JPH06186287A - Method and apparatus for measuring electronic component - Google Patents

Method and apparatus for measuring electronic component

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JPH06186287A
JPH06186287A JP35539692A JP35539692A JPH06186287A JP H06186287 A JPH06186287 A JP H06186287A JP 35539692 A JP35539692 A JP 35539692A JP 35539692 A JP35539692 A JP 35539692A JP H06186287 A JPH06186287 A JP H06186287A
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measuring
measurement
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terminals
electronic component
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勤 畠山
Takaaki Domon
孝彰 土門
Seizo Tanaka
清造 田中
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Abstract

PURPOSE:To realize a method and an apparatus for measuring an electronic component with high reliability without trouble in which an acceleration of a processing speed is facilitated. CONSTITUTION:An entire measuring terminals of a measuring probe 70 having measuring terminals of the more number than that of a plurality of electrodes are brought into contact with an outer periphery of a ring varistor 1 having the plurality of electrodes on the outer periphery to be temporarily measured. The terminals in contact with the electrodes are electrically selected according to a result of the temporary measurement, and characteristics between the electrodes and special electrodes are measured. In this case, a plurality of the probe 70 are mounted on intermittent rotors 50, and characteristics of the varistor 1 are measured while moving the varistor 1 by the intermittent rotation of the rotor 60, thereby accelerating a processing speed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、外周面に複数個の電極
を有するリングバリスタ等の電子部品の電気特性を計測
するための測定方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring method and apparatus for measuring the electrical characteristics of an electronic component such as a ring varistor having a plurality of electrodes on its outer peripheral surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、外周面に複数個の電極を有するリ
ングバリスタ等の電子部品の測定装置としては、図18
に示す構成のものがあった。この図に示すように、従来
の測定装置は2つの測定ラインA,Bを持ち、各測定ラ
インA,Bは、円環状で円周面に3個の側面電極を有す
るリングバリスタ1を供給するパーツフィーダ2と、該
パーツフィーダ2の直線供給路2Aから真空パッドハン
ドリング3を介してリングバリスタ1の供給を受けるL
字型搬送レール4と、多数の送り爪5を有していてレー
ル4上のリングバリスタ1を定ピッチ送りするトランス
ファ6とを具備している。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a measuring device for an electronic component such as a ring varistor having a plurality of electrodes on its outer peripheral surface, FIG.
There was a configuration shown in. As shown in this figure, the conventional measuring device has two measuring lines A and B, and each measuring line A and B supplies a ring varistor 1 having an annular shape and three side surface electrodes on its circumferential surface. The parts feeder 2 and the ring varistor 1 supplied from the linear feeder 2A of the parts feeder 2 via the vacuum pad handling 3
It is provided with a character-shaped carrier rail 4 and a transfer 6 having a large number of feed claws 5 and feeding the ring varistor 1 on the rail 4 at a constant pitch.

【0003】前記真空パッドハンドリング3は、図中矢
印に示すように、リングバリスタ1を吸着して上昇、定
ピッチ前進、下降してリングバリスタ1を解放、その後
上昇、定ピッチ後退、下降という動作を繰り返すもので
ある。この真空パッドハンドリング3の動作でパーツフ
ィーダ2の直線供給路2AからL字型搬送レール4にリ
ングバリスタ1が移し変えられ、さらにL字型搬送レー
ル4の長辺部分に送られる。
As shown by the arrow in the figure, the vacuum pad handling 3 attracts the ring varistor 1 and ascends it, moves it forward at a constant pitch and lowers it to release the ring varistor 1, and then lifts it up, moves it back at a constant pitch and lowers it. Is repeated. By the operation of the vacuum pad handling 3, the ring varistor 1 is transferred from the linear supply path 2A of the parts feeder 2 to the L-shaped transfer rail 4 and further sent to the long side portion of the L-shaped transfer rail 4.

【0004】前記トランスファ6の各送り爪5は、図中
矢印で示すように、L字型搬送レール4の長手方向に垂
直に突出し、長手方向に一定距離前進してリングバリス
タ1を定ピッチ前進させ、その後僅かに後退してリング
バリスタ1から離れてからレール長手方向に垂直に引っ
込み、さらに長手方向に後退するという動作を繰り返
す。
As shown by the arrows in the figure, the feed claws 5 of the transfer 6 project perpendicularly to the longitudinal direction of the L-shaped transport rail 4 and advance a fixed distance in the longitudinal direction to advance the ring varistor 1 at a constant pitch. Then, the operation of retreating slightly, separating from the ring varistor 1, retracting vertically in the rail longitudinal direction, and further retracting in the longitudinal direction is repeated.

【0005】L字型搬送レール4の途中位置にはセンタ
リング部7が設けられており、図19乃至図21に示す
ように、センタリング部7は、停止精度の良い直流モー
タ8で回転駆動されるセンタリングテーブル9を有する
とともに、センタリングテーブル9上に載置されたリン
グバリスタ1の外周面に対向するように配設された光電
センサ10を備えている。前記センタリングテーブル9
はリングバリスタ1を真空吸着して固定する機能を備え
ている。なお、図20及び図21ではセンタリングテー
ブル9の回転中心は符号Cで示されている。
A centering portion 7 is provided at an intermediate position of the L-shaped transport rail 4, and as shown in FIGS. 19 to 21, the centering portion 7 is rotationally driven by a DC motor 8 having a high stopping accuracy. In addition to having the centering table 9, the photoelectric sensor 10 is provided so as to face the outer peripheral surface of the ring varistor 1 mounted on the centering table 9. Centering table 9
Has a function of vacuum-sucking and fixing the ring varistor 1. 20 and 21, the center of rotation of the centering table 9 is indicated by the symbol C.

【0006】前記L字型搬送レール4の前記センタリン
グ部7を通過した先には測定部11が設けられており、
測定部11のレール4部分には図23のように絶縁テー
ブル29が配設されている。該絶縁テーブル29は真空
吸着でリングバリスタ1を固定する機能を備えている。
該測定部11上には図22及び図23に示す測定プロー
ブ20が昇降、開閉自在に設けられている。該測定プロ
ーブ20は金属製本体部21にそれぞれリンクピン22
で枢着された複数の金属製開閉アーム23と、該開閉ア
ーム23に対して絶縁板24及びプラスチックビス25
で絶縁状態で固定された測定端子26と、各開閉アーム
23を開閉するテーパーカム27と、常時各開閉アーム
23を閉じる方向に付勢するコイルスプリング28とを
有している。
A measuring section 11 is provided at the end of the L-shaped transfer rail 4 that has passed through the centering section 7.
An insulating table 29 is arranged on the rail 4 portion of the measuring unit 11 as shown in FIG. The insulating table 29 has a function of fixing the ring varistor 1 by vacuum suction.
A measuring probe 20 shown in FIGS. 22 and 23 is provided on the measuring unit 11 so as to be vertically movable and openable and closable. The measuring probe 20 has a metal body 21 and a link pin 22.
A plurality of metal opening / closing arms 23 pivotally attached to each other, an insulating plate 24 and a plastic screw 25 for the opening / closing arms 23.
It has a measuring terminal 26 fixed in an insulated state, a taper cam 27 that opens and closes each open / close arm 23, and a coil spring 28 that constantly biases each open / close arm 23 in a closing direction.

【0007】ここで測定対象となっているリングバリス
タ1は図24のように一定厚みを有する円環状セラミッ
ク素地30の外周面(円周面)に3個の側面電極31
A,31B,31Cを形成したもので、側面電極間はセ
ラミック素地が露出した電極間ギャップ32となってい
る。したがって、上記測定プローブ20の有する測定端
子26はリングバリスタ1側の3個の側面電極に同時に
接触できるように3個設けられている。
The ring varistor 1 to be measured here has three side surface electrodes 31 on the outer peripheral surface (circumferential surface) of an annular ceramic body 30 having a constant thickness as shown in FIG.
A, 31B, 31C are formed, and there is an inter-electrode gap 32 in which the ceramic base is exposed between the side surface electrodes. Therefore, three measuring terminals 26 of the measuring probe 20 are provided so that they can simultaneously contact the three side electrodes on the ring varistor 1 side.

【0008】なお、図22は前記測定プローブ20のテ
ーパーカム27が上昇位置で各測定端子26が閉じた状
態、図23はテーパーカム27が下降位置で各測定端子
26が開いた状態を示しており、各測定端子26はリン
グバリスタ1の半径方向に開閉できるようになってい
る。
Incidentally, FIG. 22 shows a state where the taper cam 27 of the measuring probe 20 is in the raised position and the measurement terminals 26 are closed, and FIG. 23 shows a state in which the taper cam 27 is in the lowered position and the measurement terminals 26 are open. Each measurement terminal 26 can be opened and closed in the radial direction of the ring varistor 1.

【0009】前記L字型搬送レール4の前記測定部11
を通過した先の部分は選別部35となっており、該選別
部35のレール4の下方には選別箱36が配設されてい
る。また、選別部35は、リングバリスタ1の各停止位
置に対応した複数の選別用エアーシリンダ38が取り付
けられたスライドホルダ39を備えている。このスライ
ドホルダ39はL字型搬送レール4の長手方向に対して
直交する向きに往復運動を繰り返しており、選択された
選別用エアーシリンダ38のロッドが伸長し対応するリ
ングバリスタ1の中心穴に嵌入したとき、当該リングバ
リスタ1はスライドホルダ39の移動に伴って選別箱3
6方向に移動し、落下する。
The measuring section 11 of the L-shaped carrier rail 4
The portion that has passed through is a sorting section 35, and a sorting box 36 is arranged below the rail 4 of the sorting section 35. The sorting unit 35 also includes a slide holder 39 to which a plurality of sorting air cylinders 38 corresponding to the respective stop positions of the ring varistor 1 are attached. The slide holder 39 repeats the reciprocating motion in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the L-shaped transport rail 4, and the rod of the selected sorting air cylinder 38 extends to form the center hole of the corresponding ring varistor 1. When fitted, the ring varistor 1 moves along with the movement of the slide holder 39 so that the sorting box 3
It moves in 6 directions and falls.

