JPH06241997A - 光学的測定方法及びその装置 - Google Patents
光学的測定方法及びその装置Info
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- JPH06241997A JPH06241997A JP3207093A JP3207093A JPH06241997A JP H06241997 A JPH06241997 A JP H06241997A JP 3207093 A JP3207093 A JP 3207093A JP 3207093 A JP3207093 A JP 3207093A JP H06241997 A JPH06241997 A JP H06241997A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 材料の光透過率、光透過速度、及び光透過率
に対する光強度依存性を簡便に測定することのできる測
定方法及びその装置を提供する。 【構成】 この光学的測定装置は、レーザ光用電源１、
レーザ光連続発振装置２、パルス発生器３及び光強度変
調器４を備えている。また、ミラー５、透過率可変フィ
ルタ６、シャッタ７及び分割ミラー８がこの順に設けら
れている。そしてここから先は２方向の光学系に分れ、
材料測定側の光学系には集光レンズ９、光透過性材料１
０、更に集光レンズ１１、第１の受光手段である受光器
１２がこの順に設けられており、他方の参照側の光学系
には集光レンズ１３及び第２の受光手段であるが受光器
１４が同じくこの順に設けられている。そして受光器１
２及び受光器１４は、情報処理手段であるオシロスコー
プ１５に接続してある。
に対する光強度依存性を簡便に測定することのできる測
定方法及びその装置を提供する。 【構成】 この光学的測定装置は、レーザ光用電源１、
レーザ光連続発振装置２、パルス発生器３及び光強度変
調器４を備えている。また、ミラー５、透過率可変フィ
ルタ６、シャッタ７及び分割ミラー８がこの順に設けら
れている。そしてここから先は２方向の光学系に分れ、
材料測定側の光学系には集光レンズ９、光透過性材料１
０、更に集光レンズ１１、第１の受光手段である受光器
１２がこの順に設けられており、他方の参照側の光学系
には集光レンズ１３及び第２の受光手段であるが受光器
１４が同じくこの順に設けられている。そして受光器１
２及び受光器１４は、情報処理手段であるオシロスコー
プ１５に接続してある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光を利用して光
透過性材料の特定波長における光透過率、光透過速度、
光透過率に対する光強度依存性を簡便に測定する方法及
びその装置に関するものである。
透過性材料の特定波長における光透過率、光透過速度、
光透過率に対する光強度依存性を簡便に測定する方法及
びその装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光透過率を測定する方法及び装置につい
ては従来から種々のものが知られている。このなかでも
よく知られているのは自記分光光度計であり、この光度
計は、ハロゲンランプや重水素ランプからの白色光を対
象側と試料側とに分割照射し、試料側の透過光と対象側
の透過光との比から広い波長領域の光透過率を求めてい
る。
ては従来から種々のものが知られている。このなかでも
よく知られているのは自記分光光度計であり、この光度
計は、ハロゲンランプや重水素ランプからの白色光を対
象側と試料側とに分割照射し、試料側の透過光と対象側
の透過光との比から広い波長領域の光透過率を求めてい
る。
【０００３】また、レーザ光を光源とする光透過率測定
装置も実用化されており、例えば、液晶材料の光透過率
測定装置として、連続発振レーザ、シャッタ、偏光子、
レンズ、検光子、コントローラ等を備えた液晶透過率測
定システム等が市販されている。
装置も実用化されており、例えば、液晶材料の光透過率
測定装置として、連続発振レーザ、シャッタ、偏光子、
レンズ、検光子、コントローラ等を備えた液晶透過率測
