JPH06250402A - Method for removing water-soluble resist - Google Patents

Method for removing water-soluble resist

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JPH06250402A
JPH06250402A JP3527693A JP3527693A JPH06250402A JP H06250402 A JPH06250402 A JP H06250402A JP 3527693 A JP3527693 A JP 3527693A JP 3527693 A JP3527693 A JP 3527693A JP H06250402 A JPH06250402 A JP H06250402A
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solder
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lead
dissolution
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宏一 津山
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Abstract

PURPOSE:To provide a method for removing a water-soluble resist excellent in inhibition of dissolution of solder and also excellent in prevention of deposition of lead. CONSTITUTION:A plating resist is formed using a water-soluble resist on a substrate with laminated copper foil, solder plating is carried out and then the water-soluble resist is removed with a removing soln. contg. 0.5-100g/l triethyl phosphate and further contg. at least one among aminoguanidine, hydrazines, sulfurous acid and dithionous acid or their salts, borohydride, carbazinic ester, thiourea dioxide, sulfinic acids, sulfoxy acids, hydrazides and semicarbazide salt.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、配線板の製造工程にお
ける水溶性レジストの剥離方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for removing a water-soluble resist in a wiring board manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】配線板の製造法の一つに、はんだをエッ
チングレジストとして用い、配線形成する方法が知られ
ている。この方法の一般的な場合を例にあげると、両面
に銅箔を積層した基板に、穴あけ後、銅めっきをほどこ
し、この後、有機レジスト膜によって、被めっき部以外
を被覆する。このものに、はんだめっきを行い、有機レ
ジスト膜を剥離後、不要部分の銅をエッチングによって
除去する。この有機レジスト膜に水溶性レジストを用
い、アルカリ性水溶液によって剥離する方法がある。水
溶性レジストの剥離に用いられる剥離液は、一般的に水
酸化ナトリウムや水酸化カリウムなどの強アルカリ性水
溶液で、pH13以上で用いられることが多い。このと
きの、温度は、40〜50℃で、剥離に要する時間は、
2〜3分程度が一般的である。
2. Description of the Related Art As one of the methods for manufacturing a wiring board, a method is known in which wiring is formed by using solder as an etching resist. Taking a general case of this method as an example, a substrate having copper foils laminated on both sides is perforated and then copper plated, and thereafter, an organic resist film is coated on a portion other than a plated portion. This is subjected to solder plating to remove the organic resist film, and then unnecessary portions of copper are removed by etching. There is a method of using a water-soluble resist for this organic resist film and peeling it off with an alkaline aqueous solution. The stripping solution used for stripping the water-soluble resist is generally a strong alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide, and is often used at a pH of 13 or more. At this time, the temperature is 40 to 50 ° C., and the time required for peeling is
About 2 to 3 minutes is common.

【0003】実際の剥離時間は、高密度パターン部分に
剥離残渣などが残らず、完全に水溶性レジストが剥離さ
れるために、ほぼレジストが剥離される時間(約40〜
50秒)の3倍程度に設定される。このため、剥離作業
の多くの時間は、銅(水溶性レジストの剥離された部
分)とはんだめっきとが同時に剥離液にさらされる状態
となる。剥離液は、上記したように強アルカリ性の液で
あるため、エッチングレジストの役割を果たすべき、は
んだが溶解され、その厚さが不十分となったり、また、
はんだの構成金属の一方(錫)が過剰に溶解されてしま
ったりすることがある。特に基板周辺部や疎なパターン
においては、はんだめっきの電流密度が大となるため、
はんだめっき中の錫比率が高くなり、剥離時にはんだめ
っきの溶解が増加する傾向がある。このため、次工程で
あるアルカリエッチング工程において、充分なエッチン
グレジストの役割を果たしえず、配線に断線や欠けなど
の欠陥を作ることがあった。また、水溶性レジストの剥
離時には、銅とはんだが接触しているための局部電池作
用も、先に述べたはんだの腐食、溶解の促進要因となっ
ている。
The actual stripping time is almost the time required for stripping the resist (about 40 to 40) because the stripping residue does not remain in the high density pattern portion and the water-soluble resist is stripped completely.
(50 seconds). For this reason, copper (the part where the water-soluble resist is peeled off) and the solder plating are exposed to the peeling liquid at the same time for a long time of the peeling work. Since the stripping solution is a strong alkaline solution as described above, it should serve as an etching resist, the solder is dissolved, and its thickness becomes insufficient, or,
One of the constituent metals of the solder (tin) may be excessively melted. In particular, the current density of the solder plating becomes large in the peripheral area of the board and in the sparse pattern.
The tin ratio in the solder plating becomes high, and the dissolution of the solder plating tends to increase during peeling. For this reason, in the subsequent alkaline etching step, it may not be possible to sufficiently function as an etching resist, and defects such as disconnection or chipping may be created in the wiring. Further, the local battery action due to the contact between copper and solder at the time of peeling the water-soluble resist is also a factor for promoting the corrosion and dissolution of the solder described above.

