JPH06148048A - Pressure tester - Google Patents

Pressure tester

Info

Publication number
JPH06148048A
JPH06148048A JP30070392A JP30070392A JPH06148048A JP H06148048 A JPH06148048 A JP H06148048A JP 30070392 A JP30070392 A JP 30070392A JP 30070392 A JP30070392 A JP 30070392A JP H06148048 A JPH06148048 A JP H06148048A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weighted
probe
load
plane
block
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP30070392A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takuya Takahashi
拓也 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Original Assignee
Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Aviation Electronics Industry Ltd filed Critical Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority to JP30070392A priority Critical patent/JPH06148048A/en
Publication of JPH06148048A publication Critical patent/JPH06148048A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To simply obtain good positioning accuracy between a small object to be applied with load and a load-applying probe. CONSTITUTION:A load-applying probe 23 is removably attached to a lower face 22a of a block 22 by using vacuum suction for example, and the attaching is performed so that a load-applying probe moving axial line is always constant. A laser light source 27 is attached to an upper face 22b of the block 22 with the load-applying probe moving axial line and an optic axis aligned with each other. With the load-applying probe 23 removed, visible laser emitted from the laser light source 27 is applied to a load-applied plane 17a through a through hole of the block 22, and after a small object 31 to be applied with load is positioned at this laser spot position, the load-applying probe 23 is attached.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は微小被加重物の加圧試
験に用いられる加圧試験機に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pressure tester used for pressure test of minute weighted objects.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば荷重−変位特性の測定などのいわ
ゆる加圧試験を行うために従来用いられている加圧試験
機は、加重平面上に配された被加重物に対し、その上方
から加重プローブを加重平面に押し付けて試験を行うも
のであり、被加重物と加重プローブ先端部との位置合わ
せはそれらを観察しながら加重平面が取付けられている
XYステージを調節することによって行われていた。
2. Description of the Related Art A pressurizing tester conventionally used for performing a so-called pressurizing test such as measurement of load-displacement characteristics is such that a load is placed on a load plane from above. The test is performed by pressing the probe against the weighted plane, and the alignment of the weighted object and the tip of the weighted probe was performed by observing them and adjusting the XY stage to which the weighted plane is attached. .

【0003】一方、被加重物と加重プローブとを直接位
置合わせしなくてもそれらの位置合わせを行えるように
した加圧試験機が従来提案されており、その構成を図4
を参照して説明する。基台11にXYステージ12が設
置され、このXYステージ12にロードセル設置板13
が搭載される。ロードセル設置板13にはロードセル1
4が収容される円形凹部15が図示していないが3箇所
形成されており、これら円形凹部15にそれぞれロード
セル14がその上部がロードセル設置板13の板面より
突出されて収容される。ロードセル設置板13の上に配
される加重板16はこれらロードセル14により3点支
持される。加重板16上には試料台17が設置され、そ
の上面が被加重物が載置される加重平面17aとされ
る。
On the other hand, there has been conventionally proposed a pressurizing tester capable of aligning a weighted probe and a weighted probe without directly aligning them, and the configuration thereof is shown in FIG.
Will be described with reference to. An XY stage 12 is installed on the base 11, and a load cell installation plate 13 is installed on the XY stage 12.
Will be installed. The load cell 1 is mounted on the load cell installation plate 13.
Although not shown, three circular recesses 15 for accommodating 4 are formed, and the load cells 14 are accommodated in these circular recesses 15 with their upper portions protruding from the plate surface of the load cell installation plate 13. The weight plate 16 disposed on the load cell installation plate 13 is supported by these load cells 14 at three points. A sample table 17 is installed on the weight plate 16, and the upper surface thereof serves as a weight plane 17a on which an object to be weighted is placed.

