JPH06244690A - Detection switch - Google Patents
Detection switchInfo
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- JPH06244690A JPH06244690A JP5054940A JP5494093A JPH06244690A JP H06244690 A JPH06244690 A JP H06244690A JP 5054940 A JP5054940 A JP 5054940A JP 5494093 A JP5494093 A JP 5494093A JP H06244690 A JPH06244690 A JP H06244690A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は光電スイッチや近接スイ
ッチ等のスイッチに関し、特にその出力回路の故障診断
機能に特徴を有する検出スイッチに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a switch such as a photoelectric switch or a proximity switch, and more particularly to a detection switch characterized by a failure diagnosis function of its output circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】図5は従来の近接スイッチの一例を示す
ブロック図である。本図において電源端子1aにはダイ
オードD3を介して電源回路2が接続され、近接スイッ
チ内の各ブロックの電源を供給している。近接スイッチ
内には一定の周波数で発振する発振回路3及びその発振
出力を検波する検波回路4と、検波出力の低下に基づい
て物体の近接を判別する信号処理回路5が設けられる。
信号処理回路5の出力は出力回路6を介して端子1cよ
り外部に出力される。出力回路6は図示のように、信号
処理回路5の出力がベースに与えられ、エミッタが端子
1bに接続された出力トランジスタQ1を有している。
トランジスタQ1のコレクタはダイオードD1,抵抗R
1を介して電源端子1aに接続される。そしてトランジ
スタQ1のコレクタ・エミッタ間はサージ吸収用のツェ
ナダイオードD2が接続され、又コレクタは抵抗R2を
介して出力端子1cに接続されている。電源端子1aは
ダイオードD3を介して電源回路2に接続されている。2. Description of the Related Art FIG. 5 is a block diagram showing an example of a conventional proximity switch. In the figure, a power supply circuit 2 is connected to a power supply terminal 1a via a diode D3 to supply power to each block in the proximity switch. In the proximity switch, an oscillation circuit 3 that oscillates at a constant frequency, a detection circuit 4 that detects the oscillation output thereof, and a signal processing circuit 5 that determines the proximity of an object based on a decrease in the detection output are provided.
The output of the signal processing circuit 5 is output to the outside from the terminal 1c via the output circuit 6. As shown, the output circuit 6 has an output transistor Q1 to which the output of the signal processing circuit 5 is given to the base and whose emitter is connected to the terminal 1b.
The collector of the transistor Q1 is a diode D1 and a resistor R
1 to the power supply terminal 1a. A Zener diode D2 for absorbing surge is connected between the collector and the emitter of the transistor Q1, and the collector is connected to the output terminal 1c via the resistor R2. The power supply terminal 1a is connected to the power supply circuit 2 via the diode D3.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】このような出力回路6
を有する従来の検出スイッチにおいて、電源端子1aに
はコンデンサを挿入することによってサージ吸収が可能
であるが、出力端子1cはスイッチングされるためツェ
ナダイオードD2によってサージ吸収を行う必要があ
る。そのため多大なサージ電圧が出力回路に印加される
とツェナダイオードZDで吸収できなくなり、出力トラ
ンジスタQ1が破壊してしまうという欠点があった。そ
して出力トランジスタQ1が破壊した場合は、物体検出
がなくても物体検出があった場合と同様に出力端子が閉
成されてしまうという欠点があった。The output circuit 6 as described above is provided.
In the conventional detection switch having the above, the surge can be absorbed by inserting a capacitor in the power supply terminal 1a, but the output terminal 1c is switched, and therefore the Zener diode D2 needs to absorb the surge. Therefore, when a large surge voltage is applied to the output circuit, it cannot be absorbed by the Zener diode ZD, and the output transistor Q1 is destroyed. When the output transistor Q1 is destroyed, the output terminal is closed as in the case where the object is detected even if the object is not detected.
