JPH06189204A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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Publication number
JPH06189204A
JPH06189204A JP43A JP35537192A JPH06189204A JP H06189204 A JPH06189204 A JP H06189204A JP 43 A JP43 A JP 43A JP 35537192 A JP35537192 A JP 35537192A JP H06189204 A JPH06189204 A JP H06189204A
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JP
Japan
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pixel
solid
imaging device
state imaging
photodiode
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Withdrawn
Application number
JP43A
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English (en)
Inventor
Masayuki Uno
正幸 宇野
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 画素内で消費するバイアス電流を必要最小限
に抑えながら、高輝度時に対する追従性を良好にすると
共に高速読み出し動作を可能とする固体撮像装置を提供
する。 【構成】 フォトダイオード1と、フォトダイオード1
にゲートを接続したn型MOSトランジスタ2と、フォ
トダイオード1とn型MOSトランジスタ2のドレイン
間に接続した容量素子3及びリセット用n型MOSトラ
ンジスタ5と、n型MOSトランジスタ2のドレインに
接続された負荷用p型MOSトランジスタ4,容量素子
12及び選択用n型MOSトランジスタ6とで単位画素を
構成し、前記負荷用p型MOSトランジスタ4のゲート
にバイアス電流を設定するバイアス回路16の出力電圧を
印加し、画素のバイアス電流を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、複数の画素で構成さ
れるフォトダイオードアレイを有するラインセンサ等の
固体撮像装置に関し、特に、各画素毎に増幅機能を備え
た増幅型固体撮像装置において、消費電流を低減すると
共に高輝度時における画素内部の増幅器の追従性を確保
でき、更に読み出し速度も劣化しないようにした固体撮
像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、固体撮像装置としては、MOS
型,CCD型等の各画素で発生した光電荷自体を転送し
て読み出す方式の固体撮像装置のほかに、各画素毎に増
幅機能を設け、各画素内で発生した光電荷に対応した増
幅出力を読み出す増幅型固体撮像装置が知られている。
【0003】この増幅機能を有する画素の構成の一例と
して、図12に示す構成のものが、特願平4−36922
号に開示されている。図12において、1はフォトダイオ
ードであり、2はn型MOSトランジスタで、ソースを
接地し、ドレインには負荷及び電流源として動作するp
型MOSトランジスタ4を接続することにより、ソース
接地型の増幅回路を構成している。そして、このソース
接地型増幅回路の入力端子、すなわちn型MOSトラン
ジスタ2のゲートにフォトダイオード1を接続し、ソー
ス接地型増幅回路の出力端子、すなわちn型MOSトラ
ンジスタ2のドレインから入力端子(n型MOSトラン
ジスタ2のゲート)に容量素子3を接続して帰還をかけ
ると共に、n型MOSトランジスタ2のゲートの初期電
位を設定するためのリセット用n型MOSトランジスタ
5を容量素子3と並列に接続する。そして、この構成の
ものを画素(基本セル)とし、この画素を1次元又は2
次元的に配列したときに、読み出し画素を選択するため
の、シフトレジスタパルスで駆動される選択用n型MO
Sトランジスタ6を設け、該n型MOSトランジスタ6
をONしたときに、信号出力線7にn型MOSトランジ
スタ2のドレイン電圧が現れるように構成している。
【0004】次に、このように構成した画素の動作につ
いて説明する。まず、リセット用n型MOSトランジス
