JPH06265938A - Liquid crystal display device and its production - Google Patents

Liquid crystal display device and its production

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Publication number
JPH06265938A
JPH06265938A JP5694193A JP5694193A JPH06265938A JP H06265938 A JPH06265938 A JP H06265938A JP 5694193 A JP5694193 A JP 5694193A JP 5694193 A JP5694193 A JP 5694193A JP H06265938 A JPH06265938 A JP H06265938A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel electrode
display device
transparent conductive
contact
conductive film
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5694193A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Kanetani
隆裕 金谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Electronic Engineering Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5694193A priority Critical patent/JPH06265938A/en
Publication of JPH06265938A publication Critical patent/JPH06265938A/en
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  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the process for production of the image display device which can realize good electrical connection between pixel electrodes and semiconductor films simply by adding a simple stage and the image display device which realizes multiple pixels and higher fineness. CONSTITUTION:TFTs 13 having source connecting ends 11 consisting of the semiconductor films 9 are formed by combining thin-film materials on a transparent insulating substrate and the pixel electrodes 7 consisting of transparent conductive films are so formed as to come into contact with these source connecting terminals 11. Contact parts 11 which come into contact with the source connecting ends 11 by averting parts 17 relating to display of the pixel electrodes 7 are selectively exposed to hydrogen plasma to form the compsn. of the contact parts 11 so as to have the oxygen content lower than the oxygen content of the compsn. of the parts 17 relating to the display, by which the contact resistance of the contact parts 11 is suppressed while the transparency of the parts 17 relating to the display is maintained. The good electrical contact is thus obtd.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、画像表示装置に係り、
特に表示に係る画素電極が透明導電膜で形成された画像
表示装置およびその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image display device,
In particular, the present invention relates to an image display device in which a pixel electrode for display is formed of a transparent conductive film and a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来一般に、画像表示装置としてCRT
を用いた表示装置が用いられているが、さらなる小型化
や薄型化が可能な画像表示装置として、例えば液晶表示
装置をはじめとしてプラズマディスプレイパネルやエレ
クトロルミネッセントパネルを用いたフラットパネル状
の画像表示装置が注目されている。
2. Description of the Related Art Generally, a CRT has been used as an image display device.
Although a display device using a liquid crystal display device is used, as an image display device capable of further miniaturization and thinning, for example, a flat panel image using a plasma display panel or an electroluminescent panel including a liquid crystal display device. Display devices are receiving attention.

【0003】なかでも、液晶表示装置は、薄型、低消費
電力等の特徴を生かして、テレビあるいはグラフィック
ディスプレイなどの表示装置として盛んに利用されてい
る。その液晶表示装置のなかでも、薄膜トランジスタ
(Thin Film Transistor;以下、TFTと略称)をスイ
ッチング素子として用いたアクティブマトリックス型液
晶表示装置は、高速応答性に優れ、高精細化に適してお
り、ディスプレイ画面の高画質化、大型化、カラー画像
化を実現するものとして注目されている。
Among them, the liquid crystal display device is widely used as a display device such as a television or a graphic display due to its features such as thin shape and low power consumption. Among the liquid crystal display devices, an active matrix type liquid crystal display device using a thin film transistor (TFT) as a switching element is excellent in high-speed response and suitable for high definition display screen. It is attracting attention as a device that realizes high image quality, large size, and color image formation.

【0004】このアクティブマトリックス型液晶表示装
置の表示素子部分は、一般的にTFTのようなスイッチ
ング用アクティブ素子とこれに接続された画素電極が配
設されたアクティブ素子アレイ基板と、これに対向して
配置される対向電極が形成された対向基板と、これら基
板間に挟持される液晶組成物と、さらに各基板の外表面
側に貼設される偏光板とからその主要部分が構成されて
いる。
The display element portion of this active matrix type liquid crystal display device is generally an active element array substrate provided with a switching active element such as a TFT and a pixel electrode connected thereto, and an active element array substrate opposed thereto. A main part is composed of a counter substrate having counter electrodes formed thereon, a liquid crystal composition sandwiched between these substrates, and a polarizing plate attached to the outer surface side of each substrate. .

