JPH0584846U - Temperature test device - Google Patents

Temperature test device

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Publication number
JPH0584846U
JPH0584846U JP3348192U JP3348192U JPH0584846U JP H0584846 U JPH0584846 U JP H0584846U JP 3348192 U JP3348192 U JP 3348192U JP 3348192 U JP3348192 U JP 3348192U JP H0584846 U JPH0584846 U JP H0584846U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
temperature
test
heat insulating
test device
Prior art date
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Pending
Application number
JP3348192U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
桜田興宣
萩原信博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Graphtec Corp
Original Assignee
Graphtec Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Graphtec Corp filed Critical Graphtec Corp
Priority to JP3348192U priority Critical patent/JPH0584846U/en
Publication of JPH0584846U publication Critical patent/JPH0584846U/en
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  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 比較的小容積の部品等を試験するための試験
装置を提供する。 【構成】 断熱容器、この断熱容器に収納される被試験
部品、上記断熱容器内の温度を検出する手段および該断
熱容器内の状態を維持する手段とを設けた。
(57) [Summary] [Purpose] To provide a test device for testing a component having a relatively small volume. A heat insulating container, a part to be tested housed in the heat insulating container, a means for detecting a temperature in the heat insulating container, and a means for maintaining a state in the heat insulating container are provided.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この考案は、周囲の温度条件等による試験物の挙動等を試験する温度試験装置 に関する。さらに詳しく言えば、電気部品等の比較的小容積の試験物を試験する 装置に関する。 The present invention relates to a temperature test device for testing the behavior and the like of a test object depending on ambient temperature conditions and the like. More specifically, it relates to an apparatus for testing a test object having a relatively small volume such as an electric component.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

この種装置の典型的なものとしては、比較的大容積の機器等を試験するための いわゆる環境試験装置があった。この環境試験装置は、周囲から隔絶された密閉 構造を有しており、この密閉構造(容器)内に試験すべき装置本体または装置ブ ロックを設置する。そして、この密閉容器内を所定の環境条件(温度、湿度等) にするための熱源等を有していた。 A typical example of this kind of device was a so-called environmental test device for testing a device having a relatively large volume. This environmental testing device has a sealed structure that is isolated from the surroundings, and the device body or device block to be tested is installed in this sealed structure (container). Further, it had a heat source and the like for making the inside of the closed container a predetermined environmental condition (temperature, humidity, etc.).

【0003】[0003]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

このように、従来の環境試験装置においては、被試験装置の全体または少なく ともその構成ブロックを保持することができるよう上記密閉容器を形成する必要 があった。このため、このような装置においては温度試験を行う場合には強力な 暖熱源及び冷熱源を必要とし、また湿度試験を行うためにも強力な加湿手段と除 湿手段を必要とした。 As described above, in the conventional environment test apparatus, it is necessary to form the closed container so as to be able to hold the entire test apparatus or at least the constituent blocks thereof. For this reason, in such an apparatus, a strong heat source and a cold source were required when performing a temperature test, and a powerful humidifying and dehumidifying means was also required to perform a humidity test.

【0004】 また、このように装置本体またはその構成ブロックを試験するのではなく、例 えば電気部品等の小さな容積のものを試験する場合には、上述のような環境試験 装置は不向きである欠点があった。 この欠点を解消するため、本出願人は先に出願した特願平3−353064号 において小型の試験装置について提案した。 この考案は、先の提案をさらに発展させたものである。Further, when the apparatus main body or its constituent blocks are not tested as described above but a small volume such as an electric component is tested, the environmental test apparatus as described above is not suitable. was there. In order to solve this drawback, the present applicant has proposed a small test apparatus in Japanese Patent Application No. 3-353064 filed earlier. This device is a further development of the previous proposal.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】 このため、この考案においては、 被試験物に対して温度試験するため該被試験物を保持することが可能な容器、 この容器の内部の温度を検出するため上記容器内に設けられた温度センサ、この 温度センサの検出温度に基づき上記容器内を所定の温度に維持するため冷気また は暖気を冷熱源から該容器内に送り込む手段とを有した温度試験装置において、 上記冷気または暖気を取り入れるための取り入れ口と容器内の気体を排出する ための排出口とを上記容器に設け、上記冷熱源が上記容器の排出口から排出され た気体を所定の温度に調整した後上記容器の取り入れ口を介して該容器内に送り 込むよう構成した。For this reason, in the present invention, a container capable of holding the DUT for performing a temperature test on the DUT, and for detecting the temperature inside the container A temperature test device having a temperature sensor provided in the container, and means for sending cold air or warm air from a cold heat source into the container to maintain the inside of the container at a predetermined temperature based on the temperature detected by the temperature sensor. In the above, the container is provided with an inlet for taking in the cold air or the warm air and an outlet for exhausting the gas in the container, and the cold heat source brings the gas discharged from the outlet of the container to a predetermined temperature. After the adjustment, it was configured to be fed into the container through the inlet of the container.

