JPH0612243B2 - Coordinate measuring device - Google Patents

Coordinate measuring device

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JPH0612243B2
JPH0612243B2 JP31359588A JP31359588A JPH0612243B2 JP H0612243 B2 JPH0612243 B2 JP H0612243B2 JP 31359588 A JP31359588 A JP 31359588A JP 31359588 A JP31359588 A JP 31359588A JP H0612243 B2 JPH0612243 B2 JP H0612243B2
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JP
Japan
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laser
reflecting mirror
reflected
light
coordinate measuring
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充夫 後藤
吉久 谷村
俊郎 黒澤
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は座標測定装置に係り、特にレーザ干渉計を利用
した座標測定装置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a coordinate measuring device, and more particularly to a coordinate measuring device using a laser interferometer.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、レーザ干渉計はその精度を利用して長さ等をミ
クロン単位で測定できる測長器、変位測定システム等様
々な分野で導入され、利用されている。
Generally, a laser interferometer has been introduced and used in various fields such as a length measuring device and a displacement measuring system capable of measuring the length and the like in units of microns by utilizing its accuracy.

第6図は従来のレーザ干渉計の原理図である。第6図の
レーザ干渉計はレーザ光を出射するレーザ光源50、ビ
ームスプリッタ52、被測定物に設置される可動反射鏡
54、参照反射鏡56、可動反射鏡54と参照反射鏡5
6からの反射光とによって得られた干渉縞をカウントし
て可動反射鏡の移動量を表示する図示しない表示部とに
よって構成される。
FIG. 6 is a principle diagram of a conventional laser interferometer. The laser interferometer shown in FIG. 6 includes a laser light source 50 that emits a laser beam, a beam splitter 52, a movable reflecting mirror 54, a reference reflecting mirror 56, a movable reflecting mirror 54 and a reference reflecting mirror 5 that are installed on the object to be measured.
The display unit (not shown) that displays the moving amount of the movable reflecting mirror by counting the interference fringes obtained by the reflected light from 6

出射されたレーザ光58はビームスプリッタ52によっ
て光学的に分割され、反射光60と透過光62となる。
そして、透過光62は移動する可動反射鏡54によって
反射され再びビームスプリッタ52に送られる。
The emitted laser light 58 is optically split by the beam splitter 52 to be reflected light 60 and transmitted light 62.
Then, the transmitted light 62 is reflected by the moving movable reflecting mirror 54 and is sent to the beam splitter 52 again.

参照反射鏡56によって反射された反射光60は、ビー
ムスプリッタ52で、可動反射鏡54によって反射した
透過光62と重ね合わされ、干渉縞が形成される。干渉
縞はフォトダイオード等により電気信号に光電変換さ
れ、干渉縞の数をカウントし、表示部に可動反射鏡54
の移動量が表示される。
The reflected light 60 reflected by the reference reflecting mirror 56 is superposed by the beam splitter 52 on the transmitted light 62 reflected by the movable reflecting mirror 54 to form interference fringes. The interference fringes are photoelectrically converted into electric signals by a photodiode or the like, the number of interference fringes is counted, and the movable reflecting mirror 54 is displayed on the display unit.
The movement amount of is displayed.

また、被測定物に設置される可動反射鏡54として直角
3面プリズム、キャッツアイ、或いは第7図に示す直角
3面鏡64が使用されていた。
Further, a right-angled three-sided prism, a cat's eye, or a right-angled three-sided mirror 64 shown in FIG. 7 was used as the movable reflecting mirror 54 installed on the object to be measured.

2次元の座標測定装置においてレーザ干渉計を使用する
場合、定盤上の2つの基準点にそれぞれレーザ干渉計を
配設して各々のレーザ干渉計から出射するレーザ光を触
子に取付けられた可動反射鏡54で反射させ、それぞれ
の干渉計から被測定物までの距離を測定する。2台のレ
ーザ干渉計間の距離は予め決まっているため、これらの
データをもとに被測定物の座標が測定される。
When a laser interferometer is used in a two-dimensional coordinate measuring apparatus, laser interferometers are arranged at two reference points on a surface plate, and laser light emitted from each laser interferometer is attached to a tentacle. It is reflected by the movable reflecting mirror 54, and the distance from each interferometer to the object to be measured is measured. Since the distance between the two laser interferometers is predetermined, the coordinates of the object to be measured are measured based on these data.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、従来のレーザ干渉計を用いた座標測定装
置は参照反射鏡を必要とするため、機器全体が大型にな
り、スペース効率が悪化するという欠点がある。
However, the coordinate measuring apparatus using the conventional laser interferometer needs a reference reflecting mirror, and thus has a drawback that the entire apparatus becomes large and space efficiency deteriorates.

