JPH06236165A - Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve - Google Patents

Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve

Info

Publication number
JPH06236165A
JPH06236165A JP19777391A JP19777391A JPH06236165A JP H06236165 A JPH06236165 A JP H06236165A JP 19777391 A JP19777391 A JP 19777391A JP 19777391 A JP19777391 A JP 19777391A JP H06236165 A JPH06236165 A JP H06236165A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
light valve
correction
crystal light
transmittance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19777391A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazunori Hashimoto
一則 橋本
Hideyuki Hayashi
秀行 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Home Electronics Ltd
NEC Corp
Original Assignee
NEC Home Electronics Ltd
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Home Electronics Ltd, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Home Electronics Ltd
Priority to JP19777391A priority Critical patent/JPH06236165A/en
Publication of JPH06236165A publication Critical patent/JPH06236165A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a system capable of efficiently generating the gradation correcting information according to the applied voltage transmissivity characteristic of a liquid crystal light valve at a high speed. CONSTITUTION:By a data processor 1, the generation of a test signal is indicated to an optional waveform generator 2 in the state that a light source 4 lights the liquid crystal valve 3. Thus, the test signal is generated by the optional waveform generator 2 to be imparted to the light valve 3, and the transmissivity is revised. At this time, the transmissivity is measured by a photometry device 7. By the data processor l, the applied voltage - transmissivity characteristic of the liquid crystal light valve 3 is caught from the indicated test signal and a transmissivity signal, and the gradation correcting information is generated.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶ライトバルブの階
調補正情報(例えば印加電圧−透過率補正情報)を作成
するシステムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a system for creating gradation correction information (for example, applied voltage-transmittance correction information) of a liquid crystal light valve.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置においては、映像信号と光
の透過率(透光率)とを線形な関係とすることにより、
映像信号のリニアな階調性が保たれ、映像信号の表示画
質を適切なものにすることができる。しかし、アクティ
ブマトリクス型の液晶パネルにおける液晶ライトバルブ
は、印加電圧と透過率とが線形な関係にはない。そこ
で、液晶ライトバルブの印加電圧−透過率特性に応じて
映像信号を予め補正し、補正前の映像信号と透過率とが
線形な関係になるようにすることを要する。なお、以下
では、このような補正を、印加電圧−透過率補正と呼ぶ
こととする。
2. Description of the Related Art In a liquid crystal display device, by making a video signal and a light transmittance (light transmittance) have a linear relationship,
The linear gradation of the video signal is maintained, and the display quality of the video signal can be made appropriate. However, in the liquid crystal light valve in the active matrix type liquid crystal panel, the applied voltage and the transmittance are not in a linear relationship. Therefore, it is necessary to correct the video signal in advance according to the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve so that the video signal before correction and the transmittance have a linear relationship. Hereinafter, such correction will be referred to as applied voltage-transmittance correction.

【0003】また、撮像系においては、表示系で、発光
輝度が入力電圧のγ乗に比例する(すなわち発光輝度と
入力電圧とは非線形な)ブラウン管が適用されることを
前提として、映像信号に対して1/γ乗の補正(いわゆ
るγ補正)を施している。しかしながら、γ補正はブラ
ウン管に対するものであるので、液晶表示装置において
はγ補正は不要である。そこで、液晶表示装置において
は、撮像系で行われたγ補正に対する逆補正(以下、逆
γ補正と呼ぶ)を映像信号に対して行なうようにしてい
る。
Further, in the image pickup system, it is assumed that a cathode ray tube whose light emission luminance is proportional to the γth power of the input voltage (that is, the light emission luminance and the input voltage are non-linear) is applied to the video signal in the display system. On the other hand, 1 / γ power correction (so-called γ correction) is performed. However, since the γ correction is for the cathode ray tube, the γ correction is unnecessary in the liquid crystal display device. Therefore, in the liquid crystal display device, reverse correction (hereinafter, referred to as reverse γ correction) to γ correction performed in the image pickup system is performed on the video signal.

【0004】従来、印加電圧−透過率補正回路として、
アナログ回路構成の関数発生回路を用いていた。また、
逆γ補正回路としても、アナログ回路構成の関数発生回
路を用いていた。なお、実際上、逆γ補正回路の後段に
印加電圧−透過率補正回路を設け、逆γ補正はγ補正だ
けに対するものとし、印加電圧−透過率補正は印加電圧
−透過率特性だけに対するものとするようにしている。
Conventionally, as an applied voltage-transmittance correction circuit,
A function generating circuit with an analog circuit configuration was used. Also,
A function generating circuit having an analog circuit configuration was also used as the inverse γ correction circuit. In practice, an applied voltage-transmittance correction circuit is provided after the inverse γ correction circuit, the inverse γ correction is applied only to the γ correction, and the applied voltage-transmittance correction is applied only to the applied voltage-transmittance characteristic. I am trying to do it.

【0005】しかしながら、液晶ライトバルブの印加電
圧−透過率特性は、1個の関数では表すことが難しい曲
線を有するものであって、近似したとしても3以上の曲
線及び直線の組み合わせを用いて表されるものである。
そのため、印加電圧−透過率補正を行なう補正回路が複
雑になり、また、補正曲線も印加電圧−透過率特性に対
して適切なものを得ることが難しい。さらに、理論上求
められる補正曲線は急峻な形状を有するものであり、こ
のような急峻な形状部分では、当然に入力電圧の僅かな
違いに対して出力電圧が大きく変化し、上述のような補
正曲線として適切なものが得難いという問題がある。従
って、従来のアナログ回路を利用した補正方法によれ
ば、印加電圧−透過率補正が不十分であって表示画質を
低下させていた。
However, the applied voltage-transmittance characteristic of a liquid crystal light valve has a curve that is difficult to represent with one function, and even if it is approximated, it is expressed using a combination of three or more curves and straight lines. It is what is done.
Therefore, the correction circuit for performing the applied voltage-transmittance correction becomes complicated, and it is difficult to obtain an appropriate correction curve for the applied voltage-transmittance characteristic. Further, the correction curve theoretically obtained has a steep shape, and in such a steep shape portion, the output voltage naturally changes greatly with a slight difference in the input voltage, and the correction curve There is a problem that it is difficult to obtain a suitable curve. Therefore, according to the conventional correction method using the analog circuit, the applied voltage-transmittance correction is insufficient and the display image quality is deteriorated.

【0006】他方、逆γ補正曲線は、1個の関数で表す
ことができるものである。しかし、1個の関数で表すこ
とができても、その形状が非線形形状であるため、アナ
ログ回路構成の関数発生回路で適切に実現することは難
しく、上述と同様に、逆γ補正が十分に実行し切れない
ことも生じていた。
On the other hand, the inverse γ correction curve can be expressed by one function. However, even if it can be represented by a single function, its shape is a non-linear shape, and therefore it is difficult to properly realize it with a function generating circuit having an analog circuit configuration. There were some things that couldn't be done.

【0007】このように、映像信号の階調に対する両補
正共に不十分であり、両補正が行われた映像信号はそれ
ぞれの補正による不十分度合いを合成した以上に、不適
切なものとなり、表示画質の大きな低下を従来では避け
ることができなかった。
As described above, both the corrections for the gradation of the video signal are insufficient, and the video signals subjected to the both corrections become improper than the combination of the insufficient degrees by the respective corrections. In the past, a large deterioration in image quality could not be avoided.

【0008】そこで、同一出願人によって、印加電圧−
透過率補正を変換テーブルを用いて行なうことや、逆γ
補正を変換テーブルを用いて行なうことや、印加電圧−
透過率補正及び逆γ補正を合成した補正を1個の変換テ
ーブルを用いて行なうこと等が既に提案されている(特
願平2-408806号明細書及び図面)。
Therefore, the same applicant applied voltage-
Use the conversion table to perform transmittance correction,
Perform the correction using the conversion table, and
It has already been proposed that a single conversion table be used to perform a combined correction of transmittance correction and inverse γ correction (Japanese Patent Application No. 2-408806 and drawings).

【0009】ここで、逆γ補正曲線は、液晶ライトバル
ブの種類に関係なく一義的に定まるものである。これに
対して、印加電圧−透過率補正曲線や、印加電圧−透過
率補正曲線及び逆γ補正曲線の合成曲線は、液晶ライト
バルブの種類によって異なるものであり、また、同一種
類であっても液晶ライトバルブの各製品によっても微妙
に異なるものである。
The inverse γ correction curve is uniquely determined regardless of the type of liquid crystal light valve. On the other hand, the applied voltage-transmittance correction curve and the combined curve of the applied voltage-transmittance correction curve and the inverse γ correction curve differ depending on the type of liquid crystal light valve, and even if they are of the same type. It also varies slightly depending on each liquid crystal light valve product.

