JPH06231313A - Prepaid card inspection method - Google Patents
Prepaid card inspection methodInfo
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- JPH06231313A JPH06231313A JP5042108A JP4210893A JPH06231313A JP H06231313 A JPH06231313 A JP H06231313A JP 5042108 A JP5042108 A JP 5042108A JP 4210893 A JP4210893 A JP 4210893A JP H06231313 A JPH06231313 A JP H06231313A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、プリペードカードの
検査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a prepaid card inspection method.
【従来の技術】テレホンカードなどのプリペードカード
には、所定のフォーマットが設定され、そのデータ部に
は所定の情報データが記録される。プリペードカードの
信頼性を確保するため、フォーマットと情報データの正
否が検査装置により検査され、正しいものが発売されて
いる。A predetermined format is set on a prepaid card such as a telephone card, and predetermined information data is recorded in its data portion. In order to ensure the reliability of the prepaid card, the correctness of the format and information data is inspected by an inspection device, and the correct one is on sale.
【0002】図3はプリペードカードと、そのフォーマ
ットを例示するもので、(a) においてプリペードカード
1には帯状の磁気膜2が塗布され、これに(b) に示すフ
ォーマットが設定される。フォーマットは先頭にコード
"0……0" のギャップ(GAP)を設け、つづいてコ
ード "FF" の開始符号(STX)、情報データ "×…
…×" に対するデータ部(DATA)、終了符号(ET
X)があり、末尾に(GAP)が設けられている。フォ
ーマットと情報データの各コードにはFM方式が使用さ
れている。図3(c) はFM方式のビットパターンを例示
するもので、基本幅T0 のビットが "1" を、その2倍
の幅2T0 のビットが "0" をそれぞれ示すものとさ
れ、これらの組み合わせによりフォーマットと情報デー
タが構成される。FIG. 3 exemplifies a prepaid card and its format. In FIG. 3A, a strip-shaped magnetic film 2 is applied to the prepaid card 1, and the format shown in FIG. 3B is set on it. Format is code at the beginning
A gap (GAP) of "0 ... 0" is provided, followed by a start code (STX) of code "FF" and information data "x ...
Data part (DATA), end code (ET
X) and (GAP) is provided at the end. The FM method is used for each code of the format and the information data. FIG. 3 (c) exemplifies a bit pattern of the FM system. It is assumed that a bit having a basic width T 0 indicates "1" and a bit having a width 2T 0 which is twice that of "0". The format and the information data are configured by the combination of.
【0003】図4は従来使用されているプリペードカー
ド検査装置3のブロック構成を、図5は検査における信
号とパルスの状態をそれぞれ示す。両図によりプリペー
ドカード1の検査方法を説明すると、プリペードカード
1はヘッド31に挿入され、各ビットが読み出される。便
宜上各ビットの配列を図3(a) と同一のパターンとし、
各ビットの読み出し信号p1,p2,p3 ……は、波高値が
アンプ32により標準レベルLO に調整された後、半波回
路32a により負側の半波の信号が正側にされた半波信号
を発生し、これが微分回路33により微分されて図示の微
分波形がえられる。微分波形はコンパレータ34により0
レベルに比較されて比較信号Cs が出力され、これがゼ
ロクロス点検出回路35に入力してゼロクロスパルスpz
が出力される。各ゼロクロスパルスpz の間隔はパルス
間隔測定回路36により測定され、測定された間隔データ
DM と、メモリ37に格納されている正しい比較データと
がデータ比較部38で比較され、両者が一致したとき正常
(OK)とされ、不一致のときは不良(NG)とされ
る。FIG. 4 shows the block configuration of a conventional prepaid card inspection device 3, and FIG. 5 shows the states of signals and pulses in the inspection. Explaining the inspection method of the prepaid card 1 with both figures, the prepaid card 1 is inserted into the head 31 and each bit is read. For convenience, the arrangement of each bit has the same pattern as in FIG.
The read signals p 1 , p 2 , p 3 ... Of each bit have their peak values adjusted to the standard level L O by the amplifier 32, and then the half-wave circuit 32a changes the negative half-wave signal to the positive side. Half wave signal is generated, and this is differentiated by the differentiating circuit 33 to obtain the differential waveform shown in the figure. The differential waveform is 0 by the comparator 34
The comparison signal C s is output after being compared with the level, and this is input to the zero-cross point detection circuit 35 to input the zero-cross pulse p z.
