JPH06123908A - Shift register having optical bistable element - Google Patents

Shift register having optical bistable element

Info

Publication number
JPH06123908A
JPH06123908A JP16530993A JP16530993A JPH06123908A JP H06123908 A JPH06123908 A JP H06123908A JP 16530993 A JP16530993 A JP 16530993A JP 16530993 A JP16530993 A JP 16530993A JP H06123908 A JPH06123908 A JP H06123908A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
light
optical bistable
optical
shift register
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16530993A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2839430B2 (en
Inventor
Toyoji Chino
豊治 知野
Kenichi Matsuda
賢一 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP16530993A priority Critical patent/JP2839430B2/en
Publication of JPH06123908A publication Critical patent/JPH06123908A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2839430B2 publication Critical patent/JP2839430B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Thyristors (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

PURPOSE:To simplify a wiring structure, to integrate plural optical bistable element to a high density and to enable high-speed operation by shifting the light radiated from the optical bistable elements in a light emitting state via optical waveguide means to the other arbitrary optical bistable elements. CONSTITUTION:The plural optical bistable elements are disposed on one n-InP semiconductor substrate 100 and optical waveguide layer 101 consisting of n- InGaAsP is formed on this n-InP semiconductor subtrate 100. The optical waveguide layer 101 is commonly used as an emitter layer of the phototransistors of the respective optical bistable elements. The state of the optical bistable elements changes to the light emitting state in spite of incidence of light of a relatively low set power if the bias voltage to be applied to anode electrodes is increased. The state of the optical bistable elements, therefore, changes to the light emitting state when an extremely high bias voltage is applied to the optical bistable elements. Then, the light emitting state is shifted from the optical bistable elements in the light emitting state to the desired optical bistable elements.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は光信号をシフトさせるシ
フトレジスタに関し、特に、光双安定素子を有するシフ
トレジスタに関する。このようなシフトレジスタは、オ
プトエレクトロニクスの分野で用いられる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a shift register for shifting an optical signal, and more particularly to a shift register having an optical bistable element. Such shift registers are used in the field of optoelectronics.

【0002】[0002]

【従来の技術】各々が双安定な状態をとる複数の素子
(双安定素子)が配列した装置であって、ある素子の状
態が隣接する他の素子に順次転送される装置は、一般
に、シフトレジスタと呼ばれている。電気的に双安定な
状態をとる複数の素子として、フリップフロップ回路や
電荷結合装置(CCD)が知られている。
2. Description of the Related Art A device in which a plurality of elements each having a bistable state (bistable element) are arranged and the state of one element is sequentially transferred to another adjacent element is generally a shift device. It is called a register. A flip-flop circuit and a charge-coupled device (CCD) are known as a plurality of elements that are in an electrically bistable state.

【0003】光学的に双安定な複数の素子を有するシフ
トレジスタとして、数種類のシフトレジスタが提案され
ている。例えば、1990年電子情報通信学会春期全国
大会講演論文集4−23頁、電子情報通信学会技術研究
報告OQE89−141号、1990年応用物理学会学
術講演会秋期大会講演予講集786頁に報告されてい
る。
Several types of shift registers have been proposed as shift registers having a plurality of optically bistable elements. For example, it is reported in the Proceedings of the 1990 IEICE Spring National Convention, pp. 4-23, the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers Technical Report OQE89-141, and the 1990 Lecture Meeting of the Applied Physics Society, Autumn Meeting. ing.

【0004】図8は、従来の、光学的に双安定な複数の
素子を有するシフトレジスタを示している。このシフト
レジスタは、p−GaAs基板と、p−GaAs基板上
に配列された複数の発光サイリスタとを備えている。発
光サイリスタの各々は、p−GaAs基板上に順番に堆
積させられた第1のp−GaAs層(アノード層)、第
1のn−GaAs層、第2のp−GaAs層(ゲート
層)、及び第2のn−GaAs層(カソード層)を有し
ている。各発光サイリスタの第2のp−GaAs層に
は、ゲート電極が設けられている。各ゲート電極には、
抵抗ネットワークを介して、直流電源VGAから−5ボル
トの電圧が供給されている。各発光サリスタの第2のn
−GaAs層には、カソード電極が設けられている。カ
ソード電極には、それぞれ、3相のクロック電圧φ1、
φ2及びφ3が印加される。なお、p−GaAs基板は
接地され、それによって各発光サイリスタの第1のp−
GaAs層(アノード層)にゼロボルトの電圧が供給さ
れている。
FIG. 8 shows a conventional shift register having a plurality of optically bistable elements. This shift register includes a p-GaAs substrate and a plurality of light emitting thyristors arranged on the p-GaAs substrate. Each of the light emitting thyristors has a first p-GaAs layer (anode layer), a first n-GaAs layer, a second p-GaAs layer (gate layer), which are sequentially deposited on a p-GaAs substrate. And a second n-GaAs layer (cathode layer). A gate electrode is provided on the second p-GaAs layer of each light emitting thyristor. Each gate electrode has
A voltage of −5 V is supplied from the DC power supply V GA through the resistor network. The second n of each light emitting thyristor
A cathode electrode is provided on the -GaAs layer. Three-phase clock voltages φ1 and
φ2 and φ3 are applied. In addition, the p-GaAs substrate is grounded, whereby the first p-type of each light emitting thyristor is connected.
A voltage of zero volt is supplied to the GaAs layer (anode layer).

【0005】ある時刻に、第3の発光サリイスタのカソ
ード電極に印加されているクロック電圧φ3がロウレベ
ルからハイレベルに上昇すると、その発光サイリスタは
オン状態になり、発光を開始する。すると、ゲート電極
及び第2のp−GaAs層(ゲート層)の電位は、第1
のp−GaAs層(アノード層)の電位(ゼロボルト)
にほぼ等しくなる。このため、第3の発光サリイスタの
ゲート層とカソード層との間を、抵抗ネットワークを介
して、電流が流れる。この結果、オン状態にある第3の
発光サイリスタのゲート層の電位(約ゼロボルト)をピ
ークとして、階段状に分布する電位が各ゲート電極80
0に印加される。こうして、第3の発光サイリスタから
離れるにしたがって低下する電圧が、ゲート電極800
にそれぞれ供給される。具体的には、第4の発光サリイ
スタのゲート電極800には印加されている電圧は、第
1の発光サイリスタのゲート電極800に印加されてい
る電圧よりも高い。
When the clock voltage φ3 applied to the cathode electrode of the third light emitting thyristor rises from a low level to a high level at a certain time, the light emitting thyristor is turned on and light emission starts. Then, the potentials of the gate electrode and the second p-GaAs layer (gate layer) become the first potential.
P-GaAs layer (anode layer) potential (zero volt)
Is almost equal to. Therefore, a current flows between the gate layer and the cathode layer of the third light emitting thyristor via the resistance network. As a result, the potential distributed in a stepwise manner with the potential (about zero volt) of the gate layer of the third light-emitting thyristor in the on-state as a peak is at each gate electrode
Applied to zero. Thus, the voltage that decreases with distance from the third light emitting thyristor causes the gate electrode 800
Is supplied to each. Specifically, the voltage applied to the gate electrode 800 of the fourth light emitting thyristor is higher than the voltage applied to the gate electrode 800 of the first light emitting thyristor.

【0006】次のある時刻に、φ1がハイレベルになる
と、第1及び第4の発光サイリスタのカソード電極に高
い電圧が印加される。しかし、ゲート電極の電位が比較
的に高い第4の発光サリイスタのみがオン状態になり、
発光を開始する。ゲート電極の電位が比較的に低い第1
の発光サイリスタはオン状態にならない。
At a next time, when φ1 becomes high level, a high voltage is applied to the cathode electrodes of the first and fourth light emitting thyristors. However, only the fourth light emitting thyristor, in which the potential of the gate electrode is relatively high, is turned on,
Light emission starts. The first with a relatively low potential of the gate electrode
The light-emitting thyristor does not turn on.

