JPH0577702U - 深さ測定装置 - Google Patents

深さ測定装置

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JPH0577702U
JPH0577702U JP1536392U JP1536392U JPH0577702U JP H0577702 U JPH0577702 U JP H0577702U JP 1536392 U JP1536392 U JP 1536392U JP 1536392 U JP1536392 U JP 1536392U JP H0577702 U JPH0577702 U JP H0577702U
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JP
Japan
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measuring device
reference surface
base
depth measuring
measured
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Application number
JP1536392U
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Inventor
壽一 光武
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 安定した測定ができる深さ測定装置を得る。 【構成】 被測定部材７の基準面７ａと接触するベース
４の面に、基準面７ａを吸引してベース４を基準面７ａ
と密着させる磁石を埋設する。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は、測定精度を向上するようにした深さ測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図５は従来の深さ測定装置（デプスマイクロメータ）を示す正面図である。図 において、１はスリーブ目盛、２はシンブル目盛、３はスピンドル、４はベース 、上記１〜４で深さ測定装置６ａが構成される。
【０００３】 次に深さ測定装置６ａによる測定動作を図６によって説明する。被測定部材７ の測定深さＨを測定するとき、被測定部材７の基準面７ａにベース４を密着させ 、シンブル目盛２を回転させ、スピンドル３の先端を測定面Ｂに当接させること により、深さＨが測定される。 このとき、ベース４が基準面７ａから離れないように、ベース４の両端を押さ えた状態で、深さＨの測定値が読み取られる。 また、図７に示すような被測定部材８の測定では、ベース４の一方だけを指で 押さえて基準面８ａと密着させ、シンブル目盛２を回転させて、深さＨを測定す る場合もある。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】
従来の深さ測定装置は以上のように構成されているので、ベースを基準面に押 し付けながら測定しなければならない。このため測定動作が不安定となり、測定 値に誤差を生じやすいという問題点があった。
【０００５】 この考案は上記のような問題点を解消するためになされたもので、安定した測 定動作で測定できる深さ測定装置を得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】 この考案に係わる深さ測定装置は、被測定部材の基準面と接触するベースの面 に、基準面に吸引してベースを基準面と密着させる磁石を埋設したものである。
【０００７】
【作用】
この考案における深さ測定装置のベースは、被測定部材の基準面に吸着して深 さ測定装置が被測定部材で支持される。
【０００８】
【実施例】
実施例１． 以下、この考案の実施例１を図について説明する。図１はこの考案の実施例１ による深さ測定装置を示す正面図、図２は図１の下面図である。図において、１ はスリーブ目盛、２はシンブル目盛、３はスピンドル、４はベース、４ａはベー ス４の被測定部材と接触する面に設けられた凹部、５は凹部４ａに挿着された磁 石、上記１〜５で深さ測定装置６が構成される。
【０００９】 次に動作について説明する。上記深さ測定装置６で図３に示す被測定部材７の 凹部の深さＨを測定するとき、被測定部材７の基準面７ａにベース４を設置する と、磁石５によって深さ測定装置６が基準面と密着して支持される。この状態で シンプル目盛２を回転させ、スピンドル３の先端を測定面Ｂに当接させ、測定値 の読み取りが行われる。 このとき、ベース４は基準面Ａに磁石５で密着されているので、ベース４の接 触状態を気にする必要はなく、測定に集中することができる。 また、図４に示すような被測定部材８の測定では、ベース４の一方の磁石５が 基準面に吸着し、吸着によって深さ測定装置６が支持されるので、測定に集中す ることができる。
【００１０】 実施例２． 実施例１においては、マイクロメータ式の測定装置を用いた場合について説明 したが、ノギス方式に適用することもよい。
【００１１】
【考案の効果】
以上のようにこの考案によれば、被測定部材の基準面と接触するベースの面に 、基準面を吸引してベースを基準面に密着させる磁石を埋設した構成としたので 、安定した動作で測定することができる。これにより測定誤差を防止する効果が 得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案の実施例１による深さ測定装置を示す
正面図である。
【図２】この考案の実施例１による深さ測定装置を示す
下面図である。
【図３】この考案の実施例１による深さ測定装置の測定
動作を示す正面図である。
【図４】この考案の実施例１による深さ測定装置の測定
動作を示す正面図である。
【図５】従来の深さ測定装置を示す正面図である。
【図６】従来の深さ測定装置の測定動作を示す正面図で
ある。
【図７】従来の深さ測定装置の測定動作を示す正面図で
ある。
【符号の説明】
４ ベース ４ａ 凹部 ５ 磁石 ７ 被測定部材 ７ａ 基準面

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被測定部材の基準面にベースを接触させ
    てスピンドルを移動させて測定をする深さ測定装置にお
    いて、上記基準面と接触するベースの面に上記基準面を
    吸引して上記ベースを上記基準面と密着させる磁石を埋
    設したことを特徴とする深さ測定装置。
JP1536392U 1992-03-24 1992-03-24 深さ測定装置 Pending JPH0577702U (ja)

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JPH0577702U true JPH0577702U (ja) 1993-10-22

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015219105A (ja) * 2014-05-16 2015-12-07 中国電力株式会社 インサイドマイクロメーターの支持装置
JP2017015552A (ja) * 2015-07-01 2017-01-19 中国電力株式会社 インサイドマイクロメータの固定装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015219105A (ja) * 2014-05-16 2015-12-07 中国電力株式会社 インサイドマイクロメーターの支持装置
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