【0004】一方、基台11の他半部には支持台18が
設置され、この支持台18に取付板19を介してZ軸方
向、即ち加重平面17aと直交する方向に移動可能とさ
れたZステージ21が取付けられる。Zステージ21は
パルスモータ21aによって駆動され、その移動板21
bは高精度に移動可能とされている。移動板21bにブ
ロック22が取付けられ、このブロック22の、試料台
17の加重平面17aと対向する下面22aに加重プロ
ーブ23が、その軸心がZ軸方向とされ、かつZステー
ジ21の移動による加重プローブ23の移動軸線がロー
ドセル設置板13に収容されている3つのロードセル1
4の各荷重点を結ぶ三角形の中心を通るように植立され
る。なお、加重プローブ23の先端部23aは円錐台状
の先細形状とされている。
On the other hand, a support base 18 is installed on the other half of the base 11, and is movable on the support base 18 via a mounting plate 19 in the Z-axis direction, that is, in the direction orthogonal to the weight plane 17a. The Z stage 21 is attached. The Z stage 21 is driven by a pulse motor 21a, and its moving plate 21
b is movable with high precision. The block 22 is attached to the moving plate 21b, and the weight probe 23 is attached to the lower surface 22a of the block 22 that faces the weight plane 17a of the sample table 17, and the axis of the weight probe 23 is in the Z-axis direction. Three load cells 1 in which the moving axis of the weight probe 23 is housed in the load cell installation plate 13
It is planted so as to pass through the center of the triangle connecting the load points of No. 4. The tip portion 23a of the weight probe 23 has a truncated cone shape.

【0005】Zステージ21の駆動による加重プローブ
23の移動量を測定するためのレーザ変位計24が支持
部材25を介して取付板19に固定される。レーザ変位
計24のV溝の一側面24aから出射されたレーザ光は
ブロック22の上面22bによって反射されてV溝の他
方の側面24bに入射され、ブロック22の変位による
この入射光の位相変化を利用してブロック22の変位、
つまり加重プローブ23の移動量が測定される。
A laser displacement meter 24 for measuring the amount of movement of the weighted probe 23 due to the driving of the Z stage 21 is fixed to the mounting plate 19 via a support member 25. The laser light emitted from one side surface 24a of the V groove of the laser displacement meter 24 is reflected by the upper surface 22b of the block 22 and is incident on the other side surface 24b of the V groove, and the phase change of this incident light due to the displacement of the block 22 is changed. Displacement of the block 22 using
That is, the amount of movement of the weight probe 23 is measured.

【0006】XYステージ12の近傍における基台11
上に支柱26が設置され、この支柱26にレーザ光源2
7が取付けられる。レーザ光源27はその光軸が加重プ
ローブ23の移動軸線に対し、所定の角度θ傾けられ、
かつその光軸が試料台17の加重平面17aと交差する
点は加重プローブ23の移動軸線と加重平面17aとの
交差点とほぼ一致されており、可視光レーザを出射して
加重平面17aを照射する。
A base 11 near the XY stage 12
A pillar 26 is installed on the pillar 26, and the laser light source 2 is attached to the pillar 26.
7 is attached. The laser light source 27 has its optical axis tilted at a predetermined angle θ with respect to the moving axis of the weighted probe 23,
Moreover, the point where the optical axis thereof intersects with the weighting plane 17a of the sample stage 17 is almost coincident with the intersection of the moving axis of the weighting probe 23 and the weighting plane 17a, and the visible light laser is emitted to irradiate the weighting plane 17a. .

【0007】上記のように構成された加圧試験機30に
おいてはレーザ光源27から出射された可視光レーザが
加重平面17aに形成するレーザスポット位置に被加重
物を位置決めすることにより、被加重物と加重プローブ
23の先端部23aとのXY方向における位置合わせを
行うことができる。図5はこのようにして被加重物31
が可視光レーザに照射された状態で、加重プローブ23
と位置が合っている状態を示したものであり、例えば被
加重物31が直径dの微小球状体とすれば、レーザ光源
27は加重プローブ23の移動軸線32上における加重
平面17aから距離dの位置にその光軸33が交差する
ように取付け位置が調整されている。
In the pressure tester 30 configured as described above, the weighted object is positioned by positioning the weighted object at the laser spot position formed on the weighted plane 17a by the visible light laser emitted from the laser light source 27. It is possible to perform alignment in the XY directions with the tip portion 23a of the weighted probe 23. FIG. 5 shows the weight 31
The weighted probe 23
When the object to be weighted 31 is a minute spherical body having a diameter d, the laser light source 27 has a distance d from the weighting plane 17a on the moving axis 32 of the weighting probe 23. The mounting position is adjusted so that the optical axis 33 intersects the position.

