JPH06187008A - プラントの適応制御方法におけるプラント係数の同定方法 - Google Patents

プラントの適応制御方法におけるプラント係数の同定方法

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JPH06187008A
JPH06187008A JP33647392A JP33647392A JPH06187008A JP H06187008 A JPH06187008 A JP H06187008A JP 33647392 A JP33647392 A JP 33647392A JP 33647392 A JP33647392 A JP 33647392A JP H06187008 A JPH06187008 A JP H06187008A
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JP
Japan
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plant
transfer function
coefficient
controller
identification
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JP33647392A
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English (en)
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Yoshinori Nakano
義則 中野
Masakatsu Nomura
昌克 野村
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Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 短時間でしかもわずかな誤差でプラントの係
数を同定することができるようにした。 【構成】 離散系の最小2乗法により算出された第1の
プラント伝達関数部11の分子項の総和と、連続系の第
2のプラント伝達関数部12を差分法により離散系に変
換した第3のプラント伝達関数部13の分子項の総和と
を比較部14で比較し、その比較結果でプラント係数を
同定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、プラントの動特性を
同定し、この同定結果に基づいて制御器の制御パラメー
タをオートチューニングして、プラントを適応的に制御
する方法におけるプラントの係数の同定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】周知のように、プラントの制御は制御器
(調節計とも呼ばれる)を用いて行われる。このような
場合において、最良の制御性能を期待できるように、制
御器の制御パラメータを調整することが必要となる。
【0003】当該技術分野で周知のように、このような
制御器には種々の形式のものがあるが、比例動作(P動
作)、積分動作(I動作)、積分動作(D動作)の3つ
が基本であり、これらが単独あるいは組み合わせて用い
られる。すなわち、 a)P動作のみを行うもので、制御パラメータとして比
例ゲインKPのみをもつ。このような制御器をP制御器
と呼び、 b)I動作のみを行うもので、制御パラメータとして積
分項ゲインKIのみをもつ。このような制御器をI制御
器と呼び、 c)P動作とI動作とを組み合わせたもので、制御パラ
メータとして比例ゲインKPと積分項ゲインKIとをも
つ。このような制御器をPI制御器と呼び、 d)P動作とD動作とを組み合わせたもので、制御パラ
メータとして比例ゲインKPと微分項ゲインKDとをも
つ。このような制御器をPD制御器と呼び、 e)P,I,Dの各動作を組み合わせたもので、制御パ
ラメータとして比例ゲインKP、積分項ゲインKI、およ
び微分項ゲインKDをもつ。このような制御器をPID
制御器と呼ぶ。
【0004】どの制御器を採用するかは、プラントに対
してどのような応答性を持たせるかによる。一般には、
P制御器、PI制御器、およびPID制御器のうちのい
ずれかが用いられ、そのうちでもPID制御器が多用さ
れる。何故なら、PID制御器は定常特性と速応性とを
同時に改善できるからである。
【0005】いずれにしても制御器を用いてプラントの
制御を行うのであるが、制御器の制御パラメータを調整
