JPH06177030A - Film formation substrate processing device - Google Patents

Film formation substrate processing device

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Publication number
JPH06177030A
JPH06177030A JP35039792A JP35039792A JPH06177030A JP H06177030 A JPH06177030 A JP H06177030A JP 35039792 A JP35039792 A JP 35039792A JP 35039792 A JP35039792 A JP 35039792A JP H06177030 A JPH06177030 A JP H06177030A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
developer
tank
substrate
film
substrate processing
Prior art date
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Pending
Application number
JP35039792A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kanji Irie
寛治 入江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daido Steel Co Ltd
Original Assignee
Daido Steel Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Daido Steel Co Ltd filed Critical Daido Steel Co Ltd
Priority to JP35039792A priority Critical patent/JPH06177030A/en
Publication of JPH06177030A publication Critical patent/JPH06177030A/en
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PURPOSE:To accurately remove a coating film in a specified pattern by providing with a developer tank that holds developer of enough amount for the entire substrate to be submerged in and an overflow tank that receives the overflowed developer from the develop tank. CONSTITUTION:A pair of guides 38, 38 that vertically support a substrate 16, a holder 18 in which desired numbers of 38, 38 are provided in parallel, and a developer tank 14 that holds enough amount of developer for the entire substrate 16, supported by the holder 18, to be submerged in, are provided. In addition, an overflow tank 32 that allows flowing-in of the developer overflowed out of the developer tank 14 is provided. Further a liquid supply part 20, comprising a discharge part 58 that discharges the developer upward along the surface of respective substrates 16, is provided, so that the developer in the overflow tank 32 is circulation-supplied to the liquid supply part 20. With this, a coating film formation surface of the substrate 16 can always be supplied with the developer with no degradation, so the coating film is surely removed with a specified pattern left as it is.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、成膜基盤処理装置に関
し、更に詳細には、各種の半導体や磁気薄膜ヘッド用の
ウェハを得る工程において、所要パターンの成膜化の際
に使用する基盤処理装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming substrate processing apparatus, and more particularly, a substrate used for forming a film of a required pattern in a process of obtaining wafers for various semiconductors and magnetic thin film heads. The present invention relates to a processing device.

【0002】[0002]

【従来技術】磁気または導電性の薄膜を所要パターンで
基盤上に形成するには、該基盤に施された成膜の上に被
覆膜(レジスト)を塗布した後に、フォトエッチングによ
り被覆膜を所要パターンで剥離して成膜化することが従
来より行なわれている。すなわち、所要パターンのマス
クを介して被覆膜の必要個所だけ露光させ、その後に基
盤を現像液に浸すことにより、被覆膜における露光した
個所を剥離(溶解)する。そして、該被覆膜の剥離により
形成される所要パターンに基づいて、次の工程で成膜の
パターンニングを行なうものである。
2. Description of the Related Art In order to form a magnetic or conductive thin film on a substrate in a required pattern, a coating film (resist) is applied on the film formed on the substrate, and then a coating film is formed by photoetching. It has been conventionally practiced to peel off in a required pattern to form a film. That is, only the required portions of the coating film are exposed through a mask having a required pattern, and then the substrate is immersed in a developing solution to remove (dissolve) the exposed portions of the coating film. Then, based on the required pattern formed by peeling off the coating film, patterning of film formation is performed in the next step.

【0003】前述した被覆膜を所要パターンを残して剥
離させる現像方式としては、容器に貯留した現像液中
に基盤を浸漬する方式、回転テーブルに位置決めされ
て回転している基盤の上方から、ノズルを介して現像液
をシャワーリングする方式および、基盤の上面に、そ
の全体に行き渡る量の現像液を供給し、この現像液が表
面張力により基盤上に滞留する状態で静止しておく方式
等が知られている。
As a developing method for peeling off the above-mentioned coating film leaving a required pattern, a method of immersing a substrate in a developer stored in a container, or a method of positioning a rotating table and rotating the substrate from above is used. A method of showering the developing solution through a nozzle, a method of supplying the entire amount of the developing solution to the upper surface of the substrate, and leaving the developing solution stationary on the substrate due to surface tension. It has been known.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】前述したの方式で
は、単に基盤を現像液に浸漬させるだけであるので、剥
離深さに不足を生ずる欠点がある。また、空気中の酸素
(O)2や二酸化炭素(CO2)による劣化と共に、現像作業
により溶解した被覆膜が混在して、現像液は次第に劣化
してくる。このように劣化した現像液が基盤表面(被覆
膜の形成面)に臨むと、被覆膜の剥離効率が低下するこ
とになる。そこで、基盤表面に劣化していない現像液を
臨ませるべく、該現像液を攪伴することが行なわれてい
る。しかし、攪伴の程度によって被覆膜の剥離時間が異
なり、かつ不均一になり易く、また基盤を現像液から取
出してチェックする作業が煩雑となる等の欠点がある。
更に現像液は空気に晒されると酸化等により劣化し、従
って被覆膜の剥離不足を生じたり、現像液の短期交換に
よりランニングコストが嵩む難点も指摘される。
In the above-mentioned method, since the substrate is simply dipped in the developing solution, the peeling depth becomes insufficient. Also, oxygen in the air
Along with the deterioration due to (O) 2 and carbon dioxide (CO 2 ), the coating film dissolved by the developing operation is mixed and the developing solution gradually deteriorates. When the developer thus degraded reaches the surface of the substrate (the surface on which the coating film is formed), the peeling efficiency of the coating film is reduced. Therefore, the developing solution is agitated in order to expose the developing solution which has not deteriorated to the surface of the substrate. However, there are drawbacks that the peeling time of the coating film varies depending on the degree of agitation, the coating film tends to be non-uniform, and the work of taking out the substrate from the developer and checking it becomes complicated.
Further, it is pointed out that the developing solution deteriorates due to oxidation and the like when exposed to air, and thus the coating film is insufficiently peeled off, and the running cost increases due to short-term replacement of the developing solution.