【0008】なお、Zステージ21を移動させ、加重プ
ローブ23を加重平面17aに配された被加重物31に
押し付けていくことにより発生するレーザ変位計24の
出力及びロードセル14の出力はそれぞれ図4に示すよ
うにケーブル34,35を介して表示装置36に入力さ
れ、例えば荷重と変位の関係を示す荷重−変位曲線がそ
の表示画面に表示される。
The output of the laser displacement meter 24 and the output of the load cell 14, which are generated by moving the Z stage 21 and pressing the weighted probe 23 against the weighted object 31 arranged on the weighted plane 17a, are shown in FIG. As shown in FIG. 5, the load-displacement curve indicating the relationship between the load and the displacement is input to the display device 36 via the cables 34 and 35 and displayed on the display screen.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の加圧試験機における被加重物と加重プローブとの位
置合わせは、それらを直接位置合わせするものや、ある
いは図4,5に示したようにレーザ光源27を具備して
可視光レーザを斜めから加重平面17aに照射し、被加
重物31の位置決め基準となるレーザスポットを加重平
面17aに形成してそのレーザスポット位置に被加重物
31を位置決めすることにより、被加重物31と加重プ
ローブ23との位置合わせを行うものであった。
As described above, the alignment of the weighted probe and the weighted object in the conventional pressure tester is performed by directly aligning them, or as shown in FIGS. As described above, the weighted plane 17a is obliquely irradiated with the visible light laser provided with the laser light source 27, a laser spot serving as a positioning reference of the weighted object 31 is formed on the weighted plane 17a, and the weighted object is placed at the laser spot position. By positioning 31, the weighted object 31 and the weighted probe 23 are aligned with each other.

【0010】しかしながら、被加重物31と加重プロー
ブ23の先端部23aとを直接位置合わせするもので
は、加重プローブ先端部23aをかなり被加重物31に
接近させて位置合わせを行わなければならず、被加重物
31が微小な場合には被加重物31が見えにくく、位置
合わせしずらいものとなる。従って、例えば図6に破線
で示したように微小被加重物31が加重プローブ先端部
23aの中心から外れ、精度良く位置決めされない恐れ
がある。
However, in the case where the weighted object 31 and the tip portion 23a of the weighted probe 23 are directly aligned, the weighted probe tip portion 23a must be brought very close to the weighted object 31 for alignment. When the weighted object 31 is very small, the weighted object 31 is difficult to see and the alignment becomes difficult. Therefore, for example, as shown by the broken line in FIG. 6, the minute weighted object 31 may deviate from the center of the weighted probe tip portion 23a and may not be accurately positioned.

【0011】これに対し、加重平面17aに形成された
レーザスポット位置に被加重物31を位置決めするもの
では、被加重物31が微小であっても容易に位置決めす
ることができ、かつ予め加重プローブ23の移動軸線3
2とレーザ光の光軸33とは所定の関係に設定されてい
るため、精度良く被加重物31と加重プローブ23との
位置合わせを行うことができる。しかしながら、この場
合、被加重物31の大きさ、例えば直径がdからDに変
わると図7に示すように被加重物31の位置決め位置が
加重プローブ23の移動軸線32からXだけずれてしま
い、つまり被加重物31の大きさがばらつく場合には、
精度良く位置決めすることができないという問題があ
る。
On the other hand, in the case where the weighted object 31 is positioned at the laser spot position formed on the weighted plane 17a, even if the weighted object 31 is minute, the weighted object 31 can be easily positioned and the weighted probe is preliminarily used. 23 movement axis 3
Since 2 and the optical axis 33 of the laser beam are set in a predetermined relationship, the weighted object 31 and the weighted probe 23 can be accurately aligned. However, in this case, when the size of the weighted object 31, for example, the diameter changes from d to D, the positioning position of the weighted object 31 shifts from the movement axis 32 of the weighted probe 23 by X, as shown in FIG. That is, if the size of the weighted object 31 varies,
There is a problem that positioning cannot be performed with high precision.