定システム等が市販されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の自記分
光光度計については、光源が白色光であるために波長域
は広範に渡っており、また光強度が小さいために特定波
長の光透過率を精密に測定することはできなかった。
光光度計については、光源が白色光であるために波長域
は広範に渡っており、また光強度が小さいために特定波
長の光透過率を精密に測定することはできなかった。
【０００５】また、上記連続発振レーザを備えた液晶透
過率測定システムについては、レーザ光が連続光である
ために、光透過速度を測定することは不可能であり、更
に、光強度を変化させることができないため、光透過率
に対する光強度依存性を測定することも不可能であっ
た。
過率測定システムについては、レーザ光が連続光である
ために、光透過速度を測定することは不可能であり、更
に、光強度を変化させることができないため、光透過率
に対する光強度依存性を測定することも不可能であっ
た。
【０００６】光透過性材料を素子化あるいはチップ化し
てその光機能性を活用するには、その材料の特定波長に
おける前記光透過速度あるいは光透過率に対する光強度
依存性を測定する必要がある。そのため従来は、高価な
パルスレーザと高速時間分解の分光器等とを組み合わせ
て測定していた。従って、装置の組み合わせが複雑であ
る上に測定方法も煩雑であった。
てその光機能性を活用するには、その材料の特定波長に
おける前記光透過速度あるいは光透過率に対する光強度
依存性を測定する必要がある。そのため従来は、高価な
パルスレーザと高速時間分解の分光器等とを組み合わせ
て測定していた。従って、装置の組み合わせが複雑であ
る上に測定方法も煩雑であった。
【０００７】本発明は、従来の技術が有するこのような
問題点を解決するためになされたものであり、その目的
は、汎用の連続レーザ光を強度変調して光パルスとし、
この光パルスを利用して材料の光透過率、光透過速度、
及び光透過率に対する光強度依存性を簡便に測定するこ
とのできる測定方法及びその装置を提供することにあ
る。
問題点を解決するためになされたものであり、その目的
は、汎用の連続レーザ光を強度変調して光パルスとし、
この光パルスを利用して材料の光透過率、光透過速度、
及び光透過率に対する光強度依存性を簡便に測定するこ
とのできる測定方法及びその装置を提供することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく本
発明は、レーザ光を照射して材料の特定波長における前
記光透過率及び光透過速度の測定を行う装置に関するも
のであって、この測定装置は、連続レーザ光を光源とす
る光パルスの発生手段と、この光パルスを２分割するた
めの光分割手段と、分割された一方の光パルスを前記材
料へ照射したときの透過光を検知する第１の受光手段
と、前記材料を透過させない他方の光パルスを検知する
第２の受光手段と、これら第１及び第２の受光手段から
得られた情報の処理手段とを有する。
発明は、レーザ光を照射して材料の特定波長における前
記光透過率及び光透過速度の測定を行う装置に関するも
のであって、この測定装置は、連続レーザ光を光源とす
る光パルスの発生手段と、この光パルスを２分割するた
めの光分割手段と、分割された一方の光パルスを前記材
料へ照射したときの透過光を検知する第１の受光手段
と、前記材料を透過させない他方の光パルスを検知する
第２の受光手段と、これら第１及び第２の受光手段から
得られた情報の処理手段とを有する。
【０００９】また、本発明の前記光パルスの発生手段と
光分割手段との間に、光パルスの光強度の制御手段を更
に加えることによって、前記光透過率に対する光強度依
存性を測定することが可能となる。
光分割手段との間に、光パルスの光強度の制御手段を更
に加えることによって、前記光透過率に対する光強度依
存性を測定することが可能となる。
【００１０】
【作用】本発明においては、連続レーザ光を強度変調し
て光パルスとし、この光パルスを２分割し、一方の光パ
ルスは材料を透過させ、他方の光パルスは前記材料を透
過させずにそれぞれの受光量を測定し、これら２つの受
光量の比から前記材料の光透過率を求め、更に、前記材