タ5のゲートに印加されるリセットパルスφR を“H”
レベルとすると、容量素子3に蓄積された電荷がはき出
されて、リセット状態となる。この後、φR =“L”に
切り換えた時点から、フォトダイオード1で発生した光
電荷が容量素子3に蓄積し、n型MOSトランジスタ2
のドレイン電圧が蓄積された光電荷に応じて上昇する。
そして、この電圧を選択用n型MOSトランジスタ6を
ONして信号出力線7から読み出し、画素信号出力を出
力端子VOUT より出力する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図12に示し
た構成の画素をアレイ状に並べてラインセンサ等を構成
する場合、次に述べる問題点がある。すなわち、図12に
示した構成の画素は、p型MOSトランジスタ4のゲー
ト電圧VBIASにより決定されるバイアス電流IBIASが定
常的に流れ続けているため、多画素になればなるほど消
費電流が大きくなる。したがって、IBIASはなるべく小
さくしなければならない。
【0006】しかしながら、このバイアス電流I
BIASは、次の2つの理由で、極端に小さくすることはで
きない。まず第1の理由は、画素内の増幅回路の高輝度
時における追従性の問題である。フォトダイオード1に
強い光が入射する場合、単位時間あたりに発生する光電
荷は非常に多くなるため、それに対応してn型MOSト
ランジスタ2のドレイン電圧も急峻に立ち上がらなけれ
ばならないが、バイアス電流IBIASが小さいと、n型M
OSトランジスタ2のドレイン電圧の上昇率は、入射光
に追従できなくなる。したがって、明るい光に対応する
ためには、バイアス電流IBIASを大きくしなければなら
ない。
【0007】第2の理由は、読み出し速度の問題であ
る。通常、画素数が多くなるにしたがって、読み出し速
度を上げて、センサのデータを短時間で信号処理したい
という要求が強くなる。しかし画素数が多くなると、信
号出力線7上の寄生容量が大きくなり、したがって、図
12に示した画素におけるp型MOSトランジスタ4のバ
イアス電流IBIASが小さいと、選択用n型MOSトラン
ジスタ6をONしてから、信号出力線7が画素に対応し
た電圧に落ち着くまでに要する時間は長くなる。したが
って、信号出力線寄生容量の増大を伴う画素数の多いセ
ンサにおいて、読み出し速度を上げるためには、バイア
ス電流IBIASをますます大きくしなければならなくな
る。
【0008】本発明は、従来の構成の画素を用いた固体
撮像装置における上記問題点を解消するためになされた
もので、高輝度時の追従性及び読み出し速度の改善を解
決し、且つバイアス電流を可及的に小さくして消費電流
を低減した固体撮像装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段及び作用】上記問題点を解
決するため、本発明は、フォトダイオードと、該フォト
ダイオードで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積さ
れた光電荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電
荷に対応した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力
を選択的に読み出す選択スイッチング手段とを有する単
位画素を複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像
装置において、前記単位画素のフォトダイオードに入射
する光量に対応して、前記増幅手段に供給するバイアス
電流の設定を変えるバイアス設定手段を設けるものであ
る。
【0010】このように、入射光量に対応して画素の増
幅手段に与えるバイアス電流の設定を変える手段を設け
ることにより、暗い被写体に対しては常に低いバイアス
電流を与えて、低消費電流化を実現することができ、明
るい被写体の場合のみバイアス電流の設定を高くするこ
とによって、追従性を良好にすることができる。
【0011】また本発明は、フォトダイオードと、該フ
ォトダイオードで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄
積された光電荷を排出するリセット手段と、蓄積された
光電荷に対応した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅
出力を選択的に読み出す選択スイッチング手段とを有す
る単位画素を複数個配列したセンサアレイを備えた固体
撮像装置において、前記単位画素の増幅手段の出力部に
接続された、信号出力線に付加された寄生容量の容量値