【0010】そのため、印加電圧−透過率補正を変換テ
ーブルを用いて行なう場合や、印加電圧−透過率補正及
び逆γ補正を合成した補正を1個の変換テーブルを用い
て行なう場合には、製品種類毎に、又は、製品毎(若し
くはロット毎)に、液晶ライトバルブの印加電圧−透過
率特性を測定して補正曲線を求め、補正データを演算し
て変換テーブルを作成していた。
Therefore, when the applied voltage-transmittance correction is performed by using a conversion table, or when the combined correction of the applied voltage-transmittance correction and the inverse γ correction is performed by using one conversion table, the product is For each type or each product (or each lot), the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve is measured to obtain a correction curve, and the correction data is calculated to create a conversion table.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、印加電
圧−透過率特性を測定する動作、得られた印加電圧−透
過率特性から補正曲線に従う補正データを作成する動作
を行ない、一旦、補正データを得たとしてもその確認の
ために上述した動作を繰返す。そのため、最終的な補正
データを得るまでには繁雑な動作が必要であり、時間も
かかるものであった。ここで、得られた印加電圧−透過
率特性から補正データを得る動作にソフトウェア処理を
利用するようにしても、多くの手間及び時間がかかるも
のであった。そのため、製品毎に補正データを作成する
ようなことは実際上無理があった。
However, the operation of measuring the applied voltage-transmittance characteristic and the operation of creating the correction data according to the correction curve from the obtained applied voltage-transmittance characteristic are performed to once obtain the correction data. Even if so, the above-mentioned operation is repeated for the confirmation. Therefore, complicated operations are required and time is required to obtain final correction data. Even if the software processing is used for the operation of obtaining the correction data from the obtained applied voltage-transmittance characteristic, it takes much time and effort. Therefore, it is practically impossible to create correction data for each product.

【0012】本発明は、以上の点を考慮してなされたも
のであり、液晶ライトバルブの印加電圧−透過率特性に
応じた階調補正情報を効率良く短時間で作成できる液晶
ライトバルブの階調補正情報作成システムを提供しよう
とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and is a floor of a liquid crystal light valve capable of efficiently creating gradation correction information according to the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve in a short time. It is intended to provide a tonal correction information creation system.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、本発明においては、液晶ライトバルブを照明する光
源と、液晶ライトバルブに対する試験信号を発生する試
験信号発生手段と、液晶ライトバルブを透過した光線を
受光して透過率信号を出力する測光手段と、試験信号発
生手段に試験信号の発生を指示すると共にそのとき測光
手段から与えられる透過率信号に基づいて液晶ライトバ
ルブの印加電圧−透過率特性をとらえて階調補正情報を
作成するデータ処理手段とで、液晶ライトバルブの階調
特性を線形関係とする階調補正情報を作成する液晶ライ
トバルブの階調補正情報作成システムを構成した。
In order to solve such a problem, in the present invention, a light source for illuminating a liquid crystal light valve, a test signal generating means for generating a test signal for the liquid crystal light valve, and a liquid crystal light valve are transmitted. The photometric means for receiving the generated light beam and outputting the transmittance signal and the test signal generating means for instructing the test signal generation means to apply the voltage to the liquid crystal light valve based on the transmittance signal given from the photometric means-transmission A data processing means for capturing the gradation characteristic by capturing the rate characteristic and a gradation correction information generating system for the liquid crystal light valve for generating the gradation correction information having a linear relationship with the gradation characteristic of the liquid crystal light valve are configured. .

【0014】ここで、上記データ処理手段が、一旦得ら
れた階調補正情報を利用した試験信号を試験信号発生手
段から発生させ、測光手段からの透過率信号に基づい
て、階調補正情報の妥当性を判断し、妥当でない場合に
は階調補正情報を修正して再度試験信号を発生させての
妥当性判断を繰返し、液晶ライトバルブの階調特性を線
形関係とする階調補正情報を最終的に得ることが好まし
い。
Here, the data processing means causes the test signal generating means to generate a test signal utilizing the gradation correction information once obtained, and the gradation correction information of the gradation correction information is generated based on the transmittance signal from the photometric means. If the validity is judged, and if it is not correct, the gradation correction information is corrected, the test signal is generated again, and the validity judgment is repeated to obtain the gradation correction information having the linear relationship of the gradation characteristics of the liquid crystal light valve. It is preferable to obtain it finally.

【0015】なお、階調補正情報の格納用デジタルメモ
リを備え、データ処理手段がこのデジタルメモリに対し
て作成した階調補正情報を格納させることが好ましい。
It is preferable that a digital memory for storing gradation correction information is provided and the data processing means stores the gradation correction information created in this digital memory.

【0016】また、試験信号発生手段が、データ処理手
段からの指令信号に応じた任意波形の信号を発生する任
意波形発生部と、階調補正情報の格納用デジタルメモリ
と、上記任意波形発生部からの信号をデジタルメモリに
格納されている階調補正情報によって補正した後液晶ラ
イトバルブを駆動する液晶駆動部とから構成されている
ことが好ましい。この場合には、作成した階調補正情報
を取り立てて格納するデジタルメモリを設けることは当
然に不要である。
Further, the test signal generating means generates an arbitrary waveform signal according to the command signal from the data processing means, a digital memory for storing gradation correction information, and the arbitrary waveform generating means. And a liquid crystal drive unit for driving the liquid crystal light valve after correcting the signal from the gradation correction information stored in the digital memory. In this case, it is naturally unnecessary to provide a digital memory for collecting and storing the created gradation correction information.

【0017】[0017]

【作用】本発明の液晶ライトバルブの階調補正情報作成
システムにおいて、光源が液晶ライトバルブを照明して
いる状態で、データ処理手段は、試験信号発生手段に試
験信号の発生を指示し、これにより試験信号発生手段が
試験信号を発生して液晶ライトバルブに与え、透過率を
変更させる。このとき、測光手段は透過率を計測し、透
過率信号をデータ処理手段に与える。データ処理手段
は、指示した試験信号と透過率信号とから液晶ライトバ
ルブの印加電圧−透過率特性をとらえて階調補正情報を
作成する。このように効率良く短時間で階調補正情報を
作成できるシステムを実現できる。
In the gradation correction information creating system for the liquid crystal light valve of the present invention, the data processing means instructs the test signal generating means to generate the test signal while the light source illuminates the liquid crystal light valve. Then, the test signal generating means generates a test signal and applies it to the liquid crystal light valve to change the transmittance. At this time, the photometric means measures the transmittance and gives the transmittance signal to the data processing means. The data processing means captures the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve from the instructed test signal and the transmittance signal and creates gradation correction information. In this way, it is possible to realize a system that can efficiently create gradation correction information in a short time.

【0018】ここで、作成された階調補正情報が妥当で
あるか否かを確認することが望ましい。そこで、データ
処理手段が、一旦得られた階調補正情報を利用した試験
信号を試験信号発生手段から発生させ、測光手段からの
透過率信号に基づいて、階調補正情報の妥当性を判断
し、妥当でない場合には階調補正情報を修正して妥当性
判断を繰返すことが好ましい。
Here, it is desirable to confirm whether or not the created gradation correction information is valid. Therefore, the data processing means causes the test signal generating means to generate a test signal using the gradation correction information once obtained, and judges the validity of the gradation correction information based on the transmittance signal from the photometric means. If it is not appropriate, it is preferable to correct the gradation correction information and repeat the validity judgment.

【0019】なお、当該システムが作成した階調補正情
報をそれようのデジタルメモリに格納する動作をも行な
うことが望ましい。
It is desirable to perform the operation of storing the gradation correction information created by the system in such a digital memory.

【0020】また、試験信号発生手段を、データ処理手
段からの指令信号に応じた任意波形の信号を発生する任
意波形発生部と、階調補正情報の格納用デジタルメモリ
と、上記任意波形発生部からの信号をデジタルメモリに
格納されている階調補正情報によって補正した後液晶ラ
イトバルブを駆動する液晶駆動部とで構成すると、実際
の液晶表示装置に即した状態で印加電圧−透過率特性の
測定を行なうことができる。
The test signal generating means includes an arbitrary waveform generating section for generating an arbitrary waveform signal according to a command signal from the data processing means, a digital memory for storing gradation correction information, and the arbitrary waveform generating section. If it is configured with a liquid crystal drive unit that drives the liquid crystal light valve after correcting the signal from the gradation correction information stored in the digital memory, the applied voltage-transmittance characteristic The measurement can be performed.