【0004】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、出力トランジスタの劣化があっ
ても正常な出力を発生できるようにすると共に、故障の
予知を行えるようにすることを目的とする。The present invention has been made in view of such conventional problems, and makes it possible to generate a normal output even when the output transistor is deteriorated and to predict a failure. The purpose is to
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、一対の電源端に接続されスイッチ信号を出力するス
イッチ主回路と、スイッチ主回路からの出力に基づいて
電源端子と出力端子間の負荷への通電を制御する出力回
路と、を有する検出スイッチであって、出力回路は、ス
イッチ主回路からの出力がベースに入力され、コレクタ
が抵抗を介して信号端子に接続される第1のトランジス
タと、スイッチ主回路からの出力がベースに入力され、
コレクタがダイオードを介して第1のトランジスタのコ
レクタに接続された第2のトランジスタと、を含むこと
を特徴とするものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a switch main circuit which is connected to a pair of power supply terminals and outputs a switch signal, and between a power supply terminal and an output terminal based on an output from the switch main circuit. An output circuit for controlling energization to a load of the switch, wherein the output circuit has a base to which an output from the switch main circuit is input, and a collector connected to a signal terminal via a resistor. , And the output from the switch main circuit is input to the base,
And a second transistor whose collector is connected to the collector of the first transistor via a diode.
【0006】本願の請求項2の発明では、第1,第2の
トランジスタは夫々エミッタ抵抗が接続されたものであ
り、第1,第2のトランジスタのベースに加わる入力電
圧、第1のトランジスタのエミッタ電圧、第2のトラン
ジスタのエミッタ電圧が夫々入力され、これらがいずれ
も同一の論理レベルでないときに故障診断信号を出力す
る故障診断回路を有することを特徴とするものである。According to the invention of claim 2 of the present application, the first and second transistors are respectively connected to the emitter resistors, and the input voltage applied to the bases of the first and second transistors and the first transistor An emitter voltage and an emitter voltage of the second transistor are respectively input, and a failure diagnosis circuit that outputs a failure diagnosis signal when they are not at the same logic level is featured.
【0007】[0007]
【作用】このような特徴を有する本発明によれば、スイ
ッチ主回路からの出力に基づいて第1,第2のトランジ
スタがほぼ同時に開閉し、負荷に電流が供給される。そ
して第1のトランジスタが電流ドライブ不能となり、又
はそのコレクタ・エミッタ間の飽和電圧が高くなって
も、第2のトランジスタによって負荷に電源が供給され
る。又第2のトランジスタの短絡時や出力ケーブルの短
絡時には、第1のトランジスタのエミッタ電圧は高いレ
ベルとなる。これらの異常時には第1,第2のトランジ
スタのベース電圧,エミッタ電圧が正常時と異なるた
め、故障診断回路によって故障診断を行うようにしてい
る。According to the present invention having such a feature, the first and second transistors are opened and closed almost simultaneously based on the output from the switch main circuit, and the current is supplied to the load. Then, even if the first transistor cannot drive the current or the saturation voltage between the collector and the emitter of the first transistor becomes high, the power is supplied to the load by the second transistor. When the second transistor is short-circuited or the output cable is short-circuited, the emitter voltage of the first transistor becomes high level. When these abnormalities occur, the base voltage and the emitter voltage of the first and second transistors are different from those in the normal state, and therefore the failure diagnosis circuit performs the failure diagnosis.
【0008】[0008]
【実施例】図1は本発明の一実施例による検出スイッチ
の出力回路部分の構成を示す回路図である。本図におい
て電源回路2から信号処理回路5までの各ブロックは従
来例と同様とし、スイッチ主回路11として示してい
る。スイッチ主回路11の出力は出力回路12のトラン
ジスタQ2に与えられる。トランジスタQ2のエミッタ
は接地され、コレクタは抵抗R3を介して電源回路2の
入力端子に接続されている。端子1aにはダイオードD
4のアノードが接続され、そのカソード端が抵抗R3及
びスイッチ主回路11内の電源回路2に接続される。さ
てトランジスタQ2のコレクタには抵抗R4を介して第
1のトランジスタQ3のベースが接続される。トランジ
スタQ3のエミッタは抵抗R5を介して端子1bに接続
され、又コレクタは抵抗R6を介して端子1aに接続さ
れる。そしてトランジスタQ3のコレクタと端子1b間
にはサージ吸収用のツェナダイオードD5が接続され
る。又トランジスタQ2のコレクタは、抵抗R7とコン
デンサC1の積分回路を介して第2のトランジスタQ4
のベースに接続される。トランジスタQ4のエミッタと
端子1b間には抵抗R5が接続され、コレクタにはツェ
ナダイオードD6を介してトランジスタQ3のコレクタ
に接続される。又トランジスタQ3のコレクタは抵抗R
8を介して出力端子1cに接続されている。トランジス
タQ3は出力開閉用のスイッチングトランジスタであ
り、トランジスタQ4もこれとほぼ同時に動作し、トラ