以上の容量値をもつ容量素子と、信号出力線をリセット
する手段とを設け、信号出力線に残留する不要電荷をリ
セットしながら前記容量素子に蓄積された画素信号を読
み出すように構成するものである。
【0012】このように、画素の増幅手段の出力部に信
号出力線の寄生容量の容量値以上の容量値をもつ容量素
子を接続すると共に、信号出力線にリセット手段を設
け、信号出力線の残留電荷をリセットしながら容量素子
に蓄積された画素信号を読み出すことにより、バイアス
電流が小さくても読み出し速度を上げることが可能とな
る。
【0013】
【実施例】次に実施例について説明する。図1は、本発
明をラインセンサに適用した実施例を示す回路構成図で
ある。この実施例は、n個の画素で構成されるラインセ
ンサを示しており、図において、11-1,・・・ 11-nは画素
で、これらの画素は図12に示した従来の画素の構成にお
けるn型MOSトランジスタ2とp型MOSトランジス
タ4の各ドレインが接続されているソース接地型増幅回
路の出力ノードに、容量素子12を設けた構成となってお
り、各画素の出力ノードは、選択用のn型MOSトラン
ジスタ6を介して信号出力線7に接続されている。なお
容量素子12の容量値は信号出力線7の寄生容量と同程度
かそれ以上とする。13は信号出力線7上の残留電荷をリ
セットするためのn型MOSトランジスタで、14は同じ
く信号出力線7に接続された、低い出力インピーダンス
とするためのバッファであり、該バッファ14の出力は出
力端子VOUT に接続されている。また15は各画素の選択
用n型MOSトランジスタ6を順次ONするためのシフ
トレジスタである。
【0014】そして各画素のp型MOSトランジスタ4
のソースは電源ラインVDDに共通に接続され、リセット
用のn型MOSトランジスタ5のゲートは、リセットパ
ルスφR の印加端子に共通に接続されている。またp型
MOSトランジスタ4のゲートは、各画素共通に接続さ
れ、バイアス回路16に接続されている。各画素のバイア
ス電流IBIASは、このバイアス回路16の出力電圧VBIAS
によって決定され、VBIASが低くなるとIBIASは大きく
なり、VBIASが電源電圧VDDに近づくとIBIASは小さく
なるようになっている。
【0015】本発明は、被写体の明るさにより、このバ
イアス電流IBIASの設定を変えて、消費電流の低減を計
るものであるが、次に、この図1に示した実施例の動作
を、図2に示したタイミングチャートを参照しながら説
明する。まず期間T0 は、バイアス回路16の出力電圧V
BIASの設定を行う期間であり、このVBIASの設定は、被
写体の明るさに応じて、明るいときはVBIASを低く、暗
いときはVBIASを高く設定する。また、この期間T0
行った設定は、画素出力の読み出しが終了するまでは変
えないで一定状態にしておく。次に期間T1 は、各画素
をリセットする期間であり、リセットパルスφR
“H”レベルとして各画素のリセットを行う。
【0016】そしてφR =“L”となった時点から積分
が開始され、期間T2 の間、積分動作が続行される。一
定時間積分を行った後に、期間T3 においてシフトレジ
スタ15を駆動して、パルスφ1 ,・・・ φn を順次“H”
レベルとして、各画素信号出力を読み出す。このときパ
ルスφ1 ,・・・ φn のいずれかが“H”レベルのとき、
n型MOSトランジスタ13のゲート電圧φRVを“L”レ
ベルとして画素出力を読み出した後、φRV=“H”とし
て、信号出力線7に残留した前画素出力の電荷をリセッ
トし、次の画素出力を読み出すようにしている。
【0017】各画素の選択用n型MOSトランジスタ6
をONすると、容量素子12に蓄積された電荷が信号出力
線7に分配されると共に、画素内のバイアス電流IBIAS
に対応した電流が流れる。容量素子12の容量値をCH
信号出力線7の寄生容量をCP 、画素の信号出力をVS
とすると、出力端子の出力VOUT は、次式(1)で表さ
れる。 VOUT =CH /(CH +CP )・VS +IBIAS′・tP ・・・・・(1)
【0018】ここで、IBIAS′は、バイアス電流IBIAS
及び画素信号出力VS に対応した電流であり、IBIAS
大きくなると大きくなり、またVS が大きくなると大き
くなる性質がある。tP は読み出しを行う期間、すなわ
ち選択用のn型MOSトランジスタ6がONしている時
間である。
【0019】この(1)式より、読み出し期間tP が短
い場合でも、第1項の出力電圧は確保されることがわか
る。したがって、読み出し期間tP が短い場合は、容量
素子12の容量値CH を大きくすることにより、出力ゲイ