【0010】以上の従来装置において、パーツフィーダ
2の直線供給路2A終端部に送り出されたリングバリス
タ1は、真空パッドハンドリング3で吸着されてL字型
搬送レール4に移送され、さらに真空パッドハンドリン
グ3によりL字型搬送レール4の長手部分に送られる。
該L字型搬送レール4の長手部分に到着したリングバリ
スタ1は、多数の送り爪5を有するトランスファ6によ
り定ピッチ毎レール4上を摺動して前進して行く。
In the above conventional apparatus, the ring varistor 1 sent to the end of the linear feeder 2A of the parts feeder 2 is adsorbed by the vacuum pad handling 3 and transferred to the L-shaped transfer rail 4, and further vacuum pad handling. It is sent to the longitudinal part of the L-shaped carrier rail 4 by 3.
The ring varistor 1 that has arrived at the longitudinal portion of the L-shaped transport rail 4 slides forward on the rail 4 at constant pitches by the transfer 6 having a large number of feed claws 5.

【0011】センタリング部7に着いたリングバリスタ
1に対しては側面電極31A,31B,31Cの位置合
わせを行う。すなわち、図19の直流モータ8でセンタ
リングテーブル9を一定方向に回転させ、光電センサ1
0で電極間ギャップ32を検出したら直ちに直流モータ
8を停止させる。以後、リングバリスタ1は側面電極3
1A,31B,31Cの配置が揃った状態でトランスフ
ァ6により定ピッチずつ送られる。そして、図23のよ
うに、測定部11の絶縁テーブル29上にリングバリス
タ1が到着すると、上昇位置で各測定端子26を開いて
待機していた測定プローブ20は、下降してリングバリ
スタ1の外周面を測定端子26にて挟持する。このと
き、センタリングテーブル9で側面電極31A,31
B,31Cの位置が一定に揃えられているから、3個の
測定端子26が3個の側面電極31A,31B,31C
にそれぞれ接触することができ、この接触時間中に側面
電極相互間の電気抵抗の測定を3個の測定端子26に接
続された測定器で実行する。
The side electrodes 31A, 31B and 31C are aligned with the ring varistor 1 attached to the centering portion 7. That is, the centering table 9 is rotated in a fixed direction by the DC motor 8 of FIG.
When the interelectrode gap 32 is detected at 0, the DC motor 8 is immediately stopped. After that, the ring varistor 1 is the side electrode 3
In a state in which the arrangements of 1A, 31B and 31C are uniform, the transfer 6 sends them by a constant pitch. Then, as shown in FIG. 23, when the ring varistor 1 arrives on the insulating table 29 of the measurement unit 11, the measurement probe 20 that has been waiting by opening each measurement terminal 26 at the elevated position descends and moves to the ring varistor 1's position. The outer peripheral surface is clamped by the measuring terminal 26. At this time, the centering table 9 is used to attach the side electrodes 31A, 31
Since the positions of B and 31C are uniformly arranged, the three measurement terminals 26 are provided with the three side surface electrodes 31A, 31B and 31C.
And the electrical resistance between the side electrodes is measured with a measuring instrument connected to the three measuring terminals 26 during this contact time.

【0012】なお、リングバリスタ1の測定器による電
気抵抗の測定は2つの測定ラインA,Bで交互に実施さ
れる。
The measurement of the electric resistance by the measuring device of the ring varistor 1 is carried out alternately on the two measuring lines A and B.

【0013】測定後のリングバリスタ1はトランスファ
6の定ピッチ送りにより選別部35に達し、ここで測定
結果に応じて特定の選別箱36に振り分けられる。
After the measurement, the ring varistor 1 reaches the sorting section 35 by the constant pitch feed of the transfer 6, and is sorted into a particular sorting box 36 according to the measurement result.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した従
来装置は次に述べるような問題点があった。 (1) リングバリスタ1を供給するパーツフィーダ2
の直線供給路2Aの終端には図示は省略したが、リング
バリスタ1の重なり防止のための蓋が付いており、詰ま
りの原因となっていた(なお、蓋がないと100%重な
り詰まる。)。 (2) 真空パッドハンドリング3、センタリング部7
及び測定部11では、吸着によるリングバリスタ1の固
定方法を採用しており、リングバリスタ1のかけらやご
み等が吸着部分に詰まり、故障の原因となっていた。 (3) センタリング部7では、リングバリスタ1とセ
ンタリングテーブル9との中心が合わず、回転時にリン
グバリスタ1と光電センサ10との距離が変化し、電極
間ギャップ32の検出が困難になって誤動作する場合が
あった。リングバリスタ1とセンタリングテーブル9と
の中心が合わない原因は、リングバリスタ1の外径が図
20の仮想線1Aや仮想線1Bの如くばらついている場
合と、図21のようにトランスファ6の送り爪5でL字
型搬送レール4上を摺動しながら送られるリングバリス
タ1の側面電極31A,31B,31Cのばり37が該
搬送レール4とセンタリングテーブル9の隙間Gに引っ
掛かり、その後送り方向に飛ばされる場合とがある。 (4) リングバリスタ1の側面電極31A,31B,
31Cの色のばらつきにより光電センサ10で電極間ギ
ャップ32の検出が困難になって誤動作することもあっ
た。原因は、パーツフィーダ2にリングバリスタ1が長
時間残留した場合、リングバリスタ1同士が振動で擦
れ、側面電極が変色するためである。 (5) 測定プローブ20が有する測定端子26はスプ
リング板材に銀めっきを施したものを用いるが、銀めっ
きが摩耗により無くなると、接触抵抗が高くなり、測定
値が狂う。 (6) 測定部11における動作は、例えば、リングバ
リスタ1の搬送に0.2秒、測定プローブ20の下降に
0.1秒、測定プローブ閉に0.1秒、測定器による特性
測定に0.24秒、測定プローブ開に0.1秒、測定プロ
ーブ上昇に0.1秒かかり、実際のリングバリスタ1の
特性測定にかかる時間よりも周辺関連部の動作にかかる
時間の割合が大半を占めている。そのため、処理タクト
を上げるために、測定ラインA及び測定ラインBの2つ
の機構を持つ構造となっているが、2つの機構を有する
ことで、装置寸法は大きくなり、故障発生の要素も2倍
になるため、保守が面倒となる。
By the way, the above-mentioned conventional device has the following problems. (1) Parts feeder 2 that supplies the ring varistor 1
Although not shown, the end of the linear supply path 2A was covered with a lid for preventing the ring varistor 1 from overlapping, which was a cause of clogging (note that without the lid, 100% overlapped and clogged). . (2) Vacuum pad handling 3, centering part 7
Also, the measuring unit 11 adopts a method of fixing the ring varistor 1 by suction, and fragments and dust of the ring varistor 1 are clogged in the suction portion, which causes a failure. (3) In the centering portion 7, the centers of the ring varistor 1 and the centering table 9 are not aligned, the distance between the ring varistor 1 and the photoelectric sensor 10 changes during rotation, and it becomes difficult to detect the inter-electrode gap 32, resulting in malfunction. There was a case to do. The reason why the center of the ring varistor 1 and the centering table 9 are not aligned is that the outer diameter of the ring varistor 1 varies as shown by the phantom lines 1A and 1B in FIG. 20 and the transfer 6 of the transfer 6 as shown in FIG. The burrs 37 of the side surface electrodes 31A, 31B, 31C of the ring varistor 1 fed while sliding on the L-shaped carrier rail 4 by the claws 5 are caught in the gap G between the carrier rail 4 and the centering table 9, and then in the feeding direction. It may be skipped. (4) Side electrodes 31A, 31B of the ring varistor 1,
Due to the color variation of 31C, it may be difficult for the photoelectric sensor 10 to detect the inter-electrode gap 32, and malfunction may occur. The reason is that when the ring varistor 1 remains in the parts feeder 2 for a long time, the ring varistor 1 rubs against each other due to vibration and the side electrodes are discolored. (5) The measurement terminal 26 of the measurement probe 20 is a spring plate material plated with silver, but if the silver plating is worn away, the contact resistance becomes high and the measured value becomes erratic. (6) The operation of the measuring unit 11 is, for example, 0.2 seconds for transporting the ring varistor 1, 0.1 seconds for lowering the measurement probe 20, 0.1 seconds for closing the measurement probe, and 0 for characteristic measurement by the measuring instrument. It takes 0.24 seconds, 0.1 seconds to open the measurement probe, and 0.1 seconds to move up the measurement probe, and the ratio of the time required for the operation of peripheral related parts is larger than the time required for the actual characteristic measurement of the ring varistor 1. ing. Therefore, in order to increase the processing tact, the structure has two mechanisms, that is, the measurement line A and the measurement line B. However, by having the two mechanisms, the device size becomes large, and the factor of failure occurrence is doubled. Therefore, maintenance becomes troublesome.

【0015】本発明は、上記の点に鑑み、処理速度を速
くすることが容易で、故障の発生が少なく、信頼性の高
い電子部品の測定方法及び装置を提供することを目的と
する。
In view of the above points, an object of the present invention is to provide a method and apparatus for measuring an electronic component, which makes it easy to increase the processing speed, has few failures, and has high reliability.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の電子部品の測定方法は、外周面に複数個の
電極を有する電子部品の当該外周面に、前記複数個の電
極の個数よりも多い個数の測定端子を持つ測定プローブ
の全測定端子を接触させて仮測定を行い、該仮測定の結
果によりそれぞれの電極に接触している測定端子を電気
的に選択して各電極相互間乃至特定電極間の特性を測定
するようにしている。
In order to achieve the above object, an electronic component measuring method according to the present invention comprises an electronic component having a plurality of electrodes on an outer peripheral surface thereof, the plurality of electrodes being provided on the outer peripheral surface. All the measurement terminals of the measurement probe having more than the number of measurement terminals are contacted for temporary measurement, and the measurement terminals in contact with the respective electrodes are electrically selected according to the result of the temporary measurement. The characteristics between each other or between specific electrodes are measured.