【0021】[0021]

【実施例】【Example】

(1)第1実施例 以下、本発明の第1実施例を図面を参照しながら詳述す
る。この第1実施例は、液晶ライトバルブに対して液晶
駆動回路を組み込んでいない状態で印加電圧−透過率特
性を測定して補正データを作成するシステムに関するも
のである。
(1) First Embodiment Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The first embodiment relates to a system for measuring applied voltage-transmittance characteristics and creating correction data in a state where a liquid crystal drive circuit is not incorporated in a liquid crystal light valve.

【0022】(1-1) 第1実施例の構成 図1は、この第1実施例システムの全体構成を示すブロ
ック図である。図1において、データ処理装置1は後述
する図2に示す処理に従って当該システムの全体を制御
するものであり、最終的には、変換テーブルを構成する
補正用デジタルメモリ(ROM)に補正データを書き込
むようにさせるものである。データ処理装置1は、印加
電圧−透過率特性の測定時や一旦作成した補正データの
直線性を確認する際には、任意波形発生装置2に任意波
形電圧信号(試験信号)を出力させるように制御する。
任意波形発生装置2は、データ処理装置1による指令電
圧を中心とした任意波形電圧信号(映像信号に対応す
る)を発生し、これを液晶駆動信号として液晶ライトバ
ルブ3に与える。
(1-1) Configuration of the First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the first embodiment system. In FIG. 1, a data processing device 1 controls the entire system according to a process shown in FIG. 2 described later, and finally writes correction data in a correction digital memory (ROM) forming a conversion table. It is something that makes you The data processor 1 causes the arbitrary waveform generator 2 to output an arbitrary waveform voltage signal (test signal) when measuring the applied voltage-transmittance characteristic and confirming the linearity of the correction data once created. Control.
The arbitrary waveform generator 2 generates an arbitrary waveform voltage signal (corresponding to a video signal) centered on the command voltage from the data processing device 1 and supplies this to the liquid crystal light valve 3 as a liquid crystal drive signal.

【0023】この実施例における液晶ライトバルブ3
は、X方向及びY方向がショートされたものを用いる。
すなわち、全てのセルが液晶駆動信号に応じて同時にス
イッチングされるものを用いる。
Liquid crystal light valve 3 in this embodiment
Is short-circuited in the X and Y directions.
That is, a cell in which all cells are simultaneously switched according to a liquid crystal drive signal is used.

【0024】この液晶ライトバルブ3を挾んで一方にバ
ックライト光源4が設けられ、他方にこの液晶ライトバ
ルブ3を通過した光線を捕捉する光線捕捉用のプローブ
5が設けられている。プローブ5で捕捉した光線は、例
えば光ファイバ6を介して測光装置7に与えられる。な
お、液晶ライトバルブ3は、どの位置でも印加電圧−透
過率特性がほぼ同一であり、プローブ5の設置位置は液
晶ライトバルブ3の透過面に面していればいかなる位置
でも良い。
A backlight light source 4 is provided on one side of the liquid crystal light valve 3 and a light beam capturing probe 5 for capturing a light beam passing through the liquid crystal light valve 3 is provided on the other side. The light beam captured by the probe 5 is given to the photometric device 7 via the optical fiber 6, for example. The liquid crystal light valve 3 has almost the same applied voltage-transmittance characteristic at any position, and the probe 5 may be installed at any position as long as it faces the transparent surface of the liquid crystal light valve 3.

【0025】ここで、3原色R、G、Bのモザイク配列
でなるカラーフィルタを有する液晶ライトバルブ3を対
象とした場合には、光源4として白色光源を用いると共
に、測光装置7として分光計を用いる。この場合には、
分光計からのスペクトルデータから赤、青、緑の3個の
波長域の輝度又は放射束(放射束と輝度との間には、放
射束×視感度特性=輝度という関係がある)のデータ
(これは透過率を表したものである)をデータ処理装置
1が取り込む。
When a liquid crystal light valve 3 having a color filter having a mosaic arrangement of three primary colors R, G, and B is used, a white light source is used as the light source 4 and a spectrometer is used as the photometric device 7. To use. In this case,
From the spectrum data from the spectrometer, the data of the brightness or radiant flux in the three wavelength bands of red, blue and green (the relationship between radiant flux and brightness is radiant flux x luminosity characteristic = brightness) ( This represents the transmittance) is taken in by the data processing device 1.

【0026】また、液晶ライトバルブ3に赤、青、緑の
いずれかの単色フィルタを掛けかつバックライト光源4
として白色光源を用い、又は、液晶ライトバルブ3にフ
ィルタをかけることなくバックライト光源4として赤、
青、緑のいずれかの単色光源を用いて、各原色信号R、
G、B用の補正データを作成しようとする場合には、測
光装置7として輝度計を用いる。この場合には、いずれ
かの原色信号の輝度データ(これも透過率を表したもの
である)がデータ処理装置1に取り込まれる。
The liquid crystal light valve 3 is provided with a red, blue or green single color filter and the backlight light source 4 is used.
As the backlight light source 4 without filtering the liquid crystal light valve 3,
Each primary color signal R, using either a blue or green monochromatic light source,
When creating the correction data for G and B, a luminance meter is used as the photometric device 7. In this case, the luminance data of one of the primary color signals (also representing the transmittance) is loaded into the data processing device 1.

【0027】データ処理装置1には、補正用デジタルメ
モリ(例えばROM)8に対するデータ書込装置9が接
続されており、データ処理装置1が図2に示す処理を実
行して最終的に得た補正データをこのデータ書込装置9
に与えて補正用デジタルメモリ8に書き込むように制御
する。
A data writing device 9 for a correction digital memory (for example, a ROM) 8 is connected to the data processing device 1, and the data processing device 1 executes the process shown in FIG. The correction data is written in this data writing device 9
Then, the control is performed so as to write to the correction digital memory 8.

【0028】(1-2) 第1実施例における処理 次に、データ処理装置1が実行するある原色信号に対す
る処理を図2を用いて説明する。ここで、図2(A)は
メインルーチンを示し、図2(B)は印加電圧−透過率
特性の測定の具体的処理を示すサブルーチンを示し、図
2(C)は補正処理後の特性の直線性を確認する具体的
なサブルーチンを示したものである。
(1-2) Processing in the First Embodiment Next, processing for a certain primary color signal executed by the data processing apparatus 1 will be described with reference to FIG. Here, FIG. 2A shows a main routine, FIG. 2B shows a subroutine showing a specific process of measuring the applied voltage-transmittance characteristic, and FIG. 2C shows a characteristic after the correction process. It shows a specific subroutine for confirming linearity.

【0029】データ処理装置1は、まず、当該システム
のイニシャライズを行なった後、1回目の印加電圧−透
過率特性の測定処理を行なう(ステップSP1、SP
2)。その後、かかる測定結果に基づいて、補正する入
力電圧の範囲を設定する(ステップSP3)。例えば、
液晶ライトバルブ3の透過率が可変する入力電圧の最小
値から最大値までの範囲を設定する。
The data processing apparatus 1 first initializes the system and then performs the first applied voltage-transmittance characteristic measurement processing (steps SP1 and SP).
2). Then, the range of the input voltage to be corrected is set based on the measurement result (step SP3). For example,
The range from the minimum value to the maximum value of the input voltage at which the transmittance of the liquid crystal light valve 3 is variable is set.

【0030】続いて、データ処理装置1は、設定した範
囲の入力電圧を印加電圧とした2回目の透過率の測定を
行なう(ステップSP4)。ここで、1回目と2回目と
では、上述したように印加電圧の可変範囲が異なると共
に、さらに、2回目の測定が主たる測定であるので電圧
の可変ステップも細かくなっている。
Subsequently, the data processing device 1 measures the second transmittance using the input voltage in the set range as the applied voltage (step SP4). Here, the variable range of the applied voltage differs between the first time and the second time as described above, and since the second measurement is the main measurement, the voltage variable step is also fine.