【0005】前記の方式では、現像液を基盤の全面に
亘って均一にシャワーリングすることが困難で、現像液
が集中的にシャワーリングされた部位での剥離が過剰に
進行してしまう。すなわち、基盤の各部位において被覆
膜の剥離に要する時間が均一とならず、剥離に過不足を
生ずると共に、使用する液量が多くコスト高になる欠点
が指摘される。更に前記の方式では、現像液量が不足
し、厚い被覆膜では剥離不足を生じたり、被覆膜が溶解
する際に生じる分解ガスが気泡となって表面に付着し、
該気泡が剥離の妨げとなり、剥離不足を生じたり正確な
パターンで被覆膜を剥離し得ない等の問題があった。
In the above method, it is difficult to uniformly shower the developing solution over the entire surface of the substrate, and excessive peeling occurs at a portion where the developing solution is showered intensively. That is, it is pointed out that the time required for peeling the coating film is not uniform in each part of the substrate, the peeling is excessive and insufficient, and the amount of liquid used is large and the cost is high. Further, in the above method, the amount of the developer is insufficient, and the thick coating film causes insufficient peeling, or the decomposed gas generated when the coating film is dissolved adheres to the surface as bubbles,
The bubbles hinder the peeling, resulting in problems such as insufficient peeling and the inability to peel the coating film in an accurate pattern.

【0006】[0006]

【発明の目的】この発明は、前記従来技術に内在してい
る欠点に鑑み、これを好適に解決するべく提案されたも
のであって、被覆膜を所要パターンで正確に剥離し得る
基盤処理装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been proposed in view of the above-mentioned drawbacks inherent in the prior art, and is a base treatment capable of accurately peeling a coating film in a required pattern. The purpose is to provide a device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前述の課題を克服し、所
期の目的を達成するため本発明は、表面に成膜および被
覆膜を施した基盤を露光した後、該基盤を現像液に浸す
ことによって、所望パターン以外の被覆膜を剥離する装
置であって、前記基盤を垂直に支持する一対のガイドを
所望数並列に設けた保持具と、前記保持具が定位置に装
入可能で、該保持具に支持された基盤の全体を浸漬させ
得る量の現像液を貯留する現像液槽と、前記現像液槽に
隣設して設けられ、該現像液槽から溢れた現像液の流入
を許容するオーバーフロー槽と、前記現像液槽の底面に
設けられ、該現像液槽に装入した前記保持具に支持され
た各基盤の表面に沿って、現像液を上方へ向けて吐出す
る吐出部を備えた液供給部と、前記オーバーフロー槽の
現像液を、前記液供給部へ循環供給する液循環装置とか
ら構成したことを特徴とする。
In order to overcome the above-mentioned problems and achieve the intended object, the present invention is to expose a substrate having a film formed and a coating film on the surface thereof, and then develop the substrate with a developing solution. A device for peeling off a coating film other than a desired pattern by immersing it in a holder, in which a desired number of a pair of guides for vertically supporting the substrate are provided in parallel, and the holder is inserted in a fixed position. A developer tank that stores a developer solution in an amount capable of immersing the entire substrate supported by the holder, and a developer solution provided adjacent to the developer tank and overflowing from the developer tank. The developer is discharged upward along the surface of each substrate supported by the holder provided in the bottom of the developer tank and the overflow tank allowing the inflow of the developer solution tank. And a liquid supply unit having a discharging unit for discharging the developer in the overflow tank. Characterized by being composed of a circularly supplying fluid circulation device to the sheet portion.

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明に係る成膜基盤処理装置につ
き、好適な実施例を挙げて、添付図面を参照しながら説
明する。図1は、実施例に係る成膜基盤処理装置の概略
構成を示す斜視図であって、該装置10は、本体をなす
容器12と、この容器12の内部に画成した現像液槽1
4に着脱自在に装入される基盤保持具18と、容器12
の底面に着脱自在に配設される分配器20と、現像液の
循環装置22および容器12の上部に着脱自在に配設さ
れる蓋体24とから基本的に構成される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a film forming substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings with reference to preferred embodiments. FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a film-forming substrate processing apparatus according to an embodiment. The apparatus 10 includes a container 12 as a main body and a developer tank 1 defined inside the container 12.
4, a base holder 18 that is detachably inserted into the container 4, and a container 12
It is basically composed of a distributor 20 which is detachably disposed on the bottom surface of the container, and a developer circulating device 22 and a lid 24 which is detachably disposed on the upper portion of the container 12.

