JPH06108240A - Sputtering source - Google Patents

Sputtering source

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Publication number
JPH06108240A
JPH06108240A JP26203192A JP26203192A JPH06108240A JP H06108240 A JPH06108240 A JP H06108240A JP 26203192 A JP26203192 A JP 26203192A JP 26203192 A JP26203192 A JP 26203192A JP H06108240 A JPH06108240 A JP H06108240A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
target
backing plate
shaped target
sputtering
Prior art date
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Pending
Application number
JP26203192A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kaname Watanabe
渡辺  要
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Engineering Works Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Engineering Works Co Ltd filed Critical Shibaura Engineering Works Co Ltd
Priority to JP26203192A priority Critical patent/JPH06108240A/en
Publication of JPH06108240A publication Critical patent/JPH06108240A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To constitute a plate-like target to be detachable by separating it into the part subjected to erosion and the outside peripheral part. CONSTITUTION:The part subjected to erosion of a plate-like target 3 is constituted of a support ring 27, and by fixing this support ring and a backing plate 4 by a mechanical mechanism, for instance, a screw 25, the plate-like target 3 installed in the support ring is allowed to adhere tightly to the backing plate 4. In such a way, the utilization efficiency of the plate-like target 3 is improved, and also, the cooling efficiency is raised.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、スパッタリング装置特
にプレーナ型マグネトロンスパッタリング装置に使用す
るスパッタリング源の改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of a sputtering source used in a sputtering apparatus, particularly a planar type magnetron sputtering apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】デジタル化した音声信号や画像情報を大
量に記憶する手段としてコンパクトディスク(以下CD
と略称する)が最近広く使われており、CDの機能につ
いて説明する。ポリカーボネイトなどのように透明な合
成樹脂基板(以下基板と記載する)表面には、「1」
「0」のデジタル情報に合わせてピットと称する小さな
凹凸を設け更に、この表面にスパッタリング法により高
光反射率のアルミニウム薄膜を形成後、この凹凸の有無
をレーザ光と比較するなどの方法で、記録情報を読みだ
すことができる。また、一枚の基板に薄膜を形成するの
には、スパッタリング法により比較的短時間で行われる
ことから、多数の基板に連続的に行うことができる装置
も利用する。
2. Description of the Related Art A compact disc (hereinafter referred to as a CD) is used as a means for storing a large amount of digitized audio signals and image information.
Has been widely used recently, and the function of the CD will be described. "1" is placed on the surface of a transparent synthetic resin substrate (hereinafter referred to as substrate) such as polycarbonate.
A small unevenness called a pit is provided according to the digital information of "0", and an aluminum thin film having a high light reflectance is formed on the surface by a sputtering method, and then the presence or absence of this unevenness is compared with a laser beam for recording. Can read information. Further, since a thin film is formed on one substrate by a sputtering method in a relatively short time, an apparatus which can be continuously formed on a large number of substrates is also used.

【0003】このスパッタリング装置として利用するプ
レーナ型マグネトロンスパッタリング装置では、減圧機
構を備え更に放電に必要なガスを導入可能としかつ、気
密な成膜室1を設けてある。成膜室1には、スパッタリ
ング工程に必要な部品を設置するが、図1に示すように
金属、セラミックス及びプラスチックなどから成る基板
2に対向してスパッタ源3を成膜室1内に配置する。ス
パッタ源3を構成する板状ターゲット3は、冷却可能な
バッキングプレート4に固定し、その裏側に配置する磁
界装置5から発生する磁力線により高効率のスパッタリ
ングを行う。
In the planar magnetron sputtering apparatus used as this sputtering apparatus, a depressurizing mechanism is provided, and a gas required for discharge can be introduced, and an airtight film forming chamber 1 is provided. Parts necessary for the sputtering process are installed in the film forming chamber 1. As shown in FIG. 1, the sputtering source 3 is arranged in the film forming chamber 1 so as to face the substrate 2 made of metal, ceramics, plastic, or the like. . The plate-shaped target 3 constituting the sputtering source 3 is fixed to a backing plate 4 which can be cooled, and highly efficient sputtering is performed by magnetic lines of force generated from a magnetic field device 5 arranged on the back side thereof.

