JPH06265404A - 相互反射演算装置 - Google Patents

相互反射演算装置

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Publication number
JPH06265404A
JPH06265404A JP5445593A JP5445593A JPH06265404A JP H06265404 A JPH06265404 A JP H06265404A JP 5445593 A JP5445593 A JP 5445593A JP 5445593 A JP5445593 A JP 5445593A JP H06265404 A JPH06265404 A JP H06265404A
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JP
Japan
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illuminance
calculation
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data
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Application number
JP5445593A
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English (en)
Inventor
Kenichi Suzuki
健一 鈴木
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5445593A priority Critical patent/JPH06265404A/ja
Publication of JPH06265404A publication Critical patent/JPH06265404A/ja
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】積分球内の遮光板などの形状が異なっても同一
の演算を用いて計算でき、しかも計算時間が長くなると
いう問題もなく、相互反射計算の高精度化を図る。 【構成】要素面属性データ3、要素面位置データ4を用
いて形態係数演算装置1により、要素面i内の点より要
素面jをみた場合に要素面jのうちで観測される部分を
抽出し、この抽出部分に対して単位光束発散度を与えて
照明した場合に要素面i上の点に生じる照度値を算出
し、この照度値を要素面jの要素面iに対する形態係数
とし、これと要素面反射率データ5、要素面初期照度デ
ータ6、相互反射計算打ち切り条件データ7を用いて相
互反射計算装置2により、要素面iと要素面j間の相互
反射演算を行い、反射回数毎の拡散照度から算出される
拡散照度の変化率が所定の反射回数以降一定に収束する
ことを考慮に入れて、要素面iにおける最終的な照度を
求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光放射測定の分野で広
く使用されている積分球の測定誤差を補正するために必
要な積分球の反射特性を計算する相互反射演算装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】電球や各種放電ランプの開発や品質管理
においては、ランプの全光束値を正確に測定することが
重要となる。ランプの全光束を測定する場合、一般には
球形光束計が用いられる。球形光束計は、壁面の一部に
測光窓を設けた積分球と、この窓の透過光を測定する分
光測定装置と、積分球内部で被測定ランプを保持・点灯
するための治具と、被測定ランプを点灯したときに、被
測定ランプから積分球測光窓への直射光を遮光するため
の遮光板などから構成される装置であり、被測定ランプ
点灯時において積分球内壁面の照度が積分球内部の相互
反射によって均一になるように、積分球内は全て白色拡
散面になっている。実際の全光束測定では、全光束値が
既知である全光束標準ランプとの比較測定によって、被
測定ランプの全光束を測定する。球形光束計は、被測定
ランプを球内において点灯させるために明室においても
測定ができるため、全光束測定ばかりでなく、測光窓に
分光測定装置を取り付けて分光分布の測定などにも利用
されており、ランプの製造工場や開発部門などにおいて
は広く球形光束計を使用している。
【0003】しかしながら、球形光束計内部に塗装され
ている白色拡散面の反射率が100%でなく、しかも波