【0031】このようにして印加電圧−透過率特性が得
られると、後述するようにして補正データを作成する
(ステップSP5)。ここで、印加電圧、透過率及び補
正データを全て正規化して扱う。例えば、印加電圧の最
小値を0、最大値を1にする正規化を行なうと共に、そ
れに応じた透過率も最小値を0、最大値を1に正規化
し、さらに、入力電圧を印加電圧に補正する補正データ
においても補正前の入力電圧及び補正後の印加電圧を最
小値を0、最大値を1に正規化する。この実施例の場
合、このステップの処理で得られた補正データは、デー
タ処理装置1内のバッファメモリに格納される。
When the applied voltage-transmittance characteristic is obtained in this way, correction data is created as described later (step SP5). Here, the applied voltage, the transmittance, and the correction data are all normalized and handled. For example, the minimum value of the applied voltage is normalized to 0 and the maximum value is set to 1, and the corresponding transmittance is also normalized to the minimum value of 0 and the maximum value of 1, and the input voltage is corrected to the applied voltage. Also in the correction data, the input voltage before correction and the applied voltage after correction are normalized so that the minimum value is 0 and the maximum value is 1. In the case of this embodiment, the correction data obtained by the processing of this step is stored in the buffer memory in the data processing device 1.

【0032】補正データを得ると、得られた補正データ
の見直しを実行する。すなわち、補正データを適用した
場合に、補正前の入力電圧(印加電圧ではない)と透過
率とが線形関係にあるか否かを確認する(ステップSP
6)。かかる処理によって補正データが妥当でない場合
には、この線形関係の確認処理内で補正データの修正を
行なう。
When the correction data is obtained, the obtained correction data is reviewed. That is, when the correction data is applied, it is confirmed whether the input voltage before correction (not the applied voltage) and the transmittance have a linear relationship (step SP).
6). When the correction data is not appropriate by such processing, the correction data is corrected in this linear relationship confirmation processing.

【0033】このようにして入力電圧(補正前の電圧)
と透過率との線形関係が得られると、補正用デジタルメ
モリ(例えばROM)8に対するデータ書込装置9に最
終的な補正データを与え、この最終的な補正データをこ
のデータ書込装置9によって補正用デジタルメモリ8に
書き込むようにさせる(ステップSP7)。
In this way, the input voltage (voltage before correction)
When the linear relationship between the transmittance and the transmittance is obtained, the final correction data is given to the data writing device 9 for the correction digital memory (for example, ROM) 8 and the final correction data is supplied by the data writing device 9. The correction digital memory 8 is written (step SP7).

【0034】次に、ステップSP2又はSP4における
印加電圧−透過率特性の測定処理を図2(B)を用いて
詳述する。
Next, the applied voltage-transmittance characteristic measurement process in step SP2 or SP4 will be described in detail with reference to FIG.

【0035】かかる処理ではまず、印加電圧として最小
値を設定する(ステップSP10)。これにより、任意
波形発生装置2からこれに応じた液晶駆動信号が出力さ
れて液晶ライトバルブ3の透過率制御動作がなされる。
ここで、1回目の測定処理(ステップSP2)は補正す
る入力電圧の範囲を得るためのものであるのでこの最小
値は十分に小さい値であり、2回目の測定処理(ステッ
プSP4)においては設定された範囲の最小値である。
In such processing, first, the minimum value is set as the applied voltage (step SP10). As a result, the liquid crystal drive signal corresponding thereto is output from the arbitrary waveform generator 2 and the transmittance control operation of the liquid crystal light valve 3 is performed.
Here, since the first measurement process (step SP2) is for obtaining the range of the input voltage to be corrected, this minimum value is a sufficiently small value and is set in the second measurement process (step SP4). It is the minimum value of the range.

【0036】次に、現在の対象電圧が測定範囲の最大値
でないことを確認して(ステップSP11)、そのとき
の測光装置7の出力データを取り込む(ステップSP1
2)。すなわち、現在の対象電圧に対する透過率を測定
する。なお、ここでも、1回目の測定処理は補正する入
力電圧の範囲を得るためのものであるのでこの最大値は
十分に大きい値であり、2回目の測定処理においては設
定された範囲の最大値である。
Next, it is confirmed that the current target voltage is not the maximum value of the measurement range (step SP11), and the output data of the photometric device 7 at that time is fetched (step SP1).
2). That is, the transmittance for the current target voltage is measured. In this case as well, since the first measurement process is for obtaining the range of the input voltage to be corrected, this maximum value is a sufficiently large value, and the second measurement process has the maximum value within the set range. Is.

【0037】このようにしてある電圧に対する透過率の
測定が終わると、測定対象電圧を今より測定分解能分だ
け大きくして上述したステップSP11に戻る(ステッ
プSP13)。
When the measurement of the transmittance with respect to a certain voltage is completed in this way, the voltage to be measured is increased by the amount corresponding to the measurement resolution and the process returns to step SP11 described above (step SP13).

【0038】ステップSP11〜SP13でなる処理ル
ープを繰返すことにより、最小値から最大値までの測定
分解能分ずつ異なる各電圧に対する透過率を測定するこ
とができ、最大値電圧に対する透過率を測定し終える
と、ステップSP11において肯定結果が得られ、メイ
ンルーチン(図2(A))に戻る。
By repeating the processing loop consisting of steps SP11 to SP13, it is possible to measure the transmittance for each voltage that differs by the measurement resolution from the minimum value to the maximum value, and complete the measurement of the transmittance for the maximum value voltage. Then, a positive result is obtained in step SP11, and the process returns to the main routine (FIG. 2 (A)).

【0039】次に、補正データを適用した場合に、補正
前の入力電圧(印加電圧ではない)と透過率とが線形関
係にあるか否かを確認するステップSP6の処理を、図
2(C)を用いて詳述する。
Next, when the correction data is applied, the processing of step SP6 for confirming whether or not the input voltage (not the applied voltage) before correction and the transmittance have a linear relationship is shown in FIG. ) For details.

【0040】かかる処理に入ると、データ処理装置1は
まず、補正しようとする入力電圧範囲の最小電圧をその
電圧に対応した補正データを用いて補正した補正後最小
電圧を印加電圧として設定する(ステップSP20)。
これにより、任意波形発生装置2からこれに応じた液晶
駆動信号が出力されて液晶ライトバルブ3の透過率制御
動作がなされる。
Upon entering such processing, the data processing apparatus 1 first sets the corrected minimum voltage as the applied voltage by correcting the minimum voltage of the input voltage range to be corrected using the correction data corresponding to the voltage ( Step SP20).
As a result, the liquid crystal drive signal corresponding thereto is output from the arbitrary waveform generator 2 and the transmittance control operation of the liquid crystal light valve 3 is performed.

【0041】次に、現在の対象入力電圧が最大値でない
ことを確認して(ステップSP21)、そのときの測光
装置7の出力データを取り込む(ステップSP22)。
すなわち、現在の補正後の対象電圧に対する透過率を測
定する。そして、この透過率が補正前の電圧値に対する
線形関係にあるか否かを、線形関係があった場合の透過
率との誤差が所定の規定値以内か否かで判断する(ステ
ップSP23)。
Next, it is confirmed that the current target input voltage is not the maximum value (step SP21), and the output data of the photometric device 7 at that time is fetched (step SP22).
That is, the transmittance for the current target voltage after correction is measured. Then, it is determined whether or not this transmittance has a linear relationship with the voltage value before correction, based on whether or not the error with the transmittance when there is a linear relationship is within a predetermined specified value (step SP23).

【0042】かかる判断で否定結果を得ると、そのとき
の誤差に応じて補正データを修正して任意波形発生装置
2に与える補正後の電圧も変更して上述したステップS
P22に戻る(ステップSP24)。他方、かかる判断
で肯定結果を得ると、現在対象となっている補正前の電
圧を所定電圧だけ大きくして上述したステップSP21
に戻る(ステップSP25)。
If a negative result is obtained in this determination, the correction data is corrected according to the error at that time, and the corrected voltage given to the arbitrary waveform generating device 2 is also changed, and the above step S is executed.
It returns to P22 (step SP24). On the other hand, if a positive result is obtained in this determination, the current uncorrected voltage before correction is increased by a predetermined voltage, and the above-described step SP21 is performed.
Return to step SP25.

【0043】このようにして各入力電圧をそれに対応す
る補正データを用いて補正した電圧による透過率と、入
力電圧とに線形関係があるか否かを確認することがで
き、否定結果を得た場合には線形関係を満足するように
補正データを修正することができ、入力電圧の最大値に
対する処理が終了したときにメインルーチンに戻る。
In this way, it is possible to confirm whether or not there is a linear relationship between the input voltage and the transmittance by the voltage obtained by correcting each input voltage using the corresponding correction data, and a negative result was obtained. In this case, the correction data can be modified so as to satisfy the linear relationship, and when the process for the maximum value of the input voltage is completed, the process returns to the main routine.

