JPH06241967A - 引張試験における伸び測定方法 - Google Patents
引張試験における伸び測定方法Info
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- JPH06241967A JPH06241967A JP2909593A JP2909593A JPH06241967A JP H06241967 A JPH06241967 A JP H06241967A JP 2909593 A JP2909593 A JP 2909593A JP 2909593 A JP2909593 A JP 2909593A JP H06241967 A JPH06241967 A JP H06241967A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は、レンズによる両端側の収差
を補正して測定精度の向上を可能にした引張試験におけ
る伸び測定方法を提供することにある。 【構成】 画像読取装置１で標準プレートＰの目盛りを
読み取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリー
１０を介して中央演算処理部６に取り込みカメラレンズ
の収差補正を行った後、画像読取装置１０で読み取られ
た試験片Ｓの２本の標線Ｑ，Ｑ´を有する測定部をフレ
ームメモリー１０を介して中央演算処理部６に取り込
み、この取り込まれた測定部の標線間の距離を標準プレ
ートＰの目盛りで収差補正を行い演算して、試験片Ｓの
伸びを求めることを特徴とする。
を補正して測定精度の向上を可能にした引張試験におけ
る伸び測定方法を提供することにある。 【構成】 画像読取装置１で標準プレートＰの目盛りを
読み取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリー
１０を介して中央演算処理部６に取り込みカメラレンズ
の収差補正を行った後、画像読取装置１０で読み取られ
た試験片Ｓの２本の標線Ｑ，Ｑ´を有する測定部をフレ
ームメモリー１０を介して中央演算処理部６に取り込
み、この取り込まれた測定部の標線間の距離を標準プレ
ートＰの目盛りで収差補正を行い演算して、試験片Ｓの
伸びを求めることを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ゴム、樹脂、繊維等の
材料の伸び等を測定する引張試験における伸び測定方法
に係わり、更に詳しくは、カメラレンズによる両端側の
収差を補正して測定精度の向上が可能な引張試験におけ
る伸び測定方法に関するものである。
材料の伸び等を測定する引張試験における伸び測定方法
に係わり、更に詳しくは、カメラレンズによる両端側の
収差を補正して測定精度の向上が可能な引張試験におけ
る伸び測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ゴム、樹脂、繊維等の材料の引張強さ、
伸長応力、或いは破断時の伸び等の引張特性を測定する
場合、上記材料からなる試験片の両端をそれぞれチャッ
クで把持し、一方のチャックを移動させて試験片を引っ
張り、伸長変形を与えるように構成した引張試験装置が
用いられているのは周知のとおりである。このような引
張試験装置により、例えば100 ％伸長時の弾性率や破断
時の伸び等を求める際に、材料の伸びをより正確に測定
することは、引張特性の精度の上で極めて重要である。
伸長応力、或いは破断時の伸び等の引張特性を測定する
場合、上記材料からなる試験片の両端をそれぞれチャッ
クで把持し、一方のチャックを移動させて試験片を引っ
張り、伸長変形を与えるように構成した引張試験装置が
用いられているのは周知のとおりである。このような引
張試験装置により、例えば100 ％伸長時の弾性率や破断
時の伸び等を求める際に、材料の伸びをより正確に測定
することは、引張特性の精度の上で極めて重要である。
【０００３】ところで、従来、上述した引張試験装置に
ビジコンカメラ等のカメラと中央演算処理機能を有する
コンピュータを設置し、試験片に施された光学特性の異
なる測定用標線の変位した像をカメラで読み取り、この
読み取った信号をコンピュータ処理して試験片の伸びを