【0004】そこで、この腐食、溶解を防止するため
に、還元性物質や、さらに、アリールスルホン酸ナトリ
ウムや有機イオウ化合物等を添加する方法、ホウ水素化
合物を添加する方法、イミダゾール化合物を添加する方
法や、3,5ジメチルピラゾールを添加する方法が、特
開昭63−183445号公報、特開昭64−2425
4号公報、特開昭64−81295号公報および特開昭
62−151589号公報に、それぞれ、示されてい
る。また、水溶性レジストの剥離において、鉛イオンが
水溶性レジスト剥離後の銅表面に析出し、エッチングを
阻害するために、配線間のショートを引き起こすことが
ある。そこで、鉛の析出を防ぐために、酸化剤を添加す
る方法が、特開昭63−38588号公報に示されてい
る。
Therefore, in order to prevent this corrosion and dissolution, a reducing substance, a method of further adding sodium aryl sulfonate, an organic sulfur compound, etc., a method of adding a borohydride compound, a method of adding an imidazole compound. Alternatively, the method of adding 3,5 dimethylpyrazole is disclosed in JP-A-63-183445 and JP-A-64-2425.
No. 4, JP-A-64-81295 and JP-A-62-151589, respectively. Further, in stripping the water-soluble resist, lead ions may be deposited on the copper surface after stripping the water-soluble resist and inhibit etching, which may cause a short circuit between wirings. Therefore, a method of adding an oxidizing agent in order to prevent the precipitation of lead is disclosed in JP-A-63-38588.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】前記特開昭63−18
3445号公報、特開昭64−24254号公報、特開
昭64−81295号公報および特開昭62−1515
89号公報に示されている方法では、スプレー方式によ
り剥離作業を行うと、充分な効果が得られない。また、
特開昭63−38588号公報において鉛の析出を防ぐ
方法として示されている酸化剤を用いる方法と、特開昭
63−183445号公報や特開昭64−81295号
公報においてはんだの溶解を抑制する方法として示され
ている還元性物質を用いる方法とは、両立しえない。す
なわち、いままでは、はんだの溶解抑制と鉛の析出防止
を同時にはかることは困難であった。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
No. 3445, No. 64-24254, No. 64-81295, and No. 62-1515.
In the method disclosed in Japanese Patent Publication No. 89, a sufficient effect cannot be obtained if the peeling work is performed by a spray method. Also,
Japanese Patent Laid-Open No. 63-38588 discloses a method using an oxidant, which is shown as a method for preventing the precipitation of lead, and Japanese Patent Laid-Open Nos. 63-183445 and 64-81295 suppress the melting of solder. It is not compatible with the method of using a reducing substance, which is shown as the method of That is, until now, it has been difficult to simultaneously suppress the dissolution of solder and prevent the precipitation of lead.

【0006】本発明は、はんだの溶解の抑制に優れ、同
時に、鉛の析出の防止に優れた水溶性レジストの剥離方
法を提供するものである。
The present invention provides a method of stripping a water-soluble resist which is excellent in suppressing the melting of solder and at the same time excellent in preventing the precipitation of lead.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、銅箔を積層し
た基板に、水溶性レジストでめっきレジストを形成し、
はんだめっきを行い、その後、この水溶性レジストを剥
離する水溶性レジストの剥離方法において、剥離液中に
リン酸トリエチルを含むことを特徴とする。さらに、ア
ミノグアニジン、ヒドラジン類、亜硫酸、亜二チオン酸
またはこれらの塩、ホウ水素化物、カルバジン酸エステ
ル、二酸化チオ尿素、スルフィン酸類、スルホキシ酸
類、ヒドラジド類、セミカルバジド塩の少なくとも一つ
を含むことを特徴とする。
According to the present invention, a plating resist is formed of a water-soluble resist on a substrate laminated with copper foil,
A method of stripping a water-soluble resist, which comprises performing solder plating and then stripping the water-soluble resist, is characterized in that the stripping solution contains triethyl phosphate. Further, at least one of aminoguanidine, hydrazines, sulfurous acid, dithionous acid or a salt thereof, borohydride, carbazic acid ester, thiourea dioxide, sulfinic acids, sulfoxy acids, hydrazides, and semicarbazide salts is contained. Characterize.

【0008】配線形成を阻害する鉛の析出について、特
開昭63−38588号公報では、はんだめっき液成分
残存の影響が述べられている。しかし、筆者らの検討結
果では、鉛の析出は、剥離液中で引き起こされるものと
考えられる。以下にこれについて詳細に述べる。
Regarding the precipitation of lead which hinders the formation of wiring, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-38888 describes the effect of residual solder plating solution components. However, according to the results of studies by the authors, it is considered that the precipitation of lead is caused in the stripping solution. This will be described in detail below.

【0009】銅のエッチングレジストに使用されるはん
だの構成金属である錫や鉛は、pH13以上で溶解する
ことが、化学同人1984年発行の「金属の腐食防食序
論」p242における図17−11、「スズの電位−p
H図」、および、p243における図17−12、「鉛
の電位−pH図」などに示されている。実際に、銅表面
に配線幅、スペース幅ともに100〜150μm程度の
高密度なはんだめっきのパターンを形成し、40g/l
程度の水酸化ナトリウム水溶液の液滴を落とすと、室温
で数分放置後に、銅の露出部分が灰色に変色するのが容
易に観察されることを、筆者らは見出している。また、
この灰色部分を分析すると鉛が検出される。この理由
は、はんだめっき金属が、一旦溶解後、液中に溶けでた
鉛イオンが再析出するものと考えられる。なお、鉛につ
いては、液滴中で、溶解と析出が同時に、もしくは、逐
次的に起っていることになる。この詳細な機構について
は不明である。はんだめっき金属の鉛と錫、および、銅
(はんだめっきがなされていない部分)の三種類の金属
が存在するためにこの様な現象が起るようである。この
ように、アルカリ剥離液中での、はんだの溶解や鉛の再
析出現象は容易に確認される。
Tin and lead, which are the constituent metals of the solder used for the etching resist of copper, dissolve at pH 13 or above. It is noted that Kagaku Dojin, 1984, "Introduction to Corrosion and Corrosion of Metals," p242, FIGS. "Tin potential-p
H diagram ”, FIGS. 17-12 in p243,“ lead potential-pH diagram ”, and the like. Actually, a high-density solder plating pattern having a wiring width and a space width of about 100 to 150 μm was formed on the copper surface, and 40 g / l
The authors have found that when a drop of a sodium hydroxide aqueous solution is dropped, it is easily observed that the exposed portion of copper turns gray after standing for several minutes at room temperature. Also,
Lead is detected when this gray area is analyzed. The reason for this is considered to be that once the solder-plated metal is dissolved, the lead ions dissolved in the solution are re-precipitated. It should be noted that, regarding lead, dissolution and precipitation occur simultaneously or sequentially in the droplet. The detailed mechanism is unknown. Such a phenomenon seems to occur because there are three kinds of metals, that is, lead and tin of the solder-plated metal, and copper (a portion not solder-plated). Thus, the dissolution of solder and the reprecipitation phenomenon of lead in the alkaline stripping solution are easily confirmed.

