JPH06204124A - 軟x線像露光法 - Google Patents

軟x線像露光法

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JPH06204124A
JPH06204124A JP5016766A JP1676693A JPH06204124A JP H06204124 A JPH06204124 A JP H06204124A JP 5016766 A JP5016766 A JP 5016766A JP 1676693 A JP1676693 A JP 1676693A JP H06204124 A JPH06204124 A JP H06204124A
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JP
Japan
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soft
ray
rays
interference fringes
sensitive substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP5016766A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroo Kinoshita
博雄 木下
Kenji Kurihara
健二 栗原
Tsutomu Mizota
勉 溝田
Tsuneyuki Haga
恒之 芳賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPH06204124A publication Critical patent/JPH06204124A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70408Interferometric lithography; Holographic lithography; Self-imaging lithography, e.g. utilizing the Talbot effect

Abstract

(57)【要約】 【目的】 格子状パタ―ンを有する像を、その格子状パ
タ―ンが比較的小さな最小ピッチを有しているものとし
て、基板上に、容易に、露光・記録させる。 【構成】 (a)軟X線源からの軟X線から、スプリッ
タを用いて、2つの軟X線を得、次で、それら2つの軟
X線から、2つの平行波形成用光学系をそれぞれ用い
て、2つの平行波軟X線を得、または、(b)軟X線源
からの軟X線から、平行波形成用光学系を用いて平行波
軟X線を得、次で、その平行波軟X線から、スプリッタ
を用いて、2つの平行波軟X線を得、上記(a)または
(b)で得られる上記2つの平行波軟X線にもとずき、
それらの干渉縞を感X線性基板上で得、それによって、
その感X線性基板を、上記干渉縞によって露光させ、よ
って、上記干渉縞を、上記感X線性基板上に、格子状パ
タ―ンを有する像として記録させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、格子状パタ―ンを有す
る軟X線像を感X線性基板上に記録させるための軟X線
像露光法に関し、半導体集積回路装置をエッチング用な
どの格子状パタ―ンを有するマスクを用いて製造する場
合の、その格子状パタ―ンを有するマスクを形成する場
合に適用し得るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、図4を伴って次に述べるレーザ光
像露光法が提案されている。
【0003】すなわち、(a)レーザ光源1からのレー
ザ光2をレーザ光スプリッタ3に供給されることによっ
て、レーザ光スプリッタ3から、レーザ光2にもとずく
2つのレーザ光4及び5を得、(b)それらレーザ光4
及び5を平行波形成用光学系6及び7にそれぞれ供給さ
せることによって、それら平行波形成用光学系6及び7
から、レーザ光4及び5にもとずく平行波でなるレーザ
光8及び9を得、(c)それらレーザ光8及び9にもと
ずき、それらの干渉縞10を、表面上に感レーザ光層1
1を有することによって感レーザ光性を有する感レーザ
光性基板12上で得、それによってその感レーザ光性基
板12を、レーザ光8及び9の干渉縞10によって露光
させ、(d)よって、その干渉縞10を、感レーザ光性
基板12上に、格子状パタ―ンを有するレーザ光像とし
て記録させる。
【0004】この場合、平行波形成用光学系6及び7と
