JPH06149609A - 電子計算機の診断方式 - Google Patents
電子計算機の診断方式Info
- Publication number
- JPH06149609A JPH06149609A JP4298339A JP29833992A JPH06149609A JP H06149609 A JPH06149609 A JP H06149609A JP 4298339 A JP4298339 A JP 4298339A JP 29833992 A JP29833992 A JP 29833992A JP H06149609 A JPH06149609 A JP H06149609A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- diagnosis
- electronic computer
- console
- factory test
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 工場試験に初期診断を利用する。
【構成】 電子計算機装置に工場試験であることを示す
信号を入力する信号入力手段を設け、この信号が入力し
たときは、初期診断プログラムを所定回数繰り返し実施
する。
信号を入力する信号入力手段を設け、この信号が入力し
たときは、初期診断プログラムを所定回数繰り返し実施
する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子計算機装置の工場
試験における診断方式に関する。
試験における診断方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子計算機装置の初期診断は通常電源投
入時にハードウェアを診断するためにＲＯＭなどに診断
プログラムを組み込んで行われる。この診断では一通り
の診断を行い異常があればコンソール装置等に状態を表
示する。
入時にハードウェアを診断するためにＲＯＭなどに診断
プログラムを組み込んで行われる。この診断では一通り
の診断を行い異常があればコンソール装置等に状態を表
示する。
【０００３】図９はこのような初期診断のフローチャー
トを示す。まず電源が投入されると（ステップ１）、Ｒ
ＯＭの初期設定を行う（ステップ２）。これはリセット
要因の判定、例えば、パワーオンリセット、操作者によ
るリセットなどを判定したり、ＲＯＭデータの正当性の
チェックやコンソール制御インタフェースの選定（ＲＳ
２３２Ｃ、ビットマップディスプレイなど）、メモリ制
御レジスタ初期設定などを行う。次にＣＰＵレジスタ診
断やタイマ動作診断などのＣＰＵ診断を行う（ステップ
３）。アドレス変換機構診断（ステップ４）は、正しく
アドレス変換が行われるか、誤ったアドレス変換を行っ
たときにその誤りを検出できるかなどの診断を行う。
トを示す。まず電源が投入されると（ステップ１）、Ｒ
ＯＭの初期設定を行う（ステップ２）。これはリセット
要因の判定、例えば、パワーオンリセット、操作者によ
るリセットなどを判定したり、ＲＯＭデータの正当性の
チェックやコンソール制御インタフェースの選定（ＲＳ
２３２Ｃ、ビットマップディスプレイなど）、メモリ制
御レジスタ初期設定などを行う。次にＣＰＵレジスタ診
断やタイマ動作診断などのＣＰＵ診断を行う（ステップ
３）。アドレス変換機構診断（ステップ４）は、正しく
アドレス変換が行われるか、誤ったアドレス変換を行っ
たときにその誤りを検出できるかなどの診断を行う。
【０００４】メモリ診断（ステップ５）は、メモリの容
量の測定、メモリの書き込み、読み出しによるメモリ素
子障害の検出、メモリの誤り検出、誤り訂正回路などの
メモリ制御回路の障害の検出などを行う。キャシュ診断
（ステップ６）は、キャシュタグメモリの書き込み、読
み出しによるメモリ素子障害の検出、キャシュデータメ
モリの書き込み、読み出しによるメモリ素子障害の検
出、キャシュ制御回路の障害の検出などを行う。キャシ
ュタグとは主記憶のどこからキャシュデータを持ってき
たか示すアドレスである。ファイル装置診断（ステップ
７）は、ＯＳ（Operating System）をブートストラップ
するファイル装置およびその他のファイル装置について
インタフェース制御回路の診断、ＤＭＡ回路の診断、フ
ァイル装置の診断を行う。以上の初期診断が正常に終了
すると初期プログラムをＲＯＭより主記憶にロードし
（ステップ８）、この初期プログラムに制御を渡す（ス
テップ９）。
量の測定、メモリの書き込み、読み出しによるメモリ素
子障害の検出、メモリの誤り検出、誤り訂正回路などの
メモリ制御回路の障害の検出などを行う。キャシュ診断
（ステップ６）は、キャシュタグメモリの書き込み、読
み出しによるメモリ素子障害の検出、キャシュデータメ
モリの書き込み、読み出しによるメモリ素子障害の検