【0012】この発明の目的は従来の問題点を除去し、
微小被加重物の大きさがばらついてもその微小被加重物
と加重プローブとの位置合わせを常に精度良く、容易に
行うことができる加圧試験機を提供することにある。
The object of the present invention is to eliminate the problems of the prior art,
It is an object of the present invention to provide a pressure tester that can always accurately and easily align the position of the minute weighted object with the weighted probe even if the size of the minute weighted object varies.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】この発明はXYステージ
に取付けられた加重平面上に配された微小被加重物に対
し、その上方から加重プローブを加重平面に押し付けて
試験する加圧試験機において、加重プローブを加圧試験
機に取外し自在に取付ける取付け手段と、その取付け手
段により加重プローブを加圧試験機に取付ける時に加重
プローブ移動軸線が常に一定となるようにする位置決め
手段と、加圧試験機に加重プローブの上側で取付けら
れ、加重プローブ移動軸線と光軸が一致し、かつ加重平
面を照射する可視光レーザを出射するレーザ光源とを具
備するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a pressure tester for testing a minute load object placed on a load plane attached to an XY stage by pressing a load probe against the load plane from above. , Mounting means for detachably mounting the weighted probe to the pressure tester, positioning means for ensuring that the weighted probe moving axis is always constant when mounting the weighted probe to the pressure tester by the mounting means, and pressure test A laser light source that is attached to the machine above the weighted probe and that emits a visible light laser whose optical axis coincides with the axis of movement of the weighted probe and illuminates the weighted plane.

【0014】[0014]

【作用】上記のように構成されたこの発明では、加重平
面に形成されたレーザスポット位置に微小被加重物を位
置決めすれば、その大きさによらず加重プローブと精度
良く位置合わせできる。
According to the present invention having the above-described structure, if the minute weighted object is positioned at the laser spot position formed on the weighted plane, it can be accurately aligned with the weighted probe regardless of its size.

【0015】[0015]

【実施例】この発明の一実施例を図1に示し、その要部
詳細を図2に示す。なお、図4に示した従来の加圧試験
機と対応する部分については同一符号を付し、その説明
を省略する。この実施例では加重プローブ23はブロッ
ク22に取外し自在に取付けられる。この取付け手段と
してこの実施例は真空吸着を用いたものであり、図2を
参照してその詳細を説明する。ブロック22の加重平面
17aと対向する下面22aに矩形台状の加重プローブ
取付け部41が一体に突設され、その端面が加重プロー
ブ取付け面41aとされる。加重プローブ取付け面41
aには矩形枠状の凹溝42が形成され、この凹溝42の
一部に吸気口43が形成される。この吸気口43を一方
の開口とする貫通孔44がブロック22に形成される。
貫通孔44は直角に折れ曲がって形成され、その他方の
開口がブロック22の一側面22cに位置される。ブロ
ック22の側面22cに貫通孔44と軸心が一致されて
吸気管45が取付けられる。この吸気管45にチューブ
(図示せず)を介して真空ポンプ(図示せず)が接続さ
れる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment of the present invention is shown in FIG. The parts corresponding to those of the conventional pressure tester shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In this embodiment, the weighted probe 23 is removably attached to the block 22. This embodiment uses vacuum suction as the mounting means, and the details thereof will be described with reference to FIG. A rectangular trapezoidal weighted probe mounting portion 41 is integrally projectingly provided on a lower surface 22a of the block 22 which faces the weighted flat surface 17a, and an end surface thereof serves as a weighted probe mounting surface 41a. Weighted probe mounting surface 41
A rectangular frame-shaped concave groove 42 is formed in a, and an intake port 43 is formed in a part of the concave groove 42. A through hole 44 having the intake port 43 as one opening is formed in the block 22.
The through hole 44 is formed by bending at a right angle, and the other opening is located on one side surface 22c of the block 22. The intake pipe 45 is attached to the side surface 22c of the block 22 with the through hole 44 and the axis aligned. A vacuum pump (not shown) is connected to the intake pipe 45 via a tube (not shown).

