWRG, SWRC, SWR1, ...
With SWRm + n closed, all capacitors are equivalently GN
It is connected to D and the held charge is reset. During the reset period, each bit bi, / bi of the digital signal (/ indicates a negative (inverted) logic. The same applies hereinafter.) Is set to zero by an AND circuit as shown in FIG. ,……, SWRm + n, SWB1,
………, SWBm + n is open. When the reset period ends, the switches SWRG, SWRC, SWR1, ...
SWRm + n becomes open, and each capacitance C of the capacitor array is set by each bit bi, / bi of the input digital signal.
As the potential at one end of i (i = 1 to m + n), the reference potential Vre
f or ground potential GND is applied. At this time, the voltage Vc applied to the capacitance Cc is Is required. Therefore, the integrating means 10 is connected to the operational amplifier circuit O.
The charge Q stored in the capacitance CG configured with P is And the output Vout is

【0007】 とDA変換された出力が得られる。この出力における最
大振幅は、基準電位Vref と容量比C1 /CG により決
定される。
[0007] And DA-converted output is obtained. The maximum amplitude of this output is determined by the reference potential Vref and the capacitance ratio C1 / CG.

【0008】この図22の従来例では、キャパシタアレ
イの容量の総和は、Cc を含めて(2m +2n −1)C
1 となり、例えばC1 を0.5pFとし、m=n=4と
8ビットDAを想定すると、15.5pFとなってしま
う。このため、複数個のDA変換回路を必要とするよう
な用途においては、総和として大きな容量は必要となる
ため、IC化にはチップ面積が大きくなり極めて不利で
ある。
In the conventional example of FIG. 22, the total capacitance of the capacitor array is (2 m +2 n -1) C including Cc.
1 and, for example, assuming that C1 is 0.5 pF and m = n = 4 and 8-bit DA is assumed, it becomes 15.5 pF. For this reason, in applications that require a plurality of DA conversion circuits, a large total capacity is required, which is extremely disadvantageous in that the chip area is large for IC integration.

【0009】また、図21に示すようにキャパシタアレ
イを1段のみ用いた方法では、上述のようにmビットの
ディジタル信号に対して、MSB用の容量がLSB用の
容量の2m-1 倍となり、ビット数が同じなら図22に示
すようなキャパシタアレイを2段用いた構成のものより
遥かに容量の総和が大きくなる。
In the method using only one stage of the capacitor array as shown in FIG. 21, the capacity for MSB is 2 m-1 times the capacity for LSB with respect to the digital signal of m bits as described above. Therefore, if the number of bits is the same, the total capacitance is much larger than that of the configuration using two stages of capacitor arrays as shown in FIG.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】以上のように従来のキ
ャパシタアレイを用いたDA変換回路では、必要となる
容量の総和が大きくなり、特に、複数個のDA変換回路
を1チップにIC化するには、チップ面積が大きくな
り、コストが高くなったりや信頼性が下がるなどの問題
があった。
As described above, in the conventional DA conversion circuit using the capacitor array, the total sum of required capacities becomes large, and in particular, a plurality of DA conversion circuits are integrated into one chip. Had a problem that the chip area was increased, the cost was increased, and the reliability was lowered.

【0011】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、容量比を一定にして多段階の基準電圧により動作さ
せることにより容量の総和の小さいキャパシタアレイを
用いたDA変換回路を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and provides a DA conversion circuit using a capacitor array having a small total sum of capacitances by operating with multistage reference voltages while keeping the capacitance ratio constant. It is in.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】この発明に係る容量列形
DA変換回路は、互いに所定の関係を有する複数種類の
基準電位を供給する基準電位供給手段と、リセット信号
により積分に電荷をリセットすることのできる積分手段
と、共通接続された一端が前記積分手段の入力に接続さ
れる複数個の容量よりなるキャパシタアレイと、このキ
ャパシタアレイの容量を前記リセット信号によりリセッ
トするために前記キャパシタアレイの他端に接続された
リセット手段と、前記キャパシタアレイの他端に前記リ
セット手段を介して接続されて入力される複数ビットの
ディジタル信号により前記複数種類の基準電位の中から
最適なものを選択する基準電位選択手段と、より構成さ
れている。
A capacitor array DA converter circuit according to the present invention resets an electric charge to an integral by a reference potential supply means for supplying a plurality of types of reference potentials having a predetermined relationship with each other. Integrating means, a capacitor array having a plurality of capacitors, one end of which is commonly connected to the input of the integrating means, and a capacitor array of the capacitor array for resetting the capacitance of the capacitor array by the reset signal. An optimum one is selected from the plurality of kinds of reference potentials by a reset means connected to the other end and a digital signal of a plurality of bits connected to the other end of the capacitor array via the reset means and input. And a reference potential selection means.

【0013】[0013]

【作用】上記のように構成されたDA変換回路は、n種
類の基準電位において第i(n≧i≧3)の基準電位と
第1の基準電位の差電圧の絶対値が第2の基準電位と第
1の基準電位の差電圧の絶対値の2j (n−2≧j≧
1)倍の関係を持つn(n≧3)種類の基準電位と、リ
セット信号により積分した電荷をリセットすることので
きる積分手段と、共通接続された一端が積分手段の入力
に接続されるk(k≧2)個の容量よりなる第1のキャ
パシタアレイと、第1のキャパシタアレイの容量をリセ
ット信号によりリセットするリセット手段と、第1のキ
ャパシタアレイの各々の容量の他端は、入力するkビッ
トのディジタル信号により第aの基準電位と第b(b≠
a)の基準電位のどちらかに選択的に接続する基準電位
選択手段で構成するようにしてもよい。
In the DA conversion circuit configured as described above, the absolute value of the difference voltage between the i-th (n ≧ i ≧ 3) reference potential and the first reference potential in the n types of reference potentials is the second reference potential. Of the absolute value of the difference voltage between the potential and the first reference potential, 2 j (n−2 ≧ j ≧
1) n (n ≧ 3) kinds of reference potentials having a double relationship, an integrating means capable of resetting charges integrated by a reset signal, and one end commonly connected to the input of the integrating means k A first capacitor array having (k ≧ 2) capacitors, reset means for resetting the capacitance of the first capacitor array by a reset signal, and the other end of each capacitor of the first capacitor array are input. By the k-bit digital signal, the a-th reference potential and the b-th (b ≠
It may be configured by a reference potential selecting means that is selectively connected to either of the reference potentials in a).

