JPH06253151A - Image sampling correction system for register matching for multiplexed image forming device - Google Patents

Image sampling correction system for register matching for multiplexed image forming device

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JPH06253151A
JPH06253151A JP5005579A JP557993A JPH06253151A JP H06253151 A JPH06253151 A JP H06253151A JP 5005579 A JP5005579 A JP 5005579A JP 557993 A JP557993 A JP 557993A JP H06253151 A JPH06253151 A JP H06253151A
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image
sampling
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registration
data
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浩三 田川
Hirotaka Mori
浩隆 森
Makoto Ando
良 安藤
Hideaki Ashikaga
英昭 足利
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Abstract

PURPOSE:To attain high speed sampling and smoothing arithmetic operation processing by improving a register matching image sampling correction system for the multiplexed image forming device. CONSTITUTION:The system is provided with each image output means 8, its output control means 7, a pattern generator 6 generating repetitively a rough or an accurate pattern for register deviation measurement in the main scanning direction and subscanning direction respectively, a sampling means 3 and a sampling control means 2 executed at both sides of a transfer belt 9 in the main scanning direction, an arithmetic operation processing means 5 receiving sampling data and calculating register deviation, and a sampling data storage means 4, and when image sampling correction is controlled, the control means 1 selects a register deviation measurement pattern generated from the pattern generator in response to the mode as to whether it is the rough adjustment mode or the fine-adjustment mode, sets a sample start point and a sample width of the sampling control means 2, generates the repetitive register deviation measurement pattern and integrates sampling data or arithmetic operation processing data to obtain a pattern position.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、複数個の画像出力手段
を転写ベルトに沿って配設して多重画像を形成する多重
画像形成装置のレジ合わせを行うためのレジ合わせ画像
サンプリング補正方式に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a registration image sampling / correction method for registering a multiple image forming apparatus which forms a multiple image by arranging a plurality of image output means along a transfer belt. .

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ドキュメントを扱う複写機、プリ
ンター、ファックス等のカラー化が急速に進み、オフィ
スにおけるドキュメントがカラー化されてきた。これら
カラードキュメントを扱う機器は、今後更に高速化され
る傾向にある。
2. Description of the Related Art In recent years, colorization of copiers, printers, fax machines, etc., which handle documents has progressed rapidly, and documents in offices have been colorized. Devices that handle these color documents tend to be further speeded up in the future.

【0003】カラードキュメントを扱う機器としては、
例えば黒(K)、イエロー(Y)、マゼンタ(M)、サ
イアン(C)の各色毎に4つのROS(Raster Outpu
t Scanner)を持つ、いわゆるタンデムカラープリンタ
ーが提案されている(例えば特開平1−142674号
公報、特開平1−142680号公報、特開平1−18
3676号公報、特開平1−281468号公報等)。
しかし、このタンデムカラープリンターは、複数個の別
々のROSが一つの画像を形成する方式であるがため
に、紙づまりやその他の異常動作の発生により、ユーザ
やサービスマンが画像形成装置の一部を本来の画像形成
時の位置から一時的に移動させたり、それらの部品を交
換した後に元の位置に復帰させたり、さらには温度の変
化や経時変化、衝撃があった場合、それら2つの位置関
係に微妙な誤差を生じ、各色のレジずれが発生するとい
うことが大きな問題がある。
As a device for handling color documents,
For example, four ROSs (Raster Outpu) for each color of black (K), yellow (Y), magenta (M), and cyan (C).
A so-called tandem color printer having a tscanner has been proposed (for example, JP-A-1-142674, JP-A-1-142680, JP-A-1-18).
3676, JP-A-1-281468, etc.).
However, since this tandem color printer is a method in which a plurality of separate ROSs form one image, a paper jam or other abnormal operation may cause a user or a service person to make a part of the image forming apparatus. Temporarily move from the original image forming position, return to the original position after exchanging those parts, and if there is a change in temperature, a change with time, or an impact, these two positions There is a big problem that a subtle error occurs in the relationship and a misregistration of each color occurs.

【0004】レジずれの要因には、ROSのスキャンす
る主走査方向のずれ成分、転写部材搬送ベルトの搬送方
向、即ち副走査方向のずれ成分、ROSのスキャン方向
の像の伸び縮み、即ちROSのスキャン倍率のずれ成
分、ROSのスキャン方向の角度のずれ、即ちROSの
スキューずれ成分等がある。
The cause of the registration deviation is a deviation component in the main scanning direction of scanning by the ROS, a deviation component in the conveying direction of the transfer member conveying belt, that is, a deviation component in the sub-scanning direction, and an expansion / contraction of an image in the scanning direction of the ROS, ie, ROS There are scan magnification shift components, ROS scan angle shifts, that is, ROS skew shift components.

【0005】そこで、各ROSによって予め決められた
像位置認識用パターンをパターンジェネレーターから一
定の決まりに従って出力し、その像位置認識用パターン
をそれらのROSの下流に配したCCDによって、予め
決められたタイミングでサンプリングする。実際にCC
Dによってサンプリングされた各色の像位置認識用パタ
ーンのサンプリングデータの位置関係に、予め決められ
た各色の像位置認識用パターンの色ずれが無かったと仮
定した時に得られると期待される位置関係と、どれだけ
の差異があるのかを検出し、その検出データーから各色
ののレジずれ量を演算する。その結果をもってROSの
書き込みタイミング等を補正することでレジずれの少な
い高品質な画質を提供するという方法が提案されてい
る。
Therefore, the image position recognition pattern predetermined by each ROS is output from the pattern generator according to a certain rule, and the image position recognition pattern is predetermined by the CCD arranged downstream of those ROSs. Sampling at timing. Actually CC
The positional relationship expected to be obtained when it is assumed that there is no color shift of the image position recognition pattern of each color determined in advance in the positional relationship of the sampling data of the image position recognition pattern of each color sampled by D, The amount of difference is detected, and the registration deviation amount of each color is calculated from the detected data. A method has been proposed in which a high quality image with less registration deviation is provided by correcting the write timing of the ROS based on the result.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
方法は、各ROSからある一定の決まりに従って出力さ
れたレジずれ測定用パターンをそれらの下流に配置した
CCDによってサンプリングする場合、以下のような問
題があった。
However, the conventional method has the following problems when the registration deviation measuring pattern output from each ROS according to a certain rule is sampled by the CCD arranged downstream thereof. was there.

【0007】.レジずれ量の検出精度を上げようとす
ると、CCDのサンプリングスピードを上げなければな
らない。また、より細かいステップで高精度のレジずれ
補正をしようとすると、さらにCCDのサンプリングス
ピードを上げなければならない。ところが、CCDのサ
ンプリングスピードを上げると、通常アクセススピード
の遅いCPU周辺メモリが使えなくなる。そこで、CP
U周辺メモリに高速メモリを使うと、CPUがバスを使
用できなくなってしまうという欠点があった。
[0007]. In order to increase the accuracy of detecting the registration shift amount, the sampling speed of the CCD must be increased. Further, in order to perform highly accurate registration shift correction in finer steps, it is necessary to further increase the sampling speed of the CCD. However, if the sampling speed of the CCD is increased, the CPU peripheral memory, which usually has a slow access speed, cannot be used. So CP
If a high-speed memory is used as the U peripheral memory, the CPU cannot use the bus.

【0008】.主走査方向のレジずれ測定用パターン
と、副走査方向のレジずれ測定用パターンの両方を測定
するようなレジずれ測定系において、例えば幾つかの副
走査方向のレジずれ測定用パターンのサンプリングの間
に主走査方向のレジずれ測定用パターンのサンプリング
が入ってくるような場合、副走査方向のレジずれ測定用
パターンの画像データ処理の上に、主走査方向のレジず
れ測定用パターンの画像データ処理が上乗せされる形に
なってしまう。そのため、CPUの演算処理が集中し、
高価なCPUを用いたり、通常のCPUの稼働率を低く
抑えておく必要があった。さらに、レジずれ測定用パタ
ーンのサンプリング間隔(パターンの周期)をCPUの
演算処理が集中するところで制限されてしまうため、周
波数の高い変動するカラーレジ振動成分を捉えることが
困難であるという欠点があった。
[0008] In a registration deviation measuring system that measures both the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction and the registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction, for example, during sampling of some registration deviation measuring patterns in the sub-scanning direction. When sampling of the registration deviation measurement pattern in the main scanning direction occurs, the image data processing of the registration deviation measurement pattern in the main scanning direction is performed on top of the image data processing of the registration deviation measurement pattern in the sub-scanning direction. Will be added to the form. Therefore, the calculation processing of the CPU is concentrated,
It is necessary to use an expensive CPU or to keep the operating rate of a normal CPU low. Further, since the sampling interval (pattern cycle) of the registration deviation measurement pattern is limited where the calculation processing of the CPU is concentrated, there is a drawback that it is difficult to capture a color registration vibration component having a high frequency. It was

【0009】.CCDを複数個使用してレジずれ測定
用パターンをサンプリングする場合、ひとつのRAMを
共有して使用すると、それぞれのCCDがレジずれ測定
用パターンをサンプリングするタイミングが重複しない
よう厳密に管理しなければならず、そのため、周波数の
高い変動するカラーレジ振動成分を捉える目的でパター
ンの間隔を縮めることができないという欠点があった。
[0009]. When a plurality of CCDs are used to sample the registration deviation measurement pattern, if one RAM is shared and used, it is necessary to strictly manage so that the timings at which the CCDs register the registration deviation measurement pattern do not overlap. As a result, the pattern interval cannot be shortened for the purpose of capturing the color registration vibration component having a high frequency and fluctuating.

【0010】.レジずれ測定用パターンのサンプリン
グ後の像位置決定に際して、例えば重心法等を用いた高
度な像位置決定方法が採られた場合、その演算及び処理
にかかる時間は膨大なものになる。その結果として、膨
大なメモリを必要としたり、サンプリング後の演算及び
処理にかかる時間のため、そのシステムに要する時間が
膨大なものになったり、処理時間が追いつかず周波数の
高い変動するカラーレジ振動成分を捉えることが困難で
あるという欠点があった。
[0010]. When an image position is determined after sampling the registration displacement measurement pattern, for example, if a sophisticated image position determining method using the center of gravity method or the like is adopted, the time required for the calculation and processing becomes enormous. As a result, an enormous amount of memory is required, the time required for the calculation and processing after sampling is enormous, and the processing time is too long to catch up with. There was a drawback that it was difficult to capture the ingredients.

【0011】さらには、装置固有の一定位置ずれ(以下
DC成分ずれという)、変動位置ずれ(以下AC成分ず
れという)の起こったレジずれ測定用パターンを確実に
サンプリングするために、CCDからの出力データをサ
ンプリングすると、サンプル幅が大きくなり、莫大なメ
モリを必要とし、しかもそのデータを処理するためにサ
ンプリング後に莫大なデータ処理時間を必要とする。
Furthermore, in order to reliably sample the registration deviation measuring pattern in which a fixed positional deviation (hereinafter referred to as a DC component deviation) and a variable positional deviation (hereinafter referred to as an AC component deviation) peculiar to the apparatus have occurred, an output from the CCD is output. Sampling the data increases the sample width, requires a huge amount of memory, and requires a huge amount of data processing time after sampling to process the data.

【0012】また、タンデムカラープリンタでは、搬送
ベルト速度バラツキ、搬送ベルトウォーク(主走査方向
ずれ)バラツキ、転写ドラム回転バラツキ等、AC成分
ずれが無視できないほど大きい。そして、これらAC成
分ずれをとってしまわないと本来の目的であるDC成分
ずれを測定できない。AC成分ずれをとる方法は、例え
ばずれの周波数に影響を受けにくい周波数の2倍の幅
(既知であるサンプリング定理)をレジずれ測定用パタ
ーンとし、これを繰り返して平均をとることでほぼDC
成分ずれだけの測定が可能となる。しかし、従来の方法
では、レジずれ測定用パターンを確実にサンプリングす
るためのサンプル幅が大きいために、レジずれ測定用パ
ターンの各々のパターンピッチも大きくなってしまい、
レジずれ測定用パターン自体の幅を小さくできなかっ
た。
Further, in the tandem color printer, the AC component deviation, such as the deviation of the conveyor belt speed, the deviation of the conveyor belt walk (deviation in the main scanning direction), and the deviation of the transfer drum rotation, are so large that they cannot be ignored. If these AC component deviations are not taken, the original purpose DC component deviation cannot be measured. A method of obtaining the AC component shift is, for example, a register shift measurement pattern having a width twice as large as a frequency (known sampling theorem) that is not easily influenced by the shift frequency, and is repeated to obtain an average to obtain a DC
Only the component deviation can be measured. However, in the conventional method, since the sample width for reliably sampling the registration deviation measurement pattern is large, the pattern pitch of each of the registration deviation measurement patterns also becomes large,
The width of the registration shift measuring pattern itself could not be reduced.

【0013】本発明は、上記の課題を解決するものであ
って、レジずれ測定用パターンの像位置アドレス、レジ
ずれ量を検出精度を高め、高精度のレジずれ補正が可能
な多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正
方式を提供することである。本発明の他の目的は、サン
プルタイミングを効率的な制御によりサンプルデータ量
を少なくし、像位置アドレスを正確に検出できるように
することである。本発明の他の目的は、高速サンプリン
グを可能にすると共にCPUの演算処理の平滑化を可能
にすることである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and improves the detection accuracy of the image position address and the registration deviation amount of the registration deviation measurement pattern, and makes it possible to perform highly accurate registration deviation correction. Is to provide a registration registration image sampling correction method. Another object of the present invention is to reduce the amount of sample data by efficiently controlling the sample timing so that the image position address can be accurately detected. Another object of the present invention is to enable high-speed sampling and smooth operation processing of the CPU.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】そのために本発明は、複
数個の画像出力手段を転写ベルトに沿って配設して多重
画像を形成する多重画像形成装置のレジ合わせを行うた
めのレジ合わせ画像サンプリング補正方式において、各
画像出力手段に画像データを供給し画像形成を制御する
出力制御手段と、各画像出力手段の主走査方向と副走査
方向にそれぞれ粗いレジずれ測定用パターンまたは細か
いレジずれ測定用パターンを繰り返し発生するパターン
ジェネレータと、各画像出力手段によって形成された画
像を転写ベルトの主走査方向の両側でサンプリングする
サンプリング手段と、該サンプリング手段のサンプル開
始ポイント及びサンプル幅を制御するサンプリング制御
手段と、サンプリング手段でサンプリングしたデータを
取り込みレジずれ算出のための演算処理を行う演算処理
手段と、サンプリングデータまたは演算処理データを格
納するデータ格納手段と、画像出力の制御や画像サンプ
リング補正の制御を行う制御手段とを備え、制御手段
は、画像サンプリング補正の制御を行う場合、粗調整モ
ードか微調整モードかに応じてパターンジェネレータの
発生するレジずれ測定用パターンを選択すると共に、サ
ンプリング制御手段のサンプル開始ポイント及びサンプ
ル幅を設定して繰り返しレジずれ測定用パターンを発生
させサンプリングデータまたは演算処理データを積算し
パターン位置を求めるように構成したことを特徴とする
ものである。
To this end, the present invention provides a registration image for registration of a multiple image forming apparatus that forms a multiple image by arranging a plurality of image output means along a transfer belt. In the sampling correction method, output control means for supplying image data to each image output means to control image formation, and coarse registration deviation measurement pattern or fine registration deviation measurement in the main scanning direction and sub-scanning direction of each image output means. Generator for repeatedly generating the use pattern, sampling means for sampling the image formed by each image output means on both sides of the transfer belt in the main scanning direction, and sampling control for controlling the sample start point and sample width of the sampling means. Means and the data sampled by the sampling means are taken in Output processing, data storage means for storing sampling data or arithmetic processing data, and control means for controlling image output and image sampling correction. When controlling the sampling correction, the registration deviation measurement pattern generated by the pattern generator is selected according to the coarse adjustment mode or the fine adjustment mode, and the sampling start point and the sample width of the sampling control means are set to repeat the registration adjustment. The present invention is characterized in that a deviation measuring pattern is generated and sampling data or arithmetic processing data is integrated to obtain a pattern position.

