JPH06186460A - マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール - Google Patents

マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール

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Publication number
JPH06186460A
JPH06186460A JP35622492A JP35622492A JPH06186460A JP H06186460 A JPH06186460 A JP H06186460A JP 35622492 A JP35622492 A JP 35622492A JP 35622492 A JP35622492 A JP 35622492A JP H06186460 A JPH06186460 A JP H06186460A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
incident
multimode optical
aspherical lens
incident beam
Prior art date
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Pending
Application number
JP35622492A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Kitamura
厚 北村
Gensuke Kiyohara
元輔 清原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP35622492A priority Critical patent/JPH06186460A/ja
Publication of JPH06186460A publication Critical patent/JPH06186460A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 マルチモード光ファイバ2の損失を試験する
場合、構成の簡単なLDモジュールを提供する。 【構成】 半導体レーザ1の出射光11は非球面レンズ
3に入射する。非球面レンズ3は出射光11を開口数が
0.11以上でかつ入射ビームスポットの半値全幅が2
6μm以上の条件でマルチモード光ファイバ2の入射端
2Aに入射する。マルチモード光ファイバ2の出射端2
Bの光パワーを測定することによりマルチモード光ファ
イバ2の単位長さ当たりの損失を試験する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、マルチモード光ファ
イバ(以下、単に光ファイバと言う。)の単位長さ当た
りの損失を試験する場合に、半導体レーザ(以下、LD
と言う。)の出射光を最適の励振条件で光ファイバの入
射端に入射するLDモジュールについてのものである。
【0002】
【従来の技術】次に、従来技術による光ファイバ損失測
定用LDモジュールの構成を図3により説明する。図3
の1はLD、2は試験される光ファイバ、4は球面レン
ズである。図3では、LD1の出射光11は球面レンズ
4により集光され、光ファイバ2の入射端2Aに入射さ
れる。光ファイバ2の出射端2Bで光パワーを測定する
ことにより、光ファイバ2の単位長さ当たりの損失を試
験する。
【0003】図3では、光ファイバ2の諸特性(例えば
伝送損失)を試験するため、JISC6823で光ファ
イバ2の入射端2Aでの励振条件が規定されている。J
ISC6823では、NA(開口数)が0.20でコア径が
50μmの石英系グレーデッドインデックス形マルチモー
ド光ファイバの場合では、入射ビームスポットの半値全
幅26μm、入射光分布において最大値の50%となる角度
θの正弦の値が0.11と規定している。
【0004】次に、図3の構成における球面レンズ4の
設定像倍率mと入射ビームNAおよび設定像倍率mと入
射ビームスポット径の関係を図4により説明する。図4
では、設定像倍率mを大きくすると、入射ビームNAは
2次曲線的に反比例して小さくなる。また、設定像倍率
mが大きくなると、入射ビームスポット径は比例して大
きくなる。
【0005】LD1の発光径は一般的には2μm程度で
あり、出射光11は出射光分布において最大値の50%と
なる角度θ´の正弦の値が0.3 である。したがって、J
ISC6823に規定する入射ビームスポット径を26μ
m以上とするためには、球面レンズ4の像倍率mを13以
上に設定する必要があることが図4からわかる。同様
に、入射ビームNAが0.11以上となるためには球面レン
ズ4の像倍率mを3以下に設定しなければならない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】図3の構成では、球面
レンズ4の像倍率mをいかに設定しても出射光11を光
ファイバ2の入射端2Aに最適条件で入射できないこと
が図4からわかる。したがって、光ファイバ2の諸特性
を試験するために、光ファイバ2の前段にGSG励振器
を挿入し、入射ビームがGSG励振器中を伝搬すること
によつて励振条件を満足させる方法や、モードスクラン
ブラなどを光ファイバ2の前段に挿入する方法がある。
しかし、これらの方法では、おおがかりな装置となって
しまう問題がある。この発明は、LDの出射光を非球面
レンズで集光し、最適条件で光ファイバの入射端に入射
する光ファイバ損失試験用LDモジュールの提供を目的
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、LD1の出射光11側に非球面レン
ズ3を配置し、非球面レンズ3は出射光11を開口数が
0.11以上でかつ入射ビームスポットの半値全幅が2
6μm以上の条件で光ファイバ2の入射端2Aに入射す
る。
【0008】
【作用】次に、この発明による光ファイバ損失測定用L
Dモジュールの構成を図1により説明する。図1の3は
非球面レンズであり、その他については図3と同じもの
である。図1は図3の球面レンズ4の代わりに非球面レ
ンズ3を配置したものである。
【0009】図1では、LD1の出射光11は非球面レ
ンズ3により集光され、光ファイバ2に入射される。非
球面レンズ3は入光側は球面3Aで形成され、出光側は
非球面3Bで形成されている。非球面3Bで屈折した光
は、レンズ出射角度θを微少に変化させ、光ファイバ2
への入射ビームスポット径を拡大する。非球面3Bで変
化したレンズ出射角度θは微少であるため光ファイバ2
への入射ビームNAはほとんど変化しない。
【0009】次に、図1の構成における非球面レンズ3
の設定像倍率mと入射ビームNAおよび設定像倍率mと
入射ビームスポット径の関係を図2により説明する。図
2でで示されるように、図1の非球面レンズ3は設定像
倍率mの変化に対し、入射ビームスポット径の変化が大
きく、入射ビームNAの変化は図4と同じに設定され
る。言い換えれば、非球面レンズ3は、設定像倍率mを
1.5から3の範囲で、出射光11をNAが0.11以上
でかつ入射ビームスポットの半値全幅が26μm以上の条
件で光ファイバ2の入射端2Aに入射するよう非球面3
Bを形成する。
【0010】一般に、非球面レンズは精密研磨が工業的
に困難とされ、特殊用途に利用されるだけであった。し
かし、現在の技術では合成樹脂による成形が可能であ
り、非球面の曲率もコンピュータで解析するなど非球面
レンズが実用化されている。また、非球面レンズを収差
を改良する目的に使用する他に、この発明のように非球
面レンズでマルチモード光ファイバの入射端に要求する
NAと入射ビームスポット径で集光することも可能であ
る。
【発明の効果】この発明は、半導体レーザの出射光をマ
ルチモード光ファイバに入射し、マルチモード光ファイ
バの損失を試験する場合に、半導体レーザの出射光側に
非球面レンズを配置し、非球面レンズで出射光を測定可
能条件でマルチモード光ファイバの入射端に入射するの
で、測定の構成が簡単になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるLDモジュールの構成図である
【図2】この発明による非球面レンズ3の設定像倍率m
と入射ビームNAおよび設定像倍率mと入射ビームスポ
ット径の関係図である
【図3】従来技術によるLDモジュールの構成図である
【図4】従来技術による球面レンズ4の設定像倍率mと
入射ビームNAおよび設定像倍率mと入射ビームスポッ
ト径の関係図ある。
【符号の説明】
1 半導体レーザ(LD) 2 マルチモード光ファイバ 2A 入射端 3 非球面レンズ 11 出射光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G02B 13/18 9120−2K H01S 3/18

