JPH058456U - 試験装置 - Google Patents

試験装置

Info

Publication number
JPH058456U
JPH058456U JP6266491U JP6266491U JPH058456U JP H058456 U JPH058456 U JP H058456U JP 6266491 U JP6266491 U JP 6266491U JP 6266491 U JP6266491 U JP 6266491U JP H058456 U JPH058456 U JP H058456U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
heat insulating
insulating container
tested
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6266491U
Other languages
English (en)
Inventor
萩原信博
村田雅彦
飯野欽三
Original Assignee
グラフテツク株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by グラフテツク株式会社 filed Critical グラフテツク株式会社
Priority to JP6266491U priority Critical patent/JPH058456U/ja
Publication of JPH058456U publication Critical patent/JPH058456U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 比較的小容積の部品等を試験するための試験
装置を提供する。 【構成】 一面が開口した断熱容器、この断熱容器の開
口面により覆われる被試験部品、上記断熱容器内の状態
を制御する手段とを有し、上記被試験部品の挙動を測定
する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、周囲の条件等による試験物の挙動等を試験する試験装置に関する 。さらに詳しく言えば、電気部品等の小容積の試験物を試験する装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のこの種装置の典型的なものとしては、比較的大容積の機器等を試験する ためのいわゆる環境試験装置があった。この環境試験装置は、周囲から隔絶され た密閉構造を有しており、この密閉構造(容器)内に試験すべき装置本体または 装置ブロックを設置する。そして、この密閉容器内を所定の環境条件(温度、湿 度等)にするための熱源等を有していた。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
このように、従来の環境試験装置においては、被試験装置の全体または少なく ともその構成ブロックを保持することができるよう上記密閉容器を形成する必要 があった。このため、このような装置においては温度試験を行う場合には強力な 熱源及び冷熱源を必要とし、また湿度試験を行うためにも強力な加湿手段と除湿 手段を必要とした。
【0004】 また、このように装置本体またはその構成ブロックを試験するのではなく、例 えば電気部品等の小さな容積のものを試験する場合には、上述のような環境試験 装置は不向きである欠点があった。 この考案は、これらの点について改善するためになされたもので、電気部品等 の比較的小容積のものに対して適した試験装置を提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
このため、この考案においては、 被試験物を覆うように一部が開口された容器、この容器の内部の状態を検出す るため上記容器内に設けられた状態検出センサ、この状態検出センサの検出状態 に基づき、上記容器内を所定の状態に維持する手段とで試験装置を構成した。
【0006】
【作用】
試験装置の容器は、試験すべき例えば電気部品(この電気部品は回路基板上に 実装されている。)等を覆うように保持される。そして、容器内を所定の状態に 設定するよう状態設定手段を動作させる。容器内にはその容器内の状態がどのよ うな状態であるかを検出するための状態検出センサが設置されており、所定条件 の下での電気部品の挙動を他の試験装置により試験することができる。
【0007】
【実施例】
図1は、本考案に係わる試験装置の一実施例を示す構成説明図である。図1に 示す試験装置は、回路基板に実装された電気部品を試験するために特に適した装 置に係わるものである。図中、11は温度設定器、12は制御回路、13はバル ブ、14はフレキシブルパイプ、15は断熱容器、16は温度センサ、17はヒ ーター、21は回路基板、22は被試験部品である。
【0008】 回路基板21には、被試験部品22を含む各種の電気部品(図示せず)が実装 され、図示しない電源または信号源等に接続されいわゆる実動作が可能に構成さ れている。
【0009】 試験装置の断熱容器15としては、例えば50mm立方の大きさの下面が開口さ れたものを使用する。この開口された部分により回路基板21に実装された被試 験部品22が覆われる。
【0010】 この断熱容器15内にはヒーター17が設置されるとともにバルブ13を有し た折り曲げ可能なフレキシブルパイプ14を介して例えばLN2またはLCO2ボ ンベから冷気が導入される構成を有している。制御回路12によりこの断熱容器 15内を所定の温度(この温度は温度設定器11を用いて使用者が所定の温度に 設定する。)に加熱または冷却するため上記ヒーター17またはバルブ13が制 御される。
【0011】 さらに、上記断熱容器15内には状態検出センサとしての温度センサ16が設 置されており、容器15内の温度を検出し、その検出結果を制御回路12に伝達 する。
【0012】 制御回路12と断熱容器15内のヒーター17及び温度センサ16との接続は コネクタ(図示せず)により着脱自在にし、またフレキシブルパイプ14と断熱 容器15との接続、フレキシブルパイプ14と冷熱源との接続も着脱可能な接続 子(図示せず)を介して接続する。そして、種々の形状及び大きさの断熱容器1 5と冷熱源とを用意する。このように構成することにより、試験すべき電気部品 に応じて断熱容器15と冷熱源とを適宜選択することができる。
【0013】 上述のようにして、断熱容器15内が所定の温度に達すると、使用者は回路基 板21を実動作させる。この回路基板21の所定の部位には、オシロスコープ等 の他の試験装置のプローブ(図示せず)が接続されており、被試験部品22が所 定の温度環境にある時の挙動が測定される。
【0014】 なお、この考案の実施例装置においては、冷熱源としてLN2 等を直接断熱容 器15内に導入する構成としたが、コンプレッサを使用する形式としても良い。 さらに、冷気を直接断熱容器15内に導入するのではなく、図2に示すように 、断熱容器15の内面に冷気が通るパイプを設置するようにしても良い。
【0015】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案によれば、特に小容積の被試験物を試験するため に適した試験装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す構成説明図である。
【図2】本考案の他の実施例を示す構成説明図である。
【符号の説明】
15:断熱容器 16:温度センサ 17:ヒーター 21:回路基板 22:被試験部品