【0007】この後、φ1をハイレベルからロウレベル
に変化させると、第3の発光サイリスタはオフ状態にな
り、発光を停止する。こうして、サイリスタの発光状態
が、第3の発光サイリスタから第4の発光サイリスタに
「シフト」する。
After that, when φ1 is changed from the high level to the low level, the third light emitting thyristor is turned off and the light emission is stopped. Thus, the light emitting state of the thyristor is "shifted" from the third light emitting thyristor to the fourth light emitting thyristor.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来のシフトレジスタにおいては、各発光サイリスタ毎
にゲート電極を設ける必要があり、また、複雑な抵抗ネ
ットワークを基板上に形成しなければならない。このよ
うに、発光サイリスタ以外の要素が基板上に占める領域
の面積が大きいため、多数の発光サイリスタを集積する
ことが困難である。
However, in the above-mentioned conventional shift register, it is necessary to provide a gate electrode for each light emitting thyristor, and a complicated resistor network must be formed on the substrate. As described above, it is difficult to integrate a large number of light emitting thyristors because the area occupied by the elements other than the light emitting thyristor on the substrate is large.

【0009】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、その目的とするところは、高集積化に
向いた、光双安定素子を有するシフトレジスタを提供す
ることにある。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a shift register having an optical bistable element, which is suitable for high integration.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明のシフトレジスタ
は、複数の第1電極と、少なくとも一つの第2電極と、
該複数の第1電極の各々に電圧を印加するための電圧印
加手段と、該複数の第1電極のそれぞれと、該少なくと
も一つの第2電極とに接続された複数の光双安定素子
と、該複数の光双安定素子を相互に光学的に結合する光
導波手段とを備えたシフトレジスタであって、該複数の
光双安定素子のそれぞれは、該複数の第1電極のうちの
対応する第1電極と該少なくとも一つの第2電極との間
において、直列に接続されたフォトトランジスタ及び発
光素子を有しており、該フォトトランジスタは、該対応
する第1電極と該少なくとも一つの第2電極との間に所
定の電圧が印加されているときに光を受けると、該第1
電極及び該第2電極との間を電気的非導通状態から電気
的導通状態に変化させ、それによって該発光素子に電流
を流し、該発光素子は、該発光素子に電流が流れると光
を放射し、それによって、該光の一部を該フォトトラン
ジスタに与える一方、該光の他の一部を該光導波手段を
介して他の光双安定素子のフォトトランジスタに与え、
そのことにより上記課題が解決される。
A shift register according to the present invention comprises a plurality of first electrodes and at least one second electrode.
Voltage applying means for applying a voltage to each of the plurality of first electrodes, a plurality of optical bistable elements connected to each of the plurality of first electrodes and the at least one second electrode, A shift register comprising optical waveguide means for optically coupling the plurality of optical bistable elements to each other, each of the plurality of optical bistable elements corresponding to one of the plurality of first electrodes. A phototransistor and a light emitting element connected in series are provided between a first electrode and the at least one second electrode, the phototransistor including the corresponding first electrode and the at least one second electrode. When light is received while a predetermined voltage is applied between the electrodes, the first
An electrical non-conduction state between the electrode and the second electrode is changed to an electrical conduction state, whereby a current is passed through the light emitting element, and the light emitting element emits light when a current flows through the light emitting element. Thereby providing a portion of the light to the phototransistor while providing a further portion of the light to the phototransistor of another optical bistable element via the optical waveguide means,
This solves the above problem.

【0011】一実施例では、前記フォトトランジスタ
は、エミッタ領域、ベース領域、及びコレクタ領域を有
するヘテロ接合フォトトランジスタであり、前記発光素
子は、該ヘテロ接合フォトトランジスタの該コレクタ領
域及び該エミッタ領域の何れか一方に接続された端子を
有するダイオードである。
In one embodiment, the phototransistor is a heterojunction phototransistor having an emitter region, a base region, and a collector region, and the light emitting device is a heterojunction phototransistor of the heterojunction phototransistor. It is a diode having a terminal connected to either one.

【0012】一実施例では、前記光導波手段は、前記発
光素子が放射する光を導波し得る半導体層を有してお
り、前記複数の光双安定素子は、該半導体層上に配列さ
れている。
In one embodiment, the optical waveguide means has a semiconductor layer capable of guiding the light emitted by the light emitting element, and the plurality of optical bistable elements are arranged on the semiconductor layer. ing.

【0013】一実施例では、前記半導体層は、半導体基
板上に形成されている。一実施例では、前記半導体層
は、裏面に反射膜が形成された半導体基板である。
In one embodiment, the semiconductor layer is formed on a semiconductor substrate. In one embodiment, the semiconductor layer is a semiconductor substrate having a reflective film formed on the back surface.

【0014】一実施例では、前記光導波手段は、前記発
光素子が放射する光を導波し得る半導体層を有してお
り、該半導体層は、前記複数のフォトトランジスタのエ
ミッタ領域を兼ねている。
In one embodiment, the light guiding means has a semiconductor layer capable of guiding the light emitted by the light emitting element, and the semiconductor layer also serves as the emitter regions of the plurality of phototransistors. There is.

【0015】一実施例では、前記光導波手段は、前記発
光素子が放射する光を導波し得る半導体層を有してお
り、該半導体層は、前記複数のフォトトランジスタのコ
レクタ領域を兼ねている。
In one embodiment, the light guiding means has a semiconductor layer capable of guiding the light emitted by the light emitting element, and the semiconductor layer also serves as a collector region of the plurality of phototransistors. There is.

【0016】一実施例では、前記半導体層は、前記発光
素子が放射する光のエネルギよりも大きなエネルギーギ
ャップを有している。
In one embodiment, the semiconductor layer has an energy gap larger than the energy of light emitted by the light emitting element.

【0017】[0017]

【作用】ヘテロ接合フォトトランジスタと発光ダイオー
ドの直列接続は、オンとオフの双安定状態を有する光双
安定素子であり、オン時には発光する。第1の光双安定
素子に入射光が入りオン状態になると、光は基板表面か
ら信号光として出ると同時に光導波層を伝ぱんし、隣接
する光双安定素子に入射する。光導波層のエネルギーギ
ャップを光双安定素子中の発光ダイオードのエネルギー
ギャップより大きく設定しているため光が伝ぱんするわ
けである。この時、3相クロックでバイアス電圧を第1
の光双安定素子の行または列方向のどちらか一方向進行
するようにに加えておけば、その進行方向に隣接する第
2の光双安定素子だけが伝ぱん光を受けオン状態にな
る。他の3個の隣接する光双安定素子は、バイアス電圧
が加えられていないのでオンにはならない。クロック電
圧の進行方向で第1の光双安定素子から2個離れた素子
は、電圧が加えられていないので第1の光双安定素子か
らの伝ぱん光によりオン状態にはならない。3個離れた
位置の素子はバイアス電圧が加えられているので、第1
の光双安定素子からの伝ぱん光を受け、オン状態に移行
可能であるが、これはバイアス電圧を制御することで回
避できる。このようにして、ある位置に入射された光情
報を任意の方向にシフトすることが可能なわけである。
クロック電圧を送る方向を行方向にするか列方向にする
かにより、光信号を転送する方向を変えることが出来
る。
The series connection of the heterojunction phototransistor and the light emitting diode is an optical bistable element having an on and off bistable state, and emits light when it is on. When the incident light enters the first optical bistable element and is turned on, the light exits from the surface of the substrate as signal light and at the same time propagates through the optical waveguide layer and enters the adjacent optical bistable element. Light propagates because the energy gap of the optical waveguide layer is set larger than the energy gap of the light emitting diode in the optical bistable element. At this time, the bias voltage is first set by the three-phase clock
If the optical bistable element is added so that it travels in either the row direction or the column direction, only the second optical bistable element adjacent in the traveling direction receives the propagating light and is turned on. The other three adjacent optical bistable elements do not turn on because no bias voltage is applied. An element separated from the first optical bistable element by two in the traveling direction of the clock voltage is not turned on due to the propagation of light from the first optical bistable element because no voltage is applied. Since the bias voltage is applied to the elements located at three positions,
Although it is possible to shift to the ON state by receiving the propagating light from the optical bistable element of, this can be avoided by controlling the bias voltage. In this way, the optical information incident on a certain position can be shifted in any direction.
The direction in which the optical signal is transferred can be changed depending on whether the clock voltage is sent in the row direction or the column direction.

