JPH06212422A - 高温超伝導酸化物薄膜の改質方法 - Google Patents

高温超伝導酸化物薄膜の改質方法

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JPH06212422A
JPH06212422A JP3065293A JP6529391A JPH06212422A JP H06212422 A JPH06212422 A JP H06212422A JP 3065293 A JP3065293 A JP 3065293A JP 6529391 A JP6529391 A JP 6529391A JP H06212422 A JPH06212422 A JP H06212422A
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temperature superconducting
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Kazuo Saito
一男 斉藤
Masaji Kaise
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Abstract

(57)【要約】 【目的】超伝導相と非超伝導相の構造および組成を制御
し、超伝導特性を向上させることのできるイオン注入法
による高温超伝導酸化物薄膜の改質方法を提供する。 【構成】特定の構成原子を選択的に変位させるイオン種
を高温超伝導酸化物薄膜に注入する。

Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】この発明は、高温超伝導酸化物薄
膜の改質方法に関するものである。さらに詳しくは、こ
の発明は、超伝導相と非超伝導相の構造および組成を制
御し、超伝導特性を向上させることのできるイオン注入
法による高温超伝導酸化物薄膜の改質方法に関するもの
である。
【従来の技術とその課題】従来より、高温超伝導酸化物
薄膜については、真空加熱蒸着法、スパッタ蒸着法また
は気相成長法により作製してきている。しかしながら、
その製造においては、超伝導相を生成させるための熱処
理条件が厳しく、通常、熱処理温度は900 ℃近い高温で
あり、また、許容温度範囲は5℃以下という狭い温度範
囲に限定されるために、高温熱処理中の質量変化や組成
変化などが避けられず、再現性よく高温超伝導酸化物薄
膜を製造することが難しいという問題があった。また、
一度作製した超伝導酸化物薄膜に高温処理を施さずに低
温処理で超伝導相の構造や超伝導特性を改善することは
困難でもあった。このため、従来法では、超伝導酸化物
薄膜の超伝導相構造および超伝導特性を改善し、均一性
や安定性を付与することは困難であった。この発明は、
以上の通りの事情に鑑みてなされたものであり、従来の
高温超伝導酸化物薄膜の作製法についての欠点を解消
し、超伝導相と非超伝導相の構造および組成を制御し、
超伝導特性を向上させることのできる、新しいイオン注
入法による高温超伝導酸化物薄膜の改質方法を提供する
ことを目的としている。
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の課題
を解決するものとして、特定の構成原子を選択的に変位
させるイオン種を高温超伝導酸化物薄膜に注入すること
を特徴とするイオン注入法による高温超伝導酸化物薄膜
の改質方法を提供する。この発明の高温超伝導酸化物薄
膜の改質方法においては、イオンの表面スパッタ効果に
よる表面組成の変化を避けるために、イオン加速電圧を
50keV以上とし、かつイオン注入量を1015個/cm
2 以上とすることが好ましい。このイオン注入量は、1
15〜1018個/cm2 の範囲とするのが特に好ましい。
また、Ca等の特定の原子の変位を有効に生じさせるた
めには、イオン注入温度は低温であればあるほど好まし
く、たとえば300Kから10Kまでの範囲を例示する
ことができる。さらにまたこの発明においては、イオン
注入後の熱処理を800℃以下の温度、たとえば600〜7
90℃で行うことを好ましい態様としてもいる。
【実施例】以下実施例を示し、この発明の高温超伝導酸
化物薄膜の改質方法についてさらに詳しく説明する。マ
グネトロン・スパッタ法によりMgO基板上に厚さ0.5
μmのBiSrCaCuO超伝導酸化物薄膜を蒸着した
後に、870 〜900 ℃の範囲で温度を変えて大気中熱処理
を施し、高温相および低温相の2相を含む混合相膜(試
料1)、低温相を主体とする単相膜(試料2)、および
Ca−欠乏相を主体とする単相膜(試料3)を各々作製
した。BiSrCaCuO超伝導酸化物においては、C
a原子層の構造が超伝導特性を支配している。そこで、
Ca原子を優先的に変位させるために、イオン種として
質量数が同程度であるArイオンを選択した。このAr
イオンに対する各構成原子の核弾性衝突散乱断面積を示
したものが表1である。
【表1】 表1からも明らかなように、結合状態を考慮すると、C
a原子の変位確率が最大となっている。以上の3つの薄
膜試料を室温300Kから低温10Kまで冷却し、その各
々にArイオンを加速電圧50keV以上で照射し、1
15〜1018個/cm2 の範囲で注入した。この後に、60
0 〜790 ℃までの温度範囲で段階的に1時間の大気中熱
処理を行った。こうして得られた薄膜試料の各々につい
て、X線回折法と電気抵抗測定法によりその構造変化と
超伝導特性とを調べた。図1は、試料1にArイオンを
2×1016個/cm2 注入した後に、730 ℃まで熱処理し
た時の超伝導酸化物薄膜の温度と電気抵抗との関係を、
未処理の試料とともに示した相関図である。この図1か
らも明らかなように、未処理材(1)の超伝導遷移温度
Tcは60Kと低いが、処理材(2)では完全に回復し
Tc=80Kとなった。また、低温相に対する高温相の
体積比(H/L)も未処理材(1)の場合と比べて約2
倍まで改善された。さらに、処理材(2)の高温相生成
のための最適熱処理温度は730 〜760 ℃となり、従来の
未処理材(1)の場合よりも100 ℃以上低温化すること
ができるとともに、その許容温度範囲を5℃から30℃
までへと約6倍に拡張できることが確認された。図2
は、試料2にArイオンを5×1015個/cm2 注入した
後に、790 ℃まで熱処理した時の超伝導酸化物薄膜の温
度と電気抵抗との関係を、未処理の試料とともに示した
相関図である。図2からも明らかなように、未処理材
(3)はTc=75Kであったが、処理材(4)はTc
=80Kにまで上昇した。また、Tc=105 Kの高温相
が新たに生成し、薄膜の相構造が改質された。図3は、
試料3にArイオンを2×1017個/cm2 注入した後
に、790 ℃まで熱処理した時の超伝導酸化物薄膜の温度
と電気抵抗との関係を、未処理の試料とともに示した相
関図である。図3からも明らかなように、未処理材
(5)は半導体的性質を有し、超伝導性を示さなかった
が、処理材は(6)はTc=78Kの良好な超伝導単相
膜に改質された。以上の結果をまとめて示したものが表
2である。
【表2】 このように、低温でArイオンを注入することにより、
Ca原子を優先的に変位させることができ、その後の比
較的低温での熱処理によって、Ca原子の再配列が生
じ、低温相から高温相、また、Ca−欠乏相から低温相
へと構造を改質させることができた。これによって、超
伝導遷移温度Tcおよび超伝導相の量比の超伝導特性を
改善することが確認された。もちろんこの発明は、以上
の例によって限定されるものではない。高温超伝導酸化
物薄膜の種類および膜厚、注入するイオン種および注入
量、また、熱処理温度等の細部については様々な態様が
可能であることはいうまでもない。
【発明の効果】以上詳しく説明した通り、この発明によ
れば、イオン種を超伝導酸化物薄膜に応じて適当に選択
することにより特定の構成原子を選択的に変位させるこ
とができ、超伝導相構造および超伝導特性を再生・改質
することができる。また、超伝導相を生成させるための
熱処理温度を低下させることができ、その許容温度範囲
を拡張することも可能となる。さらには、イオン照射に
より薄膜表面の平坦化が進行し、安定性、電気接触性、
均一性等が向上するため、超伝導薄膜デバイス素子の表
面処理加工プロセスとして優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の改質法により処理した高温相と低温
相の混合相からなるBiSrCaCuO超伝導酸化物薄
膜の温度と電気抵抗との関係を、未処理の試料とともに
示した相関図である。
【図2】この発明の改質法により処理した低温相を主体
とするBiSrCaCuO超伝導酸化物薄膜の温度と電
気抵抗との関係を、未処理の試料とともに示した相関図
である。
【図3】この発明の改質法により処理したCa−欠乏相
を主体とするBiSrCaCuO超伝導酸化物薄膜の温
度と電気抵抗との関係を、未処理の試料とともに示した
相関図である。
【符号の説明】
1,3,5 未処理材 2,4,6 処理材
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年2月3日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【図2】
【図3】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 39/24 F 9276−4M // H01B 12/06 ZAA 7244−5G