【0017】また、本発明の電子部品の測定装置は、外
周面に複数個の電極を有する電子部品を順次送り出すパ
ーツフィーダと、該パーツフィーダから送り出された電
子部品を受けるロータリーテーブルと、該ロータリーテ
ーブルで移送されてきた電子部品を移し変え位置に案内
する案内部材と、前記移し変え位置に到来した電子部品
が載る押し上げ部材と、前記複数個の電極の個数よりも
多い個数の測定端子を持っていて前記押し上げ部材で上
昇位置となった電子部品を挟持する測定プローブと、各
測定端子を選択的に測定器に接続する選択切り換え手段
とを備えた構成である。
Further, the measuring device for electronic parts of the present invention comprises a parts feeder for successively sending out electronic parts having a plurality of electrodes on the outer peripheral surface, a rotary table for receiving the electronic parts sent out from the parts feeder, and the rotary. It has a guide member that guides the electronic parts transferred from the table to the transfer position, a push-up member on which the electronic parts that arrive at the transfer position are placed, and a number of measurement terminals that is larger than the number of the plurality of electrodes. The measurement probe holds the electronic component in the raised position by the push-up member, and the selection switching means for selectively connecting each measurement terminal to the measuring instrument.

【0018】[0018]

【作用】本発明においては、電子部品をセンタリングし
てその外周面の電極位置を一定に揃えることは行わず、
外周面における電極位置は任意である。そのため、外周
面の電極個数よりも多い個数の測定端子の全てを電子部
品の外周面に接触させて仮測定を行い、仮測定によって
外周面の電極位置を認識し、測定が必要となる電極に接
触している測定端子を選んで測定器に接続して電子部品
の特性を測定することができる。
In the present invention, the electronic parts are not centered and the electrode positions on the outer peripheral surface thereof are not uniformly aligned.
The electrode position on the outer peripheral surface is arbitrary. Therefore, all of the measurement terminals, which are larger in number than the number of electrodes on the outer peripheral surface, are contacted with the outer peripheral surface of the electronic component to make a tentative measurement, and the electrode position on the outer peripheral surface is recognized by the tentative measurement. It is possible to select the contacting measuring terminal and connect it to the measuring instrument to measure the characteristics of the electronic component.

【0019】[0019]

【実施例】以下、本発明に係る電子部品の測定方法及び
装置の実施例を図面に従って説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of a method and apparatus for measuring an electronic component according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】図1及び第2図は実施例の全体構成を示
す。これらの図において、基台110上には、被測定電
子部品としてのリングバリスタ1を供給するパーツフィ
ーダ40と、該パーツフィーダ40の直線供給路40A
からリングバリスタ1の供給を受けるロータリーテーブ
ル50と、測定プローブ取付用アーム61を90度間隔
で有する間欠回転体60と、各アーム61の先端部に取
り付けられた測定プローブ70と、選別テーブル80と
を備えている。
1 and 2 show the overall construction of the embodiment. In these figures, on a base 110, a parts feeder 40 for supplying a ring varistor 1 as an electronic component to be measured, and a linear supply path 40A for the parts feeder 40.
From the rotary table 50 which receives the supply of the ring varistor 1 from the above, the intermittent rotating body 60 having the measurement probe attachment arms 61 at 90 degree intervals, the measurement probe 70 attached to the tip of each arm 61, and the selection table 80. Is equipped with.

【0021】前記パーツフィーダ40の上方にはリング
バリスタ1を多数収容したホッパー41が配設されてお
り、パーツフィーダ40内のリングバリスタ1が不足し
たときにそれを補充するためのものである。パーツフィ
ーダ40は振動によりリングバリスタ1を1列にして直
線供給路40Aに送り出す機能を有する。
A hopper 41 which accommodates a large number of ring varistor 1 is arranged above the parts feeder 40, and is used for supplementing the ring varistor 1 in the parts feeder 40 when it runs out. The parts feeder 40 has a function of arranging the ring varistor 1 into one row and sending it to the linear supply path 40A by vibration.

【0022】図2乃至図3に示すように、ロータリーテ
ーブル50は、基台110上に立設固定された中心軸5
1を回転支点として回転自在であり、該ロータリーテー
ブル50にベルト車52が固定、一体化されている。ま
た、中心軸51にはロータリーテーブル駆動用モーター
53が固定され、該モーター53の回転軸に固定された
ベルト車54と前記ロータリーテーブル50に一体化さ
れたベルト車52との間にベルト55が巻き掛けられて
いる。従って、ロータリーテーブル50はモーター53
の回転駆動力を受けて図1及び図3で常時左回り(反時
計回り)に連続回転している。
As shown in FIGS. 2 to 3, the rotary table 50 includes a central shaft 5 which is vertically fixed on a base 110.
1 is rotatable about a rotation fulcrum, and a belt wheel 52 is fixed and integrated with the rotary table 50. A rotary table driving motor 53 is fixed to the central shaft 51, and a belt 55 is provided between a belt wheel 54 fixed to the rotary shaft of the motor 53 and a belt wheel 52 integrated with the rotary table 50. It is wrapped around. Therefore, the rotary table 50 has a motor 53.
1 and FIG. 3, it continuously rotates counterclockwise in the counterclockwise direction.

【0023】前記中心軸51上には内側ガイド円板56
が固定され、該内側ガイド円板56に対し連結固定具5
7を介し外側ガイド板58が固定されている。これらの
内側ガイド円板56及び外側ガイド板58は、ロータリ
ーテーブル50上のリングバリスタ1がロータリーテー
ブル50の周縁部に載って円弧状に移動するようにガイ
ドするために配設されている。また、内側ガイド円板5
6には取付具59で光センサS1,S2が2箇所取り付
けられている。これらの光センサS1,S2はロータリ
ーテーブル50上のリングバリスタ1が無くなったこと
を検出するためのものである。光センサS1がリングバ
リスタ1無しを検出したとき、パーツフィーダ40及び
その直線供給路40Aを駆動するようにし、光センサS
2がリングバリスタ1無しを検出したとき、異常発生と
して装置を停止する。
An inner guide disk 56 is provided on the central shaft 51.
Is fixed, and the connecting fixture 5 is connected to the inner guide disk 56.
The outer guide plate 58 is fixed via the guide plate 7. The inner guide disk 56 and the outer guide plate 58 are arranged to guide the ring varistor 1 on the rotary table 50 so that the ring varistor 1 is placed on the peripheral portion of the rotary table 50 and moves in an arc shape. Also, the inner guide disk 5
Optical sensors S1 and S2 are attached to 6 at two locations with attachments 59. These optical sensors S1 and S2 are for detecting that the ring varistor 1 on the rotary table 50 is gone. When the optical sensor S1 detects that the ring varistor 1 is not present, the parts feeder 40 and its linear supply path 40A are driven.
When 2 detects the absence of the ring varistor 1, the device is stopped as an abnormality.

【0024】前記外側ガイド板58の右端には、リング
バリスタ1をロータリーテーブル50から外れた移し変
え位置Pに案内する案内路90を持つ案内部材91が固
定されている。該案内部材91はロータリーテーブル5
0の周縁部上に斜めに延長した延長部91Aと、延長部
91Aで移し変え位置Pに導かれたリングバリスタ1を
位置決め、停止させるストッパ部91Bとを備えてい
る。また、案内路90の移し変え位置Pには切欠き92
が形成され、該切欠き92に押し上げ部材としての押し
上げ棒100が基台110側に固定の支持筒101にて
昇降自在に支持されている。該押し上げ棒100は、通
常、案内路90と同じ高さでリングバリスタ1が到来す
るのを待機している。
A guide member 91 having a guide path 90 for guiding the ring varistor 1 to a transfer position P which is separated from the rotary table 50 is fixed to the right end of the outer guide plate 58. The guide member 91 is the rotary table 5
It is provided with an extension portion 91A that extends obliquely on the peripheral edge portion of 0 and a stopper portion 91B that positions and stops the ring varistor 1 that is moved to the position P by the extension portion 91A. Further, a cutout 92 is provided at the transfer position P of the guideway 90.
A push-up rod 100 as a push-up member is supported in the notch 92 by a support cylinder 101 fixed to the base 110 side so as to be able to move up and down. The push-up rod 100 is normally waiting for the arrival of the ring varistor 1 at the same height as the guide path 90.

【0025】図2のように、前記間欠回転体60は、基
台110に対して軸受61で回転自在に支持された間欠
回転軸62の上端部に固定され、当該間欠回転体60の
4本の(90度間隔の)測定プローブ取付用アーム61
にはそれぞれ測定プローブ70が取り付けられている。
As shown in FIG. 2, the intermittent rotating body 60 is fixed to an upper end portion of an intermittent rotating shaft 62 rotatably supported by a bearing 61 with respect to a base 110, and the four intermittent rotating bodies 60 are fixed. Arm 61 for mounting the measurement probe (at intervals of 90 degrees)
A measurement probe 70 is attached to each.