長選択性があること、内部に遮光板があるために相互反
射が充分に行われないことの理由により、標準ランプと
被測定ランプの分光分布、配光、自己吸収などが異なる
と測定誤差が大きくなってしまうため、球形光束計は簡
易測定器として扱われている。
【0004】一方、これらの測定誤差を補正して全光束
を精度良く測定する装置が先に提案された(特願平4−
123011)。この装置は、球形光束計を用いて、積
分球の分光特性と相互反射特性を補正して全光束を算出
する装置であり、この装置により、従来簡易計測器とし
て扱われてきた球形光束計を用いて高精度な全光束や分
光放射束の測定を行なうことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、相互反射特性
を計算する場合(たとえば、A.C.M.de VISSER and M. v
an der WOUDE:Minimization of the screen effect in
the integrating sphere by variation of the reflec
tion factor,Lighting Research & Technology,Vol.12,
No.1(1980)42)、積分球内の遮光板などの形状などが異
なると、それぞれについて演算式が異なってしまうとい
った問題点があった。また、相互反射計算においては、
計算打ち切り条件によって計算誤差が生じたり、反射率
が高くなるにつれて計算時間が長くなるといった問題点
があった。
【0006】本発明は上記問題点を解決するもので、積
分球内の遮光板などの形状などが異なっても同一の演算
式を用いて計算でき、しかも計算時間が長くなるような
ことがなく相互反射計算の高精度化を図ることができる
相互反射演算装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の相互反射演算装置は、積分球内の遮光板など
の形状などが異なると、それぞれについて演算式が異な
ってしまうといった問題点については、積分球内の反射
面を分割し、分割面の位置の相互関係から各要素面につ
いて照明計算を行うことにより分割面間の相互反射計算
に用いる形態係数を求め、これを用いて相互反射計算を
行うことにより解決するようにしたものである。また、
相互反射計算の計算打ち切り条件によって計算誤差が生
じたり、反射率が高くなるにつれて計算時間が長くなる
といった問題点については、相互反射計算時において、
反射回数毎の拡散照度から算出される拡散照度の変化率
を求め、この変化率が一定に収束する反射回数以降の相
互反射計算を、前記変化率を公比とする無限等比級数和
を求めることで解決するようにしたものである。
【0008】
【作用】半径Rの積分球において、内壁面や遮光板など
の球形光束計内の反射面全体をn個に分割し、要素面内
においては照度および反射率が一様の均等拡散反射面で
あるとする。i番目の要素面の照度、輝度、反射率、面
積をそれぞれEi 、Li、ρi 、Si (i=1, 2,・・・
・,n)とするとき、j番目の要素面がi番目の要素面に
与える照度Ei は次の(1)式で表わすことができる
(たとえば、ライティングハンドブック(オーム社)第
230頁から第234頁)。
【0009】
【数1】
【0010】ここで、Fjiは要素面jの要素面iに対す
る形態係数とよばれる係数であり、要素面jが単位光束
発散度を有するときの要素面iが要素面jにより受ける
照度値であり、要素面の大きさや形状、要素面間の位置
関係、要素面間に存在する遮光物体の大きさや形状およ
び遮光物体の要素面間での位置関係によって決定され
る。内部に遮光物体がない場合の積分球では内壁面の場
所によらず、形態係数F jiは、 Fji = Sj /4πR2 …(2) (Sj は照射面の面積、Rは積分球の半径)なる、
(2)式で計算される値になる。いま、球形光束計内の
光源により要素面iに生じる照度をE0iとし、a回目の
反射による照度の増加分をEaiとすると、相互反射によ
る要素面iにおける最終的な照度Ei は、次の(3)式
のようになる。
【0011】
【数2】
【0012】また、Eaiは(1)式より次の(4)式の
ようになる。
【0013】
【数3】
【0014】(3)式と(4)式より、次の(5)式が
得られる。
【0015】
【数4】
【0016】したがって、球形光束計内の各要素面にお
ける最終的な照度は、各要素面間のFjiなる形態係数を
計算し、光源の位置や配光特性などから各要素面におけ
るE 01なる直射照度を求めれば、(5)式にて算出する