【0010】はんだの溶解抑制方法を示した特開昭63
−183445号公報、特開昭64−81295号公
報、特開昭62−151589号公報および特開昭63
−38588号公報に、室温において、静置時の溶解速
度や溶解量の実例が実施例および比較例として示されて
いる。これら4件の公報のそれぞれの実施例に示されて
いるように、溶解をある程度抑制することはできるが、
完全には溶解を抑制できないことがわかる。実際の作業
には、一般的に、1〜2kg/c のスプレー圧力で、
40〜50℃の温度の剥離液を、コンベアを用いて搬送
している基板に接触させて、水溶性レジストを剥離する
スプレー方式を用いられることが多い。この様に、常に
新しい液が基板表面に供給される場合、見かけの拡散係
数は静置時と比較にならないほど大きくなり、はんだの
溶解速度は、上記の公報の実施例の値よりもはるかに大
きくなることが容易に推定される。従って、上に示した
ような溶解抑制方法を採用しても、基板の処理枚数とと
もに、剥離液中にはんだが溶解し、その金属イオン量が
増加することになる。
Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 63-Showa showing a method for suppressing the dissolution of solder.
-183445, JP 64-81295, JP 62-151589 and JP 63.
In Japanese Patent Laid-Open No. 38588/1985, actual examples of dissolution rate and dissolution amount at room temperature at room temperature are shown as Examples and Comparative Examples. As shown in the respective examples of these four publications, although it is possible to suppress dissolution to some extent,
It can be seen that the dissolution cannot be completely suppressed. For actual work, generally, spray pressure of 1-2 kg / c,
In many cases, a spray method is used in which a stripping solution at a temperature of 40 to 50 ° C. is brought into contact with a substrate being conveyed using a conveyor to strip the water-soluble resist. Thus, when a new liquid is constantly supplied to the surface of the substrate, the apparent diffusion coefficient becomes incomparably larger than that in the stationary state, and the melting rate of the solder is much higher than the values in the examples of the above publications. It is easily estimated to be large. Therefore, even if the dissolution suppressing method as described above is adopted, the solder dissolves in the stripping solution and the amount of metal ions increases with the number of processed substrates.

【0011】実際に、スプレー式水溶性レジスト剥離装
置を用い、特開昭63−183445号公報に示されて
いる方法に相当する還元剤入り薬剤であるOPCパーソ
リ(奥野製薬株式会社製、商品名)を剥離液に添加し、
200cm2の基板(はんだ面積:25%)のドライフ
ィルムHF450(日立化成工業株式会社製、商品名)
を剥離した後、液中の鉛イオンを測定したところ、その
濃度は、300〜400ppmであった。筆者らは、剥
離液中の鉛イオン量が、400ppm程度になると、鉛
の基板表面への析出が目視で観察され始め、その後のア
ルカリエッチングで残銅を引き起こすことを見出してい
る。
Actually, using a spray type water-soluble resist stripping device, OPC Parsori (manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., trade name, which is a reducing agent-containing drug corresponding to the method disclosed in JP-A-63-183445) is used. ) To the stripper,
200 cm 2 substrate (solder area: 25%) dry film HF450 (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name)
After peeling, the lead ion in the liquid was measured, and the concentration was 300 to 400 ppm. The authors have found that when the amount of lead ions in the stripping solution becomes about 400 ppm, precipitation of lead on the substrate surface begins to be visually observed, and the residual copper causes residual copper in the subsequent alkali etching.

【0012】そこで、鋭意検討を行った結果、液中に鉛
イオンが増加すると、溶解が加速されること、また、特
開昭63−183445号公報、特開昭64−2425
4号公報、特開昭64−81295号公報および特開昭
62−151589号公報に示されている方法で試験し
た結果、液中に鉛イオンが存在すると溶解が増大し(溶
解電流値を測定)、充分な抑制効果が得られないことを
見出した。鉛イオンの存在時に、溶解が加速される理由
として、先に述べた鉛の再析出反応が、腐食、溶解の対
極反応となっているためと推定される。また、溶解電流
を測定したところ、液中の鉛イオンが50〜100pp
mの場合、目視では必ずしも鉛の析出が確認できない
が、この様な溶解の加速現象の起ることがわかった。即
ち、一般の剥離作業において、はんだの溶解が特に問題
になるのは、単にアルカリ液中へはんだが溶解する単純
な溶解現象に加えて、このような加速現象によるためと
考えられる。
[0012] Therefore, as a result of intensive studies, as lead ions increase in the solution, dissolution is accelerated, and further, JP-A-63-183445 and JP-A-64-2425.
No. 4, JP-A-64-81295, and JP-A-62-151589, the results of the tests showed that when lead ions were present in the solution, the dissolution increased (the dissolution current value was measured. ), It was found that a sufficient suppression effect cannot be obtained. It is presumed that the reason why the dissolution is accelerated in the presence of lead ions is that the lead reprecipitation reaction described above is a counter electrode reaction of corrosion and dissolution. Also, when the dissolution current was measured, the lead ions in the liquid were 50 to 100 pp.
In the case of m, although it was not always possible to visually confirm the precipitation of lead, it was found that such a dissolution acceleration phenomenon occurs. That is, in general peeling work, it is considered that the dissolution of solder is particularly problematic due to such an acceleration phenomenon in addition to the simple dissolution phenomenon in which the solder is dissolved in the alkaline solution.