出、キャシュ制御回路の障害の検出などを行う。キャシ
ュタグとは主記憶のどこからキャシュデータを持ってき
たか示すアドレスである。ファイル装置診断（ステップ
７）は、ＯＳ（Operating System）をブートストラップ
するファイル装置およびその他のファイル装置について
インタフェース制御回路の診断、ＤＭＡ回路の診断、フ
ァイル装置の診断を行う。以上の初期診断が正常に終了
すると初期プログラムをＲＯＭより主記憶にロードし
（ステップ８）、この初期プログラムに制御を渡す（ス
テップ９）。
【０００５】以上は電子計算機装置が通常に運用される
とき行われる診断である。工場において出荷前に行う工
場試験においても試験項目は同じであるが、試験条件を
厳しくして行う。例えば、試験中の周囲温度を変化させ
たり、装置電源の出力直流電圧を変化させた状態で装置
の正常動作を確認する試験や、電源の投入切断を頻繁に
行い、障害の発生する頻度を高くした試験などを行う。
とき行われる診断である。工場において出荷前に行う工
場試験においても試験項目は同じであるが、試験条件を
厳しくして行う。例えば、試験中の周囲温度を変化させ
たり、装置電源の出力直流電圧を変化させた状態で装置
の正常動作を確認する試験や、電源の投入切断を頻繁に
行い、障害の発生する頻度を高くした試験などを行う。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来工場試験は、上述
のように試験条件を種々に変えて行ったり、繰り返し試
験などを行うため、初期診断試験とは別個の試験プログ
ラムにより実施していた。このため工場試験用のプログ
ラムを作成する必要があった。
のように試験条件を種々に変えて行ったり、繰り返し試
験などを行うため、初期診断試験とは別個の試験プログ
ラムにより実施していた。このため工場試験用のプログ
ラムを作成する必要があった。
【０００７】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
もので、工場試験の条件を考慮して初期診断プログラム
を改良して用いることにより工場試験を効率よく行うよ
うにした電子計算機の診断方式を提供することを目的と
する。
もので、工場試験の条件を考慮して初期診断プログラム
を改良して用いることにより工場試験を効率よく行うよ
うにした電子計算機の診断方式を提供することを目的と
する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、電子計算機装置に工場試験であることを示す信号を
入力する信号入力手段を設け、この信号が入力したとき
は初期診断プログラムを繰り返し実施するようにしたも
のである。
め、電子計算機装置に工場試験であることを示す信号を
入力する信号入力手段を設け、この信号が入力したとき
は初期診断プログラムを繰り返し実施するようにしたも
のである。
【０００９】また、電子計算機装置の基板に工場試験で
あることを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工
場試験を行う際、前記基板にコンソールを接続し、初期
診断プログラムで行う試験項目の内所望の試験を前記コ
ンソールから指示して実施させるようにしたものであ
る。
あることを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工
場試験を行う際、前記基板にコンソールを接続し、初期
診断プログラムで行う試験項目の内所望の試験を前記コ
ンソールから指示して実施させるようにしたものであ
る。
【００１０】また、電子計算機装置の基板に工場試験で
あることを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工
場試験を行う際、前記信号を入力して初期診断プログラ
ムを実施させ、診断結果のメッセージを記憶部に格納し
ておき、コンソールを接続した後、前記記憶部のメッセ
ージを前記コンソールに表示させるようにしたものであ
る。
あることを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工
場試験を行う際、前記信号を入力して初期診断プログラ
ムを実施させ、診断結果のメッセージを記憶部に格納し
ておき、コンソールを接続した後、前記記憶部のメッセ
ージを前記コンソールに表示させるようにしたものであ
る。
【００１１】また、前記工場試験は工場試験用電源より
電力を供給するようにし、この工場試験用電源を接続す
ることにより前記信号入力手段に前記信号が入力するよ
うにしたものである。
電力を供給するようにし、この工場試験用電源を接続す
ることにより前記信号入力手段に前記信号が入力するよ
うにしたものである。
【００１２】