【0005】また、単純マトリックス型液晶表示装置に
おいても、列設された走査電極や信号電極はITO(イ
ンジウム・錫酸化膜)のような透明導電膜からなる画素
電極であって、これらの画素電極も電圧印加を制御する
スイッチング素子等を有する駆動回路に接続されてい
る。
Also in the simple matrix type liquid crystal display device, the scanning electrodes and the signal electrodes arranged in a row are pixel electrodes made of a transparent conductive film such as ITO (indium tin oxide film). Is also connected to a drive circuit having a switching element or the like for controlling voltage application.

【0006】また、前記のプラズマディスプレイパネル
やエレクトロルミネッセントパネルにおいても、画像表
示に係る部分には一般的に透明導電膜から形成された画
素電極が用いられる場合が多い。この場合にも、画素電
極は電圧印加を制御するスイッチング素子等を有する駆
動回路に接続されることが一般的である。そして近年で
は駆動回路をパネルの周辺部にパネルと一体に作り込む
ことが盛んに行なわれており、駆動回路はTFTで形成
されることが多い。
Also in the plasma display panel and the electroluminescent panel described above, a pixel electrode formed of a transparent conductive film is generally used in a portion related to image display in many cases. Also in this case, the pixel electrode is generally connected to a drive circuit having a switching element or the like for controlling voltage application. In recent years, it has been actively practiced to form a drive circuit integrally with the panel in the peripheral portion of the panel, and the drive circuit is often formed of TFTs.

【0007】上記のようなアクティブ素子や駆動回路と
して用いられるTFTの接続端子と画素電極とを、直接
あるいは間接に接続して電気的に導通を得ることが必要
である。例えば上記の液晶表示装置の例に則して述べる
と、TFTの半導体膜からなる活性層のソース部分と画
素電極とがコンタクトホールを通して直接に接続されて
いるが、その電気的接続は良好なものでなければならな
い。電気的接続が低劣であるとTFTの動作特性が十分
には発揮されなくなり、その結果、液晶表示装置の表示
品位が低いものとなる。特に近年は画像表示装置に対す
る多画素化や高精細化の要求が盛んであることから、例
えば液晶表示装置の例で言えば画素数が著しく増加し
て、さらに高周波な電圧波形が用いられる傾向にあり、
かつTFTの素子寸法や走査電極の線幅などもさらに微
細化する傾向にあるため、前述のような半導体膜と画素
電極との電気的接続を良好なものにすることはますます
重要なものとなる。
It is necessary to directly or indirectly connect the connection terminal of the TFT used as the active element or the driving circuit as described above and the pixel electrode to obtain electrical conduction. For example, in the case of the above liquid crystal display device, the source portion of the active layer formed of the semiconductor film of the TFT is directly connected to the pixel electrode through the contact hole, but the electrical connection is good. Must. If the electrical connection is poor, the operating characteristics of the TFT will not be fully exhibited, and as a result, the display quality of the liquid crystal display device will be low. In particular, in recent years, there has been a growing demand for multi-pixel and high-definition image display devices. For example, in the case of a liquid crystal display device, the number of pixels is remarkably increased, and a higher frequency voltage waveform tends to be used. Yes,
In addition, since the element size of TFTs and the line width of scan electrodes tend to be further miniaturized, it is increasingly important to improve the electrical connection between the semiconductor film and pixel electrodes as described above. Become.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
技術に係る画素電極とTFTのa−Siのような半導体
膜との接続は、一般に直接接続されており、その界面で
の接触抵抗などに妨げられて良好な電気的接続を得るこ
とが困難であるという問題がある。その結果、高周波な
電圧波形の印加に対応できず、高精細で多画素(いわゆ
る多桁表示)な画像表示の実現が困難であった。
However, the connection between the pixel electrode according to the prior art and the semiconductor film such as a-Si of the TFT is generally directly connected, and the contact resistance at the interface is obstructed. Therefore, it is difficult to obtain a good electrical connection. As a result, it is not possible to apply a high-frequency voltage waveform, and it is difficult to realize high-definition, multi-pixel (so-called multi-digit display) image display.