【0013】そこで、鉛イオンと錯体を形成し、鉛の析
出を抑制する方法を検討した結果、剥離液中にリン酸ト
リエチルを添加することが有効なことがわかった。剥離
液中へ、リン酸トリエチルを添加した結果、その後のア
ルカリエッチングによって配線部分がエッチングされる
(欠けや断線不良)ような欠陥を防止できる。リン酸ト
リエチルの添加量は、実用的には、0.5g/l以上で
ある。また、不必要に多くの量を添加することは、コス
ト的に不利となることから、100g/lが実用的な最
大添加量である。実用上、より望ましい添加量の範囲
は、1.0〜50g/lである。
Then, as a result of studying a method of forming a complex with lead ions and suppressing the precipitation of lead, it was found that adding triethyl phosphate to the stripping solution was effective. As a result of adding triethyl phosphate to the stripping solution, it is possible to prevent a defect such as a wiring portion being etched by a subsequent alkali etching (a chipping or a disconnection defect). Practically, the amount of triethyl phosphate added is 0.5 g / l or more. Moreover, since adding an unnecessarily large amount is disadvantageous in terms of cost, 100 g / l is the practical maximum addition amount. Practically, the more desirable range of the addition amount is 1.0 to 50 g / l.

【0014】さらに、アミノグアニジン、ヒドラジン
類、亜硫酸、亜二チオン酸またはこれらの塩、ホウ水素
化物、カルバジン酸エステル、二酸化チオ尿素、スルフ
ィン酸類、スルホキシ酸類、ヒドラジド類、セミカルバ
ジド塩の少なくとも一つを添加することによって、より
一層の効果が得られる。アミノグアニジン類について
は、重炭酸アミノグアニジン、硫酸アミノグアニジン、
塩酸アミノグアニジンなどが使用できる。ヒドラジン類
については、水加ヒドラジン、モノメチルヒドラジン、
ジメチルヒドラジンなどが使用でき、その塩としては、
硫酸ヒドラジン、炭酸ヒドラジン、塩酸ヒドラジンが使
用できる。亜硫酸塩については、亜硫酸ナトリウムや亜
硫酸カリウムが使用できる。亜二チオン酸塩としては、
ハイドロサルファイトナトリウム、ハイドロサルファイ
トカリウム、ハイドロサルファイトアンモニウムが使用
できる。ホウ水素化物としては、ジメチルアミンボラ
ン、水素化ホウ素ナトリウムや水素化ホウ素カリウムが
使用できる。カルバジン酸エステルとしては、メチルカ
ルバゼート(別名:カルバジン酸メチル)やエチルカル
バゼート(別名:カルバジン酸エチル)が使用できる。
スルフィン酸類としては、ホルムアミジンスルフィン酸
をスルホキシ酸類としては、通称ロンガリットと呼ばれ
るソジウムホルムアルデヒドスルホキシレート(別名:
ヒドロキシメタンスルホン酸ナトリウム)が使用でき
る。ヒドラジド類としては、カルボヒドラジド、アセト
ヒドラジドやイソニコチン酸ヒドラジドが使用できる。
セミカルバジド塩としては、硫酸セミカルバジドや塩酸
セミカルバジドが使用できる。なお、二酸化チオ尿素
は、アルカリ液中で分解し、ホルムアミジンスルフィン
酸を生成するので、ホルムアミジンスルフィン酸と同様
の効果が得られるものである。
Furthermore, at least one of aminoguanidine, hydrazines, sulfurous acid, dithionous acid or salts thereof, borohydride, carbazic acid ester, thiourea dioxide, sulfinic acids, sulfoxy acids, hydrazides, and semicarbazide salts is used. Further effects can be obtained by adding them. For aminoguanidines, aminoguanidine bicarbonate, aminoguanidine sulfate,
Aminoguanidine hydrochloride or the like can be used. For hydrazines, hydrazine hydrate, monomethylhydrazine,
Dimethylhydrazine etc. can be used, and as its salt,
Hydrazine sulfate, hydrazine carbonate and hydrazine hydrochloride can be used. As the sulfite, sodium sulfite or potassium sulfite can be used. As the dithionite salt,
Sodium hydrosulfite, potassium hydrosulfite, and ammonium hydrosulfite can be used. As the borohydride, dimethylamine borane, sodium borohydride or potassium borohydride can be used. As the carbazate ester, methyl carbazate (alias: methyl carbazate) or ethyl carbazate (alias: ethyl carbazate) can be used.
Formamidine sulfinic acid is used as sulfinic acid, and sodium formaldehyde sulfoxylate (also known as Rongalit) is used as sulfoxy acid.
Sodium hydroxymethanesulfonate) can be used. As the hydrazides, carbohydrazide, acetohydrazide and isonicotinic acid hydrazide can be used.
As the semicarbazide salt, sulfuric acid semicarbazide or hydrochloric acid semicarbazide can be used. Since thiourea dioxide is decomposed in an alkaline solution to form formamidinesulfinic acid, the same effect as that of formamidinesulfinic acid can be obtained.

【0015】第二の添加剤として示した上記化合物は、
いずれも剥離液中で還元効果を示すものであり、添加量
は、これらの化合物の還元当量や寿命(還元効果の持続
時間)によって異なる。しかし、溶解性やコストなどの
実用的な観点から、望ましい添加量は、0.01〜10
0g/lである。なお、第二の添加剤を複数用いる場合
は、「添加量」の語を「合計の添加量」と読みかえるこ
ととする。実用上、より望ましい添加量の範囲は、0.
05〜50g/lである。
The above compound shown as the second additive is
All of them show a reducing effect in the stripping solution, and the addition amount depends on the reducing equivalent of these compounds and the life (duration of the reducing effect). However, from the practical viewpoint of solubility and cost, the desirable addition amount is 0.01 to 10
It is 0 g / l. When a plurality of second additives are used, the term "added amount" should be read as "total added amount". In practical use, the more desirable range of addition amount is 0.
It is 05 to 50 g / l.