【0044】(1-3) 補正データの作成方法 次に、ステップSP5の処理による補正データの作成方
法を、図面をも参照しながら詳述する。
(1-3) Method for Creating Correction Data Next, a method for creating correction data by the processing in step SP5 will be described in detail with reference to the drawings.

【0045】図3は、液晶ライトバルブ3についての正
規化されている印加電圧−透過率特性曲線と、印加電圧
−透過率補正曲線との関係を示す説明図である。液晶ラ
イトバルブ3に対する印加電圧(横軸x)と、その印加
電圧における透過率(縦軸y)との間には、図3の曲線
C1に示すようにS字曲線上の関係がある。ここで、補
正前の入力電圧(通常の表示動作時における映像信号電
圧が該当する)と透過率とを図3の点線C2に示すよう
に線形な関係とするためには(ここでは逆γ補正を考慮
していない)、入力電圧を補正し、補正後の電圧(印加
電圧)に対して曲線C1に示す特性が適用されても元の
入力電圧と透過率との間には点線C2に示すように線形
な関係が生じるようにすることを要する。ここで、この
ような補正曲線C3は、正規化された座標系において
は、点線C2に対して曲線C1に線対称な曲線となる。
従って、補正曲線C3を求めるためには、上述したよう
にまず、印加電圧−透過率特性曲線C1を求め、その
後、この曲線C1の逆特性を求めれば良い。なお、印加
電圧−透過率補正曲線C3上の各点の入出力関係が求め
る補正データである。従って、測定の結果得られた印加
電圧−透過率特性曲線C1から印加電圧−透過率補正曲
線C3を得れば、結果として補正データが得られる。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the relationship between the normalized applied voltage-transmittance characteristic curve and the applied voltage-transmittance correction curve for the liquid crystal light valve 3. The voltage applied to the liquid crystal light valve 3 (horizontal axis x) and the transmittance at the applied voltage (vertical axis y) have an S-shaped curve relationship as shown by the curve C1 in FIG. Here, in order to make the input voltage before correction (corresponding to the video signal voltage during normal display operation) and the transmittance have a linear relationship as shown by the dotted line C2 in FIG. Even if the input voltage is corrected and the characteristic shown in the curve C1 is applied to the corrected voltage (applied voltage), a dotted line C2 is shown between the original input voltage and the transmittance. It is necessary to make such a linear relationship. Here, such a correction curve C3 is a line symmetrical to the curve C1 with respect to the dotted line C2 in the normalized coordinate system.
Therefore, in order to obtain the correction curve C3, as described above, first, the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 may be obtained, and then the inverse characteristic of the curve C1 may be obtained. The input / output relationship of each point on the applied voltage-transmittance correction curve C3 is correction data obtained. Therefore, if the applied voltage-transmittance correction curve C3 is obtained from the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 obtained as a result of the measurement, the correction data can be obtained as a result.

【0046】印加電圧−透過率特性曲線C1から印加電
圧−透過率補正曲線C3を得る方法として、グラフ上の
対称点を検出する方法と、関数近似による方法とがあ
る。
As a method of obtaining the applied voltage-transmittance correction curve C3 from the applied voltage-transmittance characteristic curve C1, there are a method of detecting a symmetrical point on the graph and a method of function approximation.

【0047】まず、グラフ上の対称点を検出する方法を
図3を用いて説明する。今、印加電圧−透過率特性曲線
C1上のある点Aに着目したとする。そして、線形関係
にある点線C2に対するこの点Aの距離L及びこの距離
Lを規定する点線C2上の点Bを求める。次に、点Bを
通り点線C2から距離Lだけ隔てた点Dを求める。この
ような処理を印加電圧−透過率特性曲線C1の全点に対
して実行することで印加電圧−透過率補正曲線C3を得
る。
First, a method of detecting a symmetry point on the graph will be described with reference to FIG. It is assumed that attention is paid to a certain point A on the applied voltage-transmittance characteristic curve C1. Then, the distance L of this point A with respect to the dotted line C2 having a linear relationship and the point B on the dotted line C2 that defines this distance L are obtained. Next, a point D passing through the point B and separated from the dotted line C2 by a distance L is obtained. The applied voltage-transmittance characteristic curve C3 is obtained by performing such processing for all points of the applied voltage-transmittance characteristic curve C1.

【0048】次に、関数近似による方法を図4を用いて
説明する。なお、関数近似による方法の詳細は、特願平
2-408806号明細書及び図面に開示されている。
Next, a method based on function approximation will be described with reference to FIG. For details of the function approximation method, refer to Japanese Patent Application No.
2-408806 and the drawings.

【0049】この方法は、印加電圧−透過率特性曲線C
1を関数近似し、その逆関数を求めることで印加電圧−
透過率補正曲線C3を求める方法である。ここで、印加
電圧−透過率特性曲線C1は、上述したようにS字状曲
線であるため、1個の関数によって表現することは困難
である。そこで、印加電圧−透過率特性曲線C1の中央
部を直線で近似し、その前後を所定の関数曲線で近似す
ることとした。
In this method, the applied voltage-transmittance characteristic curve C
1 is approximated by a function, and the inverse function is calculated to obtain the applied voltage −
This is a method of obtaining the transmittance correction curve C3. Here, since the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 is an S-shaped curve as described above, it is difficult to represent it by one function. Therefore, the central portion of the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 is approximated by a straight line, and the front and rear thereof are approximated by a predetermined function curve.

【0050】図4はこのような各近似関数の説明図であ
る。この図4に示すように、座標原点側の曲線部分を関
数y=f(x)で表し、中央部分を関数y=g(x)で
表し、それより大きい値の曲線部分を関数y=h(x)
で表す。また、関数f(x)と関数g(x)との接続点
座標をE(P1 ,Q1 )で表し、関数g(x)と関数h
(x)との接続点座標をF(P2 ,Q2 )で表す。そし
て、各関数f(x)、g(x)、h(x)をそれぞれ
(1) 式、(2) 式、(3) 式で近似することとした。
FIG. 4 is an explanatory diagram of each such approximate function. As shown in FIG. 4, the curve portion on the coordinate origin side is represented by the function y = f (x), the central portion is represented by the function y = g (x), and the curve portion having a larger value is represented by the function y = h. (X)
It is represented by. Further, the connection point coordinates of the function f (x) and the function g (x) are represented by E (P1, Q1), and the function g (x) and the function h
The connection point coordinates with (x) are represented by F (P2, Q2). Then, each function f (x), g (x), h (x)
It was decided to approximate with Eqs. (1), (2), and (3).

【0051】 y=f(x)=a1 ・xb1 (1) (a1 及びb1 は定数であり、x及びyはそれぞれ0≦
x<P1 、0≦y<Q1 の範囲の値である) y=g(x)=a2 ・x+c2 (2) (a2 及びc2 は定数であり、x及びyはそれぞれP1
≦x<P2 、Q1 ≦y<Q2 の範囲の値である) y=h(x)=a3 (1−x)b3 (3) (a3 及びb3 は定数であり、x及びyはそれぞれP2
≦x<1、Q2 ≦y<1の範囲の値である) このように印加電圧−透過率特性曲線C1を関数f
(x)、g(x)、h(x)を用いて近似した場合、印
加電圧−透過率補正曲線C3は、上述したように、また
図4に示すように、これらの逆関数f-1(x)、g
-1(x)、h-1(x)を用いて近似することができる。
Y = f (x) = a1.x b1 (1) (a1 and b1 are constants, and x and y are 0 ≦.
x = P1, 0≤y <Q1) y = g (x) = a2.x + c2 (2) (a2 and c2 are constants, and x and y are P1 respectively.
Y = h (x) = a3 (1-x) b3 (3) (a3 and b3 are constants, and x and y are P2, respectively) ≤x <P2, Q1 ≤y <Q2
.Ltoreq.x <1, Q2 .ltoreq.y <1.) In this way, the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 is expressed by the function f
When approximated using (x), g (x), and h (x), the applied voltage-transmittance correction curve C3 shows the inverse function f −1 of these as described above and as shown in FIG. (X), g
It can be approximated by using −1 (x) and h −1 (x).

【0052】測定によって得られた印加電圧−透過率特
性曲線C1から印加電圧−透過率補正曲線C3を求める
具体的な処理手順は、以下の通りである。
The specific processing procedure for obtaining the applied voltage-transmittance correction curve C3 from the applied voltage-transmittance characteristic curve C1 obtained by the measurement is as follows.

