JPH06244352A - Lead frame and manufacturing method for semiconductor device - Google Patents

Lead frame and manufacturing method for semiconductor device

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JPH06244352A
JPH06244352A JP3047093A JP3047093A JPH06244352A JP H06244352 A JPH06244352 A JP H06244352A JP 3047093 A JP3047093 A JP 3047093A JP 3047093 A JP3047093 A JP 3047093A JP H06244352 A JPH06244352 A JP H06244352A
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JP
Japan
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dam bar
resin
lead frame
lead
sealing
Prior art date
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Pending
Application number
JP3047093A
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Japanese (ja)
Inventor
Fumio Kuraishi
文夫 倉石
Seiki Shimada
清貴 島田
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Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
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Publication date
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a lead frame including a dam bar capable of sealing all spaces between leads supported by a resin sealing die in a resin sealing step and making a cutting step unnecessary after the resin sealing. CONSTITUTION:A strip-shaped resin member made of thermoplastic resin is used as a dam bar 10. The dam bar 10 has a plurality of groove parts for inserting leads 12, which constitute a lead frame.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はリードフレーム及び半導
体装置の製造方法に関し、更に詳細にはインナーリード
とアウターリードとの境界部にダムバーが設けられたリ
ードフレーム、及び前記リードフレームを用いた半導体
装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame and a method for manufacturing a semiconductor device, and more particularly to a lead frame having a dam bar at the boundary between an inner lead and an outer lead, and a semiconductor using the lead frame. The present invention relates to a method of manufacturing a device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図5に従来のリードフレームを示す。図
5に示すリードフレーム100において、半導体チップ
を搭載するステージ120を囲むように設けられたイン
ナーリード102・・・の各々には、アウターリード1
04が設けられている。更に、インナーリード102と
アウターリード104との境界には、ダムバー110が
設けられている。かかるリードフレーム100を用いて
半導体装置を製造する際には、ステージ120に搭載し
た半導体チップの電極とインナーリード102の先端部
とをワイヤボンディングした後、ダムバー110によっ
て囲まれた部分を熱硬化性樹脂等の封止樹脂によって樹
脂封止する。この樹脂封止の際に、樹脂封止用金型を構
成する上型と下型との間にリードが挟まれ、リード間の
間隙部分が何等充填されていない場合、リード間の間隙
から封止樹脂が漏出する。このため、アウターリードと
インナーリードとの境界部にダムバー110を設け、リ
ード間の間隙からの封止樹脂の漏出を防止しているので
ある。ところで、従来、リードフレーム100は、金属
板からプレス加工によって成形されており、ダムバー1
20もリードと一体に成形されている。このため、樹脂
封止工程を通過した半導体装置において、隣接するリー
ドとの絶縁を図るため、ダムバー110を切断する。
2. Description of the Related Art FIG. 5 shows a conventional lead frame. In the lead frame 100 shown in FIG. 5, the outer leads 1 are attached to the inner leads 102 ...
04 are provided. Further, a dam bar 110 is provided at the boundary between the inner lead 102 and the outer lead 104. When manufacturing a semiconductor device using the lead frame 100, after wire bonding the electrode of the semiconductor chip mounted on the stage 120 and the tip of the inner lead 102, the portion surrounded by the dam bar 110 is thermoset. The resin is sealed with a sealing resin such as a resin. During this resin encapsulation, if the leads are sandwiched between the upper die and the lower die that make up the resin encapsulating mold, and if the gap between the leads is not filled with anything, the gap between the leads is sealed. Stop resin leaks. Therefore, the dam bar 110 is provided at the boundary between the outer lead and the inner lead to prevent the sealing resin from leaking from the gap between the leads. By the way, conventionally, the lead frame 100 is formed by press working from a metal plate.
20 is also formed integrally with the lead. Therefore, in the semiconductor device that has passed the resin sealing step, the dam bar 110 is cut in order to insulate the adjacent leads.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】この様なダムバー12
0を設けることによって、最終的に得られる半導体装置
においては、封止樹脂が漏出することなく良好な外観を
呈することができる。しかし、図5に示す従来のリード
フレーム100においては、樹脂封止が終了した後、ダ
ムバー110を切断する切断工程を必要とし、半導体装
置の製造工程を複雑化している。かかるダムバー110
の切断工程を不要にすべく、ダムバー110を形成する
境界部のリード(以下、リードと称することがある)の
上下に樹脂フィルムを圧着し、上下方向から押圧してリ