測定するようにしている。
ビジコンカメラ等のカメラと中央演算処理機能を有する
コンピュータを設置し、試験片に施された光学特性の異
なる測定用標線の変位した像をカメラで読み取り、この
読み取った信号をコンピュータ処理して試験片の伸びを
測定するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た引張試験における伸び測定方法にあっては、カメラを
使用した計測であるため、該カメラに用いられるレンズ
による収差の影響があり、レンズの両端側にいく程、測
定精度が低下すると言う問題があった。また、これまで
の計測はハード処理のため、ノイズの影響を受けやす
く、標線が切断されたり、伸びて分離したような場合、
測定不良になるという問題があった。本発明の目的は、
レンズによる両端側の収差を補正して測定精度の向上を
可能にした引張試験における伸び測定方法を提供するこ
とにある。
た引張試験における伸び測定方法にあっては、カメラを
使用した計測であるため、該カメラに用いられるレンズ
による収差の影響があり、レンズの両端側にいく程、測
定精度が低下すると言う問題があった。また、これまで
の計測はハード処理のため、ノイズの影響を受けやす
く、標線が切断されたり、伸びて分離したような場合、
測定不良になるという問題があった。本発明の目的は、
レンズによる両端側の収差を補正して測定精度の向上を
可能にした引張試験における伸び測定方法を提供するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、画像読取装置で標準プレートの目盛りを読み
取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリーを介
して中央演算処理部に取り込みカメラレンズの収差補正
を行った後、前記画像読取装置で読み取られた試験片の
２本の標線を有する測定部を前記フレームメモリーを介
して中央演算処理部に取り込み、この取り込まれた測定
部の標線間の距離を標準プレートの目盛りで収差補正を
行い演算して、前記試験片の伸びを求めることを要旨と
するものである。
するため、画像読取装置で標準プレートの目盛りを読み
取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリーを介
して中央演算処理部に取り込みカメラレンズの収差補正
を行った後、前記画像読取装置で読み取られた試験片の
２本の標線を有する測定部を前記フレームメモリーを介
して中央演算処理部に取り込み、この取り込まれた測定
部の標線間の距離を標準プレートの目盛りで収差補正を
行い演算して、前記試験片の伸びを求めることを要旨と
するものである。
【０００６】また、前記標線の一方側の境界線を平均化
処理して前記中央演算処理部で試験片の標線間の距離を
演算することを要旨とするものである。また、設定され
た標線間距離最小値以上の値において前記中央演算処理
部で試験片の標線間の距離を演算することを要旨とする
ものである。
処理して前記中央演算処理部で試験片の標線間の距離を
演算することを要旨とするものである。また、設定され
た標線間距離最小値以上の値において前記中央演算処理
部で試験片の標線間の距離を演算することを要旨とする
ものである。
【０００７】
【作用】本発明は上記のように構成され、前もって画像
読取装置からフレームメモリを介して読み取られた標準
プレートの目盛りを基準にして、試験片の標線間の伸び
を求めるため、画像読取装置のレンズにより試験片の両
端側に収差が発生しても、標準プレートの目盛りデータ
により収差補正がなされた標線間の伸びを求めることが
出来る。
読取装置からフレームメモリを介して読み取られた標準
プレートの目盛りを基準にして、試験片の標線間の伸び
を求めるため、画像読取装置のレンズにより試験片の両
端側に収差が発生しても、標準プレートの目盛りデータ
により収差補正がなされた標線間の伸びを求めることが
出来る。
【０００８】また、標線の一方側の境界線を平均化処理
することにより、引張荷重が加わった試験片の標線の直
線度や平行度が失われた場合であっても、測定される標
線の位置を正確に得ることが出来る。また、標線間距離