ンを上げることができ、またCH が小さくても、読み出
し期間tP を長くとることで、出力ゲインを上げること
が可能である。
【0020】また、このような構成の画素を用いたライ
ンセンサにおいて、CH を大きくすると、高輝度時に追
従するためには、CH が大きいほどIBIASを大きくする
必要があるが、このIBIASもバイアス回路16により、明
るさに対応した値に設定すればよいため、必要最小限の
消費電流の増大のみに抑えることができる。
【0021】次に、バイアス回路について説明する。図
3は、バイアス回路の構成例を示す概念図で、このバイ
アス回路は、3種類の電流源21,22,23と、該電流源2
1,22,23をノード24に接続するための、制御信号
0 ,D1 ,D2 で制御される3個のスイッチング素子
25,26,27と、電流値IBOに対応した電圧を発生する、
ゲート・ドレインが共通に接続されたp型MOSトラン
ジスタ28とで構成されている。
【0022】このように構成されたバイアス回路におい
て、電流源21,22,23の電流値I0,I1 ,I2 を、I
0 :I1 :I2 =1:9:90と設定すれば、p型MOS
トランジスタ28の電流値IBOは、制御信号D0 ,D1
2 によるスイッチング素子25,26,27の切り換えによ
り、最小電流値からその100 倍まで切り換えを行うこと
ができる。バイアス回路の出力電圧VBIASは電流値IBO
によって変化し、それにより各画素内のバイアス電流I
BIASも100 倍まで変化させることができる。
【0023】図4は、図3の概念図で示したバイアス回
路を、MOSトランジスタで実現した具体的な構成例を
示す回路構成図である。図4において、n型MOSトラ
ンジスタ31,32,33は、図3に示した電流源21,22,23
に対応するもので、各n型MOSトランジスタ31,32,
33のゲートサイズ比W/Lの比を変えることにより、重
み付けの異なった3種類の電流源が実現できる。また図
3におけるスイッチング素子25,26,27は、p型MOS
トランジスタ35,36,37で実現されている。なお、38は
n型MOSトランジスタ31,32,33とカレントミラー回
路を構成する基準電流回路である。
【0024】上記構成のバイアス回路において、制御信
号D0 ,D1 ,D2 によりバイアス出力電圧VBIASを制
御することができ、これにより画素内のバイアス電流I
BIASを変えることが可能である。図3,4に示した構成
例では、電流源を3種類設けたものを示したが、これは
被写体の明るさの範囲及びバイアス電流の設定のステッ
プ等に応じて、電流源の電流値の比及び個数は適切に設
定すればよい。
【0025】図1に示した実施例においては、画素内の
増幅回路出力段に容量素子12を設けて、速い読み出し速
度に対応できるようにしたものを示したが、次に他の実
施例を図5に示す。図5においては、一画素の構成のみ
を示しているが、画素以外の構成及びその駆動方法は、
図1に示した実施例と全く同様である。図5において、
図1に示した実施例の画素構成と異なる点は、ソース接
地型増幅回路の出力部に、ソースフォロアとして動作す
るn型MOSトランジスタ41のゲートを接続し、そのソ
ース出力を選択用n型MOSトランジスタ6に接続して
いる点である。
【0026】この構成の実施例においては、信号出力線
7を逐次リセットしてGNDレベルにすることにより、
n型MOSトランジスタ41の駆動能力により決定される
出力信号が信号出力線7に伝達される。n型MOSトラ
ンジスタ41の駆動能力は、n型MOSトランジスタ41の
ゲート電圧、すなわち画素内の出力信号電圧及びn型M
OSトランジスタ41のトランジスタサイズ等で決まるg
mに依存する。したがって信号出力線7の寄生容量が大
きく、また読み出し時間が短い場合には、n型MOSト
ランジスタ41のgmを大きくすれば、高いゲインで信号
出力を得ることができる。このgmを大きくするには、
n型MOSトランジスタ41のゲート幅Wを大きくしなけ
ればならないため、n型MOSトランジスタ41のゲート
容量42が大きくなり、したがって高輝度時の追従性をよ
くするためには、バイアス電流IBIASを大きくする必要
がある。しかしながら、図1に示した実施例と同様に、
バイアス回路を設け、必要なときのみ、バイアス電流I
BIASを大きくすることによって、不要な消費電流の増大
を防ぐことができる。
【0027】図1及び図5に示した実施例においては、
ある特定の時刻における画素信号電圧を保持する機能が
ないため、各画素毎に、読み出し時間の差だけ積分時間
の差が現れてしまう。これを防ぐためには、図1及び図