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ(1) の出射光(11)をマルチ
    モード光ファイバ(2) の入射端(2A)に入射して、マルチ
    モード光ファイバ(2) の単位長さ当たりの損失を試験す
    る場合に、 半導体レーザ(1) の出射光(11)側に非球面レンズ(3) を
    配置し、非球面レンズ(3) は出射光(11)を開口数が0.
    11以上でかつ入射ビームスポットの半値全幅が26μ
    m以上の条件で入射端(2A)に入射することを特徴とする
    マルチモード光ファイバ損失試験用LDモジュール。
JP35622492A 1992-12-21 1992-12-21 マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール Pending JPH06186460A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35622492A JPH06186460A (ja) 1992-12-21 1992-12-21 マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール

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JP35622492A JPH06186460A (ja) 1992-12-21 1992-12-21 マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06186460A true JPH06186460A (ja) 1994-07-08

Family

ID=18447966

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35622492A Pending JPH06186460A (ja) 1992-12-21 1992-12-21 マルチモード光ファイバ損失試験用ldモジュール

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015076097A1 (ja) * 2013-11-19 2015-05-28 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 光学特性の測定用機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015076097A1 (ja) * 2013-11-19 2015-05-28 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 光学特性の測定用機器
JP2015099066A (ja) * 2013-11-19 2015-05-28 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 光学特性の測定用機器

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