ード間に樹脂フィルムを充填する方法、或いは熱硬化性
樹脂液を所定部分に塗布し硬化せしめてダムバーとする
方法が検討されている。この様なプラスチック製のダム
バーによれば、ダムバーの切断工程を省略できるもの
の、リード間に樹脂フィルムを充分に充填できないこと
に因る隙間、或いは熱硬化性樹脂液中の気泡に因る隙間
が、リード間を充填する樹脂中に形成されることがあ
る。かかるリード間の隙間からは、封止樹脂が漏洩し得
られる半導体装置の外観を損ねることがある。そこで、
本発明の目的は、樹脂封止の際に、樹脂封止金型に挾持
されたリード間を充分に封止でき、且つ樹脂封止後にダ
ムバーの切断工程を省略できるダムバーを具備するリー
ドフレーム、及び前記リードフレームを用いた半導体装
置の製造方法を提供することにある。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
By providing 0, the semiconductor device finally obtained can exhibit a good appearance without the sealing resin leaking out. However, the conventional lead frame 100 shown in FIG. 5 requires a cutting step of cutting the dam bar 110 after the resin sealing is completed, which complicates the manufacturing process of the semiconductor device. Such dam bar 110
In order to eliminate the need for the cutting step, the resin film is pressure-bonded to the upper and lower sides of the leads (hereinafter, sometimes referred to as leads) at the boundary forming the dam bar 110, and the resin film is filled between the leads by pressing from above and below. Or a method of applying a thermosetting resin liquid to a predetermined portion and curing it to form a dam bar has been studied. According to such a plastic dam bar, although the cutting step of the dam bar can be omitted, there is a gap due to insufficient filling of the resin film between the leads or a gap due to bubbles in the thermosetting resin liquid. , May be formed in the resin filling the space between the leads. The gap between the leads may cause the sealing resin to leak and impair the appearance of the semiconductor device. Therefore,
An object of the present invention is to provide a lead frame having a dam bar, which can sufficiently seal between the leads held in a resin sealing mold during resin sealing, and can omit the dam bar cutting step after resin sealing, Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the lead frame.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明者等は、前記目的
を達成すべく検討した結果、リードが挿入される凹溝が
形成された、熱可塑性樹脂から成るプラスチック製の細
幅樹脂部材をダムバーとして使用することによって、樹
脂封止時の熱に因り細幅樹脂部材が軟化され、リード間
の間隙に樹脂が充分に充填されること、及び樹脂封止終
了後のダムバーの切断工程を省略できることを見出し、
本発明に到達した。即ち、本発明は、インナーリードと
アウターリードとの境界部にダムバーが設けられたリー
ドフレームにおいて、該ダムバーとして、前記境界部の
各リードを挿入する凹溝が複数本形成された細幅部材が
用いられ、且つ少なくとも前記リードと接触する細幅部
材の凹溝内壁面が熱可塑性樹脂によって形成されている
ことを特徴とするリードフレームにある。また、本発明
は、搭載された半導体チップとインナーリード先端部と
がボンディングされたリードフレームを樹脂封止して半
導体装置を製造する際に、該リードフレームとして、前
記細幅部材をダムバーとして用いたリードフレームを使
用し、樹脂封止用金型内に充填する封止樹脂等の熱によ
って、ダムバーの凹溝の内壁面を形成する熱可塑性樹脂
を軟化しリードとダムバーとを一体化することを特徴と
する半導体装置の製造方法でもある。
DISCLOSURE OF THE INVENTION As a result of studies to achieve the above object, the inventors of the present invention have found that a narrow resin member made of a thermoplastic resin and made of a thermoplastic resin, in which a groove for receiving a lead is formed, is formed. By using it as a dam bar, the narrow resin member is softened due to the heat during resin sealing, the gap between the leads is sufficiently filled with resin, and the dam bar cutting process after resin sealing is omitted. Find out what you can do,
The present invention has been reached. That is, the present invention is a lead frame in which a dam bar is provided at the boundary between the inner lead and the outer lead, and as the dam bar, a narrow member having a plurality of recessed grooves for inserting the leads of the boundary is formed. In the lead frame, which is used and at least the inner wall surface of the concave groove of the narrow member which is in contact with the lead is formed of a thermoplastic resin. Further, the present invention uses the narrow width member as a dam bar as a lead frame when a semiconductor device is manufactured by resin-sealing a lead frame to which a mounted semiconductor chip and a tip portion of an inner lead are bonded. Using the same lead frame, the thermoplastic resin forming the inner wall surface of the groove of the dam bar is softened by the heat of the sealing resin or the like filled in the mold for resin sealing, and the lead and the dam bar are integrated. And a method of manufacturing a semiconductor device.