【0015】さらに、データ格納手段として、主走査方
向のレジずれ測定用パターンの像データを記憶する専用
メモリと副走査方向のレジずれ測定用パターンの像デー
タを記憶する専用メモリを有することを特徴とする。
Further, as the data storage means, there is provided a dedicated memory for storing the image data of the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction and a dedicated memory for storing the image data of the registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction. And

【0016】また、演算処理手段は、サンプリング周期
の短い方の像データを優先処理し、残りの像データを分
割処理して処理を分散させるようにし、レジずれ測定用
パターンの基準位置を各サンプル開始ポイント毎に補正
し基準位置とのズレで像データを積算処理し、あるいは
像データをレジずれ測定用パターンか否かを識別し、レ
ジずれ測定用パターンの識別結果により処理データと除
外データとを判別することを特徴とする。
Further, the arithmetic processing means preferentially processes the image data of the shorter sampling period, divides the remaining image data to distribute the processing, and sets the reference position of the registration deviation measuring pattern to each sample. Image data is integrated with the deviation from the reference position by correcting each start point, or it is discriminated whether or not the image data is a registration displacement measurement pattern, and the processed data and exclusion data are identified by the discrimination result of the registration displacement measurement pattern. Is characterized in that

【0017】制御手段は、前のパターンの像位置情報を
基にサンプル開始ポイントを補正すること、レジずれ測
定用パターンの各サンプル開始ポイントの間隔を一定に
し、1サイクル毎に前のパターンの像位置情報を基にサ
ンプル開始ポイントを補正すること、粗調整モードのと
きに粗いレジずれ測定用パターンを選択し、画像出力手
段の感光体ドラムが1周する間のサンプリングデータを
取り込むように制御すること、あるいは微調整モードの
ときに細かいレジずれ測定用パターンを選択し、転写ベ
ルトが1周する間のサンプリングデータを取り込むよう
に制御することを特徴とする。
The control means corrects the sample start point on the basis of the image position information of the previous pattern, makes the interval between the sample start points of the registration deviation measurement pattern constant, and makes the image of the previous pattern for each cycle. The sampling start point is corrected on the basis of the position information, a coarse registration deviation measuring pattern is selected in the coarse adjustment mode, and control is performed so as to capture sampling data during one rotation of the photosensitive drum of the image output means. Alternatively, in the fine adjustment mode, a fine registration shift measuring pattern is selected, and control is performed so as to capture sampling data during one rotation of the transfer belt.

【0018】[0018]

【作用】本発明のレジ合わせ画像サンプリング補正方式
では、各画像出力手段の主走査方向と副走査方向にそれ
ぞれ粗いレジずれ測定用パターンまたは細かいレジずれ
測定用パターンを繰り返し発生するパターンジェネレー
タを用い、制御手段は、画像サンプリング補正の制御を
行う場合、粗調整モードか微調整モードかに応じてパタ
ーンジェネレータの発生するレジずれ測定用パターンを
選択すると共に、サンプリング制御手段のサンプル開始
ポイント及びサンプル幅を設定して繰り返しレジずれ測
定用パターンを発生させサンプリングデータまたは演算
処理データをデータ格納手段に格納して積算しパターン
位置を求めるので、サンプリング数を増やしてもサンプ
ル開始タイミングやサンプル幅の設定を適正に行うこと
ができ、レジずれの補正精度を高めることができる。
In the registration registration image sampling correction method of the present invention, a pattern generator that repeatedly generates a coarse registration deviation measurement pattern or a fine registration deviation measurement pattern in the main scanning direction and the sub scanning direction of each image output means is used. When controlling the image sampling correction, the control unit selects a registration deviation measurement pattern generated by the pattern generator according to the coarse adjustment mode or the fine adjustment mode, and also sets the sample start point and the sample width of the sampling control unit. The pattern start position and the sample width are set properly even if the number of samplings is increased, because the pattern position is calculated by accumulating the sampling data or the calculation processing data in the data storage means by generating the pattern for repeated registration misalignment measurement and storing it in the data storage means. Can be done in the cash register It is possible to improve the correction accuracy.

【0019】さらに、データ格納手段として、主走査方
向のレジずれ測定用パターンの像データを記憶する専用
メモリと副走査方向のレジずれ測定用パターンの像デー
タを記憶する専用メモリを有するので、高速サンプリン
グが可能になる。
Further, as the data storage means, a dedicated memory for storing the image data of the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction and a dedicated memory for storing the image data of the registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction are provided. Sampling becomes possible.

【0020】また、演算処理手段は、サンプリング周期
の短い方の像データを優先処理し、残りの像データを分
割処理して処理を分散させるようにし、レジずれ測定用
パターンの基準位置を各サンプル開始ポイント毎に補正
し基準位置とのズレで像データを積算処理し、あるいは
像データをレジずれ測定用パターンか否かを識別し、レ
ジずれ測定用パターンの識別結果により処理データと除
外データとを判別するので、演算処理時間を平滑化して
単位時間当たりの処理の量を軽減でき、無駄なサンプル
データをなくすことができる。
Further, the arithmetic processing means preferentially processes the image data of the shorter sampling period, divides the remaining image data to distribute the processing, and sets the reference position of the registration deviation measuring pattern to each sample. Image data is integrated with the deviation from the reference position by correcting each start point, or it is discriminated whether or not the image data is a registration displacement measurement pattern, and the processed data and exclusion data are identified by the discrimination result of the registration displacement measurement pattern. Therefore, it is possible to smooth the arithmetic processing time, reduce the amount of processing per unit time, and eliminate useless sample data.

【0021】制御手段は、前のパターンの像位置情報を
基にサンプル開始ポイントを補正すること、レジずれ測
定用パターンの各サンプル開始ポイントの間隔を一定に
し、1サイクル毎に前のパターンの像位置情報を基にサ
ンプル開始ポイントを補正すること、粗調整モードのと
きに粗いレジずれ測定用パターンを選択し、画像出力手
段の転写ドラムが1周する間のサンプリングデータを取
り込むように制御すること、あるいは微調整モードのと
きに細かいレジずれ測定用パターンを選択し、転写ベル
トが1周する間のサンプリングデータを取り込むように
制御することにより、微調であらかた合わせてしまうの
で、パターンを細かくでき、さらに見開きを小さくで
き、演算量を増やさず高いAC成分が検出可能になり、
パターンを見開き範囲内から見失うことなくサンプル効
率を上げることができる。
The control means corrects the sample start point on the basis of the image position information of the previous pattern, makes the interval between the sample start points of the registration deviation measurement pattern constant, and makes the image of the previous pattern for each cycle. Correcting the sample start point based on the position information, selecting a coarse registration deviation measurement pattern in the coarse adjustment mode, and controlling so as to capture sampling data during one rotation of the transfer drum of the image output means. , Or by selecting a fine registration displacement measurement pattern in the fine adjustment mode and controlling so as to capture the sampling data while the transfer belt makes one revolution, it is possible to finely adjust the pattern so that the pattern can be made finer. Furthermore, the spread can be made smaller and high AC components can be detected without increasing the amount of calculation.
Sample efficiency can be improved without losing sight of the pattern within the spread range.

【0022】[0022]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説
明する。図1は本発明に係る多重画像形成装置のレジ合
わせ画像サンプリング補正方式の1実施例構成を示す
図、図2は粗調用パターンの例を示す図、図3は微調用
パターンの例を示す図、図4はレジずれ補正要因を補正
する様子を説明するための図、図5は組立時及びSKE
W粗補正時のレジ調整アルゴリズムを説明するための
図、図6は粗調サイクルのアルゴリズムを説明するため
の図、図7は微調サイクルのアルゴリズムを説明するた
めの図、図8はレジチェックサイクルのアルゴリズムを
説明するための図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of a registration registration image sampling correction method of a multiple image forming apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of a coarse adjustment pattern, and FIG. 3 is a diagram showing an example of a fine adjustment pattern. 4A and 4B are views for explaining how to correct the registration deviation correction factor, and FIG. 5 is a view for assembling and SKE.
FIG. 6 is a diagram for explaining a registration adjustment algorithm at the time of W coarse correction, FIG. 6 is a diagram for explaining a coarse adjustment cycle algorithm, FIG. 7 is a diagram for explaining a fine adjustment cycle algorithm, and FIG. 8 is a registration check cycle. 3 is a diagram for explaining the algorithm of FIG.

【0023】図1において、転写ベルト9は、画像出力
部8で形成された画像を転写するベルト状の転写部材で
あり、画像出力部8は、複数個の画像出力手段を転写ベ
ルト9に沿って配設して多重画像を形成するものであ
る。画像制御部7は、画像出力部8に画像データを供給
し画像形成を制御するものであり、画像出力部8の主走
査方向と副走査方向にそれぞれ粗調用パターンとして図
2に示すような粗いレジずれ測定用パターン、または微
調用パターンとして図3に示すような細かいレジずれ測
定用パターンを繰り返し発生するためのものである。サ
ンプリング部3は、画像出力部8によって転写ベルト9
に形成された画像を主走査方向の両側でサンプリングす
る例えばCCDセンサからなるものであり、そのサンプ
リング部3のサンプル開始ポイント及びサンプル幅を制
御するのがサンプリング制御部2である。演算処理部5
は、サンプリング部3でサンプリングした画像データを
取り込み、レジずれ算出のための演算処理を行うもので
あり、データ格納部4は、サンプリングデータまたは演
算処理データを格納するものである。制御部1は、画像
出力の制御や画像サンプリング補正の制御を行うもので
あり、画像サンプリング補正の制御を行う場合、粗調整
モードか微調整モードかに応じてパターンジェネレータ
6の発生するレジずれ測定用パターンを選択すると共
に、サンプリング制御部2のサンプル開始ポイント及び
サンプル幅を設定して繰り返しレジずれ測定用パターン
を発生させ、サンプリングデータまたは演算処理データ
を積算しパターン位置を求める。そして、レジずれを検
出して画像制御部7、画像出力部8を制御してスキュー
補正や倍率補正、軸方向補正、粗密補正等の補正を行
う。
In FIG. 1, the transfer belt 9 is a belt-shaped transfer member for transferring the image formed by the image output section 8. The image output section 8 has a plurality of image output means along the transfer belt 9. Are arranged to form a multiple image. The image control unit 7 supplies image data to the image output unit 8 to control the image formation. The image output unit 8 has rough adjustment patterns in the main scanning direction and the sub scanning direction as shown in FIG. This is for repeatedly generating a fine registration shift measurement pattern as shown in FIG. 3 as a registration shift measurement pattern or a fine adjustment pattern. The sampling unit 3 uses the image output unit 8 to transfer the transfer belt 9
The sampling control unit 2 controls the sampling start point and the sampling width of the sampling unit 3 by, for example, a CCD sensor that samples the image formed on the both sides in the main scanning direction. Arithmetic processing unit 5
Is for taking in the image data sampled by the sampling section 3 and performing arithmetic processing for calculating the registration deviation, and the data storage section 4 is for storing sampling data or arithmetic processing data. The control unit 1 controls image output and image sampling correction. When controlling image sampling correction, the control unit 1 measures the registration deviation generated by the pattern generator 6 according to the coarse adjustment mode or the fine adjustment mode. In addition to selecting a pattern, a sampling start point and a sample width of the sampling controller 2 are set to repeatedly generate a registration deviation measurement pattern, and sampling data or arithmetic processing data is integrated to obtain a pattern position. Then, the misregistration is detected, and the image control unit 7 and the image output unit 8 are controlled to perform skew correction, magnification correction, axial direction correction, density correction, and the like correction.

【0024】レジずれ測定用パターンは、粗調のための
図2に示すイニシャライズサイクル用の粗いパターンと
微調のための図3に示すレジ補正サイクル用の細かいパ
ターンがあり、それぞれ主走査方向に一定の長さの画像
と副走査方向に一定の長さの画像の組み合わせからなっ
ている。そして、粗調用のパターンの場合には、例えば
図2に示すようにサンプリング部1のCCDセンサ中央
から一方の側にaラスタ幅で主走査方向にbmmの長さ
を有する線と、反対の側に副走査方向にcラスタの長さ
を有する線との組でK、Y、M、Cがdラスタ間隔で連
なるように展開されている。これに対して、微調用のパ
ターンの場合には、例えば図3に示すようにCCDセン
サ中央から一方の側にaラスタ幅で主走査方向にemm
の長さを有する線をK、Y、M、Cの順にfラスタ間隔
で副走査方向に並べ、その横(反対の側)に副走査方向
にgラスタの長さを有する線が組となり、その組が繰り
返す毎に副走査方向の線がK、Y、M、Cの順に展開さ
れている。
The misregistration measurement pattern includes a rough pattern for the initialization cycle shown in FIG. 2 for coarse adjustment and a fine pattern for the registration correction cycle shown in FIG. 3 for fine adjustment, each of which is constant in the main scanning direction. And an image having a fixed length in the sub-scanning direction. In the case of the rough adjustment pattern, for example, as shown in FIG. 2, a line having a raster width of a raster width on one side from the center of the CCD sensor of the sampling unit 1 and a length of bmm in the main scanning direction and the opposite side. Is developed so that K, Y, M, and C are connected in series at d raster intervals as a set with a line having a length of c raster in the sub-scanning direction. On the other hand, in the case of the pattern for fine adjustment, for example, as shown in FIG.
Lines having a length of k raster lines are arranged in the sub-scanning direction in the order of K, Y, M, and C at f raster intervals, and a line having a length of g raster lines in the sub-scanning direction is formed on the side thereof (on the opposite side). Each time the set is repeated, lines in the sub-scanning direction are developed in the order of K, Y, M, and C.

【0025】レジずれ補正は、例えば図4(イ)に示す
ように画像Kに対して画像Yのようなずれがある場合に
は、画像Kを基準にして、まずK以外のミラー角度を補
正することによってスキュー補正して(ロ)に示すよう
に角度を合わせた後、クロック周波数の制御によって倍
率補正して(ハ)に示すように主走査方向倍率を合わ
せ、書き込みクロックタイミング、位相の調整によって
主走査方向補正して(ニ)に示すように主走査方向を合
わせ、さらにLine Sync の書き出しタイミング、ポリゴ
ン位相補正によって(ホ)に示すように副走査方向を補
正し、最終的に許容誤差内に補正する。
In the registration shift correction, for example, when there is a shift like the image Y with respect to the image K as shown in FIG. 4A, the mirror angle other than K is first corrected with reference to the image K. Skew adjustment to adjust the angles as shown in (b), and then the magnification is corrected by controlling the clock frequency to adjust the main scanning direction magnification as shown in (c) to adjust the write clock timing and phase. The main scanning direction is corrected by (1) to match the main scanning direction, and the line sync writing timing and polygon phase correction are used to correct the sub-scanning direction as shown in (e), and finally the allowable error Correct within.

【0026】そこで、組立時及びSKEW粗補正時のレ
ジ調整では、図5に示すようにまず、粗調サイクルを実
行し(ステップS11)、SKEW粗補正とSKEW以
外の粗補正データを送信しレジずれ補正を実行する(ス
テップS12)。
Therefore, in the registration adjustment at the time of assembly and SKEW coarse correction, as shown in FIG. 5, a coarse adjustment cycle is first executed (step S11), and SKEW coarse correction and coarse correction data other than SKEW are transmitted to perform registration. Displacement correction is executed (step S12).