また、従来の直角3面鏡64のレーザ光照射可能範囲
(測定可能範囲)は第8図に示されるように直角3面鏡
64の方位を変化させない場合で、正面より±20゜〜±
25゜の範囲である。2次元座標測定装置の場合は2つの
基準点(3次元座標測定装置では3つ)が必要なため、
第9図に示すように2台のレーザ干渉計66の測定可能
範囲67、レーザ干渉計68の測定可能範囲69の重複
部分が測定可能範囲70となり、座標の測定範囲が非常
に狭いという問題がある。
Further, the laser light irradiation range (measurable range) of the conventional right-angled three-sided mirror 64 is ± 20 ° to ± from the front when the direction of the right-angled three-sided mirror 64 is not changed as shown in FIG.
It is in the range of 25 °. In the case of a two-dimensional coordinate measuring device, two reference points (three in a three-dimensional coordinate measuring device) are required,
As shown in FIG. 9, the overlapping portion of the measurable range 67 of the two laser interferometers 66 and the measurable range 69 of the laser interferometer 68 becomes the measurable range 70, which causes a problem that the coordinate measurement range is very narrow. is there.

また、前記の直角3面鏡10を使用した場合、誤差が低
減できない欠点がある。
Further, when the right-angled three-sided mirror 10 is used, there is a drawback that the error cannot be reduced.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、機器
全体が小型化されると共に座標測定可能範囲が広く、誤
差の少ない座標測定装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a coordinate measuring device that has a small size as a whole and has a wide coordinate measurable range and a small error.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、前記目的を達成する為に、レーザ光源より出
射されるレーザ光を第1の透過光とこれに直交する第1
の反射光とに分割する第1のビームスプリッタと、少な
くとも2連の直角3面鏡から成り触子又は測定テーブル
に取付けられた前記第1の透過光を反射させる反射鏡
と、前記反射鏡によって反射された第1の透過光が入射
し第1の透過光を第2の透過光とこれに直交する第2の
反射光とに分割する第2のビームスプリッタと、第1の
反射光と第2の反射光とが入射し、第1の反射光と第2
の反射光とを干渉させる第3のビームスプリッタと、干
渉縞をカウントし反射鏡の移動量を測定して表示する制
御部とからなることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a laser light emitted from a laser light source with a first transmitted light and a first transmitted light orthogonal to the first transmitted light.
A first beam splitter for splitting the first transmitted light into a reflected light and a reflecting mirror for reflecting the first transmitted light, which is attached to a contactor or a measurement table, the reflecting mirror being composed of at least two series of right-angled three-sided mirrors; A second beam splitter that receives the reflected first transmitted light and splits the first transmitted light into a second transmitted light and a second reflected light that is orthogonal to the second transmitted light; The second reflected light is incident, and the first reflected light and the second reflected light
It is characterized by comprising a third beam splitter for interfering with the reflected light of and the control unit for counting the interference fringes and measuring and displaying the moving amount of the reflecting mirror.

〔作用〕[Action]

本発明によれば、レーザ光を第1のビームスプリッタに
よって第1の透過光と第1の反射光とに分割し、第1の
透過光を触子または測定テーブルに取付けられた反射鏡
に照射して反射させ、この第1の反射光を第3のビーム
スプリッタに入射させるようにしている。
According to the present invention, the laser beam is split into the first transmitted light and the first reflected light by the first beam splitter, and the first transmitted light is applied to the reflecting mirror attached to the contactor or the measurement table. Then, the first reflected light is made incident on the third beam splitter.