【0009】このように画素電極と半導体膜との良好な
電気的接続を得ることを困難としている主な原因として
は、半導体膜(例えばa−Siのようなシリコン薄膜)
の表面に形成される自然酸化膜に起因する場合と、その
接触界面にP−N接合的なエネルギーバンドが形成され
てしまうことに起因する場合とが考えられる。
The main reason for making it difficult to obtain a good electrical connection between the pixel electrode and the semiconductor film is a semiconductor film (for example, a silicon thin film such as a-Si).
It may be due to the natural oxide film formed on the surface of the above, or due to the formation of a PN junction-like energy band at the contact interface.

【0010】そこでこの問題に対して、画素電極と半導
体膜との間にアルミニウム(Al)に代表される金属膜
を介挿することによって上記のような接触抵抗を低減し
ようとする方法が案出されている。用いる金属膜として
はAlの他にもインジウムと錫との合金なども提案され
ている。
To solve this problem, a method has been devised to reduce the above contact resistance by inserting a metal film typified by aluminum (Al) between the pixel electrode and the semiconductor film. Has been done. Besides Al, an alloy of indium and tin has been proposed as the metal film to be used.

【0011】しかしながら、このような方法では、前記
のアルミニウム(Al)に代表される金属膜を成膜した
後、これをレジスト等を用いたフォトリソグラフィ工程
により高精度にパターニングして、画素電極と半導体膜
との接続部分に極めて微細なパターンを高精度に位置合
わせして形成し、レジストを完全に剥離する、という一
連の工程を付加しなければならないため、製造工程が煩
雑化しコスト増となる。また、接続面間への不純物の混
入の確率が高くなって、電気的特性が不安定になり信頼
性が低下するという問題がある。
However, in such a method, after forming a metal film typified by aluminum (Al) described above, the metal film is patterned with high precision by a photolithography process using a resist or the like to form a pixel electrode. Since it is necessary to add a series of steps of forming a very fine pattern with high accuracy in the connection portion with the semiconductor film and completely removing the resist, the manufacturing process becomes complicated and the cost increases. . In addition, there is a problem that the probability of impurities being mixed between the connection surfaces becomes high, the electrical characteristics become unstable, and the reliability decreases.

【0012】このように、従来の技術においては、画素
電極とTFTのa−Siのような半導体膜との接続界面
での接触抵抗などに起因して、良好な電気的接続を得る
ことが困難であるという問題があった。その結果、高周
波な電圧波形の印加に対応できず、高精細で多画素の表
示の実現が困難となっていた。
As described above, in the conventional technique, it is difficult to obtain a good electrical connection due to the contact resistance at the connection interface between the pixel electrode and the semiconductor film such as a-Si of the TFT. There was a problem that was. As a result, it is difficult to apply a high-frequency voltage waveform, and it has been difficult to realize high-definition and multi-pixel display.

【0013】本発明は、このような問題を解決するため
に成されたもので、その目的は、簡易な工程の付加だけ
て画素電極と半導体膜との電気的に良好な接続を実現す
ることのできる画像表示装置の製造方法、およびその製
造方法によって多画素化や高精細化を実現した画像表示
装置を提供することにある。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object thereof is to realize an electrically good connection between a pixel electrode and a semiconductor film only by adding a simple process. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an image display device capable of achieving the above, and an image display device that realizes a large number of pixels and high definition by the manufacturing method.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の画像表示装置は、組成に酸素を含有する透明
導電膜から形成された画素電極と、薄膜を組み合わせて
形成され半導体材料からなる接続端を有し該接続端が前
記画素電極に接続されて前記画素電極への電圧印加のス
イッチングを行なう薄膜スイッチング素子とを有する画
像表示装置において、前記接続端に接続される前記画素
電極のコンタクト部の透明導電膜が、前記画素電極の表
示に係る部分の透明導電膜の組成の酸素含有量に比較し
て低い酸素含有量の組成の透明導電膜であることを特徴
としている。
In order to solve the above problems, an image display device of the present invention comprises a semiconductor material formed by combining a pixel electrode formed of a transparent conductive film containing oxygen in its composition and a thin film. And a thin film switching element that has a connection end that is connected to the pixel electrode and performs switching of voltage application to the pixel electrode, the pixel electrode being connected to the connection end. It is characterized in that the transparent conductive film in the contact portion is a transparent conductive film having a composition with an oxygen content lower than that of the composition of the transparent conductive film in the portion related to the display of the pixel electrode.