料を透過させた光パルスの立ち上がり時間差から光透過
速度を求める。
て光パルスとし、この光パルスを２分割し、一方の光パ
ルスは材料を透過させ、他方の光パルスは前記材料を透
過させずにそれぞれの受光量を測定し、これら２つの受
光量の比から前記材料の光透過率を求め、更に、前記材
料を透過させた光パルスの立ち上がり時間差から光透過
速度を求める。
【００１１】また、本発明においては、前記光パルスの
光強度を変化させながら上記測定を行い、得られた２つ
の受光量の比から前記材料の光透過率に対する光強度依
存性を求める。
光強度を変化させながら上記測定を行い、得られた２つ
の受光量の比から前記材料の光透過率に対する光強度依
存性を求める。
【００１２】
【実施例】以下に本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。図１は本発明に基づく光学的測定装置の構成の一例
を示すブロック図である。同図において、この光学的測
定装置は、連続レーザ光を発生させるレーザ光用電源１
及びレーザ光連続発振装置２と、上記連続レーザ光を光
パルスに変換するパルス発生器３及び光強度変調器４と
からなる光パルス発生手段を備えている。
る。図１は本発明に基づく光学的測定装置の構成の一例
を示すブロック図である。同図において、この光学的測
定装置は、連続レーザ光を発生させるレーザ光用電源１
及びレーザ光連続発振装置２と、上記連続レーザ光を光
パルスに変換するパルス発生器３及び光強度変調器４と
からなる光パルス発生手段を備えている。
【００１３】また、上記光強度変調器４に続いて、光パ
ルスの方向を変えるためのミラー５、光パルスの光強度
の制御手段である透過率可変フィルタ６、シャッタ７及
び光パルスを２分割するための光分割手段である分割ミ
ラー８がこの順に設けられている。
ルスの方向を変えるためのミラー５、光パルスの光強度
の制御手段である透過率可変フィルタ６、シャッタ７及
び光パルスを２分割するための光分割手段である分割ミ
ラー８がこの順に設けられている。
【００１４】上記分割ミラー８より先は２方向の光学系
に分れ、材料測定側の光学系には集光レンズ９、試料で
ある光透過性材料１０、更に集光レンズ１１、第１の受
光手段である受光器１２がこの順に設けられており、他
方の参照側の光学系には集光レンズ１３及び第２の受光
手段であるが受光器１４が同じくこの順に設けられてい
る。そして受光器１２及び受光器１４は、情報処理手段
であるオシロスコープ１５に接続してある。
に分れ、材料測定側の光学系には集光レンズ９、試料で
ある光透過性材料１０、更に集光レンズ１１、第１の受
光手段である受光器１２がこの順に設けられており、他
方の参照側の光学系には集光レンズ１３及び第２の受光
手段であるが受光器１４が同じくこの順に設けられてい
る。そして受光器１２及び受光器１４は、情報処理手段
であるオシロスコープ１５に接続してある。
【００１５】次に、図１に基づいて、本発明に係る光透
過率、光透過速度、及び光透過率に対する光強度依存性
の測定方法を説明する。レーザ光連続発振装置２から出
射された連続発振レーザ光は光強度変調器４へ入り、こ
の光強度変調器４に連結されたパルス発生器３からのパ
ルス信号に応じて強度変調が行われパルス光となる。こ
の光のパルス幅は、光透過性材料１０の光透過速度に応
じて（すなわち、光透過性材料１０を透過したパルス光
に波形変化が現われる範囲で）任意に設定してよい。
過率、光透過速度、及び光透過率に対する光強度依存性
の測定方法を説明する。レーザ光連続発振装置２から出
射された連続発振レーザ光は光強度変調器４へ入り、こ
の光強度変調器４に連結されたパルス発生器３からのパ
ルス信号に応じて強度変調が行われパルス光となる。こ
の光のパルス幅は、光透過性材料１０の光透過速度に応
じて（すなわち、光透過性材料１０を透過したパルス光
に波形変化が現われる範囲で）任意に設定してよい。
【００１６】上記によって得られたパルス光を、必要に
応じてミラー５で屈折させて透過率可変フィルタ６へ入
射させる。この透過率可変フィルタ６としては、例えば
ＮＤフィルタ、すなわち、円盤状の光学ガラス板に、こ
の円盤を（例えば３０°、９０°等に）回転させること