【0018】[0018]

【実施例】以下に、本発明を実施例について説明する。EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples.

【0019】(実施例1)図1は、本発明によるシフト
レジスタの一実施例の断面図を示し、図2は、その等価
回路を示している。まず、図2を参照して、本実施例の
概略を説明する。
(Embodiment 1) FIG. 1 shows a sectional view of an embodiment of a shift register according to the present invention, and FIG. 2 shows an equivalent circuit thereof. First, the outline of the present embodiment will be described with reference to FIG.

【0020】このシフトレジスタは、図2から明らかな
ように、複数の第1電極(アノード電極)と、一つのカ
ソード電極(第2電極)とを有している。複数のアノー
ド電極の各々には、図2で図示していない電圧印加手段
により、所定のバイアス電圧(クロック電圧)が印加さ
れる。複数のアノード電極のそれぞれとカソード電極と
の間には、複数の光双安定素子が図2に示されるように
接続されている。
As is apparent from FIG. 2, this shift register has a plurality of first electrodes (anode electrodes) and one cathode electrode (second electrode). A predetermined bias voltage (clock voltage) is applied to each of the plurality of anode electrodes by a voltage applying unit not shown in FIG. A plurality of optical bistable elements are connected between each of the plurality of anode electrodes and the cathode electrode as shown in FIG.

【0021】各光双安定素子は、発光状態及び非発光状
態の何れかの状態をとり得る素子である。例えば、発光
状態は2値論理の「High」状態(論理「高」状態)
に、また、非発光状態は2値論理の「Low」状態(論
理「低」状態)に対応付けられ得る。これらの光双安定
素子は、図2で図示していない光導波層によって、相互
に光学的に結合されている。本発明によれば、光双安定
素子の「発光状態」が、所定の電圧が印加された他の光
双安定素子へ、光導波層を通じてシフトされる。すなわ
ち、発光状態にある光双安定素子から放射される光が、
光学的に、他のサイリスタに伝播する。この点で、本発
明によるシフトレジスタは、前述の従来技術と大きく異
なる。前記従来技術によれば、発光状態にある発光サイ
リスタから放射される光は、他の発光サイリスタに対し
て光学的な作用をなんら与えない。発光状態のシフト
は、電気的に実行される。
Each optical bistable element is an element that can be in either a light emitting state or a non-light emitting state. For example, the light emission state is a binary logic “High” state (logic “high” state).
Also, the non-emissive state may be associated with a binary logic "Low" state (logic "low" state). These optical bistable elements are optically coupled to each other by an optical waveguide layer not shown in FIG. According to the present invention, the "light emitting state" of the optical bistable element is shifted through the optical waveguide layer to another optical bistable element to which a predetermined voltage is applied. That is, the light emitted from the optical bistable element in the light emitting state is
Optically propagates to other thyristors. In this respect, the shift register according to the present invention is significantly different from the above-mentioned prior art. According to the above-mentioned conventional technique, the light emitted from the light emitting thyristor in the light emitting state has no optical effect on other light emitting thyristors. The shift of the light emitting state is performed electrically.

【0022】本実施例の使用する光双安定素子のそれぞ
れは、対応するアノード電極とカソード電極との間にお
いて、直列に接続された発光素子(図2において「ダイ
オード」の記号が与えられている)及びフォトトランジ
スタ(図2において「バイポーラトランジスタ」の記号
が与えられている)を有している。このフォトトランジ
スタは、アノード電極とカソード電極との間に所定値以
上の電圧が印加されているときに、所定量以上の光を外
部からベースに受けると、電気的非導通状態から電気的
導通状態に変化する。この所定値の電圧と所定値の光量
との関係は、図4に示されている。
Each of the optical bistable elements used in this example is provided with a light emitting element connected in series between the corresponding anode and cathode electrodes (indicated by the symbol "diode" in FIG. 2). ) And a phototransistor (given the symbol “bipolar transistor” in FIG. 2). This phototransistor changes from an electrically non-conducting state to an electrically conducting state when a base receives a light of a predetermined amount or more while a voltage of a predetermined value or more is applied between the anode electrode and the cathode electrode. Changes to. The relationship between the voltage of the predetermined value and the light amount of the predetermined value is shown in FIG.

【0023】このフォトトランジスタは、アノード電極
及びカソード電極との間を電気的非導通状態から電気的
導通状態に変化させ、それによって、フォトトランジス
タに直列に接続されている発光素子に電流を流す働きを
する。この発光素子は、電流エネルギを光エネルギに変
換する素子である。本実施例のシフトレジスタにおいて
は、発光ダイオード(LED)が用いられている。アノ
ード電極とカソード電極との間に所定の電圧が印加され
ているとき、光を受けたフォトトランジスタの働きによ
りアノード電極及びカソード電極との間を電流が流れる
と、対応する発光素子は光を放射する。
This phototransistor changes the state between the anode electrode and the cathode electrode from the electrically non-conducting state to the electrically conducting state, thereby causing a current to flow to the light emitting element connected in series to the phototransistor. do. This light emitting element is an element that converts current energy into light energy. A light emitting diode (LED) is used in the shift register of this embodiment. When a predetermined voltage is applied between the anode electrode and the cathode electrode, and a current flows between the anode electrode and the cathode electrode due to the action of the phototransistor that receives light, the corresponding light emitting element emits light. To do.

【0024】発光素子から放射された光の一部は、その
発光素子の属する光双安定素子のフォトトランジスタ
(ベース)に与えられる。アノード電極とカソード電極
との間に所定の電圧が印加されている限り、発光素子及
びフォトトランジスタを介して、アノード電極とカソー
ド電極との間を電流が流れるので、発光素子からは光が
放出され続ける。フォトトランジスタを電気的非導通状
態から電気的導通状態に変化させた外部光の照射が停止
しても、発光素子からの光がフォトトランジスタを導通
状態に維持し、発光素子から光が放射される状態が維持
される。こうして、アノード電極とカソード電極との間
に対する所定値以上の電圧印加が停止されるまで、光双
安定素子の光安定状態がつづく(正帰還による安定状態
の維持)。
A part of the light emitted from the light emitting element is given to the phototransistor (base) of the optical bistable element to which the light emitting element belongs. As long as a predetermined voltage is applied between the anode electrode and the cathode electrode, a current flows between the anode electrode and the cathode electrode through the light emitting element and the phototransistor, so that light is emitted from the light emitting element. to continue. Even when the external light that changes the phototransistor from the electrically non-conducting state to the electrically conducting state is stopped, the light from the light emitting element maintains the phototransistor in the conducting state and the light is emitted from the light emitting element. The state is maintained. In this way, the optical stable state of the optical bistable element continues (maintaining the stable state by positive feedback) until the application of a voltage equal to or higher than a predetermined value between the anode electrode and the cathode electrode is stopped.