するためにはプラントの状態(動特性)を知る必要があ
る。すなわち、プラントをモデリングする場合、通常得
られるモデル(数学モデル)には未知パラメータのよう
な不確定性が含まれており、プラントの入・出力データ
のように外部から観測できる情報を用いて、モデルを確
定的なものとする必要がある。このように、モデリング
すべきプラントを外部より観測することにより数学モデ
ルの不確定性をなくすことを同定という。この技術分野
において同定とは、与えられたクラスの数学モデルから
プラントの入−出力関係と等価とみなせる数学モデルを
求めることと定義されている。
【0006】この同定には2種類ある。その1つは、事
前情報によりプラントが既知の個数のパラメータによる
数学モデルで記述され、入・出力からこれらが一意に定
められるときの同定であり、このような同定はパラメー
タ同定と呼ばれる。他の1つは、同定されるべきモデル
を特徴づけるパラメータの個数も事前にわからないとき
の同定であって、このような同定はノンパラメータ同定
と呼ばれる。いずれにしても、この同定結果に基づいて
制御器の制御パラメータをオートチューニングして、プ
ラントを適応的に制御する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記オートチューニン
グを厳密に行った場合の流れを図4に示す。図4におい
て、ステップS1は最小2乗法で同定された離散系の伝
達関数型である。このステップS1で得られた伝達関数
はステップS2で状態空間型の離散系に直した後、ステ
ップS3の連続系の状態空間型からステップS4の連続系
の伝達関数型にする必要がある。そして、ステップS4
で求めた連続系の伝達関数型から制御装置のチューニン
グをステップS5で行う。
【0008】上述のように最小2乗法によって求めた離
散系の伝達関数を、連続系の伝達関数に変換する場合、
離散系の伝達関数を一担離散系の状態空間型の方程式に
直し、次に連続系の状態空間型方程式に変換した後、連
続系の伝達関数を算出する方法を採っている。この方法
は演算処理に多大な手順を要し、プラントの係数を同定
するのに時間がかかってしまう問題がある。
【0009】また、図4とは逆の順序で連続系の伝達関
数から離散系の伝達関数への変換方法として差分法や双
一次変換を用いて計算した場合には分子の次数が違った
形で出力されるため、チューニングが出来なくなってし
まうおそれがある。次式(1),(2)は差分法を用い
て連続系の伝達関数から離散系の伝達関数への変換式で
ある。
【0010】
【数1】
【0011】
【数2】
【0012】上記(1),(2)式を比較して見ると、
分母の次数及び係数はほぼ同じになっているが、分子は
次数も係数も違ってしまうために、上述したようにチュ
ーニングが出来なくなってしまう。
【0013】この発明は上記の事情に鑑みてなされたも
ので、短時間でしかもわずかな誤差でプラントの係数を
同定することができるプラントの適応制御方法における
プラント係数の同定方法を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段および作用】この発明は上
記の目的を達成するために、プラントの動特性を同定
し、この同定結果に基づいて制御器の制御パラメータを
オートチューニングして、前記プラントを適応的に制御
する方法において、前記プラントの連続系の伝達関数か
ら離散系の伝達関数に変換した後、予め最小2乗法によ
り算出されたプラントの伝達関数と、前記離散系に変換
された伝達関数の両分子を比較してプラントの係数を同
定することを特徴とするものである。
【0015】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1において、11は離散系の最小2乗法により
算出された第1のプラント伝達関数部、12は連続系の
第2のプラント伝達関数部で、この第2のプラント伝達
関数部12を差分法により離散系に変換すると離散系の
第3のプラント伝達関数13が得られる。この離散系の
第3のプラント伝達関数部13の分子項の総和と、前記
第1のプラント伝達関数部11の分子項の総和とを比較
部14で比較してその比較出力でプラント係数の同定を
行う。
【0016】上述の動作を次に数式を用いて述べる。連
続系で表わされるプラント伝達関数G(S)が次式の
時、
【0017】
【数3】
【0018】差分法を用いて離散系に変換すると、その
プラント伝達関数G(Z)は次式のようになる。
【0019】
【数4】