【0006】[0006]

【作用】[Action]

試験装置の容器は、試験すべき例えば電気部品を保管することができるよう構 成される。そして、容器内を所定の温度状態に設定するよう冷気または暖気を該 容器内に送り込む冷熱源を動作させる。容器内にはその容器内の温度を検出する ための温度センサが設置されており、所定温度条件の下での電気部品等の挙動を 試験することができる。この場合、容器内の温度状態を設定する気体を循環使用 するようにしたので効率よく温度制御することができる。 The container of the test device is constructed so that it can store, for example, electrical components to be tested. Then, a cold heat source that sends cold air or warm air into the container is operated so as to set the inside of the container to a predetermined temperature state. A temperature sensor for detecting the temperature inside the container is installed in the container, and the behavior of electrical parts and the like under a predetermined temperature condition can be tested. In this case, since the gas that sets the temperature inside the container is circulated and used, the temperature can be efficiently controlled.

【0007】[0007]

【実施例】【Example】

図1は、本考案に係わる試験装置の一実施例を示す構成説明図である。図1に 示す試験装置は、電気部品等を試験するために特に適した装置に係わるものであ る。図中、11は温度設定器、12は温度制御装置、13は送出用フレキシブル パイプ、14は取込用フレキシブルパイプ、15は断熱容器、20はプリント配 線板、21は被試験部品である。 FIG. 1 is a configuration explanatory view showing an embodiment of a test apparatus according to the present invention. The test apparatus shown in FIG. 1 relates to an apparatus which is particularly suitable for testing electric parts and the like. In the figure, 11 is a temperature setter, 12 is a temperature control device, 13 is a flexible pipe for delivery, 14 is a flexible pipe for intake, 15 is a heat insulating container, 20 is a printed wiring board, and 21 is a component under test.

【0008】 被試験部品21は、図示しない電源または信号源等に接続されいわゆる実動作 が可能に構成されている。The component under test 21 is connected to a power source, a signal source, or the like (not shown) so as to be capable of so-called actual operation.

【0009】 試験装置の断熱容器15としては、例えば50mm立方の大きさの下面が開口し たものを用いる。この開口した容器で被試験部品21を覆うように収納する。As the heat-insulating container 15 of the test apparatus, for example, a container having a bottom surface of 50 mm cubic with an opening is used. The part to be tested 21 is housed in this opened container so as to cover it.

【0010】 この断熱容器15には、温度制御装置12から送出される冷気または暖気を導 入するための取り入れ口151と、この断熱容器15内の気体を温度制御装置1 2に送出するための排出口152が設けられている。そして、折り曲げ可能なフ レキシブルパイプ13及び14を用いて、温度制御装置12と断熱容器15の各 取り入れ口151及び排出口152が接続されている。 温度制御装置12には、図示してはいないが加熱ヒーターと冷却装置が備えら れており、断熱容器15内を所定の温度(この温度は温度設定器11を用いて使 用者が所定の温度に設定する。)に制御する。An inlet 151 for introducing cold air or warm air sent from the temperature control device 12 to the heat insulating container 15, and a gas for sending the gas in the heat insulating container 15 to the temperature control device 12. A discharge port 152 is provided. Then, the flexible pipes 13 and 14 which can be bent are used to connect the temperature control device 12 and the intake port 151 and the exhaust port 152 of the heat insulating container 15. Although not shown, the temperature control device 12 is provided with a heater and a cooling device, and the temperature inside the heat insulating container 15 is set to a predetermined temperature (this temperature is set by the user using the temperature setting device 11). Set to temperature).