【0025】発光素子から放射された光の他の一部は、
図2で図示していない光導波層を介して、他の複数の光
双安定素子のフォトトランジスタにも与えられ得る。特
定の発光素子から放射された光の強度は、光導波層を伝
播する間に減衰する。そのような強度の減衰した光を受
けた各フォトトランジスタは、もしそのフォトトランジ
スタを含む光双安定素子に充分大きな電圧が印加されて
いるならば、電気的非導通状態から電気的導通状態に変
化し得る。どの程度の強度の光入射によってフォトトラ
ンジスタが導通状態に変化するかは、図4のグラフに示
されている。複数のアノード電極の各々に印加する各電
圧の大きさを調節することにより、所望の光双安定素子
のフォトトランジスタを電気的非導通状態から電気的導
通状態に変化させることができる。この点で、本発明
は、前述の従来技術と大きく異なっている。
Another part of the light emitted from the light emitting element is
It can also be provided to the phototransistors of other optical bistable elements via an optical waveguiding layer not shown in FIG. The intensity of light emitted from a particular light emitting element is attenuated during its propagation through the optical waveguide layer. Each phototransistor receiving such attenuated light will change from an electrically non-conducting state to an electrically conducting state if a sufficiently large voltage is applied to the optical bistable element containing the phototransistor. You can The intensity of light incident on the phototransistor is shown in the graph of FIG. By adjusting the magnitude of each voltage applied to each of the plurality of anode electrodes, the phototransistor of the desired optical bistable element can be changed from the electrically non-conducting state to the electrically conducting state. In this respect, the present invention is significantly different from the above-mentioned prior art.

【0026】次に、図1を参照して、本実施例の構造を
詳細に説明する。図1に示されるように、本実施例のシ
フトレジスタにおいては、複数の光双安定素子が一つの
n−InP半導体基板100上に配されている。n−I
nP半導体基板100上には、n−InGaAsPから
なる光導波層(厚さ:1.5μm)101が形成されて
おり、光導波層101は、各光双安定素子のフォトトラ
ンジスタのエミッタ層を兼ねている。
Next, the structure of this embodiment will be described in detail with reference to FIG. As shown in FIG. 1, in the shift register of this embodiment, a plurality of optical bistable elements are arranged on one n-InP semiconductor substrate 100. n-I
An optical waveguide layer (thickness: 1.5 μm) 101 made of n-InGaAsP is formed on the nP semiconductor substrate 100, and the optical waveguide layer 101 also serves as the emitter layer of the phototransistor of each optical bistable element. ing.

【0027】各光双安定素子は、前述のようにフォトト
ランジスタと、発光ダイオードとを有している。本実施
例のフォトトランジスタは、エミッタ層(光導波層10
1)と、エミッタ層上のp−InGaAsPからなるベ
ース層(厚さ:0.3μm)102と、ベース層102
上のn−InPからなるコレクタ層(厚さ:0.6μ
m)103とを有するヘテロ接合フォトトランジスタで
ある。発光ダイオードは、コレクタ層103上のn−I
nPからなるn−クラッド層(厚さ:0.6μm)10
4と、n−クラッド層104上のInGaAsPからな
る活性層(厚さ:0.15μm)105と、活性層10
5上のp−InPからなるp−クラッド層(厚さ:0.
8μm)106と、p−クラッド層106上のp−In
GaAsPからなるキャップ層(厚さ:0.1μm)1
07とを有している。
Each optical bistable element has a phototransistor and a light emitting diode as described above. The phototransistor of the present embodiment has an emitter layer (optical waveguide layer 10
1), a base layer (thickness: 0.3 μm) 102 made of p-InGaAsP on the emitter layer, and a base layer 102.
N-InP collector layer (thickness: 0.6 μm
m) 103 and a heterojunction phototransistor. The light emitting diode has an n-I on the collector layer 103.
n-clad layer made of nP (thickness: 0.6 μm) 10
4, an active layer (thickness: 0.15 μm) 105 made of InGaAsP on the n-clad layer 104, and an active layer 10.
P-cladding layer made of p-InP on (5) (thickness: 0.
8 μm) 106 and p-In on the p-clad layer 106.
Cap layer made of GaAsP (thickness: 0.1 μm) 1
And 07.

【0028】このような構造は、例えば、次のようにし
て製造される。まず、n−InP半導体基板100上
に、MBE法、MOCVD法、またはLPE法等によっ
て、n−InGaAsPからなる光導波層101、p−
InGaAsPからなるベース層102と、n−InP
からなるコレクタ層103と、n−InPからなるn−
クラッド層104と、InGaAsPからなる活性層1
05と、p−InPからなるp−クラッド層106と、
p−InGaAsPからなるキャップ層107とを連続
的に成長させる。
Such a structure is manufactured, for example, as follows. First, on the n-InP semiconductor substrate 100, the optical waveguide layer 101 made of n-InGaAsP, p-, is formed by the MBE method, the MOCVD method, the LPE method, or the like.
A base layer 102 made of InGaAsP and n-InP
Collector layer 103 made of n-InP and n-
Clad layer 104 and active layer 1 made of InGaAsP
05, a p-clad layer 106 made of p-InP,
A cap layer 107 made of p-InGaAsP is continuously grown.

【0029】このあと、フォトリソグラフィ技術及びエ
ッチング技術を用いて、上記各層からなる積層構造の所
定部分を除去し、それによって、図1に示されるような
構造を得る。エッチングにより除去される部分(分離溝
108)の幅は、例えば、約40μmであり、除去され
ない部分(光双安定素子)の幅は、例えば、約20μm
である。この場合、各光双安定素子は、20μm×20
μmのサイズを有し、60μmピッチで配列される。
After that, a predetermined portion of the laminated structure composed of the above layers is removed by using the photolithography technique and the etching technique, whereby the structure as shown in FIG. 1 is obtained. The portion removed by etching (separation groove 108) has a width of, for example, about 40 μm, and the portion not removed (optical bistable element) has a width of, for example, about 20 μm.
Is. In this case, each optical bistable element is 20 μm × 20
It has a size of μm and is arranged at a pitch of 60 μm.

【0030】上記構造が形成された後、各キャップ層1
07上にアノード電極109を形成し、光導波層101
上に一つのカソード電極110を形成する。これらの電
極は109及び110は、好ましくは金属材料から形成
される。各光双安定素子及び電極109及び110等を
外気から保護するために、光導波層101及び光双安定
素子の表面は、ポリイミド111により覆われている。
また、アノード電極109は、それぞれ、クロックライ
ン112に接続され、クロックライン112を介して、
アノード電極109に例えば3相クロック信号が印加さ
れる。
After the above structure is formed, each cap layer 1
The anode electrode 109 is formed on the optical waveguide layer 101.
One cathode electrode 110 is formed on the top. These electrodes 109 and 110 are preferably formed from a metallic material. The surfaces of the optical waveguide layer 101 and the optical bistable element are covered with a polyimide 111 in order to protect each optical bistable element and the electrodes 109 and 110 from the outside air.
Further, the anode electrodes 109 are respectively connected to the clock line 112, and via the clock line 112,
A three-phase clock signal, for example, is applied to the anode electrode 109.