【0027】このとき、SKEW粗補正によってSKE
W以外の要素にずれが生じるので、もう一度繰り返し粗
調サイクルを実行して(ステップS13)、SKEW以
外の粗補正データを送信しレジずれ補正を実行する(ス
テップS14)。
At this time, the SKEW is corrected by the SKEW coarse correction.
Since deviation occurs in elements other than W, the rough adjustment cycle is repeatedly executed again (step S13), and coarse correction data other than SKEW is transmitted to execute registration deviation correction (step S14).

【0028】次に、微調サイクルを実行し(ステップS
15)、SKEW微補正とSKEW以外の微補正データ
を送信しレジずれ補正を実行する(ステップS16)。
ここで初めてSKEW補正が終了するが、このSKEW
微補正によっても、SKEW以外の要素にずれが生じる
ので、SKEW以外の要素については、再度粗調サイク
ルを実行して(ステップS17)SKEW以外の粗補正
データを送信した後(ステップS18)、微調サイクル
を実行して(ステップS19)SKEW以外の微補正デ
ータを送信しレジずれ補正を実行する(ステップS2
0)。
Next, a fine adjustment cycle is executed (step S
15), SKEW fine correction and fine correction data other than SKEW are transmitted to execute registration deviation correction (step S16).
The SKEW correction ends for the first time here, but this SKEW correction
Even with fine correction, the elements other than SKEW are misaligned. Therefore, for elements other than SKEW, the coarse adjustment cycle is executed again (step S17), and the coarse adjustment data other than SKEW is transmitted (step S18). The cycle is executed (step S19), fine correction data other than SKEW is transmitted, and registration deviation correction is executed (step S2).
0).

【0029】上記の処理のうち、粗調サイクルでは、図
6に示すように粗調用パターンのサンプリングデータを
取り込み(ステップS21〜S22)、サンプリングデ
ータの演算を行って像位置を求め(ステップS23)、
全サンプリングデータについての像位置が求まると(ス
テップS24)、補正データの演算を行い(ステップS
25)、補正データを送信する(ステップS26)。
In the coarse adjustment cycle of the above processing, sampling data of the coarse adjustment pattern is fetched as shown in FIG. 6 (steps S21 to S22), and the sampling data is calculated to obtain the image position (step S23). ,
When the image position for all sampling data is obtained (step S24), the correction data is calculated (step S24).
25), and the correction data is transmitted (step S26).

【0030】微調サイクルでも、図7に示すように粗調
サイクルと同様、微調用パターンのサンプリングデータ
を取り込み(ステップS31〜S32)、サンプリング
データの演算を行って像位置を求め(ステップS3
3)、全サンプリングデータについての像位置が求まる
と(ステップS34)、補正データの演算を行い(ステ
ップS35)、補正データを送信する(ステップS3
6)。
In the fine adjustment cycle, as shown in FIG. 7, similarly to the coarse adjustment cycle, the sampling data of the fine adjustment pattern is taken in (steps S31 to S32), and the sampling data is calculated to obtain the image position (step S3).
3) When the image positions of all the sampling data are obtained (step S34), the correction data is calculated (step S35) and the correction data is transmitted (step S3).
6).

【0031】そして、レジチェックサイクルでは、図8
に示すようにレジチェック用パターンをサンプリングし
(ステップS41)、サンプリングが完了するまで待っ
てから(ステップS42)、像位置の演算を行い(ステ
ップS43)、全サンプリングについて像位置の演算が
完了すると(ステップS44)、レジずれの演算を行い
(ステップS45)、レジずれ量が規定値Aの範囲内か
否かを調べ(ステップS46)、許容範囲内でない場合
には、レジずれ量がそれより大きい規定値Bの範囲内か
否かを調べる(ステップS47)。そして、範囲内であ
れば微調サイクルを実行し、範囲外であれば粗調サイク
ルと微調サイクルを続けて実行する(ステップS48〜
S50)。
Then, in the checkout cycle, FIG.
When the registration check pattern is sampled (step S41), the sampling is completed (step S42), the image position is calculated (step S43), and the image position calculation is completed for all samplings. (Step S44), the registration deviation is calculated (step S45), and it is checked whether or not the registration deviation amount is within the range of the specified value A (step S46). It is checked whether or not it is within the range of the large specified value B (step S47). If it is within the range, the fine adjustment cycle is executed, and if it is out of the range, the coarse adjustment cycle and the fine adjustment cycle are continuously executed (steps S48-).
S50).

【0032】さらに、本発明の装置構成について詳述す
る。図9はレジ合わせ画像サンプリング補正装置の構成
例を示す図、図10はレジずれ補正基板の構成例を示す
ブロック図である。
Further, the device configuration of the present invention will be described in detail. FIG. 9 is a diagram showing a configuration example of a registration registration image sampling correction device, and FIG. 10 is a block diagram showing a configuration example of a registration deviation correction substrate.

【0033】図9において、CCDセンサ11は、画像
形成装置13K、13Y、13M、13Cによって転写
ベルト7上に形成された画像を読み取るものであり、画
像領域の両端に各1個、合計2個配置される。光源12
は、CCDセンサ11が転写ベルト17上の像を検出す
るために必要な背景光を作り出すための光源であり、L
EDやハロゲンランプ等、CCDセンサ11の光源とし
て十分な光量を確保できるものであれば何でもよい。ま
た、光源12は、それ自身の光量劣化、転写ベルト17
の透過率劣化、CCDセンサの感度劣化、光学系の汚れ
による透過率劣化、及び温度に代表される環境変化に対
し、最適な受像状態を確保するために自由に光量を変え
ることができるものである。画像形成装置13K、13
Y、13M、13Cは、例えば感光体とレーザービーム
ROSやLED ROSを組み合わせたものであり、ほ
ぼ等間隔に配置されそれぞれ黒の画像を形成する装置、
イエローの画像を形成する装置、マゼンタの画像を形成
する装置、サイアンの画像を形成する装置である。
In FIG. 9, a CCD sensor 11 reads an image formed on the transfer belt 7 by the image forming devices 13K, 13Y, 13M and 13C, one at each end of the image area, for a total of two. Will be placed. Light source 12
Is a light source for producing the background light necessary for the CCD sensor 11 to detect the image on the transfer belt 17, and L
Any element such as an ED or a halogen lamp can be used as long as it can secure a sufficient amount of light as the light source of the CCD sensor 11. In addition, the light source 12 is deteriorated in its light amount, and the transfer belt 17
It is possible to freely change the amount of light in order to secure the optimum image receiving state against the deterioration of the transmittance of the CCD, the deterioration of the sensitivity of the CCD sensor, the deterioration of the transmittance due to dirt on the optical system, and the environmental change represented by the temperature. is there. Image forming apparatus 13K, 13
Y, 13M, and 13C are, for example, a combination of a photoconductor and a laser beam ROS or LED ROS, which are arranged at substantially equal intervals to form black images,
A device for forming a yellow image, a device for forming a magenta image, and a device for forming a cyan image.

【0034】転写ベルト17は、画像形成装置13K、
13Y、13M、13Cで形成された画像を転写する透
明なベルト構造のものであり、駆動ローラ19aと駆動
ローラ19aに対向する従動ローラ19bによって支持
されている。また、転写ベルト17は、転写用紙を運搬
する働きを持っており、ベルト回転方向と同様に図示右
から左方向に転写用紙が運搬される。その際、転写用紙
をベルト部材に吸着するために、図示しない吸着用のコ
ロトロンを有している。駆動ローラ19aは、図示しな
い定速性に優れた専用の駆動モータによって駆動され、
従動ローラ19bは、その駆動力が転写ベルト17によ
って伝播されることで回転する。アッセイ体20は、C
CDセンサ11やその駆動回路、光学系、例えばセルフ
ォックレンズ等を実装したものであり、これらの取り付
け関係は、高精度の位置決めが容易に実現できるように
設計されている。
The transfer belt 17 includes an image forming device 13K,
It has a transparent belt structure for transferring an image formed by 13Y, 13M and 13C, and is supported by a driving roller 19a and a driven roller 19b facing the driving roller 19a. Further, the transfer belt 17 has a function of carrying the transfer paper, and the transfer paper is carried from right to left in the drawing in the same manner as the belt rotating direction. At this time, a suction corotron (not shown) is provided to suck the transfer sheet onto the belt member. The drive roller 19a is driven by a dedicated drive motor (not shown) having excellent constant speed,
The driven roller 19b rotates as its driving force is transmitted by the transfer belt 17. The assay body 20 is C
The CD sensor 11 and its drive circuit, an optical system such as a SELFOC lens, etc. are mounted, and the mounting relationship between them is designed so that highly accurate positioning can be easily realized.

【0035】インタフェース基板14K、14Y、14
M、14Cは、ROSに対して画像信号を送るものであ
り、レジずれ補正基板15は、レジずれ補正系のモジュ
ールを収納する基板、コントロール基板16は、各基板
と装置全体の動作を管理するモジュールを収納する基
板、画像処理基板21は、メモリ及び画像処理関係のモ
ジュールを収納する基板である。
Interface boards 14K, 14Y, 14
M and 14C are for sending an image signal to the ROS. The registration deviation correction board 15 is a board for accommodating the module of the registration deviation correction system, and the control board 16 is for managing the operation of each board and the entire apparatus. The board for housing the module and the image processing board 21 is a board for housing the memory and the module related to the image processing.

【0036】次に、通常の画像形成モードについて説明
する。転写ベルト17によって搬送された用紙の先端が
画像形成装置13Kの真下の転写ポイントに達した時、
画像形成装置13Kで形成された画像の先端が画像形成
装置13Kの真下の転写ポイントに達している状態、つ
まり、画像形成装置13Kで形成された画像と用紙間の
副走査方向(用紙搬送方向)のずれがないように紙送り
タイミングや画像書き込みタイミングが決められてい
る。複写ポイントに達した用紙には、図示しないが転写
用のコロトロン等により画像形成装置13Kで形成され
た画像が転写され、さらに画像形成装置13Yの真下の
転写ポイントに達する。画像形成装置13Yの真下の転
写ポイントに達した用紙は、画像形成装置13Kで転写
されたと同様にして転写される。以下、画像形成装置1
3M、13Cでも同様に重ね転写される。全ての転写を
終えた用紙は、さらにベルトによって搬送され、従動ロ
ーラ19b付近まで達すると、図示しないが用紙を転写
ベルト17から剥離するためのコロトロンやストリッパ
ー等により転写ベルト17から剥離される。その後、定
着装置などにより定着され、機外に排出される。
Next, the normal image forming mode will be described. When the leading edge of the sheet conveyed by the transfer belt 17 reaches the transfer point directly below the image forming apparatus 13K,
A state in which the leading edge of the image formed by the image forming apparatus 13K reaches a transfer point directly below the image forming apparatus 13K, that is, the sub-scanning direction between the image formed by the image forming apparatus 13K and the sheet (sheet conveying direction). The paper feed timing and the image writing timing are determined so that there is no misalignment. Although not shown, the image formed by the image forming apparatus 13K is transferred to the sheet that has reached the copy point by a transfer corotron, and further reaches the transfer point directly below the image forming apparatus 13Y. The sheet that has reached the transfer point directly below the image forming apparatus 13Y is transferred in the same manner as it was transferred by the image forming apparatus 13K. Hereinafter, the image forming apparatus 1
Similarly, 3M and 13C are also transferred in a superimposed manner. The sheet after all the transfer is further conveyed by a belt, and when it reaches the vicinity of the driven roller 19b, it is separated from the transfer belt 17 by a corotron, a stripper or the like for separating the sheet from the transfer belt 17, although not shown. After that, it is fixed by a fixing device or the like, and discharged outside the machine.

【0037】次に、各色間のレジずれ補正系について説
明する。レジずれ補正は、装置に予め設定されている専
用の補正サイクルに入ることにより実行される。コント
ロール基板16より各基板に指令が出されると、この補
正サイクルに入る。レジずれ補正基板15がレジずれ測
定用パターンをサンプリングするための準備をし、補正
サイクルが始まると、インタフェース基板14K、14
Y、14M、14Cは、レジずれ測定用パターンを出力
するパターンジェネレータの役割を果たし、レジずれ測
定用パターンが各インタフェース基板14K、14Y、
14M、14Cから画像形成装置13K、13Y、13
M、13Cへ送信され、パターン18K、18Y、18
M、18Cが転写ベルト17上に転写される。
Next, the registration deviation correction system for each color will be described. The registration shift correction is executed by entering a dedicated correction cycle preset in the apparatus. When a command is issued from the control board 16 to each board, this correction cycle starts. When the registration deviation correction board 15 prepares for sampling the registration deviation measurement pattern and the correction cycle starts, the interface boards 14K and 14K
Y, 14M, and 14C play the role of a pattern generator that outputs a registration deviation measurement pattern, and the registration deviation measurement pattern is output to each of the interface boards 14K, 14Y, and
14M, 14C to the image forming apparatuses 13K, 13Y, 13
M, 13C, pattern 18K, 18Y, 18
M and 18C are transferred onto the transfer belt 17.

【0038】レジずれ測定用パターンには、図2に示す
ような粗調用(イニシャライズサイクル用)のパターン
と、図3に示すような微調用(レジ補正サイクル用)の
パターンがあり、図示のようにレジずれ測定用パターン
がCCDセンサ11の真下を通る転写ベルト17上の位
置に転写するように設定される。そして、CCDセンサ
11からの画像データをサンプリングするレジずれ補正
基板15では、各インタフェース基板14K、14Y、
14M、14Cでの転写タイミングとCCDセンサ11
までのピッチからレジずれ測定用パターンをサンプリン
グするのに必要かつ十分なサンプル開始タイミング及び
サンプル終了タイミングを割り出して画像データの取り
込みを行う。
There are two types of registration deviation measuring patterns for rough adjustment (for initialization cycle) as shown in FIG. 2 and for fine adjustment (for registration correction cycle) as shown in FIG. The registration deviation measurement pattern is set so as to be transferred to a position on the transfer belt 17 that passes directly under the CCD sensor 11. Then, in the registration deviation correction board 15 for sampling the image data from the CCD sensor 11, the interface boards 14K, 14Y,
Transfer timing and CCD sensor 11 at 14M and 14C
The sampling start timing and the sampling end timing which are necessary and sufficient for sampling the registration deviation measuring pattern are determined from the pitches up to and the image data is captured.

【0039】レジずれ補正基板15では、まず、サンプ
ル開始タイミングになると、CCDセンサ11からの画
像データを高速メモリに取り込み始め、サンプル終了タ
イミングになると、画像データの取り込みを止める。そ
して、取り込みを終えると同時に、次にくるレジずれ測
定用パターンのサンプリングが終了するまでに、それら
の取り込んだ画像データから、例えば重心法等によって
像位置を確定し、それを例えば像位置アドレスとしてメ
インメモリに格納する。この操作を何度か繰り返すこと
によって、各画像形成装置毎に幾つかの確定した像位置
アドレスを得る。ここでは、確定した像位置アドレス精
度を上げるために、それら幾つかの確定した像位置アド
レスを各画像形成装置毎に平均をとっても良い。
In the registration error correction substrate 15, first, when the sampling start timing comes, the image data from the CCD sensor 11 starts to be taken into the high-speed memory, and when the sampling end timing comes, the reading of the image data is stopped. Then, at the same time as the end of the acquisition, by the time the sampling of the next registration deviation measuring pattern is completed, the image position is determined from the acquired image data by, for example, the center of gravity method, and used as the image position address, for example. Store in main memory. By repeating this operation several times, several fixed image position addresses are obtained for each image forming apparatus. Here, in order to improve the accuracy of the fixed image position address, these several fixed image position addresses may be averaged for each image forming apparatus.