Is output. The interval of each zero-cross pulse p z is measured by the pulse interval measurement circuit 36, and the measured interval data D M and the correct comparison data stored in the memory 37 are compared by the data comparison unit 38, and both match. When it does not match, it is regarded as defective (NG).
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】さて、上記のフォーマ
ットまたは情報データは、書込み回路により磁気膜2に
対して適切なレベルで書込みされるが、これらにに異常
があると、書込まれた各ビットのレベルが変化し、これ
を実機のカードリーダにより読み取ったとき、ビットエ
ラーを生ずることがあり、このようなビットは欠陥であ
る。例えば、図5に示した読み出し信号(以下単に信号
とよぶ)p3 がレベルダウンにより点線で示す信号p3'
となったとする。上記の検査においては、信号p3'は微
分波形よりゼロクロスパルスpz が検出され、比較デー
タに比較して正常とされたとしても、しかし信号p2'は
その波高値が標準レベルLO より小さいため、実機のカ
ードリーダにおいては読み取り不能で、欠陥ビットとな
る場合がある。また、信号p3 がレベルアップして点線
で示す信号p3'となった場合、上記の検査では同様に正
常とされても、実機では欠陥ビットとなることがある。
元来、微分波形は信号波形の変化に比例するものである
ため、信号波形の波高値の変化に拘らず検出されて上記
のような矛盾が生ずるわけである。この点からみると微
分波形による各ビットの検査は必ずしも確実で十分なも
のとはいい難い。そこで、各信号pの波高値を検出し、
これを許容値に比較する手段を設け、上記の微分波形に
よる検査方法に併用すれば、各ビットの正否を確実に検
査することができる。この発明は上記の考えにより、従
来のプリペードカード検査装置に対して、各ビットの信
号の波高値を検出して許容値に比較する処理手段を付加
し、各ビットの正否を確実に検査できる検査方法を提供
することを目的とする。The above-mentioned format or information data is written to the magnetic film 2 by the write circuit at an appropriate level. When the level of a bit changes and it is read by an actual card reader, a bit error may occur, and such a bit is defective. For example, (referred to as hereinafter simply signal) read signal shown in FIG. 5 p 3 signal p 3 shown by a dotted line by the level down '
Suppose that In the above inspection, even if the signal p 3 'has a zero-cross pulse p z detected from the differential waveform and is judged to be normal by comparison with the comparison data, the signal p 2 ' has its peak value higher than the standard level L O. Since it is small, it cannot be read by a real card reader, and may be a defective bit. Further, when the signal p 3 is leveled up to become the signal p 3 ′ shown by the dotted line, even if the above-mentioned inspection shows that the signal is normal, it may become a defective bit in the actual machine.
Originally, since the differential waveform is proportional to the change in the signal waveform, it is detected regardless of the change in the peak value of the signal waveform, and the above contradiction occurs. From this point of view, the inspection of each bit by the differential waveform is not always reliable and sufficient. Therefore, the peak value of each signal p is detected,
If a means for comparing this with a permissible value is provided and is used in combination with the above-described differential waveform inspection method, the correctness of each bit can be reliably inspected. Based on the above idea, the present invention adds a processing means for detecting the peak value of the signal of each bit and comparing it to the allowable value to the conventional prepaid card inspection device, and can inspect the correctness of each bit without fail. The purpose is to provide a method.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明はプリペードカ
ードの検査方法であって、前記した従来の検査装置に対
して、ヘッドにより読み出された各ビットの信号波形の
波高値の標準のレベルに比較して、適当な割合だけ高い
上限の許容レベル、および低い下限の許容レベルを設定
し、信号波形の波高値が上限と下限の許容レベルの範囲
外のとき、このビットを欠陥ビットと判定し、ゼロクロ
ス点検出回路に対してインヒビット信号を出力し、これ
が出力された時点のゼロクロスパルスを無効とする、欠
陥ビット検出処理回路を付加したものである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a method for inspecting a prepaid card, which has a standard level of the crest value of a signal waveform of each bit read by a head with respect to the conventional inspection apparatus described above. By comparison, set the upper limit of the upper limit and the lower limit of the lower limit by an appropriate ratio, and if the peak value of the signal waveform is outside the range of the upper and lower limits, judge this bit as a defective bit. A defective bit detection processing circuit for outputting an inhibit signal to the zero-cross point detection circuit and invalidating the zero-cross pulse at the time when this signal is output is added.