【0031】図1に示されるシフトレジスタでは、発光
素子から放射される光の波長は、発光ダイオードの活性
層105のエネルギバンドギャップにより決まる。本実
施例の活性層105はInGaAsPからなるため、放
射される光の波長は、約1.3μmである。また、本実
施例のヘテロ接合フォトトランジスタは、InGaAs
Pからなるベース層102を有するため、約1.3μm
の波長の光を効率良く吸収して、電気的非導通状態から
電気的導通状態に変化する。このため、発光ダイオード
から放射される光により、ヘテロ接合フォトトランジス
タの状態を、効率良く電気的導通状態に変化させること
ができる。発光ダイオードからの光によりヘテロ接合フ
ォトトランジスタを導通状態にするには、発光ダイオー
ドから放射される光をフォトトランジスタが効率的に吸
収し得るように、活性層105の材料とベース層102
の材料とが種々の半導体から選択される。活性層105
のエネルギバンドギャップは、ベース層102のエネル
ギバンドギャップに等しいか又は大きいことが好まし
い。本実施例では、活性層105及びベース層102
は、p−InGaAsPから形成されており、ともに同
一のエネルギバンドギャップを有している。
In the shift register shown in FIG. 1, the wavelength of light emitted from the light emitting element is determined by the energy band gap of the active layer 105 of the light emitting diode. Since the active layer 105 of this embodiment is made of InGaAsP, the wavelength of emitted light is about 1.3 μm. In addition, the heterojunction phototransistor of this embodiment is InGaAs
Since it has the base layer 102 made of P, about 1.3 μm
Efficiently absorbs light having a wavelength of, and changes from an electrically non-conducting state to an electrically conducting state. Therefore, the light emitted from the light emitting diode can efficiently change the state of the heterojunction phototransistor to the electrically conductive state. In order to make the heterojunction phototransistor conductive by the light from the light emitting diode, the material of the active layer 105 and the base layer 102 are arranged so that the phototransistor can efficiently absorb the light emitted from the light emitting diode.
Are selected from various semiconductors. Active layer 105
The energy bandgap of is preferably equal to or larger than the energy bandgap of the base layer 102. In this embodiment, the active layer 105 and the base layer 102
Are formed of p-InGaAsP, and both have the same energy band gap.

【0032】一方、光導波層101は、発光素子からの
光を吸収しにくい材料から形成されている。すなわち、
光導波層101のエネルギバンドギャップが、活性層1
05のエネルギバンドギャップより大きくなるように、
光導波層101及び活性層105の各材料が選択され
る。
On the other hand, the optical waveguide layer 101 is made of a material which hardly absorbs light from the light emitting element. That is,
The energy bandgap of the optical waveguide layer 101 is the active layer 1
To be larger than the energy band gap of 05,
Each material of the optical waveguide layer 101 and the active layer 105 is selected.

【0033】なお、図1に示されるシフトレジスタで
は、光導波層102がn−InP基板100上に形成さ
れている。このような構成の代わりに、基板自体を導波
層として利用する構成が採用されてもよい。そのような
構成では、基板上方の発光素子から放射された光を基板
裏面にて反射するための反射膜を、基板の裏面に設ける
ことが好ましい。反射膜としては、半導体レーザの端面
に設けられる高反射率膜が適している。
In the shift register shown in FIG. 1, the optical waveguide layer 102 is formed on the n-InP substrate 100. Instead of such a configuration, a configuration in which the substrate itself is used as a waveguide layer may be adopted. In such a configuration, it is preferable to provide a reflective film on the back surface of the substrate for reflecting the light emitted from the light emitting element above the substrate on the back surface of the substrate. As the reflection film, a high reflectance film provided on the end face of the semiconductor laser is suitable.

【0034】図3は、アノード電極109に印加される
電圧(クロック電圧)の波形を示している。クロック電
圧φ1が印加されている第1の光双安定素子に対して、
そのクロック電圧φ1が高レベル(例えば、1.1ボル
ト)のときに、外部から光信号が入力されると、第1の
光双安定素子は発光状態になる。外部からの光信号の入
力が停止しても、前述したように、発光状態は維持され
る。第1の光双安定素子から放射された光の一部は、光
導波層101を伝播する。光導波層101を伝播する光
の一部は、第1の光双安定素子に隣接する第2及び第3
の光双安定素子に入射する。このとき、第3の光双安定
素子に与えられているクロック電圧φ3は、低レベル
(例えば、0ボルト)であり、第2の光双安定素子に与
えられているクロック電圧φ2は、高レベル(例えば、
1.1ボルト)である。このため、第1の光双安定素子
から放射されている光によって、第2の光双安定素子は
発光状態に変化するが、第3の光双安定素子は非発光状
態のままである。この後、クロック電圧φ1は低レベル
になると、第1の光双安定素子は非発光状態に戻る。こ
うして、第1の光双安定素子の発光状態が、第2の光双
安定素子にシフトされる。
FIG. 3 shows the waveform of the voltage (clock voltage) applied to the anode electrode 109. For the first optical bistable element to which the clock voltage φ1 is applied,
When an optical signal is input from the outside when the clock voltage φ1 is at a high level (1.1 V, for example), the first optical bistable element is in a light emitting state. Even if the input of the optical signal from the outside is stopped, the light emitting state is maintained as described above. A part of the light emitted from the first optical bistable element propagates in the optical waveguide layer 101. A part of the light propagating through the optical waveguide layer 101 is generated by the second and third portions adjacent to the first optical bistable element.
Incident on the optical bistable element of. At this time, the clock voltage φ3 applied to the third optical bistable element is low level (for example, 0 volt), and the clock voltage φ2 applied to the second optical bistable element is high level. (For example,
1.1 volt). Therefore, the light emitted from the first optical bistable element causes the second optical bistable element to change to the light emitting state, while the third optical bistable element remains in the non-light emitting state. After that, when the clock voltage φ1 becomes low level, the first optical bistable element returns to the non-light emitting state. In this way, the light emission state of the first optical bistable element is shifted to the second optical bistable element.

【0035】第1の光双安定素子から2個以上離れた位
置にある光双安定素子のうち、クロック電圧φ1が印加
されてる光双安定素子には、第1の光双安定素子から放
射された光は、殆ど入射されない。これは、光導波層1
01を伝播する間に光が充分に減衰するため、そのよう
な光双安定素子のフォトトランジスタを導通状態に変化
させることができなくなるためである。光双安定素子の
フォトトランジスタを導通状態に変化させるために必要
な光エネルギ(セットパワー)は、アノード電極に印加
されるバイアス電圧(クロック電圧φj)に依存する。
図4からわかるように、バイアス電圧を大きくすると、
比較的に低いセットパワーの光が入射しても、光双安定
素子の状態は発光状態に変化する。発光している光双安
定素子から遠距離に位置する光双安定素子であっても、
その光双安定素子に極めて高いバイアス電圧を与える
と、その光双安定素子を発光状態に変化させることが可
能である。
Among the optical bistable elements located at two or more positions away from the first optical bistable element, the optical bistable element to which the clock voltage φ1 is applied is radiated from the first optical bistable element. Almost no incident light is incident. This is the optical waveguide layer 1
This is because the light is sufficiently attenuated while propagating through 01 so that the phototransistor of such an optical bistable element cannot be changed to the conductive state. The light energy (set power) required to change the phototransistor of the optical bistable element to the conductive state depends on the bias voltage (clock voltage φj) applied to the anode electrode.
As can be seen from FIG. 4, when the bias voltage is increased,
Even if light with a relatively low set power is incident, the state of the optical bistable element changes to a light emitting state. Even if the optical bistable element is located at a long distance from the optical bistable element that is emitting light,
When an extremely high bias voltage is applied to the optical bistable element, the optical bistable element can be changed to a light emitting state.

【0036】このように、バイアス電圧の大きさを制御
することにより、発光状態にある光双安定素子から所望
の光双安定素子に対して、発光状態をシフトさせること
ができる。このように、複数の光双安定素子がアレイ状
に配列した本実施例のシフトレジスタにおいては、任意
の光双安定素子から他の任意の光双安定素子へ光信号を
転送することができる。
In this way, by controlling the magnitude of the bias voltage, the light emitting state can be shifted from the light bistable element in the light emitting state to the desired light bistable element. In this way, in the shift register of this embodiment in which a plurality of optical bistable elements are arranged in an array, an optical signal can be transferred from any optical bistable element to any other optical bistable element.