【0016】一般的に、還元剤として知られている亜リ
ン酸水素二ナトリウムやホスフィン酸ナトリウム(別
名:次亜リン酸ナトリウム)では、剥離液中で充分な還
元性が見られず、また、溶解抑制効果(溶解電流を測
定)も得られなかった。この理由として、剥離液のpH
条件では、還元寿命が数分以下と極めて短いためではな
いかと考えられる。チオ硫酸ナトリウムについては、還
元寿命はある程度得られるものの、溶解抑制効果は得ら
れなかった。この理由として、チオ硫酸ナトリウムの還
元能力が低く、溶解抑制には不十分なことが考えられ
る。また、アルデヒド類であるホルムアルデヒド、テレ
フタルアルデヒド酸、o−フタルアルデヒド酸、ベンズ
アルデヒド−oスルホン酸、テレフタルアルデヒド、ベ
ンズアルデヒド2,4ジスルホン酸については、剥離液
中での還元剤としての寿命が、極めて短く、30分以下
で還元剤量(ヨウ素による酸化還元滴定で測定)が初期
投入量から計算される値の1/10以下となり、実用的
ではなかった。フェノール類である没食子酸、没食子酸
エチル、没食子酸nプロピル、没食子酸メチル、ピロガ
ロール、pヒドロキシベンゼンスルホン酸ナトリウム、
2,4キシレノールについては、還元寿命が短く、実用
的ではなかった。なお、アミノグアニジンについては、
剥離液中で還元効果が得られるが、1,1,3,3テト
ラメチルグアニジンや硫酸グアニジンなどアミノ基のな
いグアニジン類については効果が得られず、適していな
かった。以上の様に、剥離液に添加して効果のある還元
性物質は、本特許に示したように、極めて限られたもの
だけであった。
Generally, disodium hydrogen phosphite and sodium phosphinate (also known as sodium hypophosphite), which are known as reducing agents, do not show sufficient reducing properties in the stripping solution, and No dissolution inhibiting effect (measurement of dissolution current) was also obtained. The reason for this is the pH of the stripper
Under the conditions, it is considered that the reduction life is extremely short such as several minutes or less. Regarding sodium thiosulfate, the reduction life was obtained to some extent, but the dissolution inhibiting effect was not obtained. It is considered that this is because sodium thiosulfate has a low reducing ability and is insufficient for suppressing dissolution. In addition, aldehydes such as formaldehyde, terephthalaldehyde acid, o-phthalaldehyde acid, benzaldehyde-osulfonic acid, terephthalaldehyde and benzaldehyde 2,4 disulfonic acid have extremely short life as a reducing agent in the stripping solution. After 30 minutes or less, the amount of the reducing agent (measured by redox titration with iodine) was 1/10 or less of the value calculated from the initial dose, which was not practical. The phenols gallic acid, ethyl gallate, n-propyl gallate, methyl gallate, pyrogallol, sodium p-hydroxybenzenesulfonate,
With 2,4-xylenol, the reduction life was short and it was not practical. Regarding aminoguanidine,
Although a reducing effect can be obtained in the stripping solution, guanidines having no amino group such as 1,1,3,3 tetramethylguanidine and guanidine sulfate were not effective and were not suitable. As described above, the reducing substances that are effective when added to the stripping solution are very limited as shown in this patent.

【0017】[0017]

【作用】従来の剥離液に対するはんだの溶解抑制方法
は、静置条件では効果が得られていた。しかし、スプレ
ーのように新しい液が常に接触する条件では、はんだの
溶解が予想以上に大きく、その結果、基板を処理するに
したがい、剥離液中の鉛イオンが増加すること、50〜
100ppmの鉛イオンの存在においても、従来の溶解
抑制方法の効果を阻害するという知見を得ることにより
本発明をなしえたものである。本発明では、金属イオン
と錯体を形成し得る特定の物質としてリン酸トリエチル
を剥離液に添加することにより、鉛イオンを封鎖、もし
くは、銅表面を封鎖し、はんだめっきの溶解抑制効果を
得られたと考えられる。なお、リン酸エステル類の中で
も、リン酸トリエチルにおいて特異的にこの効果が得ら
れることをもとに、発明をなしえたものである。また、
より一層の溶解抑制効果を得るために、特定の還元剤の
添加を行った。公知の還元剤のみを添加する方法では、
はんだめっきより溶けだす鉛イオンの作用によって、充
分な効果が得られなかった。しかし、本発明の場合、金
属イオンと錯体を形成し得る物質によって、鉛イオンの
析出作用を防いでおり、その結果、還元剤の添加による
溶解抑制効果を得ることができた。ここで、還元剤によ
って、はんだの溶解が抑制される理由の一つとして、次
のように推定している。はんだ中の金属(鉛、錫)が亜
鉛酸、鉛酸や亜錫酸、錫酸などのイオンに溶解する反応
が酸素要求反応である。剥離液に添加された還元剤は、
液中の溶存酸素を還元し、液中の溶存酸素濃度を低下さ
せる。このために、はんだの溶解反応が抑制される。実
際に、いくつかの還元剤で、溶存酸素濃度を測定した。
その結果、ハイドロサルファイトナトリウム、亜硫酸ナ
トリウム、ホルムアミジンスルフィン酸やヒドラジンで
は、室温で溶存酸素濃度の低下がみられた。また、溶解
電流値の測定から、室温では、効果が少なかったが、5
0℃では溶解抑制効果のみられたソジウムアルデヒドス
ルホキシレート、硫酸アミノグアニジンや水素化ホウ素
ナトリウム等では、測定した溶存酸素濃度低下も、室温
では、あまりみられず、50℃で大きな低下がみられ
た。このように、還元剤添加による溶存酸素濃度の低下
とはんだの溶解抑制効果に相関がみられた。以上のこと
から明らかなように、本発明では、鉛の析出と溶解の問
題を同時に解決したものである。
In the conventional method for suppressing the dissolution of the solder in the stripping solution, the effect was obtained under the standing condition. However, under the condition that a new solution is constantly in contact with, such as a spray, the dissolution of the solder is larger than expected, and as a result, the lead ions in the stripping solution increase as the substrate is processed.
The present invention has been achieved by obtaining knowledge that the effect of the conventional dissolution suppressing method is inhibited even in the presence of 100 ppm of lead ions. In the present invention, by adding triethyl phosphate as a specific substance capable of forming a complex with a metal ion to a stripping solution, a lead ion is blocked, or a copper surface is blocked, and a dissolution suppressing effect of solder plating can be obtained. It is thought that Among phosphoric acid esters, the present invention has been completed based on the fact that this effect is specifically obtained with triethyl phosphate. Also,
A specific reducing agent was added in order to obtain a further dissolution suppressing effect. In the method of adding only a known reducing agent,
A sufficient effect was not obtained due to the action of the lead ions that melted from the solder plating. However, in the case of the present invention, the action of precipitating lead ions is prevented by the substance capable of forming a complex with the metal ions, and as a result, the dissolution suppressing effect by the addition of the reducing agent can be obtained. Here, as one of the reasons why the melting of the solder is suppressed by the reducing agent, it is estimated as follows. The oxygen demand reaction is a reaction in which the metal (lead, tin) in the solder dissolves in ions such as zinc acid, lead acid, stannous acid, and stannic acid. The reducing agent added to the stripper is
It reduces dissolved oxygen in the liquid and reduces the dissolved oxygen concentration in the liquid. Therefore, the melting reaction of the solder is suppressed. Actually, the dissolved oxygen concentration was measured with some reducing agents.
As a result, sodium hydrosulfite, sodium sulfite, formamidinesulfinic acid and hydrazine showed a decrease in dissolved oxygen concentration at room temperature. In addition, from the measurement of the melting current value, the effect was small at room temperature, but
Sodium aldehyde sulfoxylate, aminoguanidine sulfate, sodium borohydride, etc., which had a dissolution inhibiting effect at 0 ° C, did not show much decrease in dissolved oxygen concentration at room temperature, but showed a large decrease at 50 ° C. Was given. Thus, there was a correlation between the decrease in dissolved oxygen concentration due to the addition of the reducing agent and the effect of suppressing the dissolution of solder. As is clear from the above, the present invention solves the problems of lead precipitation and dissolution at the same time.