【0015】また、本発明の画像表示装置の製造方法
は、半導体材料からなる接続端を有する薄膜スイッチン
グ素子を薄膜を組み合わせて絶縁基板上に形成し、前記
接続端に接触するように透明導電膜からなる画素電極を
形成し、少なくとも前記画素電極の表示に係る部分を避
けて前記接続端と接触する前記画素電極のコンタクト部
を選択的に水素プラズマに暴露して、前記コンタクト部
の透明導電膜の組成を前記画素電極の表示に係る部分の
透明導電膜の組成の酸素含有量に比較して低い酸素含有
量とすることを特徴としている。
Further, in the method of manufacturing an image display device of the present invention, a thin film switching element having a connection end made of a semiconductor material is formed on an insulating substrate by combining thin films, and a transparent conductive film is brought into contact with the connection end. Forming a pixel electrode made of, and selectively exposing a contact portion of the pixel electrode, which is in contact with the connection end, at least in a portion related to the display of the pixel electrode, to a hydrogen plasma, thereby forming a transparent conductive film of the contact portion. The composition is characterized in that it has a lower oxygen content than the oxygen content of the composition of the transparent conductive film in the portion related to the display of the pixel electrode.

【0016】[0016]

【作用】半導体材料からなる接続端に接触する画素電極
の接続部分へ選択的に水素プラズマ処理を施して、その
部分の透明導電膜の組成から酸素を減少させる。一般に
画素電極はITOのようなインジウムや錫などの金属成
分と酸素とを組成に有する透明導電膜から形成されてい
るが、そのような透明導電膜のコンタクト部の酸素含有
率を低下させ相対的に金属成分含有率を向上させて組成
を金属成分に富んだものに変質させることで、コンタク
ト部と半導体膜の接続端との接触状態を良好なものにす
ることができる。
Function: Hydrogen plasma treatment is selectively applied to the connection portion of the pixel electrode that is in contact with the connection end made of a semiconductor material to reduce oxygen from the composition of the transparent conductive film in that portion. Generally, the pixel electrode is formed of a transparent conductive film having a composition of a metal component such as indium or tin such as ITO and oxygen, but the oxygen content rate of the contact portion of such a transparent conductive film is lowered to relatively reduce the oxygen content. By improving the metal component content and changing the composition to one rich in metal component, the contact state between the contact portion and the connection end of the semiconductor film can be improved.

【0017】ただしここで、一般にITOのような透明
導電膜の酸素含有率を低下させると、金属含有率が相対
的に高くなってその透明性(光透過率)が低下する。つ
まり画素電極全体に前記の水素プラズマ処理を施すと画
像表示に係る部分までも光透過率が低下して表示のコン
トラスト特性等が低下するという不都合が生じる。
However, generally, when the oxygen content of the transparent conductive film such as ITO is lowered, the metal content becomes relatively high and the transparency (light transmittance) is lowered. That is, if the above-mentioned hydrogen plasma treatment is applied to the entire pixel electrode, the light transmittance is lowered even in the portion related to the image display, and the inconvenience that the display contrast characteristics and the like are lowered.

【0018】そこで本発明では、透明性の保持が必要な
画素電極の表示に係る部分はレジストなどで被覆して水
素プラズマ処理の影響を避けつつ、被覆することを避け
て露出させた前記のコンタクト部だけに選択的に水素プ
ラズマ処理を施している。このようにして、画素電極の
表示に係る部分では画像表示のための透明性を保持しつ
つコンタクト部では接触抵抗を十分に抑えて良好な電気
的接続を得ることができる。
Therefore, according to the present invention, the display portion of the pixel electrode which needs to retain transparency is covered with a resist or the like to avoid the influence of the hydrogen plasma treatment, while the contact is exposed while avoiding the covering. Hydrogen plasma treatment is selectively applied only to the part. In this way, it is possible to obtain a good electrical connection by sufficiently suppressing the contact resistance in the contact portion while maintaining the transparency for displaying an image in the portion related to the display of the pixel electrode.