【0020】また、最小2乗法によって算出された離散
系のプラント伝達関数G(Z)は次の(4)式になる。
【0021】
【数5】
【0022】ここで、(3)式と(4)式を比較する
と、分子項の次数が異なっているので、前述のように
(3)式の分子項と(4)式の分子項の総和はほぼ等し
いという条件から次の(5)式、(6)式が成り立つ。
【0023】
【数6】
【0024】上記(5)式、(6)式よりプラント係数
mおよびフィルタ時定数Tdは次式のようになる。
【0025】
【数7】
【0026】上述のように(3)式と(4)式の分子項
の総和を(1)式と(2)式に適用すると、(1)式の
分子項の係数の総和は0.00398であり、(2)式
の厳密解での分子項の係数の総和は0.0044であ
る。この時の誤差は−10%となり、この程度の誤差が
チューニングに及ぼす影響は少ない。なお、この総和の
誤差は−5%〜−10%で収まっているため、あらかじ
めこの誤差分を考慮して加算すれば精度は上がる。
【0027】図2は上記実施例をプラントの適応制御装
置に適用した例を示すもので、このプラントの適応制御
装置は、プラント10の動特性を同定し、この同定結果
に基づいて制御器11の制御パラメータをオートチュー
ニングして、プラント10を適応的に制御する装置であ
る。この装置ではプラント10の動特性を、このプラン
トに作用する外乱TLを除いた状態で同定し、この同定
結果に基づいて制御器11の制御パラメータである比例
ゲインを調整している。
【0028】同定を行う際に、外乱TLを除くために、
プラント10に供給されるプラント入力とプラント10
から検出遅れ要素24を介して出力されるプラント出力
Yとから外乱TLを推定して推定外乱TL∧(図面で
は、TLの上に∧を付したもの)を得、この推定外乱T
L∧をプラント入力に加えている。本実施例の制御器1
1は、P制御器であって、制御パラメータとして比例ゲ
インKPをもっている。
【0029】図示のプラントの適応制御装置は、指令U
からプラント出力Yを減算して、偏差を表す動作信号を
出力する減算器12を有する。この動作信号はP制御器
11に供給される。P制御器11は動作信号に可変の比
例ゲインKPを掛けて、制御信号を出力する。
【0030】この制御信号は第1の加算器13に供給さ
れる。この第1の加算器13には、後述するモデルを同
定する為の同定信号も供給される。第1の加算器13
は、制御信号と同定信号とを加算して、第1の加算結果
信号を出力する。この第1の加算結果信号は第2の加算
器14に供給される。第2の加算器14には、後述する
オブザーバ16から推定外乱TL∧が供給される。第2
の加算器14は、第1の加算結果信号と推定外乱TL∧
とを加算して、第2の加算結果信号をプラント10へプ
ラント入力として供給する。実際の場合、このプラント
入力は、これに減算器15で外乱TLが除去された状態
でプラント10に供給される。
【0031】プラント入力とプラント出力Yとはオブザ
ーバ16に供給される。後で詳述するように、オブザー
バ16は、プラント入力とプラント出力Yとに基づい
て、プラント10に作用する外乱TLを推定し、推定外
乱TL∧を出力する。すなわち、オブザーバ16は外乱
推定ユニットとして働く。
【0032】また、第2の加算結果信号は、モデル入力
Xとして、離散系モデル17にも供給される。離散系モ
デル17はプラント10を模擬し、モデル出力Y∧を出
力する。このモデル出力Y∧は同定ユニット18に供給
される。同定ユニット18にはプラント出力Yも供給さ
れる。同定ユニット18は、モデル出力Y∧とプラント
出力Yとに基づいて、プラント10の動特性を同定す
る。すなわち、同定ユニット18は、離散系モデル17
を推定し、モデル出力Y∧とプラント出力Yとの誤差が
最小となるような同定結果を離散系モデル17に供給し
ている。ここで、同定ユニット18における同定法には
種々の方法があるが、ここでは、最小2乗法を採用して
いる。同定ユニット18はモデル出力Y∧とプラント出
力Yとの誤差が最小となる離散系モデル17を同定して
いる。
【0033】同定結果は連続系/離散系変換器19に供
給され、ここで前述のように連続系の値から離散系の値
に変換された後、チューニング・ユニット20に供給さ
れる。チューニング・ユニット20は、同定結果に基づ
いて比例ゲインKPと後述する推定係数(オブザーバ係
数)Tmmとを自動同調する。
【0034】前記プラント10はプラント係数Tmをも
つ積分要素としてモデル化されている。すなわち、プラ