して、平面反射鏡21、凸レンズ22、ピンホ―ル2
3、放物面反射鏡24が、レーザ光スプリッタ3側から
感レーザ光性基板12側に向って、それらの順に配列さ
れている構成を有するものを用いる。
【0005】以上が、従来提案されているレーザ光像露
光法である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような従来提案さ
れているレーザ光像露光法の場合、レーザ光源1から得
られるレーザ光2にもとずき得られた平行波でなる2つ
のレーザ光8及び9による干渉縞10を、感レーザ光性
基板12上に、格子状パタ―ンを有するレーザ光像とし
て記録させるようにしているため、レーザ光像を、その
格子状パタ―ンがレーザ光源1から得られるレーザ光2
の波長に応じた比較的大きな最小ピッチ(0.2μm程
度)を有しているものとしてしか、感レーザ光性基板1
2上に記録させることができない。従って、格子状パタ
―ンを有する像を、その格子状パタ―ンが比較的大きな
最小ピッチを有しているものとしてしか、基板上に記録
することができない、という欠点を有していた。
【0007】よって、本発明は、上述した欠点のない、
新規な軟X線像露光法を提案せんとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願第1番目の発明によ
る軟X線像露光法は、(a)軟X線源からの第1の軟X
線を軟X線スプリッタに供給させることによって、上記
軟X線スプリッタから、上記第1の軟X線にもとずく第
2及び第3の軟X線を得、(b)上記第2及び第3の軟
X線を第1及び第2の平行波形成用光学系にそれぞれ供
給させることによって、上記第1及び第2の平行波形成
用光学系から、上記第2及び第3の軟X線にもとずく平
行波でなる第4及び第5の軟X線をそれぞれ得、(c)
上記第4及び第5の軟X線にもとずき、それらの干渉縞
を、感X線性基板上で得、それによって、上記感X線性
基板を、上記干渉縞によって露光させ、(d)よって、
上記干渉縞を、上記感X線性基板上に、格子状パタ―ン
を有する軟X線像として記録させる。
【0009】本願第2番目の発明による軟X線像露光法
は、(a)軟X線源からの第1の軟X線を平行波形成用
光学系に供給させることによって、上記平行波形成用光
学系から、上記第1の軟X線にもとずく平行波でなる第
2の軟X線を得、(b)上記第2の軟X線を、軟X線ス
プリッタに供給させることによって、上記軟X線スプリ
ッタから、上記第2の軟X線にもとずく平行波でなる第
3及び第4の軟X線を得、(c)上記第3及び第4の軟
X線にもとずき、それらの干渉縞を、感X線性基板上で
得、それによって、上記感X線性基板を、上記干渉縞に
よって露光させ、(d)よって、上記干渉縞を、上記感
X線性基板上に、格子状パタ―ンを有する軟X線像とし
て記録させる。
【0010】
【作用・効果】本願第1番目の発明及び本願第2番目の
発明による軟X線像露光法の場合、軟X線源から得られ
る第1の軟X線にもとずき得られた平行波でなる2つの
軟X線(本願第1番目の発明の場合第4及び第5の軟X
線、本願第2番目の発明の場合第3及び第4の軟X線)
による干渉縞を、感X線性基板上に、格子状パタ―ンを
有する軟X線像として、記録させるようにしているの
で、その軟X線像を、その格子状パタ―ンが軟X線源か
ら得られる第1の軟X線の波長に応じた、図4で前述し
た従来のレーザ光像露光法の場合のレーザ光像の格子状
パタ―ンの最小ピッチに比し小さな最小ピッチを有して
いるものとして記録させることができる。従って、格子
状パタ―ンを有する像を、格子状パタ―ンが、図4で前
述した従来のレーザ光像露光法による場合に比し小さな
最小ピッチを有するものとして、基板上に容易に得るこ
とができる。
【0011】
【実施例1】次に、図1を伴って、本発明による軟X線
像露光法の第1の実施例を述べよう。
【0012】図1に示す本発明による軟X線像露光法
は、(a)軟X線源31からの第1の軟X線32を軟X
線スプリッタ33に供給させることによって、その軟X
線スプリッタ33から、第1の軟X線32にもとずく第
2及び第3の軟X線34及び35を得、(b)次で、そ
れら第2及び第3の軟X線34及び34を第1及び第2
の平行波形成用光学系36及び37にそれぞれ供給させ
ることによって、第1及び第2の平行波形成用光学系3
6及び37から、第2及び第3の軟X線34及び35に
もとずく波面の揃った平行波でなる第4及び第5の軟X
線38及び39をそれぞれ得、(c)次で、それら第4
及び第5の軟X線38及び39にもとずき、それらの干