【0019】[0019]

【実施例】図1は本発明に係る画像表示装置の構造を示
す平面図(a)およびそのA−A´断面図(b)、図2
はその製造方法を示す図である。なお図1、図2におい
ては図示の簡潔化のために、特に本発明の特徴的な部分
である画素電極と半導体膜とのコンタクト部近傍を中心
に示した。また説明の簡潔化のために、そのようなコン
タクト部近傍の構造およびその製造工程を中心として下
記に詳細に説明する。
1 is a plan view showing the structure of an image display device according to the present invention and its sectional view taken along the line AA '(b), FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a manufacturing method thereof. For simplification of the drawings, FIGS. 1 and 2 show mainly the vicinity of the contact portion between the pixel electrode and the semiconductor film, which is a characteristic portion of the present invention. Further, for simplification of description, the structure in the vicinity of such a contact portion and the manufacturing process thereof will be mainly described below in detail.

【0020】本発明に係る画像表示装置は、透明絶縁基
板1上に交差するように各々列設された複数の走査配線
3および複数の信号配線5と、組成に酸素を含有する透
明導電膜であるITO(インジウム錫酸化膜)から形成
された画素電極7と、薄膜を組み合わせて形成され半導
体膜9からなるソース接続端11を有しそのソース接続
端11が画素電極7に接続されて画素電極7への印加電
圧のスイッチングを行なうTFT13とを有する液晶表
示装置であって、その画素電極7のソース接続端11に
接続されるコンタクト部15の透明導電膜の組成が、画
素電極7の表示に係る部分17の透明導電膜の酸素含有
量に比較して低い酸素含有量に設定されている。
The image display device according to the present invention comprises a plurality of scanning wirings 3 and a plurality of signal wirings 5 arranged in a row so as to intersect with each other on the transparent insulating substrate 1, and a transparent conductive film containing oxygen in its composition. A pixel electrode 7 formed of a certain ITO (indium tin oxide film) and a source connection end 11 formed by combining a thin film and formed of a semiconductor film 9 are provided, and the source connection end 11 is connected to the pixel electrode 7 7 is a liquid crystal display device having a TFT 13 for switching the voltage applied to the pixel electrode 7, and the composition of the transparent conductive film of the contact portion 15 connected to the source connection end 11 of the pixel electrode 7 is for displaying the pixel electrode 7. The oxygen content is set to be lower than the oxygen content of the transparent conductive film of the portion 17.

【0021】そして、画素電極7やTFT13等が形成
されたTFTアレイ基板上ほぼ全面を覆うように保護膜
19が形成されている。そして図示は省略するが一般的
な液晶表示装置の製造方法とほぼ同様にTFTアレイ基
板と対向電極が形成された対向基板とがほぼ平行な間隙
を有して対向配置され周囲を封止材で封止されて空セル
が形成され、そのセルに液晶組成物が注入、挟持され
て、この液晶表示装置の主要部は構成されている。
A protective film 19 is formed so as to cover almost the entire surface of the TFT array substrate on which the pixel electrodes 7 and the TFTs 13 are formed. Although illustration is omitted, the TFT array substrate and the counter substrate on which the counter electrode is formed are arranged so as to face each other with a gap substantially parallel to each other with a sealing material in the same manner as in a general method for manufacturing a liquid crystal display device. A main part of this liquid crystal display device is constituted by sealing and forming an empty cell, and injecting and sandwiching the liquid crystal composition into the cell.

【0022】本実施例では、画素電極7のコンタクト部
15の透明導電膜の組成中の酸素含有量は、表示に係る
部分17の酸素含有量よりも低い値である約60%以下に
設定した。この画素電極7のコンタクト部15の組成の
酸素含有量の好ましい値としては理論的には 0%であ
る、酸素含有量を低くするということは、逆に言えば酸
素含有量を減らした分だけ金属成分の含有量(比率)が
増加することになる。したがって上記の効果の点から言
えば酸素含有量は表示に係る部分17の酸素含有量より
も低い値である約60%以下に設定すればよい。
In the present embodiment, the oxygen content in the composition of the transparent conductive film of the contact portion 15 of the pixel electrode 7 is set to about 60% or less, which is lower than the oxygen content of the display portion 17. . The preferable value of the oxygen content of the composition of the contact portion 15 of the pixel electrode 7 is theoretically 0%. Reducing the oxygen content means that the oxygen content is reduced. The content (ratio) of the metal component will increase. Therefore, from the viewpoint of the above effect, the oxygen content may be set to about 60% or less, which is a value lower than the oxygen content of the display portion 17.