【0018】[0018]

【実施例】【Example】

(溶解抑制添加剤の実施例および比較例)NaOH水溶
液(NaOH濃度:40g/l)に、鉛濃度で150m
g/l(150ppm)となるように硫酸鉛を混合し、
約2時間撹拌して硫酸鉛を完全に溶解し、液を調整し
た。容量100mlのビーカに、この液50mlをそそ
ぎ、また、それぞれ露出面積が4cm2となるように被
覆した銅とはんだ板を液中に浸漬し、液中を流れる電流
測定用の電極とした。電極からの引きだし線間に10オ
ームの抵抗を介し、銅とはんだ電極を接続した。この抵
抗両端の電圧を測定することにより、溶解電流を測定で
きるようにした。測定は、室温(約20℃)において、
マグネチックスターラで液を撹拌しながら行った。ま
た、表1に示す添加剤0.5gを、少量(2〜3ml)
のNaOH水溶液(NaOH濃度:40g/l)に溶解
した液を用意した。これらの液を撹拌中のビーカ内に注
ぎ、溶解電流の変化を測定した。その結果、添加剤投入
後(添加剤濃度:約10g/l)の電流値が投入前の電
流値に比べ、2割以上低下したものを○、電流値低下が
2割未満、もしくは、逆に増加したものを×とし、表1
(実施例:表1−1、比較例:表1−2)に示した。な
お、×のものは、ほとんどのものにおいて、電流値の減
少は見られなかった。特に、比較例22〜25の含有機
イオウ化合物、比較例34〜37のニトロ化合物、比較
例56の臭素酸ナトリウムについては、鉛イオンを含ま
ない水酸化ナトリウム溶液にこれらの化合物を添加する
だけでも、溶解電流の大幅な増大をもたらし、かえっ
て、はんだの溶解を促進した。
(Examples and Comparative Examples of Dissolution Inhibiting Additive) In a NaOH aqueous solution (NaOH concentration: 40 g / l), a lead concentration of 150 m
Lead sulphate is mixed so that it becomes g / l (150ppm),
After stirring for about 2 hours, the lead sulfate was completely dissolved and a solution was prepared. 50 ml of this solution was poured into a beaker having a capacity of 100 ml, and copper and a solder plate coated so that each exposed area was 4 cm 2 were immersed in the solution to form an electrode for measuring a current flowing in the solution. The copper and solder electrodes were connected via a 10 ohm resistor between the lead wires from the electrodes. The melting current can be measured by measuring the voltage across the resistor. The measurement is at room temperature (about 20 ° C)
The liquid was stirred with a magnetic stirrer. In addition, 0.5 g of the additive shown in Table 1 was added in a small amount (2 to 3 ml).
A solution dissolved in an aqueous solution of NaOH (NaOH concentration: 40 g / l) was prepared. These solutions were poured into a beaker under stirring, and changes in the dissolution current were measured. As a result, the current value after adding the additive (additive concentration: about 10 g / l) was reduced by 20% or more compared to the current value before adding, ◯, the current value decrease was less than 20%, or vice versa. Table 1 shows the increase
(Example: Table 1-1, Comparative example: Table 1-2). In addition, in almost all the cases of ×, no decrease in current value was observed. In particular, regarding the sulfur-containing compounds of Comparative Examples 22 to 25, the nitro compounds of Comparative Examples 34 to 37, and the sodium bromate of Comparative Example 56, it is possible to add these compounds to a sodium hydroxide solution containing no lead ion. , Which resulted in a large increase in the melting current and, on the contrary, accelerated the melting of the solder.

【0019】[0019]

【表1】 [Table 1]

【0020】(第二の添加剤の実施例および比較例)次
に、第二の添加剤(還元剤)の溶解抑制効果を調べた。
効果の有無は、50℃の液温を保ったまま、はんだと銅
電極を用い、マグネチックスターラで液を撹拌しながら
溶解電流を測定することにより確認した。より詳しくの
べると、予め、10mlのNaOH水溶液(NaOH濃
度:40g/l)に溶解した0.2gの還元剤を50℃
に加温しておき、この液を、同じく50℃に加温した4
0mlのリン酸トリエチル(濃度:10g/l)入りの
NaOH水溶液(NaOH濃度:40g/l)に加える
ことによりおこなった。結果を、表2に示した。評価
は、第二の添加剤を加えたことによって、2割以上の電
流値低下が見られたものを○、それ以外を×とした。
(Examples and Comparative Examples of Second Additive) Next, the dissolution inhibiting effect of the second additive (reducing agent) was examined.
The presence or absence of the effect was confirmed by measuring the melting current while stirring the liquid with a magnetic stirrer while using the solder and the copper electrode while keeping the liquid temperature at 50 ° C. More specifically, 0.2 g of a reducing agent previously dissolved in 10 ml of an aqueous NaOH solution (NaOH concentration: 40 g / l) was added at 50 ° C.
The solution was heated to 50 ° C.
It was performed by adding to 0 ml of an aqueous NaOH solution (concentration: 40 g / l) containing triethyl phosphate (concentration: 10 g / l). The results are shown in Table 2. In the evaluation, when the addition of the second additive was observed, a current value reduction of 20% or more was observed.

