JPH06229915A - 光によるガス検出器 - Google Patents
光によるガス検出器Info
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- JPH06229915A JPH06229915A JP1425093A JP1425093A JPH06229915A JP H06229915 A JPH06229915 A JP H06229915A JP 1425093 A JP1425093 A JP 1425093A JP 1425093 A JP1425093 A JP 1425093A JP H06229915 A JPH06229915 A JP H06229915A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 高出力光パルス発生器１Ａの光パルスにより
誘導ラマン散乱現象を起こすラマンファイバ２を採用す
ることにより高出力で広帯域な光出力を発生させ、ガス
の有無による光出力の変化を時間軸上の波形として表示
する。 【構成】 ラマンファイバ２の出力を光ビーム４Ａに変
換する光送出器３Ａと、光ビーム４Ａを受光する受光器
５Ａと、受光器５Ａの受光を分離選択する波長選択光分
波器６と、波長選択光分波器６の出力からガスによる光
の吸収がある波長λａの光と吸収がない波長λｂの光を
受光し、電気信号に変換する光検出器７Ａ・７Ｂと、光
検出器７Ａ・７Ｂの受光パルスを時間軸上でサンプリン
グするサンプリング回路８Ａ・８Ｂと、サンプリング回
路８Ａ・８Ｂでサンプリングされた信号を処理する信号
処理回路９とを備え、光ビーム４Ａの強度の変化を時間
軸上の波形で表示し、ガスの有無を検出する。
誘導ラマン散乱現象を起こすラマンファイバ２を採用す
ることにより高出力で広帯域な光出力を発生させ、ガス
の有無による光出力の変化を時間軸上の波形として表示
する。 【構成】 ラマンファイバ２の出力を光ビーム４Ａに変
換する光送出器３Ａと、光ビーム４Ａを受光する受光器
５Ａと、受光器５Ａの受光を分離選択する波長選択光分
波器６と、波長選択光分波器６の出力からガスによる光
の吸収がある波長λａの光と吸収がない波長λｂの光を
受光し、電気信号に変換する光検出器７Ａ・７Ｂと、光
検出器７Ａ・７Ｂの受光パルスを時間軸上でサンプリン
グするサンプリング回路８Ａ・８Ｂと、サンプリング回
路８Ａ・８Ｂでサンプリングされた信号を処理する信号
処理回路９とを備え、光ビーム４Ａの強度の変化を時間
軸上の波形で表示し、ガスの有無を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、高出力光パルス発生
器の出力をラマンファイバに入射させることにより、高
出力で広帯域な光出力を発生させ、光出力の変化から種
々のガスの有無を検出する光によるガス検出器について
のものである。
器の出力をラマンファイバに入射させることにより、高
出力で広帯域な光出力を発生させ、光出力の変化から種
々のガスの有無を検出する光によるガス検出器について
のものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術によるガス検出器の構成
を図７により説明する。図７の１Ｂは白色光源、３Ａは
光送出器、４Ａは光ビーム、５Ａは受光器、１０Ａは分
光器である。広帯域な白色光源１Ｂの出力は、光送出器
３Ａによって光ビーム４Ａに変換される。光ビーム４Ａ
は受光器５Ａで受光され、受光器５Ａの出力は分光器１
０Ａによって分光測定される。
を図７により説明する。図７の１Ｂは白色光源、３Ａは
光送出器、４Ａは光ビーム、５Ａは受光器、１０Ａは分
光器である。広帯域な白色光源１Ｂの出力は、光送出器
３Ａによって光ビーム４Ａに変換される。光ビーム４Ａ
は受光器５Ａで受光され、受光器５Ａの出力は分光器１
０Ａによって分光測定される。
【０００３】次に、図７の分光器１０Ａによるガスのス
ペクトラムを図８から図１０により説明する。図８の２
１は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスがないときの
スペクトラムであり、図９の２２は光送出器３Ａと受光
器５Ａの間にガスがあるときのスペクトラムである。図
８ではガスによるスペクトラムの吸収がないので、分光
器１０Ａによって測定されるスペクトラム２１は白色光
源１Ｂだけのスペクトラムである。図８のスペクトラム
２１を基準とする。
ペクトラムを図８から図１０により説明する。図８の２
１は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスがないときの
スペクトラムであり、図９の２２は光送出器３Ａと受光
器５Ａの間にガスがあるときのスペクトラムである。図
８ではガスによるスペクトラムの吸収がないので、分光
器１０Ａによって測定されるスペクトラム２１は白色光
源１Ｂだけのスペクトラムである。図８のスペクトラム
２１を基準とする。
【０００４】図９では、ガスによるスペクトラムの吸収
が起こり、分光器１０Ａの分光測定により、図９のスペ
クトラム２２が得られる。図１０の２３は、図８のスペ
クトラム２１と図９のスペクトラム２２の差をとったス
ペクトラムであり、スペクトラム２３によりガスの種類
を特定でき、ガスの有無を検出することができる。
が起こり、分光器１０Ａの分光測定により、図９のスペ
クトラム２２が得られる。図１０の２３は、図８のスペ
クトラム２１と図９のスペクトラム２２の差をとったス
ペクトラムであり、スペクトラム２３によりガスの種類
を特定でき、ガスの有無を検出することができる。
【０００５】次に、従来技術による他の検出装置の構成
を図１１により説明する。図１１の１Ｃは特定ガスの固
有吸収帯の波長をもつ特定波長光源、１０Ｂは光強度測
定器であり、その他は図７と同じものである。すなわ
ち、図１１は図７の白色光源１Ｂを特定波長光源１Ｃに
置き換え、分光器１０Ａを光強度測定器１０Ｂに置き換
えたものである。検出されるガスの種類がわかれば、ガ
ス固有の吸収帯がわかる。その吸収帯をもつ特定波長光
源１Ｃを使用すれば、図７のような分光測定をしなくて
もガスの有無を検出することができる。
を図１１により説明する。図１１の１Ｃは特定ガスの固
有吸収帯の波長をもつ特定波長光源、１０Ｂは光強度測
定器であり、その他は図７と同じものである。すなわ
ち、図１１は図７の白色光源１Ｂを特定波長光源１Ｃに
置き換え、分光器１０Ａを光強度測定器１０Ｂに置き換
えたものである。検出されるガスの種類がわかれば、ガ
ス固有の吸収帯がわかる。その吸収帯をもつ特定波長光
源１Ｃを使用すれば、図７のような分光測定をしなくて
もガスの有無を検出することができる。
【０００６】次に、図１１の光強度測定器１０Ｂによる
ガスのスペクトラムを図１２と図１３により説明する。
図１２の３１は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
ないときの光強度測定器１０Ｂに入射する光のスペクト
ラムである。
ガスのスペクトラムを図１２と図１３により説明する。
図１２の３１は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
ないときの光強度測定器１０Ｂに入射する光のスペクト
ラムである。
【０００７】図１３の３２は光送出器３Ａと受光器５Ａ
の間に特定ガスがあるときの光強度測定器１０Ｂに入射
する光のスペクトラムである。スペクトラム３１・３２
は帯域が狭いので、スペクトラム３１・３２の差をとれ
ば、光強度の変化として光送出器３Ａと受光器５Ａの間
の特定ガスの有無を検出することができる。
の間に特定ガスがあるときの光強度測定器１０Ｂに入射
する光のスペクトラムである。スペクトラム３１・３２
は帯域が狭いので、スペクトラム３１・３２の差をとれ
ば、光強度の変化として光送出器３Ａと受光器５Ａの間
の特定ガスの有無を検出することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】図７では、分光器１０
Ａの分光測定によって、図１０のスペクトラム２３のよ
うにガスの有無を特定することができる。しかし、白色
光源１Ｂのため光源の絶対的な光強度が弱く、測定精度
をあげるのが困難である。