【0040】さらにレジずれ補正基板15では、各画像
形成装置毎に確定した像位置アドレスから予め決められ
たアルゴリズムによって各画像形成装置間のレジずれを
補正する補正値を幾つかのレジずれ補正パラメータ毎
に、かつ各画像形成装置毎に算出する。算出されたそれ
らの補正値は、レジずれ補正基板15から画像形成装置
やインタフェース基板等へ直接若しくは間接に設定され
て補正が行われる。
Further, in the registration deviation correction substrate 15, a correction value for correcting the registration deviation between the image forming apparatuses is corrected by a predetermined algorithm based on the image position address determined for each image forming apparatus. It is calculated for each image forming apparatus. The calculated correction values are directly or indirectly set on the image forming apparatus, the interface board, or the like from the registration deviation correction board 15 to perform the correction.

【0041】レジずれ測定用パターンをサンプリングす
るのに必要かつ十分なサンプル開始タイミングは、レジ
ずれ測定用パターンが画像形成装置で出力されたタイミ
ングから搬送ベルト速度や予想されるずれの範囲を基に
CCDセンサ11の真下に達するまでの時間で決められ
る。レジずれ測定用パターンを常にうまくサンプリング
するためにサンプル間隔を長くすると、サンプリングデ
ータを格納する記憶領域が大きくなってしまう。そこ
で、まず始めに図2に示すように間隔が広いレジずれ測
定用パターンを用い、例えばドラム1周でイニシャライ
ズサイクルとして粗調を行い、次に図3に示すように間
隔の狭いレジずれ測定用パターンを用い、例えばベルト
1周でレジ補正サイクルとして微調を行う。微調も粗調
もAC成分を補正することはできない。ただ、粗調の際
には、サンプル量が少ないためにAC成分誤差を含んだ
DC成分の補正しかできない。微調においては、高い周
波数で大量にサンプルするため、それらを平均化するこ
とで、ほぼDC成分の補正ができる。したがって、粗
調、微調共にDC成分のずれを0に近づけようとするも
のである。
The sampling start timing necessary and sufficient for sampling the registration deviation measurement pattern is based on the conveyor belt speed and the expected deviation range from the timing when the registration deviation measurement pattern is output by the image forming apparatus. It is determined by the time required to reach directly under the CCD sensor 11. If the sampling interval is lengthened in order to always sample the registration deviation measurement pattern well, the storage area for storing the sampling data becomes large. Therefore, first, a registration deviation measuring pattern having a wide interval is used as shown in FIG. 2, for example, rough adjustment is performed as an initialization cycle in one round of the drum, and then a registration deviation measuring pattern having a small interval is measured as shown in FIG. Using a pattern, fine adjustment is performed as a registration correction cycle for one round of the belt. Neither fine adjustment nor coarse adjustment can correct the AC component. However, at the time of rough adjustment, only the DC component including the AC component error can be corrected because the sample amount is small. In fine adjustment, a large amount of samples are made at high frequencies, so that DC components can be corrected by averaging them. Therefore, in both the coarse adjustment and the fine adjustment, the deviation of the DC component is made to approach 0.

【0042】また、例えば第1のROS(K)出力を基
準にして他の各ROS出力のレジずれを補正する場合、
第1のROSは補正機能をもたない場合がある。その場
合、粗サンプリングして補正しても、次の微サンプリン
グしたときにサンプリングできないことがある。このよ
うな場合には、粗サンプリングした後第1のROSの出
力のずれをモニタし、レジずれ測定用パターンがCCD
センサの真下に達する時間を補正すると、微サンプリン
グをミスなく行うことができる。
Further, for example, when correcting the registration deviation of each of the other ROS outputs with reference to the first ROS (K) output,
The first ROS may not have a correction function. In that case, even if the rough sampling is performed and the correction is performed, the sampling may not be performed in the next fine sampling. In such a case, after the coarse sampling, the deviation of the output of the first ROS is monitored, and the registration deviation measurement pattern is measured by the CCD.
Correcting the time to reach directly under the sensor allows fine sampling without error.

【0043】レジずれ補正基板15は、例えば図10に
示すように構成される。レジずれ補正基板15では、C
CD駆動クロック生成回路38で生成されるクロックに
したがってドライバ32がCCDセンサをドライブし、
画素単位で例えば8ビット、256階調の読み取り画像
データを順次レシーバ31に取り込む。そして、主走査
に関する画像データは、バス制御系34を通して主走査
用高速画像メモリ35に格納され、副走査に関する画像
データは、副走査用画像演算回路33で平均化処理をし
た後、バス制御系34を通して副走査用高速画像メモリ
36に格納される。サンプルタイミング制御回路39
は、CPU44で設定されたサンプル開始タイミング、
サンプル期間等にしたがって副走査用画像演算回路33
及び主走査用高速画像メモリ35、副走査用高速画像メ
モリ36に画像データを取り込むタイミングを制御する
ものである。メインRAM42は、CPU44のワーク
エリアとして用いるものであり、ROM43は、CPU
44の制御プログラムを格納するものである。シリアル
通信IC40、シリアル通信ドライバ41は、各種補正
系47に対してCPU44から設定パラメータ等の制御
データを送信するものであり、I/Oインタフェース4
5は、CPUとの間にあって、各種補正系47に対して
オンオフの信号を出力し、センサからのオンオフ信号を
入力し、システムコントローラ48との間でオンオフ信
号を授受するためのものである。シリアル通信ドライバ
46は、CPU44とシステムコントローラ48との間
でデータの授受を行うものである。
The registration shift correction substrate 15 is constructed, for example, as shown in FIG. In the registration shift correction substrate 15, C
The driver 32 drives the CCD sensor according to the clock generated by the CD drive clock generation circuit 38,
For example, read image data of 8 bits and 256 gradations is sequentially taken into the receiver 31 in pixel units. Then, the image data regarding the main scanning is stored in the high-speed image memory for main scanning 35 through the bus control system 34, and the image data regarding the sub-scanning is averaged by the image arithmetic circuit for sub-scanning 33, and then the bus control system. It is stored in the sub-scanning high-speed image memory 36 through 34. Sample timing control circuit 39
Is the sampling start timing set by the CPU 44,
The sub-scanning image calculation circuit 33 according to the sample period or the like.
Also, the timing for loading image data into the main scanning high-speed image memory 35 and the sub-scanning high-speed image memory 36 is controlled. The main RAM 42 is used as a work area for the CPU 44, and the ROM 43 is a CPU
It stores 44 control programs. The serial communication IC 40 and the serial communication driver 41 are for transmitting control data such as setting parameters from the CPU 44 to the various correction systems 47, and the I / O interface 4
Reference numeral 5 denotes a CPU for outputting an ON / OFF signal to various correction systems 47, inputting an ON / OFF signal from a sensor, and exchanging an ON / OFF signal with a system controller 48. The serial communication driver 46 exchanges data between the CPU 44 and the system controller 48.

【0044】CPU44は、CCD駆動クロック生成回
路38、サンプルタイミング制御回路39、バス制御系
34、37を制御して転写ベルト上に出力されたレジず
れ測定用パターンの像データを取り込み像位置アドレス
を確定してレジずれ量を算出し、シリアル通信IC4
0、シリアル通信ドライバ41を通して、あるいはI/
Oインタフェース45、シリアル通信46を通して各種
補正系を制御するものである。
The CPU 44 controls the CCD drive clock generation circuit 38, the sample timing control circuit 39, and the bus control systems 34 and 37 to take in the image data of the registration deviation measuring pattern output on the transfer belt and set the image position address. After confirming and calculating the registration shift amount, the serial communication IC4
0, through serial communication driver 41, or I /
Various correction systems are controlled through the O interface 45 and the serial communication 46.

【0045】次に、具体的なサンプル及び補正のアルゴ
リズムについて説明する。図11〜図15は粗調パター
ンサンプルのアルゴリズムを説明するための図、図16
〜図19は微調パターンサンプルのアルゴリズムを説明
するための図、図20〜図21は副走査サンプル開始ポ
イント補正のアルゴリズムを説明するための図、図22
はサンプル後のKに対する各色アドレス誤差の補正アル
ゴリズムを説明するための図である。
Next, a concrete sample and correction algorithm will be described. 11 to 15 are views for explaining the algorithm of the rough adjustment pattern sample, and FIG.
To FIG. 19 are diagrams for explaining the algorithm of the fine adjustment pattern sample, FIGS. 20 to 21 are diagrams for explaining the algorithm of the sub-scanning sample start point correction, and FIG.
FIG. 6 is a diagram for explaining a correction algorithm of each color address error for K after sampling.

【0046】粗調パターンのサンプリングでは、図11
に示すようにパターン書き込みが開始されるのを待って
(ステップS51)、光量補正、シェーディングを行い
(ステップS52〜S53)、主走査方向のKデータの
サンプル開始・終了アドレスを設定する(ステップS5
4)。
FIG. 11 shows the sampling of the coarse adjustment pattern.
As shown in (4), the pattern writing is started (step S51), the light amount is corrected and the shading is performed (steps S52 to S53), and the sampling start / end addresses of the K data in the main scanning direction are set (step S5).
4).

【0047】そして、Kデータのサンプル終了割り込み
が発生するまで待ち(ステップS55)、主走査方向の
サンプリングデータ(Kデータ)をメインRAMにブロ
ック転送する(ステップS56)。
Then, the CPU waits until the K data sample end interrupt is generated (step S55), and transfers the sampling data (K data) in the main scanning direction to the main RAM in blocks (step S56).

【0048】続けて主走査方向のYデータのサンプル開
始・終了アドレスを設定した後(ステップS57)、主
走査方向のKデータの像位置を演算する(ステップS5
8)。
After setting the sampling start / end addresses of the Y data in the main scanning direction (step S57), the image position of the K data in the main scanning direction is calculated (step S5).
8).

【0049】Yデータのサンプル終了割り込みが発生す
るまで待ち(ステップS59)、以下同様にして、図1
2〜図13に示すようにYデータ、Mデータ、Cデータ
の処理を行う(ステップS60〜S68)。そして、図
13に示すように主走査方向のサンプリングデータ(C
データ)をメインRAMにブロック転送した後(ステッ
プS69)、副走査方向のYデータのサンプル開始・終
了アドレスを設定してから、主走査方向のCデータの像
位置を演算する(ステップS70)。
Wait until the Y data sampling end interrupt is generated (step S59), and the same process as in FIG.
As shown in FIGS. 2 to 13, Y data, M data, and C data are processed (steps S60 to S68). Then, as shown in FIG. 13, sampling data (C
After block transfer of (data) to the main RAM (step S69), a sample start / end address of Y data in the sub-scanning direction is set, and then an image position of C data in the main scanning direction is calculated (step S70).

【0050】そして、主走査方向のサンプリングと同様
に、Kデータのサンプル終了割り込みが発生するまで待
ち(ステップS71)、図13〜図15に示すように副
走査方向のサンプリングデータについてKデータ、Yデ
ータ、Mデータ、Cデータのブロック転送、アドレス設
定の各処理を行う(ステップS72〜S84)。
Then, similarly to the sampling in the main scanning direction, the CPU waits until a K data sampling end interrupt is generated (step S71), and as shown in FIGS. Each process of block transfer of data, M data, and C data and address setting is performed (steps S72 to S84).

【0051】以上の処理が3回終了するまで繰り返し行
い(ステップS85〜S88)、3回終了すると、副走
査方向のCデータの像位置を演算した後(ステップS8
9)、3回のサンプリングデータの平均値を求める(ス
テップS90)。
The above processing is repeated until it is completed three times (steps S85 to S88), and when it is completed three times, the image position of the C data in the sub-scanning direction is calculated (step S8).
9) The average value of the sampling data of three times is calculated (step S90).

【0052】微調パターンサンプリングでは、図16に
示すようにパターン書き込みが開始されるのを待って
(ステップS101)、光量補正、シェーディングを行
い(ステップS102〜S103)、副走査方向のKデ
ータのサンプル開始・終了アドレスを設定する(ステッ
プS104)。
In the fine adjustment pattern sampling, as shown in FIG. 16, after the pattern writing is started (step S101), the light amount is corrected and the shading is performed (steps S102 to S103) to sample the K data in the sub-scanning direction. A start / end address is set (step S104).

【0053】そして、Kデータのサンプル終了割り込み
が発生するまで待ち(ステップS105)、副走査方向
のサンプリングデータ(Kデータ)をメインRAMにブ
ロック転送する(ステップS106)。
Then, the CPU waits until the K data sampling end interrupt is generated (step S105), and transfers the sampling data (K data) in the sub-scanning direction to the main RAM in blocks (step S106).

【0054】続けて副走査方向のYデータのサンプル開
始・終了アドレスを設定し(ステップS107)、さら
に主走査方向のK、Y、M、Cデータのサンプル開始・
終了アドレスを設定した後(ステップS108)、副走
査方向のKデータの像位置を演算する(ステップS10
9)。
Subsequently, the sampling start / end address of Y data in the sub-scanning direction is set (step S107), and the sampling start / end address of K, Y, M, C data in the main scanning direction is further set.
After setting the end address (step S108), the image position of the K data in the sub-scanning direction is calculated (step S10).
9).

【0055】図17に示すように主走査のサンプル終了
割り込みが発生するまで待ち(ステップS110)、主
走査方向のサンプリングデータをメインRAMにブロッ
ク転送した後(ステップS111)、主走査像位置の演
算を開始する(ステップS112)。
As shown in FIG. 17, the main scanning sample end interrupt is waited for (step S110), the sampling data in the main scanning direction is block transferred to the main RAM (step S111), and the main scanning image position is calculated. Is started (step S112).

【0056】次に、Yデータのサンプル終了割り込みが
発生するまで待ち(ステップS113)、副走査方向の
サンプリングデータ(Yデータ)をメインRAMにブロ
ック転送した後(ステップS114)、副走査方向のM
データのサンプル開始・終了アドレスを設定し(ステッ
プS115)、副走査方向のYデータの像位置を演算す
る(ステップS116)。
Next, the CPU waits until a Y data sampling end interrupt occurs (step S113), transfers the sampling data (Y data) in the sub-scanning direction to the main RAM in a block manner (step S114), and then M in the sub-scanning direction.
Data sampling start / end addresses are set (step S115), and the image position of Y data in the sub-scanning direction is calculated (step S116).

【0057】次に、主走査像位置の演算が終了している
か否かを調べ(ステップS117)、未終了であれば主
走査像位置の演算を継続して行い(ステップS11
8)、図18に示すようにMデータのサンプル終了割り
込みが発生するまで待つ(ステップS119)。以下同
様にして図18〜図19に示すようにCデータまでの処
理を行い(ステップS120〜S131)、規定回数の
サンプリングが終了するまでステップS105に戻って
繰り返し同様の処理を行い、規定回数のサンプリングが
終了すると(ステップS132)、主走査サンプル色
(K→Y→M→C)の設定を行って(ステップS13
3)サンプリングデータの平均演算を行う(ステップS
134)。
Next, it is checked whether or not the calculation of the main scanning image position is completed (step S117), and if it is not completed, the calculation of the main scanning image position is continued (step S11).
8), as shown in FIG. 18, wait until an M data sample end interrupt is generated (step S119). In the same manner, the C data is processed as shown in FIGS. 18 to 19 (steps S120 to S131), and the process returns to step S105 until the sampling for the specified number of times is completed, and the same process is repeatedly performed. When the sampling is completed (step S132), the main scanning sample color (K → Y → M → C) is set (step S13).
3) Perform average calculation of sampling data (step S
134).

【0058】副走査サンプル開始ポイント補正では、図
20に示すようにまず各色のノミナル設計サンプルアド
レスを設定して(ステップS141)、サンプル完了ま
で待ち(ステップS142)、各色の像位置を演算する
(ステップS143)。K、Y、M、Cについてサンプ
ルが完了するまで繰り返し同様の処理を行う(ステップ
S144)。
In the sub-scanning sample start point correction, as shown in FIG. 20, first, the nominal design sample address of each color is set (step S141), the sample completion is waited (step S142), and the image position of each color is calculated (step S142). Step S143). The same process is repeatedly performed for K, Y, M, and C until the sample is completed (step S144).