渉縞40を、第4及び第5の軟X線38及び39に対し
て軟X線平面反射鏡42及び43をそれぞれ用いて、表
面上に感X線層25を有することによって感X線性を有
する感X線性基板44上で得、それによって、感X線性
基板44を、干渉縞40によって露光させ、(d)よっ
て、干渉縞40を、感X線性基板44上に、格子状パタ
―ンを有する軟X線像として記録させる。
【0013】この場合、第1及び第2の平行波形成用光
学系36及び37として、ピンホ―ル51、軟X線曲面
反射鏡52及び53が、軟X線源31側から感X線性基
板44側に向って、それらの順に配列されている構成を
有するものを用いる。
【0014】以上が、本発明による軟X線像露光法の第
1の実施例である。
【0015】このような本発明による軟X線像露光法の
第1の実施例の場合、軟X線源31から得られる第1の
軟X線32にもとずき得られた平行波でなる2つの第4
及び第5の軟X線38及び39による干渉縞40を、感
X線性基板44上に格子状パタ―ンを有する軟X線像と
して記録させるようにしているので、その軟X線像を、
その格子状パタ―ンが軟X線源31から得られる第1の
軟X線32の波長に応じた、図4で前述した従来のレー
ザ光像露光法の場合のレーザ光像の格子状パタ―ンの最
小ピッチに比し小さな最小ピッチを有しているものとし
て、記録させることができる。従って、格子状パタ―ン
を有する像を、格子状パタ―ンが、図4で前述した従来
のレーザ光像露光法による場合に比し小さな最小ピッチ
を有するものとして、基板上に容易に得ることができ
る。
【0016】
【実施例2】次に、図2を伴って、本発明による軟X線
像露光法の第2の実施例を述べよう。
【0017】図2において、図1との対応部分に同一符
号を付し、詳細説明を省略する。
【0018】図2に示す本発明による軟X線像露光法
は、平行波形成用光学系36及び37として、ピンホ―
ル51、軟X線曲面反射鏡52及び53が、軟X線源3
1側から感X線性基板44側に向って、それらの順に配
列されている構成を有するものを用いるのに代え、ピン
ホ―ル51、フレネルゾ―ンプレ―ト54、ピンホ―ル
55、軟X線曲面反射鏡56が、軟X線源31側から感
X線性基板44側に向って、それらの順に配列されてい
る構成を有するものを用いることを除いて、図1に示す
本発明による軟X線像露光法の第1の実施例の場合と同
様である。
【0019】図2に示す本発明による軟X線像露光法の
第2の実施例によれば、上述した事項を除いて、図1に
示す本発明による軟X線像露光法の第1の実施例の場合
と同様であるので、詳細説明は省略するが、図1に示す
本発明による第1の実施例の場合と同様の作用効果が得
られることは明らかである。
【0020】
【実施例3】次に、図3を伴って、本発明による軟X線
像露光法の第3の実施例を述べよう。
【0021】図3に示す本発明による軟X線像露光法の
第3の実施例は、(a)図1に示す本発明による軟X線
像露光法の第1の実施例の場合と同様の軟X線源31か
らの第1の軟X線32を平行波形成用光学系60に供給
させることによって、その平行波形成用光学系60か
ら、第1の軟X線32にもとずく波面の揃った平行波で
なる第2の軟X線62を得、(b)次で、その第2の軟
X線62を、軟X線スプリッタ61に供給させることに
よって、その軟X線スプリッタ61から、第2の軟X線
62にもとずく波面の揃った平行波でなる第3及び第4
の軟X線63及び64を得、(c)次で、それら第3及
び第4の軟X線63及び64にもとずき、それらの図1
に示す本発明による軟X線像露光法の第1の実施例の場
合と同様の干渉縞40を、第3及び第4の軟X線63及
び64に対して、軟X線平面反射鏡66及び67をそれ
ぞれ用いて、同様の感X線層45を有する感X線性基板
44上で得、(d)それによって、感X線性基板44
を、干渉縞40によって露光させ、(e)よって、図1
に示す本発明による軟X線像露光法の第1の実施例の場
合と同様に、干渉縞40を、感X線性基板44上に、格
子状パタ―ンを有する軟X線像として記録させる。
【0022】この場合、平行波形成用光学系60とし
て、ピンホ―ル71、フレネルゾ―ンプレ―ト72、ピ
ンホ―ル73、軟X線曲面反射鏡74が、軟X線源31
側から軟X線スプリッタ61側に向って、それらの順に
配列されている構成を有するものを用いる。
【0023】以上が、本発明による軟X線像露光法の第
3の実施例である。
【0024】このような本発明による軟X線像露光法の
第3の実施例の場合も、図1に示す本発明による軟X線