Ａの分光測定によって、図１０のスペクトラム２３のよ
うにガスの有無を特定することができる。しかし、白色
光源１Ｂのため光源の絶対的な光強度が弱く、測定精度
をあげるのが困難である。
【０００９】図１１では、特定波長光源１Ｃの波長帯に
吸収スペクトラムをもつ特定なガスだけを図１２と図１
３の差として測定する。このため、広帯域な測定をする
ことができない。また、特定波長光源１Ｃの光出力強度
の変化により、検出を誤ることもある。この発明は、高
出力光パルス発生器の出力をラマンファイバに入射させ
ることにより高出力で広帯域な光出力を発生させ、ガス
の有無による光出力の変化を検出し、時間軸上の波形と
して表示することにより、精度と確度の高いガス検出器
の提供を目的とする。
吸収スペクトラムをもつ特定なガスだけを図１２と図１
３の差として測定する。このため、広帯域な測定をする
ことができない。また、特定波長光源１Ｃの光出力強度
の変化により、検出を誤ることもある。この発明は、高
出力光パルス発生器の出力をラマンファイバに入射させ
ることにより高出力で広帯域な光出力を発生させ、ガス
の有無による光出力の変化を検出し、時間軸上の波形と
して表示することにより、精度と確度の高いガス検出器
の提供を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、高出力の光パルスを発生する高出力
光パルス発生器１Ａと、高出力光パルス発生器１Ａの光
パルスにより誘導ラマン散乱現象を起こすラマンファイ
バ２と、ラマンファイバ２の出力を光ビーム４Ａに変換
する光送出器３Ａと、光ビーム４Ａを受光する受光器５
Ａと、受光器５Ａの受光を波長の異なる波長λａの光と
波長λｂの光に分離選択する波長選択光分波器６と、波
長選択光分波器６の出力から光送出器３Ａと受光器５Ａ
の間のガスによる光の吸収がある波長λａの光を受光
し、電気信号に変換する光検出器７Ａと、波長選択光分
波器６の出力から光送出器３Ａと受光器５Ａの間のガス
による光の吸収がない波長λｂの光を受光し、電気信号
に変換する光検出器７Ｂと、光検出器７Ａの受光パルス
を時間軸上でサンプリングするサンプリング回路８Ａ
と、光検出器７Ｂの受光パルスを時間軸上でサンプリン
グするサンプリング回路８Ｂと、サンプリング回路８Ａ
とサンプリング回路８Ｂでサンプリングされた信号を処
理する信号処理回路９とを備え、光ビーム４Ａの強度の
変化を時間軸上の波形で表示し、光送出器３Ａと受光器
５Ａの間のガスの有無を検出する。
め、この発明では、高出力の光パルスを発生する高出力
光パルス発生器１Ａと、高出力光パルス発生器１Ａの光
パルスにより誘導ラマン散乱現象を起こすラマンファイ
バ２と、ラマンファイバ２の出力を光ビーム４Ａに変換
する光送出器３Ａと、光ビーム４Ａを受光する受光器５
Ａと、受光器５Ａの受光を波長の異なる波長λａの光と
波長λｂの光に分離選択する波長選択光分波器６と、波
長選択光分波器６の出力から光送出器３Ａと受光器５Ａ
の間のガスによる光の吸収がある波長λａの光を受光
し、電気信号に変換する光検出器７Ａと、波長選択光分
波器６の出力から光送出器３Ａと受光器５Ａの間のガス
による光の吸収がない波長λｂの光を受光し、電気信号
に変換する光検出器７Ｂと、光検出器７Ａの受光パルス
を時間軸上でサンプリングするサンプリング回路８Ａ
と、光検出器７Ｂの受光パルスを時間軸上でサンプリン
グするサンプリング回路８Ｂと、サンプリング回路８Ａ
とサンプリング回路８Ｂでサンプリングされた信号を処
理する信号処理回路９とを備え、光ビーム４Ａの強度の
変化を時間軸上の波形で表示し、光送出器３Ａと受光器
５Ａの間のガスの有無を検出する。
【００１１】
【作用】次に、第１の発明によるガス検出器の構成を図
１により説明する。図１の１Ａは高出力光パルス発生
器、２はラマンファイバ、６は波長選択光分波器、７Ａ
と７Ｂは光検出器、８Ａと８Ｂはサンプリング回路、９
は信号処理回路であり、その他は図７と同じものであ
る。すなわち、図１は図７の白色光源１Ｂを高出力光パ
ルス発生器１とラマンファイバ２に置き換え、分光器１
０Ａを波長選択光分波器６以降と置き換えたものであ
る。
１により説明する。図１の１Ａは高出力光パルス発生