【0016】一方、加重プローブ23の後端には加重プ
ローブ23と同軸心とされ、ブロック22の加重プロー
ブ取付け面41aに形成された凹溝42を蓋する大きさ
とされた円板部46が取付けられる。真空ポンプを作動
させることにより、この円板部46の板面が加重プロー
ブ取付け面41aに真空吸着されて加重プローブ23が
ブロック22に取付けられる。真空ポンプを停止させれ
ば加重プローブ23を容易にブロック22から取外すこ
とができる。
On the other hand, at the rear end of the weighted probe 23, there is mounted a disc portion 46 which is coaxial with the weighted probe 23 and is sized to cover the groove 42 formed in the weighted probe mounting surface 41a of the block 22. To be By operating the vacuum pump, the plate surface of the disk portion 46 is vacuum-sucked by the weighted probe mounting surface 41 a, and the weighted probe 23 is mounted on the block 22. The weighted probe 23 can be easily removed from the block 22 by stopping the vacuum pump.

【0017】加重プローブ23の加重プローブ取付け面
41aへの取付け位置は常に一定とされる。即ち、加重
プローブ取付け部41の隣接する二つの側面にそれぞれ
四角柱状の位置決めキー47,48を対接させて取付
け、加重プローブ取付け面41aより突出したそれら位
置決めキー47,48の加重プローブ取付け面41aに
のぞむ各側面を加重プローブ23の円板部46の突当て
面47a,48aとする。両突当て面47a,48aに
円板部46の周面を突当てて位置決めすることにより、
加重プローブ23は常に一定位置に取付けられる。この
ように加重プローブ23を加重プローブ取付け面41a
に取付けることにより、加重プローブ23はその軸心が
Z軸方向とされ、かつZステージ21(図1参照)の移
動による加重プローブ23の移動軸線32が常に一定と
され、ロードセル設置板13に収容されている3つのロ
ードセル14の各荷重点を結ぶ三角形の中心を通るよう
にされる。
The mounting position of the weighted probe 23 on the weighted probe mounting surface 41a is always constant. That is, the positioning keys 47 and 48 in the form of square poles are attached to the two adjacent side surfaces of the weighted probe mounting portion 41 so as to be in contact with each other, and the positioning keys 47 and 48 protruding from the weighted probe mounting surface 41a have their weighted probe mounting surfaces 41a. The respective side surfaces that are visible are the abutting surfaces 47a and 48a of the disk portion 46 of the weighted probe 23. By abutting and positioning the peripheral surface of the disk portion 46 against both abutting surfaces 47a and 48a,
The weighted probe 23 is always attached at a fixed position. In this way, the weighted probe 23 is attached to the weighted probe mounting surface 41a.
By mounting the load probe 23 on the load cell installation plate 13, the axis of the weight probe 23 is in the Z-axis direction, and the movement axis 32 of the weight probe 23 due to the movement of the Z stage 21 (see FIG. 1) is always constant. The three load cells 14 are arranged so as to pass through the centers of triangles connecting the respective load points.

【0018】加重プローブ23がブロック22に取付け
られた状態で加重プローブ23の上側に位置するよう
に、ブロック22の上面22bにレーザ光源27が、加
重プローブ23の移動軸線32と光軸33が一致されて
取付けられる。レーザ光源27のブロック22への固定
は、図1に示すようにブロック22の上面22bにV字
が上面22bと対向するようにして取付けられたVブロ
ック51のV溝の2側面と、Vブロック51のV字の上
端を蓋するように配された板ばね52の板面とによって
レーザ光源27の周面を挟持することによって行われ
る。
The laser light source 27 is positioned on the upper surface 22b of the block 22 so that the weighted probe 23 is located above the weighted probe 23 with the weighted probe 23 attached to the block 22, and the movement axis 32 of the weighted probe 23 and the optical axis 33 coincide with each other. Installed. As shown in FIG. 1, the laser light source 27 is fixed to the block 22 by the two sides of the V groove of the V block 51 attached to the upper surface 22b of the block 22 so that the V-shape faces the upper surface 22b, and the V block. This is performed by sandwiching the peripheral surface of the laser light source 27 with the plate surface of the plate spring 52 arranged so as to cover the upper end of the V-shape of 51.