【0004】このために磁界装置5は、内側磁石5a
びこれを囲む外側磁石5b を並列状に設置してリング状
の磁場を発生する。一方、板状ターゲット3の周囲に
は、環状アノード6を多少距離をおいて配置して両者間
に直流または高周波電力を供給するので、磁場により拘
束された放電が発生する。
[0004] magnetic field device 5 for this purpose, generates a ring-shaped magnetic field is placed inside the magnet 5 a and the outer magnet 5 b surrounding it in parallel form. On the other hand, since the ring-shaped anode 6 is arranged around the plate-shaped target 3 with a slight distance and DC or high-frequency power is supplied between the two, a discharge confined by the magnetic field is generated.

【0005】この放電は、ガス導入口7から供給するア
ルゴンガスなどの不活性雰囲気のもとでスパッタリング
を行う。この時、排気管22から放出ガスと余分な不活
性ガスを排気する。
In this discharge, sputtering is performed in an inert atmosphere such as argon gas supplied from the gas inlet 7. At this time, the exhaust gas and the excess inert gas are exhausted from the exhaust pipe 22.

【0006】図1に示すプレーナ型マグネトロンスパッ
タリング装置は、連続的な処理を可能にする搬送機構を
備えており、図2に搬送機構の構成図を示す。即ち、ベ
ルトコンベアなどの外部搬送機構9により次々に搬送さ
れる基板2は、軸中心に回転し更に、上下方向に移動可
能なハンドリング機構10に取付けた吸着パッド11に
吸着後図1に示すスパッタリング装置内部12に搬送す
る。
The planar type magnetron sputtering apparatus shown in FIG. 1 is equipped with a transfer mechanism that enables continuous processing, and FIG. 2 shows a configuration diagram of the transfer mechanism. That is, the substrates 2 successively transported by the external transport mechanism 9 such as a belt conveyor rotate around the axis and are further attracted to the adsorption pad 11 attached to the handling mechanism 10 which is vertically movable. It is conveyed to the inside 12 of the apparatus.

【0007】スパッタリング装置内部12では、ハンド
リング機構10と同じく軸中心に回転すると共に上下方
向に移動可能な搬送テーブル13に乗せてから、図1に
示すスパッタリング装置により所定の工程を施す。即
ち、搬送テーブル13によって成膜室1下部に運ばれた
基板2は、プッシャー14により押上げる。基板2の中
央部分と外周部分を残して薄膜を堆積するために成膜室
1の下部には、その一部を構成するようにマスク15を
設けており、プッシャー14の稼働によりマスク15端
面に基板2を密着する。
In the inside 12 of the sputtering apparatus, the same as the handling mechanism 10 is rotated around the axis and is placed on the transport table 13 which is vertically movable, and then a predetermined step is performed by the sputtering apparatus shown in FIG. That is, the substrate 2 carried to the lower part of the film forming chamber 1 by the carrying table 13 is pushed up by the pusher 14. A mask 15 is provided in the lower part of the film forming chamber 1 so as to form a part thereof for depositing a thin film while leaving the central part and the outer peripheral part of the substrate 2, and the end face of the mask 15 is operated by the operation of the pusher 14. The substrate 2 is closely attached.

【0008】また、成膜室1即ちスパッタリング領域
は、内接した防着シールド16a 、16b とマスク15
ならびにターゲット3が配置され、ターゲット3は、バ
ッキングプレート4に密着して固定する。バッキングプ
レート4内部には、空洞に給水管内を配置し、ここを流
れる冷媒により前記温度に冷却する冷却機構を併設する
ことにより、ターゲット3表面に投入される50W/c
2 程度の放電電力により生ずる相当な熱を冷却する。
これによりターゲット3表面を約100℃に抑えること
ができるので、ターゲット3とバッキングプレート4間
に、板状ターゲット3の変形による隙間の形成を防止す
るのに役立てる。空洞に給水管内を配置し、ここを流れ
る冷媒により前記温度に冷却する。
[0008] The film formation chamber 1 or sputtering region, deposition shield 16 a, 16 b and the mask 15 inscribed
And the target 3 is arrange | positioned, and the target 3 adheres tightly to the backing plate 4 and fixes it. Inside the backing plate 4, the inside of the water supply pipe is arranged in a cavity, and a cooling mechanism for cooling the temperature to the above temperature by the cooling medium flowing therethrough is provided side by side, so that 50 W / c to be injected onto the surface of the target 3
Cool a considerable amount of heat generated by a discharge power of about m 2 .
As a result, the surface of the target 3 can be suppressed to about 100 ° C., which helps prevent the formation of a gap between the target 3 and the backing plate 4 due to the deformation of the plate-shaped target 3. The inside of the water supply pipe is arranged in the cavity, and is cooled to the above temperature by the refrigerant flowing therein.