器、２はラマンファイバ、６は波長選択光分波器、７Ａ
と７Ｂは光検出器、８Ａと８Ｂはサンプリング回路、９
は信号処理回路であり、その他は図７と同じものであ
る。すなわち、図１は図７の白色光源１Ｂを高出力光パ
ルス発生器１とラマンファイバ２に置き換え、分光器１
０Ａを波長選択光分波器６以降と置き換えたものであ
る。
【００１２】高出力光パルス発生器１Ａは、固体レーザ
や希土類元素を添加したファイバを利用したレーザ等を
使用する。例えばＥｒ3+を添加した光ファイバを1.48μ
ｍの励起光源で励起し、Ｑスイッチ発振させれば、1.55
μｍの中心波長で50Ｗ程度の高出力光パルスを得ること
ができる。
や希土類元素を添加したファイバを利用したレーザ等を
使用する。例えばＥｒ3+を添加した光ファイバを1.48μ
ｍの励起光源で励起し、Ｑスイッチ発振させれば、1.55
μｍの中心波長で50Ｗ程度の高出力光パルスを得ること
ができる。
【００１３】ラマンファイバ２は、分散シフトファイバ
や、金属元素を添加した光ファイバなどで構成され、高
出力の光が入射されると、ファイバ内で誘導ラマン散乱
現象を起こし、入力波長が1.55μｍであれば、1.55μｍ
から 1.7μｍ帯までの広帯域な光を出力したり、特定な
波長だけをシフトしたりする。
や、金属元素を添加した光ファイバなどで構成され、高
出力の光が入射されると、ファイバ内で誘導ラマン散乱
現象を起こし、入力波長が1.55μｍであれば、1.55μｍ
から 1.7μｍ帯までの広帯域な光を出力したり、特定な
波長だけをシフトしたりする。
【００１４】ラマンファイバ２の光出力は光送出器３Ａ
で光ビーム４Ａに変換され、受光器５Ａで受光された光
は波長選択光分波器６で波長の異なる波長λａと波長λ
ｂに波長選択される。波長λａの光は光検出器７Ａから
サンプリング回路８Ａに入り、光パルスの強度を測定さ
れ、波長λｂの光は光検出器７Ｂからサンプリング回路
８Ｂに入り、光パルスの強度を測定される。波長λａの
光をガスの吸収帯とし、波長λｂの光をガスの非吸収帯
とする。例えば波長λａを1.57μｍとし、波長λｂをメ
タンガスの吸収帯である 1.67μｍとする。
で光ビーム４Ａに変換され、受光器５Ａで受光された光
は波長選択光分波器６で波長の異なる波長λａと波長λ
ｂに波長選択される。波長λａの光は光検出器７Ａから
サンプリング回路８Ａに入り、光パルスの強度を測定さ
れ、波長λｂの光は光検出器７Ｂからサンプリング回路
８Ｂに入り、光パルスの強度を測定される。波長λａの
光をガスの吸収帯とし、波長λｂの光をガスの非吸収帯
とする。例えば波長λａを1.57μｍとし、波長λｂをメ
タンガスの吸収帯である 1.67μｍとする。
【００１５】次に、図１のスペクトラムを図２と図３に
より説明する。図２の１１は光送出器３Ａと受光器５Ａ
の間にガスがないときのスペクトラムであり、図３の１
２は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスがあるときの
スペクトラムである。図２と図３の横軸は波長λであ
る。
より説明する。図２の１１は光送出器３Ａと受光器５Ａ
の間にガスがないときのスペクトラムであり、図３の１
２は光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスがあるときの
スペクトラムである。図２と図３の横軸は波長λであ
る。
【００１６】図３では、ガスによるスペクトラムの吸収
が起こり、スペクトラム１２が得られる。ガスによる光
の吸収がある波長λａの光パルスは、吸収による光強度
の変化としてサンプリング回路８Ａで検出され、吸収が
ない波長λｂの光パルスはラマンファイバ２から出力さ
れる光強度の変動や、他の要因による損失をサンプリン
グ回路８Ｂによって監視される。吸収量はガス濃度・光
路長・ビーム径にもよるが 0.1％〜10％程度である。
が起こり、スペクトラム１２が得られる。ガスによる光
の吸収がある波長λａの光パルスは、吸収による光強度
の変化としてサンプリング回路８Ａで検出され、吸収が
ない波長λｂの光パルスはラマンファイバ２から出力さ