像露光法の第1の実施例の場合に準じて、軟X線源31
から得られる第1の軟X線32にもとずき得られた平行
波でなる2つの第3及び第4の軟X線63及び64によ
る干渉縞40を、感X線性基板44上に格子状パタ―ン
を有する軟X線像として記録させるようにしているの
で、詳細説明は省略するが、図1に示す本発明による軟
X線像露光法の第1の実施例の場合と同様の作用効果が
得られることは明らかである。
【0025】なお、上述においては本発明のわずかな実
施例を示したに留まり、本発明の精神を脱することなし
に、種々の変型、変更をなし得るであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による軟X線像露光法の第1の実施例の
説明に供する略線図である。
【図2】本発明による軟X線像露光法の第2の実施例の
説明に供する略線図である。
【図3】本発明による軟X線像露光法の第3の実施例の
説明に供する略線図である。
【図4】従来の軟X線像露光法の説明に供する略線図で
ある。
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 レーザ光 3 レーザ光スプリッタ 4、5 レーザ光 6、7 平行波形成用光学系 8、9 レーザ光 10 干渉縞 31 軟X線源 32 軟X線 33 軟X線スプリッタ 34、35 軟X線 36、37 平行波形成用光学系 38、39 軟X線 40 干渉縞 42、43 軟X線平面反射鏡 44 感X線性基板 45 感X線層 60 平行波形成用光学系 61 軟X線スプリッタ 62、63、64 軟X線 66、67 軟X線平面反射鏡
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 芳賀 恒之 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軟X線源からの第1の軟X線を軟X線ス
    プリッタに供給させることによって、上記軟X線スプリ
    ッタから、上記第1の軟X線にもとずく第2及び第3の
    軟X線を得、 上記第2及び第3の軟X線を第1及び第2の平行波形成
    用光学系にそれぞれ供給させることによって、上記第1
    及び第2の平行波形成用光学系から、上記第2及び第3
    の軟X線にもとずく平行波でなる第4及び第5の軟X線
    をそれぞれ得、 上記第4及び第5の軟X線にもとずき、それらの干渉縞
    を、感X線性基板上で得、それによって、上記感X線性
    基板を、上記干渉縞によって露光させ、 よって、上記干渉縞を、上記感X線性基板上に、格子状
    パタ―ンを有する軟X線像として記録させることを特徴
    とする軟X線像露光法。
  2. 【請求項2】 軟X線源からの第1の軟X線を平行波形
    成用光学系に供給させることによって、上記平行波形成
    用光学系から、上記第1の軟X線にもとずく平行波でな
    る第2の軟X線を得、 上記第2の軟X線を、軟X線スプリッタに供給させるこ
    とによって、上記軟X線スプリッタから、上記第2の軟
    X線にもとずく平行波でなる第3及び第4の軟X線を
    得、 上記第3及び第4の軟X線にもとずき、それらの干渉縞
    を、感X線性基板上で得、それによって、上記感X線性
    基板を、上記干渉縞によって露光させ、 よって、上記干渉縞を、上記感X線性基板上に、格子状
    パタ―ンを有する軟X線像として記録させることを特徴
    とする軟X線像露光法。
JP5016766A 1993-01-06 1993-01-06 軟x線像露光法 Pending JPH06204124A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011508443A (ja) * 2007-12-28 2011-03-10 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. 超高解像度パターニング用スキャンeuv干渉イメージング

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011508443A (ja) * 2007-12-28 2011-03-10 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. 超高解像度パターニング用スキャンeuv干渉イメージング

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