によって透過したパルス光の強度を任意に変えられるよ
うに、クロム等の金属微粒子の膜厚を漸次変化させてコ
ーティングしたフィルタ等を使用することができる。但
し、この透過率可変フィルタ６は前記光強度依存性を測
定する際に必要なものであり、光透過率及び光透過速度
を測定する際には前記回転は行わず、一定の光強度を保
持させる。
応じてミラー５で屈折させて透過率可変フィルタ６へ入
射させる。この透過率可変フィルタ６としては、例えば
ＮＤフィルタ、すなわち、円盤状の光学ガラス板に、こ
の円盤を（例えば３０°、９０°等に）回転させること
によって透過したパルス光の強度を任意に変えられるよ
うに、クロム等の金属微粒子の膜厚を漸次変化させてコ
ーティングしたフィルタ等を使用することができる。但
し、この透過率可変フィルタ６は前記光強度依存性を測
定する際に必要なものであり、光透過率及び光透過速度
を測定する際には前記回転は行わず、一定の光強度を保
持させる。
【００１７】透過率可変フィルタ６を出射したパルス光
は、シャッタ７を通過して分割ミラー８へ入射する。シ
ャッタ７は、パルス光による光透過性材料１０の損傷を
防ぐためのものであり、常時は閉としておき、測定時に
はパルス周期の１００倍程度の時間だけ開くようにす
る。また、分割ミラー８は光パルスを２分割するための
ものである。この分割の割合は１：１である必要はな
く、参照側のパルス光はそれほど強度が高くなくてもよ
い。
は、シャッタ７を通過して分割ミラー８へ入射する。シ
ャッタ７は、パルス光による光透過性材料１０の損傷を
防ぐためのものであり、常時は閉としておき、測定時に
はパルス周期の１００倍程度の時間だけ開くようにす
る。また、分割ミラー８は光パルスを２分割するための
ものである。この分割の割合は１：１である必要はな
く、参照側のパルス光はそれほど強度が高くなくてもよ
い。
【００１８】材料測定側のパルス光は、次に集光レンズ
９を通って光透過性材料１０へ入射し、ここを透過した
後に集光レンズ１１を通って受光器１２へ入射する。集
光レンズ９及び集光レンズ１１は、回折によって広がっ
た光パルスのスポットを絞り、光密度を高めることを目
的としている。
９を通って光透過性材料１０へ入射し、ここを透過した
後に集光レンズ１１を通って受光器１２へ入射する。集
光レンズ９及び集光レンズ１１は、回折によって広がっ
た光パルスのスポットを絞り、光密度を高めることを目
的としている。
【００１９】また、参照側のパルス光は、集光レンズ１
３で集束されて受光器１４に入射される。そして、前記
受光器１２および受光器１４からの信号はオシロスコー
プ１５へ入力され、パルス波形状の検出信号としてモニ
タされる。
３で集束されて受光器１４に入射される。そして、前記
受光器１２および受光器１４からの信号はオシロスコー
プ１５へ入力され、パルス波形状の検出信号としてモニ
タされる。
【００２０】図２は、本発明に基づく光透過率及び光透
過速度の測定結果を示すパルス波形の一例である。同図
において、上の波形は参照側の光パルス（以下、Ａパル
スという）であり、下の波形は材料測定側の透過光パル
ス（以下、Ｂパルスという）である。これらの波形は、
波長６３２．８ｎｍのＨe−Ｎeレーザを用いて３００μ
secの光パルスを発生させ、光透過性材料１０としてエ
リスロマイシン結晶を使用して得られたものである。
過速度の測定結果を示すパルス波形の一例である。同図
において、上の波形は参照側の光パルス（以下、Ａパル
スという）であり、下の波形は材料測定側の透過光パル
ス（以下、Ｂパルスという）である。これらの波形は、
波長６３２．８ｎｍのＨe−Ｎeレーザを用いて３００μ
secの光パルスを発生させ、光透過性材料１０としてエ
リスロマイシン結晶を使用して得られたものである。
【００２１】上記波形からこの波長における光透過率を
求めるには、下記の式 光透過率（％）＝（Ｂパルス強度／Ａパルス強度）×分
光比×１００ によればよい。上記Ａ及びＢのパルス強度として、図２
に示す各光パルスの高さを使用することができる。これ
らパルスの高さは受光器１２及び受光器１４の受光量と
相関している。また、上記分光比は、分割ミラー８で分