【0014】本発明によるDA変換回路では、キャパシ
タアレイの各々の容量の一端に入力のディジタル信号に
より選択的に印加する基準電位に重みづけをしているの
で、キャパシタアレイの各々の容量値を重みづけする必
要はない。よってキャパシタアレイの容量を総和を小さ
く抑えることが可能となる。例えば6ビットのディジタ
ル信号をDAする時に、従来の2段のキャパシタアレイ
を用いた方式ではキャパシタアレイの最小容量の15倍
の容量が、また、1段のキャパシタアレイの方式ではキ
ャパシタアレイの最小容量の63倍の容量が必要である
が、本発明の方式ではキャパシタアレイの最小容量の6
倍の容量でよい。よって、DA変換回路をIC化した場
合に、より少ない面積で実現できるので、複数個のDA
変換回路を1チップに内蔵しても少ないチップ面積で実
現でき、コストを下げることができる。
In the DA conversion circuit according to the present invention, since the reference potential selectively applied to one end of each capacitance of the capacitor array by the digital signal inputted is weighted, each capacitance value of the capacitor array is weighted. There is no need to attach it. Therefore, it is possible to keep the total capacitance of the capacitor array small. For example, when DA-processing a 6-bit digital signal, the capacity using the conventional two-stage capacitor array is 15 times the minimum capacity of the capacitor array, and the capacity using the single-stage capacitor array is the minimum capacity of the capacitor array. The capacitance of the capacitor array is required to be 63 times that of the capacitor array.
Double capacity is enough. Therefore, when the DA conversion circuit is integrated into an IC, it can be realized in a smaller area.
Even if the conversion circuit is built in one chip, it can be realized with a small chip area, and the cost can be reduced.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
つつ説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】図1は、本発明に係る容量列形DA変換回
路の第1実施例の回路構成を示す図である。積分手段1
0は、演算増幅回路OPと容量CG とにより構成されて
おり、リセット信号ResetによりスイッチSWRGで容量
CG の電荷がリセットされる。キャパシタアレイ11
は、k個の各々等しい容量値を持つ容量C1 〜Ck で構
成され、キャパシタアレイ11の共通接続端は積分手段
10に接続されている。積分手段10のAC GNDと
して第1の基準電位Vref1が与えられている。よって、
キャパシタアレイ11の共通接続端は、等価的に基準電
位Vref1となっている。また、リセット手段13を構成
するスイッチSWR1〜SWRkは、キャパシタアレイ11
の各容量の他端と基準電位Vref1との間に設けられてお
り、リセット信号Resetによってキャパシタアレイ11
の容量C1 〜Ck に蓄積されている電荷をリセットす
る。基準電位選択手段14を構成するスイッチSWB1〜
SWBkはキャパシタアレイの各容量の他端と基準電位V
ref1に接続され、リセット信号Resetによるリセット期
間中はゼロが与えられるkビットのディジタル信号の各
ビット信号bi (i=1〜k)により接続が制御され
る。この場合、基準電位は、 Vrefi−Vref1=2i-2 (Vref2−Vref1) で与えられている。
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a first embodiment of a capacitance column type DA conversion circuit according to the present invention. Integrating means 1
Reference numeral 0 is composed of an operational amplifier circuit OP and a capacitor CG, and the reset signal Reset resets the electric charge of the capacitor CG by the switch SWRG. Capacitor array 11
Is composed of k capacitors C1 to Ck each having the same capacitance value, and the common connection end of the capacitor array 11 is connected to the integrating means 10. The first reference potential Vref1 is applied as the AC GND of the integrating means 10. Therefore,
The common connection end of the capacitor array 11 is equivalently the reference potential Vref1. In addition, the switches SWR1 to SWRk constituting the reset means 13 are the capacitor array 11
Are provided between the other end of each capacitor and the reference potential Vref1, and the capacitor array 11 is provided by the reset signal Reset.
The electric charges accumulated in the capacitors C1 to Ck are reset. Switches SWB1 to constituting the reference potential selection means 14
SWBk is the other end of each capacitor of the capacitor array and the reference potential V
The connection is controlled by each bit signal bi (i = 1 to k) of the k-bit digital signal which is connected to ref1 and is given zero during the reset period by the reset signal Reset. In this case, the reference potential is given by Vrefi-Vref1 = 2 i-2 (Vref2-Vref1).

【0017】以下、図1に示す本発明第1実施例のDA
変換回路の動作を説明する。まず、リセット信号Reset
によりリセット手段13でキャパシタアレイ11及び積
分手段10の容量CG の電荷をリセットする。次にディ
ジタル信号の各ビットbi ,/bi (i=1〜k)によ
り基準電位選択手段14でキャパシタアレイ11の各容
量Ci の他端に選択した基準電位を印加する。この時キ
ャパシタアレイ11の各容量Ci に蓄積されている電荷
の総和は、積分手段10の容量CG に蓄積される電荷Q
と等しく、 と表せる。よって出力Vout は、 とDA変換された出力となる。出力の最大振幅は、基準
電位の差Vref2−Vref1と容量比C1 /CG で決定され
る。
The DA of the first embodiment of the present invention shown in FIG.
The operation of the conversion circuit will be described. First, reset signal Reset
Thus, the reset means 13 resets the charges of the capacitor array 11 and the capacitance CG of the integrating means 10. Next, the reference potential selection means 14 applies the selected reference potential to the other end of each capacitance Ci of the capacitor array 11 by each bit bi, / bi (i = 1 to k) of the digital signal. At this time, the sum of the charges accumulated in each capacitance Ci of the capacitor array 11 is the charge Q accumulated in the capacitance CG of the integrating means 10.
Equal to Can be expressed as Therefore, the output Vout is And becomes DA converted output. The maximum amplitude of the output is determined by the difference between the reference potentials Vref2-Vref1 and the capacitance ratio C1 / CG.

【0018】ここで必要なキャパシタアレイ11の容量
の総和は、kビットのディジタル信号とすると、C1 の
k倍である。従来のキャパシタアレイを1段用いた方式
では、C1 の2k −1倍であり、キャパシタアレイを2
段用いた方式では、kが偶数の時は2(k+2)/2 −1倍で
あり、kが奇数の時は2(k-1)/2 −1倍である。よっ
て、例えばk=8において、本発明のDA変換回路では
キャパシタアレイの容量の総和がC1 の8倍で、従来の
キャパシタアレイを1段用いた方式のC1 の255倍
や、キャパシタアレイを2段用いた方式の31倍に比較
して、キャパシタアレイの容量の総和を小さくすること
ができ、よってIC化する際に必要となる面積を小さく
でき、コストを低減できる。
The total sum of the capacitances of the capacitor array 11 required here is k times C1 for a k-bit digital signal. In the conventional method using one stage of the capacitor array, it is 2 k -1 times of C1, and the capacitor array has two stages.
In the system using the stages, when k is an even number, it is 2 (k + 2) / 2 -1 times, and when k is an odd number, it is 2 (k-1) / 2 -1 times. Therefore, for example, when k = 8, in the DA conversion circuit of the present invention, the total capacitance of the capacitor arrays is 8 times C1, which is 255 times C1 in the system using one conventional capacitor array, or two capacitor arrays. Compared to 31 times that of the method used, the total capacitance of the capacitor array can be made smaller, so that the area required for making into an IC can be made smaller and the cost can be reduced.

【0019】図2は、本発明のDA変換回路の第2実施
例による回路構成を示す図である。これは、図1の第1
実施例に第2のキャパシタアレイ12と電荷転送用容量
Ccと電荷分配用容量Cv を加えたDA変換回路であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing a circuit configuration of a DA converter circuit according to a second embodiment of the present invention. This is the first of FIG.
This is a DA conversion circuit in which the second capacitor array 12, the charge transfer capacitance Cc, and the charge distribution capacitance Cv are added to the embodiment.