また、可動反射鏡によって反射された第1の透過光を第
2のビームスプリッタへ入射させ、第2の透過光と第2
の反射光とに分割する。第2の反射光は第3のビームス
プリッタに入射し、第2の反射光と重ね合わされ干渉縞
を発生する。このように、参照鏡を使用しないため、光
学系の構造が簡単になると共に、レーザ干渉計の小型化
が可能である。
In addition, the first transmitted light reflected by the movable reflecting mirror is made incident on the second beam splitter, and the second transmitted light and the second transmitted light are reflected.
And the reflected light of. The second reflected light enters the third beam splitter and is superimposed on the second reflected light to generate interference fringes. As described above, since the reference mirror is not used, the structure of the optical system is simplified and the laser interferometer can be downsized.

更に、座標測定装置用の反射鏡は、少なくとも2連の直
角3面鏡からなる。このため、座標測定の際は別個の直
角3面鏡に、レーザ光を各干渉計から照射して、得られ
た干渉縞をカウントして距離を測定し、そのデータをも
とに座標を算出することができる。これにより、座標測
定可能範囲を拡大することができると共に、誤差の少な
い測定が可能である。
Further, the reflecting mirror for the coordinate measuring device is composed of at least two series of right-angled trihedral mirrors. Therefore, at the time of coordinate measurement, laser light is emitted from each interferometer to a separate right-angled three-sided mirror, the obtained interference fringes are counted, the distance is measured, and the coordinates are calculated based on the data. can do. As a result, the coordinate measurable range can be expanded, and measurement with less error is possible.

〔実施例〕〔Example〕

以下、添付図面に従って本発明に係る座標測定装置の好
ましい実施例を詳説する。
Hereinafter, preferred embodiments of a coordinate measuring apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明に係る座標測定装置の第1実施例を示す
斜視図である。第1図の3次元座標測定装置10の測定
部本体部分は各基準点に配設された3台のレーザ干渉計
12…と、定盤14、被測定物に接触することによって
形状、寸法等の測定を行うプローブ(触子)16、反射
鏡17、X軸、Y軸及びZ軸方向の移動機構19、2
1、23を主な構成としている。
FIG. 1 is a perspective view showing a first embodiment of the coordinate measuring device according to the present invention. The main body of the measuring unit of the three-dimensional coordinate measuring apparatus 10 shown in FIG. 1 has three laser interferometers 12, ... (Probe) 16 for performing measurement of the object, reflecting mirror 17, X-axis, Y-axis and Z-axis direction moving mechanisms 19, 2
1 and 23 are the main components.

第2図はレーザ干渉計12の原理図である。第2図に示
されるように、レーザ干渉計12はレーザ光18を発射
する図示しないレーザ光源、干渉縞を形成する第1のビ
ームスプリッタ20、第2のビームスプリッタ22、第
3のビームスプリッタ24からなる光学系と、干渉縞を
カウントする制御部26から構成されている。
FIG. 2 is a principle diagram of the laser interferometer 12. As shown in FIG. 2, the laser interferometer 12 includes a laser light source (not shown) that emits a laser beam 18, a first beam splitter 20, a second beam splitter 22, and a third beam splitter 24 that form interference fringes. It is composed of an optical system consisting of and a control unit 26 for counting interference fringes.

レーザ光18の光軸上にレーザ光18を第1の透過光2
8とこれに直交する第1の反射光30とに分割する第1
のビームスプリッタ20が配設される。第1の透過光2
8は被測定物の反射鏡17に照射され、また第1の反射
光30はその光軸上に配設された第3のビームスプリッ
タ24へ導かれる。
The laser light 18 is passed through the first transmitted light 2 on the optical axis of the laser light 18.
8 and a first reflected light 30 orthogonal to the first
The beam splitter 20 is provided. First transmitted light 2
8 is irradiated on the reflecting mirror 17 of the object to be measured, and the first reflected light 30 is guided to the third beam splitter 24 arranged on the optical axis thereof.