【0005】かかる構成の本発明において、ダムバーを
熱可塑性樹脂によって形成することが、ダムバーを溶融
成形で容易に成形することができる。また、ダムバーが
リードフレームの樹脂封止温度において軟化する熱可塑
性樹脂によって形成されていることが、リード間の間隙
をダムバーを形成する熱可塑性樹脂によって充分に充填
することができる。
In the present invention having such a structure, forming the dam bar from a thermoplastic resin allows the dam bar to be easily molded by melt molding. Further, since the dam bar is formed of the thermoplastic resin that softens at the resin sealing temperature of the lead frame, the gap between the leads can be sufficiently filled with the thermoplastic resin forming the dam bar.

【0006】[0006]

【作用】本発明によれば、ダムバーの凹溝を形成する内
壁面が熱可塑性樹脂によって形成されているため、樹脂
封止の際に、封止樹脂の溶解に加えられる熱等によって
軟化した熱可塑性樹脂が、金型等から加えられる圧力に
よって変形し、リード間に熱可塑性樹脂を隙間なく充填
することができる。このため、リード間からの封止樹脂
の漏洩を防止でき、良好な外観の半導体装置を得ること
ができる。更に、リード間の電気絶縁も充填された熱可
塑性樹脂によってなされ、樹脂封止工程を通過した半導
体装置に対しダムバーの切断工程を省略できる。
According to the present invention, since the inner wall surface forming the concave groove of the dam bar is formed of the thermoplastic resin, the heat softened by the heat added to the melting of the sealing resin at the time of resin sealing is applied. The plastic resin is deformed by the pressure applied from the mold or the like, and the thermoplastic resin can be filled between the leads without any gap. Therefore, the sealing resin can be prevented from leaking from between the leads, and a semiconductor device having a good appearance can be obtained. Further, the electrical insulation between the leads is also made of the filled thermoplastic resin, and the step of cutting the dam bar can be omitted for the semiconductor device that has passed the resin sealing step.

【0007】[0007]