【0020】以下、動作を説明する。まず、リセット信
号Resetによりリセット手段13でキャパシタアレイ1
1,12及び電荷転送用容量Cc 、電荷分配用容量Cv
、積分手段10の容量CG の電荷をリセットする。次
にk+mビットのディジタル信号の各ビットbi ,/b
i (i=1〜k+m)により基準電位選択手段14でキ
ャパシタアレイ11,12の各容量Ci の他端に選択し
た基準電位を印加する。図2では、m=kであり、キャ
パシタアレイ11,12の各容量Ci は等しい。また、
Cc =C1 で、Cv =(2k −k−1)C1 と設定され
る。さらに、基準電位Vrefi(i=2〜nでn=k+
1)は、 Vrefi−Vref1=2i-2 (Vref2−Vref1) で与えられている。この時キャパシタアレイ11の各容
量Ci に蓄積されている電荷の総和Q1 は、 と表せ、また、電荷転送用容量Cc に蓄積されている電
荷Q2 は、 と表せる。積分手段10の容量CG に蓄積される電荷Q
は、電荷Q1 と電荷Q2の和であるので、 となる。よって出力Vout は、 とDA変換された出力となる。出力の最大振幅は、Vre
f2−Vref1とC1 /CGで決定される。
The operation will be described below. First, the reset signal Reset causes the reset means 13 to perform the capacitor array 1
1, 12 and charge transfer capacitance Cc, charge distribution capacitance Cv
, The charge of the capacitance CG of the integrating means 10 is reset. Next, each bit bi, / b of the k + m bit digital signal
With i (i = 1 to k + m), the reference potential selecting means 14 applies the selected reference potential to the other end of each capacitance Ci of the capacitor arrays 11 and 12. In FIG. 2, m = k, and the capacitances Ci of the capacitor arrays 11 and 12 are equal. Also,
Cc = C1 and Cv = (2k- k -1) C1. Further, the reference potential Vrefi (where i = 2 to n, n = k +
1) is given by Vrefi-Vref1 = 2 i-2 (Vref2-Vref1). At this time, the total sum Q1 of the charges accumulated in each capacitance Ci of the capacitor array 11 is In addition, the charge Q2 accumulated in the charge transfer capacitance Cc is Can be expressed as The charge Q accumulated in the capacitance CG of the integrating means 10
Is the sum of charge Q1 and charge Q2, Becomes Therefore, the output Vout is And becomes DA converted output. The maximum output amplitude is Vre
It is determined by f2-Vref1 and C1 / CG.

【0021】この様にして、基準電位の数を減らすこと
もできる。この時キャパシタアレイ11及び12の容量
の総和は、C1 の2k/2 +k/2倍で、従来のキャパシ
タアレイを用いたDA変換回路に必要なキャパシタアレ
イの容量の総和より小さくすることができる。
In this way, the number of reference potentials can be reduced. At this time, the total capacitance of the capacitor arrays 11 and 12 is 2 k / 2 + k / 2 times C1 and can be made smaller than the total capacitance of the capacitor arrays required for the DA conversion circuit using the conventional capacitor array. .

【0022】図3は、本発明のDA変換回路の第2実施
例の回路構成の変形例である第3実施例の回路を示す図
である。入力するディジタル信号はk+mビットで、さ
らにk=m+1、n=k+1の場合を示している。ここ
で、図2と同様にCi (i=1〜k+m)=C1 、Cc
=C1 で、 Vrefi(i=3〜n)−Vref1=2i-2 (Vref2−Vref1) で与えられており、また、Cv =(2k-1 −k−1)C
1 と設定する。
FIG. 3 is a diagram showing a circuit of a third embodiment which is a modification of the circuit configuration of the second embodiment of the DA converter circuit of the present invention. The input digital signal has k + m bits, and the case where k = m + 1 and n = k + 1 is shown. Here, as in FIG. 2, Ci (i = 1 to k + m) = C1, Cc
= C1 and Vrefi (i = 3 to n) -Vref1 = 2 i-2 (Vref2-Vref1), and Cv = (2 k-1 -k-1) C
Set to 1.

【0023】この時、上位mビットbk+j (j=1〜
m)で制御される第1のキャパシタアレイの容量Ck+j
に印加する基準電位をVrefj+1とすることにより、図2
に示す第2の回路構成と同様の効果が得られる。
At this time, the upper m bits bk + j (j = 1 to 1)
m) the capacitance Ck + j of the first capacitor array controlled by
By setting the reference potential applied to Vrefj + 1 to
An effect similar to that of the second circuit configuration shown in FIG.

【0024】図4は、本発明のDA変換回路の第2実施
例の回路構成の別の変形例である第4実施例の回路を示
す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a circuit of a fourth embodiment which is another modification of the circuit configuration of the second embodiment of the DA converter circuit of the present invention.

【0025】入力するディジタル信号はk+mビット
で、さらにk=m−1、n=m+1の場合を示してい
る。ここで、図2と同様にCi (i=1〜k+m)=C
1 、Cc=C1 で、Vrefi(i=2〜n)−Vref1=2
i-2 (Vref2−Vref1)で与えられており、また、Cv
=(2k −k−1)C1 と設定することにより、図2に
示す第2の回路構成と同様の効果が得られる。
The input digital signal has k + m bits, and the case where k = m−1 and n = m + 1 is shown. Here, as in FIG. 2, Ci (i = 1 to k + m) = C
1, Cc = C1, and Vrefi (i = 2 to n) -Vref1 = 2
i-2 (Vref2-Vref1), and Cv
By setting = (2k- k -1) C1, the same effect as the second circuit configuration shown in FIG. 2 can be obtained.

【0026】図5は、本発明のDA変換回路の第5実施
例の回路構成を示す図である。これは、図2の第2実施
例において、第1のキャパシタアレイ11を時分割にて
第2のキャパシタアレイとしても兼用するもので、ディ
ジタル入力信号の上位kビットと下位kビットの切換手
段15と、上位ビットと下位ビットの切換え信号MLに
より電荷転送用容量Cc をバイパスする経路と電荷分配
用容量Cv への経路を切換えるスイッチSWBPと、電荷
分配用容量Cv リセット用スイッチSWRVが加えられて
おり、積分手段のリセットは第1のリセット信号Reset
1でキャパシタアレイの各容量Ci 及び電荷転送用容量
Cc 、電荷分配用容量Cv は第2のリセット信号Reset
2により行われる。キャパシタアレイ11の各容量Ci
は等しく、またCc =C1 で、Cv =(2k −k−1)
C1 と設定される。さらに、基準電位Vrefi(i=2〜
nでn=k+1)は、 Vrefi−Vref1=2i-2 (Vref2−Vref1) で与えられている。
FIG. 5 is a diagram showing a circuit configuration of a DA converter circuit according to a fifth embodiment of the present invention. In the second embodiment shown in FIG. 2, the first capacitor array 11 is also used as the second capacitor array in a time division manner, and the switching means 15 for switching the upper k bits and the lower k bits of the digital input signal 15 is used. In addition, a switch SWBP for switching a path for bypassing the charge transfer capacitance Cc and a path for the charge distribution capacitance Cv by the switching signal ML between the upper bit and the lower bit, and a switch SWRV for resetting the charge distribution capacitance Cv are added. , Resetting the integrating means is performed by the first reset signal Reset.
At 1, the capacitance Ci, the charge transfer capacitance Cc, and the charge distribution capacitance Cv of the capacitor array are set to the second reset signal Reset.
2 is performed. Each capacitance Ci of the capacitor array 11
Are equal, and Cc = C1 and Cv = (2 k -k-1)
It is set as C1. Furthermore, the reference potential Vrefi (i = 2 to
n = n + 1) is given by Vrefi-Vref1 = 2i -2 (Vref2-Vref1).