【0006】[0006]
【作用】上記のこの発明によるプリペードカードの検査
方法においては、従来の検査装置に対して欠陥ビット検
出処理回路が付加され、ヘッドにより読み出しされた各
信号波形の波高値の標準レベルに比較して、適当な割合
だけ高い上限の許容レベル、および低い下限の許容レベ
ルが設定され、信号波形の波高値が上限と下限の許容レ
ベルの範囲外のとき、このビットは欠陥ビットと判定さ
れ、ゼロクロス点検出回路に対してインヒビット信号が
出力される。インヒビット信号が出力された時点のゼロ
クロスパルスを無効と処理され、出力されない時点にお
けるゼロクロスパルスを有効とされる。従来と同様にゼ
ロクロスパルスの間隔データの比較処理を行って各ビッ
ト、すなわちフォーマットまたは情報データの正否を確
実に検査することができる。In the method for inspecting a prepaid card according to the present invention described above, a defective bit detecting processing circuit is added to the conventional inspecting device to compare with the standard level of the peak value of each signal waveform read by the head. , If the upper limit level and the lower limit level are set by an appropriate ratio and the peak value of the signal waveform is outside the upper and lower limit levels, this bit is judged as a defective bit and a zero cross check is performed. An inhibit signal is output to the output circuit. The zero-cross pulse at the time when the inhibit signal is output is processed as invalid, and the zero-cross pulse at the time when it is not output is validated. The comparison processing of the interval data of the zero-cross pulse can be performed in the same manner as in the conventional case, and the correctness of each bit, that is, the format or the information data can be surely checked.
【0007】[0007]
【実施例】図1はこの発明の一実施例におけるプリペー
ドカード検査装置の構成を示し、前記した図4の検査装
置3に対して欠陥ビット検出処理回路4が付加される。
欠陥ビット検出処理回路4は、デジタル式の限界レベル
設定回路41と、それぞれ2個のD/A変換器42a,42b 、
レベルコンパレータ43a,43b 、およびNOR回路44が図
示のように接続されて構成される。図2は上記の検査装
置における信号とパルスの状態をそれぞれ示し、便宜
上、FMコードと各ビットの波形を前記した図5と同一
とする。以下、図1と図2によりプリペードカードの検
査方法を説明する。1 shows the configuration of a prepaid card inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, in which a defective bit detection processing circuit 4 is added to the inspection apparatus 3 shown in FIG.
The defective bit detection processing circuit 4 includes a digital limit level setting circuit 41, two D / A converters 42a and 42b,
The level comparators 43a and 43b and the NOR circuit 44 are connected and configured as shown. FIG. 2 shows the states of signals and pulses in the above inspection apparatus, and for convenience, the FM code and the waveform of each bit are the same as in FIG. 5 described above. The inspection method of the prepaid card will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.
【0008】従来と同様に、プリペードカード1の各ビ
ットはヘッド31により読み出され、各信号p1,p2,p3
……の波高値はアンプ32により標準レベルLO に調整さ
れた後、半波回路32a により負側の半波の信号が正側に
された半波信号を発生し、これが微分回路33により微分
され、微分波形はコンパレータ34を経てゼロクロス点検
出回路35に入力してゼロクロスパルスpz が出力され
る。パルス間隔測定回路36により測定された各ゼロクロ
スパルスpz の間隔データDM と、メモリ37に格納され
ている正しい比較データとがデータ比較部38により比較
される。一方、欠陥ビット検出処理回路4においては、
予め標準レベルLO に対して適当な上限レベルLD と下
限レベルLD を定め、これらを限界レベル設定回路41に
対してそれぞれ設定する。各限界レベルは、A/D変換
器42a,42b によりアナログ化され、レベルコンパレータ
43a,43b の−端子と+端子にそれぞれ入力する。これに
対して、アンプ32よりの各信号pが+端子と−端子にそ
れぞれ入力し、信号p3'は波高値が下限レベルLD に達
しないので、コンパレータ43b より比較信号CD が出力
され、また、信号p4'は波高値が上限レベルLU を越え
ているので、コンパレータ43a より比較信号CU が出力
される。両比較信号CD,CU はNOR回路44により負極
性に反転され、インヒビット信号(INH)としてゼロ
クロス点検出回路35に転送され、各INHに対応した信
号p3'とp4'に対するゼロクロス点の検出が阻止され
る。これにより、パルス間隔測定回路35によるゼロクロ
スパルスpz の間隔データDM が、正しい比較データ
(図示のD1,D2 など)と相違し、データ比較部37の比
較により、従来ではOKとされたプリペードカードであ
っても、この検査方法では不良と判定されてNGが出力
される。As in the conventional case, each bit of the prepaid card 1 is read by the head 31, and each signal p 1 , p 2 , p 3 is read.