【実施例】本発明を図面によって更に詳細に説明する。
図1に、ダムバー10をリードフレームを構成するリー
ド12、12・・に装着した状態を示す。このダムバー
10は、図5に示すリードフレーム100のダムバー1
10と同位置に装着されている。図1に示すダムバー1
0は、熱可塑性樹脂から成る細幅部材であり、図2に示
すように、リード12、12・・・が挿入される凹溝1
4、14・・がダムバー10の幅方向に形成されてい
る。このため、凹溝14、14・・・にリード12、1
2・・が挿入されたとき、凹溝14間の凹溝間部16、
16・・・はリード12間の間隙に挿入される。かかる
ダムバー10を形成する熱可塑性樹脂は、樹脂封止温度
において軟化する樹脂であり、ポリエチレンテレフタレ
ート、ナイロン、ポリカーボネート、ポリオキシメチレ
ン等の樹脂を使用できる。特に、射出成形可能な熱可塑
性樹脂を採用することによって、ダムバー10を射出成
形によって容易に成形することができる。
The present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
FIG. 1 shows a state in which the dam bar 10 is attached to the leads 12, 12 ... This dam bar 10 is the dam bar 1 of the lead frame 100 shown in FIG.
It is installed at the same position as 10. Dam bar 1 shown in FIG.
Reference numeral 0 is a narrow member made of a thermoplastic resin, and as shown in FIG. 2, the groove 1 into which the leads 12, 12, ... Are inserted.
4 are formed in the width direction of the dam bar 10. Therefore, the leads 12, 1 are inserted in the concave grooves 14, 14 ,.
2 ... When inserted, the inter-groove portion 16 between the recess grooves 14,
16 ... Are inserted in the gap between the leads 12. The thermoplastic resin forming the dam bar 10 is a resin that softens at the resin sealing temperature, and resins such as polyethylene terephthalate, nylon, polycarbonate, and polyoxymethylene can be used. In particular, by adopting a thermoplastic resin that can be injection-molded, the dam bar 10 can be easily molded by injection molding.

【0008】本実施例では、ダムバー10に形成される
凹溝14、14・・・は、図2に示すように、リード1
2、12・・・の挿入を容易とすべく、リード12より
も幅広に形成されていてもよい。尚、凹溝14がリード
12よりも幅広に形成され、リードフレームに装着した
ダムバー10が脱落する懸念がある場合、凹溝14の一
部に接着剤等を塗布しリード12を仮接着してもよい。
また、図3に示すように、ダムバー10の凹溝14にリ
ード12を挿入した後、リード12上に熱可塑性樹脂か
ら成る幅狭のフィルム18を載置してもよい。この場合
も、フィルム18の脱落を防止するため、接着剤等によ
ってフィルム18を仮接着してもよい。
In the present embodiment, the recessed grooves 14, 14 ... Formed in the dam bar 10 have the leads 1 as shown in FIG.
It may be formed wider than the lead 12 in order to facilitate insertion of the wires 12, 12. If the groove 14 is formed wider than the lead 12 and the dam bar 10 mounted on the lead frame is likely to fall off, an adhesive or the like is applied to a part of the groove 14 to temporarily bond the lead 12. Good.
Further, as shown in FIG. 3, after inserting the lead 12 into the groove 14 of the dam bar 10, a narrow film 18 made of a thermoplastic resin may be placed on the lead 12. In this case also, in order to prevent the film 18 from falling off, the film 18 may be temporarily adhered with an adhesive or the like.

【0009】この様にダムバー10の凹溝14にリード
が挿入されたリードフレームには、ステージ上に半導体
チップが搭載され、搭載された半導体チップの電極とイ
ンナーリードの先端部とがワイヤボンディングされた
後、樹脂封止用の金型内に挿入される。このとき、半導
体チップ等は樹脂封止用金型のキャビティ内に挿入さ
れ、ダムバー10の少なくとも一部が樹脂封止用金型を
構成する上型と下型との間に挾持される。次いで、樹脂
封止用金型内に封止樹脂として熱硬化性樹脂が充填さ
れ、封止樹脂が有する熱等によってダムバー10を形成
する熱可塑性樹脂が加熱されて軟化するため、金型の上
型と下型との型閉じ力によってダムバー10が変形しダ
ムバー10とリード12とを一体化する。この際に、ダ
ムバー10の凹溝14の内壁面とリード12の外面との
間に隙間が存在していても、熱可塑性樹脂によって閉塞
されるため、リード12間の間隙は熱可塑性樹脂によっ
て隙間なく充填されるのである。尚、本実施例において
は、ダムバー10の各凹溝14内へのリード12の挿入
を、封止樹脂用金型の上型又は下型の所定位置にダムバ
ー10を予め装着しておき、リードフレームを下型の所
定位置に載置した後、上型と下型との型閉じによって行
ってもよい。
A semiconductor chip is mounted on the stage in the lead frame in which the leads are inserted into the recessed grooves 14 of the dam bar 10 in this manner, and the electrodes of the mounted semiconductor chip and the tips of the inner leads are wire-bonded. After that, it is inserted into a mold for resin sealing. At this time, the semiconductor chip or the like is inserted into the cavity of the resin-sealing die, and at least a part of the dam bar 10 is held between the upper die and the lower die that form the resin-sealing die. Then, a thermosetting resin is filled as a sealing resin in the resin-sealing mold, and the thermoplastic resin forming the dam bar 10 is heated and softened by the heat of the sealing resin and the like. The dam bar 10 is deformed by the mold closing force of the mold and the lower mold, and the dam bar 10 and the lead 12 are integrated. At this time, even if there is a gap between the inner wall surface of the concave groove 14 of the dam bar 10 and the outer surface of the lead 12, it is blocked by the thermoplastic resin, so that the gap between the leads 12 is separated by the thermoplastic resin. It is filled without. In the present embodiment, the lead 12 is inserted into each groove 14 of the dam bar 10 by mounting the dam bar 10 in a predetermined position of the upper mold or the lower mold of the sealing resin mold in advance. Alternatively, the frame may be placed on the lower mold at a predetermined position and then the upper mold and the lower mold may be closed.