【作用】工場試験において、工場試験であることを示す
信号を信号入力手段より入力し、製品としての電子計算
機で実施する初期診断を実施する。これにより、繰り返
し診断を行う場合、周囲温度などの条件を種々に変えて
行えるので、異常があれば発見しやすくなる。
信号を信号入力手段より入力し、製品としての電子計算
機で実施する初期診断を実施する。これにより、繰り返
し診断を行う場合、周囲温度などの条件を種々に変えて
行えるので、異常があれば発見しやすくなる。
【００１３】工場試験は計算機を構成する基板の状態で
テストすることが多い。この場合、製品としての電子計
算機に備わっているコンソールは接続しない状態で試験
が行われることがある。このような場合、基板に工場試
験用のコンソールを接続し、初期診断の項目の内所望の
項目をコンソールより基板に指示して工場試験を行う。
これにより、所望の項目について、診断条件を種々に変
えて試験を行うことができるので異常があれば発見しや
すくなる。
テストすることが多い。この場合、製品としての電子計
算機に備わっているコンソールは接続しない状態で試験
が行われることがある。このような場合、基板に工場試
験用のコンソールを接続し、初期診断の項目の内所望の
項目をコンソールより基板に指示して工場試験を行う。
これにより、所望の項目について、診断条件を種々に変
えて試験を行うことができるので異常があれば発見しや
すくなる。
【００１４】基板の状態で工場試験を行い、初期診断プ
ログラムを条件を種々に変えて実施し、その結果のメッ
セージを記憶部に蓄えておき、工場試験用コンソールを
接続して、記憶部に蓄えたメッセージをコンソールに表
示させて、その表示内容を調べる。
ログラムを条件を種々に変えて実施し、その結果のメッ
セージを記憶部に蓄えておき、工場試験用コンソールを
接続して、記憶部に蓄えたメッセージをコンソールに表
示させて、その表示内容を調べる。
【００１５】工場試験は工場試験用電源より電力を供給
するようにする場合がある。この工場試験用電源を接続
すれば工場試験であることを示す信号が信号入力手段に
入るようにすると、自動的に工場試験が開始できるよう
になる。
するようにする場合がある。この工場試験用電源を接続
すれば工場試験であることを示す信号が信号入力手段に
入るようにすると、自動的に工場試験が開始できるよう
になる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本実施例の電子計算機の構成を示すブロッ
ク図である。ＣＰＵ10はＲＯＭ12に格納されたプログラ
ムを読み出し、このプログラムに従って全体の動作を制
御する。キャシュメモリおよびアドレス変換部11はメモ
リ13に格納されたデータの内使用頻度の多いものを記憶
してＣＰＵ10のアクセスの迅速化を図り、ＣＰＵ10の使
用する論理アドレスと実際のメモリ13上の物理アドレス
の変換を行う。ＲＯＭ12にはプログラムが格納され、電
源投入時に行われる初期診断のプログラムやファイル装
置16からの初期プログラムのローディング機能やデバッ
ガ機能のプログラムも格納されている。メモリ13はＣＰ
Ｕ10が直接アクセスする記憶装置で、ＲＯＭ12より読み
出したプログラムの展開や作業領域として使用される。
状態設定レジスタ14は本実施例特有のレジスタで１ビッ
トのレジスタであり、工場試験状態を表す「診断モー
ド」とそれ以外の状態を示す「通常モード」を表す。入
出力制御部15は外部装置とのやりとりを制御し、ファイ
ル装置16は２次記憶装置として磁気ディスクや光ディス
クなどで構成され、初期プログラムなどが格納されてい
る。各種インタフェース17は外部装置とのやりとりを制
御する。
する。図１は本実施例の電子計算機の構成を示すブロッ
ク図である。ＣＰＵ10はＲＯＭ12に格納されたプログラ
ムを読み出し、このプログラムに従って全体の動作を制
御する。キャシュメモリおよびアドレス変換部11はメモ
リ13に格納されたデータの内使用頻度の多いものを記憶
してＣＰＵ10のアクセスの迅速化を図り、ＣＰＵ10の使
用する論理アドレスと実際のメモリ13上の物理アドレス
の変換を行う。ＲＯＭ12にはプログラムが格納され、電
源投入時に行われる初期診断のプログラムやファイル装
置16からの初期プログラムのローディング機能やデバッ
ガ機能のプログラムも格納されている。メモリ13はＣＰ
Ｕ10が直接アクセスする記憶装置で、ＲＯＭ12より読み
出したプログラムの展開や作業領域として使用される。
状態設定レジスタ14は本実施例特有のレジスタで１ビッ
トのレジスタであり、工場試験状態を表す「診断モー
ド」とそれ以外の状態を示す「通常モード」を表す。入
出力制御部15は外部装置とのやりとりを制御し、ファイ
ル装置16は２次記憶装置として磁気ディスクや光ディス
クなどで構成され、初期プログラムなどが格納されてい