The peak value of ...... is adjusted to the standard level L O by the amplifier 32, and then the half-wave circuit 32a generates a half-wave signal in which the half-wave signal on the negative side is made positive, and this is differentiated by the differentiation circuit 33. The differentiated waveform is input to the zero-cross point detection circuit 35 via the comparator 34 and the zero-cross pulse p z is output. The data comparing section 38 compares the interval data D M of each zero-cross pulse p z measured by the pulse interval measuring circuit 36 with the correct comparison data stored in the memory 37. On the other hand, in the defective bit detection processing circuit 4,
Appropriate upper limit levels L D and lower limit levels L D are set in advance for the standard level L O , and these are set in the limit level setting circuit 41, respectively. Each limit level is converted into an analog signal by the A / D converters 42a and 42b, and the level comparator
Input to the – and + terminals of 43a and 43b respectively. On the other hand, each signal p from the amplifier 32 is input to the + terminal and the-terminal, respectively, and since the peak value of the signal p 3 'has not reached the lower limit level L D , the comparison signal C D is output from the comparator 43b. Further, since the crest value of the signal p 4 'exceeds the upper limit level L U , the comparison signal C U is output from the comparator 43a. Both comparison signals C D and C U are inverted to the negative polarity by the NOR circuit 44 and transferred to the zero-cross point detection circuit 35 as an inhibit signal (INH), and the zero-cross points for the signals p 3 'and p 4 ' corresponding to each INH. Detection is blocked. As a result, the interval data D M of the zero-cross pulse p z by the pulse interval measurement circuit 35 differs from the correct comparison data (D 1 , D 2, etc. in the figure), and the comparison by the data comparison unit 37 indicates that it is OK in the past. Even a prepaid card is judged to be defective by this inspection method and NG is output.
【0009】[0009]
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による検
査方法においては、従来の検査装置に対して付加された
欠陥ビット検出処理回路により、ヘッドの読み出した各
ビットの信号波形の各波高値の標準レベルに対して、適
当な割合の上限と下限の許容レベルと下限の許容レベル
を設定し、波高値がこれらの許容レベルの範囲外にある
ビットが欠陥ビットとされ、従来の微分波形の検査方法
では見逃されていた、波高値が変化して実機のカードリ
ーダでは読み取り不能のビットが検出され、これを従来
の方法に併用して、フォーマットまたは情報データの正
否を確実に検査できるもので、プリペードカードの信頼
性の向上に寄与する効果には大きいものがある。As described above, in the inspection method according to the present invention, the crest value of each signal waveform of each bit read by the head is detected by the defective bit detection processing circuit added to the conventional inspection apparatus. With respect to the standard level, set the appropriate upper and lower limit levels and lower and lower limit levels, and if the peak value is outside of these allowable levels, it is regarded as a defective bit and the conventional differential waveform inspection is performed. It was overlooked in the method, the crest value changed and the unreadable bit was detected by the actual card reader, and this can be used in combination with the conventional method to reliably check the correctness of the format or information data, The effect of contributing to the improvement of the reliability of the prepaid card is great.
【図1】 この発明の一実施例におけるプリペードカー
ド検査装置の構成を示す。FIG. 1 shows the configuration of a prepaid card inspection device according to an embodiment of the present invention.
【図2】 図1のFMコードに対する各信号とパルスの
波形を示す。FIG. 2 shows waveforms of respective signals and pulses for the FM code of FIG.
【図3】 (a) はプリペードカード1、(b) はフォーマ
ット、(c) はFM方式のビットパターンの一例をそれぞ
れ示す。FIG. 3A shows an example of a prepaid card 1, FIG. 3B shows an example of a format, and FIG. 3C shows an example of an FM system bit pattern.