【0009】前記容器12は、上下に開放する矩形状に
形成され、その底部に前記分配器20を配設することに
より底部が閉塞されるよう構成される。この容器12の
内部には、図4に示す如く、内部空間を左右に仕切る第
1仕切り板26が配設され、該仕切り板26により容器
12の右側に洗浄槽28が画成される。この洗浄槽28
には水等の洗浄液が所要量だけ貯留され、現像の完了し
た基盤16から現像液を除去する際に使用される。ま
た、第1仕切り板26により画成される左側の空間に
は、該仕切り板26より低く設定した第2仕切り板30
が直交するよう配設され、該空間を現像液槽14とオー
バーフロー槽32とに画成している。そして現像液槽1
4とオーバーフロー槽32とに現像液が所要量だけ貯留
されて、後述する如く、前記循環装置22を介してオー
バーフロー槽32から現像液槽14に現像液を循環供給
することにより、現像液槽14から溢れた現像液が第2
仕切り板30を越えてオーバーフロー槽32に均一で少
しづつ流入するようになっている。なお第2仕切り板3
0の高さ寸法は、現像液槽14に前記保持具18を介し
て基盤16を装入した際に、現像液槽14に貯留された
現像液に基盤16の全体が浸漬するよう設定される。
[0012] The container 12 is formed in a rectangular shape that opens up and down, and the bottom portion is closed by disposing the distributor 20 at the bottom portion. Inside the container 12, as shown in FIG. 4, a first partition plate 26 for partitioning the inner space into right and left is arranged, and the partition plate 26 defines a cleaning tank 28 on the right side of the container 12. This cleaning tank 28
A cleaning liquid such as water is stored in a required amount, and is used when the developing liquid is removed from the substrate 16 on which the development is completed. Further, in the space on the left side defined by the first partition plate 26, the second partition plate 30 set lower than the partition plate 26 is provided.
Are orthogonal to each other, and the space is defined by the developer tank 14 and the overflow tank 32. And developer tank 1
4 and the overflow tank 32 store a required amount of the developer, and as described later, the developer is circulated and supplied from the overflow tank 32 to the developer tank 14 through the circulation device 22, so that the developer tank 14 is supplied. The developer overflowing from the second
It is designed to flow evenly and gradually beyond the partition plate 30 into the overflow tank 32. The second partition plate 3
The height dimension of 0 is set so that when the substrate 16 is loaded into the developer tank 14 via the holder 18, the entire substrate 16 is immersed in the developer stored in the developer tank 14. .

【0010】前記現像液槽14を画成する第2仕切り板
30およびこれと対向する容器内面に、図1に示す如
く、縦方向に延在する溝部34aを形成した4つの支持
部34が、夫々横方向に所定間隔離間して並列に配設さ
れている。そしてこの支持部34は、前記基盤16の保
持具18を、現像液槽14内における所定位置に正確に
位置決めするべく機能する。
As shown in FIG. 1, four supporting portions 34 each having a groove portion 34a extending in the vertical direction are formed on the inner surface of the second partition plate 30 defining the developer tank 14 and the container inner surface facing the second partition plate 30. Each of them is arranged in parallel in the lateral direction with a predetermined distance therebetween. The support portion 34 functions to accurately position the holder 18 of the base 16 at a predetermined position in the developer tank 14.

【0011】前記保持具18は、図1に示す如く、所定
間隔離間する一対の側板36,36の対向面に、前記現
像液槽14に配設される支持部34と対応する位置に4
つのガイド38が夫々並列に配設される。また両側板3
6,36の両端部間に、塞ぎ板39が夫々配設されてい
る。更に、両側板36,36における各ガイド38の間
に臨む位置に、図3に示す如く、整流用の取付板40が
配設され、これにより4組のガイド組は一体として、前
記現像液槽14に対して装入および取出し可能に構成さ
れる。ガイド38,38の対向面には、対向する他方の
ガイド38に向けて拡開するテーパ溝38aが縦方向に
沿って夫々形成され、両テーパ溝38a,38a間に、
片面に成膜41および被覆膜43が施された基盤16が
垂直状態で支持されるようになっている。また図2に示
す如く、テーパ溝38aの適宜位置にストッパ42が形
成され、基盤16はストッパ42に当接した位置で位置
決めされる。このストッパ42は、基盤16の下端が保
持具18の下端から所定高さ上方に臨む位置に設けられ
ている。なお、前記取付板40は、両ガイド38,38
間に垂直に支持された基盤16の真下から退避する位置
に臨むよう設定されている。
As shown in FIG. 1, the holder 18 is placed at a position corresponding to the supporting portion 34 provided in the developer tank 14 on the facing surfaces of the pair of side plates 36, 36 which are separated by a predetermined distance.
The two guides 38 are arranged in parallel. Both side plates 3
Blocking plates 39 are arranged between both ends of 6, 36, respectively. Further, as shown in FIG. 3, a rectifying mounting plate 40 is disposed at a position facing each guide 38 on both side plates 36, 36, whereby the four guide sets are integrated and the developer tank is formed. It is configured so that it can be loaded into and taken out of the unit 14. On the facing surfaces of the guides 38, 38, taper grooves 38a that expand toward the other facing guide 38 are formed respectively in the vertical direction, and between the taper grooves 38a, 38a,
The substrate 16 having the film formation 41 and the coating film 43 on one surface is vertically supported. Further, as shown in FIG. 2, a stopper 42 is formed at an appropriate position in the tapered groove 38 a, and the base 16 is positioned at a position where it abuts on the stopper 42. The stopper 42 is provided at a position where the lower end of the base 16 faces a predetermined height above the lower end of the holder 18. It should be noted that the mounting plate 40 is provided with both guides 38, 38.
It is set so as to face a position retracted from directly below the base 16 vertically supported between them.