【0059】次に、前回のKサンプル範囲の中心に対す
るKの像位置アドレスのずれ量Δを演算する(ステップ
S145)。なお、前回のサンプルが汚れ等で像位置ア
ドレスを確定できなかった場合には前々回、さらに前々
回も確定できなかった場合には前々々回の補正値を使用
する。
Next, the deviation amount Δ of the K image position address from the center of the previous K sample range is calculated (step S145). If the image position address cannot be confirmed due to dirt or the like in the previous sample, the correction value used before the second before is used.

【0060】(設計値−ずれ量Δ)から次回のKサンプ
ル開始・終了アドレスを演算し、設定する(ステップS
146〜S147)。そしてKサンプル完了を待つ(ス
テップS148)。
The next K sample start and end addresses are calculated and set from (design value-deviation amount Δ) (step S
146-S147). Then, it waits for the completion of K sample (step S148).

【0061】次に、図21に示すようにKの像位置を演
算する(ステップS149)。そして、各色(Y、M、
C)のサンプル開始・終了アドレスを設定し(ステップ
S150)、サンプル完了を待つ(ステップS15
1)。K−Y,Y−M,M−Cは一定値とする。そのこ
とで、重心アドレスの平均値を算出する場合に、補正が
必要なくなり、演算工数が減る。次に、各色(Y、M、
C)の像位置を演算する(ステップS152)。
Next, the image position of K is calculated as shown in FIG. 21 (step S149). And each color (Y, M,
The sample start / end addresses of C) are set (step S150), and the sample completion is waited (step S15).
1). K-Y, Y-M, and MC are constant values. This eliminates the need for correction when calculating the average value of the center-of-gravity addresses, and reduces the number of calculation steps. Next, each color (Y, M,
The image position of C) is calculated (step S152).

【0062】Y、M、Cのサンプル完了までステップS
15からの処理を繰り返し(ステップS153)、さら
に規定回数のサンプル終了までステップS145からの
処理を繰り返し行う(ステップS154)。
Step S until sampling of Y, M and C is completed
The process from step 15 is repeated (step S153), and the process from step S145 is repeated until the sampling is performed the specified number of times (step S154).

【0063】サンプル後のKに対する各色のアドレス誤
差の補正では、図22に示すように各色のパターンサン
プル(ステップS161)、像位置アドレスの演算(ス
テップS162)、像位置アドレス平均値の算出(ステ
ップS163)を順次行い、Y、M、Cの像位置アドレ
ス平均値補正(その1) (像位置アドレス平均値)−(K-Y, Y-M, M-C見開き間隔
を固定することで生じる誤差の補正値(設計固定値)) を行う(ステップS164)。
In the correction of the address error of each color with respect to K after sampling, as shown in FIG. 22, the pattern sample of each color (step S161), the image position address calculation (step S162), and the image position address average value calculation (step S163) are sequentially performed to correct Y, M, and C image position address average values (No. 1) (Image position address average value)-(KY, YM, MC) Correction value of error caused by fixing spread interval (design (Fixed value)) is performed (step S164).

【0064】さらに、Y、M、Cの像位置アドレス平均
値補正(その2) (像位置アドレス平均値)−(ROS書き込み/CCD
読み出し周波数の不整合で生じる誤差の補正値(設計固
定値)) を行う(ステップS165)。
Further, Y, M, and C image position address average value correction (No. 2) (image position address average value)-(ROS writing / CCD
The correction value (design fixed value) of the error caused by the read frequency mismatch is performed (step S165).

【0065】そして、Kに対するY、M、Cの像位置ア
ドレス誤差を算出する(ステップS166)。つまり、
Y−K、M−K、C−Kで相対値を管理する。しかる後
補正値を算出する(ステップS167)。
Then, the image position address error of Y, M and C with respect to K is calculated (step S166). That is,
Relative values are managed by YK, MK, and CK. Then, the correction value is calculated (step S167).

【0066】次に、本発明のレジずれ測定用パターンの
サンプリング系及びサンプリング方法について説明す
る。図23は画像演算回路の構成例を示す図、図24及
び図25は画像データを演算処理する時間領域を説明す
るための図である。
Next, the sampling system and the sampling method of the registration deviation measuring pattern of the present invention will be described. FIG. 23 is a diagram showing a configuration example of an image arithmetic circuit, and FIGS. 24 and 25 are diagrams for explaining a time domain for arithmetically processing image data.

【0067】レジずれ測定用パターンのサンプリング系
及びサンプリング方法は、CCDからのレジずれ測定用
パターンの像信号をCPUで直接読み取ったり、CPU
のバスラインを使用しないモードに切り換え、CCDに
CPUのバスラインを解放したり、FIFOを使用する
方式も考えられている。
The sampling system and the sampling method of the registration deviation measuring pattern are as follows: the CPU directly reads the image signal of the registration deviation measuring pattern from the CCD, or
There is also a method of switching to a mode in which the bus line is not used, releasing the CPU bus line to the CCD, or using a FIFO.

【0068】しかし、像信号をCPUで直接読み取る方
式では、CPUの高速性が極度に追求される。CPUの
バスラインを使用しないモード切り換え、CCDにCP
Uのバスラインを解放する方式では、サンプリング中に
はCPUの演算処理を中止する必要があり、CPUの稼
働率が極端に落ちてしまう。またFIFOを使用する方
式では、サンプル用パターンの像位置信号のアドレス管
理が非常に面倒であるというような問題が生じる。
However, in the method of directly reading the image signal by the CPU, the high speed of the CPU is extremely pursued. Switching the mode without using the CPU bus line, CP to CCD
In the method of releasing the U bus line, it is necessary to stop the arithmetic processing of the CPU during sampling, and the operating rate of the CPU is extremely reduced. Further, in the method using the FIFO, there arises a problem that the address management of the image position signal of the sample pattern is very troublesome.

【0069】そこで、本発明では、CCDがパターンジ
ェネレータから出力されたパターンをサンプリングする
際、CCDのクロックを用いて図10に示す主走査用高
速画像メモリ35、副走査用高速画像メモリ36からな
る専用の高速RAMに直接書き込むようにしている。C
PU44は、バス制御系34、37を制御することによ
って、各主走査用高速画像メモリ35、副走査用高速画
像メモリ36が書き込みアクセスしていない時間に書き
込まれた画像データをメインRAM42のワークエリア
に移動して演算処理する。
Therefore, according to the present invention, when the CCD samples the pattern output from the pattern generator, it comprises the main scanning high-speed image memory 35 and the sub-scanning high-speed image memory 36 shown in FIG. 10 by using the CCD clock. The data is written directly in the dedicated high-speed RAM. C
The PU 44 controls the bus control systems 34 and 37 so that the image data written in the main scanning high-speed image memory 35 and the sub-scanning high-speed image memory 36 is written into the work area of the main RAM 42 when they are not accessed. Move to and perform arithmetic processing.

【0070】また、副走査方向のサンプリング時、CC
Dから取り込まれた画像データを副走査用高速画像メモ
リ36に格納する際、副走査用画像演算回路33によっ
て例えば16ラインの平均値を算出する。したがって、
副走査用画像演算回路33は、図23に示すようにAD
DERを用いた平均値算出回路でよいが、平均値を算出
するために採用する母集団の数、すなわち平均化する画
素数を2のn乗(nは自然数)個とすると、誤差のない
平均値を簡単に求めることができる。主走査方向のサン
プリング時、CCDから取り込まれた画像データを主走
査用高速画像メモリ36に格納する際にも同様に主走査
用画像演算回路によって平均値を算出してもよい。
When sampling in the sub-scanning direction, CC
When the image data captured from D is stored in the sub-scanning high-speed image memory 36, the sub-scanning image arithmetic circuit 33 calculates an average value of 16 lines, for example. Therefore,
As shown in FIG. 23, the sub-scanning image arithmetic circuit 33 is operated by AD.
An average value calculation circuit using DER may be used, but if the number of populations used for calculating the average value, that is, the number of pixels to be averaged is 2 to the nth power (n is a natural number), an average without error is obtained. You can easily find the value. The average value may be similarly calculated by the main scanning image arithmetic circuit when the image data fetched from the CCD is stored in the main scanning high-speed image memory 36 during sampling in the main scanning direction.

【0071】画像データの演算処理を実行する時間領域
の分配方法は、図3に示すようなレジずれ測定用パター
ンを使用する場合、副走査方向のレジずれ測定用パター
ンの密度が高いため、図24に示すようにそのサンプル
演算処理SKP、SYP、SMP、……の間に主走査方
向のレジずれ測定用パターンのサンプル演算処理を行う
ようになる。その際の副走査方向のレジずれ測定用パタ
ーンのサンプル演算処理SKP、SYP、SMP、SC
P及び主走査方向のレジずれ測定用パターンのサンプル
演算処理FKP1、FKP2、FKP3、FKP4は、
各々次の副走査方向のレジずれ測定用パターンのサンプ
ル演算処理SKP′及び主走査方向のレジずれ測定用パ
ターンのサンプルFYSが始まるまでに前の演算処理を
完了しなければならない。そこで、図示のように主走査
方向のレジずれ測定用パターンの演算処理FKP1、F
KP2、FKP3、FKP4は、副走査方向のレジずれ
測定用パターンの演算処理が終了した後、次の副走査方
向のレジずれ測定用パターンの演算処理までのいわばC
PUにとって空きの時間を利用して行っている。
When the registration deviation measuring pattern as shown in FIG. 3 is used, the density of the registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction is high. As shown in 24, during the sample calculation processing SKP, SYP, SMP, ..., Sample calculation processing of the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction is performed. Sample calculation processing SKP, SYP, SMP, SC of the registration deviation measurement pattern in the sub-scanning direction at that time
The sample calculation processing FKP1, FKP2, FKP3, and FKP4 of P and the registration deviation measurement pattern in the main scanning direction are
The previous calculation process must be completed by the time when the next sample calculation process SKP 'of the registration deviation measurement pattern in the sub-scanning direction and the sample FYS of the registration deviation measurement pattern in the main scanning direction start. Therefore, as shown in the figure, the calculation processing FKP1, FKP of the registration deviation measurement pattern in the main scanning direction is performed.
KP2, FKP3, and FKP4 are, so to speak, C after the calculation processing of the registration deviation measurement pattern in the sub-scanning direction is completed and before the calculation processing of the registration deviation measurement pattern in the sub-scanning direction is completed.
This is done by using the spare time for the PU.

【0072】複数個のCCDを使用する場合の時間領域
の使用についても同様であり、2個のCCDからの画像
出力をひとつのCPUで演算処理する場合の片側のCC
Dにおける時間領域の使用方法の例を示したのが図25
である。この場合には、別の片側のCCDに関しても同
様の時間領域の使用方法を実施し、片側のCCDの演算
処理の空き時間にもう片側のCCDの演算処理時間を割
り振ってそれらを重ね合わせることによって効率の良い
時間領域の使用を実施することができる。
The same applies to the use of the time domain when using a plurality of CCDs, and the CC on one side when the image output from the two CCDs is processed by one CPU.
FIG. 25 shows an example of how to use the time domain in D.
Is. In this case, the same method of using the time domain is performed for another CCD on one side, and the calculation processing time of the CCD on the other side is allocated to the vacant time for the calculation processing on the CCD on the other side to overlap them. Efficient use of the time domain can be implemented.

【0073】上記のように各CCDの主走査、副走査に
各々画像データ専用の高速画像メモリを割り付けること
により、高速画像メモリの絶対アドレスと像アドレスデ
ータとの対比を容易に行うことができる。さらに、高速
画像メモリに書き込んだ像データは、次に同じ高速画像
メモリに書き込まれる前に必ずCPUが引揚げてデータ
処理を済ませてから行うので、ひとつのレジずれ測定用
パターンのサンプリングに対して、その高速画像メモリ
の全領域を割り当てることができる。したがって、像ア
ドレスデータの管理を非常に簡単にすることができる。
As described above, by allocating the high-speed image memory dedicated to the image data to the main scanning and the sub-scanning of each CCD, the absolute address of the high-speed image memory and the image address data can be easily compared. Furthermore, the image data written in the high-speed image memory is always processed by the CPU before the data is written in the same high-speed image memory before the data processing is completed. , The entire area of the high speed image memory can be allocated. Therefore, the management of the image address data can be made very simple.

【0074】また、CCDを複数個用いてレジずれを検
出する場合、各々のCCDを動かすためのクロックを例
えばCCD近傍にある基板でしかもCCDのデータを扱
うレジずれ検出および補正基板のような1つの基板で作
り、それらを各々のCCDに分配供給するように構成す
ることにより、回路数を削減し、レジずれ検出および補
正基板内で動作するクロックを削減することができる。
そのために、コストを抑え、電磁波ノイズを不用意に放
出しないように構成することができる。
When a plurality of CCDs are used to detect a registration deviation, a clock for moving each CCD is, for example, a registration deviation detection and correction board that handles CCD data on a board near the CCD. It is possible to reduce the number of circuits and the number of clocks operating in the registration shift detection and correction substrate by forming them on one substrate and distributing and supplying them to each CCD.
Therefore, the cost can be suppressed and the electromagnetic noise can be prevented from being inadvertently emitted.

【0075】CCDがパターンをサンプリングする際、
ADDER回路を利用して平均値を算出した後、CPU
を介することなく高速画像メモリに直接書き込むような
構成とし、平均値を算出するために採用する母集団の
数、即ち平均化する画素数を2のn乗(nは自然数)個
とすることにより、CPUの演算処理時間を大幅に縮小
することができる。
When the CCD samples the pattern,
After calculating the average value using the ADDER circuit,
By directly writing to the high-speed image memory without passing through, the number of populations used for calculating the average value, that is, the number of pixels to be averaged is 2 to the nth power (n is a natural number) The CPU processing time can be greatly reduced.

【0076】次に、補正精度を向上させるためのサンプ
リング方法について説明する。レジずれ測定用パターン
をサンプリングするのに必要かつ十分なサンプル開始タ
イミンングは、画像形成装置がレジずれ測定用パターン
を出力した位置からレジずれ測定用パターンがCCDセ
ンサの真下に達する時間によって決められ、その時間
は、転写ベルトの速度、画像形成装置がレジずれ測定用
パターンを出力したタイミングから求められ、サンプリ
ング間隔は、予想されるずれの大きさから決められる。
そして、それらのレジずれ測定用パターンを常にうまく
サンプリングするためには、サンプル間隔を長くとらな
ければならない。したがって、レジずれ測定用パターン
の各ROS出力パターンの間隔も長くなってしまう。
Next, a sampling method for improving the correction accuracy will be described. The sample start timing necessary and sufficient for sampling the registration deviation measurement pattern is determined by the time when the registration deviation measurement pattern reaches directly below the CCD sensor from the position where the image forming apparatus outputs the registration deviation measurement pattern. The time is obtained from the speed of the transfer belt and the timing at which the image forming apparatus outputs the registration deviation measuring pattern, and the sampling interval is determined from the magnitude of the expected deviation.
Then, in order to always sample these registration displacement measurement patterns well, it is necessary to take a long sample interval. Therefore, the interval between the ROS output patterns of the registration shift measuring pattern also becomes long.