【0037】なお、発光素子として通常のPN接合型発
光ダイオードを使用するとき、バイアス電圧は0.7ボ
ルト以上である必要がある。なぜならば、それ未満のバ
イアス電圧が印加されていると、たとえフォトトランジ
スタが導通状態になったとしても、発光素子が発光しな
いからである。このような場合、光双安定素子のゲイン
を1以上にして発光状態を安定に維持するためには、バ
イアス電圧は0.8ボルト以上であることが好ましい。
また、バイアス電圧がある値を越えて大きくなり過ぎる
と、外部から入射するわずかの漏れ光によっても誤って
発光状態に変化することがある。上記実施例の場合、バ
イアス電圧が1.5ボルト以下であれば、そのような問
題が回避される。上記実施例の場合、バイアス電圧は、
0.9ボルト以上1.1ボルト以下の範囲内にあること
が好適である。ただし、バイアス電圧の最適値は、発光
素子とフォトトランジスタとの間の光結合率等によって
変化するため、素子のサイズや加工方法に依存して変化
し得る。
When a normal PN junction type light emitting diode is used as the light emitting element, the bias voltage needs to be 0.7 V or higher. This is because when a bias voltage lower than that is applied, the light emitting element does not emit light even if the phototransistor is turned on. In such a case, the bias voltage is preferably 0.8 V or more in order to maintain the light emitting state stably by setting the gain of the optical bistable element to 1 or more.
Further, if the bias voltage exceeds a certain value and becomes too large, even a slight leakage of light incident from the outside may erroneously change the light emitting state. In the above embodiment, such a problem can be avoided if the bias voltage is 1.5 V or less. In the above embodiment, the bias voltage is
It is preferable that the voltage is in the range of 0.9 V or more and 1.1 V or less. However, since the optimum value of the bias voltage changes depending on the optical coupling ratio between the light emitting element and the phototransistor, it may change depending on the size of the element and the processing method.

【0038】光双安定素子を非導通状態から導通状態に
変化させるには、ある程度の時間以上、バイアス電圧を
アノードに印加する必要がある。印加するバイアス電圧
として、図3に示すようなクロック電圧を使用する場
合、そのクロック幅が2マイクロ秒以上であれば、隣接
する光双安定素子を確実に導通状態に変化させることが
できる。このため、本実施例によれば、信号の高速なシ
フトを実行することが可能となる。
In order to change the optical bistable element from the non-conducting state to the conducting state, it is necessary to apply a bias voltage to the anode for a certain time or longer. When the clock voltage as shown in FIG. 3 is used as the bias voltage to be applied, if the clock width is 2 microseconds or more, the adjacent optical bistable element can be surely changed to the conductive state. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to perform high-speed signal shift.

【0039】(実施例2)図5は、本発明による他のシ
フトレジスタを示している。この実施例のシフトレジス
タは、光双安定素子が2次元的に配列している。図5で
は、3×3=9個の光双安定素子が行及び列状に配列し
ている。図6は、このシフトレジスタの等価回路を示し
ている。図6において、第N行第M列に位置している光
双安定素子には、(N、M)の記号を付している。
(Embodiment 2) FIG. 5 shows another shift register according to the present invention. In the shift register of this embodiment, optical bistable elements are arranged two-dimensionally. In FIG. 5, 3 × 3 = 9 optical bistable elements are arranged in rows and columns. FIG. 6 shows an equivalent circuit of this shift register. In FIG. 6, the optical bistable element located at the Nth row and the Mth column is denoted by (N, M).

【0040】まず、図6を参照して、シフトレジスタの
構成を説明する。このシフトレジスタは、9個の第1電
極(アノード電極)と、3個のカソード電極(第2電
極)とを有している。第1のワードライン601aを介
して、光双安定素子(1、1)、(1、2)及び(1、
3)のアノード電極には、クロック電圧φ1が印加され
る。第2のワードライン601bを介して、光双安定素
子(2、1)、(2、2)及び(2、3)のアノード電
極には、クロック電圧φ2が印加される。第3のワード
ライン601cを介して光双安定素子(3、1)、
(3、2)及び(3、3)のアノード電極には、クロッ
ク電圧φ3が印加される。
First, the configuration of the shift register will be described with reference to FIG. This shift register has nine first electrodes (anode electrodes) and three cathode electrodes (second electrodes). Via the first word line 601a, the optical bistable elements (1, 1), (1, 2) and (1,
The clock voltage φ1 is applied to the anode electrode of 3). A clock voltage φ2 is applied to the anode electrodes of the optical bistable elements (2,1), (2,2) and (2,3) via the second word line 601b. The optical bistable element (3, 1) via the third word line 601c,
A clock voltage φ3 is applied to the anode electrodes of (3, 2) and (3, 3).

【0041】また、第1のビットライン602aを介し
て、光双安定素子(1、3)、(2、3)及び(3、
3)のカソード電極には、クロック電圧φ4が印加され
る。第2のビットライン602bを介して、光双安定素
子(1、2)、(2、2)及び(3、2)のカソード電
極には、クロック電圧φ5が印加される。第3のビット
ライン602cを介して光双安定素子(1、1)、
(2、1)及び(3、1)のカソード電極には、クロッ
ク電圧φ6が印加される。クロック電圧φ1、φ2、φ
3、φ4、φ5及びφ6は、図3に示されるような波形
を有している。
Also, via the first bit line 602a, the optical bistable elements (1, 3), (2, 3) and (3,
A clock voltage φ4 is applied to the cathode electrode of 3). A clock voltage φ5 is applied to the cathode electrodes of the optical bistable elements (1, 2), (2, 2) and (3, 2) via the second bit line 602b. An optical bistable element (1, 1) via a third bit line 602c,
A clock voltage φ6 is applied to the cathode electrodes of (2,1) and (3,1). Clock voltage φ1, φ2, φ
3, φ4, φ5 and φ6 have waveforms as shown in FIG.

【0042】本実施例によれば、ビットライン602と
ワードライン601へのクロック電圧の印加のタイミン
グとクロック電圧の値を調整することにより、光信号の
転送を2次元的に実行することができる。以下、このシ
フトレジスタの動作の一例を説明する。
According to this embodiment, by adjusting the timing of applying the clock voltage to the bit line 602 and the word line 601, and adjusting the value of the clock voltage, the optical signal transfer can be performed two-dimensionally. . An example of the operation of this shift register will be described below.

【0043】まず、クロック電圧φ1が高レベルにある
とき、光双安定素子(1、1)に対して外部から光信号
を入力する。すると光双安定素子(1、1)のフォトト
ランジスタは導通状態となり、そのフォトトランジスタ
に直列に接続されている発光素子は発光を開始する。そ
の発光素子から放射された光は光導波層に入射した後、
光導波層を伝播し、周囲の光双安定素子に入射する。図
3に示されるようなクロック電圧φ1、φ2及びφ3を
ワードライン601に印加しておくと、光双安定素子
(2、1)が導通状態に変化し、光を放射し始める。こ
の時点では、ビットライン602に対して電圧パルスは
印加しない。そのため、光信号は、列方向に転送され
る。
First, when the clock voltage φ1 is at a high level, an optical signal is externally input to the optical bistable element (1, 1). Then, the phototransistor of the optical bistable element (1, 1) becomes conductive, and the light emitting element connected in series to the phototransistor starts emitting light. After the light emitted from the light emitting element enters the optical waveguide layer,
The light propagates through the optical waveguide layer and is incident on the surrounding optical bistable element. When the clock voltages φ1, φ2 and φ3 as shown in FIG. 3 are applied to the word line 601, the optical bistable element (2, 1) changes to the conductive state and starts emitting light. At this point, no voltage pulse is applied to the bit line 602. Therefore, the optical signal is transferred in the column direction.

【0044】ビットライン602に対して負の電圧パル
スを印加すると、発光状態は、光双安定素子(1、2)
に転送される。このとき、ワードライン601には電圧
パルスは印加されていない。この場合、光信号は行方向
に転送される。
When a negative voltage pulse is applied to the bit line 602, the light emission state is changed to the optical bistable element (1, 2).
Transferred to. At this time, no voltage pulse is applied to the word line 601. In this case, the optical signal is transferred in the row direction.