ンジスタQ4と共に出力を開閉するものである。1 is a circuit diagram showing a configuration of an output circuit portion of a detection switch according to an embodiment of the present invention. In this figure, each block from the power supply circuit 2 to the signal processing circuit 5 is the same as the conventional example, and is shown as a switch main circuit 11. The output of the switch main circuit 11 is given to the transistor Q2 of the output circuit 12. The emitter of the transistor Q2 is grounded, and the collector is connected to the input terminal of the power supply circuit 2 via the resistor R3. Diode D at terminal 1a
4 is connected to the anode, and the cathode end is connected to the resistor R3 and the power supply circuit 2 in the switch main circuit 11. Now, the base of the first transistor Q3 is connected to the collector of the transistor Q2 via the resistor R4. The emitter of the transistor Q3 is connected to the terminal 1b via the resistor R5, and the collector is connected to the terminal 1a via the resistor R6. A Zener diode D5 for absorbing surge is connected between the collector of the transistor Q3 and the terminal 1b. The collector of the transistor Q2 is connected to the second transistor Q4 via the integrating circuit of the resistor R7 and the capacitor C1.
Connected to the base of. A resistor R5 is connected between the emitter of the transistor Q4 and the terminal 1b, and its collector is connected to the collector of the transistor Q3 via a Zener diode D6. Also, the collector of the transistor Q3 is a resistor R
It is connected to the output terminal 1c through 8. The transistor Q3 is a switching transistor for opening and closing the output, and the transistor Q4 operates at substantially the same time as it, and opens and closes the output together with the transistor Q4.
【0009】次に本実施例の動作について図2を参照し
つつ説明する。まず正常時の動作を説明する。 (1)スイッチ主回路11からの出力によってトランジ
スタQ2のエミッタ電位VaがLレベルとなった場合に
は、トランジスタQ3は動作しない。このときトランジ
スタQ3,Q4のエミッタ電位を夫々Vb,Vcとする
と、トランジスタQ3,Q4はオフ状態であり、Vb,
VcもLレベルとなる。 (2)出力回路12が正常状態で電圧VaがHレベルの
ときには、トランジスタQ3はオンとなって電圧Vbは
Hレベルとなる。トランジスタQ4もこれより少し遅れ
てオンとなりVcはHレベルとなる。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIG. First, the operation during normal operation will be described. (1) When the emitter potential Va of the transistor Q2 becomes L level due to the output from the switch main circuit 11, the transistor Q3 does not operate. At this time, if the emitter potentials of the transistors Q3 and Q4 are Vb and Vc, respectively, the transistors Q3 and Q4 are in the off state, and
Vc also becomes L level. (2) When the output circuit 12 is in the normal state and the voltage Va is at the H level, the transistor Q3 is turned on and the voltage Vb becomes the H level. The transistor Q4 also turns on a little later than this, and Vc becomes H level.
【0010】さて出力回路のトランジスタQ2のコレク
タ電圧VaがHレベルで異常時のときの動作について説
明する。 (3)出力トランジスタQ3が電流ドライブができない
異常状態では、電圧VbはLレベルとなる。このときツ
ェナダイオードD6,トランジスタQ4,抵抗R8を介
して負荷電流が流れるため、電圧VcはHレベルとな
る。従って出力トランジスタQ3の故障にもかかわらず
出力を開閉することができる。Now, the operation when the collector voltage Va of the transistor Q2 of the output circuit is H level and is abnormal will be described. (3) In the abnormal state where the output transistor Q3 cannot drive current, the voltage Vb becomes L level. At this time, since the load current flows through the Zener diode D6, the transistor Q4, and the resistor R8, the voltage Vc becomes H level. Therefore, the output can be opened and closed despite the failure of the output transistor Q3.
【0011】(4)出力トランジスタQ3が電流ドライ
ブ可能であるが、VCE3 が高くなる異常時には、VCE3
>VCE4 +VD6+VR8と設定しておけば、ツェナダイオ
ードD6,トランジスタQ4,抵抗R8を介して負荷電
流が流れる。この場合にもVbはL、VcはHレベルと
なる。(4) The output transistor Q3 can drive current, but when V CE3 becomes high, V CE3
By setting> V CE4 + V D6 + V R8 , a load current flows through the Zener diode D6, the transistor Q4 and the resistor R8. Also in this case, Vb becomes L level and Vc becomes H level.