最小値を設定することにより、引張荷重が加わった試験
片の標線が分離しても標線を的確に得ることが可能であ
る。
することにより、引張荷重が加わった試験片の標線の直
線度や平行度が失われた場合であっても、測定される標
線の位置を正確に得ることが出来る。また、標線間距離
最小値を設定することにより、引張荷重が加わった試験
片の標線が分離しても標線を的確に得ることが可能であ
る。
【０００９】
【実施例】以下、添付図面に基づき、本発明の実施例を
説明する。図１は本発明に用いられる引張試験装置の一
例を示すブロック説明図であり、図２は該引張試験装置
による引張試験の測定方法を示すフローである。図１に
おいて、１ａは試験片Ｓの上端を把持する上部チャック
であり、１ｂは試験片Ｓの下端を把持する下部チャック
である。試験片Ｓにはその測定部に、試験片Ｓの地色と
光学特性が異なる色の測定マーク用の２本の標線Ｑ，Ｑ
´が互いに平行に付されている。
説明する。図１は本発明に用いられる引張試験装置の一
例を示すブロック説明図であり、図２は該引張試験装置
による引張試験の測定方法を示すフローである。図１に
おいて、１ａは試験片Ｓの上端を把持する上部チャック
であり、１ｂは試験片Ｓの下端を把持する下部チャック
である。試験片Ｓにはその測定部に、試験片Ｓの地色と
光学特性が異なる色の測定マーク用の２本の標線Ｑ，Ｑ
´が互いに平行に付されている。
【００１０】試験片Ｓの近傍には、等間隔に目盛りを刻
んだ標準プレートＰが設置されている。この標準プレー
トＰは、カメラを使用した計測において、該カメラに用
いられるレンズによる収差の影響を改善するために用い
られるものである。従って、標準プレートＰの設置位置
は、試験片Ｓの近傍に配置されるＣＣＤカメラ等の画像
読取装置２から試験片Ｓまでの距離と等しくなるように
設置される。画像読取装置２が首振り可能であれば、標
準プレートＰは必ずしも試験片Ｓの近傍でなくとてもよ
い。
んだ標準プレートＰが設置されている。この標準プレー
トＰは、カメラを使用した計測において、該カメラに用
いられるレンズによる収差の影響を改善するために用い
られるものである。従って、標準プレートＰの設置位置
は、試験片Ｓの近傍に配置されるＣＣＤカメラ等の画像
読取装置２から試験片Ｓまでの距離と等しくなるように
設置される。画像読取装置２が首振り可能であれば、標
準プレートＰは必ずしも試験片Ｓの近傍でなくとてもよ
い。
【００１１】上部チャック１ａは、一定位置に静止する
ように設置され、下部チャック１ｂが可動となってお
り、この下部チャック１ｂには、引張荷重を検出するロ
ードセル３が連結されている。このロードセル３が検出
した引張荷重は、ロードセルアンプ４、Ａ／Ｄコンバー
タ５を介して中央演算処理部６（ＣＰＵ）に入力される
ようになっている。
ように設置され、下部チャック１ｂが可動となってお
り、この下部チャック１ｂには、引張荷重を検出するロ
ードセル３が連結されている。このロードセル３が検出
した引張荷重は、ロードセルアンプ４、Ａ／Ｄコンバー
タ５を介して中央演算処理部６（ＣＰＵ）に入力される
ようになっている。
【００１２】試験片Ｓに対する引張荷重は、下部チャッ
ク１ｂを下方向に引っ張るための駆動モータ７の駆動に
より行われ、この駆動モータ７は、駆動回路８及びＩ／
Ｏ（インターフェイス）９を介して中央演算処理部６に
接続されている。試験片Ｓの近傍に配置された測定用の
画像読取装置２には、フレームメモリ１０が接続され、
画像読取装置２で読み取られた試験片Ｓの画像は、フレ
ームメモリ１０から中央演算処理部６に送られるように
なっている。
ク１ｂを下方向に引っ張るための駆動モータ７の駆動に
より行われ、この駆動モータ７は、駆動回路８及びＩ／
Ｏ（インターフェイス）９を介して中央演算処理部６に
接続されている。試験片Ｓの近傍に配置された測定用の
画像読取装置２には、フレームメモリ１０が接続され、
画像読取装置２で読み取られた試験片Ｓの画像は、フレ
ームメモリ１０から中央演算処理部６に送られるように
なっている。
【００１３】中央演算処理部６は画像読取装置２で標準
プレートＰの目盛りを読み取った際に、フレームメモリ
１０に入力された１フレーム分の画像データを記憶する