【0019】レーザ光源27の出射口27aと対向して
ブロック22に光路をなす貫通孔53が形成される。こ
の貫通孔53のブロック22の下面22a側における開
口は、加重プローブ取付け面41aにおける矩形枠状の
凹溝42で囲まれた中央部に位置される。加重プローブ
23をブロック22から取外すことにより、レーザ光源
27から出射された可視光レーザは貫通孔53を通り、
加重平面17aを照射する。図3はレーザ光源27から
出射される可視光レーザ54と加重プローブ23との位
置関係を模式的に示したものである。
A through hole 53 which forms an optical path is formed in the block 22 so as to face the emission port 27a of the laser light source 27. The opening of the through hole 53 on the lower surface 22a side of the block 22 is located at the central portion surrounded by the rectangular frame-shaped groove 42 on the weighted probe mounting surface 41a. By removing the weighted probe 23 from the block 22, the visible light laser emitted from the laser light source 27 passes through the through hole 53,
Irradiate the weighted plane 17a. FIG. 3 schematically shows the positional relationship between the visible light laser 54 emitted from the laser light source 27 and the weighted probe 23.

【0020】次に、上記のように構成された加圧試験機
55を用いて、例えばビーズコネクタに使用される微小
球状接点などの微小被加重物31の加圧試験を行う場合
について説明する。加圧試験機55から加重プローブ2
3を取外した状態で微小被加重物31を加重平面17a
上に載置する。レーザ光源27の電源を投入し、可視光
レーザを加重平面17aに照射させる。可視光レーザが
加重平面17aに形成するレーザスポット位置に、XY
ステージ12を移動させることにより微小被加重物31
を位置決めする。この際、可視光レーザのビーム径を微
小被加重物31の大きさと同等程度に絞り、微小被加重
物31の外形がレーザスポット内にちょうど収まった状
態に位置決めすれば、簡易かつ高精度の位置決めを行う
ことができる。
Next, a description will be given of a case where the pressure tester 55 having the above-described structure is used to perform a pressure test on the minute load-bearing object 31 such as a minute spherical contact used in a bead connector. Pressure tester 55 to weight probe 2
In the state where 3 is removed, the minute weighted object 31 is attached to the weighting plane 17a.
Place on top. The power of the laser light source 27 is turned on, and the weighted plane 17a is irradiated with the visible light laser. At the laser spot position formed by the visible light laser on the weighted plane 17a, XY
By moving the stage 12, the minute weighted object 31
To position. At this time, if the beam diameter of the visible light laser is narrowed to the same extent as the size of the minute weighted object 31 and positioning is performed so that the outer shape of the minute weighted object 31 is exactly within the laser spot, positioning is simple and highly accurate. It can be performed.

【0021】次に、真空ポンプを作動させ、加重プロー
ブ23を、その円板部46の周面を位置決めキー47,
48の両突当て面47a,48aに突当てて位置決めし
た状態で加重プローブ取付け面41aに真空吸着させて
取付ける。そして、Zステージ21を移動させることに
より、加重プローブ23を微小被加重物31に近づけて
いく。加重プローブ23の移動軸線32とレーザ光源2
7の光軸33とは一致されているため、微小被加重物3
1はその中心が加重プローブ23の先端部23aによっ
て加圧され、所要の加圧試験が精度よく行われる。
Next, the vacuum pump is operated to move the weighted probe 23 to the positioning key 47, on the peripheral surface of the disk portion 46 thereof.
The weighted probe mounting surface 41a is vacuum-sucked and mounted on the weighted probe mounting surface 41a in a state of being positioned by being pressed against both butting surfaces 47a and 48a of 48. Then, by moving the Z stage 21, the weighted probe 23 is brought closer to the minute weighted object 31. The movement axis 32 of the weighted probe 23 and the laser light source 2
7 is aligned with the optical axis 33, the small weighted object 3
The center of No. 1 is pressed by the tip portion 23a of the weighted probe 23, and the required pressurizing test is performed accurately.