5に示した実施例の画素構成に、サンプルホールド用の
スイッチングトランジスタを設ければよい。図6及び図
7に、かかる画素信号電圧保持機能を有する画素構成を
もつ実施例を示す。
【0028】図6に示した実施例では、ソース接地型増
幅回路の出力部と容量素子12との間に、n型MOSトラ
ンジスタ45を追加し、また図7に示した実施例では、ソ
ース接地型増幅回路の出力部とソースフォロアとして動
作するn型MOSトランジスタ41のゲートとの間に、n
型MOSトランジスタ45を追加した以外は、図1又は図
5に示した実施例の構成と全く同様である。そして、こ
の追加されたn型MOSトランジスタ45のゲートを駆動
するパルスφSHは、図2に示したタイミングチャートに
おける期間T1 ,T2 の間を“H”レベルとし、他の期
間は“L”レベルとなるものを用いればよい。
【0029】以上述べた各実施例においては、高輝度時
にも追従性がよく、また高速の読み出しが可能で、且つ
消費電流を小さくする手段を備えたラインセンサを示し
たが、次にラインセンサ面上の明るさを判断する手段を
備えた実施例について説明する。
【0030】図8は、画素内の蓄積電荷の状態を知るた
めのモニター手段を設けたラインセンサの実施例を示す
回路構成図である。このラインセンサは、各基本画素51
-1,・・・ 51-nをn画素配置した構成をとり、基本的には
図1に示した実施例において説明した動作と同じ動作を
する。図1に示した実施例と異なる点は、各画素内にモ
ニター用のソースフォロアとして動作するn型MOSト
ランジスタ52を設けた点で、このモニター用n型MOS
トランジスタ52のゲートは、画素内のソース接地型増幅
回路の出力部に接続され、ドレインには電源電圧VDD
印加され、ソースは各画素共通にソースライン53に接続
されて、電流源として動作するバイアス用n型MOSト
ランジスタ54のドレインに接続されている。またソース
ライン53は、更に、一方の入力端が基準電圧Vref に接
続されているコンパレータ55の他方の入力端に接続され
ている。そして、各画素の出力部にゲートが接続された
前記モニター用n型MOSトランジスタ52、及びバイア
ス用n型MOSトランジスタ54は、ピーク検出回路の構
成となっており、ソースライン53の電圧VM は、画素の
出力電圧のピーク値を示すようになっている。
【0031】上記のように構成したピーク値検出機能を
有するラインセンサにおいては、更に次のような手段を
設けることにより、センサ面上の明るさを検出し、バイ
アス電流IBIASを制御できるようになっている。すなわ
ち、図8に示すように、リセットパルスφR でリセット
され、画素の積分開始と共に動作し、コンパレータ55が
“L”レベルから“H”レベルに反転する時点、すなわ
ち画素出力電圧のピーク値VM が基準電圧Vref を超え
た時点に、カウントを終了するカウンタ56を設け、該カ
ウンタ56の値に応じて制御回路57により、バイアス回路
16を制御してバイアス電流IBIASを制御するようになっ
ている。
【0032】このように構成されたラインセンサは、次
のように動作が行われる。まずバイアス回路16によるバ
イアス電流IBIASの設定は、最小にして積分動作を行
う。このとき、センサ面が明るければ、コンパレータ55
が反転するまでの時間は短く、センサ面が暗ければ、反
転するまでの時間は長くなる。したがって、コンパレー
タ55の反転までの時間が基準となる時間より長い場合
は、そのまま積分動作を行い、一定積分時間経過後、積
分を終了し読み出しを行う。この積分時間の制御は、カ
ウンタ56の値をもとに行えば、効率よく行うことができ
る。
【0033】またコンパレータ55の反転までの時間が基
準時間より短い場合は、制御回路57により、バイアス回
路16をバイアス電流が大きくなるように設定して、再び
リセット動作を行い、再度積分動作を行う。
【0034】バイアス回路16におけるバイアスの設定が
2つの場合は、以上の動作でバイアス電流の切り換えが
行われる。また、バイアス回路16における設定が3つ以
上の場合は、積分開始からコンパレータ55が反転するま
での基準時間を、その設定に対応して設ければよい。そ
して、バイアス電流の小さい方から順次切り換えながら
積分を行うようにすればよい。
【0035】このような動作を行えば、センサ面上が暗
い場合、すなわち長い積分時間に対しては、1回の積分
動作で済み、明るい場合は、複数回の積分を行っても、
1回あたりの積分時間は短くて済むため、画素信号を読
み取るまでの時間を効率よく使用することができる。
【0036】図8に示した実施例におけるコンパレータ
55,カウンタ56,制御回路57は、画素と同一チップ上に