【0023】次に、本発明に係る画像表示装置の製造方
法を説明する。透明絶縁基板1上に、図2(a)に示す
ように例えばa−Siのようなシリコン薄膜を成膜しこ
れをパターニングしていわゆる活性層としての半導体膜
9を形成する。
Next, a method of manufacturing the image display device according to the present invention will be described. As shown in FIG. 2A, a silicon thin film such as a-Si is formed on the transparent insulating substrate 1 and patterned to form a semiconductor film 9 as a so-called active layer.

【0024】続いて、図2(b)に示すように絶縁膜2
1を形成する。この絶縁膜21は、例えば半導体膜9の
表面を酸化して形成してもよく、あるいはその他の例え
ば酸化シリコン膜(SiOx )をCVDなどにより堆積
させて形成してもよい。そしてソース接続端11を形成
すべき位置の絶縁膜21をエッチング除去してコンタク
トホールを穿設し、その下に被覆されていた半導体膜9
の表面を露出させてTFT13のソース接続端11を得
る。
Subsequently, as shown in FIG. 2B, the insulating film 2
1 is formed. The insulating film 21 may be formed, for example, by oxidizing the surface of the semiconductor film 9 or may be formed by depositing another silicon oxide film (SiO x ) by CVD or the like. Then, the insulating film 21 at the position where the source connection end 11 is to be formed is removed by etching to form a contact hole, and the semiconductor film 9 covered under the contact hole is formed.
The surface of is exposed to obtain the source connection end 11 of the TFT 13.

【0025】そして、図2(c)に示すように、スパッ
タ法によりITOを成膜して絶縁膜21上および露出し
たソース接続端11上を覆うように透明導電膜を形成
し、これを例えばエッチングによりパターニングして画
素電極7を形成する。このときにはまだ半導体膜9のソ
ース接続端11とこれに接触する画素電極7のコンタク
ト部15との界面の電気的接続は良好とは言えない状態
にある。
Then, as shown in FIG. 2C, an ITO film is formed by a sputtering method to form a transparent conductive film so as to cover the insulating film 21 and the exposed source connection end 11, and the transparent conductive film is formed, for example. The pixel electrode 7 is formed by patterning by etching. At this time, the electrical connection at the interface between the source connection end 11 of the semiconductor film 9 and the contact portion 15 of the pixel electrode 7 that is in contact therewith is not yet satisfactory.

【0026】そこで、図2(d)に示すように、例えば
フォトレジストのような水素プラズマに対して被覆性が
高いレジスト23を形成して画素電極7のコンタクト部
15を露出させるとともにその他の画素電極7の表示に
係る部分17を被覆し、このレジスト23から露出した
部分すなわち画素電極7のコンタクト部15を酸素プラ
ズマ中に暴露させる。このように半導体膜9からなるソ
ース接続端11と接触する画素電極7のコンタクト部1
5に選択的に水素プラズマ処理を施して、そのコンタク
ト部15の透明導電膜から酸素を減少させる。一般に画
素電極7はITOのようなインジウムや錫などの金属成
分と酸素とを組成に有する透明導電膜から形成されてい
るが、コンタクト部15の酸素含有率を60%以下に低下
させ相対的に金属成分含有率を向上させて金属成分に富
んだ組成のに変質させることで、コンタクト部15と半
導体膜9のソース接続端11との電気的接続状態を良好
なものにすることができる。このとき、加熱することに
より水素プラズマ処理をさらに効果的に促進させること
もできる。また一般的に、ITOをスパッタ法により堆
積して透明導電膜を形成した場合、膜質を安定化させる
ために加熱処理(ベーキング)を施している。したがっ
て水素プラズマ処理に併せて加熱処理を施すことは従来
のITO形成工程とのプロセス整合性も良く、また一度
に水素プラズマ処理と加熱処理を行なうことにより製造
プロセスの煩雑化をも防ぐことができるので好ましい。
あるいは水素プラズマ処理は透明導電膜の加熱処理(ベ
ーキング)後に行なってもよく、加熱処理(ベーキン
グ)前に行なってもよい。
Therefore, as shown in FIG. 2D, a resist 23 having a high covering property against hydrogen plasma, such as a photoresist, is formed to expose the contact portion 15 of the pixel electrode 7 and other pixels. The display-related portion 17 of the electrode 7 is covered, and the portion exposed from the resist 23, that is, the contact portion 15 of the pixel electrode 7 is exposed to oxygen plasma. In this way, the contact portion 1 of the pixel electrode 7 that comes into contact with the source connection end 11 made of the semiconductor film 9
5 is selectively subjected to hydrogen plasma treatment to reduce oxygen from the transparent conductive film of the contact portion 15. Generally, the pixel electrode 7 is formed of a transparent conductive film having a composition of a metal component such as indium or tin such as ITO and oxygen, but the oxygen content rate of the contact portion 15 is reduced to 60% or less and relatively. By improving the metal component content rate and changing the composition to a composition rich in metal component, the electrical connection state between the contact portion 15 and the source connection end 11 of the semiconductor film 9 can be improved. At this time, the hydrogen plasma treatment can be more effectively promoted by heating. In general, when ITO is deposited by a sputtering method to form a transparent conductive film, heat treatment (baking) is performed to stabilize the film quality. Therefore, performing the heat treatment in addition to the hydrogen plasma treatment has good process compatibility with the conventional ITO formation process, and the hydrogen plasma treatment and the heat treatment can be performed at one time to prevent the manufacturing process from becoming complicated. Therefore, it is preferable.
Alternatively, the hydrogen plasma treatment may be performed after heat treatment (baking) of the transparent conductive film or before heat treatment (baking).