第1の透過光28は反射鏡17によって反射され、反射
透過光28Aとなり第1の透過光28と平行にもどる。
第2のビームスプリッタ22は反射光28Aの光軸上に
配設され、反射透過光28Aを第2の透過光28A′
と、これに直交する第3のビームスプリッタ24に入射
する第2の反射光28A″とに分割する。
The first transmitted light 28 is reflected by the reflecting mirror 17 and becomes reflected / transmitted light 28A, which is parallel to the first transmitted light 28.
The second beam splitter 22 is arranged on the optical axis of the reflected light 28A and converts the reflected transmitted light 28A into the second transmitted light 28A '.
And the second reflected light 28A ″ that is incident on the third beam splitter 24 orthogonal to this.

更に、反射透過光28Aの延長線上には被測定物の方位
を検出する2分割フオトダイードの位置検出器32が設
置され、干渉計12の方位を制御している。
Further, on the extension line of the reflected / transmitted light 28A, a position detector 32 of two-division photo diode for detecting the azimuth of the object to be measured is installed to control the azimuth of the interferometer 12.

そして、第1の反射光30と第2の反射光28A″は第
3のビームスプリッタ24で干渉し、制御部26によっ
て干渉縞の数がカウントされ、各干渉計12と被測定物
との距離が測定される。制御部26は得られた各次元の
データをもとに図示しないデータプロセツサ等により、
被測定物の座標を演算し表示する。
Then, the first reflected light 30 and the second reflected light 28A ″ interfere with each other at the third beam splitter 24, the number of interference fringes is counted by the controller 26, and the distance between each interferometer 12 and the DUT is measured. Based on the obtained data of each dimension, the control unit 26 uses a data processor (not shown),
Calculate and display the coordinates of the DUT.

前記のレーザ干渉計によれば、参照鏡を使用する必要が
ないので、レーザ干渉計の小型化を図ることができ、光
学系の構造を簡単にすることが可能である。
According to the laser interferometer described above, since it is not necessary to use the reference mirror, the laser interferometer can be downsized and the structure of the optical system can be simplified.

第3図は本発明に係る3次元座標測定装置10に使用さ
れる反射鏡17の斜視図である。第3図の反射鏡17は
L字面に形成された鏡34、36にL字面と直交する両
面鏡38、40を立設して2連の直角3面鏡を形成し、
この2連の直角3面鏡を一対として4個の集合直角3面
鏡を形成している。反射鏡17はプローブ16に配設さ
れ、プローブ16の動きに従って移動する。測定の際は
これらの直角3面鏡各々に各レーザ干渉計12から別個
にレーザ光を照射するため、測定可能範囲が拡大され
る。そして、定盤14上に置かれる図示しない被測定物
にプローブ16の先端を接触させながらプローブ16を
移動し、各測定点毎の座標データによって被測定物の形
状、寸法等を算出する。
FIG. 3 is a perspective view of the reflecting mirror 17 used in the three-dimensional coordinate measuring apparatus 10 according to the present invention. In the reflecting mirror 17 of FIG. 3, double-sided mirrors 38 and 40 orthogonal to the L-shaped surface are erected on the mirrors 34 and 36 formed on the L-shaped surface to form two right-angled three-sided mirrors.
The two sets of right-angled three-sided mirrors are paired to form four collective right-angled three-sided mirrors. The reflecting mirror 17 is arranged on the probe 16 and moves according to the movement of the probe 16. At the time of measurement, each of these right-angled three-sided mirrors is individually irradiated with laser light from each laser interferometer 12, so the measurable range is expanded. Then, the probe 16 is moved while bringing the tip of the probe 16 into contact with an object to be measured (not shown) placed on the surface plate 14, and the shape, dimensions, etc. of the object to be measured are calculated from the coordinate data at each measurement point.