【0053】まず、印加電圧−透過率特性曲線C1の各
点の微係数に基づいて、曲線C1を第1の曲線部分、直
線部分及び第2の曲線部分に3分割すると共に、分割点
E、Fの座標をとらえる。第1及び第2の曲線部分のそ
れぞれについて中間の点G、Hを定め、その座標をとら
える。各近似関数f(x)、g(x)、h(x)を特定
する各係数a1 〜a3 、b1 、b3 、c2 を演算する。
この係数を利用して逆関数f-1(x)、g-1(x)、h
-1(x)を求める。各逆関数f-1(x)、g-1(x)、
-1(x)が適用される範囲を明らかにする。そして、
入力値(x方向の点)の値に応じた補正後の値を入力値
の全範囲について定める。
First, based on the differential coefficient of each point of the applied voltage-transmittance characteristic curve C1, the curve C1 is divided into the first curve portion, the straight line portion and the second curve portion, and the division points E, Capture the coordinates of F. Intermediate points G and H are determined for each of the first and second curve portions, and their coordinates are captured. Coefficients a1 to a3, b1, b3 and c2 for specifying the approximate functions f (x), g (x) and h (x) are calculated.
Using these coefficients, the inverse functions f −1 (x), g −1 (x), h
-1 (x) is calculated. Each inverse function f −1 (x), g −1 (x),
Clarify the range to which h −1 (x) is applied. And
The corrected value corresponding to the value of the input value (point in the x direction) is determined for the entire range of the input value.

【0054】(1-4) 第1実施例の効果 従って、第1実施例によれば、液晶ライトバルブの印加
電圧−透過率特性に応じた階調補正情報を効率良く短時
間で作成でき、補正用デジタルメモリに格納できる液晶
ライトバルブの階調補正情報作成システムを実現するこ
とができる。
(1-4) Effects of the First Embodiment Therefore, according to the first embodiment, the gradation correction information according to the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve can be efficiently created in a short time, It is possible to realize a gradation correction information creation system for a liquid crystal light valve that can be stored in the correction digital memory.

【0055】なお、このようなシステムを適用して補正
データを作成する対象は、液晶ライトバルブの種類毎で
あっても良く、また、同一種類であってもロット毎や製
品毎であっても良い。後者の場合には、効率良く補正デ
ータを作成格納できるという効果は非常に大きな効果で
ある。
The target for which the correction data is created by applying such a system may be each type of liquid crystal light valve, or may be the same type or each lot or each product. good. In the latter case, the effect that the correction data can be efficiently created and stored is a great effect.

【0056】(1-5) 第1実施例の変形 上述の説明においては、データ処理装置1から任意波形
発生装置2に与える電圧信号をγ補正を実行していない
ものとし、液晶ライトバルブ3の印加電圧−透過率特性
に対応した補正データを作成するものを示したが、測定
された印加電圧−透過率特性から、印加電圧−透過率補
正及び逆γ補正を同時に行なう補正データを作成するよ
うにしても良い。例えば、データ処理装置1に逆γ補正
データを予め格納しておき、得られた印加電圧−透過率
補正データと予め格納しておいた逆γ補正データとを合
成して補正用デジタルメモリ8に対する補正データを作
成するようにしても良い。
(1-5) Modification of First Embodiment In the above description, it is assumed that the voltage signal applied from the data processing device 1 to the arbitrary waveform generating device 2 is not subjected to γ correction, and the liquid crystal light valve 3 Although the one that creates the correction data corresponding to the applied voltage-transmittance characteristic is shown, it is possible to create the correction data that simultaneously performs the applied voltage-transmittance correction and the inverse γ correction from the measured applied voltage-transmittance characteristic. You can For example, the inverse γ correction data is stored in the data processing device 1 in advance, and the obtained applied voltage-transmittance correction data and the inverse γ correction data stored in advance are combined to the correction digital memory 8. Correction data may be created.

【0057】上述の第1実施例では、カラー用液晶ライ
トバルブ3を対象としたものを示したが、白黒用液晶ラ
イトバルブを対象とした補正データの作成格納にもこの
実施例の内容を適用することができる。ここで、バック
ライト光源4として白色光源を適用し、測光装置7とし
て輝度計を適用することで白黒用にも対応することがで
きる。
In the above-mentioned first embodiment, the one for the color liquid crystal light valve 3 is shown, but the contents of this embodiment are applied to the creation and storage of the correction data for the black and white liquid crystal light valve. can do. Here, by applying a white light source as the backlight light source 4 and a luminance meter as the photometric device 7, it is possible to deal with black and white.

【0058】また、一旦得られた補正データの確認の際
には補正した電圧信号を任意波形発生装置2に与えるも
のを示したが、補正データをも任意波形発生装置2に与
えて任意波形発生装置2に補正処理を実行させるように
しても良い。
Further, although it has been shown that the corrected voltage signal is given to the arbitrary waveform generator 2 when the correction data once obtained is confirmed, the correction data is also given to the arbitrary waveform generator 2 to generate the arbitrary waveform. You may make it the apparatus 2 perform a correction process.

【0059】(2)第2実施例 次に、本発明の第2実施例システムを図面を用いて説明
する。この第2実施例は、印加電圧−透過率特性の測定
系に補正用デジタルメモリが介在している点や液晶駆動
回路を備えている点等が第1実施例と構成上異なる。
(2) Second Embodiment Next, a second embodiment system of the present invention will be described with reference to the drawings. The second embodiment differs from the first embodiment in that the measuring system for the applied voltage-transmittance characteristic has a correction digital memory and a liquid crystal drive circuit.

【0060】図5がこの第2実施例の全体構成を示すブ
ロック図であり、図1との対応部分には同一符号を付し
て示している。図5において、この実施例のデータ処理
装置1はいずれの処理段階においても任意波形発生装置
3に対して印加電圧−透過率補正を実行していない電圧
信号を出力する。この点、第1実施例におけるデータ処
理装置とは異なる。
FIG. 5 is a block diagram showing the overall construction of the second embodiment, and the parts corresponding to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. In FIG. 5, the data processor 1 of this embodiment outputs a voltage signal for which the applied voltage-transmittance correction is not executed to the arbitrary waveform generator 3 in any processing stage. This point is different from the data processing device in the first embodiment.

【0061】この実施例の任意波形発生装置3は、水平
同期信号や垂直同期信号を有するテレビジョン信号フォ
ーマットに従う、しかもその映像部にはデータ処理装置
1からの電圧信号を中心とした任意波形を有するビデオ
信号を発生して液晶駆動回路10に与える。この液晶駆
動回路10には補正用デジタルメモリ8が関連して設け
られており、液晶駆動回路10は任意波形発生装置3か
らの映像信号を補正用デジタルメモリ8を用いて補正し
て液晶ライトバルブ3を駆動する。なお、データ処理装
置1が出力した補正データは、データ書込装置9によっ
て補正用デジタルメモリ8に書き込まれる。
The arbitrary waveform generator 3 of this embodiment complies with a television signal format having a horizontal synchronizing signal and a vertical synchronizing signal, and its image portion has an arbitrary waveform centered on the voltage signal from the data processor 1. The generated video signal is generated and given to the liquid crystal drive circuit 10. A correction digital memory 8 is provided in association with the liquid crystal drive circuit 10. The liquid crystal drive circuit 10 corrects the video signal from the arbitrary waveform generator 3 using the correction digital memory 8 and a liquid crystal light valve. Drive 3 The correction data output by the data processing device 1 is written in the correction digital memory 8 by the data writing device 9.

【0062】この実施例の液晶ライトバルブ3は、X方
向及びY方向をショートしていた第1実施例の液晶ライ
トバルブとは異なり、液晶駆動回路10による駆動制御
を受けたセルが透過率制御されるものである。
The liquid crystal light valve 3 of this embodiment is different from the liquid crystal light valve of the first embodiment in which the X direction and the Y direction are short-circuited, and the cell under the drive control of the liquid crystal drive circuit 10 has the transmittance control. It is what is done.

【0063】この第2実施例におけるバックライト光源
4、プローブ5、光ファイバ6、測光装置7は、第1実
施例と同様であり、その詳細説明は省略する。
The backlight source 4, the probe 5, the optical fiber 6, and the photometric device 7 in the second embodiment are the same as those in the first embodiment, and detailed description thereof will be omitted.

【0064】次に、この第2実施例での処理の流れを説
明する。基本的な流れは、第1実施例の処理の流れとほ
ぼ同様である。
Next, the flow of processing in the second embodiment will be described. The basic flow is almost the same as the process flow of the first embodiment.