【0010】図2及び図3に示すダムバー10は、熱可
塑性樹脂によって形成されているものであるが、図4に
示すように、金属製の細幅部材にリード12を挿入する
凹溝34が形成されたダムバー30を使用してもよい。
かかる金属製のダムバー30は、熱可塑性樹脂によって
形成されたダムバー10に比較して、ダムバーの強度を
向上することができる。かかる金属製のダムバー30を
使用する場合、図4に示すように、ダムバー30に形成
されたリード12を挿入する凹溝34の内壁面を熱可塑
性樹脂から成るフィルム32によって形成する。かかる
フィルム32によって、リード12とダムバー30とを
絶縁することができ、且つ樹脂封止の際に、フィルム3
2の変形によってリード12と凹溝34との間の隙間を
なくすことができる。本実施例のリードフレームにおい
て、ダムバーが形成される場所は、通常、リード間の間
隙が規格化されることが多い部分であるため、本実施例
のように、予めリード12を挿入する凹溝が形成された
細幅部材をダムバーとして成形しておく場合であって
も、凹溝間隔等を異にする数種類のダムバーを保持して
おけば、需要に略対応することができる。
The dam bar 10 shown in FIGS. 2 and 3 is formed of a thermoplastic resin, but as shown in FIG. 4, a concave groove 34 for inserting the lead 12 into a narrow metal member is formed. The formed dam bar 30 may be used.
The metal dam bar 30 can improve the strength of the dam bar as compared with the dam bar 10 formed of a thermoplastic resin. When such a metal dam bar 30 is used, as shown in FIG. 4, the inner wall surface of the concave groove 34 into which the lead 12 formed in the dam bar 30 is inserted is formed by a film 32 made of a thermoplastic resin. The film 32 can insulate the lead 12 and the dam bar 30 from each other, and the film 3 can be formed at the time of resin sealing.
The deformation of 2 can eliminate the gap between the lead 12 and the concave groove 34. In the lead frame of the present embodiment, the place where the dam bar is formed is usually a portion where the gap between the leads is usually standardized. Therefore, as in the present embodiment, a groove for inserting the lead 12 in advance is formed. Even when the narrow member formed with is formed as a dam bar, it is possible to substantially meet the demand by holding several types of dam bars having different groove intervals.

【0011】[0011]

【発明の効果】本発明によれば、樹脂封止後にダムバー
を切断するダムバー切断工程を省略することができ、半
導体装置の工程を簡略化できる。しかも、インナーリー
ドとアウターリードとの境界部のリード間の充填を容易
に且つ充分に行うことができるため、良好な外観の半導
体装置を得ることができる。
According to the present invention, the dam bar cutting step of cutting the dam bar after resin sealing can be omitted, and the steps of the semiconductor device can be simplified. In addition, since it is possible to easily and sufficiently fill the space between the leads at the boundary between the inner lead and the outer lead, a semiconductor device having a good appearance can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るダムバーの一部を示す部分斜視図
を示す。
FIG. 1 is a partial perspective view showing a part of a dam bar according to the present invention.