【0026】図4乃至図8に示すように、各々の測定プ
ローブ70は5個の測定端子71を持ち、各測定端子7
1は2枚の平行な可撓性板材としてのガラスエポキシ積
層板72A,72Bの下端部に固定され、ガラスエポキ
シ積層板72A,72Bの上端部は取付具73を介し本
体部74にビス止めで固定されている。内側のガラスエ
ポキシ積層板72Aの中間位置には可動駒75がそれぞ
れ固着されている。本体部74を上下方向に摺動自在に
貫通した軸体76の下部にはテーパーカム77が一体に
設けられ、該テーパーカム77は各可動駒75に当接し
てそれらの間隔を広げることができるようになってい
る。軸体76の頭部78は円板状となっており、該頭部
78の下面と本体部74間に前記テーパーカム77を上
方に付勢する圧縮ばね79が配設されている。前記本体
部74の小径部74Aは前記測定プローブ取付用アーム
61に固定されている。前記5個の測定端子71の先端
は正五角形の頂点に位置し(72度分割)、それらの測
定端子71は摩耗による接触抵抗の変化を避けるため、
表面処理無しの焼き入れ鋼としている。
As shown in FIGS. 4 to 8, each measuring probe 70 has five measuring terminals 71, and each measuring terminal 7
1 is fixed to the lower end portions of two glass flexible epoxy laminated plates 72A and 72B serving as parallel flexible plate members, and the upper end portions of the glass epoxy laminated plates 72A and 72B are screwed to the main body portion 74 via a fixture 73. It is fixed. Movable pieces 75 are fixed to intermediate positions of the inner glass epoxy laminated plate 72A. A taper cam 77 is integrally provided at a lower portion of a shaft body 76 that penetrates the main body portion 74 slidably in the vertical direction, and the taper cam 77 can abut each movable piece 75 to widen the interval between them. It is like this. A head 78 of the shaft 76 has a disk shape, and a compression spring 79 for urging the taper cam 77 upward is disposed between the lower surface of the head 78 and the body 74. The small diameter portion 74A of the main body portion 74 is fixed to the measurement probe mounting arm 61. The tips of the five measuring terminals 71 are located at the vertices of a regular pentagon (divided by 72 degrees), and these measuring terminals 71 avoid contact resistance change due to wear.
Hardened steel without surface treatment.

【0027】各測定プローブ70の開動作は、外力(テ
ーパーカム77の押し下げ)で、閉動作はガラスエポキ
シ積層板72A,72Bの自己復帰(弾性)によって行
うようになっている。
The opening operation of each measuring probe 70 is performed by an external force (pushing down the taper cam 77), and the closing operation is performed by the self-recovery (elasticity) of the glass epoxy laminated plates 72A and 72B.

【0028】図1及び図2に示すように、前記間欠回転
体60に取り付けられた測定プローブ70は、移し変え
位置Pの真上となる停止位置Q1、この停止位置Q1か
ら90度回転した停止位置Q2、この停止位置Q2から
90度回転した停止位置Q3、この停止位置Q3から9
0度回転した停止位置Q4の4箇所の停止位置を持つ。
停止位置Q1は、測定プローブ70が移し変え位置P上
のリングバリスタ1を押し上げ棒100の押し上げ動作
で上昇位置としたときに挟持する位置であり、停止位置
Q3は、電気抵抗測定の終わったリングバリスタ1を測
定プローブ70から解放して選別テーブル80上に落下
させる位置である。
As shown in FIGS. 1 and 2, the measuring probe 70 attached to the intermittent rotating body 60 has a stop position Q1 immediately above the transfer position P, and a stop rotated 90 degrees from the stop position Q1. Position Q2, stop position Q3 rotated 90 degrees from this stop position Q2, and this stop position Q3 to 9
It has four stop positions, a stop position Q4 rotated by 0 degrees.
The stop position Q1 is a position at which the measurement probe 70 clamps the ring varistor 1 on the transfer position P when the push-up operation of the push-up rod 100 raises the ring varistor 1, and the stop position Q3 is the ring where the electrical resistance measurement is completed. It is a position where the varistor 1 is released from the measurement probe 70 and dropped on the selection table 80.

【0029】それらの停止位置Q1,Q3の測定プロー
ブ70を開閉駆動するために、基台110上に立設固定
された支柱63に揺動レバー64が枢支され、該揺動レ
バー64の2股に分岐した先端部にローラー65が枢着
されている。該ローラー65は、停止位置Q1,Q3で
停止中の測定プローブ70の図5及び図7に示すテーパ
ーカム駆動用の頭部78に当接してこれを押し下げるこ
とにより測定プローブ70を開閉する。すなわち、ロー
ラー65が上昇位置では図5のようにテーパーカム77
は上昇位置であり、ガラスエポキシ積層板72A,72
Bは真っすぐで各測定端子71の先端の間隔は最も狭
く、閉じた状態となる。一方、前記揺動レバー64の揺
動に伴いローラー65が下降位置となると頭部78を介
しテーパーカム77が下降位置に下がり、図7の如くテ
ーパーカム77が可動駒75に当接して各可動駒75の
間隔を広げる。この結果、ガラスエポキシ積層板72
A,72Bが撓んで各測定端子71の先端の間隔が広が
り、開いた状態となる。なお、前記揺動レバー64の後
端部には連結ロッド66が連結され、基台下側の駆動部
からの駆動力が伝達されるようになっている。
In order to open and close the measuring probe 70 at the stop positions Q1 and Q3, a swing lever 64 is pivotally supported by a support column 63 which is vertically erected on the base 110, and the swing lever 64 has two positions. A roller 65 is pivotally attached to the tip end portion branched to the crotch. The roller 65 opens and closes the measuring probe 70 by abutting against the head 78 for driving the taper cam shown in FIGS. 5 and 7 of the measuring probe 70 which is stopped at the stop positions Q1 and Q3 and pushing it down. That is, when the roller 65 is in the raised position, as shown in FIG.
Is the raised position, and the glass epoxy laminated plates 72A, 72
B is straight, and the distance between the tips of the respective measurement terminals 71 is the smallest, and the measurement terminals 71 are in a closed state. On the other hand, when the roller 65 moves to the lowered position as the swing lever 64 swings, the taper cam 77 is lowered to the lowered position via the head 78, and the taper cam 77 abuts the movable piece 75 as shown in FIG. Increase the space between the pieces 75. As a result, the glass epoxy laminate 72
A and 72B are bent and the distance between the tips of the respective measurement terminals 71 is widened and the measurement terminals 71 are opened. A connecting rod 66 is connected to the rear end of the swing lever 64 so that the driving force from the drive unit below the base is transmitted.

【0030】前記間欠回転体60上には水銀リレー及び
ロータリーコネクタ67が配設されている。該水銀リレ
ー及びロータリーコネクタ67は停止位置Q2を中心と
して±45度の範囲にある測定プローブ70の測定端子
71と測定器(ここでは被測定電子部品がリングバリス
タ1であるので電気抵抗の測定を行うもの)とを接続す
るものであり、各測定端子71を選択的に測定器に接続
する選択切り換え手段として機能する。
A mercury relay and a rotary connector 67 are arranged on the intermittent rotating body 60. The mercury relay and rotary connector 67 have a measuring terminal 71 of a measuring probe 70 and a measuring device which are in a range of ± 45 degrees around a stop position Q2 (here, since the measured electronic component is the ring varistor 1, the electric resistance is measured). What is performed) and functions as selection switching means for selectively connecting each measuring terminal 71 to the measuring device.

【0031】図1及び図2に示す選別テーブル80は、
基台110に対して軸受81で回転自在に支持された間
欠回転軸82の上端部に固定されている。すなわち、図
2のように選別テーブル80の底面フレーム83が間欠
回転軸82に固定され、該底面フレーム83にロータリ
ーソレノイド84が固定されている。そして、該ロータ
リーソレノイド84の回転軸に測定済みのリングバリス
タ1を受ける皿状乃至椀状の部品受け85が固定されて
いる。前記ロータリーソレノイド84の回転量は、上向
きであった部品受け85を横転乃至反転できるように、
90度乃至180度程度に設定されている。ロータリー
ソレノイド84及び部品受け85の個数は、図1に示す
ように8個であり、選別テーブル80に対して45度間
隔で設けられている。
The selection table 80 shown in FIGS. 1 and 2 is
It is fixed to the upper end of an intermittent rotation shaft 82 which is rotatably supported by a bearing 81 with respect to the base 110. That is, as shown in FIG. 2, the bottom frame 83 of the selection table 80 is fixed to the intermittent rotation shaft 82, and the rotary solenoid 84 is fixed to the bottom frame 83. A dish-shaped or bowl-shaped component receiver 85 for receiving the measured ring varistor 1 is fixed to the rotary shaft of the rotary solenoid 84. The rotation amount of the rotary solenoid 84 is set so that the component receiver 85, which has been directed upward, can be turned over or inverted.
It is set to about 90 to 180 degrees. The number of rotary solenoids 84 and the number of component receivers 85 are eight as shown in FIG. 1, and they are provided at intervals of 45 degrees with respect to the selection table 80.

【0032】前記間欠回転体60の間欠回転軸62は1
回の間欠回転で90度回転するのに対し、選別テーブル
80の間欠回転軸82は1回の間欠回転で45度回転す
る。従って選別テーブル80の下方の基台110に固定
的に配置された選別箱86は45度の配列間隔で7個設
置されている(測定プローブ70の停止位置Q3の真下
には配置していない。)。
The intermittent rotation shaft 62 of the intermittent rotation body 60 is 1
The intermittent rotation shaft 82 rotates 90 degrees in one intermittent rotation, whereas the intermittent rotation shaft 82 of the selection table 80 rotates 45 degrees in one intermittent rotation. Therefore, seven sorting boxes 86, which are fixedly arranged on the base 110 below the sorting table 80, are installed at an arrangement interval of 45 degrees (not located immediately below the stop position Q3 of the measurement probe 70). ).