れる光強度の変動や、他の要因による損失をサンプリン
グ回路８Ｂによって監視される。吸収量はガス濃度・光
路長・ビーム径にもよるが 0.1％〜10％程度である。
【００１７】次に、図２と図３の波長をもつ光パルスを
サンプリング回路８Ａ・８Ｂで処理し、横軸を時間で現
わした波形を図４と図５により説明する。図４の１３は
吸収がない波長λｂの光をサンプリングしたものであ
り、図２に対応する。図５の１４はガスによる光の吸収
がある波長λａの光をサンプリングしたものであり、図
３に対応する。図４と図５を比較することによりガスに
よる光の吸収がある波長λａの光の変化を検出すること
ができる。光検出器７Ａ・７Ｂ、サンプリング回路８Ａ
・８Ｂ、信号処理回路９の部分は、時間軸上でサンプリ
ングする機能をもち、いわゆるサンプリングシンクロス
コープの役目をするものである。
サンプリング回路８Ａ・８Ｂで処理し、横軸を時間で現
わした波形を図４と図５により説明する。図４の１３は
吸収がない波長λｂの光をサンプリングしたものであ
り、図２に対応する。図５の１４はガスによる光の吸収
がある波長λａの光をサンプリングしたものであり、図
３に対応する。図４と図５を比較することによりガスに
よる光の吸収がある波長λａの光の変化を検出すること
ができる。光検出器７Ａ・７Ｂ、サンプリング回路８Ａ
・８Ｂ、信号処理回路９の部分は、時間軸上でサンプリ
ングする機能をもち、いわゆるサンプリングシンクロス
コープの役目をするものである。
【００１８】次に、第２の発明によるガス検出器の構成
を図６により説明する。図６の３Ｂは光方向性結合器、
５Ｂは送受光器、４Ｂは光ビーム、５Ｃは光反射体であ
り、その他は図１と同じものである。すなわち、図６は
図１の光送出器３Ａ、受光器５Ａの代わりに、光方向性
結合器３Ｂ、送受光器５Ｂ及び光反射体５Ｃを採用した
ものである。
を図６により説明する。図６の３Ｂは光方向性結合器、
５Ｂは送受光器、４Ｂは光ビーム、５Ｃは光反射体であ
り、その他は図１と同じものである。すなわち、図６は
図１の光送出器３Ａ、受光器５Ａの代わりに、光方向性
結合器３Ｂ、送受光器５Ｂ及び光反射体５Ｃを採用した
ものである。
【００１９】図６のラマンファイバ２の出力は光方向性
結合器３Ｂに入り、光方向性結合器３Ｂの直進出力は送
受光器５Ｂで光ビーム４Ｂに変換される。光ビーム４Ｂ
は光反射体５Ｃで反射され、光反射体５Ｃからの戻り光
は送受光器５Ｂで受光される。送受光器５Ｂで受光され
た戻り光は光方向性結合器３Ｂで分岐され、光方向性結
合器３Ｂの分岐出力は波長選択光分波器６で波長の異な
る波長λａの光と波長λｂの光に波長選択される。波長
選択光分波器６以降の作用は図１と同じである。
結合器３Ｂに入り、光方向性結合器３Ｂの直進出力は送
受光器５Ｂで光ビーム４Ｂに変換される。光ビーム４Ｂ
は光反射体５Ｃで反射され、光反射体５Ｃからの戻り光
は送受光器５Ｂで受光される。送受光器５Ｂで受光され
た戻り光は光方向性結合器３Ｂで分岐され、光方向性結
合器３Ｂの分岐出力は波長選択光分波器６で波長の異な
る波長λａの光と波長λｂの光に波長選択される。波長
選択光分波器６以降の作用は図１と同じである。
【００２０】
【発明の効果】この発明によれば、高出力光パルス発生
器の出力をラマンファイバに入射させることにより高出
力で広帯域な光出力を発生させ、ガスの有無により光出
力を変化を時間軸上の波形で表示させるので、ダイナミ
ックレンジが広く精度の高いガス検出をすることができ
る。また、光源の帯域を広くすることができるので、種
類の違うガスでも、光源の帯域内に吸収線をもつガスな
らば高い精度で検出することができる。さらに、光源と
して光ファイバレーザや、他の光学系にも光ファイバを
使用することができるので、取り扱いや調整が簡単にな
る。
器の出力をラマンファイバに入射させることにより高出
力で広帯域な光出力を発生させ、ガスの有無により光出
力を変化を時間軸上の波形で表示させるので、ダイナミ
ックレンジが広く精度の高いガス検出をすることができ
る。また、光源の帯域を広くすることができるので、種
類の違うガスでも、光源の帯域内に吸収線をもつガスな
らば高い精度で検出することができる。さらに、光源と