ント10の伝達関数Gp(S)は、下記の数式8で表さ
れる。
【0035】
【数8】
【0036】プラント10がこのような伝達関数G
p(S)で表される場合、外乱推定ユニットとして動作
するオブザーバ16は、次に述べるような構成を有す
る。すなわちオブザーバ16は、第1及び第2のフィル
タ21及び22と、減算器23との他に検出遅れ補償器
25を備えている。この検出遅れ補償器25はプラント
入力に対して、検出遅れ要素24による検出遅れを補償
して、補償されたプラント入力を出力する。この補償さ
れたプラント入力は第1のフィルタ21に供給される。
第1のフィルタ21は、フィルタ時定数Tfをもつ一次
遅れ要素として表される。換言すれば、第1のフィルタ
21の伝達関数Gf1(S)は、下記の数式9で表され
る。
【0037】
【数9】
【0038】第1のフィルタ21にはプラント入力に応
答して、第1のフィルタ出力を出力する。
【0039】また、第2のフィルタ22は、フィルタ時
定数Tfをもつ一次遅れ要素とプラント係数Tmを推定
した推定係数Tmmをもつ微分要素とが直列接続された
要素で表される。すなわち、第2のフィルタ22の伝達
関数Gf2(S)は、下記の数式10で表される。
【0040】
【数10】
【0041】第2のフィルタ22には、プラント出力Y
が供給される。このプラント出力Yに応答して、第2の
フィルタ22は第2のフィルタ出力を出力する。
【0042】第1のフィルタ出力と第2のフィルタ出力
とは減算器23に供給される。減算器23は、第1のフ
ィルタ出力から第2のフィルタ出力を減算し、推定外乱
TL∧を出力する。同定ユニット18で同定された離散
系モデル17を連続系/離散系変換器19により離散系
モデルに変換し、前述のように最小2乗法により算出さ
れた伝達関数を用いて比較したことにより、プラント係
数Tmを推定することができる。そして、チューニング
・ユニット20は、オブザーバ係数Tmmをこの推定
(同定)したプラント係数Tmで調整することができ
る。さらに、目標の応答となるように、チューニング・
ユニット20は同定したプラント係数Tmから比例ゲイ
ンKpを調整することができる。
【0043】図2の例を用いてプラント係数Tmのシミ
ュレーション結果を図3に示す。図3において、プラン
ト係数を「5」とした時、約200秒後にはプラント係
数の推定値が5.2となった。因に従来の状態空間型に
よる方法であると、約10分程でプラント係数の推定値
は5.0となった。この図3からもこの発明の実施例を
用いると短時間でプラント係数を同定することができる
判明する。
【0044】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
連続系のプラント伝達関数から離散系のプラント伝達関
数に変換して、伝達関数の分子項の総和を比較するよう
にしてプラント係数を同定するようにしたので、短時間
でかつわずかな誤差でプラントの係数を同定することが
できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を示すブロック図である。
【図2】図1の実施例を適用したプラントの適応制御装
置を示すブロック図である。
【図3】指令値に対するプラント係数の推定値のシミュ
レーションを示す特性図である。
【図4】従来例を示すフロチャートである。
【符号の説明】
11…最小2乗法により算出された第1のプラントの伝
達関数部 12…連続系の第2のプラント伝達関数部 13…離散系の第3のプラント伝達関数部 14…比較部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラントの動特性を同定し、この同定結
    果に基づいて制御器の制御パラメータをオートチューニ
    ングして、前記プラントを適応的に制御する方法におい
    て、前記プラントの連続系の伝達関数から離散系の伝達
    関数に変換した後、予め最小2乗法により算出されたプ
    ラントの伝達関数と、前記離散系に変換された伝達関数
    の両分子を比較してプラントの係数を同定することを特
    徴とするプラントの適応制御方法におけるプラント係数
    の同定方法。
JP33647392A 1992-12-17 1992-12-17 プラントの適応制御方法におけるプラント係数の同定方法 Pending JPH06187008A (ja)

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