【0021】[0021]

【表2】 [Table 2]

【0022】(鉛の析出抑制効果)銅張り積層板に水溶
性ドライフィルムHF450(日立化成工業製)を用い
て、露光、現像を行い、パターンを形成した。このもの
に約5μmの厚さの電気はんだめっきを行った。この基
板を、2cm×5cmになるように切出した。このと
き、基板の半分(2cm×2.5cm)がドライフィル
ムで被覆されており、残りの部分がはんだめっきされて
いるようにした。このものを400ppmの鉛イオンと
添加剤を含むNaOH水溶液中に浸漬し、ドライフィル
ムを剥離した。剥離は、ビーカ中で行い、温度50℃で
マグネチックスターラで約2分間、撹拌しながら行っ
た。この時の鉛の析出を目視で観察した。露出している
銅に、灰色の変色部分が観察されたものを×、全く変色
が観察されず、銅光沢のあるものを○とした。結果を表
3(実施例:表3−1、比較例:表3−2、表3−3)
に示した。
(Effect of Lead Precipitation Suppression) A copper-clad laminate was exposed and developed using a water-soluble dry film HF450 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) to form a pattern. This was electrosolder plated to a thickness of about 5 μm. This substrate was cut out to have a size of 2 cm × 5 cm. At this time, half of the substrate (2 cm × 2.5 cm) was covered with the dry film, and the remaining portion was solder-plated. This was immersed in a NaOH aqueous solution containing 400 ppm of lead ions and additives, and the dry film was peeled off. The peeling was performed in a beaker, and was performed at a temperature of 50 ° C. with a magnetic stirrer for about 2 minutes while stirring. The precipitation of lead at this time was visually observed. The one in which a gray discolored portion was observed on the exposed copper was marked as X, and the one in which no discoloration was observed and which had copper luster was marked as O. The results are shown in Table 3 (Examples: Table 3-1, Comparative Examples: Table 3-2, Table 3-3).
It was shown to.

【0023】[0023]

【表3】 [Table 3]

【0024】[0024]

【発明の効果】水溶性レジストをアルカリ性の剥離液で
剥離する場合に、本発明を適用することにより、はんだ
めっきの溶解を抑制できるとともに、鉛の析出も抑制で
きる。このため、配線欠陥のない良好な配線を形成する
ことができる。その他の効果として、本方法に用いる剥
離液は、強アルカリを得るために、安価な水酸化ナトリ
ウムや水酸化カリウムなどの無機アルカリを用いること
ができる。また、鉛の析出がなくなるため、同一量の剥
離液で処理できる基板面積が増加する。従って、基板の
単位面積当たりの剥離液使用量が減少し、廃液量が減少
する。このため、処理に費やすコストが低下し、また、
有機アルカリを用いなくてもよいので、廃液処理も容易
である。
When the water-soluble resist is stripped with an alkaline stripping solution, by applying the present invention, the dissolution of solder plating can be suppressed and the precipitation of lead can also be suppressed. Therefore, it is possible to form a good wiring without a wiring defect. As another effect, the stripping solution used in this method can use an inexpensive inorganic alkali such as sodium hydroxide or potassium hydroxide in order to obtain a strong alkali. Further, since the precipitation of lead is eliminated, the area of the substrate that can be treated with the same amount of stripping solution increases. Therefore, the amount of stripping liquid used per unit area of the substrate is reduced, and the amount of waste liquid is reduced. This reduces the cost of processing and also
Since it is not necessary to use an organic alkali, waste liquid treatment is easy.

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年4月28日[Submission date] April 28, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0009[Correction target item name] 0009

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0009】銅のエッチングレジストに使用されるはん
だの構成金属である錫や鉛は、pH13以上で溶解する
ことが、化学同人1984年発行の「金属の腐食防食序
論」p242における図17−11、「スズの電位−p
H図」、および、p243における図17−12、「鉛
の電位−pH図」などに示されている。実際に、銅表面
に配線幅、スペース幅ともに100〜150μm程度の
高密度なはんだめっきのパターンを形成し、400pp
mの鉛イオンを含む40g/l程度の水酸化ナトリウム
水溶液の液滴を落とすと、室温で数分放置後に、銅の露
出部分が灰色に変色するのが容易に観察されることを、
筆者らは見出している。また、この灰色部分を分析する
と鉛が検出される。この理由は、はんだめっき金属成分
の溶解と鉛イオンの再析出が、液滴中で、同時に、もし
くは、逐次的に起っていることになる。この詳細な機構
については不明である。はんだめっき金属の鉛と錫、お
よび、銅(はんだめっきがなされていない部分)の三種
類の金属が存在するためにこの様な現象が起るようであ
る。このように、アルカリ剥離液中での、はんだの溶解
や鉛の再析出現象は容易に確認される。
Tin and lead, which are the constituent metals of the solder used for the etching resist of copper, dissolve at pH 13 or above. It is noted that Kagaku Dojin, 1984, "Introduction to Corrosion and Corrosion of Metals," p242, FIGS. "Tin potential-p
H diagram ”, FIGS. 17-12 in p243,“ lead potential-pH diagram ”, and the like. Actually, a high-density solder plating pattern with a wiring width and a space width of about 100 to 150 μm was formed on the copper surface, and 400 pp
It was observed that when a droplet of about 40 g / l sodium hydroxide aqueous solution containing lead ions of m was dropped, the exposed part of copper discolored to gray after being left for several minutes at room temperature.
The authors have found it. In addition, lead is detected when this gray portion is analyzed. The reason for this is that the dissolution of the solder plating metal component and the reprecipitation of lead ions occur simultaneously or sequentially in the droplet. The detailed mechanism is unknown. Such a phenomenon seems to occur because there are three kinds of metals, that is, lead and tin of the solder-plated metal, and copper (a portion not solder-plated). Thus, the dissolution of solder and the reprecipitation phenomenon of lead in the alkaline stripping solution are easily confirmed.