【0022】なお、図1,2に示した実施例では加重プ
ローブ23をブロック22に取外し自在に取付ける手段
として真空吸着を用いたものであるが、これに限らず加
重プローブ23の円板部46とブロック22とを例えば
磁石により形成し、磁力によって吸着させて取付ける構
造としてもよい。
In the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, the vacuum probe is used as a means for detachably attaching the weight probe 23 to the block 22, but the present invention is not limited to this, and the disk portion 46 of the weight probe 23 is not limited to this. The block 22 and the block 22 may be formed of, for example, a magnet, and may be attached by being attracted by a magnetic force.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、この発明は加圧試
験機において加重プローブを取外し自在とし、かつそれ
を取付ける際には加重プローブ移動軸線が常に一定とな
るように位置決め可能とし、さらに加重平面を照射する
可視光レーザを出射するレーザ光源を加重プローブの移
動軸線と光軸を一致させて加重プローブの上側に取付け
たものである。
As described above, according to the present invention, the weight probe can be detached from the pressure tester, and when mounting the probe, the weight probe can be positioned so that the axis of movement of the weight probe is always constant. A laser light source that emits a visible light laser that irradiates a plane is attached to the upper side of the weighted probe with its moving axis aligned with the optical axis.

【0024】従って、加重平面に形成されるレーザスポ
ット位置に被加重物を位置決めすれば加重プローブと被
加重物との位置合わせを行うことができるため、被加重
物が微小であっても容易に加重プローブとの位置合わせ
を行うことができ、さらに微小被加重物の大きさがばら
ついても、微小被加重物は常に加重プローブ移動軸線上
に位置決めされるため、微小被加重物と加重プローブと
の良好な位置合わせ精度を常に簡易に得ることができ
る。
Therefore, if the weighted object is positioned at the laser spot position formed on the weighted plane, the weighted probe and the weighted object can be aligned with each other. Positioning with the weighted probe can be performed, and even if the size of the minute weighted object varies, the minute weighted object is always positioned on the axis of movement of the weighted probe. It is possible to always easily obtain good alignment accuracy of.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明による加圧試験機の一実施例を示す斜
視図。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a pressure tester according to the present invention.

【図2】図1の要部詳細を説明するための図。FIG. 2 is a diagram for explaining details of main parts of FIG.

【図3】この発明による加圧試験機の一実施例における
可視光レーザと加重プローブとの位置関係を説明するた
めの図。
FIG. 3 is a diagram for explaining the positional relationship between a visible light laser and a weighted probe in one embodiment of the pressure tester according to the present invention.

【図4】従来の加圧試験機の一例を示す斜視図。FIG. 4 is a perspective view showing an example of a conventional pressure tester.

【図5】図4に示した従来の加圧試験機における被加重
物の位置決め状態を説明するための図。
5A and 5B are views for explaining a positioning state of an object to be weighted in the conventional pressure tester shown in FIG.

【図6】従来の加圧試験機の他の例における被加重物の
位置決め状態を説明するための図。
FIG. 6 is a diagram for explaining a positioning state of a weighted object in another example of the conventional pressure tester.