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 特定の構成原子を選択的に変位させるイ
    オン種を高温超伝導酸化物薄膜に注入することを特徴と
    するイオン注入法による高温超伝導酸化物薄膜の改質方
    法。
  2. 【請求項2】 イオン加速電圧を50keV以上とし、
    かつイオン注入量を1015個/cm2 以上とする請求項1
    の高温超伝導酸化物薄膜の改質方法。
  3. 【請求項3】 イオン注入温度を300Kから10Kま
    での範囲とする請求項1の高温超伝導酸化物薄膜の改質
    方法。
  4. 【請求項4】 イオン注入後、800℃以下の温度で熱
    処理する請求項1の高温超伝導酸化物薄膜の改質方法。
  5. 【請求項5】 Arイオンを照射注入し、Caを変位さ
    せて、BiSrCaCuO超伝導酸化物薄膜を改質させ
    る請求項1の高温超伝導酸化物薄膜の改質方法。
JP3065293A 1991-03-07 1991-03-07 高温超伝導酸化物薄膜の改質方法 Expired - Lifetime JP2662609B2 (ja)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6412428A (en) * 1987-07-07 1989-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of superconducting film
JPS6489572A (en) * 1987-09-30 1989-04-04 Nec Corp Manufacture of high temperature superconducting thin film
JPH01119076A (ja) * 1987-10-30 1989-05-11 Nec Corp 酸化物超伝導体膜の製造方法
JPH02181483A (ja) * 1989-01-06 1990-07-16 Shimadzu Corp 超電導回路の製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6412428A (en) * 1987-07-07 1989-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacture of superconducting film
JPS6489572A (en) * 1987-09-30 1989-04-04 Nec Corp Manufacture of high temperature superconducting thin film
JPH01119076A (ja) * 1987-10-30 1989-05-11 Nec Corp 酸化物超伝導体膜の製造方法
JPH02181483A (ja) * 1989-01-06 1990-07-16 Shimadzu Corp 超電導回路の製造方法

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