【0045】なお、光双安定素子(1、1)に隣接する
光双安定素子以外の光双安定素子が発光しないように、
図4のグラフに示される関係を考慮して、印加電圧の値
を調整する。
It should be noted that the optical bistable elements other than the optical bistable element adjacent to the optical bistable element (1, 1) do not emit light.
The value of the applied voltage is adjusted in consideration of the relationship shown in the graph of FIG.

【0046】次に、図7を参照して、本実施例の構造を
詳細に説明する。図7は、図5のA−A’線断面図であ
る。
Next, the structure of this embodiment will be described in detail with reference to FIG. FIG. 7 is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG.

【0047】図7に示されるように、本実施例のシフト
レジスタにおいては、複数の光双安定素子が一つのn−
InP半導体基板700上に配されている。n−InP
半導体基板700上には、n−InGaAsPからなる
光導波層(厚さ:1.5μm)702が形成されてお
り、光導波層702は、各光双安定素子のフォトトラン
ジスタのエミッタ層を兼ねている。
As shown in FIG. 7, in the shift register of this embodiment, a plurality of optical bistable elements are integrated into one n-type.
It is arranged on the InP semiconductor substrate 700. n-InP
An optical waveguide layer (thickness: 1.5 μm) 702 made of n-InGaAsP is formed on the semiconductor substrate 700. The optical waveguide layer 702 also serves as the emitter layer of the phototransistor of each optical bistable element. There is.

【0048】各光双安定素子は、前述のようにフォトト
ランジスタと、発光ダイオードとを有している。本実施
例のフォトトランジスタは、エミッタ層(光導波層70
2)と、エミッタ層上のp−InGaAsPからなるベ
ース層(厚さ:0.3μm)703と、ベース層703
上のn−InPからなるコレクタ層(厚さ:0.6μ
m)704とを有するヘテロ接合フォトトランジスタで
ある。発光ダイオードは、コレクタ層704上のn−I
nPからなるn−クラッド層(厚さ:0.6μm)70
5と、n−クラッド層705上のInGaAsPからな
る活性層(厚さ:0.15μm)706と、活性層70
6上のp−InPからなるp−クラッド層(厚さ:0.
8μm)707と、p−クラッド層707上のp−In
GaAsPからなるキャップ層(厚さ:0.1μm)7
08とを有している。なお、光導波層702には格子状
の絶縁層701が設けられており、この絶縁層702は
各光双安定素子を相互に電気的に分離している。
Each optical bistable element has a phototransistor and a light emitting diode as described above. The phototransistor of this embodiment has an emitter layer (optical waveguide layer 70).
2), a base layer (thickness: 0.3 μm) 703 made of p-InGaAsP on the emitter layer, and a base layer 703.
N-InP collector layer (thickness: 0.6 μm
m) 704 and a heterojunction phototransistor. The light emitting diode has an n-I on the collector layer 704.
n-clad layer made of nP (thickness: 0.6 μm) 70
5, an active layer (thickness: 0.15 μm) 706 made of InGaAsP on the n-clad layer 705, and an active layer 70.
P-cladding layer made of p-InP (thickness: 0.
8 μm) 707 and p-In on the p-clad layer 707.
GaAsP cap layer (thickness: 0.1 μm) 7
08 and. The optical waveguide layer 702 is provided with a lattice-shaped insulating layer 701, and the insulating layer 702 electrically separates the optical bistable elements from each other.

【0049】本実施例は、例えば、最初の実施例を製造
する方法と同様の方法を用いて製造される。
This embodiment is manufactured, for example, using a method similar to the method of manufacturing the first embodiment.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明のシフトレジスタによれば、直列
に相互接続されたフォトトランジスタ及び発光素子を有
する複数の光双安定素子のうち、発光状態にある光双安
定素子から放射される光を、光導波手段を介して他の任
意の光双安定素子へシフトさせることができる。このた
め、従来技術に比べて配線構造が簡単化される。その結
果、複数の光双安定素子を1次元的または2次元的に高
密度に集積することができる。
According to the shift register of the present invention, light emitted from an optical bistable element in a light emitting state among a plurality of optical bistable elements having a phototransistor and a light emitting element interconnected in series is used. , Can be shifted to any other optical bistable element via the optical waveguide means. Therefore, the wiring structure is simplified as compared with the conventional technique. As a result, a plurality of optical bistable elements can be integrated one-dimensionally or two-dimensionally with high density.

【0051】また、本発明のシフトレジスタは、光双安
定素子の発光状態を短い電圧パルスにより転送すること
ができるため、高速度で動作することができる。また、
発光状態をある位置から他の任意の位置に容易にシフト
させることができる。このため、本発明は、シフトレジ
スタの新たな用途を生み出すものと期待される。
Further, since the shift register of the present invention can transfer the light emitting state of the optical bistable element by a short voltage pulse, it can operate at a high speed. Also,
It is possible to easily shift the light emitting state from one position to another arbitrary position. Therefore, the present invention is expected to create new uses for shift registers.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるシフトレジスタの断面図FIG. 1 is a sectional view of a shift register according to the present invention.

【図2】図1に示されるシフトレジスタの等価回路を示
す図
FIG. 2 is a diagram showing an equivalent circuit of the shift register shown in FIG.

【図3】図1に示されるシフトレジスタのアノード電極
に印加される電圧(クロック電圧)の波形を示す図
3 is a diagram showing a waveform of a voltage (clock voltage) applied to an anode electrode of the shift register shown in FIG.

【図4】セットパワーとバイアス電圧との関係を示す特
性図
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a relationship between set power and bias voltage.

【図5】本発明による他のシフトレジスタを示す図FIG. 5 is a diagram showing another shift register according to the present invention.

【図6】図5に示されるシフトレジスタの等価回路を示
す図
6 is a diagram showing an equivalent circuit of the shift register shown in FIG.

【図7】図5に示されるシフトレジスタの断面図7 is a cross-sectional view of the shift register shown in FIG.

【図8】従来技術を示す断面図FIG. 8 is a sectional view showing a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 n−InP半導体基板 101 n−InGaAsPからなる光導波層(エミッ
タ層) 102 p−InGaAsPからなるベース層 103 n−InPからなるコレクタ層 104 n−InPからなるn−クラッド層 105 InGaAsPからなる活性層 106 p−InPからなるp−クラッド層、 107 p−InGaAsPからなるキャップ層
100 n-InP semiconductor substrate 101 Optical waveguide layer (emitter layer) made of n-InGaAsP 102 Base layer made of p-InGaAsP 103 Collector layer made of n-InP 104 n-clad layer made of n-InP 105 Active made of InGaAsP Layer 106 p-clad layer made of p-InP, 107 cap layer made of p-InGaAsP

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 31/10 31/14 A 7210−4M 33/00 A 7514−4M H03K 3/42 8124−5J ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical indication location H01L 31/10 31/14 A 7210-4M 33/00 A 7514-4M H03K 3/42 8124-5J