メモリ部を備えている。そして、画像読取装置２で読み
取られた試験片Ｓの１フレーム毎の標線Ｑ，Ｑ´間の距
離を、メモリ部に記憶された標準プレートＰの目盛りデ
ータを基準にして（対比させて）演算する構成となっい
てる。
プレートＰの目盛りを読み取った際に、フレームメモリ
１０に入力された１フレーム分の画像データを記憶する
メモリ部を備えている。そして、画像読取装置２で読み
取られた試験片Ｓの１フレーム毎の標線Ｑ，Ｑ´間の距
離を、メモリ部に記憶された標準プレートＰの目盛りデ
ータを基準にして（対比させて）演算する構成となっい
てる。
【００１４】また、中央演算処理部６は、標線Ｑ，Ｑ´
間距離の演算の前に、標線Ｑ，Ｑ´の上側或いは下側の
一方側境界線の位置を平均化処理して、読み取られた標
線Ｑ，Ｑ´の位置を決めるように構成され、また更に、
標線Ｑ，Ｑ´間の距離最小値を設定して、この最小値未
満は標線と判定しないような構成となっている。また、
中央演算処理部６では、試験片Ｓの伸び、ロードセル３
から送出された引張荷重の信号、及び入力ボード１１か
らキー入力された試験片Ｓのデータに基づいて、試験片
Ｓのモジュラス、伸び率、応力等の引張特性を演算し、
これらの値をＣＲＴ１２や、プリンタバッファ１３を介
して設けられたプリンタ１４、Ｄ／Ａコンバータ１５を
介して設置されたＸーＹペンレコーダ１６等の表示部や
記録部に出力するようになっている。
間距離の演算の前に、標線Ｑ，Ｑ´の上側或いは下側の
一方側境界線の位置を平均化処理して、読み取られた標
線Ｑ，Ｑ´の位置を決めるように構成され、また更に、
標線Ｑ，Ｑ´間の距離最小値を設定して、この最小値未
満は標線と判定しないような構成となっている。また、
中央演算処理部６では、試験片Ｓの伸び、ロードセル３
から送出された引張荷重の信号、及び入力ボード１１か
らキー入力された試験片Ｓのデータに基づいて、試験片
Ｓのモジュラス、伸び率、応力等の引張特性を演算し、
これらの値をＣＲＴ１２や、プリンタバッファ１３を介
して設けられたプリンタ１４、Ｄ／Ａコンバータ１５を
介して設置されたＸーＹペンレコーダ１６等の表示部や
記録部に出力するようになっている。
【００１５】１７はＲＡＭカード等のプログラムカード
を入力するプログラム入力部、１８は試験片Ｓ用の照明
である。次に、上述した引張試験装置による引張試験の
測定方法について、図２〜図５を参照しながら説明す
る。先ず、試験片Ｓを上部チャック１ａと下部チャック
１ｂとにセットし（ステップ）、ロードセル３に加わ
る荷重のゼロ点補正を行う（ステップ）。続いて、図
３に示すように、標準プレートＰの目盛りｍを画像読取
装置２で読み込み、フレームメモリ１０に入力された１
フレーム分の画像データを中央演算処理部６のメモリ部
にフレームラインの絶対値として記憶させる。即ち、標
準プレートＰの目盛りデータによりフレームメモリ１０
のキャリブレーションを行う（ステップ）。
を入力するプログラム入力部、１８は試験片Ｓ用の照明
である。次に、上述した引張試験装置による引張試験の
測定方法について、図２〜図５を参照しながら説明す
る。先ず、試験片Ｓを上部チャック１ａと下部チャック
１ｂとにセットし（ステップ）、ロードセル３に加わ
る荷重のゼロ点補正を行う（ステップ）。続いて、図
３に示すように、標準プレートＰの目盛りｍを画像読取
装置２で読み込み、フレームメモリ１０に入力された１
フレーム分の画像データを中央演算処理部６のメモリ部
にフレームラインの絶対値として記憶させる。即ち、標
準プレートＰの目盛りデータによりフレームメモリ１０
のキャリブレーションを行う（ステップ）。
【００１６】次いで、試験片Ｓの厚み、幅、標線Ｑ，Ｑ
´間の距離等、必要なデータを入力ボード１１から入力
する（ステップ）と共に、外乱等の影響を考慮して２
値化する際のスレシホールドレベルを設定する（ステッ
プ）。そして、計測をスタートする（ステップ）。
駆動モータ７が作動して下部チャック１ｂが下方向に移
動し、試験片Ｓに引張荷重が負荷される。この引張荷重
値はロードセル３により検出され、ロードセルアンプ４
及びＡ／Ｄコンバータ５を介して中央演算処理部６に入
力される。画像読取装置２からは、試験片Ｓの測定部が
フレームメモリ１０を介して順次（例えば３０msec.