【0077】そこで、本発明では、まず、図2に示すよ
うな間隔の広いレジずれ測定用パターンを使用し、しか
も各ROS出力パターンに対して幅広く少なくても1回
サンプリングし、例えば重心法等を用いて各ROS出力
のアドレスを求める。そして、その差を各ROSのずれ
として各ROSを補正することによってDC成分ずれを
補正する。しかし、各種のAC成分ずれを無視してサン
プリングするために、場合によっては、最大AC成分ず
れ分の誤差が残る。この各種のAC成分ずれ分誤差を取
り除くために、図3に示すような間隔の狭いレジずれ測
定用パターンを使用し、しかも、粗調パターンのサンプ
ル見開き幅に対して充分幅狭で数回、望ましくは転写ベ
ルトの1周分繰り返しサンプリングする。そして、前記
と同様に重心法等を採用して各色パターンのアドレスを
1回毎に求めて平均し、逆に各色のカラーレジずれがな
くなるように各ROSの書き込みタイミング等を補正す
る。
Therefore, in the present invention, first, a registration deviation measuring pattern having a wide interval as shown in FIG. 2 is used, and furthermore, each ROS output pattern is sampled widely at least once. Is used to find the address of each ROS output. Then, the DC component shift is corrected by correcting each ROS using the difference as the shift of each ROS. However, since various AC component deviations are ignored in sampling, an error corresponding to the maximum AC component deviation remains in some cases. In order to remove these various AC component deviation errors, a registration deviation measuring pattern having a narrow interval as shown in FIG. 3 is used, and moreover, it is several times sufficiently narrow with respect to the sample spread width of the coarse adjustment pattern. Desirably, one round of the transfer belt is repeatedly sampled. Then, similarly to the above, by adopting the center of gravity method or the like, the address of each color pattern is obtained and averaged once, and conversely, the write timing of each ROS is corrected so that the color registration deviation of each color is eliminated.

【0078】なお、例えばレジずれを第1ROS(K)
出力を基準に他ROS出力のレジずれを補正する場合、
第1ROS(K)は、補正機能を持たない場合がある。
この場合には、粗サンプリングした後補正しても微サン
プリングしたときにサンプリングできないという問題が
生じるので、粗サンプリングした後第1ROS(K)出
力のずれをモニタし、レジずれ測定用パターンがCCD
センサの真下に達する時間をも補正すると、微サンプリ
ングのミスをなくすことができる。このように粗サンプ
リング→補正→微サンプリング→補正だけでなく、粗サ
ンプリング→補正→粗サンプリング→補正→微サンプリ
ング→補正、粗サンプリング→補正→微サンプリング→
補正→微サンプリング→補正などのようにして補正精度
や目標精度に合わせて組み合わせてもよい。
Note that, for example, the registration shift is determined by the first ROS (K).
When correcting the registration deviation of other ROS output based on the output,
The first ROS (K) may not have a correction function.
In this case, there is a problem that even if correction is performed after rough sampling, sampling cannot be performed when fine sampling is performed. Therefore, after the coarse sampling, the deviation of the first ROS (K) output is monitored, and the registration deviation measurement pattern is measured by the CCD.
By correcting the time to reach the position right below the sensor, it is possible to eliminate fine sampling error. In this way, not only coarse sampling → correction → fine sampling → correction, but also coarse sampling → correction → coarse sampling → correction → fine sampling → correction, coarse sampling → correction → fine sampling →
The correction accuracy, the fine sampling, and the correction may be combined in accordance with the correction accuracy and the target accuracy.

【0079】さらに、CCDのサンプル開始ポイントの
設定方法について詳細に説明する。図26乃至図27は
本発明のサンプル開始ポイントの設定方法を説明するた
めの図、図28は本発明のサンプル開始ポイントの他の
設定方法を説明するための図、図29はレジずれ測定用
パターンの他の例を示す図である。
Further, the method of setting the sampling start point of the CCD will be described in detail. 26 to 27 are views for explaining the method of setting the sample start point of the present invention, FIG. 28 is a view for explaining another method of setting the sample start point of the present invention, and FIG. 29 is for measuring the registration deviation. It is a figure which shows the other example of a pattern.

【0080】CCDにおけるサンプル開始ポイントは、
前記のようにレジずれ測定用パターンを形成する画像形
成装置とCCDセンサとの間のピッチに基づき、インタ
フェース基板の出力タイミングからCCDセンサの真下
に達するまでの時間で設定され、レジずれ測定用パター
ンをサンプリングするのに必要かつ十分なサンプル開始
タイミングを設定している。また、像位置アドレス精度
を上げるため各画像形成装置毎に幾つかのレジずれ測定
用パターンのサンプリングを行う場合、前のサンプルパ
ターンから次のサンプルパターン迄の距離(パターン間
隔)と転写ベルトの搬送速度等に基づき前のサンプル開
始タイミングから一定時間後を次のサンプル開始タイミ
ングとしている。
The sample starting point in the CCD is
As described above, it is set based on the pitch between the image forming apparatus that forms the registration deviation measurement pattern and the CCD sensor, and the time from the output timing of the interface board to the point directly below the CCD sensor. The sampling start timing necessary and sufficient for sampling is set. In addition, when several registration displacement measurement patterns are sampled for each image forming apparatus in order to improve the image position address accuracy, the distance (pattern interval) from the previous sample pattern to the next sample pattern and the transfer belt conveyance The next sample start timing is a fixed time after the previous sample start timing based on the speed and the like.

【0081】しかし、CCDの主走査読み込み周波数と
ROSの主走査書き込み周波数が異なることや、メカ及
びそのドライブ系の誤差が存在することにより、それら
の像位置認識用パターンを常にうまくサンプリングする
ことができないという問題が生じる。そこで、本発明で
は、レジずれ測定用パターンのサンプリング開始タイミ
ングを可変にし、しかもそれらを逐次補正する方式を採
用している。
However, due to the difference between the main scanning read frequency of the CCD and the main scanning writing frequency of the ROS and the existence of errors in the mechanism and its drive system, it is possible to always sample these image position recognition patterns well. The problem arises that you can't. Therefore, in the present invention, a method is adopted in which the sampling start timing of the registration deviation measurement pattern is made variable, and furthermore, these are sequentially corrected.

【0082】すなわち、図26に示すように第1ROS
から出力された最初のパターンのサンプルタイミング
は、まず、パターンがインタフェース基板の出力タイミ
ングからCCDセンサの真下に達するまでの時間をパタ
ーン間隔と転写ベルトの搬送速度等より設定される。そ
して、第2ROSの出力パターンのサンプルタイミング
は、第1ROSの出力パターンから第2ROSの出力パ
ターンまでの距離、すなわちパターン間隔と転送ベルト
の搬送速度等から設定される。以下第3ROS、第4R
OSの出力パターンのサンプルタイミングについても同
様である。
That is, as shown in FIG. 26, the first ROS
As for the sampling timing of the first pattern output from the first pattern, the time from the output timing of the interface substrate to the position directly below the CCD sensor is set by the pattern interval and the transfer belt conveyance speed. Then, the sampling timing of the output pattern of the second ROS is set from the distance from the output pattern of the first ROS to the output pattern of the second ROS, that is, the pattern interval and the transport speed of the transfer belt. Below 3rd ROS, 4th R
The same applies to the sampling timing of the output pattern of the OS.

【0083】さらに、像位置アドレス精度を上げるため
に、第1ROSから第4ROSのレジずれ測定用パター
ンをサンプリング後、それらを1ブロックとして複数の
ブロックをサンプリングして各画像形成装置毎に平均を
とっている。この場合、2回目の第1ROSの出力パタ
ーンのサンプルタイミングは、図26に示すように最初
の第1ROSの出力パターンのサンプル結果から重心法
等により得られた像位置アドレスの確定値から求められ
る。
Further, in order to improve the accuracy of the image position address, after the registration deviation measuring patterns of the first ROS to the fourth ROS are sampled, a plurality of blocks are sampled with these as one block and the average is taken for each image forming apparatus. ing. In this case, the sampling timing of the output pattern of the first ROS for the second time is obtained from the definite value of the image position address obtained by the centroid method or the like from the sampling result of the output pattern of the first first ROS as shown in FIG.

【0084】また、図27に示すように直前のパターン
の確定像位置アドレスを基に次のパターンのサンプル開
始ポイントを決定してもよいし、図28に示すように各
ROS毎に直前のパターンの確定像位置アドレスを基に
次のパターンのサンプル開始ポイントを決定してもよ
い。図29に示すようなレジずれ測定用パターンを使用
してもよい。
Further, as shown in FIG. 27, the sampling start point of the next pattern may be determined based on the definite image position address of the immediately preceding pattern, or as shown in FIG. The sampling start point of the next pattern may be determined based on the definite image position address of. A registration deviation measuring pattern as shown in FIG. 29 may be used.

【0085】上記のようなサンプリング方法を採用する
ことにより、レジずれ測定用パターンを見開き範囲内か
ら見失うことなく常にタイミングよくサンプリングで
き、見開き幅自体を狭めることができるだけでなく、絶
対アドレスの管理が不要になり、アドレスカウンタがご
く小さなものでもよくなる。またこのことにより、画像
データの量を減少させることができるので、メモリの容
量を少なくし、CPUの演算処理時間も軽減できる。そ
のため、単位時間当たりのサンプリング数を増やすこと
ができ、より高いAC成分までサンプリングできる。
By adopting the sampling method as described above, it is possible to always perform sampling in good timing without losing sight of the registration shift measuring pattern from the spread range, and not only the spread width itself can be narrowed but also absolute address management can be performed. It becomes unnecessary, and even a very small address counter can be used. Further, as a result, the amount of image data can be reduced, so that the capacity of the memory can be reduced and the calculation processing time of the CPU can be reduced. Therefore, the number of samplings per unit time can be increased, and higher AC components can be sampled.

【0086】また、1つの画像形成装置から出力された
パターン毎に実施することにより、見開きポイントの補
正回数を削減でき、サンプリング後の確定像位置の補正
工数も削減できるため、CPUの処理量を低減すること
ができる。補正値を持っておくことにより、ごく簡単な
演算でサンプリング後に像位置アドレスを補正すること
ができる。さらに、AC成分を除去するために複数回の
サンプリングを行って平均化し、それを像位置データと
して使用する場合には、それらの平均値を算出後に、そ
の平均像位置アドレスデータに1回だけ像位置アドレス
の補正をするだけでよい。そのため、見開きポイントの
間隔を一定に保ち、かつ予め持っている像位置アドレス
の補正値を持って像位置を決定することにより大幅にC
PUの演算工数を低減できる。
Further, by carrying out for each pattern output from one image forming apparatus, the number of times of spread point correction can be reduced and the number of man-hours for correcting the fixed image position after sampling can be reduced, so that the processing amount of the CPU is reduced. It can be reduced. By having the correction value, the image position address can be corrected after sampling by a very simple calculation. Further, in order to remove the AC component, the sampling is performed a plurality of times for averaging, and when the averaging is used as the image position data, those average values are calculated and then the average image position address data is used only once for the image. It is only necessary to correct the position address. Therefore, by keeping the distance between the spread points constant and determining the image position with the correction value of the image position address that is held in advance, the C
It is possible to reduce the calculation man-hour of PU.

【0087】一方、転写部材上の傷や汚れ、例えばトナ
ー等の印字媒体の抜けやぼた落ち等によってサンプリン
グ結果から像位置を確定することができなかった場合で
も、理想のサンプリング位置から大きく逸脱することも
なく一連の動作を続けることができるため、たとえ装置
の状態が悪化したとしても、即座に機能を失うことを防
止できる。
On the other hand, even when the image position cannot be determined from the sampling result due to scratches or stains on the transfer member, for example, dropout or dropout of the print medium such as toner, the deviation from the ideal sampling position is largely lost. Since a series of operations can be continued without doing so, even if the condition of the device deteriorates, it is possible to prevent immediate loss of function.

【0088】図30は頭だしパターンを有するレジずれ
測定用パターンの例を示す図、図31及び図32はレジ
ずれ測定用パターンのサンプル開始基準タイミングの設
定例を示す図、図33は頭だしパターンを有するレジず
れ測定用パターンの他の例を示す図である。
FIG. 30 is a diagram showing an example of a registration deviation measuring pattern having a heading pattern, FIGS. 31 and 32 are diagrams showing an example of setting a sample start reference timing of the registration deviation measuring pattern, and FIG. 33 is a heading. It is a figure which shows the other example of the pattern for registration shift measurement which has a pattern.

【0089】レジずれ測定用パターンのサンプルタイミ
ングを決定する方法として、図30に示すように頭だし
パターンを使うようにしてもよい。この場合には、図3
1に示すように頭だしパターンをサンプリングしてレベ
ル規定値を用い像レベルから背景レベルへ戻る時点から
レジずれ測定用パターンのサンプル開始基準タイミング
とし、そこから図30に示すt1、t2、t3、t4の
規定時間後からレジずれ測定用パターンのサンプリング
を開始する。また、ノイズ対策として、図32に示すよ
うにディレイ規定値(b)を設けてレジずれ測定用パタ
ーンのサンプル開始基準タイミングをずらすようにして
もよい。上記の例では、頭だしパターンを各色毎に設け
たが、図33に示すように複数の画像形成装置の出力に
対していずれか1つを用いるようにしてもよい。
As a method of determining the sampling timing of the registration deviation measuring pattern, a heading pattern may be used as shown in FIG. In this case,
As shown in FIG. 1, the cueing pattern is sampled and the reference value of the registration deviation is measured from the time of returning from the image level to the background level by using the level specified value. Then, t1, t2, t3 shown in FIG. Sampling of the registration deviation measuring pattern is started after a prescribed time of t4. Further, as a measure against noise, a delay specified value (b) may be provided as shown in FIG. 32 to shift the sample start reference timing of the registration deviation measurement pattern. In the above example, the heading pattern is provided for each color, but as shown in FIG. 33, any one may be used for the outputs of a plurality of image forming apparatuses.

【0090】図34(イ)は主走査方向のレジずれ測定
用パターンの他の例を示す図、図34(ロ)は副走査方
向のレジずれ測定用パターンの他の例を示す図である。
主走査方向のレジずれ量測定には図34イに示すパター
ンを使用し、副走査方向のレジずれ量測定には図34ロ
に示すパターンを使用してもよい。
FIG. 34 (a) is a diagram showing another example of the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction, and FIG. 34 (b) is a diagram showing another example of the registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction. .
The pattern shown in FIG. 34A may be used for measuring the registration deviation amount in the main scanning direction, and the pattern shown in FIG. 34B may be used for measuring the registration deviation amount in the sub-scanning direction.

【0091】このようなパターンを用いることにより、
副走査方向のレジずれ量のサンプリング結果では、複数
個分のパターンを一度に読み取るため、用紙搬送走査が
目標よりゆっくり移動あるいは速く移動した場合のよう
に、設計目標値と実際との差がある場合でも、移動速度
の差に影響されずサンプリングすることができ、倍率の
影響を受けにくくすることができる。さらには、用紙搬
送装置の移動速度にムラのような振動がある場合でも、
主・副走査方向のレジずれ量のサンプリング結果にはそ
の誤差は吸収されず、パターン自体が持つカラーレジス
トレーション成分のみをサンプリングすることができ、
余分な誤差要因の影響を含まないようにすることができ
る。したがって、容易搬送装置の移動速度変動によるレ
ジずれ量サンプリング時の誤差要因が排除でき、最適な
サンプリングを可能にし、確実なカラーレジズレ量を得
ることができる。
By using such a pattern,
In the sampling result of the registration deviation amount in the sub-scanning direction, since a plurality of patterns are read at once, there is a difference between the design target value and the actual value, as in the case where the paper transport scanning moves slowly or faster than the target. Even in this case, sampling can be performed without being affected by the difference in moving speed, and the influence of magnification can be reduced. Furthermore, even if there is uneven vibration in the moving speed of the paper transport device,
The error is not absorbed in the sampling result of the registration deviation amount in the main and sub-scanning directions, and only the color registration component of the pattern itself can be sampled.
The influence of extra error factors can be excluded. Therefore, it is possible to eliminate an error factor at the time of sampling the registration shift amount due to the fluctuation of the moving speed of the easy transporting device, enable the optimum sampling, and obtain a reliable color registration shift amount.