【0027】また、前記のレジスト23としては、一般
的なTFTの製造工程で用いられるフォトリソグラフィ
用レジストを用いてもよく、あるいはその他にもパター
ン形成が自在でかつ水素プラズマに対してレジストとし
て機能しその下に被覆された半導体膜9への水素の侵入
を防ぐような被覆性を有する材料を好適に用いることが
できる。
As the resist 23, a photolithography resist used in a general TFT manufacturing process may be used. Alternatively, the resist 23 can be freely patterned and functions as a resist against hydrogen plasma. However, a material having a covering property for preventing hydrogen from penetrating into the semiconductor film 9 covered thereunder can be preferably used.

【0028】このように水素プラズマ処理を行なった
後、レジスト23を剥離する。ただし、このレジスト2
3はそのまま剥離せずに残してもよい。これ以降の工程
でレジスト23の悪影響がほとんどないようなレジスト
材料を用いればよい。
After the hydrogen plasma treatment is performed as described above, the resist 23 is peeled off. However, this resist 2
3 may be left as it is without peeling. A resist material may be used so that the resist 23 is hardly adversely affected in the subsequent steps.

【0029】なお、上記の実施例では、本発明を液晶表
示装置に適用した場合の実施例を述べたが、本発明の適
用はこれのみには限定しない。この他にも、例えばプラ
ズマディスプレイ装置や、エレクトロルミネッセントデ
ィスプレイ装置などのうち、画素電極として酸素および
金属成分を組成に有するITOのような透明導電膜を用
いた画像表示装置であれば本発明を適用することができ
る。
In the above embodiments, the embodiments in which the present invention is applied to the liquid crystal display device have been described, but the application of the present invention is not limited to this. In addition to the above, the present invention is applicable to any image display device using a transparent conductive film such as ITO having oxygen and metal components as a pixel electrode in a plasma display device or an electroluminescent display device. Can be applied.

【0030】また、上記の実施例では、アクティブマト
リックス型液晶表示装置に本発明を適用した場合につい
て詳述したが、本発明はこれのみには限定しない。この
他にも、例えば透明絶縁基板の周辺部に駆動回路をTF
Tで一体に作り込み、その半導体膜からなる接続端と透
明導電膜からなる画素電極のコンタクト部とを接続させ
る場合などにも適用することができる。
Further, in the above embodiments, the case where the present invention is applied to the active matrix type liquid crystal display device has been described in detail, but the present invention is not limited to this. In addition to this, for example, a driving circuit is provided around the transparent insulating substrate in a TF
It can also be applied to the case of integrally forming with T and connecting the connection end made of the semiconductor film and the contact portion of the pixel electrode made of the transparent conductive film.