【0033】なお、前記選別テーブル80において、各
部品受け85がリングバリスタ1を受け取り、その後選
別箱86に落下させ得るように、当該選別テーブルの上
面及び下面パネルに切欠きを形成しておく。また、選別
テーブル80上には各ロータリーソレノイド84を外部
電源に接続するためのロータリーコネクタ87が配設さ
れている。
In the sorting table 80, notches are formed in the upper and lower panels of the sorting table so that each component receiver 85 can receive the ring varistor 1 and then drop it into the sorting box 86. Further, a rotary connector 87 for connecting each rotary solenoid 84 to an external power source is arranged on the selection table 80.

【0034】図2のように、基台110の下側に格納固
定された駆動用モーター120の回転駆動力は、巻掛け
伝動機構121を介し第1の間欠駆動機構122に伝達
されるとともに、巻き掛け伝動機構123を介し第2の
間欠駆動機構124に伝達されている。そして、第1の
間欠駆動機構122の出力軸が1回の間欠回転で45度
回転するもので前記選別テーブル側の間欠回転軸82に
連結され、第2の間欠駆動機構124の出力軸が1回の
間欠回転で90度回転するもので前記間欠回転体側の間
欠回転軸62に連結されている。
As shown in FIG. 2, the rotational driving force of the drive motor 120, which is fixedly stored under the base 110, is transmitted to the first intermittent drive mechanism 122 via the winding transmission mechanism 121, and It is transmitted to the second intermittent drive mechanism 124 via the winding transmission mechanism 123. The output shaft of the first intermittent drive mechanism 122 rotates 45 degrees in one intermittent rotation, and is connected to the intermittent rotary shaft 82 on the sorting table side, and the output shaft of the second intermittent drive mechanism 124 is 1. It rotates 90 degrees by one intermittent rotation, and is connected to the intermittent rotation shaft 62 on the intermittent rotation body side.

【0035】次に、上記実施例の全体的動作及びリング
バリスタ1の測定方法について説明する。
Next, the overall operation of the above embodiment and the measuring method of the ring varistor 1 will be described.

【0036】パーツフィーダ40から供給されたリング
バリスタ1は、その直線供給路40Aを経てロータリー
テーブル50の外周縁上に載り、ロータリーテーブル5
0の連続回転に伴って内側ガイド円板56及び外側ガイ
ド板58でガイドされつつ円弧状に移送されて行き、図
3の案内部材91の延長部91Aに当たる。この結果、
リングバリスタ1は延長部91Aに沿って案内路90上
に移りストッパ部91Bに当接して移し変え位置Pで停
止する。この移し変え位置Pでは案内路90と同じ高さ
で押し上げ棒100が待機しているため、リングバリス
タ1は押し上げ棒上端面に載ることになる。なお、ロー
タリーテーブル50上にリングバリスタ1が連なっても
リングバリスタ1の推進力はリングバリスタ1とロータ
リーテーブル50間に生じる摩擦だけなのでリングバリ
スタ同士が重なることはない。
The ring varistor 1 supplied from the parts feeder 40 is placed on the outer peripheral edge of the rotary table 50 via the linear supply path 40A, and the rotary table 5
Along with the continuous rotation of 0, the inner guide disk 56 and the outer guide plate 58 guide the same, and then it is transferred in an arc shape and hits the extension portion 91A of the guide member 91 in FIG. As a result,
The ring varistor 1 moves along the extension portion 91A onto the guide path 90, abuts on the stopper portion 91B, and is moved and stopped at the changing position P. At the transfer position P, since the push-up rod 100 stands by at the same height as the guide path 90, the ring varistor 1 is placed on the upper end face of the push-up rod. Even if the ring varistor 1 is connected to the rotary table 50, the propulsive force of the ring varistor 1 is only the friction generated between the ring varistor 1 and the rotary table 50, and the ring varistors do not overlap with each other.

【0037】揺動レバー64先端のローラー65で停止
位置Q1で停止中の測定プローブ70の頭部78が押し
下げられると、停止位置Q1の測定プローブ70の各測
定端子71が図7及び図8の如く開き、これと同期して
移し変え位置Pの押し上げ棒100が上昇位置に移動
し、その上端面に載ったリングバリスタ1を各測定端子
71間に位置せしめる。その後、揺動レバー64の先端
が上昇して停止位置Q1の測定プローブ70は閉じ、各
測定端子71でリングバリスタ1を挟持する。なお、停
止位置Q3の測定プローブ70も停止位置Q1のものと
同期して開閉する。
When the head 78 of the measuring probe 70 stopped at the stop position Q1 is pushed down by the roller 65 at the tip of the swing lever 64, each measuring terminal 71 of the measuring probe 70 at the stop position Q1 is moved to the position shown in FIGS. As described above, the push-up rod 100 at the changing position P is moved to the ascending position in synchronization with this, and the ring varistor 1 mounted on the upper end surface thereof is positioned between the measuring terminals 71. After that, the tip of the swing lever 64 rises, the measurement probe 70 at the stop position Q1 is closed, and the ring varistor 1 is held between the measurement terminals 71. The measuring probe 70 at the stop position Q3 also opens and closes in synchronization with the stop position Q1.

【0038】停止位置Q1の測定プローブ70で保持さ
れたリングバリスタ1は、間欠回転体60の90度毎の
間欠回転に伴い停止位置Q2、停止位置Q3の順に移送
される。リングバリスタ1の電気特性の測定は、停止位
置Q2を中心として±90度未満の範囲(Q1を出発後
Q3に到着する前)にある測定プローブ70の測定端子
71を水銀リレー及びロータリーコネクタ67を介し測
定器に接続して行う。
The ring varistor 1 held by the measuring probe 70 at the stop position Q1 is transferred in the order of the stop position Q2 and the stop position Q3 with the intermittent rotation of the intermittent rotating body 60 every 90 degrees. The electrical characteristics of the ring varistor 1 are measured by connecting the measurement terminal 71 of the measurement probe 70 in the range of less than ± 90 degrees (before leaving Q3 before arriving at Q3) about the stop position Q2 to the mercury relay and rotary connector 67. Connected to the measuring instrument via.

【0039】ここでのリングバリスタ1の測定方法とし
ては、大別して第1の方法と第2の方法とがある。
The measuring method of the ring varistor 1 here is roughly classified into a first method and a second method.

【0040】まず図9乃至図14を用いて第1の方法に
ついて述べる。これらの図において、1はリングバリス
タであり、一定厚みを有する円環状セラミック素地30
の外周面(円周面)に3個の側面電極31A,31B,
31Cを形成したもので、側面電極間はセラミック素地
が露出した電極間ギャップ32となっている。また、測
定プローブ70の5個の72度分割で配置された測定端
子71には乃至の符号を付してある。
First, the first method will be described with reference to FIGS. 9 to 14. In these figures, 1 is a ring varistor, which is an annular ceramic body 30 having a constant thickness.
On the outer peripheral surface (circumferential surface) of the three side electrodes 31A, 31B,
31C is formed, and there is an inter-electrode gap 32 where the ceramic base is exposed between the side electrodes. The measuring terminals 71 arranged at five 72-degree divisions of the measuring probe 70 are denoted by the reference symbols.

【0041】(イ) 仮測定において、図9及び図10
のように、隣合う測定端子,がそれぞれ隣合う電極
31A,31Bに接触するとき、隣合う測定端子,
の反対側の測定端子は異なる電極31Cに接触してい
る。この状態を「OKモード」と呼ぶことにする。 (ロ) 仮測定において、図11及び図12のように、
隣合う測定端子,が1つの電極31Aに接触すると
き、隣合う測定端子,の両脇の測定端子,はそ
れぞれ異なる電極31B,31Cに接触している。この
状態を「ショートモード」と呼ぶことにする。 (ハ) 仮測定において、図13及び図14のように、
隣合う測定端子,の一方が電極31Aに接触し、他
方が電極間ギャップ32に接触しているとき、隣合う測
定端子,の両脇の測定端子,はそれぞれ異なる
電極31B,31Cに接触している。この状態を「オー
プンモード」と呼ぶことにする。
(A) In the temporary measurement, FIG. 9 and FIG.
When the adjacent measurement terminals contact the adjacent electrodes 31A and 31B, as shown in FIG.
The measurement terminal on the opposite side of is in contact with a different electrode 31C. This state will be referred to as "OK mode". (B) In the temporary measurement, as shown in FIG. 11 and FIG.
When the adjacent measurement terminals contact one electrode 31A, the adjacent measurement terminals and the measurement terminals on both sides of the adjacent measurement terminal respectively contact different electrodes 31B and 31C. This state is called "short mode". (C) In the temporary measurement, as shown in FIGS. 13 and 14,
When one of the adjacent measurement terminals is in contact with the electrode 31A and the other is in contact with the inter-electrode gap 32, the adjacent measurement terminals, and the measurement terminals on both sides of the adjacent measurement terminals, are in contact with different electrodes 31B and 31C, respectively. There is. This state is called "open mode".