【0092】図35〜図37は転写ベルトのシーム検出
系の例を示す図、図38及び図39はシーム回避タイマ
の動作を説明するための図、図40はシーム回避センサ
の動作を説明するための図、図41はレジずれ検出・補
正系のブロック構成図、図42は像の乱れを説明するた
めの図、図43は像平均値規格値以上の例を示す図、図
44は像幅最小規格値以下の例を示す図、図45は像幅
最大規格値以上の例を示す図である。
35 to 37 are views showing an example of the seam detection system of the transfer belt, FIGS. 38 and 39 are views for explaining the operation of the seam avoidance timer, and FIG. 40 is a view for explaining the operation of the seam avoidance sensor. 41, FIG. 41 is a block configuration diagram of the registration deviation detection / correction system, FIG. 42 is a diagram for explaining image disturbance, FIG. 43 is a diagram showing an example of image average value standard value or more, and FIG. 44 is an image. FIG. 45 is a diagram showing an example below the minimum width standard value, and FIG. 45 is a diagram showing an example above the image width maximum standard value.

【0093】図35〜図37において、72K、72
Y、72M、72Cは画像形成装置の書き込み装置、7
3K、73Y、73M、73Cは画像形成装置の例えば
感光体ドラムのような作像装置、74は撮像素子、75
は光源、76は転写ベルト、77Aは駆動ローラ、77
bは従動ローラ、78はセンサ、79はシーム部、80
A、80Bは反射装置(ホール)を示す。
In FIGS. 35 to 37, 72K, 72
Y, 72M and 72C are writing devices of the image forming apparatus, 7
3K, 73Y, 73M and 73C are image forming devices such as photoconductor drums of the image forming apparatus, 74 is an image sensor, and 75
Is a light source, 76 is a transfer belt, 77A is a drive roller, 77
b is a driven roller, 78 is a sensor, 79 is a seam portion, 80
Reference numerals A and 80B denote reflecting devices (holes).

【0094】図35〜図37に示すように転写ベルト7
6には、ベルト状転写部材の継ぎ目にシーム部79がで
き、この部分及び近辺の画像形成不安定領域に形成され
た歪んだパターン像が誤って正規の像として認識される
という問題が生じる。すなわち、レジずれ測定用パター
ンを決められたサンプルタイミングで順次サンプリング
していった場合、上記画像形成不安定領域に形成された
歪みのあるパターン像があっても、そのまま処理してし
まうと、本来あるべき補正量に対してずれを生ずるとい
う問題がある。そこで、本発明では、この画像形成不安
定領域に形成され歪んだパターン像を誤って正規の像と
して認識することを防止するようにしている。
As shown in FIGS. 35 to 37, the transfer belt 7
6, a seam portion 79 is formed at the joint of the belt-shaped transfer member, and the distorted pattern image formed in this portion and the image forming unstable region in the vicinity thereof is erroneously recognized as a normal image. That is, when the registration deviation measurement pattern is sequentially sampled at a predetermined sample timing, even if there is a distorted pattern image formed in the image formation unstable area, if it is processed as it is, There is a problem in that there is a deviation with respect to the correction amount that should be. Therefore, in the present invention, the distorted pattern image formed in the image formation unstable region is prevented from being erroneously recognized as a normal image.

【0095】その方式としては、例えば図35に示すよ
うにセンサ78により反射装置(ホール)80Aを検出
することによって、撮像素子74の上流方向のある一定
の位置にシーム部79がきたことを検出し、撮像素子7
4が画像出力装置から出力されたパターンをサンプリン
グする際、パターンと転写ベルト76のシーム部79が
重なったり、それらがすぐ近く同士である間のデータ
を、例えば2ブロック分だけ捨てるようにすることであ
る。このことで、AC成分の影響を小さくし、全平均を
とったときの重心アドレスデータの信頼性を向上させる
ことができる。
As the method, for example, as shown in FIG. 35, a sensor 78 detects a reflecting device (hole) 80A to detect that the seam portion 79 has come to a certain position in the upstream direction of the image pickup device 74. Image sensor 7
When 4 is sampling the pattern output from the image output device, the pattern and the seam portion 79 of the transfer belt 76 are overlapped with each other, or the data while they are close to each other are discarded, for example, for two blocks. Is. As a result, it is possible to reduce the influence of the AC component and improve the reliability of the center-of-gravity address data when the total average is taken.

【0096】具体的には、例えば図38、図41に示す
ようにセンサ78の信号によりタイマAとBを起動して
タイマAのカウント終了からタイマBのカウント終了ま
での間を画像形成不安定領域として認識し、データを捨
てるように構成すればよい。センサ78、反射装置80
Aの位置によっては、図39に示すように1つのタイマ
だけを用いセンサ78の信号によりタイマを起動しカウ
ント終了までを画像形成不安定領域として認識するよう
に構成してもよいし、図40に示すようにセンサ78の
信号を画像形成不安定領域として認識するように構成し
てもよい。
Specifically, for example, as shown in FIGS. 38 and 41, the timers A and B are activated by the signal of the sensor 78, and the image formation is unstable between the end of the count of the timer A and the end of the count of the timer B. The data may be recognized as a region and the data may be discarded. Sensor 78, reflector 80
Depending on the position of A, only one timer may be used as shown in FIG. 39 and the timer may be activated by the signal of the sensor 78 and the time until the end of counting may be recognized as an image formation unstable region. The signal of the sensor 78 may be recognized as an image formation unstable region as shown in FIG.

【0097】像データの処理では、CPUにおいて画像
形成不安定領域でサンプリングされたデータが入ってい
る画像メモリの内容を捨てて演算を行い、最後に演算結
果を平均化する時に画像形成不安定領域でサンプリング
されたデータからの演算結果を使用しない、或いは画像
形成不安定領域が通過するまでサンプリングを中止する
ことによって、画像形成不安定領域ではサンプリングし
なかったようにすればよい。
In the processing of image data, the CPU discards the contents of the image memory containing the data sampled in the image forming unstable region, performs the calculation, and finally averages the calculation results. By not using the calculation result from the data sampled in, or by stopping the sampling until the image forming unstable region passes, it is possible to not sample in the image forming unstable region.

【0098】画像形成不安定領域の検出においては、図
36に示すように反射装置80Bの位置を画像出力装置
72K、72Y、72M、72C、73K、73Y、7
3M、73Cによってパターンが形成されるタイミング
に対応して検出できるようにすると、その検出信号によ
り画像出力信号を制御して画像出力を停止させることが
できる。
In detecting the unstable image forming area, the position of the reflecting device 80B is set to the image output devices 72K, 72Y, 72M, 72C, 73K, 73Y, 7 as shown in FIG.
If the detection can be performed corresponding to the timing at which the pattern is formed by the 3M and 73C, the image output signal can be controlled by the detection signal to stop the image output.

【0099】これにより、転写部材のシーム部79及び
その近辺の画像形成不安定領域に形成され歪んだパター
ン像を誤って正規の画像として認識することを防止し、
像位置の認識精度の低下を防止することができる。
This prevents the distorted pattern image formed in the seam portion 79 of the transfer member and the image forming unstable region in the vicinity thereof from being mistakenly recognized as a normal image,
It is possible to prevent deterioration of the image position recognition accuracy.

【0100】また、CCDの光源の光量調整をする場合
やシェーディング補正をする場合、パターンの載ってい
ない状態で、いわば画像を形成せずに複写部材を空回し
状態で、幾つかのポイントを幾つかの光量でCCDのデ
ータをサンプリングし、その中の一番良いコントラスト
を得るための光量を決定し、或いはそれらの値を基にシ
ェーディング補正量を決定している。その際、画像形成
不安定領域をサンプリングしてしまうと、誤った光量調
整やシェーディング補正をしてしまうことになる。そこ
で、本発明では、上記のような方法により画像形成不安
定領域を検出し、画像形成不安定領域でCCDの光源の
光量調整をしないようにし、或いはシェーディング補正
に使用するバックグランドデータをサンプリングしない
ようにすることによって、汚れやキズによる転写部材透
過率不良領域での誤った光量調整やシェーディング補正
値の決定を防止している。
Further, when adjusting the light quantity of the light source of the CCD or when performing shading correction, some points are taken in a state in which no pattern is formed, that is, an image is not formed and the copying member is idle. The CCD data is sampled with such a light amount, and the light amount for obtaining the best contrast among them is determined, or the shading correction amount is determined based on those values. At that time, if the image formation unstable region is sampled, erroneous light amount adjustment and shading correction will be performed. Therefore, in the present invention, the image forming unstable region is detected by the above method, the light amount of the light source of the CCD is not adjusted in the image forming unstable region, or the background data used for shading correction is not sampled. By doing so, erroneous light amount adjustment and shading correction value determination in the transfer member transmittance defective region due to dirt or scratches are prevented.

【0101】上記の各方式では、センサやタイマ等の手
段を用いて画像形成不安定領域を検出したが、サンプリ
ングされた像プロファイルから画像形成不安定領域に形
成されたレジずれ測定用パターンを認識してこれらのデ
ータを無効データとすることによって、誤って正規の像
として認識することを防止するように構成してもよい。
画像形成不安定領域に形成されたレジずれ測定用パター
ンの認識は、例えば図42に示すような像の乱れ、図4
3に示すような像平均値規格値以上のデータ、図44に
示すような像幅最小規格値以下のデータ、図45に示す
ような像幅最大規格値以上のデータを検出することによ
って行うことができる。
In each of the above-mentioned methods, the image forming unstable area is detected by using a sensor, a timer or the like. However, the registration deviation measuring pattern formed in the image forming unstable area is recognized from the sampled image profile. Then, by making these data invalid data, erroneous recognition as a normal image may be prevented.
Recognition of the registration deviation measuring pattern formed in the image formation unstable region is performed by, for example, image distortion as shown in FIG.
3 is performed by detecting data having an image average value standard value or more, data having an image width minimum standard value or less as shown in FIG. 44, and data having an image width maximum standard value or more as shown in FIG. You can

【0102】上記のようにすることにより、シーム部及
びシーム部近辺の画像形成不安定領域に形成された歪ん
だレジずれ測定用パターンの像を誤って正規の像として
認識してしまことがなくなる。その結果、レジずれ補正
系に対して常に誤差のすくない補正量を与えてやること
ができ、きわめてレジずれの少ない画質を提供すること
ができる。また、1つのセンサ出力を利用して、転写部
材のシーム部及びシーム部近辺の汚れやキズによる転写
部材の透過率不良領域の範囲も認識することができるの
で、CCDの光源の光量調整及びシェーディング補正の
安定化を図ることができる。
By doing so, it is possible to prevent the image of the distorted registration deviation measuring pattern formed in the seam portion and the image forming unstable region near the seam portion from being mistakenly recognized as a normal image. . As a result, it is possible to always give a correction amount with a small error to the registration deviation correction system, and it is possible to provide an image quality with very little registration deviation. Further, by using one sensor output, it is possible to recognize the seam portion of the transfer member and the range of the defective transmittance region of the transfer member due to stains or scratches in the vicinity of the seam portion. It is possible to stabilize the correction.

【0103】本発明の像位置アドレスの読み取り方式に
ついて説明する。図46はレジずれ測定用パターンの読
み取り像プロファイルの例を示す図、図47〜図51は
ノイズのある像プロファイルの例を示す図である。
An image position address reading method of the present invention will be described. FIG. 46 is a diagram showing an example of a read image profile of a registration deviation measuring pattern, and FIGS. 47 to 51 are diagrams showing examples of an image profile with noise.

【0104】レジずれ測定用パターンを読み込んだとき
の理想的な像プロファイルは、一般に図46に示すよう
になる。既に述べたように重心法を使ってこのパターン
イメージの中心を求め、この操作を繰り返して平均を求
めることによって正確な像位置アドレスを決定すること
ができるが、汚れ等で読み込んだパターンイメージが図
47に示すように太くなると、その中心を求めても正確
な像位置アドレスとはならなくなってしまう。
An ideal image profile when the registration shift measuring pattern is read is generally as shown in FIG. As described above, the center of this pattern image is found by using the center of gravity method, and the accurate image position address can be determined by repeating this operation and finding the average. If it becomes thick as shown by 47, the accurate image position address will not be obtained even if the center is obtained.

【0105】そこで、本発明では、像レベルや像幅から
汚れ等の像パターンを検出している。例えば図47の
(a)に示すようにしきい値を設定し、このしきい値以
下を像幅であるとし、その幅に対して図47の(b)に
示すように像幅最大規格値を持たせることにより、これ
を越えるものは汚れ等によって正確な像位置アドレスを
求めることができないと判断する。
Therefore, in the present invention, an image pattern such as a stain is detected from the image level and the image width. For example, a threshold value is set as shown in (a) of FIG. 47, and an image width equal to or less than this threshold value is defined as a maximum image width standard value as shown in (b) of FIG. It is judged that the accurate image position address cannot be obtained due to stains or the like if it is provided.

【0106】同様に、キズやトナー欠け等の場合には、
図48に示すように読み込んだパターンイメージが細く
なるので、像幅が(b)の像幅最小規格値以下のものと
して検出することができる。光源自身の光量劣化や転写
ベルトの透過率劣化等の場合には、図49に示すように
像レベル最大規格値を越えてしまうものとし、トナーか
ぶり等の場合には、図50に示すようにパターンイメー
ジ平均値の最小規格値以下のものとして検出することが
できる。さらに、しきい値以下を像幅とし、図51に示
すように複数の像幅情報が得られた場合には、像幅を像
幅最大規格値、像幅最小規格値と比較し、複数のデータ
がパスしたときは、採用しないようにしている。
Similarly, in the case of scratches, lack of toner, etc.,
Since the read pattern image becomes thin as shown in FIG. 48, it can be detected that the image width is equal to or less than the image width minimum standard value of (b). When the light amount of the light source itself is deteriorated or the transmittance of the transfer belt is deteriorated, the maximum standard value of the image level is exceeded as shown in FIG. 49. In the case of toner fog or the like, as shown in FIG. It can be detected as being less than the minimum standard value of the pattern image average value. Further, when the image width is equal to or less than the threshold value and a plurality of image width information is obtained as shown in FIG. 51, the image width is compared with the maximum image width standard value and the minimum image width standard value, When the data passes, it is not adopted.

【0107】上記のように読み込んだパターンイメージ
自身が理想像とかけ離れている場合には、正確な像位置
アドレスを決定するためのデータとして使用しないの
で、正確な像位置アドレスを決定することができる。ま
た、読み込んだパターンイメージの理想像だけを分離
し、像位置アドレスを決定するためのデータとして使用
するので、外乱がある場合にも、正確な像位置アドレス
の決定によりレジ誤差を精度よく検出でき、レジずれの
補正を精度よく行いカラー画像の質を向上させることが
できる。
When the read pattern image itself is far from the ideal image as described above, it is not used as data for determining an accurate image position address, so that an accurate image position address can be determined. . Further, since only the ideal image of the read pattern image is separated and used as data for determining the image position address, the registration error can be detected accurately by determining the accurate image position address even when there is a disturbance. It is possible to improve the quality of a color image by accurately correcting the registration shift.

【0108】[0108]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、パターンジェネレータにより各画像出力手段
の主走査方向と副走査方向にそれぞれ粗いレジずれ測定
用パターンまたは細かいレジずれ測定用パターンを繰り
返し発生できるようにし、選択的に画像形成装置から出
力しサンプリングするので、サンプルタイミングの調整
を行いながら無駄のないサンプル幅を設定してサンプル
・調整効率を上げ、高精度のレジずれ補正を行うことが
できる。しかも、CCDの主走査読み込み周波数とRO
Sの主走査書き込み周波数が異なったり、メカやそのド
ライブ系の誤差が存在することに起因して誤差が累積し
ても、画像形成装置から出力されたパターンをCCDが
見開き範囲内から見失うことをなくし、効率のよいサン
プリングを行うことができ、取り込む画像データの量を
少なくしてメモリ容量を低減し、演算処理時間を短縮す
ることが可能になる。その結果、単位時間当たりのサン
プリング数を増やすことができ、AC振動成分までもサ
ンプリングすることができる。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the pattern generator uses a pattern for measuring coarse registration deviation or a pattern for measuring fine registration deviation in the main scanning direction and the sub-scanning direction of each image output means. Since it can be repeatedly generated and is selectively output from the image forming apparatus to perform sampling, the sample width can be set while adjusting the sample timing to increase the sample / adjustment efficiency and highly accurate registration deviation correction. It can be carried out. Moreover, the main scanning read frequency of CCD and RO
Even if the error is accumulated due to a difference in the main scanning writing frequency of S or an error in the mechanism or its drive system, the CCD loses sight of the pattern output from the image forming apparatus within the spread range. It becomes possible to perform efficient sampling, reduce the amount of image data to be captured, reduce the memory capacity, and shorten the calculation processing time. As a result, the number of samplings per unit time can be increased, and even AC vibration components can be sampled.