毎）中央演算処理部６に入力される。
´間の距離等、必要なデータを入力ボード１１から入力
する（ステップ）と共に、外乱等の影響を考慮して２
値化する際のスレシホールドレベルを設定する（ステッ
プ）。そして、計測をスタートする（ステップ）。
駆動モータ７が作動して下部チャック１ｂが下方向に移
動し、試験片Ｓに引張荷重が負荷される。この引張荷重
値はロードセル３により検出され、ロードセルアンプ４
及びＡ／Ｄコンバータ５を介して中央演算処理部６に入
力される。画像読取装置２からは、試験片Ｓの測定部が
フレームメモリ１０を介して順次（例えば３０msec.
毎）中央演算処理部６に入力される。
【００１７】この中央演算処理部６では、入力された試
験片Ｓの画像データを上述した設定値により１フレーム
毎に２値化し、先ず標線の数が演算される。標線が２本
であると判定されると、標線Ｑ，Ｑ´の一方側境界線の
位置を平均化処理して標線Ｑ，Ｑ´の位置を算出する。
図４に示すように、引張荷重が加わった試験片Ｓの標線
Ｑ，Ｑ´が傾斜した状態になっても、この平均化処理に
より標線Ｑ，Ｑ´の位置Ｘ，Ｘ´を正確に得ることが出
来る。
験片Ｓの画像データを上述した設定値により１フレーム
毎に２値化し、先ず標線の数が演算される。標線が２本
であると判定されると、標線Ｑ，Ｑ´の一方側境界線の
位置を平均化処理して標線Ｑ，Ｑ´の位置を算出する。
図４に示すように、引張荷重が加わった試験片Ｓの標線
Ｑ，Ｑ´が傾斜した状態になっても、この平均化処理に
より標線Ｑ，Ｑ´の位置Ｘ，Ｘ´を正確に得ることが出
来る。
【００１８】引張荷重が加わった試験片Ｓの標線Ｑ，Ｑ
´が分離して、標線の数が３本以上であると判定される
と、設定最小値以上の間隔を有する上側または下側の一
方側の標線を正規の標線Ｑ，Ｑ´として判定し、上述同
様にして標線Ｑ，Ｑ´の位置Ｘ，Ｘ´を求める。図５
は、上の標線Ｑが標線Ｑ1,Ｑ2 の２本に分離した例を示
し、設定最小値以上の距離ａを有する２本の標線Ｑ1,Ｑ
´が正規の標線として選択される。これにより、試験片
Ｓの標線Ｑ，Ｑ´が分離した場合であっても、分離した
標線による悪影響を受けることがない。
´が分離して、標線の数が３本以上であると判定される
と、設定最小値以上の間隔を有する上側または下側の一
方側の標線を正規の標線Ｑ，Ｑ´として判定し、上述同
様にして標線Ｑ，Ｑ´の位置Ｘ，Ｘ´を求める。図５
は、上の標線Ｑが標線Ｑ1,Ｑ2 の２本に分離した例を示
し、設定最小値以上の距離ａを有する２本の標線Ｑ1,Ｑ
´が正規の標線として選択される。これにより、試験片
Ｓの標線Ｑ，Ｑ´が分離した場合であっても、分離した
標線による悪影響を受けることがない。
【００１９】標線Ｑ，Ｑ´の位置Ｘ，Ｘ´が算出される
と、メモリ部にフレームラインの絶対値として記憶させ
た標準プレートＰの目盛りデータに対比させて、標線
Ｑ，Ｑ´間の距離が演算され、更に標線Ｑ，Ｑ´間の伸
びが演算される（ステップ）。このように、画像読取
装置２で予め標準プレートＰの目盛りｍを読み取り、該
読み取られた目盛りｍデータを基準にして、試験片Ｓの
標線Ｑ，Ｑ´間の伸びを求めるため、画像読取装置２の
レンズにより試験片Ｓの両端側に収差が発生しても、標
準プレートＰの目盛りデータも収差を有して取り込まれ
ているので、レンズの収差に影響されない標線Ｑ，Ｑ´
間の伸びを得ることが出来る。
と、メモリ部にフレームラインの絶対値として記憶させ
た標準プレートＰの目盛りデータに対比させて、標線
Ｑ，Ｑ´間の距離が演算され、更に標線Ｑ，Ｑ´間の伸
びが演算される（ステップ）。このように、画像読取
装置２で予め標準プレートＰの目盛りｍを読み取り、該
読み取られた目盛りｍデータを基準にして、試験片Ｓの
標線Ｑ，Ｑ´間の伸びを求めるため、画像読取装置２の
レンズにより試験片Ｓの両端側に収差が発生しても、標
準プレートＰの目盛りデータも収差を有して取り込まれ
ているので、レンズの収差に影響されない標線Ｑ，Ｑ´
間の伸びを得ることが出来る。
【００２０】続いて、入力データ、ロードセル３からの
引張荷重データ及び算出された試験片Ｓの伸びデータに
基づいて、モジュラス計算、応力、伸び率等の引張特性
を演算処理し（ステップ）、その結果をＣＲＴ１２、