【図7】図4に示した従来の加圧試験機における被加重
物の大きさのばらつきによる位置決め状態を説明するた
めの図。
FIG. 7 is a diagram for explaining a positioning state due to variations in the size of the weighted object in the conventional pressure tester shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 XYステージ 17a 加重平面 23 加重プローブ 27 レーザ光源 31 微小被加重物 12 XY stage 17a Weighted plane 23 Weighted probe 27 Laser light source 31 Micro weighted object

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 XYステージに取付けられた加重平面上
に配された微小被加重物に対し、その上方から加重プロ
ーブを上記加重平面に押し付けて試験する加圧試験機に
おいて、 上記加重プローブを上記加圧試験機に取外し自在に取付
ける取付け手段と、 その取付け手段により上記加重プローブを上記加圧試験
機に取付ける時に加重プローブ移動軸線が常に一定とな
るようにする位置決め手段と、 上記加圧試験機に上記加重プローブの上側で取付けら
れ、上記加重プローブ移動軸線と光軸が一致し、かつ上
記加重平面を照射する可視光レーザを出射するレーザ光
源と、 を具備することを特徴とする加圧試験機。
1. A pressure tester for testing a micro object to be weighted arranged on a weighting plane attached to an XY stage by pressing a weighting probe against the weighting plane from above to test the weighting probe. Attaching means for detachably attaching to the pressure tester, positioning means for keeping the weight probe moving axis constant when attaching the weight probe to the pressure tester by the attaching means, and the pressure tester And a laser light source which is mounted on the upper side of the weighted probe and has an optical axis coincident with the axis of movement of the weighted probe and emits a visible light laser that illuminates the weighted plane. Machine.
JP30070392A 1992-11-11 1992-11-11 Pressure tester Withdrawn JPH06148048A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30070392A JPH06148048A (en) 1992-11-11 1992-11-11 Pressure tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30070392A JPH06148048A (en) 1992-11-11 1992-11-11 Pressure tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06148048A true JPH06148048A (en) 1994-05-27

Family

ID=17888072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30070392A Withdrawn JPH06148048A (en) 1992-11-11 1992-11-11 Pressure tester

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06148048A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180063798A (en) * 2016-12-02 2018-06-12 주식회사 신영 Probe pressing device of nondestructive inspection apparatus for spot weld

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180063798A (en) * 2016-12-02 2018-06-12 주식회사 신영 Probe pressing device of nondestructive inspection apparatus for spot weld

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6794889B2 (en) Unified apparatus and method to assure probe card-to-wafer parallelism in semiconductor automatic wafer test, probe card measurement systems, and probe card manufacturing
US7221177B2 (en) Probe apparatus with optical length-measuring unit and probe testing method
KR20060130679A (en) Wafer-level opto-electronic testing apparatus and method
KR100339450B1 (en) Apparatus and method for manufacturing information storage device
KR20100018515A (en) Solid immersion lens holder
JP2002257727A (en) Probe for measuring light scattering
CN100470306C (en) Interference system for simultaneously measuring Faraday effect based displacement and angle
WO2006090593A1 (en) Displacement detection mechanism for scanning probe microscope and scanning probe microscope
CN110530821B (en) Measuring device and measuring method for refractive index of optical material
JPH06148048A (en) Pressure tester
JP3078133B2 (en) Method for inspecting alignment state of optical waveguide and optical waveguide
JPH11125520A (en) Member for supporting semiconductor wafer, and flatness measuring instrument for semiconductor wafer
WO2010122641A1 (en) Method and device for measuring the output angle of optical fiber
CN116105781A (en) Optical calibration device and method for calibrating coordinate system where optical platform is located
US6480347B1 (en) Device for reproducible positioning of optical surfaces
US20030128360A1 (en) Elllipsometer and precision auto-alignment method for incident angle of the ellipsometer without auxiliary equipment
US7023550B2 (en) Aligning optical components of an optical measuring system
JP2000329772A (en) Scanning probe microscope and method and auxiliary jig for adjusting optical axis thereof
EP4345413A1 (en) Light sensitive target and alignment system
JP2002107130A (en) Apparatus for measuring inclination angle of optical fiber leading end face
JP2023537427A (en) Contact modules for contacting optoelectronic chips
JPH0387039A (en) Prober
JPS6022322Y2 (en) Visual alignment device for small-core optical fiber
US20040109158A1 (en) Light guide plate measurement apparatus
KR0175080B1 (en) A coil inspecting jig of optical pickup actuator

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20000201