【0027】以下、第5実施例の動作を説明する。ま
ず、第1のリセット信号Reset1で積分手段10の容量
CG の電荷をリセットし、第2のリセット信号Reset2
によりリセット手段13でキャパシタアレイ11及び電
荷転送用容量Cc 、電荷分配用容量Cv をリセットす
る。次にディジタル入力信号の上位kビットと下位kビ
ットの切換え手段15により選択された下位kビットに
より基準電位選択手段14でキャパシタアレイにより接
続する基準電位を制御する。この時上位ビットと下位ビ
ットの切換え信号MLによりSWBPで電荷分配用容量C
v への経路が選択されている。これによって電荷転送用
容量Cc を介して積分手段10の容量CG に蓄積される
電荷Q2 は、 となる。次に再び第2のリセット信号Reset2によりキ
ャパシタアレイ11をリセットする。そして、ディジタ
ル入力信号の上位kビットと下位kビットの切換え手段
15により選択された上位kビットにより基準電位選択
手段14でキャパシタアレイに接続する基準電位を制御
する。この時上位ビットと下位ビットの切換え信号ML
によりSWBPで電荷転送用容量Cc をバイパスする経路
が選択されている。キャパシタアレイ11により積分手
段10の容量CG にさらに蓄積される電荷Q1 は、 であり、よって積分手段10の容量CG に蓄積される電
荷の総和Qは、
The operation of the fifth embodiment will be described below. First, the charge of the capacitance CG of the integrating means 10 is reset by the first reset signal Reset1 and the second reset signal Reset2
Thus, the reset means 13 resets the capacitor array 11, the charge transfer capacitance Cc, and the charge distribution capacitance Cv. Next, the reference potential selection means 14 controls the reference potential to be connected by the capacitor array by the lower k bits selected by the switching means 15 for the upper k bits and the lower k bits of the digital input signal. At this time, by the switching signal ML between the high-order bit and the low-order bit, the charge sharing capacitance C is set by SWBP.
A route to v is selected. As a result, the charge Q2 accumulated in the capacitance CG of the integrating means 10 via the charge transfer capacitance Cc is Becomes Next, the capacitor array 11 is reset again by the second reset signal Reset2. Then, the reference potential selecting means 14 controls the reference potential to be connected to the capacitor array by the upper k bits selected by the upper k bits and the lower k bits switching means 15 of the digital input signal. At this time, the switching signal ML between the upper bit and the lower bit
Thus, the path that bypasses the charge transfer capacitance Cc is selected by SWBP. The charge Q1 further accumulated in the capacitance CG of the integrating means 10 by the capacitor array 11 is Therefore, the total sum Q of the charges accumulated in the capacitance CG of the integrating means 10 is

【0028】 となる。よって出力Vout は、 とDA変換された出力となる。出力の最大振幅は、Vre
f2−Vref1とC1 /CGで決定される。
[0028] Becomes Therefore, the output Vout is And becomes DA converted output. The maximum output amplitude is Vre
It is determined by f2-Vref1 and C1 / CG.

【0029】この様に時分割動作により、キャパシタア
レイを共有化することで、図2の第2実施例よりさらに
容量を減らすことができる。
By thus sharing the capacitor array by the time division operation, the capacitance can be further reduced as compared with the second embodiment of FIG.

【0030】図6の第6実施例に示すように、図1にお
いて最上位ビットで制御されるキャパシタアレイ11の
容量Ck をCk =2C1 とし、他のキャパシタアレイ1
1の容量Ci をCi =C1 として、また、キャパシタア
レイ11の容量Ck に基準電位選択手段14を介して印
加する基準電位をVref1とVrefn-1と設定することによ
りキャパシタアレイの容量の総和は図1の第1実施例の
場合に比べC1 だけ大きくなるものの、基準電位を1種
類減らすことができる。同様に図2に適用して、図7に
示す第7実施例のようにキャパシタアレイ11,12の
各々の最上位ビットにより印加する基準電位を制御され
るCk とC2kを、Ck =C2k=2C1 とし、他のキャパ
シタアレイの容量Ci をCi =C1 とすることもでき
る。この時、電荷分配用容量Cv はCv =(2k −k−
2)C1 と設定しておけば良い。図示はしないが、図5
の第5実施例のキャパシタアレイにも同様に適用でき
る。さらに、図4の第4実施例のキャパシタアレイ11
に適用して、図8に示す第8実施例のようにキャパシタ
アレイ11の最上位ビットにより印加する基準電位を制
御される容量Ck+m をCk+m =2C1 とし、基準電位選
択手段14を介して印加する基準電位をVref1とVrefn
-1とすることもできる。
As shown in the sixth embodiment of FIG. 6, the capacitance Ck of the capacitor array 11 controlled by the most significant bit in FIG. 1 is set to Ck = 2C1 and the other capacitor array 1
By setting the capacitance Ci of 1 as Ci = C1 and setting the reference potential applied to the capacitance Ck of the capacitor array 11 through the reference potential selecting means 14 to Vref1 and Vrefn-1, the total capacitance of the capacitor array is shown in FIG. Although it is increased by C1 as compared with the first embodiment, the reference potential can be reduced by one type. Similarly applied to FIG. 2, as in the seventh embodiment shown in FIG. 7, Ck and C2k whose reference potentials are controlled by the most significant bit of each of the capacitor arrays 11 and 12 are Ck = C2k = 2C1. It is also possible to set the capacitance Ci of the other capacitor array to Ci = C1. At this time, the charge distribution capacitance Cv is Cv = (2 k -k-
2) C1 should be set. Although not shown, FIG.
The same can be applied to the capacitor array of the fifth embodiment. Furthermore, the capacitor array 11 of the fourth embodiment of FIG.
In the same manner as in the eighth embodiment shown in FIG. 8, the capacitance Ck + m whose reference potential is controlled by the most significant bit of the capacitor array 11 is Ck + m = 2C1 and the reference potential selecting means 14 is used. The reference potential applied via Vref1 and Vrefn
It can also be -1.