【0031】その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲
で、本発明の画像表示装置の各部位の形成材料などの変
更が種々可能であることは言うまでもない。
In addition, it goes without saying that various changes can be made to the material for forming each part of the image display device of the present invention without departing from the scope of the present invention.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上、詳細な説明で明示したように、本
発明によれば、簡易な工程を付加するだけて画素電極と
半導体膜との電気的に良好な接続を実現することのでき
る画像表示装置の製造方法および多画素化や高精細化を
実現した画像表示装置を提供することができる。
As clearly described in the above detailed description, according to the present invention, it is possible to realize an electrically good connection between the pixel electrode and the semiconductor film by adding a simple process. It is possible to provide a method for manufacturing a display device and an image display device that realizes a large number of pixels and high definition.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の画像表示装置の構造を示す平面図およ
び断面図。
FIG. 1 is a plan view and a cross-sectional view showing a structure of an image display device of the present invention.

【図2】本発明の画像表示装置の製造方法を示す図。FIG. 2 is a diagram showing a method for manufacturing an image display device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…透明絶縁基板、3…走査配線、5…信号配線、7…
画素電極、9…半導体膜、11…ソース接続、13…T
FT、15…コンタクト部、17…画素電極の表示に係
る部分、19…保護膜、21…絶縁膜、23…レジスト
1 ... Transparent insulating substrate, 3 ... Scan wiring, 5 ... Signal wiring, 7 ...
Pixel electrode, 9 ... Semiconductor film, 11 ... Source connection, 13 ... T
FT, 15 ... Contact part, 17 ... Portion related to display of pixel electrode, 19 ... Protective film, 21 ... Insulating film, 23 ... Resist

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 組成に酸素を含有する透明導電膜から形
成された画素電極と、薄膜を組み合わせて形成され半導
体材料からなる接続端を有し該接続端が前記画素電極に
接続されて前記画素電極への電圧印加のスイッチングを
行なう薄膜スイッチング素子とを有する画像表示装置に
おいて、 前記接続端と接続される前記画素電極のコンタクト部の
透明導電膜が、前記画素電極の表示に係る部分の透明導
電膜の組成の酸素含有量に比較して低い酸素含有量の組
成の透明導電膜であることを特徴とする画像表示装置。
1. A pixel electrode formed by combining a thin film and a pixel electrode formed of a transparent conductive film containing oxygen in the composition, and having a connection end made of a semiconductor material, the connection end being connected to the pixel electrode In an image display device having a thin film switching element that performs switching of voltage application to electrodes, a transparent conductive film of a contact portion of the pixel electrode connected to the connection end is a transparent conductive film of a portion related to display of the pixel electrode. An image display device comprising a transparent conductive film having a composition with an oxygen content lower than that of the composition of the film.
【請求項2】 半導体材料からなる接続端を有する薄膜
スイッチング素子を薄膜を組み合わせて絶縁基板上に形
成し、 前記接続端に少なくとも一部分が接触するように透明導
電膜からなる画素電極を形成し、 前記画素電極の表示に係る部分を避けて前記接続端と接
触する前記画素電極のコンタクト部を選択的に水素プラ
ズマに暴露して、前記コンタクト部の透明導電膜の組成
を、前記画素電極の表示に係る部分の透明導電膜の組成
の酸素含有量に比較して低い酸素含有量とすることを特
徴とする画像表示装置の製造方法。
2. A thin film switching element having a connection end made of a semiconductor material is formed on an insulating substrate by combining thin films, and a pixel electrode made of a transparent conductive film is formed so that at least a part of the connection end contacts the connection end. The contact portion of the pixel electrode contacting the connection end is selectively exposed to hydrogen plasma while avoiding the display portion of the pixel electrode, and the composition of the transparent conductive film of the contact portion is changed to display the pixel electrode. The method for producing an image display device, wherein the oxygen content is lower than the oxygen content of the composition of the transparent conductive film in the portion related to.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6649936B1 (en) * 1999-03-16 2003-11-18 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Thin-film transistor substrate and liquid crystal display
KR100752212B1 (en) * 2000-12-29 2007-08-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Fabrication Method for Liquid crystal Display Device

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