【0012】前記側板36の外面には、前記現像液槽1
4に配設された各支持部34の溝部34aと対応する位
置に縦方向に延在する突条36aが夫々形成され、各突
条36aを対応の支持部34における溝部34aに嵌挿
することにより、保持具18は現像液槽14の定位置に
位置決めされる(図4参照)。
On the outer surface of the side plate 36, the developer tank 1 is provided.
4. The protrusions 36a extending in the vertical direction are respectively formed at positions corresponding to the grooves 34a of the support portions 34 arranged in FIG. 4, and the protrusions 36a are fitted into the groove portions 34a of the corresponding support portions 34, respectively. Thus, the holder 18 is positioned at a fixed position in the developer tank 14 (see FIG. 4).

【0013】前記容器12の底面に着脱自在に配設され
て該底面を閉塞する分配器20は、矩形状の密閉容器で
構成され、図2に示す如く、該分配器20を容器12に
配設した状態で前記オーバーフロー槽32と対応する位
置に、排出通路44が形成される。この排出通路44に
は、循環装置22を構成する液流ポンプ46から導出し
た吸入管48が連通接続され、オーバーフロー槽32に
流入した現像液を液流ポンプ46を介して吸引し得るよ
うになっている。また分配器20には、前記第2仕切り
板30と平行に主通路50が形成されており、前記液流
ポンプ46から導出した吐出管52が流量計54を介し
て該主通路50に連通接続されている。すなわち、液流
ポンプ46を駆動することにより、オーバーフロー槽3
2から吸引した現像液は、主通路50に供給される。な
お、前記吸入管48に瀘過器61が介装され、オーバー
フロー槽32から吸引した現像液を瀘過して、劣化のな
い現像液を主通路50に供給し得るよう構成してある。
The distributor 20, which is detachably disposed on the bottom surface of the container 12 and closes the bottom surface thereof, is a rectangular closed container. As shown in FIG. A discharge passage 44 is formed at a position corresponding to the overflow tank 32 in the installed state. A suction pipe 48 led out from a liquid flow pump 46 constituting the circulation device 22 is connected to the discharge passage 44 so that the developer flowing into the overflow tank 32 can be sucked through the liquid flow pump 46. ing. A main passage 50 is formed in the distributor 20 in parallel with the second partition plate 30, and a discharge pipe 52 led out from the liquid flow pump 46 is connected to the main passage 50 through a flow meter 54. Has been done. That is, by driving the liquid flow pump 46, the overflow tank 3
The developer sucked from No. 2 is supplied to the main passage 50. A filter 61 is provided in the suction pipe 48 so that the developer sucked from the overflow tank 32 can be filtered and the developer without deterioration can be supplied to the main passage 50.

【0014】前記分配器20には、図3に示す如く、前
記主通路50に連通すると共に、前記対向する支持部3
4,34間に臨む4つの分配通路56が並列に形成され
ている。また、分配器20における各分配通路56と対
応する位置に、図2に示す如く、分配通路56に連通す
ると共に上面で開口する吐出孔58が、分配通路56の
長手方向に所定間隔で複数穿設してある。従って、前記
液流ポンプ46を介して主通路50に供給された現像液
は、各分配通路56に分岐した後、各吐出孔58を介し
て現像液槽14内に垂直に吐出される。なお、複数の吐
出孔58からなる吐出孔列は、現像液槽14に装入した
保持具18に支持されている基盤16における表面(被
覆膜43の形成面)の前面側において平行に臨んでお
り、各吐出孔58から吐出された現像液は、前記取付板
40,40の間であって、かつ基盤16の表面を上方に
向かって上昇するようになっている(図5,図6参照)。
As shown in FIG. 3, the distributor 20 communicates with the main passage 50 and faces the supporting portions 3 facing each other.
Four distribution passages 56 facing each other are formed in parallel. Further, as shown in FIG. 2, a plurality of discharge holes 58 communicating with the distribution passage 56 and opening on the upper surface are formed at predetermined intervals in the longitudinal direction of the distribution passage 56 at positions corresponding to the respective distribution passages 56 in the distributor 20. It is set up. Therefore, the developer supplied to the main passage 50 through the liquid flow pump 46 is branched into the distribution passages 56 and then vertically discharged into the developer tank 14 through the discharge holes 58. In addition, the discharge hole array including the plurality of discharge holes 58 faces in parallel to the front surface side of the surface (the surface on which the coating film 43 is formed) of the substrate 16 supported by the holder 18 loaded in the developer tank 14. The developer discharged from each discharge hole 58 rises between the mounting plates 40 and 40 and upward on the surface of the base 16 (FIGS. 5 and 6). reference).

【0015】前記液流ポンプ46にはコントローラ60
が接続され、該ポンプ46の流量調節を行ない得るよう
構成されている。そして、前記各分配通路56に連通す
る各吐出孔58から吐出される現像液が緩やか(例えば
3cm/s〜10cm/sの速度)に上昇すると共に、現像液槽
14からオーバーフロー槽32への現像液のオーバーフ
ローが緩やかになされる流量に設定される。なお、前記
流量計54の絞り調節を行なうことにより、液流ポンプ
46から主通路50への現像液の流量を粗調節すること
が可能である。
The liquid flow pump 46 has a controller 60.
Are connected to each other and are configured so that the flow rate of the pump 46 can be adjusted. Then, the developer discharged from the discharge holes 58 communicating with the distribution passages 56 gradually rises (for example, at a speed of 3 cm / s to 10 cm / s), and the development from the developer tank 14 to the overflow tank 32 is performed. The flow rate is set so that the overflow of the liquid is gentle. The flow rate of the developing solution from the liquid flow pump 46 to the main passage 50 can be roughly adjusted by adjusting the throttle of the flow meter 54.