【図2】ダムバーの凹溝にリードを挿入した状態を示す
部分断面図を示す。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a state in which a lead is inserted in the groove of the dam bar.

【図3】本発明に係る他の実施例を示す部分断面図を示
す。
FIG. 3 is a partial sectional view showing another embodiment according to the present invention.

【図4】本発明に係る他の実施例を示す部分断面図を示
す。
FIG. 4 is a partial sectional view showing another embodiment according to the present invention.

【図5】従来のリードフレームの正面図を示す。FIG. 5 shows a front view of a conventional lead frame.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10、30 ダムバー 12 リード 14、34 凹溝 16、36 凹溝間部 10, 30 Dam bar 12 Lead 14, 34 Recessed groove 16, 36 Between recessed grooves

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 インナーリードとアウターリードとの境
界部にダムバーが設けられたリードフレームにおいて、 該ダムバーとして、前記境界部の各リードを挿入する凹
溝が複数本形成された細幅部材が用いられ、 且つ少なくとも前記リードと接触する細幅部材の凹溝内
壁面が熱可塑性樹脂によって形成されていることを特徴
とするリードフレーム。
1. A lead frame in which a dam bar is provided at a boundary between an inner lead and an outer lead, wherein the dam bar is a narrow member having a plurality of recessed grooves into which the leads of the boundary are inserted. The lead frame is characterized in that at least the inner wall surface of the narrow groove of the narrow member that is in contact with the lead is formed of a thermoplastic resin.
【請求項2】 ダムバーが熱可塑性樹脂から成る請求項
1記載のリードフレーム。
2. The lead frame according to claim 1, wherein the dam bar is made of a thermoplastic resin.
【請求項3】 熱可塑性樹脂が、リードフレームの樹脂
封止温度において溶融することなく軟化する請求項1又
は請求項2記載のリードフレーム。
3. The lead frame according to claim 1, wherein the thermoplastic resin is softened without melting at the resin sealing temperature of the lead frame.
【請求項4】 搭載された半導体チップとインナーリー
ド先端部とがボンディングされたリードフレームを樹脂
封止して半導体装置を製造する際に、 該リードフレームとして、請求項1記載のリードフレー
ムを使用し、樹脂封止用金型内に充填する封止樹脂等の
熱によって、ダムバーの凹溝内壁面を形成する熱可塑性
樹脂を軟化し、リードとダムバーとを一体化することを
特徴とする半導体装置の製造方法。
4. A lead frame according to claim 1, which is used as a lead frame when a semiconductor device is manufactured by resin-sealing a lead frame to which a mounted semiconductor chip and a tip of an inner lead are bonded. Then, the thermoplastic resin forming the inner wall surface of the recessed groove of the dam bar is softened by the heat of the sealing resin or the like filled in the resin sealing mold, and the lead and the dam bar are integrated with each other. Device manufacturing method.
【請求項5】 ダムバーが熱可塑性樹脂から成る請求項
4記載の半導体装置の製造方法。
5. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 4, wherein the dam bar is made of a thermoplastic resin.
【請求項6】 熱可塑性樹脂が、リードフレームの樹脂
封止温度において軟化する請求項4記載の半導体装置の
製造方法。
6. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 4, wherein the thermoplastic resin is softened at a resin sealing temperature of the lead frame.
JP3047093A 1993-02-19 1993-02-19 Lead frame and manufacturing method for semiconductor device Pending JPH06244352A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009117819A (en) * 2007-10-16 2009-05-28 Toshiba Corp Semiconductor device and lead frame used for the same
JP2014187124A (en) * 2013-03-22 2014-10-02 Fujitsu Ltd Thermoelectric element mounting module and process of manufacturing the same

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