ことができる。(5)式において、E0iは初期値、
i 、E(a-1)jは計算値、ρj は設定値であるから、
(5)式を計算するためには、まず、形態係数Fjiを求
めることが必要となる。上述したように、要素面jの要
素面iに対する形態係数Fjiは、要素面jが単位光束発
散度を有するときの要素面iが要素面jにより受ける照
度値であり、要素面の大きさや形状、要素面間の位置関
係、要素面間に存在する遮光物体の大きさや形状および
遮光物体の要素面間での位置関係によって決定される。
したがって、このような場合の照度計算(たとえば、西
田、中前:影を考慮した面光源による照度の計算とその
表示法, 照明学会誌,Vol.68,No.2(1984)61)を行うこと
で形態係数Fjiを求めることができる。
【0017】要素間に遮光物体がない場合の形態係数の
計算方法について述べる。要素面間に遮光物体がない場
合の形態係数Fjiは要素jの反射光を二次光源にみたて
た場合の要素iへの直射照度を計算すればよい。まず、
要素面どうしが向かい合っているか否かを判別する。要
素面が向かい合っていなければ、一方の要素面の光束発
散度が他方の要素面に照度を与えることがないので、こ
の場合は、形態係数F jiは常に0となる。要素面が向か
い合っている場合の形態係数の計算においては、積分球
内壁面間の場合と、内壁面−遮光板間の場合に分けると
計算の効率がよい。内壁面要素i要素j間における、要
素jの要素iに対する形態係数Fjiは(2)式より求め
ることができる。(2)式において、分母は内壁面の表
面積を表わしていることから、壁面間の形態係数Fji
壁面全体の表面積4πR2 に対する二次光源の要素面の
面積Sj の比となることがわかる。内壁面−遮光板間に
おける形態係数の算出方法においては、二次光源とみな
す要素は輝度が一様な面光源であるから、この場合の照
度計算方法としては境界積分法(たとえば、ライティン
グハンドブック(オーム社)第223頁から第225
頁)を用いて計算することができる。
【0018】要素面間に遮光物体がある場合には、遮光
物体により光が完全に遮光されてしまう場合と一部の光
が遮光される場合とに分けることができる。前者の場合
に、要素面jによって要素面iには照度は生じることは
ないので、形態係数Fjiは常に0である。後者の場合に
は、要素面jにおいて要素面iよりみることのできる部
分を抽出して、それぞれみることのできる部分について
前述の境界積分法により形態係数を算出すればよい。
【0019】球形光束計の相互反射は(5)式により計
算することができることは先に述べた。(5)式は無限
級数和の式であるが、壁面照度は(5)式における反射
率ρ j によって収束していく(0になる)ために、計算
精度に応じて計算打ち切り条件を設けることで計算する
ことができる。一般には、照度値や光束値に対する一定
の割合をしきい値にする方法がよく用いられるが、反射
率の大きさによって計算時間が異なったり、反射率が高
い場合には計算時間が長くなるといった問題がある。た
とえば、拡散照度が単純に等比級数で表わされる場合を
考えても、計算打ち切り条件に至るまでの反射回数は反
射率(公比)が100%に近づくにつれて、打ち切り条
件に至るまでの反射回数は指数的に増大することにな
る。いま、次式の、 rai=E(a+1)i/Eai …(6) よりなる(6)式により計算される、要素面iにおける
a回反射後の拡散照度の増加分Eaiと(a+1)回反射
後の拡散照度E(a+1)iの増加分との変化に着目し、この
拡散照度の変化率を実効反射率raiと定義することと
し、この実効反射率raiについて、様々な解析モデル、
要素面位置、反射率について計算した結果、以下のこと
が明らかになった。 (1) 実効反射率raiは内壁面や遮光板などの反射率の大
きさにかかわらずほぼ同じ反射回数で特定の値に収束す
る。 (2) 光源の配光特性を変化させても(要素面の初期照度
値を変化させても)収束値や収束するまでの反射回数は
ほとんど変化しない。
【0020】したがって、実効反射率raiは内壁面や遮
光板の反射率や光源の配光特性によらず、解析モデルに
対応して一定の反射回数において収束し、収束値は各反
射率に対して特定の値を持つものと考えられる。この収
束値を要素iにおける飽和実効反射率ri とすると、実
効反射率収束後の拡散照度は飽和実効反射率に応じて減
衰していくので、飽和実効反射率を公比とする等比級数
として考えることができて、結局、最終照度における実
効反射率収束後分の照度Esiは、次の(7)式のように
なる。
【0021】
【数5】
【0022】ここで、bは収束するまでの反射回数であ