第4図は本発明に係る座標測定装置の第2実施例を示す
斜視図である。第1図の3次元座標測定装置10との相
違点はプローブ42を固定型とした点である。支柱41
に固定されたプローブ42の下方に、X軸、Y軸、Z軸
方向への移動機構43、45、47を有する測定テーブ
ル44を配設し、この測定テーブル44上に被測定物を
載せるようにしている。このため、測定の際は固定され
たプローブ42を測定テーブル44上の被測定物に接触
させながら、被測定物を測定テーブル44と共に移動さ
せて各次元毎のデータを得る。これらのデータをもとに
被測定物の形状、寸法等を算出するのは第1実施例と同
様である。更に、第2実施例の特有の効果として、レー
ザ干渉計12から出射されるレーザ光は被測定物の形状
により遮断されることがないため、測定中はレーザ光に
注意を払う必要がなくなる。
FIG. 4 is a perspective view showing a second embodiment of the coordinate measuring device according to the present invention. The difference from the three-dimensional coordinate measuring apparatus 10 of FIG. 1 is that the probe 42 is fixed. Post 41
A measurement table 44 having moving mechanisms 43, 45, 47 in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions is arranged below the probe 42 fixed to the table 42, and an object to be measured is placed on the measurement table 44. I have to. Therefore, during measurement, the fixed probe 42 is brought into contact with the object to be measured on the measurement table 44, and the object to be measured is moved together with the measurement table 44 to obtain data for each dimension. The shape, size, etc. of the object to be measured are calculated based on these data as in the first embodiment. Further, as a peculiar effect of the second embodiment, since the laser light emitted from the laser interferometer 12 is not blocked by the shape of the object to be measured, it is not necessary to pay attention to the laser light during the measurement.

また、第5図は2次元座標測定装置に使用される反射鏡
46の斜視図で、L字面に形成された鏡48に直交する
両面鏡50を立設して2連の直角3面鏡を形成してい
る。2次元座標測定装置においては2台のレーザ干渉計
を使用して各レーザ干渉計より各々の直角3面鏡にレー
ザ光を照射するようにしている。これにより、照射可能
範囲が拡大されるのに伴い、被測定物に対する座標測定
可能範囲を拡げることができる。
Further, FIG. 5 is a perspective view of a reflecting mirror 46 used in a two-dimensional coordinate measuring apparatus, in which a double-sided mirror 50 orthogonal to a mirror 48 formed on an L-shaped surface is erected to form two right-angled three-sided mirrors. Is forming. In the two-dimensional coordinate measuring apparatus, two laser interferometers are used and each laser interferometer irradiates each right-angled three-sided mirror with laser light. As a result, the coordinate measurable range for the object to be measured can be expanded as the irradiation possible range is expanded.