【図4】 従来のプリペードカード検査装置3のブロッ
ク構成を示す。FIG. 4 shows a block configuration of a conventional prepaid card inspection device 3.
【図5】 図4のFMコードに対する各信号とパルスの
波形を示す。5 shows waveforms of each signal and pulse for the FM code of FIG.
1…プリペードカード、2…磁気膜、3…従来の検査装
置、31…ヘッド、32…アンプ、33…微分回路、34…コン
パレータ、35…ゼロクロス点検出回路、36…パルス間隔
測定回路、37…メモリ、38…データ比較部、4…欠陥ビ
ット検出処理回路、41…限界レベル設定回路、42a,42b
…A/D変換器、43a,43b …レベルコンパレータ、44…
NOR回路、p1 〜p4 、p2', p3'…読み出し信号、
pz …ゼロクロスパルス、LO …標準レベル、LU …上
限許容レベル、LD …下限許容レベル、CU,CD …比較
信号、INH…インヒビット信号、DM …測定された間
隔データ、D1,D2,D3 …比較データ。1 ... Pre-paid card, 2 ... Magnetic film, 3 ... Conventional inspection device, 31 ... Head, 32 ... Amplifier, 33 ... Differentiation circuit, 34 ... Comparator, 35 ... Zero cross point detection circuit, 36 ... Pulse interval measurement circuit, 37 ... Memory, 38 ... Data comparison section, 4 ... Defective bit detection processing circuit, 41 ... Limit level setting circuit, 42a, 42b
... A / D converter, 43a, 43b ... Level comparator, 44 ...
NOR circuit, p 1 ~p 4, p 2 ', p 3' ... read signal,
p z ... Zero cross pulse, L O ... Standard level, L U ... Upper limit allowable level, L D ... Lower limit allowable level, C U , C D ... Comparison signal, INH ... Inhibit signal, D M ... Measured interval data, D 1 , D 2 , D 3 ... Comparative data.
Claims (1)
フォーマット、または該フォーマットのデータ部に記録
された情報データの各ビットをヘッドにより読み出し、
該読み出された各ビットの信号波形を微分し、ゼロクロ
ス点検出回路により該微分波形のゼロクロス点を検出
し、出力されるゼロクロスパルスの間隔を測定して正し
い比較データに比較し、前記フォーマットまたは情報デ
ータの正否を判定する検査装置において、該検査装置に
対して、前記各ビットの信号波形の波高値の標準レベル
に比較して、適当な割合だけ高い上限の許容レベル、お
よび低い下限の許容レベルを設定し、前記信号波形の波
高値が該上限と下限の許容レベルの範囲外のとき、該ビ
ットを欠陥ビットとして前記ゼロクロス点検出回路に対
してインヒビット信号を出力し、該インヒビット信号が
出力された時点の前記ゼロクロスパルスを無効とする、
欠陥ビット検出処理回路を付加したことを特徴とする、
プリペードカード検査方法。1. A head reads out each bit of a format set in a magnetic film of a prepaid card or information data recorded in a data section of the format,
The read signal waveform of each bit is differentiated, the zero-cross point of the differentiated waveform is detected by the zero-cross point detection circuit, the interval of the output zero-cross pulse is measured, and compared with the correct comparison data. In an inspection device for determining the correctness of information data, the inspection device is allowed to have an upper limit of an upper limit and a lower limit of an upper limit by an appropriate ratio as compared with the standard level of the peak value of the signal waveform of each bit. When a level is set and the peak value of the signal waveform is outside the range of the upper and lower allowable levels, the bit is regarded as a defective bit and an inhibit signal is output to the zero-cross point detection circuit, and the inhibit signal is output. Invalidating the zero-cross pulse at the time of
A defective bit detection processing circuit is added,
Prepaid card inspection method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5042108A JPH06231313A (en) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | Prepaid card inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5042108A JPH06231313A (en) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | Prepaid card inspection method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06231313A true JPH06231313A (en) | 1994-08-19 |
Family
ID=12626770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5042108A Pending JPH06231313A (en) | 1993-02-05 | 1993-02-05 | Prepaid card inspection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06231313A (en) |
-
1993
- 1993-02-05 JP JP5042108A patent/JPH06231313A/en active Pending
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