【0012】(5)出力トランジスタQ3が短絡破壊し
たときには、電圧VaがHレベルのときには電圧Vbも
Hレベルとなる。このときトランジスタQ4には負荷電
流は流れずVcはLレベルとなる。(5) When the output transistor Q3 is short-circuited and destroyed, the voltage Vb also becomes the H level when the voltage Va is at the H level. At this time, the load current does not flow through the transistor Q4 and Vc becomes L level.
【0013】(6)又端子1cに接続される出力ケーブ
ルが断線したときには、電圧VaがHレベルとなっても
Vb,Vcは共にLレベルとなる。これをまとめると図
2に示すように表される。従ってVa,Vb,Vcの論
理状態に基づいて異常状態を診断することができる。(6) When the output cable connected to the terminal 1c is broken, both Vb and Vc become L level even if the voltage Va becomes H level. This is summarized as shown in FIG. Therefore, the abnormal state can be diagnosed based on the logical states of Va, Vb and Vc.
【0014】図3はこのような故障診断回路13を含む
検出スイッチの全体構成を示すブロック図である。本図
において電源回路2から信号処理回路5までの各ブロッ
クは従来例と同様であり、出力回路12の構成は図1で
示した第1実施例と同様である。本実施例では出力回路
12内の電圧Va,Vb,Vcが入力される故障診断回
路13を設けている。故障診断回路13は図2において
(3)〜(6)の場合に故障診断信号を出力する回路で
あって、例えばVa,Vb,Vcの反転信号を入力とす
るオア回路、及びオア回路の出力とVaとの論理積をと
るアンド回路によって、3つの入力のいずれもが同一の
論理レベルでないことを判別し、故障診断信号を得てい
る。そして故障診断回路13の故障診断出力に応じて故
障表示灯14を点灯させるようにしている。こうすれば
出力回路内のトランジスタQ2がオフとなり、電圧Va
がHレベルのときには、図2(3)〜(6)のいずれの
故障の場合にも故障診断信号を出力することができる。
又出力トランジスタQ3が故障し電流ドライブができな
い状態下でも、第2のトランジスタQ4によって補助的
に出力トランジスタの役割を果たすことが可能となる。FIG. 3 is a block diagram showing the overall structure of a detection switch including such a failure diagnosis circuit 13. In this figure, each block from the power supply circuit 2 to the signal processing circuit 5 is the same as that of the conventional example, and the configuration of the output circuit 12 is the same as that of the first embodiment shown in FIG. In this embodiment, a failure diagnosis circuit 13 to which the voltages Va, Vb, Vc in the output circuit 12 are input is provided. The failure diagnosis circuit 13 is a circuit that outputs a failure diagnosis signal in the cases of (3) to (6) in FIG. 2, and is an OR circuit that receives an inverted signal of Va, Vb, and Vc, and an output of the OR circuit, for example. An AND circuit that takes the logical product of V and Va determines that none of the three inputs have the same logic level, and obtains a failure diagnostic signal. Then, the failure indicator lamp 14 is turned on according to the failure diagnosis output of the failure diagnosis circuit 13. In this way, the transistor Q2 in the output circuit is turned off and the voltage Va
When H is at the H level, a failure diagnosis signal can be output in the case of any of the failures in FIGS. 2 (3) to (6).
Further, even when the output transistor Q3 fails and the current cannot be driven, the second transistor Q4 can play an auxiliary role of the output transistor.
【0015】尚本実施例ではトランジスタQ4のコレク
タとトランジスタQ3のコレクタ間にツェナダイオード
D6を接続しているが、図4に示すようにツェナダイオ
ードに代えてダイオードD7を用いてもよい。Although the zener diode D6 is connected between the collectors of the transistor Q4 and the transistor Q3 in this embodiment, a diode D7 may be used instead of the zener diode as shown in FIG.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、出力用トランジスタが短絡した場合にも第2のトラ
ンジスタによって負荷電流を供給することができ、誤動
作の発生の可能性を少なくすることができる。又本願の
請求項2の発明では、出力トランジスタが破壊された状
態や破壊に至る前に残留電圧が増加した状態を故障状態
として診断することができるため、故障予知を行うこと
ができるという効果が得られる。As described in detail above, according to the present invention, the load current can be supplied by the second transistor even when the output transistor is short-circuited, and the possibility of malfunction is reduced. be able to. Further, in the invention of claim 2 of the present application, since the state in which the output transistor is broken or the state in which the residual voltage is increased before the output transistor is broken can be diagnosed as a failure state, failure prediction can be performed. can get.