【0109】また、画像形成装置から出力されたレジず
れ測定用パターンをCCDがサンプリングする際に専用
のメモリを用いるので、高速サンプリングが可能とな
る。さらに、CPUの処理を分散させるので、CPUの
演算処理時間を平滑化して単位時間当たりの処理の量を
軽減でき、単位時間当たりのサンプリング数を増やすこ
とができ、AC振動成分までもサンプリングすることが
できる。
Further, since a dedicated memory is used when the CCD samples the registration deviation measuring pattern output from the image forming apparatus, high speed sampling is possible. Furthermore, since the processing of the CPU is distributed, the processing time of the CPU can be smoothed to reduce the amount of processing per unit time, the number of samplings per unit time can be increased, and even the AC vibration component can be sampled. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明に係る多重画像形成装置のレジ合わせ
画像サンプリング補正方式の1実施例構成を示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of a registration registration image sampling correction method of a multiplex image forming apparatus according to the present invention.

【図2】 イニシャライズサイクル用パターンの例を示
す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a pattern for an initialization cycle.

【図3】 レジ補正サイクル用パターンの例を示す図で
ある。
FIG. 3 is a diagram showing an example of a registration correction cycle pattern.

【図4】 レジずれ補正のアルゴリズムを説明するため
の図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining an algorithm for registration shift correction.

【図5】 組立時及びSKEW粗補正時のレジ調整アル
ゴリズムを説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a registration adjustment algorithm during assembly and SKEW coarse correction.

【図6】 粗調サイクルのアルゴリズムを説明するため
の図である。
FIG. 6 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment cycle.

【図7】 微調サイクルのアルゴリズムを説明するため
の図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining an algorithm of a fine adjustment cycle.

【図8】 レジチェックサイクルのアルゴリズムを説明
するための図である。
FIG. 8 is a diagram for explaining an algorithm of a registration check cycle.

【図9】 レジ合わせ画像サンプリング補正装置の構成
例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a configuration example of a registration registration image sampling correction device.

【図10】 レジずれ補正基板の構成例を示すブロック
図である。
FIG. 10 is a block diagram showing a configuration example of a registration deviation correction substrate.

【図11】 粗調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment pattern sample.

【図12】 粗調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 12 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment pattern sample.

【図13】 粗調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 13 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment pattern sample.

【図14】 粗調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 14 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment pattern sample.

【図15】 粗調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 15 is a diagram for explaining an algorithm of a rough adjustment pattern sample.

【図16】 微調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 16 is a diagram for explaining an algorithm of a fine adjustment pattern sample.

【図17】 微調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 17 is a diagram for explaining an algorithm of a fine adjustment pattern sample.

【図18】 微調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 18 is a diagram for explaining an algorithm of a fine adjustment pattern sample.

【図19】 微調パターンサンプルのアルゴリズムを説
明するための図である。
FIG. 19 is a diagram for explaining an algorithm of a fine adjustment pattern sample.

【図20】 副走査サンプル開始ポイント補正のアルゴ
リズムを説明するための図である。
FIG. 20 is a diagram for explaining an algorithm for sub-scanning sample start point correction.

【図21】 副走査サンプル開始ポイント補正のアルゴ
リズムを説明するための図である。
FIG. 21 is a diagram for explaining an algorithm of sub-scanning sample start point correction.

【図22】 サンプル後のKに対する各色アドレス誤差
の補正アルゴリズムを説明するための図である。
FIG. 22 is a diagram for explaining a correction algorithm of each color address error for K after sampling.

【図23】 画像演算回路の構成例を示す図である。FIG. 23 is a diagram illustrating a configuration example of an image calculation circuit.

【図24】 画像データを演算処理する時間領域を説明
するための図である。
FIG. 24 is a diagram for explaining a time domain in which image data is arithmetically processed.

【図25】 画像データを演算処理する時間領域を説明
するための図である。
FIG. 25 is a diagram for explaining a time domain in which image data is arithmetically processed.

【図26】 本発明のサンプル開始ポイントの設定方法
を説明するための図である。
FIG. 26 is a diagram for explaining a method of setting a sample start point according to the present invention.

【図27】 本発明のサンプル開始ポイントの設定方法
を説明するための図である。
FIG. 27 is a diagram for explaining a method of setting a sample start point according to the present invention.

【図28】 本発明のサンプル開始ポイントの他の設定
方法を説明するための図である。
FIG. 28 is a diagram for explaining another method for setting the sample start point according to the present invention.

【図29】 レジずれ測定用パターンの他の例を示す図
である。
FIG. 29 is a diagram showing another example of the registration shift measuring pattern.

【図30】 頭だしパターンを有するレジずれ測定用パ
ターンの例を示す図である。
FIG. 30 is a diagram showing an example of a registration deviation measuring pattern having a heading pattern.

【図31】 レジずれ測定用パターンのサンプル開始基
準タイミングの設定例を示す図である。
FIG. 31 is a diagram showing an example of setting a sample start reference timing of a registration deviation measurement pattern.

【図32】 レジずれ測定用パターンのサンプル開始基
準タイミングの設定例を示す図である。
FIG. 32 is a diagram showing an example of setting a sample start reference timing of a registration deviation measurement pattern.

【図33】 頭だしパターンを有するレジずれ測定用パ
ターンの他の例を示す図である。
FIG. 33 is a diagram showing another example of a registration deviation measuring pattern having a heading pattern.

【図34】 主走査方向と副走査方向のレジずれ測定用
パターンの他の例を示す図である。
FIG. 34 is a diagram showing another example of the registration deviation measuring pattern in the main scanning direction and the sub-scanning direction.

【図35】 転写ベルトのシーム検出系の例を示す図で
ある。
FIG. 35 is a diagram showing an example of a seam detection system for a transfer belt.

【図36】 転写ベルトのシーム検出系の例を示す図で
ある。
FIG. 36 is a diagram showing an example of a seam detection system for a transfer belt.

【図37】 転写ベルトのシーム検出系の例を示す図で
ある。
FIG. 37 is a diagram showing an example of a transfer belt seam detection system.

【図38】 シーム回避タイマの動作を説明するための
図である。
FIG. 38 is a diagram for explaining the operation of the seam avoidance timer.

【図39】 シーム回避タイマの動作を説明するための
図である。
FIG. 39 is a diagram for explaining the operation of the seam avoidance timer.

【図40】 シーム回避センサの動作を説明するための
図である。
FIG. 40 is a diagram for explaining the operation of the seam avoidance sensor.

【図41】 レジずれ検出・補正系のブロック構成図で
ある。
FIG. 41 is a block diagram of a registration shift detection / correction system.

【図42】 像の乱れを説明するための図である。FIG. 42 is a diagram for explaining image distortion.

【図43】 像平均値規格値以上の例を示す図である。[Fig. 43] Fig. 43 is a diagram illustrating an example of an image average value standard value or more.

【図44】 像幅最小規格値以下の例を示す図である。FIG. 44 is a diagram showing an example of an image width minimum standard value or less.

【図45】 像幅最大規格値以上の例を示す図である。FIG. 45 is a diagram showing an example of an image width maximum standard value or more.

【図46】 レジずれ測定用パターンの読み取り像プロ
ファイルの例を示す図である。
FIG. 46 is a diagram showing an example of a read image profile of a registration shift measuring pattern.

【図47】 ノイズのある像プロファイルの例を示す図
である。
FIG. 47 is a diagram showing an example of a noisy image profile.

【図48】 ノイズのある像プロファイルの例を示す図
である。
FIG. 48 is a diagram showing an example of an image profile with noise.

【図49】 ノイズのある像プロファイルの例を示す図
である。
FIG. 49 is a diagram showing an example of an image profile with noise.

【図50】 ノイズのある像プロファイルの例を示す図
である。
FIG. 50 is a diagram showing an example of an image profile with noise.

【図51】 ノイズのある像プロファイルの例を示す図
である。
FIG. 51 is a diagram showing an example of a noisy image profile.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…制御部、2…サンプリング制御部、3…サンプリン
グ部、4…データ格納部、5…演算処理部、6…パター
ンジェネレータ、7…画像制御部、8…画像出力部、9
…転写ベルト
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Control part, 2 ... Sampling control part, 3 ... Sampling part, 4 ... Data storage part, 5 ... Arithmetic processing part, 6 ... Pattern generator, 7 ... Image control part, 8 ... Image output part, 9
… Transfer belt

フロントページの続き (72)発明者 足利 英昭 神奈川県海老名市本郷2274番地 富士ゼロ ックス株式会社内Front page continued (72) Inventor Hideaki Ashikaga 2274 Hongo, Ebina City, Kanagawa Prefecture Fuji Xerox Co., Ltd.

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数個の画像出力手段を転写ベルトに沿
って配設して多重画像を形成する多重画像形成装置のレ
ジ合わせを行うためのレジ合わせ画像サンプリング補正
方式において、 各画像出力手段に画像データを供給し画像形成を制御す
る出力制御手段と、 各画像出力手段の主走査方向と副走査方向にそれぞれ粗
いレジずれ測定用パターンまたは細かいレジずれ測定用
パターンを繰り返し発生するパターンジェネレータと、 各画像出力手段によって形成された画像を転写ベルトの
主走査方向の両側でサンプリングするサンプリング手段
と、 該サンプリング手段のサンプル開始ポイント及びサンプ
ル幅を制御するサンプリング制御手段と、 サンプリング手段でサンプリングしたデータを取り込み
レジずれ算出のための演算処理を行う演算処理手段と、 サンプリングデータまたは演算処理データを格納するデ
ータ格納手段と、 画像出力の制御や画像サンプリング補正の制御を行う制
御手段とを備え、制御手段は、画像サンプリング補正の
制御を行う場合、粗調整モードか微調整モードかに応じ
てパターンジェネレータの発生するレジずれ測定用パタ
ーンを選択すると共に、サンプリング制御手段のサンプ
ル開始ポイント及びサンプル幅を設定して繰り返しレジ
ずれ測定用パターンを発生させサンプリングデータまた
は演算処理データを積算しパターン位置を求めるように
構成したことを特徴とする多重画像形成装置のレジ合わ
せ画像サンプリング補正方式。
1. A registration image sampling correction method for registering a multiple image forming apparatus, wherein a plurality of image output means are arranged along a transfer belt to form a multiple image, and each image output means is provided with a registration image sampling correction method. An output control unit that supplies image data and controls image formation, and a pattern generator that repeatedly generates a coarse registration deviation measurement pattern or a fine registration deviation measurement pattern in the main scanning direction and the sub-scanning direction of each image output unit, Sampling means for sampling the image formed by each image output means on both sides of the transfer belt in the main scanning direction, sampling control means for controlling the sampling start point and sample width of the sampling means, and the data sampled by the sampling means. Arithmetic processing that performs arithmetic processing to calculate registration error Means, data storage means for storing sampling data or arithmetic processing data, and control means for controlling image output and image sampling correction, and the control means performs rough adjustment when controlling image sampling correction. The registration deviation measurement pattern generated by the pattern generator is selected according to the mode or the fine adjustment mode, and the sampling start point and the sample width of the sampling control means are set to repeatedly generate the registration deviation measurement pattern to generate sampling data or A registration image sampling and correction method for a multiple image forming apparatus, characterized in that it is configured to integrate arithmetic processing data to obtain a pattern position.
【請求項2】 データ格納手段として、主走査方向のレ
ジずれ測定用パターンの像データを記憶する専用メモリ
と副走査方向のレジずれ測定用パターンの像データを記
憶する専用メモリを有することを特徴とする請求項1記
載の多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補
正方式。
2. The data storage means comprises a dedicated memory for storing image data of a registration deviation measuring pattern in the main scanning direction and a dedicated memory for storing image data of a registration deviation measuring pattern in the sub-scanning direction. The registration image sampling and correcting method of the multiple image forming apparatus according to claim 1.
【請求項3】 演算処理手段は、サンプリング周期の短
い方の像データを優先処理し、残りの像データを分割処
理して処理を分散させるようにしたことを特徴とする請
求項1記載の多重画像形成装置のレジ合わせ画像サンプ
リング補正方式。
3. The multiplex apparatus according to claim 1, wherein the arithmetic processing means preferentially processes the image data having a shorter sampling period and divides the remaining image data to disperse the processing. Registration sampling image correction method for image forming apparatus.
【請求項4】 演算処理手段は、レジずれ測定用パター
ンの基準位置を各サンプル開始ポイント毎に補正し基準
位置とのズレで像データを積算処理することを特徴とす
る請求項1記載の多重画像形成装置のレジ合わせ画像サ
ンプリング補正方式。
4. The multiplex processing apparatus according to claim 1, wherein the arithmetic processing means corrects the reference position of the registration deviation measuring pattern for each sample start point and integrates the image data with a deviation from the reference position. Registration sampling image correction method for image forming apparatus.
【請求項5】 演算処理手段は、像データをレジずれ測
定用パターンか否かを識別し、レジずれ測定用パターン
の識別結果により処理データと除外データとを判別する
ことを特徴とする請求項1記載の多重画像形成装置のレ
ジ合わせ画像サンプリング補正方式。
5. The arithmetic processing means identifies whether or not the image data is a registration deviation measurement pattern, and determines the processed data and the exclusion data based on the identification result of the registration deviation measurement pattern. 1. The registration-matching image sampling correction method of the multiple image forming apparatus described in 1.
【請求項6】 制御手段は、前のパターンの像位置情報
を基にサンプル開始ポイントを補正することを特徴とす
る請求項1記載の多重画像形成装置のレジ合わせ画像サ
ンプリング補正方式。
6. The registration image sampling correction method for a multiple image forming apparatus according to claim 1, wherein the control means corrects the sampling start point based on the image position information of the previous pattern.
【請求項7】 制御手段は、レジずれ測定用パターンの
各サンプル開始ポイントの間隔を一定にし、1サイクル
毎に前のパターンの像位置情報を基にサンプル開始ポイ
ントを補正することを特徴とする請求項6記載の多重画
像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正方式。
7. The control means corrects the sample start point based on the image position information of the previous pattern for each cycle while keeping the interval between the sample start points of the registration deviation measurement pattern constant. A registration registration image sampling correction method of the multiple image forming apparatus according to claim 6.
【請求項8】 制御手段は、粗調整モードのときに粗い
レジずれ測定用パターンを選択し、画像出力手段の感光
体ドラムが1周する間のサンプリングデータを取り込む
ように制御することを特徴とする請求項6記載の多重画
像形成装置のレジ合わせ画像サンプリング補正方式。
8. The control means selects a rough registration deviation measuring pattern in the coarse adjustment mode, and controls so as to capture sampling data during one revolution of the photosensitive drum of the image output means. 7. A registration registration image sampling correction method for a multiple image forming apparatus according to claim 6.
【請求項9】 制御手段は、微調整モードのときに細か
いレジずれ測定用パターンを選択し、転写ベルトが1周
する間のサンプリングデータを取り込むように制御する
ことを特徴とする請求項1記載の多重画像形成装置のレ
ジ合わせ画像サンプリング補正方式。
9. The control means selects a fine registration displacement measuring pattern in the fine adjustment mode and controls so as to capture sampling data during one rotation of the transfer belt. Registration image sampling and correction method for multiple image forming apparatus.
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