して光ファイバレーザや、他の光学系にも光ファイバを
使用することができるので、取り扱いや調整が簡単にな
る。
【図１】第１の発明によるガス検出器の構成図である。
【図２】図１の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
ないときのスペクトラムである。
ないときのスペクトラムである。
【図３】図１の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
あるときのスペクトラムである。
あるときのスペクトラムである。
【図４】図１の吸収がない波長λｂの光パルスをサンプ
リングし、時間軸上で現わした波形図である。
リングし、時間軸上で現わした波形図である。
【図５】図１の吸収がある波長λａの光パルスをサンプ
リングし、時間軸上で現わした波形図である。
リングし、時間軸上で現わした波形図である。
【図６】第２の発明によるガス検出器の構成図である。
【図７】従来技術によるガス検出器の構成図である。
【図８】図７の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
ないときのスペクトラムである。
ないときのスペクトラムである。
【図９】図７の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガスが
あるときのスペクトラムである。
あるときのスペクトラムである。
【図１０】図８と図９の差をとったときのスペクトラム
である。
である。
【図１１】従来技術による他のガス検出器の構成図であ
る。
る。
【図１２】図１１の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガ
スがないときのスペクトラムである。
スがないときのスペクトラムである。
【図１３】図１１の光送出器３Ａと受光器５Ａの間にガ
スがあるときのスペクトラムである。
スがあるときのスペクトラムである。
１Ａ 高出力光パルス発生器 ２ ラマンファイバ ３Ａ 光送出器 ３Ｂ 光方向性結合器 ４Ａ 光ビーム ４Ｂ 光ビーム ５Ａ 受光器 ５Ｂ 送受光器 ５Ｃ 光反射体 ６ 波長選択光分波器 ７Ａ 光検出器 ７Ｂ 光検出器 ８Ａ サンプリング回路 ８Ｂ サンプリング回路 ９ 信号処理回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中根 淑光 神奈川県横浜市鶴見区末広町１丁目７番７ 号 東京瓦斯株式会社生産技術センター内 (72)発明者 温井 一光 神奈川県横浜市鶴見区末広町１丁目７番７ 号 東京瓦斯株式会社生産技術センター内 (72)発明者 瀬戸 実 神奈川県横浜市鶴見区末広町１丁目７番７ 号 東京瓦斯株式会社生産技術センター内
Claims (2)
- 【請求項１】 高出力の光パルスを発生する高出力光パ
ルス発生器(1A)と、 高出力光パルス発生器(1A)の光パルスにより誘導ラマン
散乱現象を起こすラマンファイバ(2) と、 ラマンファイバ(2) の出力を光ビーム(4A)に変換する光
送出器(3A)と、 光ビーム(4A)を受光する受光器(5A)と、 受光器(5A)の受光を波長の異なる波長λａの光と波長λ
ｂの光に分離選択する波長選択光分波器(6) と、 波長選択光分波器(6) の出力から光送出器(3A)と受光器
(5A)の間のガスによる光の吸収がある波長λａの光を受
光し、電気信号に変換する第１の光検出器(7A)と、 波長選択光分波器(6) の出力から光送出器(3A)と受光器
(5A)の間のガスによる光の吸収がない波長λｂの光を受
光し、電気信号に変換する第２の光検出器(7B)と、 第１の光検出器(7A)の受光パルスを時間軸上でサンプリ
ングする第１のサンプリング回路(8A)と、 第２の光検出器(7B)の受光パルスを時間軸上でサンプリ
ングする第２のサンプリング回路(8B)と、 第１のサンプリング回路(8A)と第２のサンプリング回路
(8B)でサンプリングされた信号を処理する信号処理回路
(9) とを備え、 光ビーム(4A)の強度の変化を時間軸上の波形で表示し、
光送出器(3A)と受光器(5A)の間のガスの有無を検出する