【0031】また、図3に応用して、図9に示す第9実
施例のようにキャパシタアレイ12の最下位ビットによ
り制御される容量C1 を2個の容量C2 を直列に接続す
ることによりC1 =C2 /2、他のキャパシタアレイの
容量Ci (i>1)=C2 とし、Cv =(2k-1 −k−
1/2)C1 と設定することにより、キャパシタアレイ
12の容量C1 に基準電位選択手段14を介して印加さ
れる基準電位Vref2を容量C2 に基準電位選択手段14
を介して印加される基準電位として共用しても良い。
Further, by applying it to FIG. 3, the capacitance C1 controlled by the least significant bit of the capacitor array 12 is connected in series with two capacitances C2 as in the ninth embodiment shown in FIG. = C2 / 2, the capacitance of another capacitor array Ci (i> 1) = C2, and Cv = (2 k-1 -k-
1/2) C1 is set so that the reference potential Vref2 applied to the capacitance C1 of the capacitor array 12 through the reference potential selection means 14 is set to the capacitance C2.
It may be shared as a reference potential applied via the.

【0032】以上の実施例では、リセット手段13と基
準電位手段14を別々に設けたが、例えば図10に図1
の実施例の変形例として示す第10実施例のように、入
力するディジタル信号を例えばORとNORで構成され
る伝達制御手段によりリセット信号Resetで制御するこ
とで、基準電位手段14にリセット手段13の機能を持
たせることもできる。
In the above embodiment, the reset means 13 and the reference potential means 14 are provided separately. For example, FIG.
As in the tenth embodiment shown as a modification of the above embodiment, by controlling the input digital signal with the reset signal Reset by the transfer control means composed of, for example, OR and NOR, the reference potential means 14 and the reset means 13 are controlled. It can also have the function of.

【0033】また、以上の説明では、入力するディジタ
ル信号がストレートバイナリの様式であり、この時Vou
t の出力範囲は、Vref2−Vref1>0とすると、Vref1
に対してマイナス側のみで、Vref2−Vref1<0とする
と、Vref1に対してプラス側のみとなってしまう。これ
に対しては、例えば図1の変形として図11に示す第1
1実施例のように、積分手段10のAC GNDとして
与えられている基準電位Vref1に対して、基準電位Vre
fi(i≧3)をVrefi−Vref1が、iが奇数の時にはV
ref2−Vref1の−2(i-3)/2 倍に、またiが偶数の時に
はVref2−Vref1の2(i-2)/2 倍となるように設定し
て、ディジタル信号のbi ビットで基準電位Vref2i の
接続を制御し、ディジタル信号bi ビットで基準電位V
ref(2i+1)の接続を制御することにより、Vref1に対し
てプラス・マイナス両側の出力を得るように変形しても
良い。
Further, in the above description, the input digital signal is in the straight binary format, and at this time Vou
If the output range of t is Vref2-Vref1> 0, Vref1
On the other hand, if Vref2-Vref1 <0 on the minus side only, only the plus side on Vref1 will result. On the other hand, for example, a first modification shown in FIG. 11 as a modification of FIG.
As in the first embodiment, with respect to the reference potential Vref1 given as the AC GND of the integrating means 10, the reference potential Vre
If fi (i ≧ 3) is Vrefi-Vref1, V is when i is an odd number
Ref2-Vref1 is set to -2 (i-3) / 2 times, and when i is an even number, it is set to 2 (i-2) / 2 times Vref2-Vref1. Control the connection of the potential Vref2i, and use the digital signal bi bit to set the reference potential V
By controlling the connection of ref (2i + 1), it may be modified to obtain an output on both the plus and minus sides with respect to Vref1.

【0034】さらに、入力するディジタル信号が2の補
数表現の場合、例えば図2の実施例に対して図12に示
す第12実施例のように基準電位Vrefn+1−Vref1が、
Vrefn−Vref1の−1倍となるようにし、ディジタル信
号の最上位ビットb2kで接続が制御される基準電位とし
て用いればVref1に対してプラス・マイナス両側の出力
を得る。図示はしないが図3に対しても同様である。図
1の場合は、基準電位VrefnをVrefn−Vref1=−(V
refn-1−Vref1)となるように設定すれば良い。図4の
第4実施例の場合も同様である。また、図5の第5実施
例に対しては、図13に示す第13実施例のように基準
電位Vrefn+1をVrefn+1−Vref1=−(Vrefn-1−Vre
f1)となるように設定し、下位ビットと上位ビットの切
換え信号MLにより下位ビット側が選ばれた時にはスイ
ッチSWS によりVrefnを選択し、切換え信号MLによ
り上位ビット側が選ばれた時にはスイッチSWS により
Vrefn+1を選択するようにすれば良い。
Further, when the input digital signal is a two's complement representation, for example, the reference potential Vrefn + 1-Vref1 is as shown in the twelfth embodiment shown in FIG.
If Vrefn-Vref1 is set to -1 times and used as a reference potential whose connection is controlled by the most significant bit b2k of the digital signal, outputs on both the positive and negative sides of Vref1 are obtained. Although not shown, the same applies to FIG. In the case of FIG. 1, the reference potential Vrefn is Vrefn−Vref1 = − (V
refn-1−Vref1). The same applies to the case of the fourth embodiment of FIG. Further, in the fifth embodiment of FIG. 5, the reference potential Vrefn + 1 is set to Vrefn + 1-Vref1 =-(Vrefn-1-Vre as in the thirteenth embodiment shown in FIG.
f1) so that Vrefn is selected by the switch SWS when the lower bit side is selected by the switching signal ML between the lower bit and the upper bit, and Vrefn + is selected by the switch SWS when the upper bit side is selected by the switching signal ML. You should choose 1.