【0042】以上のように、測定端子乃至のうち隣
り合う測定端子,について側面電極31A,31
B,31Cへの接触のしかたを整理すると、上記
(イ)、(ロ)、(ハ)の3モードになる。従って、仮
測定において、測定器と、隣り合う測定端子,とを
水銀リレー及びロータリーコネクタ67を介して接続
し、隣り合う測定端子,間に定電流を通電して電圧
値を測定する。「OKモード」のときの電圧値を100
としたとき、「ショートモード」は0〜1、「オープン
モード」は200〜300となり、この電圧値より接触
モードを特定することができる。すなわち、適切な上限
値と下限値を設定し、測定電圧値が (下限値)<(測定電圧値)<(上限値) のとき、「OKモード」と判断し、(測定電圧値)≦
(下限値)のとき「ショートモード」と判断し、(上限
値)≦(測定電圧値)のとき「オープンモード」と判断
する。
As described above, the side electrodes 31A and 31A are provided for the measurement terminals and adjacent measurement terminals among them.
When the methods of contacting B and 31C are sorted out, the three modes of (a), (b), and (c) above are obtained. Therefore, in the tentative measurement, the measuring device and the adjacent measuring terminal are connected via the mercury relay and the rotary connector 67, and a constant current is passed between the adjacent measuring terminals to measure the voltage value. Set the voltage value in "OK mode" to 100
Then, the "short mode" is 0-1 and the "open mode" is 200-300, and the contact mode can be specified from this voltage value. That is, when appropriate upper and lower limits are set and the measured voltage value is (lower limit value) <(measured voltage value) <(upper limit value), it is judged as "OK mode" and (measured voltage value) ≤
When (lower limit value), it is judged as "short mode", and when (upper limit value) ≤ (measured voltage value), it is judged as "open mode".

【0043】仮測定によって接触モードを特定した後、
側面電極31A,31B,31C相互間の電気抵抗の測
定を行う。「OKモード」では、側面電極31Aに測定
端子(第1極となる)が、側面電極31Bに測定端子
(第2極となる)が、側面電極31Cに測定端子
(第3極となる)が接触しているから、水銀リレー及び
ロータリーコネクタ67を切り換えて、測定端子−
間の電気抵抗測定を行い、次いで測定端子−間の電
気抵抗測定を行い、さらに測定端子−間の電気抵抗
測定を行う。
After the contact mode is specified by the temporary measurement,
The electric resistance between the side surface electrodes 31A, 31B, 31C is measured. In the “OK mode”, the side surface electrode 31A has a measurement terminal (becomes the first pole), the side surface electrode 31B has a measurement terminal (becomes the second pole), and the side surface electrode 31C has the measurement terminal (becomes the third pole). Since they are in contact, switch the mercury relay and rotary connector 67 to
The electrical resistance between the measuring terminals is measured, then the electrical resistance between the measuring terminals is measured, and then the electrical resistance between the measuring terminals is measured.

【0044】「ショートモード」では、側面電極31A
に測定端子と(第1極となる)が、側面電極31B
に測定端子(第2極となる)が、側面電極31Cに測
定端子(第3極となる)が接触しているから、水銀リ
レー及びロータリーコネクタ67を切り換えて、測定端
子,−間の電気抵抗測定を行い、次いで測定端子
−間の電気抵抗測定を行い、さらに測定端子−
,間の電気抵抗測定を行う。
In the "short mode", the side electrode 31A
The measurement terminal and (becomes the first pole) are the side surface electrodes 31B.
Since the measurement terminal (which becomes the second pole) is in contact with the side surface electrode 31C and the measurement terminal (which becomes the third pole), the mercury relay and the rotary connector 67 are switched, and the electrical resistance between the measurement terminal and-is changed. Measurement, then measurement of electrical resistance between measurement terminals, and then measurement terminals
Conduct electrical resistance measurement between and.

【0045】「オープンモード」では、側面電極31A
に測定端子又は(第1極となる)が、側面電極31
Bに測定端子(第2極となる)が、側面電極31Cに
測定端子(第3極となる)が接触しているから、水銀
リレー及びロータリーコネクタ67を切り換えて、測定
端子,−間の電気抵抗測定を行い、次いで測定端
子−間の電気抵抗測定を行い、さらに測定端子−
,間の電気抵抗測定を行う。
In the "open mode", the side electrode 31A
The measurement terminal or (becomes the first pole) is the side electrode 31
Since the measurement terminal (to be the second pole) is in contact with B and the measurement terminal (to be the third pole) is in contact with the side surface electrode 31C, the mercury relay and the rotary connector 67 are switched to switch between the measurement terminals and −. Conduct resistance measurement, then measure electrical resistance between measurement terminals, and then
Conduct electrical resistance measurement between and.

【0046】次に図15乃至図17を用いて第2の方法
について述べる。この第2の方法は、リングバリスタ1
の1つの側面電極に対し2つの隣合う測定端子が接触す
る箇所が必ずあり、その隣合う測定端子の両脇の測定端
子はそれぞれ異なる側面電極に接触していることを利用
するものである。例えば、図15の場合、隣合う測定端
子,が1つの電極31Bに接触し、このとき両脇の
測定端子,はそれぞれ異なる電極31A,31Cに
接触している。図16の場合、隣合う測定端子,が
1つの電極31Cに接触し、このとき両脇の測定端子
,はそれぞれ異なる電極31B,31Aに接触して
いる。また、図16の場合、隣合う測定端子,が1
つの電極31Aに接触し、両脇の測定端子,はそれ
ぞれ異なる電極31B,31Cに接触していると考える
こともできる。図17の場合、隣合う測定端子,が
1つの電極31Bに接触し、このとき両脇の測定端子
,はそれぞれ異なる電極31A,31Cに接触して
いる。
Next, the second method will be described with reference to FIGS. This second method is the ring varistor 1
There is always a place where two adjacent measuring terminals are in contact with one side electrode, and the fact that the measuring terminals on both sides of the adjacent measuring terminal are respectively in contact with different side electrodes is utilized. For example, in the case of FIG. 15, adjacent measurement terminals are in contact with one electrode 31B, and at this time, the measurement terminals on both sides are in contact with different electrodes 31A and 31C, respectively. In the case of FIG. 16, adjacent measuring terminals are in contact with one electrode 31C, and at this time, the measuring terminals on both sides are in contact with different electrodes 31B and 31A, respectively. Further, in the case of FIG. 16, the adjacent measuring terminals are 1
It can be considered that one electrode 31A is in contact, and the measurement terminals on both sides are in contact with different electrodes 31B and 31C, respectively. In the case of FIG. 17, the adjacent measurement terminals are in contact with one electrode 31B, and the measurement terminals on both sides are in contact with different electrodes 31A and 31C.

【0047】従って、仮測定において、まず測定端子
,を水銀リレー及びロータリーコネクタ67を介し
測定器に接続し、両測定端子−間に定電流を通電し
て電圧値を読み込み、設定値以下であるかどうか判別
し、設定値以下であれば測定端子,が1つの電極に
接触していると判断し、これを第1極とする。従って、
以後の電気抵抗の測定では、測定端子,(第1極と
なる)と、その両脇の測定端子(第2極となる)と,
測定端子(第3極となる)とを選択し、水銀リレー及
びロータリーコネクタ67を切り換えて、測定端子,
−間の電気抵抗測定を行い、次いで測定端子−
間の電気抵抗測定を行い、さらに測定端子−,間
の電気抵抗測定を行う。
Therefore, in the tentative measurement, first, the measuring terminal is connected to the measuring instrument via the mercury relay and the rotary connector 67, a constant current is passed between both measuring terminals to read the voltage value, and the value is below the set value. If it is less than the set value, it is determined that the measuring terminal is in contact with one electrode, and this is the first pole. Therefore,
In the subsequent measurement of the electric resistance, the measurement terminal (which becomes the first pole) and the measurement terminals (which become the second pole) on both sides of the measurement terminal,
Select the measurement terminal (which will be the third pole), switch the mercury relay and rotary connector 67, and
-Measure the electrical resistance between
The electrical resistance between the measuring terminals is measured.

【0048】また、前記測定端子−間に定電流を通
電したときの電圧値が、設定値より大きければ、測定端
子−間、−間、−間、−間の順に定電
流を通電して電圧値が設定値以下となる所を特定して第
1極と定め、さらにその両脇の測定端子を選択して第2
極、第3極として、上記した場合と同様の電気抵抗の測
定を行う。
If the voltage value when a constant current is applied between the measuring terminals is larger than the set value, a constant current is applied in the order of measuring terminals-,-,-,-. The place where the value is less than the set value is specified and defined as the first pole, and the measurement terminals on both sides are selected to make the second pole.
As the pole and the third pole, the same electric resistance measurement as in the above case is performed.

【0049】上述のリングバリスタ1の電気特性測定
は、前記間欠回転体60に取り付けられた測定プローブ
70が停止位置Q1を出発してから停止位置Q2を通過
して停止位置Q3に到着する前までの間で実行され、測
定完了後のリングバリスタ1は、間欠回転体60の90
度毎の間欠回転で停止位置Q3に到着する。このとき、
選別テーブル80は間欠回転体60の間欠回転に同期し
て45度毎の間欠回転を行っているので、停止位置Q3
の真下で選別テーブル側の部品受け85が上向きで待機
している。そして、揺動レバー64先端のローラー65
で停止位置Q1,Q3で停止中の測定プローブ70の頭
部78が押し下げられ、停止位置Q1,Q3の測定プロ
ーブ70の各測定端子71が図7及び図8の如く開き、
この結果、停止位置Q3の測定プローブ70で挟持され
ていた測定済みのリングバリスタ1は選別テーブル側の
部品受け85上に落下する。
The measurement of the electrical characteristics of the ring varistor 1 described above is performed after the measurement probe 70 attached to the intermittent rotating body 60 departs from the stop position Q1 and before it reaches the stop position Q3 after passing through the stop position Q2. The ring varistor 1 after the measurement is completed is
It reaches the stop position Q3 by intermittent rotation every degree. At this time,
Since the selection table 80 performs intermittent rotation every 45 degrees in synchronization with the intermittent rotation of the intermittent rotation body 60, the stop position Q3.
The component receiver 85 on the side of the sorting table is on the standby position right below. Then, the roller 65 at the tip of the swing lever 64
, The head portion 78 of the measurement probe 70 stopped at the stop positions Q1 and Q3 is pushed down, and the measurement terminals 71 of the measurement probe 70 at the stop positions Q1 and Q3 are opened as shown in FIGS. 7 and 8.
As a result, the measured ring varistor 1 held by the measuring probe 70 at the stop position Q3 drops onto the component receiver 85 on the sorting table side.