ことを特徴とする光によるガス検出器。 - 【請求項２】 高出力の光パルスを発生する高出力光パ
ルス発生器(1A)と、 高出力光パルス発生器(1A)の光パルスにより誘導ラマン
散乱現象を起こすラマンファイバ(2) と、 ラマンファイバ(2) の出力を入力とする光方向性結合器
(3B)と、 光方向性結合器(3B)の直進出力を光ビーム(4B)に変換す
る送受光器(5B)と、 光ビーム(4B)を反射する光反射体(5C)と、 光反射体(5C)による光ビーム(4B)の戻り光を送受光器(5
B)で受光し、送受光器(5B)で受光した戻り光を光方向性
結合器(3B)で分岐し、光方向性結合器(3B)の分岐光を波
長の異なる波長λａの光と波長λｂの光に分離選別する
波長選択光分波器(6) と、 波長選択光分波器(6) の出力から送受光器(5B)と光反射
体(5C)の間のガスによる光の吸収がある波長λａの光を
受光し、電気信号に変換する第１の光検出器(7A)と、 波長選択光分波器(6) の出力から送受光器(5B)と光反射
体(5C)の間のガスによる光の吸収がない波長λｂの光を
受光し、電気信号に変換する第２の光検出器(7B)と、 第１の光検出器(7A)の受光パルスを時間軸上でサンプリ
ングする第１のサンプリング回路(8A)と、 第２の光検出器(7B)の受光パルスを時間軸上でサンプリ
ングする第２のサンプリング回路(8B)と、 第１のサンプリング回路(8A)と第２のサンプリング回路
(8B)でサンプリングされた信号を処理する信号処理回路
(9) とを備え、 光ビーム(4B)の強度の変化を時間軸上の波形で表示し、
送受光器(5B)と反射体(5C)の間のガスの有無を検出する
ことを特徴とする光によるガス検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1425093A JPH06229915A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | 光によるガス検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1425093A JPH06229915A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | 光によるガス検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06229915A true JPH06229915A (ja) | 1994-08-19 |
Family
ID=11855848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1425093A Pending JPH06229915A (ja) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | 光によるガス検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06229915A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0758084A2 (en) | 1995-08-09 | 1997-02-12 | Kyoto Dai-ichi Kagaku Co., Ltd. | Optical measuring method of expiration components |
-
1993
- 1993-01-29 JP JP1425093A patent/JPH06229915A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0758084A2 (en) | 1995-08-09 | 1997-02-12 | Kyoto Dai-ichi Kagaku Co., Ltd. | Optical measuring method of expiration components |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000321 |