【0035】入力が2の補数で表現されるディジタル信
号で、極性反転信号INVで出力の極性を制御する機能
を追加することも容易である。2の補数表現のディジタ
ル信号の極性反転は、ディジタル信号の各ビットbi を
反転し、これに最下位ビットに1を加算することで成さ
れる。例えば、図1の第1実施例の場合、まず前述のよ
うに基準電位VrefnをVrefn−Vref1=−(Vrefn-1−
Vref1)となるように設定したが、図14(a)に示す
第14実施例のように極性反転信号INVによりbi ,
/bi を切換える極性反転手段17と、最下位ビットで
基準電位との接続が制御されるキャパシタアレイの容量
C1 と等しい容量値を持ち極性反転信号INVにより基
準電位Vref1への接続が制御される容量Ca とを追加
し、また、この容量Ca をキャパシタアレイの各容量C
i と同時にリセットするためのスイッチSWRINVをリセ
ット手段14に追加することにより第1実施例と同様の
基準電位を実現できる。この極性反転手段17は、図1
5に示す第15実施例のようにXORとインバータ回路
を用いても実現できる。図13の第13実施例へ適用し
た第16実施例を図16に示す。図16において、極性
反転手段17は、例えばディジタル信号の上位ビットと
下位ビットの切換えスイッチ手段15の後にすることに
より、極性反転手段17の回路規模を半減できる。ま
た、極性反転信号INVにより、極性反転時に行なう最
下位ビットへの1の加算は、極性反転信号INVと上位
ビットと下位ビットの切換え信号MLを入力し、下位ビ
ットが選択され且つ極性反転時に加算信号を発生する加
算信号発生手段18で制御すれば良い。
It is also easy to add the function of controlling the polarity of the output by the polarity inversion signal INV, which is a digital signal whose input is represented by 2's complement. The polarity inversion of the two's complement digital signal is performed by inverting each bit bi of the digital signal and adding 1 to the least significant bit thereof. For example, in the case of the first embodiment of FIG. 1, first, as described above, the reference potential Vrefn is set to Vrefn−Vref1 = − (Vrefn−1−
Vref1) is set, but as in the fourteenth embodiment shown in FIG. 14A, the polarity inversion signal INV causes bi,
/ Bi, and a capacitance having a capacitance value equal to the capacitance C1 of the capacitor array whose connection to the reference potential is controlled by the least significant bit and whose connection to the reference potential Vref1 is controlled by the polarity inversion signal INV. Ca is added, and this capacitance Ca is added to each capacitance C of the capacitor array.
A reference potential similar to that of the first embodiment can be realized by adding a switch SWRINV for resetting at the same time as i to the reset means 14. The polarity reversing means 17 is shown in FIG.
It can also be realized by using an XOR and an inverter circuit as in the fifteenth embodiment shown in FIG. FIG. 16 shows a 16th embodiment applied to the 13th embodiment of FIG. In FIG. 16, the polarity reversing means 17 can reduce the circuit scale of the polarity reversing means 17 by half, for example, by placing the polarity reversing means 17 after the changeover switch means 15 for the upper bit and the lower bit. The addition of 1 to the least significant bit at the time of polarity inversion by the polarity inversion signal INV inputs the polarity inversion signal INV and the switching signal ML between the upper bit and the lower bit, selects the lower bit and adds at the time of polarity inversion. It may be controlled by the addition signal generating means 18 for generating a signal.

【0036】以上説明してきた本発明の容量列形DA変
換回路は、従来のキャパシタアレイを用いたDA変換回
路より、必要なキャパシタアレイの容量の総和が少な
く、IC化に際して小さなチップ面積で実現できるの
で、DA変換回路を多く必要とする液晶ディスプレイ駆
動回路のIC化などに有用である。図17に液晶ディス
プレイ装置の構成を示す。液晶ディスプレイ装置は、液
晶ディスプレイ5と、走査線選択回路8と、走査線選択
回路8で選択された走査線上の液晶セル6に、蓄積した
一走査線分の画像データを各々転送する液晶ディスプレ
イ駆動回路7より構成される。図18に液晶ディスプレ
イ駆動回路の構成を、また、図19に、制御信号のタイ
ミングを示す。動作を簡単に説明すると、まず、シフト
レジスタ手段20により、有効画像データ期間のスター
トを表すパルスSTHを転送しラッチ手段21の各ラッ
チにおける画像信号R,G,Bのラッチタイミングを与
える。水平ブランキング期間において、リセット信号R
esetによりDA変換手段23の各DA変換回路をリセッ
トするとともにデータ転送パルスHにより一水平期間の
画像データをラッチ手段21からラッチ手段22に転送
し、DA変換手段23のリセット期間終了後ラッチ手段
に保持されている画像データをDA変換手段23でディ
ジタルからアナログに変換して出力するものである。D
A変換手段の駆動能力が低い時は、ラッチ手段24を介
して出力すれば良い。また、図20に示すように、スイ
ッチ手段25を介してイネーブル信号ENによりDA変
換手段23の出力が安定した後出力するようにしても良
い。
The capacitor column type DA converter circuit of the present invention described above has a smaller total sum of required capacitor array capacities than a conventional DA converter circuit using a capacitor array, and can be realized in a small chip area when integrated into an IC. Therefore, it is useful for an IC of a liquid crystal display drive circuit which requires a large number of DA conversion circuits. FIG. 17 shows the configuration of the liquid crystal display device. The liquid crystal display device drives a liquid crystal display 5, a scanning line selection circuit 8, and a liquid crystal cell 6 on a scanning line selected by the scanning line selection circuit 8 to transfer the accumulated image data for one scanning line, respectively. It is composed of a circuit 7. FIG. 18 shows the configuration of the liquid crystal display drive circuit, and FIG. 19 shows the timing of control signals. The operation will be briefly described. First, the shift register means 20 transfers a pulse STH representing the start of the effective image data period to give the latch timing of the image signals R, G, B in each latch of the latch means 21. In the horizontal blanking period, the reset signal R
By resetting each DA conversion circuit of the DA conversion means 23 by eset, the image data of one horizontal period is transferred from the latch means 21 to the latch means 22 by the data transfer pulse H, and after the reset period of the DA conversion means 23 is completed, the latch means is operated. The DA conversion means 23 converts the held image data from digital to analog and outputs it. D
When the drive capability of the A conversion means is low, it may be output via the latch means 24. Further, as shown in FIG. 20, the DA converter 23 may be output after the output is stabilized by the enable signal EN via the switch 25.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る容
量列形DA変換回路は、従来のキャパシタアレイを用い
たDA変換回路よりもキャパシタアレイの容量の総和を
小さくすることができるので、IC化した場合により少
ないチップ面積で実現することができる。これにより、
例えば液晶ディスプレイ駆動ICなど1チップのIC中
に複数個のDA変換回路を内蔵する用途に最適である。
As described above, since the capacitance column type DA conversion circuit according to the present invention can reduce the total capacitance of the capacitor array as compared with the conventional DA conversion circuit using the capacitor array, the IC It can be realized with a smaller chip area. This allows
For example, it is most suitable for the purpose of incorporating a plurality of DA conversion circuits in one-chip IC such as a liquid crystal display driving IC.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のDA変換回路の第1実施例の回路を示
す図。
FIG. 1 is a diagram showing a circuit of a DA converter circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明のDA変換回路の第2実施例の回路を示
す図。
FIG. 2 is a diagram showing a circuit of a second embodiment of a DA converter circuit of the present invention.

【図3】本発明のDA変換回路の第3実施例の回路の変
形例を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing a modified example of the circuit of the third embodiment of the DA converter circuit of the present invention.

【図4】本発明のDA変換回路の第4実施例の回路の別
の変形例を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing another modification of the circuit of the fourth embodiment of the DA converter circuit of the present invention.

【図5】本発明のDA変換回路の第5実施例の回路を示
す図。
FIG. 5 is a diagram showing a circuit of a DA converter circuit according to a fifth embodiment of the present invention.

【図6】図1の実施例の回路の変形例としての第6実施
例の回路を示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a circuit of a sixth embodiment as a modified example of the circuit of the embodiment of FIG.

【図7】図2の実施例の回路の変形例としての第7実施
例の回路を示す図。
7 is a diagram showing a circuit of a seventh embodiment as a modified example of the circuit of the embodiment of FIG.

【図8】図3の実施例の回路の変形例としての第8実施
例の回路を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing a circuit of an eighth embodiment as a modification of the circuit of the embodiment of FIG.

【図9】図4の実施例の回路の変形例としての第9実施
例の回路を示す図。
9 is a diagram showing a circuit of a ninth embodiment as a modification of the circuit of the embodiment of FIG.