【0011】 なお、上記断熱容器15内の温度は、断熱容器15の側壁に埋め込まれた温度 センサにより検出される。そして、その検出結果が温度制御装置12に送られ断 熱容器15内の温度を所定の状態とする。The temperature inside the heat insulating container 15 is detected by a temperature sensor embedded in the side wall of the heat insulating container 15. Then, the detection result is sent to the temperature control device 12 to bring the temperature in the heat insulation container 15 to a predetermined state.

【0012】 このようにして、断熱容器15内が所定の温度に達すると、使用者は被試験部 品21を実動作させる。この被試験部品21には、オシロスコープ等の他の試験 装置のプローブ(図示せず)が接続されており、被試験部品21が所定の温度環 境にある時の挙動が測定される。In this way, when the inside of the heat insulating container 15 reaches a predetermined temperature, the user actually operates the component under test 21. A probe (not shown) of another test device such as an oscilloscope is connected to the component under test 21, and the behavior of the component under test 21 when the component under test 21 is in a predetermined temperature environment is measured.

【0013】 図2は、この考案に関わる第2の実施例を示すものである。この装置は、断熱 容器15をもたずに直接冷気または暖気を被試験部品21に送出するよう構成し 多ものである。FIG. 2 shows a second embodiment according to the present invention. This device is so constructed as to directly send cold air or warm air to the component under test 21 without having the heat insulating container 15 and is various.

【0014】[0014]

【考案の効果】[Effect of the device]

以上説明したように、本考案によれば、特に小容積の被試験物を試験するため に適した試験装置を実現できる。 As described above, according to the present invention, it is possible to realize a test apparatus particularly suitable for testing an object to be tested having a small volume.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の一実施例を示す構成説明図である。FIG. 1 is a structural explanatory view showing an embodiment of the present invention.

【図2】他の実施例を示す構成説明図である。FIG. 2 is a structural explanatory view showing another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

15:断熱容器 16:温度センサ 21:被試験部品 15: Heat insulation container 16: Temperature sensor 21: Parts under test

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】被試験物に対して温度試験するため該被試
験物を保持することが可能な容器、この容器の内部の温
度を検出するため上記容器内に設けられた温度センサ、
この温度センサの検出温度に基づき上記容器内を所定の
温度に維持するため冷気または暖気を冷熱源または暖熱
源から該容器内に送り込む手段とを有した温度試験装置
において、 上記冷気または暖気を取り入れるための取り入れ口と容
器内の気体を排出するための排出口とを上記容器に設
け、上記冷熱源が上記容器の排出口から排出された気体
を所定の温度に調整した後上記容器の取り入れ口を介し
て該容器内に送り込むよう構成したことを特徴とする温
度試験装置。
1. A container capable of holding a test object for performing a temperature test on the test object, a temperature sensor provided in the container for detecting a temperature inside the container,
In a temperature test device having means for sending cold air or warm air into the container from a cold heat source or a warm heat source in order to maintain the inside of the container at a predetermined temperature based on the temperature detected by the temperature sensor, the cold air or warm air is taken in. An inlet for discharging the gas in the container and an outlet for discharging the gas in the container are provided in the container, and after the cold heat source adjusts the gas discharged from the outlet of the container to a predetermined temperature, the inlet of the container A temperature test device characterized in that it is fed into the container via
JP3348192U 1992-04-21 1992-04-21 Temperature test device Pending JPH0584846U (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014145669A (en) * 2013-01-29 2014-08-14 Toyota Central R&D Labs Inc Cooling/heating tank and cooling/heating device
WO2023209865A1 (en) * 2022-04-27 2023-11-02 三菱電機株式会社 Thermal shock testing device and thermal shock testing method

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