【0016】前記分配器20には、現像液槽14,オー
バーフロー槽32および洗浄槽28と対応する位置に弁
(図示せず)を備えたドレンパイプ62が配設され、分配
器20を容器12に配設した状態で現像液や洗浄液を排
出し得るよう構成される。
The distributor 20 has a valve at a position corresponding to the developer tank 14, the overflow tank 32 and the cleaning tank 28.
A drain pipe 62 (not shown) is provided so that the developing solution and the cleaning solution can be discharged while the distributor 20 is provided in the container 12.

【0017】図1に示す如く、前記容器12の上端外側
に円形のフランジ64が一体的に形成され、該フランジ
64にパッキング66が同心円状に配設されている。そ
して、フランジ64の外径と略同一寸法に設定した円形
の蓋体24を、該フランジ64の上部に被覆し、両者を
適宜の締め具(図示せず)により固定することにより、容
器内部を密閉し得るよう構成されている。蓋体24の適
宜位置には、真空吸引源および不活性ガス(例えばアル
ゴンガス)の供給源に切換え弁(何れも図示せず)を介し
て連通する供給管68が配設される。そして、容器12
内を真空状態とした後、不活性ガスを充填して容器12
内を不活性雰囲気とすることにより、現像液の劣化を防
止し得るようになっている。
As shown in FIG. 1, a circular flange 64 is integrally formed outside the upper end of the container 12, and packing 66 is concentrically arranged on the flange 64. Then, by covering the upper portion of the flange 64 with a circular lid 24 that is set to have substantially the same size as the outer diameter of the flange 64, and fixing both with appropriate fasteners (not shown), the inside of the container is It is configured to be hermetically sealed. At an appropriate position of the lid body 24, a supply pipe 68 that communicates with a vacuum suction source and a supply source of an inert gas (for example, argon gas) via a switching valve (neither is shown) is provided. And container 12
After the inside is evacuated, the container 12 is filled with an inert gas.
By making the inside an inert atmosphere, the deterioration of the developing solution can be prevented.

【0018】[0018]

【実施例の作用】次に、実施例に係る成膜基盤処理装置
の作用につき説明する。
Operation of the Embodiment Next, the operation of the film forming substrate processing apparatus according to the embodiment will be described.

【0019】前記容器12の底部に分配器20を配設し
た状態で、前記現像液槽14とオーバーフロー槽32に
所定量の現像液を貯留させる。また前記保持具18に、
成膜41および被覆膜43を施した後に露光した4枚の
基盤16を、各ガイド38,38間に垂直に介装する。
A predetermined amount of developer is stored in the developer tank 14 and the overflow tank 32 with the distributor 20 provided at the bottom of the container 12. Also, in the holder 18,
The four substrates 16 exposed after forming the film formation 41 and the coating film 43 are vertically interposed between the guides 38, 38.

【0020】次いで、前記保持具18を、側板36,3
6に形成した各突条36a,36aを現像液槽14に配
設した各支持部34の溝部34aに嵌挿することによ
り、該保持具18を現像液槽14の定位置に装入する。
すなわち、図3に示す如く、各基盤16における表面の
略真下に、前記分配器20に穿設した吐出孔58が臨む
位置に位置決めされる。また、前記容器12の上部に蓋
体24を固定して容器内部を密閉した状態で、容器12
内を真空とした後に不活性ガスを常圧で充填することに
より、容器12内を不活性雰囲気とする。
Then, the holder 18 is attached to the side plates 36, 3
By inserting the protrusions 36a, 36a formed in 6 into the grooves 34a of the supporting portions 34 arranged in the developer tank 14, the holder 18 is loaded into the developer tank 14 at a predetermined position.
That is, as shown in FIG. 3, the discharge holes 58 formed in the distributor 20 are positioned so as to face the surface of each base 16 substantially directly below the surface thereof. Also, with the lid 24 fixed to the upper part of the container 12 to seal the inside of the container 12,
The inside of the container 12 is made an inert atmosphere by filling the inside of the container 12 with a vacuum and then filling it with an inert gas at a normal pressure.

【0021】この状態で前記液流ポンプ46を駆動する
ことにより、オーバーフロー槽32に貯留されている現
像液が分配器20の主通路50に供給され、この現像液
は各分配通路56に分岐する。そして、対応する複数の
吐出孔58を介して現像液が現像液槽14に吐出され、
この現像液は基盤16の表面に沿って緩やかに上昇す
る。なお、前記側板36,36間に配設した取付板40
により、現像液は整流されて垂直に上昇する。
By driving the liquid flow pump 46 in this state, the developer stored in the overflow tank 32 is supplied to the main passage 50 of the distributor 20, and the developer is branched into the respective distribution passages 56. . Then, the developing solution is discharged to the developing solution tank 14 through the corresponding plurality of discharging holes 58,
This developer rises gently along the surface of the base 16. A mounting plate 40 arranged between the side plates 36, 36
Thereby, the developing solution is rectified and rises vertically.