【0065】まず、データ処理装置1はシステムのイニ
シャライズを行なう。この際、補正用デジタルメモリ8
には、線形関係の補正データ、従って補正を実行しない
補正データを格納させる。このような状態で、任意波形
発生装置2から映像部の電圧が所定電圧の映像信号を出
力させてその所定電圧での印加電圧−透過率特性の予備
的な測定を行ない、この所定電圧を順次変化させること
で全電圧範囲についての印加電圧−透過率特性の予備的
な測定を行なう。なお、この際には、補正用デジタルメ
モリ8に線形関係の補正データを格納しているので、任
意波形発生装置2からの映像信号によって液晶駆動回路
10が液晶ライトバルブ3を駆動していることになる。
First, the data processing device 1 initializes the system. At this time, the correction digital memory 8
Stores the correction data having a linear relationship, that is, the correction data for which the correction is not executed. In such a state, the arbitrary waveform generator 2 outputs a video signal having a predetermined voltage in the video section, preliminary measurement of the applied voltage-transmittance characteristic at the predetermined voltage is performed, and the predetermined voltage is sequentially applied. By changing it, preliminary measurement of the applied voltage-transmittance characteristic over the entire voltage range is performed. At this time, since the correction digital memory 8 stores the correction data having the linear relationship, the liquid crystal drive circuit 10 drives the liquid crystal light valve 3 by the video signal from the arbitrary waveform generator 2. become.

【0066】その後、かかる測定結果に基づいて、補正
する入力電圧の範囲を設定する。そして、データ処理装
置1は、設定した範囲内のある入力電圧信号を映像部の
中心電圧に設定した映像信号を任意波形発生装置2から
出力させて透過率の測定を行ない、入力電圧信号を徐々
に変換させることで設定した範囲の全域に対する印加電
圧−透過率特性の測定を行なう。この際にも、映像信号
の補正は実行されていない。
After that, the range of the input voltage to be corrected is set based on the measurement result. Then, the data processing device 1 causes the arbitrary waveform generating device 2 to output a video signal in which a certain input voltage signal within the set range is set as the center voltage of the video portion, measures the transmittance, and gradually receives the input voltage signal. The applied voltage-transmittance characteristic is measured for the entire set range by converting to. Also at this time, the video signal is not corrected.

【0067】このようにして印加電圧−透過率特性が得
られると、第1実施例と同様にして補正データを作成
し、作成した補正データを補正用デジタルメモリ8に格
納させる。そして、1回目及び2回目の透過率測定と同
様にして透過率測定を実行する。この際には、補正用デ
ジタルメモリ8に補正データが格納されているので、任
意波形発生装置2が出力した映像信号が、格納されてい
る補正データに応じて補正された後に液晶ライトバルブ
3に供給される。
When the applied voltage-transmittance characteristic is obtained in this manner, correction data is created in the same manner as in the first embodiment, and the created correction data is stored in the correction digital memory 8. Then, the transmittance measurement is performed in the same manner as the first and second transmittance measurements. At this time, since the correction data is stored in the correction digital memory 8, the video signal output by the arbitrary waveform generator 2 is corrected in the liquid crystal light valve 3 after being corrected in accordance with the stored correction data. Supplied.

【0068】データ処理装置1は、この際測定された透
過率に基づいて補正データの妥当性を確認する。妥当で
ない補正データがあるとそれを修正し、補正用デジタル
メモリ8を更新して修正後の補正データの妥当性を再確
認する。全範囲について妥当である場合には一連の処理
を終了する。
The data processor 1 confirms the validity of the correction data based on the transmittance measured at this time. If there is invalid correction data, it is corrected and the correction digital memory 8 is updated to reconfirm the validity of the corrected correction data. If all the ranges are valid, the series of processing ends.

【0069】従って、この第2実施例においても、第1
実施例と同様な効果を得ることができる。
Therefore, also in this second embodiment, the first
The same effect as that of the embodiment can be obtained.

【0070】この第2実施例についての変形例として
も、白黒用ライトバルブに適用することや、印加電圧−
透過率補正及び逆γ補正の合成補正データを得るように
することなどが考えられる。
As a modification of the second embodiment, the present invention can be applied to a black and white light valve and the applied voltage-
It is conceivable to obtain combined correction data of the transmittance correction and the inverse γ correction.

【0071】(3)第3実施例 次に、本発明の第3実施例システムを図面を参照しなが
ら詳述する。この第3実施例は、液晶プロジェクタ等の
投射型表示装置に用いられる液晶ライトバルブに対する
ものである。図6はこの第3実施例の全体構成を示すブ
ロック図であり、図7はプローブの設置位置の説明図で
ある。
(3) Third Embodiment Next, a third embodiment system of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The third embodiment relates to a liquid crystal light valve used in a projection type display device such as a liquid crystal projector. FIG. 6 is a block diagram showing the overall configuration of this third embodiment, and FIG. 7 is an explanatory diagram of the probe installation position.

【0072】この第3実施例の構成は、図6に示すよう
に、第2実施例とほぼ同様な構成を有する。しかし、投
射型用であるので光源として照明光源4を用いている
点、液晶ライトバルブ3を透過した光線を受光するスク
リーン11を有する点、プローブ5の設置位置が図7に
示すように液晶ライトバルブ3の背面に限定されるもの
ではなく、むしろスクリーン11が反射型であればスク
リーン11の前面、スクリーン11が透過型であればス
クリーン11の後方が好ましい点、測光装置7として分
光放射計を適用する点が第2実施例と異なる。
As shown in FIG. 6, the structure of the third embodiment has substantially the same structure as that of the second embodiment. However, since it is a projection type, the illumination light source 4 is used as a light source, the screen 11 is provided for receiving the light rays transmitted through the liquid crystal light valve 3, and the installation position of the probe 5 is as shown in FIG. The present invention is not limited to the back side of the bulb 3, but rather the front side of the screen 11 is preferable if the screen 11 is a reflective type, and the rear side of the screen 11 is preferable if the screen 11 is a transmissive type. The application point is different from the second embodiment.

【0073】以上のように、構成上多少に違いはあるに
しろ、処理の流れは第2実施例と同様であるので、その
説明は省略する。
As described above, the process flow is the same as that of the second embodiment, though there are some differences in the configuration, and therefore the description thereof is omitted.

【0074】この第3実施例によっても、第1及び第2
実施例と同様な効果を得ることができる。投射型表示装
置に用いられる液晶ライトバルブに対するシステムとし
ては、第1及び第2実施例のシステムより好適なもので
ある。
Also according to this third embodiment, the first and second
The same effect as that of the embodiment can be obtained. The system for the liquid crystal light valve used in the projection type display device is more suitable than the systems of the first and second embodiments.

【0075】この第3実施例についての変形例として
も、白黒用ライトバルブに適用することや、印加電圧−
透過率補正及び逆γ補正の合成補正データを得るように
することなどが考えられる。
As a modification of the third embodiment, the present invention can be applied to a black and white light valve and the applied voltage-
It is conceivable to obtain combined correction data of the transmittance correction and the inverse γ correction.

【0076】(4)他の実施例 上記システムにおける補正用デジタルメモリ8としては
製品に直接組み込まれるものであっても良く、多数のデ
ジタルメモリを複製させるためのマスタであっても良
い。例えば、同一種類の液晶ライトバルブに対して同一
の補正データを適用する場合には後者となる。
(4) Other Embodiments The correction digital memory 8 in the above system may be directly incorporated in a product, or may be a master for copying a large number of digital memories. For example, the latter applies when the same correction data is applied to the same type of liquid crystal light valve.

【0077】[0077]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、液晶ラ
イトバルブの印加電圧−透過率特性の測定及び得られた
印加電圧−透過率特性から階調補正情報の測定を効率良
く短時間で実行することができる液晶ライトバルブの階
調補正情報作成システムを実現することができる。
As described above, according to the present invention, the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve can be measured and the gradation correction information can be efficiently measured in a short time from the obtained applied voltage-transmittance characteristic. It is possible to realize the gradation correction information creation system of the liquid crystal light valve that can be executed in.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1実施例システムの構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a system according to a first embodiment.

【図2】第1実施例システムの処理の流れを示すフロー
チャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a processing flow of the system of the first embodiment.

【図3】補正データの作成方法の説明図(その1)であ
る。
FIG. 3 is an explanatory diagram (1) of a method of creating correction data.

【図4】補正データの作成方法の説明図(その2)であ
る。
FIG. 4 is an explanatory view (No. 2) of a method of creating correction data.