【図10】図1の実施例でリセット手段と基準電位選択
手段を兼ねた第10実施例の回路を示す図。
10 is a diagram showing a circuit of a tenth embodiment which doubles as a reset means and a reference potential selecting means in the embodiment of FIG.

【図11】図1の実施例において出力電位範囲を拡大し
た変形例としての第11実施例の回路を示す図。
11 is a diagram showing a circuit of an eleventh embodiment as a modified example in which the output potential range is expanded in the embodiment of FIG.

【図12】入力するデジタル信号が2の補数表現の時の
図2の実施例の変形例としての第12実施例の回路を示
す図。
FIG. 12 is a diagram showing a circuit of a twelfth embodiment as a modified example of the embodiment of FIG. 2 when an input digital signal is a two's complement representation.

【図13】入力するデジタル信号が2の補数表現の時の
図5の実施例の変形例としての第13実施例の回路を示
す図。
FIG. 13 is a diagram showing a circuit of a thirteenth embodiment as a modified example of the embodiment of FIG. 5 when the input digital signal is a two's complement representation.

【図14】入力するデジタル信号が2の補数表現の時に
第1の実施例に極性反転機能を追加した第14実施例の
回路を示す図。
FIG. 14 is a diagram showing a circuit of a fourteenth embodiment in which a polarity inversion function is added to the first embodiment when an input digital signal is a two's complement representation.

【図15】極性反転手段の具体例としての第15実施例
の回路を示す図。
FIG. 15 is a diagram showing a circuit of a fifteenth embodiment as a specific example of the polarity inverting means.

【図16】入力するデジタル信号が2の補数表現の時に
第13実施例に極性反転機能を追加した第16実施例の
回路を示す図。
FIG. 16 is a diagram showing a circuit of a sixteenth embodiment in which a polarity inversion function is added to the thirteenth embodiment when an input digital signal is a two's complement representation.

【図17】液晶ディスプレイ装置の構成を示す図。FIG. 17 is a diagram showing a configuration of a liquid crystal display device.

【図18】液晶ディスプレイ装置の駆動回路に本発明の
DA変換回路を適用した例を示す回路図。
FIG. 18 is a circuit diagram showing an example in which the DA conversion circuit of the present invention is applied to a drive circuit of a liquid crystal display device.

【図19】図18の実施例の信号および制御信号のタイ
ミングを示す図。
19 is a diagram showing timings of signals and control signals in the embodiment of FIG.

【図20】液晶ディスプレイ装置の駆動回路に本発明の
DA変換回路を適用した別の例を示す回路図。
FIG. 20 is a circuit diagram showing another example in which the DA conversion circuit of the present invention is applied to a drive circuit of a liquid crystal display device.

【図21】キャパシタアレイを1段用いた従来のDA変
換回路を示す図。
FIG. 21 is a diagram showing a conventional DA conversion circuit using one stage of a capacitor array.

【図22】キャパシタアレイを2段用いた従来のDA変
換回路を示す図。
FIG. 22 is a diagram showing a conventional DA conversion circuit using two stages of capacitor arrays.

【図23】入力デジタル信号の制御回路の一例を示す
図。
FIG. 23 is a diagram showing an example of a control circuit for an input digital signal.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 積分手段 11 第1のキャパシタアレイ 12 第2のキャパシタアレイ 13 リセット手段 14 基準電位選択手段 15 デジタル信号の上位ビットと下位ビットの切換ス
イッチ手段 16 伝達制御手段 17 極性反転手段 18 加算信号発生手段 20 シフトレジスター手段 21 ラッチ手段 22 ラッチ手段 23 DA変換回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 integrating means 11 1st capacitor array 12 2nd capacitor array 13 resetting means 14 reference potential selecting means 15 changeover switch means for high-order bit and low-order bit of digital signal 16 transmission control means 17 polarity reversing means 18 addition signal generating means 20 Shift register means 21 Latch means 22 Latch means 23 DA conversion circuit