割された光パルスの参照側強度と試料側強度との比、す
なわち（参照側強度／試料側強度）を表わす。
求めるには、下記の式 光透過率（％）＝（Ｂパルス強度／Ａパルス強度）×分
光比×１００ によればよい。上記Ａ及びＢのパルス強度として、図２
に示す各光パルスの高さを使用することができる。これ
らパルスの高さは受光器１２及び受光器１４の受光量と
相関している。また、上記分光比は、分割ミラー８で分
割された光パルスの参照側強度と試料側強度との比、す
なわち（参照側強度／試料側強度）を表わす。
【００２２】また、光透過速度を求めるには次のように
すればよい。すなわち図２に示すように、Ａパルスは殆
ど垂直に立ち上がりすぐに最大強度に達するが、Ｂパル
スは垂直に立ち上がるものの途中から強度が伸びなくな
り、ある程度時間が経過した後に最大強度に達する。従
ってＡ及びＢのパルスについて、立ち上がりから最大強
度に到達するまでの時間を測定し、下記の式 光透過速度（μsec／ｍｍ）＝（ｔB−ｔA）／Ｌ によってこの波長における光透過速度を求めることがで
きる。但し、ｔA及びｔBはＡ及びＢパルスの上記最大強
度到達時間、Ｌは光透過性材料１０の厚さである。
すればよい。すなわち図２に示すように、Ａパルスは殆
ど垂直に立ち上がりすぐに最大強度に達するが、Ｂパル
スは垂直に立ち上がるものの途中から強度が伸びなくな
り、ある程度時間が経過した後に最大強度に達する。従
ってＡ及びＢのパルスについて、立ち上がりから最大強
度に到達するまでの時間を測定し、下記の式 光透過速度（μsec／ｍｍ）＝（ｔB−ｔA）／Ｌ によってこの波長における光透過速度を求めることがで
きる。但し、ｔA及びｔBはＡ及びＢパルスの上記最大強
度到達時間、Ｌは光透過性材料１０の厚さである。
【００２３】図３に、本発明に基づく光透過率に対する
光強度依存性測定の一例を示す。本発明でいう光強度依
存性とは、光透過率と光強度との相関性を意味する。こ
の例では、波長５１５ｎｍのアルゴンイオンレーザを使
用し、光透過性材料１０としてエオシン分散ＰＶＡ（ポ
リビニルアルコール）薄膜を用いている。本図のグラフ
を作成するには、透過率可変フィルタ６を回転させて光
パルス強度を変化させながら、前記光透過率と同じ方法
で各光パルス強度における光透過率を求めてプロットす
ればよい。
光強度依存性測定の一例を示す。本発明でいう光強度依
存性とは、光透過率と光強度との相関性を意味する。こ
の例では、波長５１５ｎｍのアルゴンイオンレーザを使
用し、光透過性材料１０としてエオシン分散ＰＶＡ（ポ
リビニルアルコール）薄膜を用いている。本図のグラフ
を作成するには、透過率可変フィルタ６を回転させて光
パルス強度を変化させながら、前記光透過率と同じ方法
で各光パルス強度における光透過率を求めてプロットす
ればよい。
【００２４】図３によれば、この光透過性材料１０は、
光強度が弱いうちは光強度依存性を示さないが、光強度
が０．５Ｗ／ｃｍ2付近を超えると飽和吸収状態とな
り、光透過率と相関性を持つようになることが分る。な
お、飽和吸収とは、基底状態にある光吸収性物質が光量
子（フォトン）を吸収して活性化され、励起状態になる
場合、基底状態にある分子の量と、励起状態にある分子
の量との比の変化によって光の吸収係数も変化する。そ
のため照射される光強度が強くなると、基底状態にある
分子数が相対的に減少して見掛け上の吸収が減少してく
る。この現象を飽和吸収と呼ぶ。
光強度が弱いうちは光強度依存性を示さないが、光強度
が０．５Ｗ／ｃｍ2付近を超えると飽和吸収状態とな
り、光透過率と相関性を持つようになることが分る。な
お、飽和吸収とは、基底状態にある光吸収性物質が光量
子（フォトン）を吸収して活性化され、励起状態になる
場合、基底状態にある分子の量と、励起状態にある分子
の量との比の変化によって光の吸収係数も変化する。そ
のため照射される光強度が強くなると、基底状態にある
分子数が相対的に減少して見掛け上の吸収が減少してく
る。この現象を飽和吸収と呼ぶ。
【００２５】
【発明の効果】以上に説明したように本発明の光学的測
定方法によれば、光パルスを２分割し、一方の光パルス
は材料を透過させ、他方の光パルスは前記材料を透過さ