り、Ebiは実効反射率収束時の拡散照度を表わしてい
る。また、要素iにおける最終的な照度値は(5)式、
(7)式から次の(8)式のようになる。
【0023】
【数6】
【0024】したがって、各反射回数毎に実効反射率を
算出して、収束するときの拡散照度Ebiと飽和実効反射
率ri を求めることにより、(8)式より要素iにおけ
る最終的な照度Ei を求めることができる。
【0025】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の第1の実施例である相互反射演算
装置の概要図である。図1において、1は形態係数演算
装置、2は相互反射計算装置、3は要素面属性データ、
4は要素面位置データ、5は要素面反射率データ、6は
要素面初期照度データ、7は相互反射計算打ち切り条件
データである。
【0026】形態係数演算装置1は、n個(n>1)に
分割された反射面要素i(i=1,2,・・・,n)に
おける、要素面属性データ3と要素面位置データ4を入
力し、図2に示す流れに基づいて以下に示す手順にて演
算を行い、要素面jの要素面iに対する形態係数F
ij(i=1,2,・・・,n,j=1,2,・・・,
n)を出力する。まず、要素面属性データ3によって照
射面としての要素面jと被照射面としての要素面iのそ
れぞれが、積分球内壁面や遮光板のいずれであるかを判
断する(ブロック8)。照射面と被照射面の関係が、積
分球内壁面と積分球内壁面である場合(間に遮光板が位
置しない)には、図3に示す演算Aの流れに基づく処理
が行われ(ブロック9)、積分球内壁面と遮光板もしく
は遮光板と積分球内壁面である場合には、図4に示す演
算Bの流れに基づく処理が行われ、(ブロック10およ
びブロック11)、照射面と被照射面の関係が、遮光板
と遮光板である場合には、図5に示す演算Cの流れに基
づく処理が行われる(ブロック12)ことにより、それ
ぞれの場合における形態係数を算出し出力する。
【0027】図3に示す演算Aは、積分球内壁面内の要
素面間の形態係数を算出するための流れである。一般
に、積分球内壁面間で相互反射によって光束の伝達を行
う場合には、全ての光束が伝達される場合と、壁面間に
遮光板が位置するために全ての光束が伝達されない場合
と、一部の光束が伝達される場合の3通りの状態があ
る。したがって、積分球内壁面である照射面の要素面j
からの光束がどのように積分球内壁面である被照射面で
ある要素面iへ伝わるかを判断するためにまず、要素面
i内の任意の点を要素面位置データ4を用いて算出し
(ブロック13)、その点を視点としたときに、要素面
属性データ3および要素面位置データ4より計算される
遮光板の大きさや形状および位置関係から、要素面jが
全く隠れないか、一部隠れるか、全て隠れるかを判断す
る(ブロック14)。要素面が全く隠れない場合には、
(2)式によって形態係数Fjiを計算する(ブロック1
5)。全て隠れる場合には、光束の伝達が行われないか
ら、形態係数Fjiは常に0となる(ブロック17)。ま
た、一部隠れる場合には、視点より観ることのできる要
素面jの部分を抽出し、この見える部分の全ての面につ
いて、視点における形態係数を、次の(9)式よりなる
関係式より算出する(ステップ16)。
【0028】
【数7】
【0029】ここで、mは抽出された部分を構成する境
界線分、βk は図7においてPQkとPQk+1 の張る
角、σk は図7においてP、Qk 、Qk+1 からなる面と
被照面とのなす角をあらわす。図4に示す演算Bは、積
分球内壁面内の要素面と遮光板内の要素面との形態係数
を算出するための流れである。積分球内壁面と遮光板と
の光束の伝達には、相互の面が向かい合っているか否か
が重要となる。したがって、要素面iと要素面jが向か
い合っているか否かを判断し(ブロック18)、向かい
合っていない場合には光束の伝達が行なわれないので、
形態係数Fjiは常に0となる(ブロック21)。また、
向かい合っている場合には、要素面i内の任意の点を要
素面位置データ4を用いて算出し(ブロック19)、こ
の点における形態係数Fjiを(9)式によって求めれば
よい。図5に示す演算Cは、遮光板の要素面間の形態係
数を算出するための流れである。一般に、遮光板は平面
に近似されるが、平面においては光束の伝達が行なわれ
ないために、形態係数Fjiは常に0となる(ブロック2
2)。
【0030】なお、要素面i内の任意の点は、要素面の
重心になるようにするとよい。また、遮光板が平面でな
い場合には、遮光板の要素面間の演算を演算Bにて行な
えばよい。このように、形態係数演算装置1により出力