【0009】ターゲット3とバッキングプレート4の固
定は、機械的手段例えばねじ17を成膜室1側から挿入
して行う。
The target 3 and the backing plate 4 are fixed by a mechanical means such as a screw 17 inserted from the film forming chamber 1 side.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】以上のように板状ター
ゲット3とバッキングプレート4の固定に際しては、前
記のように機械的に固定する手法の外に、半田などによ
る固着手段を採って、板状ターゲット3の冷却効率を高
める方式が採用されている。従って板状ターゲット3の
外周部分に機械的固定方法を用いる場合は、板状タ−ゲ
ットの中心や外周り部などのエロ−ジョンされない部分
にボルトなどを設置するのが一般的である。
As described above, when the plate-shaped target 3 and the backing plate 4 are fixed, in addition to the mechanical fixing method as described above, a fixing means such as solder is adopted to obtain a plate. A method of increasing the cooling efficiency of the target 3 is adopted. Therefore, when a mechanical fixing method is used for the outer peripheral portion of the plate-shaped target 3, it is common to install bolts or the like at the center of the plate-shaped target, the outer peripheral portion, and other non-eroded portions.

【0011】本発明は、このような事情により成された
もので、新規なスパッタリング源を提供することを目的
とする。
The present invention has been made under such circumstances, and an object thereof is to provide a novel sputtering source.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】冷却可能なバッキングプ
レートと,このバッキングプレートに密着して配置する
板状ターゲットと,この板状ターゲット周囲に位置し板
状ターゲットを前記バッキングプレートに機械的に固定
するサポ−トリングとを具備し,前記板状ターゲットを
前記サポ−トリングを介して間接的に前記バッキングプ
レートに密着する点に本発明に係わるスパッタリング源
の特徴がある。
[Means for Solving the Problems] A backing plate that can be cooled, a plate-shaped target that is placed in close contact with the backing plate, and a plate-shaped target that is located around the plate-shaped target and is mechanically fixed to the backing plate. The sputtering source according to the present invention is characterized in that the plate-shaped target is indirectly attached to the backing plate through the support ring.

【0013】[0013]

【作用】本発明に係わるスパッタリング源では、エロ−
ジョンされる部分と外周部分を切り離す手法を採用す
る。即ち板状ターゲットの外周部分に相当する位置にタ
ーゲットサポートリングを設置しかつ、ここに例えばね
じなどのような機械的に固定する機構を設けることによ
りバッキングプレートと板状ターゲットの密着を確保す
ると共に、板状ターゲットの利用効率を向上する。
The function of the sputtering source according to the present invention is
A method of separating the part to be sewn from the outer peripheral part is adopted. That is, the target support ring is installed at a position corresponding to the outer peripheral portion of the plate-shaped target, and a mechanical fixing mechanism such as a screw is provided here to ensure close contact between the backing plate and the plate-shaped target. , Improve the utilization efficiency of the plate-shaped target.

【0014】[0014]

【実施例】本発明に係わる一実施例を図3乃至図5を参
照して説明する。図3は、本発明のスパッタリング源を
備えたプレーナ型マグネトロンスパッタリング装置の概
略を示す断面図,図4がターゲットとターゲットサポー
トリングを拡大した断面図であり、図5にターゲットと
バッキングプレ−トの他の固定方法を示し、これらの図
の番号は従来の技術欄で使用したものを引継ぐ。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment according to the present invention will be described with reference to FIGS. 3 is a sectional view showing an outline of a planar type magnetron sputtering apparatus equipped with a sputtering source of the present invention, FIG. 4 is an enlarged sectional view of a target and a target support ring, and FIG. 5 is a sectional view of the target and the backing plate. Other fixing methods are shown, and the numbers in these figures carry over those used in the prior art section.