プリンタ１４、ＸーＹペンレコーダ１６等の表示部や記
録部に出力するのである（ステップ）。このように本
発明は、画像読取装置２で標準プレートＰの目盛りｍを
読み取り、この読み取られた目盛りｍをフレームメモリ
ー１０を介して中央演算処理部６に取り込んだ後、画像
読取装置２で読み取られた試験片Ｓの２本の標線Ｑ，Ｑ
´を有する測定部をフレームメモリー１０を介して中央
演算処理部６に取り込み、この取り込まれた測定部の標
線Ｑ，Ｑ´間の距離を中央演算処理部６で標準プレート
Ｐの目盛りデータに対比させて演算して試験片Ｓの伸び
を求めるため、画像読取装置２のレンズにより試験片Ｓ
の両端側に収差が発生しても、標準プレートＰの目盛り
データにより収差補正がなされた精度が高い標線Ｑ，Ｑ
´間の伸びを算出することが可能である。
引張荷重データ及び算出された試験片Ｓの伸びデータに
基づいて、モジュラス計算、応力、伸び率等の引張特性
を演算処理し（ステップ）、その結果をＣＲＴ１２、
プリンタ１４、ＸーＹペンレコーダ１６等の表示部や記
録部に出力するのである（ステップ）。このように本
発明は、画像読取装置２で標準プレートＰの目盛りｍを
読み取り、この読み取られた目盛りｍをフレームメモリ
ー１０を介して中央演算処理部６に取り込んだ後、画像
読取装置２で読み取られた試験片Ｓの２本の標線Ｑ，Ｑ
´を有する測定部をフレームメモリー１０を介して中央
演算処理部６に取り込み、この取り込まれた測定部の標
線Ｑ，Ｑ´間の距離を中央演算処理部６で標準プレート
Ｐの目盛りデータに対比させて演算して試験片Ｓの伸び
を求めるため、画像読取装置２のレンズにより試験片Ｓ
の両端側に収差が発生しても、標準プレートＰの目盛り
データにより収差補正がなされた精度が高い標線Ｑ，Ｑ
´間の伸びを算出することが可能である。
【００２１】また、標線Ｑ，Ｑ´の一方側の境界線を平
均化処理し、また標線Ｑ，Ｑ´間距離最小値を設定する
ことにより、ノイズや試験片Ｓの標線不良等の影響によ
る測定不能を有効に防止することが出来る。また、画像
読取装置２、フレームメモリー１０の解像度を上げた
り、更に引張荷重が加わった試験片Ｓの標線Ｑ，Ｑ´が
かすれた際に該かすれを防止するかすれ防止処理を設け
ることにより、より測定精度を向上することが可能であ
る。
均化処理し、また標線Ｑ，Ｑ´間距離最小値を設定する
ことにより、ノイズや試験片Ｓの標線不良等の影響によ
る測定不能を有効に防止することが出来る。また、画像
読取装置２、フレームメモリー１０の解像度を上げた
り、更に引張荷重が加わった試験片Ｓの標線Ｑ，Ｑ´が
かすれた際に該かすれを防止するかすれ防止処理を設け
ることにより、より測定精度を向上することが可能であ
る。
【００２２】
【発明の効果】上述したように本発明は、予め画像読取
装置からフレームメモリを介して取り込まれた標準プレ
ートの目盛りを基準にして、試験片の標線間の伸びを求
めるため、画像読取装置のレンズにより生じる試験片の
収差を有効に補正して、測定精度の向上を図ることが出
来る。
装置からフレームメモリを介して取り込まれた標準プレ
ートの目盛りを基準にして、試験片の標線間の伸びを求
めるため、画像読取装置のレンズにより生じる試験片の
収差を有効に補正して、測定精度の向上を図ることが出
来る。
【００２３】また、標線の一方側の境界線を平均化処理
することにより、引張荷重が加わった試験片の標線の直
線度や平行度が失われた場合であっても、測定される標
線の位置を正確に得ることが可能であり、また、標線間
距離最小値を設定することにより、引張荷重が加わった
試験片の標線が分離しても２本の標線を的確に得ること
が出来、ノイズや試験片の標線不良等の影響による測定
不能を有効に防止することが出来る。
することにより、引張荷重が加わった試験片の標線の直
線度や平行度が失われた場合であっても、測定される標
線の位置を正確に得ることが可能であり、また、標線間
距離最小値を設定することにより、引張荷重が加わった
試験片の標線が分離しても２本の標線を的確に得ること
が出来、ノイズや試験片の標線不良等の影響による測定
不能を有効に防止することが出来る。
【図１】本発明に用いられる引張試験装置の一例を示す
ブロック説明図である。
ブロック説明図である。