【0050】前記選別テーブル80の下方位置に固定的
に配置された7個の選別箱86は、リングバリスタ1の
電気特性の測定結果に応じて選別できるように、例えば
設定特性値からのばらつきの程度に応じて選別箱を割り
当てるようにし、不良品についても1箱割り当てる。前
記選別テーブル側の部品受け85上に落下したリングバ
リスタ1は、選別テーブル80の45度毎の間欠回転に
より45度の配列間隔の選別箱86上に順次移動して行
き、測定結果に対応した選別箱上で停止したときに、ロ
ータリーソレノイド84で部品受け85が横転乃至反転
することで当該選別箱内に落下する。
The seven sorting boxes 86, which are fixedly arranged below the sorting table 80, can be sorted according to the measurement result of the electrical characteristics of the ring varistor 1, for example, the variation from the set characteristic value. Sorting boxes are assigned according to the degree, and one defective box is also assigned. The ring varistor 1 dropped on the parts receiver 85 on the sorting table side is sequentially moved onto the sorting box 86 having an arrangement interval of 45 degrees by intermittent rotation of the sorting table 80 every 45 degrees, and corresponds to the measurement result. When stopped on the sorting box, the component receiver 85 is turned over or inverted by the rotary solenoid 84 and falls into the sorting box.

【0051】上記実施例に構成によれば、次の通りの効
果を得ることができる。 (1) 被測定電子部品としてのリングバリスタ1の電
極数よりも多い個数の測定端子71を有する測定プロー
ブ70の全測定端子をリングバリスタ1の外周面に接触
させて仮測定を行い、この仮測定の結果によりリングバ
リスタ1の電極に接触している測定端子を特定して電気
特性を測定できる。したがって、従来装置で必要であっ
たリングバリスタ1の光電センサによるセンタリング
(電極位置を揃える工程)は不要となり、機構の簡略化
及び誤動作の解消ができる。また、測定端子の接触ミス
低減により、測定歩留りを向上させることができる。 (2) 間欠回転体60に複数の測定プローブ70を設
け、測定器に接続する測定プローブ70を順次切り換え
て測定を行うことで、測定タクトと、装置タクトとを極
限まで近付けることが可能である。すなわち、機械的動
作時間(間欠回転体60の動作時間)と測定時間との関
係は、並列に進行するので、装置タクト(処理タクト)
を容易に上げることができ、リングバリスタ1を移送す
る機構部分も1ラインで済み、リングバリスタ1の移送
機構も単純で省スペース及び保守性の向上が可能であ
る。例えば、従来装置では、測定部でのリングバリスタ
1の搬送、測定端子の開閉に時間がかかり、処理タクト
が約0.84秒かかっていたが、本実施例では、処理タ
クトは0.3秒程度に短縮できる。この結果、従来2ラ
イン(交互処理)で140個/分であったものが、20
0個/分に処理能力を向上させることができる。 (3) 測定プローブ70の各測定端子71を開閉自在
に支える機構部分に可撓性を有するガラスエポキシ積層
板72A,72Bを用いたので、測定プローブ70の機
構の簡略化を図ることができる。すなわち、従来の図2
2及び図23の測定プローブ20は、リンクピン22、
開閉アーム23、絶縁板24、コイルスプリング28等
の多数の部品が必要で、構造が複雑で測定端子数が増え
ると小型化が困難であるのに対し、本実施例で用いた測
定プローブ70のガラスエポキシ積層板72A,72B
は、スプリング特性の耐久性に優れ、リンク、アーム、
スプリング、絶縁材の4つの機能を持たせることがで
き、部品点数の削減や小型化ができる。さらに、2枚の
ガラスエポキシ積層板72A,72Bを平行に用いたこ
とで、図5及び図7のように測定端子71は平行状態を
保って開閉するため、リングバリスタ1の径が異なって
も接触に変化はない。そらに、測定端子71を表面処理
無しの焼入れ鋼としたことで、摩耗による接触抵抗の変
化を発生させず、安定した測定を行うことができる。 (4) パーツフィーダ40の直線供給路40A内でリ
ングバリスタ1が連なることを排除し、ロータリーテー
ブル50上でリングバリスタ1が連なるようにしたた
め、振動により直線供給路40A上でリングバリスタ1
が重なり詰まる現象を解消できる。また、リングバリス
タ1の移送に際し、真空吸着を用いる必要性がなく、真
空吸着に起因する故障の発生も無くすることができ、こ
れらによって動作の信頼性の改善を図ることができる。
According to the configuration of the above embodiment, the following effects can be obtained. (1) Temporary measurement is performed by bringing all the measurement terminals of the measurement probe 70 having the number of measurement terminals 71 larger than the number of electrodes of the ring varistor 1 as the electronic component to be measured into contact with the outer peripheral surface of the ring varistor 1 to perform temporary measurement. The electrical characteristics can be measured by specifying the measurement terminal in contact with the electrode of the ring varistor 1 based on the measurement result. Therefore, the centering (step of aligning the electrode positions) by the photoelectric sensor of the ring varistor 1 which is required in the conventional device is not necessary, and the mechanism can be simplified and malfunction can be eliminated. In addition, the measurement yield can be improved by reducing the contact error of the measurement terminals. (2) It is possible to bring the measurement tact and the device tact close to each other by providing a plurality of measurement probes 70 on the intermittent rotating body 60 and sequentially switching the measurement probes 70 connected to the measuring device to perform measurement. . That is, since the relationship between the mechanical operation time (the operation time of the intermittent rotating body 60) and the measurement time progresses in parallel, the device tact (processing tact).
The ring varistor 1 can be easily lifted up, and the mechanism part for transferring the ring varistor 1 only needs one line. The ring varistor 1 transfer mechanism is simple and space saving and maintainability can be improved. For example, in the conventional apparatus, it takes a long time to carry the ring varistor 1 and to open / close the measurement terminal in the measuring unit, and the processing tact takes about 0.84 seconds, but in the present embodiment, the processing tact is 0.3 seconds. It can be shortened to some extent. As a result, the number of lines that was 140 / min in the conventional 2 lines (alternate processing) was 20
The processing capacity can be improved to 0 / minute. (3) Since the glass epoxy laminated plates 72A and 72B having flexibility are used in the mechanism portion that supports each measurement terminal 71 of the measurement probe 70 so as to be openable and closable, the mechanism of the measurement probe 70 can be simplified. That is, FIG.
2 and the measurement probe 20 of FIG.
A large number of parts such as the open / close arm 23, the insulating plate 24, and the coil spring 28 are required, and it is difficult to reduce the size when the number of measurement terminals is increased, whereas the measurement probe 70 used in the present embodiment is difficult. Glass epoxy laminate 72A, 72B
Has excellent durability of spring characteristics, links, arms,
Since it can have four functions of a spring and an insulating material, the number of parts can be reduced and the size can be reduced. Furthermore, since the two glass epoxy laminated plates 72A and 72B are used in parallel, the measurement terminals 71 are opened and closed in parallel as shown in FIGS. 5 and 7, so that the diameter of the ring varistor 1 is different. There is no change in contact. In addition, since the measurement terminal 71 is made of hardened steel without surface treatment, a change in contact resistance due to wear does not occur and stable measurement can be performed. (4) Since the ring varistor 1 is excluded from being connected in the linear supply path 40A of the parts feeder 40 and the ring varistor 1 is connected in the rotary table 50, the ring varistor 1 is connected to the linear supply path 40A by vibration.
The phenomenon of overlapping and clogging can be eliminated. Further, it is not necessary to use vacuum suction when transferring the ring varistor 1, and it is possible to prevent the occurrence of a failure due to the vacuum suction, thereby improving the operational reliability.

【0052】なお、上記実施例では、3つの側面電極を
有するリングバリスタ1を測定する場合で説明したが、
2個又は4個以上の側面電極を有する円環乃至円板状の
電子部品の電気特性を測定する場合にも本発明は適用可
能である。また、測定内容も電気抵抗の他に、電子部品
がコンデンサの場合には静電容量を測定するようにで
き、電子部品がインダクタの場合にはインダクタンスを
測定するようにしても良い。
In the above embodiment, the ring varistor 1 having three side surface electrodes is measured.
The present invention can also be applied to the case of measuring the electrical characteristics of a ring-shaped or disk-shaped electronic component having two or four or more side electrodes. In addition to the electric resistance, the content of measurement may be such that the capacitance is measured when the electronic component is a capacitor, and the inductance may be measured when the electronic component is an inductor.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
外周面の電極個数よりも多い個数の測定端子の全てを電
子部品の外周面に接触させて仮測定を行い、仮測定によ
って外周面の電極位置を認識し、測定が必要となる電極
に接触している測定端子を選んで測定器に接続して電子
部品の特性を測定することができ、処理速度の高速化、
機構の簡略化、故障の発生の低減、ひいては信頼性の向
上を図ることができる。
As described above, according to the present invention,
All of the measurement terminals, which are larger in number than the number of electrodes on the outer peripheral surface, are brought into contact with the outer peripheral surface of the electronic component for temporary measurement, the electrode positions on the outer peripheral surface are recognized by the temporary measurement, and the electrodes that need to be measured are contacted. You can select the measuring terminal that is connected to the measuring instrument to measure the characteristics of electronic parts, speeding up the processing speed,
The mechanism can be simplified, the occurrence of failures can be reduced, and the reliability can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る電子部品の測定方法及び装置の実
施例を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an electronic component measuring method and apparatus according to the present invention.

【図2】同正断面図である。FIG. 2 is a front sectional view of the same.

【図3】実施例におけるロータリーテーブル及びその周
辺の機構を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a rotary table and a mechanism around the rotary table in the embodiment.