る。各種インタフェース17は外部装置とのやりとりを制
御する。
【００１７】図２は状態設定レジスタ14を設定する状態
設定回路を示す。スリーステートバッファ20の出力が状
態設定レジスタ14に接続され、工場試験の場合「１」が
出力されると状態設定レジスタ14が「診断モード」を示
し、それ以外の場合は「０」が出力され「通常モード」
を示す。しかし、スリーステートバッファ20が「１」，
「０」を出力するのはＣＰＵ10が状態設定レジスタ14を
読み出す時のみで、それ以外のときはハイインピーダン
スとして回路から切り離しておく。入力側にはプルアッ
プ抵抗21が接続され電源コネクタ22に接続される。電源
コネクタ22には、フリーステートバッファ20の端子以外
に、ＯＶ，＋５Ｖ，…などの電源端子、Power-on,Power
-Alarmなどの端子が設けられている。
設定回路を示す。スリーステートバッファ20の出力が状
態設定レジスタ14に接続され、工場試験の場合「１」が
出力されると状態設定レジスタ14が「診断モード」を示
し、それ以外の場合は「０」が出力され「通常モード」
を示す。しかし、スリーステートバッファ20が「１」，
「０」を出力するのはＣＰＵ10が状態設定レジスタ14を
読み出す時のみで、それ以外のときはハイインピーダン
スとして回路から切り離しておく。入力側にはプルアッ
プ抵抗21が接続され電源コネクタ22に接続される。電源
コネクタ22には、フリーステートバッファ20の端子以外
に、ＯＶ，＋５Ｖ，…などの電源端子、Power-on,Power
-Alarmなどの端子が設けられている。
【００１８】スリーステートバッファ20の制御入力端子
にはＮＡＮＤゲート23が接続されSelectとReadが入力さ
れる。Selectは状態設定レジスタ14に割り付けられたア
ドレスをＣＰＵ10がアドレスバスで選択したことを示
す。ReadはＣＰＵ10がデータバス上の何かを読み出すこ
とを示す。故にスリーステートバッファ20はＣＰＵ10が
状態設定レジスタ14を調べにゆくときのみ出力し、それ
以外はハイインピーダンスとなる。
にはＮＡＮＤゲート23が接続されSelectとReadが入力さ
れる。Selectは状態設定レジスタ14に割り付けられたア
ドレスをＣＰＵ10がアドレスバスで選択したことを示
す。ReadはＣＰＵ10がデータバス上の何かを読み出すこ
とを示す。故にスリーステートバッファ20はＣＰＵ10が
状態設定レジスタ14を調べにゆくときのみ出力し、それ
以外はハイインピーダンスとなる。
【００１９】図３は工場試験時と製品として出荷すると
きの電源コネクタの接続を示す図である。（ａ）は工場
試験時の接続状態を示す。左側が工場設備としての工場
電源であり、右側が本装置のプリント板である。なお、
図２に示した電源コネクタ22は電源装置に取り付けてあ
り, プリント板には接続用のピン端子が設けられてい
る。スリーステートバッファ20の入力側が接続する工場
の電源はアースされている。このため、プリント板を接
続すればスリーステートバッファ20の入力は「０」とな
り、出力は反転されて「１」となり、「診断モード」が
自動的に設定される。
きの電源コネクタの接続を示す図である。（ａ）は工場
試験時の接続状態を示す。左側が工場設備としての工場
電源であり、右側が本装置のプリント板である。なお、
図２に示した電源コネクタ22は電源装置に取り付けてあ
り, プリント板には接続用のピン端子が設けられてい
る。スリーステートバッファ20の入力側が接続する工場
の電源はアースされている。このため、プリント板を接
続すればスリーステートバッファ20の入力は「０」とな
り、出力は反転されて「１」となり、「診断モード」が
自動的に設定される。
【００２０】（ｂ）は製品の電源にプリント板が接続さ
れた状態を示す。製品の電源に接続した場合スリーステ
ートバッファ20の入力側はオープンになっているので、
プルアップ抵抗21により、入力は「１」となり出力は
「０」となる。つまり状態設定レジスタ14は「通常モー
ド」を示す。これにより製品の電源と接続されたとき
は、自動的に「通常モード」に設定される。
れた状態を示す。製品の電源に接続した場合スリーステ
ートバッファ20の入力側はオープンになっているので、
プルアップ抵抗21により、入力は「１」となり出力は
「０」となる。つまり状態設定レジスタ14は「通常モー
ド」を示す。これにより製品の電源と接続されたとき
は、自動的に「通常モード」に設定される。
【００２１】次に診断動作について説明する。図４は第
１実施例の動作フロー図である。本実施例は図９に示し
た初期診断を繰り返す場合を示し、図９と同一符号のス
テップは図９と同じ内容を示す。本実施例はステップ３
のＣＰＵ診断よりステップ７のファイル装置診断まで終
了したとき、状態設定レジスタ14より設定ビットを読み