【図２】図１の引張試験装置による引張試験の方法を説
明するフローである。
明するフローである。
【図３】図１の画像読取装置による標準プレートの読み
取りを説明する説明図である。
取りを説明する説明図である。
【図４】標線の平均化処理を説明する説明図である。
【図５】標線の分離を説明する説明図である。
１ａ 上部チャック １ｂ 下部チャッ
ク ２ 画像読取装置 ３ ロードセル ６ 中央演算処理部 １０ フレームメ
モリ Ｐ 標準プレート Ｑ，Ｑ´ 標線 Ｓ 試験片
ク ２ 画像読取装置 ３ ロードセル ６ 中央演算処理部 １０ フレームメ
モリ Ｐ 標準プレート Ｑ，Ｑ´ 標線 Ｓ 試験片
Claims (3)
- 【請求項１】 画像読取装置で標準プレートの目盛りを
読み取り、この読み取られた目盛りをフレームメモリー
を介して中央演算処理部に取り込みカメラレンズの収差
補正を行った後、前記画像読取装置で読み取られた試験
片の２本の標線を有する測定部を前記フレームメモリー
を介して中央演算処理部に取り込み、この取り込まれた
測定部の標線間の距離を標準プレートの目盛りで収差補
正を行い演算して、前記試験片の伸びを求める引張試験
における伸び測定方法。 - 【請求項２】 前記標線の一方側の境界線を平均化処理
して前記中央演算処理部で試験片の標線間の距離を演算
する請求項１に記載の引張試験における伸び測定方法。 - 【請求項３】 設定された標線間距離最小値以上の値に
おいて前記中央演算処理部で試験片の標線間の距離を演
算する請求項２に記載の引張試験における伸び測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02909593A JP3299800B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 引張試験における伸び測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02909593A JP3299800B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 引張試験における伸び測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06241967A true JPH06241967A (ja) | 1994-09-02 |
| JP3299800B2 JP3299800B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=12266802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02909593A Expired - Lifetime JP3299800B2 (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | 引張試験における伸び測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3299800B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006118964A (ja) * | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Nidec-Shimpo Corp | 荷重試験機 |
-
1993
- 1993-02-18 JP JP02909593A patent/JP3299800B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006118964A (ja) * | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Nidec-Shimpo Corp | 荷重試験機 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3299800B2 (ja) | 2002-07-08 |
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