【0022】前記基盤16の表面においては、露光され
た被覆膜43bが溶解して現像液が劣化した状態となっ
ており、この劣化した現像液が表面に臨んだままである
と被覆膜43bの剥離が効率的に行なわれない。しかる
に実施例の装置10では、基盤16の表面に沿って現像
液が上昇する流れが形成されているので、前記劣化した
現像液は上昇して劣化のない現像液が基盤16の表面側
に常に供給される。すなわち、基盤16の表面側には、
常に劣化のない現像液が循環供給され、所要パターン4
3a以外の露光した被覆膜43bを効率的に剥離するこ
とができる。なお、基盤16を前記ガイド38,38の
テーパ溝38a,38aで支持したことにより、該溝3
8a内に臨む基盤16の表面にも現像液が円滑に循環移
動し、基盤16の全体に亘って常に劣化のない現像液が
供給される。
On the surface of the substrate 16, the exposed coating film 43b is dissolved and the developing solution is deteriorated. If the deteriorated developing solution is exposed on the surface, the coating film 43b is formed. Peeling is not performed efficiently. However, in the apparatus 10 of the embodiment, since the flow of the developing solution rises along the surface of the base 16, the deteriorated developing solution rises and the non-deteriorated developer is always present on the surface side of the base 16. Supplied. That is, on the surface side of the base 16,
A developer that does not deteriorate is constantly circulated and the required pattern 4
The exposed coating film 43b other than 3a can be efficiently peeled off. In addition, since the base 16 is supported by the tapered grooves 38a, 38a of the guides 38, 38, the groove 3
The developing solution smoothly circulates and moves on the surface of the base 16 facing the inside of 8a, so that the developing solution is always supplied to the entire base 16 without deterioration.

【0023】前記基盤16の表面に沿って上昇した劣化
した現像液は、現像液槽14を画成する第2仕切り板3
0をオーバーフローしてオーバーフロー槽32に流入す
る。そして、オーバーフロー槽32に流入した現像液
は、液流ポンプ46により再度の循環に供される。ま
た、液流ポンプ46に吸引された現像液は、前記瀘過器
61により瀘過されているので、現像液槽14には劣化
のない現像液として循環供給される。なお、劣化した現
像液は、現像液槽14およびオーバーフロー槽32に貯
留されている全体の現像液に比べて僅かであるので、循
環中に攪伴分散されてしまい、瀘過器61を介すること
なく現像液槽14に供給しても被覆膜43bの溶解に支
障を来たすことはなく、瀘過器61を省略することも可
能である。
The deteriorated developer, which has risen along the surface of the base 16, has the second partition plate 3 which defines the developer tank 14.
0 overflows and flows into the overflow tank 32. Then, the developing solution that has flowed into the overflow tank 32 is recirculated by the liquid flow pump 46. Further, since the developing solution sucked by the liquid flow pump 46 is filtered by the filtering device 61, it is circulated and supplied to the developing solution tank 14 as a developing solution without deterioration. It should be noted that the deteriorated developer is less than the total amount of the developer stored in the developer tank 14 and the overflow tank 32. Therefore, the deteriorated developer is stirred and dispersed in the circulation and passed through the filter 61. Even if the coating film 43b is supplied to the developing solution tank 14 without any trouble, it does not hinder the dissolution of the coating film 43b, and the filter 61 can be omitted.

【0024】前記基盤16の現像が完了したら、前記蓋
体24を取外すと共に、前記保持具18を現像液槽14
から取出して、前記洗浄液槽28の洗浄液に浸漬して現
像液を洗い落とし、乾燥すことにより、現像処理は終了
する。
When the development of the substrate 16 is completed, the lid 24 is removed and the holder 18 is attached to the developer tank 14.
Then, the developing process is completed by immersing it in the cleaning liquid in the cleaning liquid tank 28 to wash off the developing liquid, and drying.

【0025】[0025]

【変形例について】図1に示す実施例では、オーバーフ
ロー槽32から吸引した現像液をそのまま現像液槽14
に循環供給するようにしたが、該現像液を循環中に、例
えば図7に示す如き温度調節装置70に通過させること
により、現像液の温度を常に一定(例えば20℃〜25
℃)に保持するようにしてもよい。この温度調節装置7
0は、密閉容器72に、熱媒体および蓄熱材として機能
する水が充填されると共に、絶縁電熱ヒータ74が配設
され、該ヒータ74に通電することにより、水を所定温
度まで昇温加熱するようになっている。また密閉容器7
2に、所要直径で巻回させた熱交換コイル76が内挿さ
れ、該コイル76に前記吸入管48または吐出管52を
連通接続することにより、現像液をコイル76中に通過
させるよう構成される。従って、水が所定温度に加温さ
れたところで、前記熱交換コイル76中に現像液を通過
させれば、現像液は温水との熱交換がなされて加熱され
る。そして密閉容器72に、前記熱交換コイル76から
離間した位置にサーモスタットの如き感温素子78を内
挿配置し、ヒータ74により加熱される温水の温度を監
視して、前記ヒータ74の通電制御を行ない、密閉容器
72中の水温を一定に保持することにより、現像液の温
度を一定に保持することができる。
[Modification] In the embodiment shown in FIG. 1, the developer sucked from the overflow tank 32 is directly supplied to the developer tank 14 as it is.
The temperature of the developing solution is kept constant (for example, 20 ° C. to 25 ° C.) by circulating the developing solution through a temperature adjusting device 70 as shown in FIG. 7, for example.
You may make it hold | maintain at (degreeC). This temperature control device 7
In the case of 0, the closed container 72 is filled with water that functions as a heat medium and a heat storage material, and an insulated electric heater 74 is provided. By energizing the heater 74, the water is heated to a predetermined temperature and heated. It is like this. Also a closed container 7
2, a heat exchange coil 76 wound with a required diameter is inserted, and the suction pipe 48 or the discharge pipe 52 is connected to the coil 76 so as to pass the developer through the coil 76. It Therefore, when the developer is passed through the heat exchange coil 76 when the water is heated to a predetermined temperature, the developer is heated by heat exchange with the hot water. Then, a temperature sensitive element 78 such as a thermostat is inserted in the closed container 72 at a position apart from the heat exchange coil 76, and the temperature of hot water heated by the heater 74 is monitored to control the energization of the heater 74. The temperature of the developer can be kept constant by carrying out the operation and keeping the water temperature in the closed container 72 constant.