【図5】第2実施例システムの構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of a second embodiment system.

【図6】第3実施例システムの構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a system of a third embodiment.

【図7】第3実施例システムの受光用プローブの設置位
置の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of an installation position of a light receiving probe of the third embodiment system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…データ処理装置、2…任意波形発生装置、3…液晶
ライトバルブ、4…光源、5…受光用プローブ、6…光
ファイバ、7…測光装置、8…補正用デジタルメモリ、
9…データ書込装置、10…液晶駆動回路、11…スク
リーン。
1 ... Data processing device, 2 ... Arbitrary waveform generating device, 3 ... Liquid crystal light valve, 4 ... Light source, 5 ... Light receiving probe, 6 ... Optical fiber, 7 ... Photometric device, 8 ... Correction digital memory,
9 ... Data writing device, 10 ... Liquid crystal drive circuit, 11 ... Screen.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶ライトバルブの階調特性を線形関係
とする階調補正情報を作成する液晶ライトバルブの階調
補正情報作成システムであって、 上記液晶ライトバルブを照明する光源と、 上記液晶ライトバルブに対する試験信号を発生する試験
信号発生手段と、 上記液晶ライトバルブを透過した光線を受光して透過率
信号を出力する測光手段と、 上記試験信号発生手段に試験信号の発生を指示すると共
にそのとき測光手段から与えられる透過率信号に基づい
て上記液晶ライトバルブの印加電圧−透過率特性をとら
えて階調補正情報を作成するデータ処理手段とを備えた
ことを特徴とする液晶ライトバルブの階調補正情報作成
システム。
1. A gradation correction information creating system for a liquid crystal light valve, which creates gradation correction information having a gradation characteristic of a liquid crystal light valve as a linear relationship, comprising: a light source for illuminating the liquid crystal light valve; Test signal generating means for generating a test signal for the light valve, photometric means for receiving a light beam transmitted through the liquid crystal light valve and outputting a transmittance signal, and instructing the test signal generating means to generate a test signal. At this time, the liquid crystal light valve is provided with a data processing means for creating gradation correction information by capturing the applied voltage-transmittance characteristic of the liquid crystal light valve based on the transmittance signal given from the photometric means. Gradation correction information creation system.
【請求項2】 上記データ処理手段が、一旦得られた階
調補正情報を利用した試験信号を上記試験信号発生手段
から発生させ、上記測光手段からの透過率信号に基づい
て、階調補正情報の妥当性を判断し、妥当でない場合に
は階調補正情報を修正して再度試験信号を発生させての
妥当性判断を繰返し、上記液晶ライトバルブの階調特性
を線形関係とする階調補正情報を最終的に得ることを特
徴とした請求項1に記載の液晶ライトバルブの階調補正
情報作成システム。
2. The data processing means causes the test signal generating means to generate a test signal using the gradation correction information once obtained, and the gradation correction information is generated based on the transmittance signal from the photometric means. Of the liquid crystal light valve is linearly related to the gradation characteristics of the liquid crystal light valve. The gradation correction information creation system for a liquid crystal light valve according to claim 1, wherein information is finally obtained.
【請求項3】 階調補正情報の格納用デジタルメモリを
備え、上記データ処理手段がこのデジタルメモリに対し
て得られた階調補正情報を格納させることを特徴とする
請求項1又は2に記載の液晶ライトバルブの階調補正情
報作成システム。
3. A digital memory for storing gradation correction information, wherein the data processing means stores the gradation correction information obtained in the digital memory. LCD light valve gradation correction information creation system.
【請求項4】 上記試験信号発生手段が、上記データ処
理手段からの指令信号に応じた任意波形の信号を発生す
る任意波形発生部と、階調補正情報の格納用デジタルメ
モリと、上記任意波形発生部からの信号を上記デジタル
メモリに格納されている階調補正情報によって補正した
後上記液晶ライトバルブを駆動する液晶駆動部とから構
成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の
液晶ライトバルブの階調補正情報作成システム。
4. An arbitrary waveform generator for generating a signal of an arbitrary waveform according to a command signal from said data processing means, said test signal generating means, a digital memory for storing gradation correction information, and said arbitrary waveform. 3. The liquid crystal drive unit for driving the liquid crystal light valve after correcting the signal from the generation unit by the gradation correction information stored in the digital memory, The liquid crystal drive unit according to claim 1 or 2, LCD light valve gradation correction information creation system.
JP19777391A 1991-08-07 1991-08-07 Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve Pending JPH06236165A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19777391A JPH06236165A (en) 1991-08-07 1991-08-07 Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19777391A JPH06236165A (en) 1991-08-07 1991-08-07 Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06236165A true JPH06236165A (en) 1994-08-23

Family

ID=16380113

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19777391A Pending JPH06236165A (en) 1991-08-07 1991-08-07 Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06236165A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208548A (en) * 2003-12-26 2005-08-04 Nippon Chemicon Corp Self-adjusting type display system, and self-adjusting type monitor apparatus, and self-adjusting method of display system, and self-adjusting program
JP2005250113A (en) * 2004-03-04 2005-09-15 Nec Display Solutions Ltd Display device and adjustment method
JP2005309338A (en) * 2004-04-26 2005-11-04 Mitsubishi Electric Corp Apparatus and method for image display
KR100861344B1 (en) * 2006-09-01 2008-10-01 삼성전기주식회사 Display apparatus including optical modulator and image controlling method
KR100861343B1 (en) * 2006-08-28 2008-10-01 삼성전기주식회사 Spatial Optic Modulator and method thereof using Piezoelectric Material
JP2011022226A (en) * 2009-07-14 2011-02-03 Nanao Corp Sensor unit operation mechanism of light measuring device
US7911430B2 (en) 2003-02-03 2011-03-22 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display
US8451209B2 (en) 2002-12-06 2013-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8451209B2 (en) 2002-12-06 2013-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
US7911430B2 (en) 2003-02-03 2011-03-22 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display
JP2005208548A (en) * 2003-12-26 2005-08-04 Nippon Chemicon Corp Self-adjusting type display system, and self-adjusting type monitor apparatus, and self-adjusting method of display system, and self-adjusting program
JP2005250113A (en) * 2004-03-04 2005-09-15 Nec Display Solutions Ltd Display device and adjustment method
JP2005309338A (en) * 2004-04-26 2005-11-04 Mitsubishi Electric Corp Apparatus and method for image display
KR100861343B1 (en) * 2006-08-28 2008-10-01 삼성전기주식회사 Spatial Optic Modulator and method thereof using Piezoelectric Material
KR100861344B1 (en) * 2006-09-01 2008-10-01 삼성전기주식회사 Display apparatus including optical modulator and image controlling method
JP2011022226A (en) * 2009-07-14 2011-02-03 Nanao Corp Sensor unit operation mechanism of light measuring device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101391482B1 (en) Image processing apparatus, image processing method, display apparatus, and projection display apparatus
JP4333023B2 (en) Digital signal processing circuit, display device using the same, and liquid crystal projector
KR100223724B1 (en) The color display apparatus and addressing circuit thereof
US20050206851A1 (en) Projection type image display device
WO2001086620A1 (en) Image displaying system of environment-adaptive type, presentation system, and image processing method and program
US7554548B2 (en) Gamma curve generation method and device for the same
US20060119561A1 (en) Image display apparatus, image signal converting device, image signal converting method, image signal converting program
JPH06236165A (en) Gradation correcting information generating system for liquid crystal light valve
JP2006201416A (en) Projection type display device and multiscreen display device
JPH02181182A (en) Projection type display of liquid crystal panel system
JPH0764522A (en) Automatic adjusting system for multi-display device
TWI222329B (en) Image adjuster of projector and image adjusting method of image display
JP4762412B2 (en) Method for determining and at least partially correcting defects in an image reproduction system and apparatus for implementing the method
JP3965818B2 (en) Multi-projection video display device
JPH06217239A (en) Liquid crytal projector with gamma correcting function
JP2002016934A (en) Projector
US7253796B2 (en) Circuit for and method of driving liquid crystal panel of liquid crystal projector
JP3716839B2 (en) Image adjusting device for projector and image adjusting method for image display device
JP2849137B2 (en) Projection display device
KR100866882B1 (en) Apparatus for processing image, projector using the same, and method for processing image
JP2008139263A (en) Ghost inspection device and method for inspecting ghost
JP3557833B2 (en) Video display device
JPH08271852A (en) Projection type display device
JPH09298756A (en) Video display device
JPH06138434A (en) Liquid crystal projector