配置構成してもよいし、また外部回路として構成しても
よい。
【0037】また図8に示した実施例は、図1に示した
実施例に適用したものであるが、図5〜7に示した実施
例に対しても、各画素中にモニター用のソースフォロア
として動作するn型MOSトランジスタを、ソース接地
型増幅回路の出力部に追加することにより、同様な手法
で、バイアス回路により与えられるバイアス電流値を制
御することができる。
【0038】また図5及び図7に示した実施例は、画素
構成において、ソースフォロアとして動作するn型MO
Sトランジスタ41が予め設けられているので、図9に示
すような構成にしても、図8に示した実施例と同様に動
作させることが可能である。
【0039】すなわち、図9は、図5に示した実施例の
画素構成にモニター機能を設けた実施例を示す回路構成
図である。この実施例は、信号出力線7を、通常の画素
出力信号を読み出すラインとして用いる他に、画素積分
中のピーク検出にも利用するものである。このピーク検
出動作を行うには、積分期間中、シフトレジスタ15のパ
ルスφ1 ,・・・ φn をONにすると共に、信号出力線7
をリセットするn型MOSトランジスタ13のゲート電圧
を、該n型MOSトランジスタ13が飽和領域で動作する
ような、すなわち電流源として動作するような電圧とす
ればよい。この動作によって、信号出力線7を用いて、
画素積分中のピーク値検出を行うことができる。このピ
ーク値検出後の動作は、図8に示した実施例で述べた動
作と全く同様に行われる。
【0040】次に、センサ面上の明るさを検知する他の
手段を用いた実施例を図10を用いて説明する。この実施
例は、図1に示した実施例に、モニター用のフォトダイ
オードを設けた構成のものである。図において、フォト
ダイオードアレイ61を構成する各フォトダイオードは、
図1に示した実施例のフォトダイオード1に相当し、そ
の次段のアンプ62は、画素内の増幅回路を表している。
このような構成のラインセンサに対して、フォトダイオ
ードアレイ61の近傍に、モニター用フォトダイオード63
を配置し、該フォトダイオード63の出力を対数圧縮型の
電流検出回路64により電圧出力とし、制御回路57に入力
するように構成されている。
【0041】このようなモニター用のフォトダイオード
63を、フォトダイオードアレイ61の近傍に配置すること
により、電流検出回路64の出力電圧でセンサ面上の明る
さを検出することができる。したがって電流検出回路64
の出力電圧に応じて、制御回路57によりバイアス回路16
を介してバイアス電流を設定することにより、センサ面
の明るさに応じたバイアス電流の設定が可能となる。
【0042】図10に示した実施例においては、モニター
用フォトダイオード63と画素群を構成するフォトダイオ
ードアレイ61とにおいて、極端に明るさが異なるような
光学系を用いる場合は、誤差が大きくなり実用できな
い。図11は、センサ面上の明るさを検出できるようにし
た他の実施例を示す回路構成図である。図11に示す実施
例において、図10に示した実施例と異なる点は、図10に
示した実施例ではモニター用のフォトダイオード63を設
けて光を検出していたのに対し、この実施例は、各画素
を構成するフォトダイオードアレイ61の基板側又はウェ
ル側に流れる光電流により、明るさを検出するように構
成している点である。この実施例による構成では、光電
流の向きが図10に示した実施例とは逆の向きとなり、電
流検出回路64においては負の電位が発生するが、動作
は、図10に示した実施例において説明したのと同様に、
電流検出回路64の出力電圧によりセンサ面上の明るさを
判定して、バイアス電流値の設定が行われる。
【0043】以上述べたように、種々の手段により、セ
ンサ面上の明るさを検出することにより、センサ面上の
明るさに応じたバイアス電流の設定を行うことができ
る。
【0044】
【発明の効果】以上実施例に基づいて説明したように、
本発明によれば、画素内で消費するバイアス電流を必要
最小限に抑えながら、高輝度時に対する追従性を良好に
し且つ高速な読み出し動作を可能とする固体撮像装置を
実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る固体撮像装置の実施例を示す回路
構成図である。
【図2】図1に示した実施例の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
【図3】図1に示した実施例のバイアス回路の構成例を
示す概念図である。
【図4】図3に示したバイアス回路の具体的な構成を示
す回路構成図である。