【0026】また実施例は、片面に成膜41および被覆
膜43を施した基盤16の現像に使用する場合につき説
明したが、基盤16の両面に成膜41および被覆膜43
を施したものにも適用可能である。例えば図6に示す如
く、前記分配器20に、基盤16における両面の略真下
に臨む位置に各分配通路56に連通する吐出孔58を穿
設することにより、該基盤16の両面に沿って劣化のな
い現像液を常に供給することができる。なお、前述した
如く分配器20は容器12に着脱可能に配設されるよう
になっているので、基盤16の仕様に応じて分配器20
を交換するだけで対応し得る。更に、吐出孔58に代え
て、各分配通路56に沿って連通するスリットを形成
し、該スリットから現像液が基盤16表面に平行に吐出
するようにしてもよい。
The embodiment has been described with respect to the case where the substrate 16 having the film 41 and the coating film 43 on one surface is used for development, but the film 41 and the coating film 43 on both surfaces of the substrate 16 are described.
It can also be applied to the product with. For example, as shown in FIG. 6, the distributor 20 is provided with a discharge hole 58 communicating with each of the distribution passages 56 at a position facing directly below both surfaces of the base 16 so as to deteriorate along both surfaces of the base 16. Free developer can always be supplied. Since the distributor 20 is detachably mounted on the container 12 as described above, the distributor 20 can be installed according to the specifications of the base 16.
Can be dealt with by simply replacing Further, instead of the discharge holes 58, slits communicating with each of the distribution passages 56 may be formed, and the developer may be discharged from the slits in parallel to the surface of the substrate 16.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上説明した如く、本発明に係る成膜基
盤処理装置によれば、基盤の被覆膜形成面に常に劣化の
ない現像液を供給し得るので、被覆膜を所要パターンを
残して確実に剥離することができ、成膜のパターンニン
グを正確に行なうことが可能となる。また、複数の薄膜
基盤を同時に処理することができるので、処理能力を向
上させ得る。
As described above, according to the film formation substrate processing apparatus of the present invention, the developing solution can be always supplied to the surface of the substrate on which the coating film is formed, so that the coating film can be formed in a desired pattern. The remaining film can be reliably peeled off, and the patterning of the film formation can be performed accurately. In addition, since a plurality of thin film substrates can be processed at the same time, the processing capacity can be improved.

【0028】更に、現像液を瀘過手段により瀘過して液
供給部に供給することにより、該現像液を小量で効率良
く再循環して使用することができ、液の攪伴も不要とな
る。また、現像液の温度を温度調節手段により一定に保
持することにより、温度変化に起因する被覆膜の剥離の
過不足を防止し得る。更にまた、現像液を不活性ガスの
雰囲気中に保持することにより、現像液の劣化を防止し
てランニングコストを低減し得る利点がある。
Further, the developing solution is filtered by a filtering means and supplied to the solution supply section, so that the developing solution can be efficiently recirculated and used in a small amount, and no stirring of the solution is required. Becomes Further, by keeping the temperature of the developing solution constant by the temperature adjusting means, it is possible to prevent the excess or deficiency of the peeling of the coating film due to the temperature change. Furthermore, by holding the developing solution in an atmosphere of inert gas, there is an advantage that the deterioration of the developing solution can be prevented and the running cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例に係る成膜基盤処理装置を一部
破断して示す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a partially broken view of a film forming substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】成膜基盤処理装置の縦断側面図である。FIG. 2 is a vertical sectional side view of a film forming substrate processing apparatus.

【図3】成膜基盤処理装置の縦断正面図である。FIG. 3 is a vertical cross-sectional front view of a film forming substrate processing apparatus.

【図4】成膜基盤処理装置における容器の平面図であ
る。
FIG. 4 is a plan view of a container in the film forming substrate processing apparatus.

【図5】現像液槽に装入した基盤と分配器の吐出孔との
位置関係を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a positional relationship between a substrate loaded in a developer tank and discharge holes of a distributor.

【図6】現像液槽に装入した別の仕様に係る基盤と、こ
れに対応する変形例に係る分配器の吐出孔との関係を示
す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a relationship between a base according to another specification loaded in a developer tank and a discharge hole of a distributor according to a modification corresponding to the base.