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】 被試験物を覆うように一部が開口された
    容器、この容器の内部の状態を検出するため上記容器内
    に設けられた状態検出センサ、この状態検出センサの検
    出状態に基づき、上記容器内を所定の状態に維持する手
    段とを有したことを特徴とする試験装置。
JP6266491U 1991-07-12 1991-07-12 試験装置 Pending JPH058456U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6266491U JPH058456U (ja) 1991-07-12 1991-07-12 試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6266491U JPH058456U (ja) 1991-07-12 1991-07-12 試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH058456U true JPH058456U (ja) 1993-02-05

Family

ID=13206789

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6266491U Pending JPH058456U (ja) 1991-07-12 1991-07-12 試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH058456U (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109738573A (zh) 压力可变流量可调型材料耐火阻燃性能燃烧测试平台
CN109269878A (zh) 岩石力学实验加载过程中的温湿度控制装置及其使用方法
US3117843A (en) Detection or analysis of gases
JPH11183361A (ja) 高温高湿試験装置及びその加温加湿方法
JPH058456U (ja) 試験装置
CN206631639U (zh) 一种医学检验用恒温室试管放置盒
GB9206387D0 (en) Container leak testing
JPH0584846U (ja) 温度試験装置
JPH0718249U (ja) 開口を備えた扉付き環境試験装置
JPS63187136A (ja) 結露試験器
CN209821316U (zh) 一种基于温控系统电子元件的老化测试箱
US3438738A (en) Transformer incipient fault detection
JPH0524042Y2 (ja)
CN217931548U (zh) 一种热裂解色谱仪机箱及热裂解色谱仪
JPS60253884A (ja) 恒温装置
JP3092356B2 (ja) 半導体装置の試験装置
CN216051626U (zh) 便携式臭氧校准仪
JP2625977B2 (ja) 電子機器の温度試験方法
CN208255112U (zh) 一种能交互式模拟实验气候条件的闭口闪点检测仪
JPH0244189Y2 (ja)
JPH0312536A (ja) 信頼性試験装置における外部空気供給装置
RU2029930C1 (ru) Стенд для испытания регуляторов температуры
CN207115215U (zh) 一种自动化计算机恒温装置
CN108267547B (zh) 气敏特性响应曲线测试装置
JPH06188295A (ja) 被測定ディバイスの温度制御装置