【図5】本発明の他の実施例の一画素部分を示す図であ
る。
【図6】本発明の更に他の実施例の一画素部分を示す図
である。
【図7】本発明の更に他の実施例の一画素部分を示す図
である。
【図8】画素内の蓄積電荷の状態を検知するモニター手
段を備えた実施例を示す回路構成図である。
【図9】画素内の蓄積電荷の状態を検知するモニター手
段を備えた他の実施例を示す回路構成図である。
【図10】センサ面上の明るさを検知する手段を備えた実
施例を示す回路構成図である。
【図11】センサ面上の明るさを検知する手段を備えた他
の実施例を示す回路構成図である。
【図12】従来の増幅機能を有する画素構成の一例をを示
す回路構成図である。
【符号の説明】
1 フォトダイオード 2 n型MOSトランジスタ 3 容量素子 4 p型MOSトランジスタ 5 リセット用n型MOSトランジスタ 6 選択用n型MOSトランジスタ 7 信号出力線 11-1,・・・ 11-n 画素 12 容量素子 13 信号出力線リセット用n型MOSトランジスタ 14 バッファ 15 シフトレジスタ 16 バイアス回路

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトダイオードと、該フォトダイオー
    ドで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積された光電
    荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電荷に対応
    した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力を選択的
    に読み出す選択スイッチング手段とを有する単位画素を
    複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像装置にお
    いて、前記単位画素のフォトダイオードに入射する光量
    に対応して、前記増幅手段に供給するバイアス電流の設
    定を変えるバイアス設定手段を備えていることを特徴と
    する固体撮像装置。
  2. 【請求項2】 フォトダイオードと、該フォトダイオー
    ドで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積された光電
    荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電荷に対応
    した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力を選択的
    に読み出す選択スイッチング手段とを有する単位画素を
    複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像装置にお
    いて、前記単位画素の増幅手段の出力部に接続された、
    信号出力線に付加された寄生容量の容量値以上の容量値
    をもつ容量素子と、信号出力線をリセットする手段とを
    設け、信号出力線に残留する不要電荷をリセットしなが
    ら前記容量素子に蓄積された画素信号を読み出すように
    構成したことを特徴とする固体撮像装置。
  3. 【請求項3】 フォトダイオードと、該フォトダイオー
    ドで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積された光電
    荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電荷に対応
    した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力を選択的
    に読み出す選択スイッチング手段とを有する単位画素を
    複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像装置にお
    いて、前記単位画素の増幅手段の出力部に接続された、
    ソースフォロア構成によるバッファと、信号出力線をリ
    セットするリセット手段とを設け、信号出力線に残留す
    る不要電荷をリセットしながら画素信号を読み出すよう
    に構成したことを特徴とする固体撮像装置。
  4. 【請求項4】 フォトダイオードと、該フォトダイオー
    ドで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積された光電
    荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電荷に対応