された形態係数Fjiは、図1において、要素面反射率デ
ータ5、要素面初期照度データ6、および相互反射計算
打ち切り条件データ7とともに、相互反射計算装置2に
入力され、図6に示す流れに基づいた演算処理が行なわ
れ、要素面i(i=1,2,・・・,n)における最終
的な照度値Ei が出力される。図6において、要素面初
期照度データ6から初期光束Ф0 が計算される(ブロッ
ク23)。要素面初期照度データ6を初期値として
(4)式にて相互反射による要素面i(i=1,2,・
・・,n)の拡散照度の増分E1iを計算し(ブロック2
4)、このE1iを用い次の(10)式から反射光束Фr
を算出する(ブロック25)。
【0031】
【数8】
【0032】そして反射光束Фr と初期光束Ф0 とを比
較して、相互反射計算打ち切り条件データ7より入力さ
れた打ち切り条件εを満たしているか否かを判断し(ブ
ロック26)、条件を満たすまで(4)式なる相互反射
計算が繰り返され、最終的に、要素面i(i=1,2,
・・・,n)における最終的な照度値Ei が出力され
る。
【0033】図8は本発明の第2の実施例である形態係
数演算装置の処理の流れ図である。図8は以下に示す手
順にて演算を行い、要素面jの要素面iに対する形態係
数Fij(i=1,2,・・・,n,j=1,2,・・
・,n)を出力する。まず、要素面属性データ3によっ
て照射面としての要素面jと被照射面としての要素面i
のそれぞれが、積分球内壁面や遮光板のいずれであるか
を判断する(ブロック27)。照射面と被照射面の関係
が、積分球内壁面と積分球内壁面である場合には、図9
に示す演算Dの流れに基づく処理が行われ(ブロック2
8)、積分球内壁面と遮光板もしくは遮光板と積分球内
壁面である場合には、図10に示す演算Eの流れに基づ
く処理が行われ(ブロック29およびブロック30)、
照射面と被照射面の関係が、遮光板と遮光板である場合
には、図5に示す演算Cの流れに基づく処理が行われる
(ブロック31)ことにより、それぞれの場合における
形態係数を算出し出力する。
【0034】図9に示す演算Dは、図3に示す演算Aの
流れを改良したものであり、被照射面をm個(m>1)
に分割してそれぞれの分割面における形態係数F
ijk (k=1,2,・・・,m)を求め、m個の形態係
数Fijk の平均値を形態係数Fijとする流れである。図
10に示す演算Eは、図4に示す演算Bの流れを改良し
たものであり、演算Aと演算Dの関係と同様に、被照射
面をm個(m>1)に分割してそれぞれの分割面におけ
る形態係数Fijk (k=1,2,・・・,m)を求め、
m個の形態係数Fijk の平均値を形態係数Fijとする流
れである。
【0035】図11は本発明の第3の実施例である相互
反射計算装置の処理の流れ図である。形態係数演算装置
1により出力された形態係数Fjiは、要素面反射率デー
タ5、要素面初期照度データ6、および相互反射計算打
ち切り条件データ7とともに、相互反射計算装置2に入
力され、図11に示す流れに基づいた演算処理が行わ
れ、要素面i(i=1,2,・・・,n)における最終
的な照度値Ei が出力される。まず、要素面初期照度デ
ータ6を初期値として(4)式にて相互反射による要素
面i(i=1,2,・・・,n)の拡散照度の増分Eai
を計算する(ブロック44)。反射回数aが2回をこえ
るか否かを判断し(ブロック45)、こえる場合には
(6)式より実効反射率r(a-1)iを計算する(ブロック
46)。さらに、反射回数aが3回をこえるか否かを判
断し(ブロック47)、こえる場合には実効反射率r
(a-1)iの変化量が計算打ち切り条件ε未満であるか判断
する(ブロック48)。計算打ち切り条件を満たす場合
には、実効反射率が飽和した回数b、要素iにおけるb
回反射後の拡散照度の増加分Ebi、r(a-1)iの収束値r
iを代入して(ブロック49)、(8)式よりEi を算
出し、出力する(ブロック50)。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、要素面i
内の点より要素面jをみた場合に前記要素面jのうちで
観測される部分を抽出し、この抽出部分に対して単位光
束発散度を与えて照明した場合に前記要素面i上の点に
生じる照度値を算出し、この照度を前記要素面jの前記
要素面iに対する形態係数として要素面iと要素面j間
の相互反射演算を行うので、積分球内の遮光板などの形
状などが異なっても、同一の演算を用いて計算すること
ができ、さらに被照射面を分割してそれぞれの分割面で
求めた形態係数の平均値を用いることにより、形態係数