【図1】本発明の一実施例による検出スイッチの出力回
路の構成を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an output circuit of a detection switch according to an embodiment of the present invention.
【図2】本実施例のトランジスタの正常及び異常時と各
部の出力変化を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing normal and abnormal states of a transistor of this embodiment and changes in output of each part.
【図3】本発明の第2実施例による検出スイッチの全体
構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing an overall configuration of a detection switch according to a second embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第3実施例による出力回路の構成を示
す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of an output circuit according to a third embodiment of the present invention.
【図5】従来の検出スイッチの構成を示すブロック図で
ある。FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional detection switch.
11 スイッチ主回路 12 出力回路 13 故障診断回路 14 故障表示灯 Q1〜Q4 トランジスタ 11 switch main circuit 12 output circuit 13 failure diagnosis circuit 14 failure indicator light Q1 to Q4 transistor
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 元氏 知史 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 民野 真也 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Motoshi Tomoshi 10 No. 10 Hanazono Doudocho, Ukyo-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture Omron Co., Ltd. OMRON Corporation
Claims (2)
出力するスイッチ主回路と、 前記スイッチ主回路からの出力に基づいて電源端子と出
力端子間の負荷への通電を制御する出力回路と、を有す
る検出スイッチにおいて、 前記出力回路は、 前記スイッチ主回路からの出力がベースに入力され、コ
レクタが抵抗を介して信号端子に接続される第1のトラ
ンジスタと、 前記スイッチ主回路からの出力がベースに入力され、コ
レクタがダイオードを介して第1のトランジスタのコレ
クタに接続された第2のトランジスタと、を含むもので
あることを特徴とする検出スイッチ。1. A switch main circuit which is connected to a pair of power supply terminals and outputs a switch signal; and an output circuit which controls energization of a load between a power supply terminal and an output terminal based on an output from the switch main circuit. In the detection switch having: the output circuit, the output from the switch main circuit is input to the base, the collector is connected to a signal terminal via a resistor, and the output from the switch main circuit A second transistor which is input to the base and whose collector is connected to the collector of the first transistor via a diode.
ミッタ抵抗が接続されたものであり、 前記第1,第2のトランジスタのベースに加わる入力電
圧、前記第1のトランジスタのエミッタ電圧、前記第2
のトランジスタのエミッタ電圧が夫々入力され、これら
がいずれも同一の論理レベルでないときに故障診断信号
を出力する故障診断回路を有することを特徴とする請求
項1記載の検出スイッチ。2. The first and second transistors are respectively connected to emitter resistors, and the input voltage applied to the bases of the first and second transistors, the emitter voltage of the first transistor, and the Second
2. The detection switch according to claim 1, further comprising a failure diagnosis circuit which outputs a failure diagnosis signal when the emitter voltages of the respective transistors are input to each other and they are not at the same logic level.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05494093A JP3166385B2 (en) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | Detection switch |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP05494093A JP3166385B2 (en) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | Detection switch |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH06244690A true JPH06244690A (en) | 1994-09-02 |
JP3166385B2 JP3166385B2 (en) | 2001-05-14 |
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ID=12984644
Family Applications (1)
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JP05494093A Expired - Fee Related JP3166385B2 (en) | 1993-02-19 | 1993-02-19 | Detection switch |
Country Status (1)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009033388A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with output transistor fault diagnosing function |
JP2009033391A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with fault diagnostic display function |
JP2009033389A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with fault diagnosing function |
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1993
- 1993-02-19 JP JP05494093A patent/JP3166385B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009033388A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with output transistor fault diagnosing function |
JP2009033391A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with fault diagnostic display function |
JP2009033389A (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-12 | Koyo Electronics Ind Co Ltd | Proximity sensor with fault diagnosing function |
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