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】多数の容量を夫々の一端で共通接続したキ
ャパシタアレイと、このキャパシタアレイの共通接続側
に接続されて夫々の容量から電荷を積分すると共にこの
積分された電荷をリセット信号によりリセットする積分
手段と、を少なくとも有する容量列形DA変換回路にお
いて、 所定の関係及び異なる値を有する複数種類の基準電位を
前記キャパシタアレイの個々の容量へ夫々供給する基準
電位供給手段と、 前記キャパシタアレイの他端と前記基準電位供給手段と
の間に接続されて前記リセット信号により前記キャパシ
タアレイのそれぞれの容量をリセットするリセット手段
と、 前記リセット手段を介して前記キャパシタアレイの他端
に接続されて入力される複数ビットのディジタル信号に
より複数種類の前記基準電位の中から最適なものを選択
する基準電位選択手段と、 を備えたことを特徴とする容量列形DA変換回路。
1. A capacitor array having a plurality of capacitors commonly connected at one end thereof, and a capacitor connected to a common connection side of the capacitor array to integrate charges from the respective capacitors and reset the integrated charges by a reset signal. A capacitor array DA conversion circuit including at least an integrating unit for supplying a plurality of types of reference potentials having a predetermined relationship and different values to the individual capacitors of the capacitor array, and the capacitor array. A reset means connected between the other end of the capacitor array and the reference potential supply means and resetting each capacitance of the capacitor array by the reset signal, and connected to the other end of the capacitor array via the reset means. Optimum among multiple types of reference potentials by inputting multiple bit digital signals Capacity column type DA converter circuit comprising: the reference voltage selection means for selecting an object, the.
【請求項2】夫々の一端が共通接続された前記キャパシ
タアレイの多数の容量は、実質的に略々等しい容量値を
有していることを特徴とする請求項1に記載の容量列形
DA変換回路。
2. The capacitor array type DA according to claim 1, wherein a large number of capacitors of the capacitor array, each of which has one end commonly connected, have substantially equal capacitance values. Conversion circuit.
【請求項3】n種類の基準電位において第i(n≧i≧
3)の基準電位と第1の基準電位の差電圧の絶対値が第
2の基準電位と第1の基準電位の差電圧の絶対値の2j
(n−2≧j≧1)倍の関係を持つn(n≧3)種類の
基準電位と、入力された電荷を転送する電荷転送用容量
と、前記電荷転送用容量の出力が入力され第1のリセッ
ト信号により積分した電荷をリセットすることのできる
積分手段と、共通接続された一端が前記積分手段の入力
に接続されるk(k≧2)個の容量よりなる第1のキャ
パシタアレイと、共通接続された一端が前記電荷転送用
容量の入力および電荷分配容量に接続されるm(m≧
2)個の容量よりなる第2のキャパシタアレイと、第1
および第2のキャパシタアレイの容量および前記電荷転
送用容量および電荷分配用容量を前記第1のリセット信
号によりリセットするリセット手段と、前記第1のキャ
パシタアレイの各々の容量の他端は入力するk+mビッ
トのディジタル信号の上位kビットにより前記第aの基
準電位と第b(b≠a)の基準電位のどちらかに選択的
に接続し、前記第2のキャパシタアレイの各々の容量の
他端は入力するk+mビットのディジタル信号の下位m
ビットにより前記第cの基準電位と第d(c≠d)の基
準電位のどちらかに選択的に接続する基準電位選択手段
と、で構成されることを特徴とする請求項1に記載の容
量列形DA変換回路。
3. The i-th (n ≧ i ≧) at n kinds of reference potentials.
The absolute value of the difference voltage between the reference potential and the first reference potential in 3) is 2 j of the absolute value of the difference voltage between the second reference potential and the first reference potential.
N (n ≧ 3) types of reference potentials having a relationship of (n−2 ≧ j ≧ 1) times, a charge transfer capacitance that transfers the input charge, and an output of the charge transfer capacitance are input. An integrating means capable of resetting an electric charge integrated by a reset signal of 1, and a first capacitor array having k (k ≧ 2) capacitors, one end of which is commonly connected to the input of the integrating means. , M (m ≧ m), one end of which is commonly connected is connected to the input of the charge transfer capacitance and the charge distribution capacitance.
2) a second capacitor array consisting of two capacitors and a first capacitor array
And reset means for resetting the capacitance of the second capacitor array and the charge transfer capacitance and charge distribution capacitance by the first reset signal, and the other end of each capacitance of the first capacitor array is input k + m The upper k bits of the bit digital signal are selectively connected to either the a-th reference potential or the b-th (b ≠ a) reference potential, and the other end of each capacitance of the second capacitor array is Lower m of input k + m bit digital signal
2. The capacitor according to claim 1, further comprising a reference potential selection unit that is selectively connected to either the c-th reference potential or the d-th (c ≠ d) reference potential by a bit. Column type DA conversion circuit.
【請求項4】n種類の基準電位において第i(n≧i≧
3)の基準電位と第1の基準電位の差電圧の絶対値が第
2の基準電位と第1の基準電位の差電圧の絶対値の2j
(n−2≧j≧1)倍の関係を持つn(n≧3)種類の
基準電位と、入力された電荷を転送する電荷転送用容量
と、前記電荷転送用容量をバイパスする経路をビット選
択信号により形成するバイパス手段と、前記電荷転送用
容量の出力が入力され第1のリセット信号により積分し
た電荷をリセットすることのできる積分手段と、共通接
続された一端が前記電荷転送用容量の入力および電荷分
配用容量に接続されるk(k≧2)個の容量よりなるキ
ャパシタアレイと、前記キャパシタアレイの容量および
前記電荷転送用容量および電荷分配用容量を第2のリセ
ット信号によりリセットするリセット手段と、前記ビッ
ト選択信号により入力する2kビットのディジタル信号
の上位kビットと下位kビットを選択するスイッチ手段
と、前記キャパシタアレイの各々の容量の他端は前記ス
イッチ手段により選択されたkビットのディジタル信号
により異なる2つの基準電位のうちのどちらかに選択的
に接続する基準電位選択手段と、で構成されることを特
徴とする請求項1に記載の容量列形DA変換回路。
4. The i-th (n ≧ i ≧ n) of n kinds of reference potentials.
The absolute value of the difference voltage between the reference potential and the first reference potential in 3) is 2 j of the absolute value of the difference voltage between the second reference potential and the first reference potential.
Bits are provided for n (n ≧ 3) types of reference potentials having a relationship of (n−2 ≧ j ≧ 1) times, a charge transfer capacitance that transfers an input charge, and a path that bypasses the charge transfer capacitance. By-pass means formed by a selection signal, integrating means capable of resetting the charges integrated by the first reset signal when the output of the charge transfer capacitance is input, and one end commonly connected to the charge transfer capacitance A capacitor array composed of k (k ≧ 2) capacitors connected to an input and a charge distribution capacitor, and the capacitance of the capacitor array and the charge transfer capacitance and the charge distribution capacitance are reset by a second reset signal. Reset means, switch means for selecting upper k bits and lower k bits of the 2 kbit digital signal input by the bit selection signal, and the capacity. The other end of each capacitor of the array is composed of a reference potential selecting means selectively connected to either of two different reference potentials depending on the k-bit digital signal selected by the switch means. The capacitor array DA conversion circuit according to claim 1, which is characterized in that.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997029548A1 (en) * 1996-02-09 1997-08-14 Seiko Epson Corporation Potential generating device
WO1997032295A1 (en) * 1996-02-28 1997-09-04 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for driving the display device, display system, and data processing device
US6380917B2 (en) 1997-04-18 2002-04-30 Seiko Epson Corporation Driving circuit of electro-optical device, driving method for electro-optical device, and electro-optical device and electronic equipment employing the electro-optical device
WO2006043374A1 (en) * 2004-10-18 2006-04-27 Sharp Kabushiki Kaisha Serial-parallel conversion circuit, display employing it, and its drive circuit
KR100564275B1 (en) * 1997-08-29 2006-06-21 소니 가부시끼 가이샤 LCD Display
JP2010045381A (en) * 2005-06-15 2010-02-25 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus, device manufacturing apparatus, device manufactured by the apparatus, and controllable patterning apparatus using spatial light modulator by distributed digital-to-analog conversion

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1601106A3 (en) * 1996-02-09 2006-06-21 Seiko Epson Corporation Voltage generating apparatus
WO1997029548A1 (en) * 1996-02-09 1997-08-14 Seiko Epson Corporation Potential generating device
US5903234A (en) * 1996-02-09 1999-05-11 Seiko Epson Corporation Voltage generating apparatus
US6281826B1 (en) 1996-02-09 2001-08-28 Seiko Epson Corporation Voltage generating apparatus
EP1601106A2 (en) * 1996-02-09 2005-11-30 Seiko Epson Corporation Voltage generating apparatus
USRE41216E1 (en) 1996-02-28 2010-04-13 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for driving the display device, display system, and data processing device
US6542143B1 (en) 1996-02-28 2003-04-01 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for driving the display device, display system, and data processing device
WO1997032295A1 (en) * 1996-02-28 1997-09-04 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for driving the display device, display system, and data processing device
US6674420B2 (en) 1997-04-18 2004-01-06 Seiko Epson Corporation Driving circuit of electro-optical device, driving method for electro-optical device, and electro-optical device and electronic equipment employing the electro-optical device
US6380917B2 (en) 1997-04-18 2002-04-30 Seiko Epson Corporation Driving circuit of electro-optical device, driving method for electro-optical device, and electro-optical device and electronic equipment employing the electro-optical device
KR100564275B1 (en) * 1997-08-29 2006-06-21 소니 가부시끼 가이샤 LCD Display
WO2006043374A1 (en) * 2004-10-18 2006-04-27 Sharp Kabushiki Kaisha Serial-parallel conversion circuit, display employing it, and its drive circuit
US8094116B2 (en) 2004-10-18 2012-01-10 Sharp Kabsuhiki Kaisha Serial-parallel conversion circuit, display employing it, and its drive circuit
JP2010045381A (en) * 2005-06-15 2010-02-25 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus, device manufacturing apparatus, device manufactured by the apparatus, and controllable patterning apparatus using spatial light modulator by distributed digital-to-analog conversion

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