せずにそれぞれの受光量を測定し、これら２つの受光量
の比から前記材料の光透過率を求め、更に、前記材料を
透過させた光パルスの立ち上がり時間差から光透過速度
を求めるため、特定波長の光透過率及び光透過速度を精
密に測定することができる。
定方法によれば、光パルスを２分割し、一方の光パルス
は材料を透過させ、他方の光パルスは前記材料を透過さ
せずにそれぞれの受光量を測定し、これら２つの受光量
の比から前記材料の光透過率を求め、更に、前記材料を
透過させた光パルスの立ち上がり時間差から光透過速度
を求めるため、特定波長の光透過率及び光透過速度を精
密に測定することができる。
【００２６】また、前記光パルスの光強度を変化させな
がら前記材料に照射すれば、上記の光透過率及び光透過
速度の測定と同様の方法によって、前記材料の光透過率
に対する光強度依存性を精密に測定することができる。
がら前記材料に照射すれば、上記の光透過率及び光透過
速度の測定と同様の方法によって、前記材料の光透過率
に対する光強度依存性を精密に測定することができる。
【００２７】更に、本発明の測定装置は、連続レーザ光
を光源とする光パルスの発生手段と、この光パルスを２
分割するための光分割手段と、分割された一方の光パル
スを前記材料へ照射したときの透過光を検知する第１の
受光手段と、前記材料を透過させない他方の光パルスを
検知する第２の受光手段と、これら第１及び第２の受光
手段から得られた情報の処理手段とが連結されているた
め、前記材料の光透過率及び光透過速度の測定が容易で
ある。
を光源とする光パルスの発生手段と、この光パルスを２
分割するための光分割手段と、分割された一方の光パル
スを前記材料へ照射したときの透過光を検知する第１の
受光手段と、前記材料を透過させない他方の光パルスを
検知する第２の受光手段と、これら第１及び第２の受光
手段から得られた情報の処理手段とが連結されているた
め、前記材料の光透過率及び光透過速度の測定が容易で
ある。
【００２８】また、前記光パルスの発生手段と光分割手
段との間に、光パルスの光強度の制御手段を更に加た本
発明の測定装置においては、光透過率に対する光強度依
存性を簡便に測定することができる。
段との間に、光パルスの光強度の制御手段を更に加た本
発明の測定装置においては、光透過率に対する光強度依
存性を簡便に測定することができる。
【図１】本発明に基づく光学的測定装置の構成の一例を
示すブロック図
示すブロック図
【図２】本発明に基づく光透過率及び光透過速度の測定
結果を示すパルス波形の一例
結果を示すパルス波形の一例
【図３】本発明に基づく光透過率に対する光強度依存性
測定の一例
測定の一例
１…光パルス発生手段（レーザ光用電源）、２…光パル
ス発生手段（レーザ光連続発振装置）３…光パルス発生
手段（パルス発生器）、４…光パルス発生手段（光強度
変調器）、５…ミラー、６…光強度制御手段（透過率可
変フィルタ）、７…シャッタ、８…光分割手段（分割ミ
ラー）、９，１１，１３…集光レンズ、１０…光透過性
材料、１２…第１の受光手段（受光器）、１４…第２の
受光手段（受光器）、１５…情報処理手段（オシロスコ
ープ）。
ス発生手段（レーザ光連続発振装置）３…光パルス発生
手段（パルス発生器）、４…光パルス発生手段（光強度
変調器）、５…ミラー、６…光強度制御手段（透過率可
変フィルタ）、７…シャッタ、８…光分割手段（分割ミ
ラー）、９，１１，１３…集光レンズ、１０…光透過性
材料、１２…第１の受光手段（受光器）、１４…第２の
受光手段（受光器）、１５…情報処理手段（オシロスコ
ープ）。
Claims (4)
- 【請求項１】 連続レーザ光を強度変調して光パルスと
し、この光パルスを照射して材料の特定波長における光
学的測定を行う方法であって、この測定方法は、前記光
パルスを２分割し、一方の光パルスは前記材料を透過さ
せ、他方の光パルスは前記材料を透過させずにそれぞれ
の受光量を測定し、これら２つの受光量の比から前記材
料の光透過率を求め、更に、前記材料を透過させた光パ
ルスの立ち上がり時間差から光透過速度を求めることを
特徴とする光学的測定方法。 - 【請求項２】 連続レーザ光を強度変調して光パルスと
し、この光パルスの光強度を変化させながら材料に照射