出し( ステップ30) 、設定ビットが１（工場試験）であ
ればステップ３に戻り（ステップ31) 、繰り返し診断を
する。各繰り返し診断ごとに条件を変えてゆく。
１実施例の動作フロー図である。本実施例は図９に示し
た初期診断を繰り返す場合を示し、図９と同一符号のス
テップは図９と同じ内容を示す。本実施例はステップ３
のＣＰＵ診断よりステップ７のファイル装置診断まで終
了したとき、状態設定レジスタ14より設定ビットを読み
出し( ステップ30) 、設定ビットが１（工場試験）であ
ればステップ３に戻り（ステップ31) 、繰り返し診断を
する。各繰り返し診断ごとに条件を変えてゆく。
【００２２】次に第２実施例を図５、図６を用いて説明
する。本実施例はプリント基板に試験用のコンソールを
接続し、コンソールより、初期診断項目の内に所望の項
目を指定して診断を行わせるものである。図９と同一符
号のステップは同一内容を示す。まず電源がはいると
（ステップ１）、ＲＯＭ初期設定をし診断項目は全て診
断するようにする（ステップ32) 。次に状態設定レジス
タ14の設定ビットを読み出し（ステップ33) 、設定ビッ
トが１（工場試験）のときは診断項目の全ての診断を行
わないようにし（ステップ35) 、ステップ３〜７を素通
りして設定ビットを読み出し（ステップ37) 、１が設定
されていれば、試験用のコンソールより診断項目の指示
があるか調べ（ステップ38) 、指示があれば診断指示内
容を判別し（ステップ39) 、指示された診断項目の診断
指示を有とし（ステップ40) 、その診断を行う。
する。本実施例はプリント基板に試験用のコンソールを
接続し、コンソールより、初期診断項目の内に所望の項
目を指定して診断を行わせるものである。図９と同一符
号のステップは同一内容を示す。まず電源がはいると
（ステップ１）、ＲＯＭ初期設定をし診断項目は全て診
断するようにする（ステップ32) 。次に状態設定レジス
タ14の設定ビットを読み出し（ステップ33) 、設定ビッ
トが１（工場試験）のときは診断項目の全ての診断を行
わないようにし（ステップ35) 、ステップ３〜７を素通
りして設定ビットを読み出し（ステップ37) 、１が設定
されていれば、試験用のコンソールより診断項目の指示
があるか調べ（ステップ38) 、指示があれば診断指示内
容を判別し（ステップ39) 、指示された診断項目の診断
指示を有とし（ステップ40) 、その診断を行う。
【００２３】図６は診断を指示された項目の診断を行う
フロー図である。各診断項目は自分が指示されると（ス
テップ41) 、その診断を実施し（ステップ42) 、終了す
る（ステップ43) 。
フロー図である。各診断項目は自分が指示されると（ス
テップ41) 、その診断を実施し（ステップ42) 、終了す
る（ステップ43) 。
【００２４】次に第３実施例を図７、図８を用いて説明
する。本実施例は、基板の状態で工場試験を実施し、実
施中の診断結果を記憶部に格納しておき、その後工場試
験用コンソールを接続して記憶部のメッセージをコンソ
ールに表示するようにしたものである。なお、図９と同
一符号のステップは同一内容を示す。
する。本実施例は、基板の状態で工場試験を実施し、実
施中の診断結果を記憶部に格納しておき、その後工場試
験用コンソールを接続して記憶部のメッセージをコンソ
ールに表示するようにしたものである。なお、図９と同
一符号のステップは同一内容を示す。
【００２５】図７において、ステップ１〜７は初期診断
と同一であり、ステップ50で状態設定レジスタ14の設定
ビットを読み出し、１（工場試験）に設定してあると
（ステップ51) 、診断結果を、接続した工場試験用のコ
ンソールに表示する指示があるか調べ（ステップ52) 、
指示が出されていれば記憶部に格納されているメッセー
ジをコンソールに表示して（ステップ53) 、再びステッ
プ３に戻り診断を開始する。
と同一であり、ステップ50で状態設定レジスタ14の設定
ビットを読み出し、１（工場試験）に設定してあると
（ステップ51) 、診断結果を、接続した工場試験用のコ
ンソールに表示する指示があるか調べ（ステップ52) 、
指示が出されていれば記憶部に格納されているメッセー
ジをコンソールに表示して（ステップ53) 、再びステッ
プ３に戻り診断を開始する。
【００２６】図８はコンソールへ格納されたメッセージ
を表示するフロー図である。それぞれの診断結果につい
てのメッセージを取り出し（ステップ54) 、コンソール
へそのメッセージの表示要求がなされているか調べ (ス
テップ55) 、要求がだされていればメッセージをコンソ
ールへ表示し( ステップ56) 、要求がなければメッセー
ジはそのまま保存し（ステップ57) 、その診断のメッセ
ージ表示を終了する(ステップ58) 。
を表示するフロー図である。それぞれの診断結果につい