【0015】図3にあるようにスパッタリングに必要な
磁界装置5、板状ターゲット3及び基板2を設置する外
に、連続的な処理を可能にするために従来の技術として
図1に明らかにする搬送装置を設置するが、重複を避け
るために説明を省略する。最重要な成膜室1は、板状タ
ーゲット3とこれに対向して被処理物例えばポリカーボ
ネイトから成る基板2を配置し、更に板状ターゲット3
を囲んでアノードを兼ねる防着シールド16及びマスク
15などで構成する。
In addition to installing the magnetic field device 5, the plate-shaped target 3 and the substrate 2 required for sputtering as shown in FIG. 3, it is clarified in FIG. 1 as a prior art to enable continuous processing. A carrier device is installed, but the description is omitted to avoid duplication. The most important film forming chamber 1 is a plate-shaped target 3 and a substrate 2 made of polycarbonate, which is opposed to the plate-shaped target 3.
It is constituted by an adhesion preventive shield 16 also serving as an anode, a mask 15, and the like.

【0016】約50W/cm2 の放電電力が投入される
板状ターゲット3には、バッキングプレート4を重ねた
状態で取付けると共に、内部に設ける空洞(図示せず)
を設けて給水管8に連結する。これにより冷却水を循環
させて、板状ターゲット3の表面温度を約100℃に維
持する。
A backing plate 4 is mounted on the plate-shaped target 3 to which a discharge power of about 50 W / cm 2 is applied, and a cavity (not shown) is provided inside the plate-shaped target 3.
Is provided and connected to the water supply pipe 8. Thereby, the cooling water is circulated to maintain the surface temperature of the plate-shaped target 3 at about 100 ° C.

【0017】これにより板状ターゲット3の変形を防止
したり、バッキングプレート4との間に隙間が形成され
るのを防止できる。両者の固定に関しては、図7により
後述する。
As a result, it is possible to prevent the plate-shaped target 3 from being deformed and prevent a gap from being formed between the plate-shaped target 3 and the backing plate 4. The fixing of both will be described later with reference to FIG. 7.

【0018】スパッタリング工程に必要なアルコンガス
は、導入部7より供給後、スパッタ電力を供給してアル
ゴンガスイオンがターゲット表面を衝突してターゲット
材料例えばAlをスパッタリングして、基板2にAlが
堆積する。このようなスパッタリング工程により生じる
ガスなどを排気するには、外周マスク15b に設置する
排気口24を利用する。
The Alcon gas necessary for the sputtering process is supplied from the introduction unit 7, and then sputtering power is supplied to cause argon gas ions to collide with the target surface to sputter the target material, for example, Al, and Al is deposited on the substrate 2. To do. To exhaust gas and the like generated by such a sputtering process, the exhaust port 24 provided in the outer peripheral mask 15b is used.

【0019】本発明に係わるスパッタリング源を構成す
る板状ターゲット3とバッキングプレート4の固定は、
図4に明らかなようにバッキングプレート4にサポート
リング27を機械的機構例えばネジ25により行って、
サポートリング27内に配置する板状ターゲット3も固
定するものである。また、板状ターゲット3とサポート
リング27の境界面である側面には、不連続部分26が
できる。板状ターゲット3の寸法は、外径が160mm
〜180mm厚さ約20mmであり、サポートリング2
4は、外径232mm程度内径160mm〜180mm
位であり、厚さがほぼ10mmである。
The plate-shaped target 3 and the backing plate 4 which constitute the sputtering source according to the present invention are fixed by
As is apparent from FIG. 4, the support ring 27 is attached to the backing plate 4 by a mechanical mechanism such as a screw 25,
The plate-shaped target 3 arranged in the support ring 27 is also fixed. Further, a discontinuous portion 26 is formed on the side surface which is the boundary surface between the plate-shaped target 3 and the support ring 27. The outer diameter of the plate target 3 is 160 mm.
~ 180mm thickness about 20mm, support ring 2
4 has an outer diameter of about 232 mm and an inner diameter of 160 mm to 180 mm
And the thickness is approximately 10 mm.