【図7】成膜基盤処理装置に採用される温度調節装置の
概略構成図である。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of a temperature adjusting device adopted in the film forming substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

14 現像液槽 16 基盤 18 保持具 20 分配器 22 循環装置 24 蓋体 32 オーバーフロー槽 38 ガイド 38a テーパ溝 41 成膜 43 被覆膜 43a 所要パターン 43b 剥離される被覆膜 58 吐出孔 61 瀘過器 70 温度調節装置 14 developer tank 16 substrate 18 holder 20 distributor 22 circulation device 24 lid 32 overflow tank 38 guide 38a taper groove 41 film formation 43 coating film 43a required pattern 43b peeling coating film 58 discharge hole 61 filter 70 Temperature control device

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面に成膜(41)および被覆膜(43)を施し
た基盤(16)を露光した後、該基盤(16)を現像液に浸すこ
とによって、所望パターン(43a)以外の被覆膜(43b)を剥
離する装置であって、 前記基盤(16)を垂直に支持する一対のガイド(38,38)を
所望数並列に設けた保持具(18)と、 前記保持具(18)が定位置に装入可能で、該保持具(18)に
支持された基盤(16)の全体を浸漬させ得る量の現像液を
貯留する現像液槽(14)と、 前記現像液槽(14)に隣設して設けられ、該現像液槽(14)
から溢れた現像液の流入を許容するオーバーフロー槽(3
2)と、 前記現像液槽(14)の底面に設けられ、該現像液槽(14)に
装入した前記保持具(18)に支持された各基盤(16)の表面
に沿って、現像液を上方へ向けて吐出する吐出部(58)を
備えた液供給部(20)と、 前記オーバーフロー槽(32)の現像液を、前記液供給部(2
0)へ循環供給する液循環装置(22)とから構成したことを
特徴とする成膜基盤処理装置。
1. A substrate other than a desired pattern (43a) is obtained by exposing a substrate (16) having a film (41) and a coating film (43) formed on the surface thereof and exposing the substrate (16) to a developing solution. A device for peeling off the coating film (43b) of (1), a holder (18) in which a desired number of pair of guides (38, 38) for vertically supporting the base (16) are provided in parallel, and the holder. (18) can be loaded in place, a developer tank (14) for storing a sufficient amount of developer to allow the entire substrate (16) supported by the holder (18) to be immersed, and the developer The developer tank (14) is provided adjacent to the tank (14).
Overflow tank (3 that allows the inflow of developer overflowing from
2), and along the surface of each substrate (16) provided on the bottom surface of the developer tank (14) and supported by the holder (18) loaded in the developer tank (14), A liquid supply part (20) having a discharge part (58) for discharging the liquid upward, and a developer in the overflow tank (32) are supplied to the liquid supply part (2).
A film forming substrate processing apparatus comprising a liquid circulating device (22) for circulating supply to (0).
【請求項2】 前記液供給部(20)は、吐出孔(58)を所定
間隔で穿設した吐出孔列が所望数並列されてなる請求項
1記載の成膜基盤処理装置。
2. The film forming substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the liquid supply unit (20) has a desired number of discharge hole rows in which discharge holes (58) are formed at predetermined intervals.
【請求項3】 前記液供給部(20)は、前記現像液槽(14)
に着脱交換可能に配設される請求項1または2記載の成
膜基盤処理装置。
3. The liquid supply section (20) includes the developer tank (14).
The film-forming substrate processing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the film-forming substrate processing apparatus is arranged so that it can be attached to and detached from the apparatus.
【請求項4】 前記オーバーフロー槽(32)の現像液を、
瀘過手段(61)により瀘過して前記液供給部(20)に供給す
るようにした請求項1〜3の何れかに記載の成膜基盤処
理装置。
4. The developer in the overflow tank (32),
The film forming substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the liquid is supplied to the liquid supply unit (20) after being filtered by a filtering unit (61).
【請求項5】 前記現像液を温度調節手段(70)により一
定温度に保持するようにした請求項1〜4の何れかに記
載の成膜基盤処理装置。
5. The film formation substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the developing solution is kept at a constant temperature by a temperature adjusting means (70).
【請求項6】 前記保持具(18)におけるガイド(38,38)
の対向面にテーパ溝(38a,38a)が形成され、これら対向
するテーパ溝(38a,38a)間に基盤(16)が垂直に支持され
る請求項1〜5の何れかに記載の成膜基盤処理装置。
6. Guides (38, 38) in the retainer (18)
The taper groove (38a, 38a) is formed on the facing surface of the substrate, and the substrate (16) is vertically supported between the taper groove (38a, 38a) facing each other. Base processing equipment.
【請求項7】 前記現像液槽(14)およびオーバーフロー
槽(32)は蓋体(24)により密閉され、内部空間に不活性ガ
スが充填される請求項1〜6の何れかに記載の成膜基盤
処理装置。
7. The developer according to claim 1, wherein the developer tank (14) and the overflow tank (32) are closed by a lid (24) and an internal space is filled with an inert gas. Membrane substrate processing equipment.
JP35039792A 1992-12-02 1992-12-02 Film formation substrate processing device Pending JPH06177030A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100389487C (en) * 2005-10-11 2008-05-21 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 Fixer for preventing wafer shift in wet corrosion process
CN108475628A (en) * 2016-01-18 2018-08-31 株式会社斯库林集团 Substrate board treatment

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