てのメッセージを取り出し（ステップ54) 、コンソール
へそのメッセージの表示要求がなされているか調べ (ス
テップ55) 、要求がだされていればメッセージをコンソ
ールへ表示し( ステップ56) 、要求がなければメッセー
ジはそのまま保存し（ステップ57) 、その診断のメッセ
ージ表示を終了する(ステップ58) 。
【００２７】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は初期診断プログラムを修正して工場試験を行うように
したので工場内では試験工数や設備などを削減すること
ができる。また工場用電源コネクタに接続すれば自動的
に工場試験状態に設定できるので、工場試験状態の設定
が容易となる。
は初期診断プログラムを修正して工場試験を行うように
したので工場内では試験工数や設備などを削減すること
ができる。また工場用電源コネクタに接続すれば自動的
に工場試験状態に設定できるので、工場試験状態の設定
が容易となる。
【図１】本実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】状態設定レジスタを設定する状態設定回路図で
ある。
ある。
【図３】工場試験時と製品時の電源コネクタの接続を示
す図である。
す図である。
【図４】第１実施例の動作フロー図である。
【図５】第２実施例の動作フロー図である。
【図６】第２実施例の各診断の動作フロー図である。
【図７】第３実施例の動作フロー図である。
【図８】第３実施例の場合のコンソール表示フロー図で
ある。
ある。
【図９】初期診断の動作フロー図である。
14 状態設定レジスタ 20 スリーステートバッファ
Claims (4)
- 【請求項１】 電子計算機装置に工場試験であることを
示す信号を入力する信号入力手段を設け、この信号が入
力したときは初期診断プログラムを繰り返し実施するよ
うにしたことを特徴とする電子計算機の診断方式。 - 【請求項２】 電子計算機装置の基板に工場試験である
ことを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工場試
験を行う際、前記基板にコンソールを接続し、初期診断
プログラムで行う試験項目の内所望の試験を前記コンソ
ールから指示して実施させるようにしたことを特徴とす
る電子計算機の診断方式。 - 【請求項３】 電子計算機装置の基板に工場試験である
ことを示す信号を入力する信号入力手段を設け、工場試
験を行う際、前記信号を入力して初期診断プログラムを
実施させ、診断結果のメッセージを記憶部に格納してお
き、コンソールを接続した後、前記記憶部のメッセージ
を前記コンソールに表示させるようにしたことを特徴と
する電子計算機の診断方式。 - 【請求項４】 前記工場試験は工場試験用電源より電力
を供給するようにし、この工場試験用電源を接続するこ
とにより前記信号入力手段に前記信号が入力するように
したことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の
電子計算機の診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4298339A JPH06149609A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | 電子計算機の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4298339A JPH06149609A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | 電子計算機の診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06149609A true JPH06149609A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=17858393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4298339A Withdrawn JPH06149609A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | 電子計算機の診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06149609A (ja) |
-
1992
- 1992-11-09 JP JP4298339A patent/JPH06149609A/ja not_active Withdrawn
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