して特定波長の光学的測定を行う方法であって、この測
定方法は、前記光パルスを２分割し、一方の光パルスは
前記材料を透過させ、他方の光パルスは前記材料を透過
させずにそれぞれの受光量を測定し、これら２つの受光
量の比から前記材料の光透過率に対する光強度依存性を
求めることを特徴とする光学的測定方法。 - 【請求項３】 レーザ光を照射して材料の特定波長にお
ける光学的測定を行う装置であって、この測定装置は、
連続レーザ光を光源とする光パルスの発生手段と、この
光パルスを２分割するための光分割手段と、分割された
一方の光パルスを前記材料へ照射したときの透過光を検
知する第１の受光手段と、前記材料を透過させない他方
の光パルスを検知する第２の受光手段と、これら第１及
び第２の受光手段から得られた情報の処理手段とを有す
ることを特徴とする光学的測定装置。 - 【請求項４】 レーザ光を照射して材料の特定波長にお
ける光学的測定を行う装置であって、この測定装置は、
連続レーザ光を光源とする光パルスの発生手段と、発生
した光パルスの光強度の制御手段と、制御した光パルス
を２分割するための光分割手段と、分割された一方の光
パルスを前記材料へ照射したときの透過光を検知する第
１の受光手段と、前記材料を透過させない他方の光パル
スを検知する第２の受光手段と、これら第１及び第２の
受光手段から得られた情報の処理手段とを有することを
特徴とする光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3207093A JPH06241997A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 光学的測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3207093A JPH06241997A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 光学的測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06241997A true JPH06241997A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12348624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3207093A Pending JPH06241997A (ja) | 1993-02-22 | 1993-02-22 | 光学的測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06241997A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012520994A (ja) * | 2009-03-20 | 2012-09-10 | エフ．ホフマン−ラ ロシュ アーゲー | 体液測定用の試験要素と測定法 |
| US11160645B2 (en) | 2009-11-13 | 2021-11-02 | Sonendo, Inc. | Liquid jet apparatus and methods for dental treatments |
-
1993
- 1993-02-22 JP JP3207093A patent/JPH06241997A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012520994A (ja) * | 2009-03-20 | 2012-09-10 | エフ．ホフマン−ラ ロシュ アーゲー | 体液測定用の試験要素と測定法 |
| US11160645B2 (en) | 2009-11-13 | 2021-11-02 | Sonendo, Inc. | Liquid jet apparatus and methods for dental treatments |
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