【図4】実施例における間欠回転体及び測定プローブを
示す下方よりみた斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view of an intermittent rotating body and a measurement probe as seen from below, according to an embodiment.

【図5】実施例で用いる測定プローブの閉じた状態の正
断面図である。
FIG. 5 is a front cross-sectional view of a measurement probe used in an example in a closed state.

【図6】閉じた状態の測定プローブの測定端子配置を示
す底面図である。
FIG. 6 is a bottom view showing the arrangement of measurement terminals of the measurement probe in the closed state.

【図7】実施例で用いる測定プローブの開いた状態の正
断面図である。
FIG. 7 is a front sectional view of a measurement probe used in an example in an open state.

【図8】開いた状態の測定プローブの測定端子配置を示
す底面図である。
FIG. 8 is a bottom view showing the arrangement of measurement terminals of the measurement probe in the opened state.

【図9】第1の測定方法において「OKモード」となる
場合の1例を示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example when the “OK mode” is set in the first measurement method.

【図10】第1の測定方法において「OKモード」とな
る場合の他の例を示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing another example when the “OK mode” is set in the first measurement method.

【図11】第1の測定方法において「ショートモード」
となる場合の1例を示す説明図である。
[FIG. 11] “Short mode” in the first measurement method
It is explanatory drawing which shows an example in case of becoming.

【図12】第1の測定方法において「ショートモード」
となる場合の他の例を示す説明図である。
[Fig. 12] "Short mode" in the first measurement method
It is explanatory drawing which shows the other example in case of becoming.

【図13】第1の測定方法において「オープンモード」
となる場合の1例を示す説明図である。
[Fig. 13] "Open mode" in the first measurement method
It is explanatory drawing which shows an example in case of becoming.

【図14】第1の測定方法において「オープンモード」
となる場合の他の例を示す説明図である。
[Fig. 14] "Open mode" in the first measurement method
It is explanatory drawing which shows the other example in case of becoming.

【図15】第2の測定方法における第1状態を示す説明
図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a first state in the second measuring method.

【図16】第2の測定方法における第2状態を示す説明
図である。
FIG. 16 is an explanatory diagram showing a second state in the second measuring method.

【図17】第2の測定方法における第3状態を示す説明
図である。
FIG. 17 is an explanatory diagram showing a third state in the second measuring method.

【図18】従来の電子部品の測定装置を示す平面図であ
る。
FIG. 18 is a plan view showing a conventional measuring apparatus for electronic components.

【図19】従来装置におけるセンタリング部を示す要部
断面図である。
FIG. 19 is a cross-sectional view of essential parts showing a centering part in a conventional device.

【図20】センタリング部にリングバリスタを移送した
所の平面図である。
FIG. 20 is a plan view of the ring varistor transferred to the centering unit.

【図21】センタリング部の拡大断面図である。FIG. 21 is an enlarged sectional view of a centering portion.

【図22】従来装置における測定プローブの閉じた状態
の正断面図である。
FIG. 22 is a front cross-sectional view of the measurement probe of the conventional apparatus in a closed state.

【図23】従来装置における測定プローブの開いた状態
の正断面図である。
FIG. 23 is a front cross-sectional view of the measurement device of the conventional device in an open state.

【図24】被測定電子部品としてのリングバリスタの平
面図である。
FIG. 24 is a plan view of a ring varistor as a measured electronic component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リングバリスタ 40 パーツフィーダ 40A 直線供給路 41 ホッパー 50 ロータリーテーブル 56 内側ガイド円板 58 外側ガイド板 60 間欠回転体 67 水銀リレー及びロータリーコネクタ 70 測定プローブ 71 測定端子 72A,72B ガラスエポキシ積層板 80 選別テーブル 84 ロータリーソレノイド 85 部品受け 86 選別箱 90 案内路 91 案内部材 91A 延長部 91B ストッパ部 100 押し上げ棒 110 基台 P 移し変え位置 Q1,Q2,Q3,Q4 停止位置 S1,S2 光センサ 1 ring varistor 40 parts feeder 40A straight line supply path 41 hopper 50 rotary table 56 inner guide disc 58 outer guide plate 60 intermittent rotor 67 mercury relay and rotary connector 70 measuring probe 71 measuring terminal 72A, 72B glass epoxy laminated plate 80 sorting table 84 Rotary Solenoid 85 Component Receiver 86 Sorting Box 90 Guideway 91 Guide Member 91A Extension 91B Stopper 100 Push-up Rod 110 Base P Transfer Change Position Q1, Q2, Q3, Q4 Stop Position S1, S2 Optical Sensor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // H01L 21/66 B 7377−4M ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location // H01L 21/66 B 7377-4M

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 外周面に複数個の電極を有する電子部品
の当該外周面に、前記複数個の電極の個数よりも多い個
数の測定端子を持つ測定プローブの全測定端子を接触さ
せて仮測定を行い、該仮測定の結果によりそれぞれの電
極に接触している測定端子を電気的に選択して各電極相
互間乃至特定電極間の特性を測定することを特徴とする
電子部品の測定方法。
1. An electronic component having a plurality of electrodes on its outer peripheral surface is temporarily contacted with all the measuring terminals of a measuring probe having a larger number of measuring terminals than the plurality of electrodes. And a measurement terminal in contact with each electrode is electrically selected according to the result of the tentative measurement, and the characteristic between the electrodes or between the specific electrodes is measured.
【請求項2】 外周面に複数個の電極を有する電子部品
を順次送り出すパーツフィーダと、該パーツフィーダか
ら送り出された電子部品を受けるロータリーテーブル
と、該ロータリーテーブルで移送されてきた電子部品を
移し変え位置に案内する案内部材と、前記移し変え位置
に到来した電子部品が載る押し上げ部材と、前記複数個
の電極の個数よりも多い個数の測定端子を持っていて前
記押し上げ部材で上昇位置となった電子部品を挟持する
測定プローブと、各測定端子を選択的に測定器に接続す
る選択切り換え手段とを備えたことを特徴とする電子部
品の測定装置。
2. A parts feeder for sequentially sending electronic parts having a plurality of electrodes on the outer peripheral surface, a rotary table for receiving the electronic parts sent from the parts feeder, and a transfer of the electronic parts transferred by the rotary table. It has a guide member for guiding to the changing position, a pushing-up member on which the electronic component arrived at the shifting position is placed, and a number of measuring terminals larger than the number of the plurality of electrodes, and the pushing-up member is in the rising position. A measuring device for electronic parts, comprising: a measuring probe for sandwiching the electronic part; and a selection switching means for selectively connecting each measuring terminal to a measuring instrument.
【請求項3】 外周面に複数個の電極を有する電子部品
を順次送り出すパーツフィーダと、該パーツフィーダか
ら送り出された電子部品を受けるロータリーテーブル
と、該ロータリーテーブルで移送されてきた電子部品を
移し変え位置に案内する案内部材と、前記移し変え位置
に到来した電子部品が載る押し上げ部材と、前記複数個
の電極の個数よりも多い個数の測定端子を持っていて前
記押し上げ部材で上昇位置となった電子部品を挟持する
測定プローブと、各測定端子を選択的に測定器に接続す
る選択切り換え手段と、回転駆動される選別テーブル
と、該選別テーブルに取り付けられた横転乃至反転手段
と、該横転乃至反転手段に取り付けられた部品受けと、
複数個の選別箱とを備え、 前記測定プローブで測定された電子部品を前記部品受け
で受け取り、測定結果に対応する特定の選別箱上で前記
部品受けを横転乃至反転させることを特徴とする電子部
品の測定装置。
3. A parts feeder for sequentially sending electronic parts having a plurality of electrodes on the outer peripheral surface, a rotary table for receiving the electronic parts sent from the parts feeder, and a transfer of the electronic parts transferred by the rotary table. It has a guide member for guiding to the changing position, a pushing-up member on which the electronic component arrived at the shifting position is placed, and a number of measuring terminals larger than the number of the plurality of electrodes, and the pushing-up member is in the rising position. Measuring probe for sandwiching the electronic component, selection switching means for selectively connecting each of the measuring terminals to the measuring device, a rotary driven sorting table, a rollover or inversion means attached to the sorttable, and the rollover table. Or a component receiver attached to the reversing means,
An electronic device comprising a plurality of sorting boxes, wherein the electronic component measured by the measuring probe is received by the component receiver, and the component receiver is turned over or inverted on a specific sorting box corresponding to a measurement result. Measuring device for parts.
【請求項4】 前記測定プローブが間欠回転体に複数個
取り付けられており、前記移し変え位置上で電子部品を
挟持してから前記部品受けが待機する解放位置上で電子
部品を解放するまでの間に電子部品の測定を実行する請
求項2又は3記載の電子部品の測定装置。
4. A plurality of the measurement probes are attached to an intermittent rotator, from sandwiching an electronic component at the transfer position to releasing the electronic component at a release position where the component receiver stands by. The electronic component measuring apparatus according to claim 2, wherein the measurement of the electronic component is executed during the period.
【請求項5】 前記測定プローブは、本体部に前記測定
端子を可撓性板材を介し等角度間隔で取り付け、開閉手
段で前記測定端子を開閉するようになっている請求項
2,3又は4記載の電子部品の測定装置。
5. The measuring probe according to claim 2, 3 or 4, wherein the measuring terminals are attached to the main body portion at equal angular intervals through a flexible plate member, and the opening and closing means opens and closes the measuring terminals. Measuring device for the electronic components described.
【請求項6】 前記可撓性板材がガラスエポキシ積層板
で構成されている請求項5記載の電子部品の測定装置。
6. The electronic component measuring apparatus according to claim 5, wherein the flexible plate member is formed of a glass epoxy laminated plate.
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Cited By (5)

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