    した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力を選択的
    に読み出す選択スイッチング手段とを有する単位画素を
    複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像装置にお
    いて、前記単位画素のフォトダイオードに入射する光量
    に対応して、前記増幅手段に供給するバイアス電流の設
    定を変えるバイアス設定手段と、前記単位画素の増幅手
    段の出力部に接続された、信号出力線に付加された寄生
    容量の容量値以上の容量値をもつ容量素子と、信号出力
    線をリセットする手段とを設け、信号出力線に残留する
    不要電荷をリセットしながら前記容量素子に蓄積された
    画素信号を読み出すように構成したことを特徴とする固
    体撮像装置。
  5. 【請求項5】 フォトダイオードと、該フォトダイオー
    ドで発生した光電荷を蓄積する手段と、蓄積された光電
    荷を排出するリセット手段と、蓄積された光電荷に対応
    した増幅出力を出力する増幅手段と、増幅出力を選択的
    に読み出す選択スイッチング手段とを有する単位画素を
    複数個配列したセンサアレイを備えた固体撮像装置にお
    いて、前記単位画素のフォトダイオードに入射する光量
    に対応して、前記増幅手段に供給するバイアス電流の設
    定を変えるバイアス設定手段と、前記単位画素の増幅手
    段の出力部に接続された、ソースフォロア構成によるバ
    ッファと、信号出力線をリセットするリセット手段とを
    設け、信号出力線に残留する不要電荷をリセットしなが
    ら画素信号を読み出すように構成したことを特徴とする
    固体撮像装置。
  6. 【請求項6】 前記バイアス設定手段は、前記単位画素
    のフォトダイオードに入射する光量を検出する手段と、
    該光量検出手段による検出信号に基づいてバイアス電流
    の設定を制御する制御手段と、該制御手段の出力により
    バイアス電流を設定するバイアス電流設定部とを備えて
    いることを特徴とする請求項1,4又は5のいずれか1
    項に記載の固体撮像装置。
  7. 【請求項7】 前記入射光量検出手段は、前記センサア
    レイの近傍に設けたモニター用フォトダイオードと、該
    モニター用フォトダイオードで発生する光電流値を検出
    する回路とで構成し、積分開始時における光電流値に基
    づいてバイアス電流を設定するように構成されているこ
    とを特徴とする請求項6記載の固体撮像装置。
  8. 【請求項8】 前記入射光量検出手段は、前記センサア
    レイを構成する単位画素の各フォトダイオードの共通化
    された基板又はウェルに流れる光電流値を検出する回路
    で構成し、積分開始時における光電流値に基づいてバイ
    アス電流を設定するように構成されていることを特徴と
    する請求項6記載の固体撮像装置。
  9. 【請求項9】 前記バイアス電流設定部は、カレントミ
    ラーで構成される電流値の異なる複数の電流源と、該複
    数の電流源と各単位画素の増幅手段の電流値を制御する
    バイアス回路とをそれぞれ切り換え接続するスイッチン
    グ素子とで構成され、前記制御手段により前記スイッチ
    ング素子を選択的に駆動するように構成されていること
    を特徴とする請求項6,7,8のいずれか1項に記載の
    固体撮像装置。
  10. 【請求項10】 前記入射光量検出手段は、前記センサア
    レイの増幅出力のピーク値を検出する手段で構成され、
    前記制御手段は、ピーク値検出手段による検出信号と基
    準値とを比較する比較手段と、画素のリセット後積分開
    始時から前記比較手段の出力反転時までの時間をカウン
    トする手段と、該カウント手段の出力信号に応じてバイ
    アス電流を制御する制御部とで構成されていることを特
    徴とする請求項6記載の固体撮像装置。
  11. 【請求項11】 前記ピーク値検出手段は、単位画素の増
    幅手段の出力部に接続したソースフォロア構成によるバ
    ッファを用い、画素積分期間中選択スイッチング手段を
    ONにして信号出力線よりピーク値を検出するように構
    成されていることを特徴とする請求項10記載の固体撮像
    装置。
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