尚、2次元座標測定装置においては反射鏡46を定盤上
に固定し、レーザ干渉計を移動テーブル、又はプローブ
に配設するようにしてもよい。
In the two-dimensional coordinate measuring apparatus, the reflecting mirror 46 may be fixed on the surface plate and the laser interferometer may be arranged on the moving table or the probe.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明に係る座標測定装置によれ
ば、参照反射鏡を用いないレーザ干渉計を使用している
ので、座標測定装置全体の小型化を図ることができ、ス
ペース効率は向上する。また、各レーザ干渉計から照射
されるレーザ光は、それぞれ別個の反射鏡によって反射
されるため、測定可能範囲が拡大されると共に、測定誤
差を低減することが可能である。
As described above, according to the coordinate measuring device of the present invention, since the laser interferometer that does not use the reference reflecting mirror is used, it is possible to reduce the size of the entire coordinate measuring device and improve the space efficiency. . Further, since the laser light emitted from each laser interferometer is reflected by a separate reflecting mirror, the measurable range can be expanded and the measurement error can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明に係る座標測定装置の第1実施例を示す
斜視図、第2図は本発明に係る座標測定装置に使用され
るレーザ干渉計の原理図、第3図は本発明に係る反射鏡
の斜視図、第4図は本発明に係る座標測定装置の第2実
施例を示す斜視図、第5図は本発明に係る反射鏡の斜視
図、第6図は従来のレーザ干渉計の原理図、第7図は従
来の反射鏡の斜視図、第8図及び第9図は従来の反射鏡
に関する説明図である。 10……3次元座標測定装置、12……レーザ干渉計、
14……定盤、16……プローブ、17……反射鏡、1
8……レーザ光、19……X軸移動機構、20……第1
のビームスプリッタ、21……Y軸移動機構、22……
第2のビームスプリッタ、23……Z軸移動機構、24
……第3のビームスプリッタ、26……制御部、28…
…第1の透過光、28A……反射光、28A′……第2
の透過光、28A″……第2の反射光、30……第1の
反射光、34、36、48……L字面鏡、38、40、
50……両面鏡、42……固定プローブ、43……X軸
移動機構、44……測定テーブル、45……Y軸移動機
構、46……2連直角3面鏡、47……Z軸移動機構。
FIG. 1 is a perspective view showing a first embodiment of a coordinate measuring apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a principle diagram of a laser interferometer used in the coordinate measuring apparatus according to the present invention, and FIG. FIG. 4 is a perspective view of the reflecting mirror, FIG. 4 is a perspective view showing a second embodiment of the coordinate measuring apparatus according to the present invention, FIG. 5 is a perspective view of the reflecting mirror according to the present invention, and FIG. 6 is a conventional laser interference. FIG. 7 is a perspective view of a conventional reflecting mirror, and FIGS. 8 and 9 are explanatory views of the conventional reflecting mirror. 10 ... Three-dimensional coordinate measuring device, 12 ... Laser interferometer,
14: surface plate, 16: probe, 17: reflector, 1
8 ... Laser light, 19 ... X-axis moving mechanism, 20 ... First
Beam splitter, 21 …… Y-axis moving mechanism, 22 ……
Second beam splitter, 23 ... Z-axis moving mechanism, 24
...... Third beam splitter, 26 ...... Control unit, 28 ...
... first transmitted light, 28A ... reflected light, 28A '... second
Transmitted light, 28A "... second reflected light, 30 ... first reflected light, 34, 36, 48 ... L-shaped mirror, 38, 40,
50 ... Double-sided mirror, 42 ... Fixed probe, 43 ... X-axis moving mechanism, 44 ... Measuring table, 45 ... Y-axis moving mechanism, 46 ... Double right-angled three-sided mirror, 47 ... Z-axis moving mechanism.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き 審査官 江藤 保子 (56)参考文献 特開 昭61−97504(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page Examiner Yasuko Eto (56) References JP-A-61-97504 (JP, A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】二次元平面上又は三次元空間を移動可能な
被測定物に配設され、それぞれ入射するレーザ光を該入
射方向と同方向に反射させる少なくとも2連の直角3面
鏡から成る可動反射体と、 それぞれ異なる位置に配設され前記可動反射体の移動量
をそれぞれ測定する2つ以上のレーザ干渉計であって、
前記可動反射体によって反射された反射光を入射してそ
の入射位置を検出する検出手段と、該検出手段の検出位
置に基づいて前記レーザ光の出射方向を制御する制御手
段とを有する2つ以上のレーザ干渉計と、 前記各レーザ干渉計の各測定値に基づいて前記被測定物
の二次元平面上又は三次元空間での座標位置を演算する
演算手段と、 からなることを特徴とする座標測定装置。
1. A at least two series of right-angled three-sided mirrors, which are arranged on an object to be measured, which is movable in a two-dimensional plane or in a three-dimensional space, and which respectively reflect incident laser light in the same direction as the incident direction. A movable interferometer, and two or more laser interferometers, which are arranged at different positions and respectively measure the amount of movement of the movable interposition,
Two or more having detection means for entering the reflected light reflected by the movable reflector and detecting the incident position thereof, and control means for controlling the emission direction of the laser light based on the detection position of the detection means Laser interferometer, and a calculation means for calculating the coordinate position of the measured object on a two-dimensional plane or in a three-dimensional space based on each measurement value of each laser interferometer, measuring device.
JP31359588A 1988-12-12 1988-12-12 Coordinate measuring device Expired - Lifetime JPH0612243B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31359588A JPH0612243B2 (en) 1988-12-12 1988-12-12 Coordinate measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31359588A JPH0612243B2 (en) 1988-12-12 1988-12-12 Coordinate measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02159504A JPH02159504A (en) 1990-06-19
JPH0612243B2 true JPH0612243B2 (en) 1994-02-16

Family

ID=18043208

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JP4540505B2 (en) * 2005-03-04 2010-09-08 パナソニック株式会社 3D shape measuring device

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