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0010[Correction target item name] 0010

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0010】はんだの溶解抑制方法を示した特開昭63
−183445号公報、特開昭64−81295号公
報、特開昭62−151589号公報および特開昭63
−38588号公報に、室温において、静置時の溶解速
度や溶解量の実例が実施例および比較例として示されて
いる。これら4件の公報のそれぞれの実施例に示されて
いるように、溶解をある程度抑制することはできるが、
完全には溶解を抑制できないことがわかる。実際の作業
には、一般的に、1〜2kg/cm2のスプレー圧力で、
40〜50℃の温度の剥離液を、コンベアを用いて搬送
している基板に接触させて、水溶性レジストを剥離する
スプレー方式を用いられることが多い。この様に、常に
新しい液が基板表面に供給される場合、見かけの拡散係
数は静置時と比較にならないほど大きくなり、はんだの
溶解速度は、上記の公報の実施例の値よりもはるかに大
きくなることが容易に推定される。従って、上に示した
ような溶解抑制方法を採用しても、基板の処理枚数とと
もに、剥離液中にはんだが溶解し、その金属イオン量が
増加することになる。
Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 63-Showa showing a method for suppressing the dissolution of solder.
-183445, JP 64-81295, JP 62-151589 and JP 63.
In Japanese Patent Laid-Open No. 38588/1985, actual examples of dissolution rate and dissolution amount at room temperature at room temperature are shown as Examples and Comparative Examples. As shown in the respective examples of these four publications, although it is possible to suppress dissolution to some extent,
It can be seen that the dissolution cannot be completely suppressed. For actual work, generally, spray pressure of 1-2 kg / cm 2
In many cases, a spray method is used in which a stripping solution at a temperature of 40 to 50 ° C. is brought into contact with a substrate being conveyed using a conveyor to strip the water-soluble resist. Thus, when a new liquid is constantly supplied to the surface of the substrate, the apparent diffusion coefficient becomes incomparably larger than that in the stationary state, and the melting rate of the solder is much higher than the values in the examples of the above publications. It is easily estimated to be large. Therefore, even if the dissolution suppressing method as described above is adopted, the solder dissolves in the stripping solution and the amount of metal ions increases with the number of processed substrates.

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0011[Correction target item name] 0011

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0011】実際に、スプレー式水溶性レジスト剥離装
置を用い、特開昭63−183445号公報に示されて
いる方法に相当する還元剤入り薬剤であるOPCパーソ
リ(奥野製薬株式会社製、商品名)を剥離液に添加し、
200m2の基板(はんだ面積:25%)のドライフィ
ルムHF450(日立化成工業株式会社製、商品名)を
剥離した後、液中の鉛イオンを測定したところ、その濃
度は、300〜400ppmであった。筆者らは、剥離
液中の鉛イオン量が、400ppm程度になると、鉛の
基板表面への析出が目視で観察され始め、その後のアル
カリエッチングで残銅を引き起こすことを見出してい
る。
Actually, using a spray type water-soluble resist stripping device, OPC Parsori (manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., trade name, which is a reducing agent-containing drug corresponding to the method disclosed in JP-A-63-183445) is used. ) To the stripper,
After peeling off the dry film HF450 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) on a 200 m 2 substrate (solder area: 25%), the lead ion in the liquid was measured, and the concentration was 300 to 400 ppm. It was The authors have found that when the amount of lead ions in the stripping solution becomes about 400 ppm, precipitation of lead on the substrate surface begins to be visually observed, and the residual copper causes residual copper in the subsequent alkali etching.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】銅箔を積層した基板に、ドライフィルム等
の水溶性レジストによって、めっきレジストを形成し、
はんだめっきを行い、水溶性レジストを強アルカリ性水
溶液で剥離する水溶性レジストの剥離方法において、剥
離液中にリン酸トリエチルを0.5〜100g/l含む
ことを特徴とする水溶性レジストの剥離方法。
1. A plating resist is formed on a substrate laminated with copper foil with a water-soluble resist such as a dry film,
A method for stripping a water-soluble resist, which comprises performing solder plating and stripping the water-soluble resist with a strong alkaline aqueous solution, wherein the stripping solution contains triethyl phosphate in an amount of 0.5 to 100 g / l. .
【請求項2】剥離液への第二の添加剤として、アミノグ
アニジン、ヒドラジン類、亜硫酸、亜二チオン酸または
これらの塩、ホウ水素化物、カルバジン酸エステル、二
酸化チオ尿素、スルフィン酸類、スルホキシ酸類、ヒド
ラジド類、セミカルバジド塩の少なくとも一つを0.0
1〜100g/lを含むことを特徴とする請求項1に記
載の水溶性レジストの剥離方法。
2. As a second additive to the stripping solution, aminoguanidine, hydrazines, sulfurous acid, dithionous acid or salts thereof, borohydrides, carbazates, thiourea dioxide, sulfinic acids, sulfoxy acids. At least one of hydrazides and semicarbazide salts
The method for stripping a water-soluble resist according to claim 1, wherein the method comprises 1 to 100 g / l.
【請求項3】剥離液を、スプレーによって、基板に接触
させ水溶性レジストを剥離することを特徴とする請求項
1または2に記載の水溶性レジストの剥離方法。
3. The method for stripping a water-soluble resist according to claim 1, wherein the stripping solution is brought into contact with the substrate by spraying to strip the water-soluble resist.
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