の計算精度を向上することができて、相互反射計算の計
算精度をさらに向上させることができる。
【0037】また、相互反射計算時において、反射回数
毎の拡散照度から算出される拡散照度の変化率を求め、
この変化率が一定に収束する反射回数以降の相互反射計
算を、前記変化率を公比とする無限等比級数和を求める
ことにより行い、これにより、相互反射計算の計算打ち
切り条件によって計算誤差が生じたり、反射率が高くな
るにつれて計算時間が長くなるといった問題点を解決す
ることができ、相互反射計算の高精度化を図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の相互反射演算装置の概
要図
【図2】同第1の実施例の相互反射演算装置における形
態係数演算装置の処理の流れ図
【図3】同第1の実施例の相互反射演算装置における形
態係数演算装置演算Aの処理の流れ図
【図4】同第1の実施例の相互反射演算装置における形
態係数演算装置演算Bの処理の流れ図
【図5】同第1の実施例の相互反射演算装置における形
態係数演算装置演算Cの処理の流れ図
【図6】同第1の実施例の相互反射演算装置における相
互反射計算装置の処理の流れ図
【図7】境界積分法を説明する概略図
【図8】本発明の第2の実施例の相互反射演算装置にお
ける形態係数演算装置の処理の流れ図
【図9】同第2の実施例の相互反射演算装置における形
態係数演算装置演算Dの処理の流れ図
【図10】同第2の実施例の相互反射演算装置における
形態係数演算装置演算Eの処理の流れ図
【図11】同第3の実施例の相互反射演算装置における
相互反射計算装置の処理の流れ図
【符号の説明】
1 形態係数演算装置 2 相互反射計算装置 3 要素面属性データ 4 要素面位置データ 5 要素面反射率データ 6 要素面初期照度データ 7 相互反射計算打ち切り条件データ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に遮光板を有する積分球の反射面を
    n個(n>1)の要素面に分割した場合の要素面i(i
    =1,2,・・・・,n)と要素面j(j=1,2,・
    ・・・,n)間の相互反射計算において、前記要素面i
    内の点より前記要素面jを観た場合に前記要素面jのう
    ちで観測される部分を要素面の属性データと要素面の位
    置データとから抽出し、前記抽出部分に対して単位光束
    発散度を与えて照明した場合に前記要素面i上の点に生
    じる照度値を算出し、この照度値を前記要素面jの前記
    要素面iに対する形態係数として出力する形態係数演算
    装置と、この形態係数と要素面の反射率データと要素面
    の初期照度データと相互反射計算打ち切り条件データと
    から要素面iと要素面j間の相互反射演算を行う相互反
    射計算装置を備えたことを特徴とした相互反射演算装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の相互反射演算装置にお
    いて、要素面i上の点における照度値を形態係数とする
    かわりに、前記要素面i内において少なくとも異なる3
    箇所以上の点での照度値群を求め、前記照度値群から前
    記要素面i内における照度分布を類推し、前記類推され
    た照度分布より平均照度を算出し、前記平均照度を形態
    係数として用いることを特徴とした相互反射演算装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の相互反射演算
    装置において、 rai = E(a+1)i / Eai (ここで、Eaiは要素面iにおけるa回反射後の拡散照
    度の増分を、E(a+1)iは要素面iにおける(a+1)回
    反射後の拡散照度の増分をあらわす)なる演算により出
    力されるraiの変化量を逐次計算し、raiが収束すると
    きの反射回数をb回とするとき、 (ここで、Ei は要素面iにおける最終的な照度、E0i
    要素面iにおける初期照度、Fjiは要素面jの要素面i
    に対する形態係数、ρj は要素面jにおける反射率、E
    (a-1)jは要素面jにおける(a−1)回反射後の拡散照
    度の増加分、Ebiは要素面iにおけるb回反射後の拡散
    照度の増加分、ri はraiの収束値をあらわす)なる関
    係により相互反射計算を行うことを特徴とした相互反射
    演算装置。
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