【0020】図5には、板状ターゲット3とバッキング
プレート4の他の固定例を明らかにした。例えば両者端
をクランプ28を利用する方法もある。その外側に輪を
嵌めて熱膨張を利用して固定するか、ねじなどをここに
設置するなどの手段が利用できる。またサポ−トリング
27とクランプ28を一体化することも可能である。
FIG. 5 clarifies another example of fixing the plate-shaped target 3 and the backing plate 4. For example, there is a method of using the clamp 28 at both ends. It is possible to use means such as fitting a ring on the outer side and fixing it by utilizing thermal expansion, or installing a screw or the like here. It is also possible to integrate the support ring 27 and the clamp 28.

【0021】[0021]

【発明の効果】このように、バッキングプレート4と板
状ターゲット3間に半田などがない本発明に係わるスパ
ッタリング源では、板状ターゲット3の交換が極めて手
軽にできる外に、利用効率が向上する。更に,両者の側
部に不連続部が存在するために、夫々に生ずる応力を分
断する機能を果すことにより平均的に密着力が得られる
ために、密着面積が大きく取れるので冷却効率をあげる
ことができる。
As described above, in the sputtering source according to the present invention in which there is no solder or the like between the backing plate 4 and the plate-shaped target 3, the plate-shaped target 3 can be replaced very easily and the utilization efficiency is improved. . Furthermore, since there is a discontinuous portion on both sides, since the adhesive force is obtained on average by performing the function of dividing the stress that occurs in each side, a large contact area can be taken, so cooling efficiency should be increased. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】従来のスパッタリング装置の要部を示す断面図
である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a main part of a conventional sputtering device.

【図2】図1における搬送機構の一部を示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view showing a part of the transport mechanism in FIG.

【図3】本発明に係わるスパッタリング源を適用するス
パッタリング装置の要部を示す断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a main part of a sputtering apparatus to which a sputtering source according to the present invention is applied.

【図4】図3のスパッタリング装置の板状ターゲットと
バッキングプレートの固定状態を示す断面図である。
4 is a sectional view showing a fixed state of a plate-shaped target and a backing plate of the sputtering apparatus of FIG.

【図5】図3のスパッタリング装置の板状ターゲットと
バッキングプレートの他の固定状態を示す断面図であ
る。
5 is a cross-sectional view showing another fixed state of the plate-shaped target and the backing plate of the sputtering apparatus of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:成膜室、 2:基板、 3:板状ターゲット、 4:バッキングプレート、 5:磁界装置、 6:アノード、 27:サポートリング、 25:ねじ、 26:不連続部、 28:クランプ。 1: film forming chamber, 2: substrate, 3: plate-shaped target, 4: backing plate, 5: magnetic field device, 6: anode, 27: support ring, 25: screw, 26: discontinuous portion, 28: clamp.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 冷却可能なバッキングプレートと,この
バッキングプレートに密着して配置する板状ターゲット
と,この板状ターゲット周囲に位置し板状ターゲットを
前記バッキングプレートに機械的に固定するサポ−トリ
ングとを具備し,前記板状ターゲットを前記サポ−トリ
ングを介して間接的に前記バッキングプレートに密着す
ることを特徴とする特徴とするスパッタリング源
1. A coolable backing plate, a plate-like target placed in close contact with the backing plate, and a support ring located around the plate-like target and mechanically fixing the plate-like target to the backing plate. The sputtering source, characterized in that the plate-shaped target is indirectly attached to the backing plate through the support ring.
JP26203192A 1992-09-30 1992-09-30 Sputtering source Pending JPH06108240A (en)

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JP2013129871A (en) * 2011-12-21 2013-07-04 Sumitomo Metal Mining Co Ltd Magnetron sputtering cathode and sputtering apparatus equipped with the same

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