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の第1電極と、 少なくとも一つの第2電極と、 該複数の第1電極の各々に電圧を印加するための電圧印
加手段と、 該複数の第1電極のそれぞれと、該少なくとも一つの第
2電極とに接続された複数の光双安定素子と、 該複数の光双安定素子を相互に光学的に結合する光導波
手段とを備えたシフトレジスタであって、 該複数の光双安定素子のそれぞれは、 該複数の第1電極のうちの対応する第1電極と該少なく
とも一つの第2電極との間において、直列に接続された
フォトトランジスタ及び発光素子を有しており、 該フォトトランジスタは、該対応する第1電極と該少な
くとも一つの第2電極との間に所定の電圧が印加されて
いるときに光を受けると、該第1電極及び該第2電極と
の間を電気的非導通状態から電気的導通状態に変化さ
せ、それによって該発光素子に電流を流し、 該発光素子は、該発光素子に電流が流れると光を放射
し、それによって、該光の一部を該フォトトランジスタ
に与える一方、該光の他の一部を該光導波手段を介して
他の光双安定素子のフォトトランジスタに与えるシフト
レジスタ。
1. A plurality of first electrodes, at least one second electrode, voltage applying means for applying a voltage to each of the plurality of first electrodes, and each of the plurality of first electrodes. A shift register comprising: a plurality of optical bistable elements connected to the at least one second electrode; and an optical waveguide means for optically coupling the plurality of optical bistable elements to each other. Each of the optical bistable elements comprises a phototransistor and a light emitting element connected in series between a corresponding first electrode of the plurality of first electrodes and the at least one second electrode. The phototransistor receives the light when a predetermined voltage is applied between the corresponding first electrode and the at least one second electrode, and the phototransistor receives the light from the first electrode and the second electrode. Between electrically non-conducting state and electrically conducting A state, thereby causing a current to flow through the light emitting element, which emits light when a current flows through the light emitting element, thereby providing a portion of the light to the phototransistor while A shift register for giving another part of light to a phototransistor of another optical bistable element via the optical waveguide means.
【請求項2】前記フォトトランジスタは、エミッタ領
域、ベース領域、及びコレクタ領域を有するヘテロ接合
フォトトランジスタであり、 前記発光素子は、該ヘテロ接合フォトトランジスタの該
コレクタ領域及び該エミッタ領域の何れか一方に接続さ
れた端子を有するダイオードである請求項1に記載のシ
フトレジスタ。
2. The phototransistor is a heterojunction phototransistor having an emitter region, a base region, and a collector region, and the light emitting device is one of the collector region and the emitter region of the heterojunction phototransistor. 2. The shift register according to claim 1, which is a diode having a terminal connected to.
【請求項3】前記光導波手段は、前記発光素子が放射す
る光を導波し得る半導体層を有しており、 前記複数の光双安定素子は、該半導体層上に配列されて
いる請求項1に記載のシフトレジスタ。
3. The light guiding means has a semiconductor layer capable of guiding light emitted by the light emitting element, and the plurality of optical bistable elements are arranged on the semiconductor layer. The shift register according to item 1.
【請求項4】前記半導体層は、半導体基板上に形成され
ている請求項3に記載のシフトレジスタ。
4. The shift register according to claim 3, wherein the semiconductor layer is formed on a semiconductor substrate.
【請求項5】前記半導体層は、裏面に反射膜が形成され
た半導体基板である請求項3に記載のシフトレジスタ。
5. The shift register according to claim 3, wherein the semiconductor layer is a semiconductor substrate having a reflective film formed on a back surface thereof.
【請求項6】前記光導波手段は、前記発光素子が放射す
る光を導波し得る半導体層を有しており、該半導体層
は、前記複数のフォトトランジスタのエミッタ領域を兼
ねている請求項2に記載のシフトレジスタ。
6. The light guiding means has a semiconductor layer capable of guiding light emitted from the light emitting element, and the semiconductor layer also serves as an emitter region of the plurality of phototransistors. 2. The shift register described in 2.
【請求項7】前記光導波手段は、前記発光素子が放射す
る光を導波し得る半導体層を有しており、該半導体層
は、前記複数のフォトトランジスタのコレクタ領域を兼
ねている請求項2に記載のシフトレジスタ。
7. The optical waveguide means has a semiconductor layer capable of guiding light emitted from the light emitting element, and the semiconductor layer also serves as a collector region of the plurality of phototransistors. 2. The shift register described in 2.
【請求項8】前記半導体層は、前記発光素子が放射する
光のエネルギよりも大きなエネルギギャップを有してい
る請求項6または7に記載のシフトレジスタ。
8. The shift register according to claim 6, wherein the semiconductor layer has an energy gap larger than the energy of light emitted by the light emitting element.
JP16530993A 1992-08-31 1993-07-05 Shift register with optical bistable element Expired - Fee Related JP2839430B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16530993A JP2839430B2 (en) 1992-08-31 1993-07-05 Shift register with optical bistable element

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4-230888 1992-08-31
JP23088892 1992-08-31
JP16530993A JP2839430B2 (en) 1992-08-31 1993-07-05 Shift register with optical bistable element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06123908A true JPH06123908A (en) 1994-05-06
JP2839430B2 JP2839430B2 (en) 1998-12-16

Family

ID=26490094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16530993A Expired - Fee Related JP2839430B2 (en) 1992-08-31 1993-07-05 Shift register with optical bistable element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2839430B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011054760A (en) * 2009-09-02 2011-03-17 Oki Data Corp Semiconductor composite device, method for manufacturing the same, optical print head, and image forming apparatus
CN109524524A (en) * 2018-11-23 2019-03-26 江苏新广联半导体有限公司 A kind of production method that the GaN zanjon for LED planarizes

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4883742A (en) * 1972-02-09 1973-11-08
JPS4896291A (en) * 1972-03-23 1973-12-08
JPS6245187A (en) * 1985-08-23 1987-02-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Image storage device
JPH01201631A (en) * 1988-02-08 1989-08-14 Fujitsu Ltd Optical shift register
JPH02210334A (en) * 1989-02-09 1990-08-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Photoelectron integrated circuit
JPH04240766A (en) * 1991-01-25 1992-08-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Photoelectronic memory device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4883742A (en) * 1972-02-09 1973-11-08
JPS4896291A (en) * 1972-03-23 1973-12-08
JPS6245187A (en) * 1985-08-23 1987-02-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Image storage device
JPH01201631A (en) * 1988-02-08 1989-08-14 Fujitsu Ltd Optical shift register
JPH02210334A (en) * 1989-02-09 1990-08-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Photoelectron integrated circuit
JPH04240766A (en) * 1991-01-25 1992-08-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Photoelectronic memory device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011054760A (en) * 2009-09-02 2011-03-17 Oki Data Corp Semiconductor composite device, method for manufacturing the same, optical print head, and image forming apparatus
CN109524524A (en) * 2018-11-23 2019-03-26 江苏新广联半导体有限公司 A kind of production method that the GaN zanjon for LED planarizes

Also Published As

Publication number Publication date
JP2839430B2 (en) 1998-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5132751A (en) Light-emitting diode array with projections
JP2577089B2 (en) Light emitting device and driving method thereof
KR940005454B1 (en) Compound semiconductor device
EP0288267B1 (en) An optical semiconductor device
US5665985A (en) Light-emitting diode of edge-emitting type, light-receiving device of lateral-surface-receiving type, and arrayed light source
JP2784011B2 (en) Self-scanning light emitting element array
JP2790631B2 (en) Self-scanning light emitting element array
US5677552A (en) Optical control circuit for an optical pnpn thyristor
JP2784010B2 (en) Self-scanning light emitting element array
US5789772A (en) Semi-insulating surface light emitting devices
JP2784052B2 (en) Self-scanning light emitting element array and driving method thereof
US6717182B1 (en) Edge-emitting light-emitting device having improved external luminous efficiency and self-scanning light-emitting device array comprising the same
US5321294A (en) Shift register having optically bistable elements coupled by an optical waveguide layer
US6128324A (en) High speed, spatially switching light
JP2839430B2 (en) Shift register with optical bistable element
JPH04317384A (en) Semiconductor light emitting device
US5200605A (en) Optically functional device with integral resistance layer
US6919583B2 (en) End surface light-emitting element having increased external light emission efficiency and self-scanning light-emitting element array using the same
KR20040093100A (en) A laser diode with a low absortion diode junction
US4733399A (en) Semiconductor laser device having integral optical output modulator
JPH05267715A (en) Semiconductor light-emitting device
US5021694A (en) Circuit for driving a gated p-n-p-n device
JPH0614574B2 (en) Semiconductor laser
EP0164604B1 (en) Integrated light emitting/receiving amplifier element
JPS6133275B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees