JPH056378U - Test jig - Google Patents
Test jigInfo
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- JPH056378U JPH056378U JP5384591U JP5384591U JPH056378U JP H056378 U JPH056378 U JP H056378U JP 5384591 U JP5384591 U JP 5384591U JP 5384591 U JP5384591 U JP 5384591U JP H056378 U JPH056378 U JP H056378U
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- test
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 デバイスに対応したソケットを平面上に配置
し、テスターより起動されるテストプログラムの情報に
より、使用するソケットを選び、かつそのソケットがテ
スターに接続されると共に検査情報を表示できるような
テスト治具を得る。
【構成】 水銀を使用した複数のスイッチ素子によって
多入力1出力回路、即ちマルチプレクシング機能を持つ
セレクターを構成し、各ソケットの信号線をセレクター
に集め、テスターからの情報により切り換えられた信号
をテスターに接続すると共に、表示器の情報を見て検査
するテスト治具を構成する。
(57) [Abstract] [Purpose] A socket corresponding to the device is placed on a plane, the socket to be used is selected according to the information of the test program started by the tester, and the socket is connected to the tester and the inspection information. Get a test fixture that can display. [Structure] A multi-input 1-output circuit, that is, a selector having a multiplexing function is constituted by a plurality of switch elements using mercury, and the signal lines of each socket are collected in the selector, and the signal switched by the information from the tester is tested. And a test jig for inspecting by viewing the information on the display.
Description
【0001】[0001]
この考案は自動特性テスターを使って、トランジスター、ダイオード等の半導 体デバイス(以下、デバイスという)のリーク電流、電流増幅率といった電気特 性を検査する場合に使用するソケットの付いたテスト治具に関するものである。 This invention is a test jig with a socket used to inspect the electrical characteristics such as leakage current and current amplification factor of semiconductor devices (hereinafter referred to as devices) such as transistors and diodes using an automatic characteristic tester. It is about.
【0002】[0002]
図5は従来のテスト治具の外形を示す図であり、図において1は自動特性テス ター(図示せず、以下テスターという)とは独立した位置に設置されて、かつ、 電気的に信号ケーブルによりテスターと接続されるテスト治具、2はデバイスの 抜き差しを容易にし、電気的にデバイスの電極としてのリードをテスターの測定 回路に接続するためのソケット、3はソケット2を取り付けたまま、検査するデ バイスの品種に応じてテスト治具1への抜き差し、交換が可能なようにピン接触 子を備え、トランジスター、ダイオード用等の何種類かある中の1つのテストア ダプター、4は上記テスターとテスト治具1間の測定信号の授受を行うための複 数の同軸コネクターである。図6はテストアダプター3を側面から見た図であり 、図において5はテストアダプター3の交換、接続を容易にするための複数のピ ン接触子、6はソケット2に差し込まれて検査される被検査デバイスである。図 7はソケット2にデバイス6としてトランジスターを取り付けた状態でのテスト 治具1の内部接続を示す図で、図において4aはテスターと接続される複数の同 軸コネクター4の中の1番目の同軸コネクター、4bは2番目の同軸コネクター 、4cは3番目の同軸コネクター、7はデバイス6のトランジスターの電気信号 、7aはトランジスター7のコレクター電極、7bはベース電極、7cはエミッ ター電極、8aはソケット2の3本の接触子の中の1番目の接触子、8bは2番 目の接触子、8cは3番目の接触子、9aは複数のピン接触子5の中の1番目の 接触子、9bは2番目の接触子、9cは3番目の接触子、10はトランジスター 7の電流増幅率(以下、HFEという)を測定する時に測定バイアス信号として トランジスター7に流すコレクター電流(IC)、11はコレクター電流10と 同様のベース電流(IB)、12は上記、HFEの測定の際、トランジスター7 のコレクター電極7aとエミッター電極7cとの間に加える測定バイアス信号と してのコレクター、エミッター間電圧(VCE)である。 FIG. 5 is a view showing the outer shape of a conventional test jig. In FIG. 5, reference numeral 1 is installed at a position independent of an automatic characteristic tester (not shown, hereinafter referred to as a tester), and electrically connected to a signal cable. The test jig, which is connected to the tester by means of 2, is a socket for easily connecting and disconnecting the device, and the socket for electrically connecting the lead as the electrode of the device to the measurement circuit of the tester, 3 is the inspection with the socket 2 attached. Depending on the type of device to be used, a pin contactor is provided so that it can be inserted / removed into / from the test jig 1 and replaced, and one of the test adapters for transistors, diodes, etc., 4 is the tester above. A plurality of coaxial connectors for exchanging measurement signals between the test jigs 1. 6 is a side view of the test adapter 3. In FIG. 6, 5 is a plurality of pin contacts for facilitating exchange and connection of the test adapter 3, and 6 is inserted into the socket 2 for inspection. The device under test. FIG. 7 is a diagram showing the internal connection of the test jig 1 in the state where the transistor 6 is attached to the socket 2 as a device 6, and in the figure, 4a is the first coaxial connector among a plurality of coaxial connectors 4 connected to the tester. Connector, 4b is the second coaxial connector, 4c is the third coaxial connector, 7 is the electrical signal of the transistor of device 6, 7a is the collector electrode of transistor 7, 7b is the base electrode, 7c is the emitter electrode, 8a is the socket The first contactor among the three contactors 2; 8b is the second contactor; 8c is the third contactor; 9a is the first contactor among the plurality of pin contacts 5; 9b is the second contact, 9c is the third contact, and 10 is a transistor for measuring the current amplification factor (hereinafter referred to as HFE) of the transistor 7. Collector current (IC) flowing through the transistor 7, 11 is a base current (IB) similar to the collector current 10, and 12 is a measurement applied between the collector electrode 7a and the emitter electrode 7c of the transistor 7 when measuring the above HFE. It is the collector-emitter voltage (VCE) as a bias signal.
【0003】 従来のテスト治具は上記のように構成され、今、被検査デバイスとして例えば 、トランジスターを検査する場合はデバイス6の電極配置に適合したソケットを 持つテストアダプター3をテスト治具1に、デバイス6をソケット2に図6に示 すように差し込む。その後、テスター上で、デバイス6のテストプログラムを起 動、実行させると同軸コネクター4、ピン接触子5及びソケット2を通して、テ スターからテストプログラムによって規定された大きさの電流、または電圧値を 持つ測定バイアス信号が規定時間デバイスの電極に加えられる。例えば、前記H FEの測定の場合、図7に示すように測定バイアス信号としてのコレクター、エ ミッター間電圧(VCE)12が同軸コネクター4a側を正(+)、同軸コネク ター4cを負(−)とする直流電圧がテスターからこれらのコネクター、及び図 7に示すテスト治具1内部の接続を通してトランジスター7のコレクター電極7 aとエミッター電極7c間に加えられる。同時にコレクター電流10が同軸コネ クター4a、ピン接触子9a及び接触子8aを通してトランジスター7のコレク ター電極7aに、一方、ベース電流11は同軸コネクター4b、ピン接触子9b 及び接触子8bを通してベース電極7bにコレクター電流10が規定値に達する まで、規定時間流される。テスターではベース電流11の値を測定しているので 、既知のコレクター電流10とベース電流11の値の比、即ち、IC/IBから HFEの値が計算され、それがHFEの測定値となる。次に、テスター内にてH FEの測定値あらかじめプログラム作製時に設定されていた規格値との比較がな され、トランジスターが合格(GO)、つまり規格値内に入っているかあるいは 不合格(NOGO)であるかの判定がなされる。デバイス6とは違った電極配置 のデバイス(図示せず)を検査する場合はテストアダプター3が使用できないた め、テストアダプター3をテスト治具1から引き抜き、検査しようとするデバイ スの電極配置に適合したテストアダプター(図示せず)をテスト治具1に差し込 み、上記と同様の手順によって検査が行われる。A conventional test jig is configured as described above. Now, for example, when inspecting a transistor as a device to be inspected, a test adapter 3 having a socket adapted to the electrode arrangement of the device 6 is attached to the test jig 1. Insert the device 6 into the socket 2 as shown in FIG. After that, when the test program of the device 6 is started and executed on the tester, it has a current or voltage value of the magnitude specified by the test program from the tester through the coaxial connector 4, the pin contact 5 and the socket 2. A measurement bias signal is applied to the electrodes of the device for a specified time. For example, in the case of the HFE measurement, as shown in FIG. 7, the collector-emitter voltage (VCE) 12 as the measurement bias signal is positive (+) on the coaxial connector 4a side and negative (-) on the coaxial connector 4c. ) Is applied between the collector electrode 7a and the emitter electrode 7c of the transistor 7 from the tester through these connectors and the connection inside the test jig 1 shown in FIG. At the same time, the collector current 10 passes through the coaxial connector 4a, the pin contactor 9a and the contactor 8a to the collector electrode 7a of the transistor 7, while the base current 11 passes through the coaxial connector 4b, the pin contactor 9b and the contactor 8b. Then, the collector current 10 is supplied for a specified time until it reaches a specified value. Since the tester measures the value of the base current 11, the value of HFE is calculated from the ratio of the known collector current 10 and the value of the base current 11, that is, IC / IB, and becomes the measured value of HFE. Next, the measured value of HFE in the tester is compared with the standard value that was set in advance when the program was created, and the transistor passed (GO), that is, within the standard value or failed (NOGO). Is determined. When inspecting a device (not shown) having an electrode arrangement different from that of the device 6, the test adapter 3 cannot be used. Therefore, pull out the test adapter 3 from the test jig 1 and set the electrode arrangement of the device to be inspected. A suitable test adapter (not shown) is inserted into the test jig 1, and the inspection is performed by the same procedure as above.
【0004】[0004]
上記のようなテスト治具では電極配置の異なる検査デバイスの種類が多くなる と、それに適合したソケットを持つテストアダプターを必要個数揃えなければな らず、その結果、テストアダプター製作費用の増加を招き、また、検査デバイス の種類が替わるたびに一々、テストアダプターを交換する必要があるため交換に 手間取り、もし違ったテストアダプターを誤って交換、使用した場合、最悪デバ イスを壊すといった問題点と、標準的な電極配置とは異なったデバイスについて はデバイスの挿入方向を別な資料により、一々確認しなければならず煩わしいと いう問題点があった。 When the types of test devices with different electrode arrangements in the above test jigs increase, it is necessary to prepare the required number of test adapters with sockets suitable for them, resulting in an increase in test adapter manufacturing costs. Also, it is necessary to replace the test adapter each time the type of inspection device changes, so it takes time to replace it, and if you accidentally replace or use a different test adapter, the worst device will be destroyed. For devices different from the standard electrode arrangement, the device insertion direction had to be checked one by one with a separate document, which was a problem.
【0005】 この考案はかかる課題を解決するためになされたものであり、テストアダプタ ーの交換をなくし、かつ、使用するソケットの位置を自動的に選択識別し、しか もデバイスのソケットへの挿入方向をわかりやくす図示することにより、検査の 準備に要する時間とデバイスの挿入方向の誤りを減らすと共にテストアダプター の製作費用の削減を目的としている。The present invention has been made in order to solve such a problem, eliminates replacement of a test adapter, and automatically selects and identifies the position of a socket to be used, and only inserts the device into the socket. The purpose of the drawing is to reduce the time required to prepare for inspection and the error in the insertion direction of the device, and to reduce the manufacturing cost of the test adapter.
【0006】[0006]
この考案に係わるテスト治具においては最初から必要個数のソケットを平面上 に配置し、かつ、検査に使用するソケットの位置をテスターの制御により発光ダ イオードの点灯で表示、識別すると共に、テスト治具内部の切替回路(セレクタ ー)によって、測定信号を使用するソケットのみに接続するよう自動的に切替、 選択できるようにしたことと、他の検査関係の資料見ないで表示器により、デバ イスのソケットへの挿入方向を図示したことである。 In the test jig according to the present invention, the required number of sockets are arranged on the plane from the beginning, and the positions of the sockets used for the inspection are displayed and identified by the lighting of the light emitting diode under the control of the tester, and the test jig is tested. The switching circuit (selector) inside the tool automatically switches and selects to connect only the socket that uses the measurement signal, and the device can be displayed by the display without looking at other inspection-related data. It is the illustration of the insertion direction of the socket into the socket.
【0007】[0007]
この考案においてはソケットを平面上に必要個数配置したことと、テスト治具 内部のセレクターの構成要素として、水銀リレーと同等以上の機能を持ち、かつ 小形のスイッチ素子のマトリクス構成によって使用するソケットのみをテスター に接続することによりソケット交換の手間を省くということの他に、表示器に必 要な情報を表示することにより、他の資料を一々見て確認するといった手間を減 らす作用を果たす。 In this invention, the required number of sockets are arranged on a flat surface, and as a constituent element of the selector inside the test jig, only a socket that has a function equal to or higher than that of a mercury relay and is used by a matrix structure of small switch elements is used. Not only does it save you the trouble of exchanging the socket by connecting the tester to the tester, but it also reduces the trouble of looking at other materials one by one by displaying the necessary information on the display unit. ..
【0008】[0008]
実施例1. 図1はこの考案の一実施例を示す図であり、図において1はn個の電極配置の 異なったソケットを1からn番目まで順番に平面上に配置したテスト治具、2は n個の中の1番目に位置したデバイス検査用のソケット、13はテスターとディ ジタル信号を主体とした電気信号の接続を行うコネクター、14はソケット2が 選択されたことを表示、識別するための発光ダイオード、15はソケット2とは 電極配置の異なったn個の中のn番目に位置したデバイス検査用のソケット、1 6は発光ダイオード14と同じ選択、識別を目的とした発光ダイオード、17は 検査結果が合格(GO)か不合格(NOGO)であるかをオペレータ(図示せず )に知らせるためのGO/NG表示器、18は検査スタート用の押しボタンスイ ッチ、19はデバイスの型番、タイプとデバイスとソケットとの対応を図示する ための液晶、プラズマパネル等で構成された表示器である。 図2は1番目のソケット2とn番目のソケット15を主にしたテスト治具1内 部の構成を示すブロック図であり、図において15aはソケット15の3本の接 触子の中の1番目の接触子、15bは2番目の接触子、15cは3番目の接触子 、20はスイッチ機能を持った素子を複数個集めて多入力1出力回路、言わゆる マルチプレクサーを構成したセレクター、21は接触抵抗を低く、かつ大電流を 流せるように水銀を接点機構に用い、ソケット2の接触子8aに対応するスイッ チ素子、21aはスイッチ素子21の一方の端子で意味合い的に通常開としての NO端子、21bは共通端子、22はスイッチ素子21と同様の接触子8bに対 応するスイッチ素子、22aはNO端子、22bは共通端子、23はスイッチ素 子21と同様の接触子8cに対応するスイッチ素子、23aはNO端子、23b は共通端子、24はソケット15の接触子15aに対応するスイッチ素子、24 aはNO端子、24bは共通端子、25はスイッチ素子21と同様の接触子8c に対応するスイッチ素子、25aはNO端子、25bは共通端子、26は接触子 15cに対応するスイッチ素子、26aはNO端子、26bは共通端子、27は テスターとのインターフェース機能を有し、セレクター20への駆動信号の送出 と発光ダイオード、表示器の制御を行うためのコントローラー、27aはコント ローラー27からセレクター20への複数の信号線である。 図3はセレクター20を構成し、機能、性能的に同一である複数のスイッチ素 子の内のスイッチ素子21の構造を示す図で、図において28は導電性の板バネ 、29はNO端子21aを保持するための絶縁カバー、30は外部の電気信号に より上下動作し、動作時、先端が水銀面に接触して電気的に接続された板バネ2 8、NO端子21aと共にスイッチ素子の一方の接点を形成する導電性の可動接 触子、31は可動接触子30に取り付けられ、外部磁界に引き付けられるよう鉄 、ニッケル等の材料でできたディスク、32は外側に巻かれたコイルに流れる電 流により発生する磁界を強め、電磁石としての働きをさせるための鉄、ニッケル 等で作られた円筒材、33は電流により磁界を発生するためのコイル、34は水 銀を溜めるためのガラス管、35は可動接触子30と接触した時の接触抵抗を低 い値に保つための水銀である。 図4は表示器19の表示画面の例を示す図であり、図において36は検査する デバイス6の型番表示、37は36と同様にデバイス6のNPN、PNPといっ た極性とトランジスター、ダイオードといった機能分類の識別表示、38はソケ ット2の電極配置を示す表示、39はデバイス6の電極配置を示す表示である。 Example 1. FIG. 1 is a view showing an embodiment of the present invention, in which 1 is a test jig in which n sockets having different electrode arrangements are sequentially arranged on a plane from 1 to nth, and 2 are n pieces. The first device inspection socket in the inside, 13 is a connector for connecting electrical signals mainly consisting of digital signals to the tester, and 14 is a light emitting diode for displaying and identifying that the socket 2 has been selected. , 15 is a socket for device inspection located at the nth position among n sockets having a different electrode arrangement from the socket 2, 16 is a light emitting diode for the same selection and identification as the light emitting diode 14, and 17 is an inspection result GO / NG indicator to inform the operator (not shown) whether the test is a GO (GO) or a fail (NOGO), 18 is a push button switch for starting the inspection, and 19 is a data switch. LCD to illustrate the correspondence between chair model number, type and the device and the socket, a display device composed of a plasma panel or the like. FIG. 2 is a block diagram showing the internal structure of the test jig 1 mainly including the first socket 2 and the nth socket 15. In the figure, 15a is one of the three contacts of the socket 15. The second contactor, 15b is the second contactor, 15c is the third contactor, 20 is a multi-input one-output circuit that collects a plurality of elements having a switching function, a selector that constitutes a so-called multiplexer, 21 Is a switch element corresponding to the contact 8a of the socket 2 and 21a is one of the terminals of the switch element 21 which is semantically normally open when the contact resistance is low and mercury is used as a contact mechanism. NO terminal, 21b is a common terminal, 22 is a switch element corresponding to the contact 8b similar to the switch element 21, 22a is a NO terminal, 22b is a common terminal, and 23 is the same as the switch element 21. A switch element corresponding to the contact 8c, 23a is a NO terminal, 23b is a common terminal, 24 is a switch element corresponding to the contactor 15a of the socket 15, 24a is a NO terminal, 24b is a common terminal, and 25 is a switch element 21. A switch element corresponding to the similar contactor 8c, 25a is a NO terminal, 25b is a common terminal, 26 is a switch element corresponding to the contactor 15c, 26a is a NO terminal, 26b is a common terminal, and 27 is an interface function with a tester. The controller 27a has a plurality of signal lines from the controller 27 to the selector 20. The controller 27 has a controller for transmitting a drive signal to the selector 20 and controlling a light emitting diode and a display. FIG. 3 is a diagram showing a structure of a switch element 21 of a plurality of switch elements which are included in the selector 20 and have the same function and performance, in which 28 is a conductive leaf spring and 29 is an NO terminal 21a. An insulating cover 30 for holding the switch moves up and down by an external electric signal, and at the time of operation, the tip of the switch contacts the mercury surface and is electrically connected to the NO spring 21 and the NO terminal 21a. The conductive movable contactor that forms the contact point of the disk, 31 is attached to the movable contactor 30, and the disk is made of a material such as iron or nickel so as to be attracted to the external magnetic field, and 32 flows to the coil wound outside. Cylindrical material made of iron, nickel, etc. for strengthening the magnetic field generated by the electric current and acting as an electromagnet, 33 is a coil for generating a magnetic field by an electric current, and 34 is for accumulating silver hydroxide Glass tube, 35 is a mercury to maintain the contact resistance when in contact with the movable contact 30 to the lower have value. FIG. 4 is a diagram showing an example of the display screen of the display device 19. In the figure, 36 is the model number display of the device 6 to be inspected, and 37 is the same as 36 such as NPN of the device 6, polarity such as PNP, transistor, diode, etc. Identification display of the functional classification, 38 is a display showing the electrode arrangement of the socket 2, and 39 is a display showing the electrode arrangement of the device 6.
【0009】 前記のように構成されたテスト治具において、今、電源投入直後のセレクター 20内のスイッチ素子(図示せず)全部が非動作(接点は開)の状態で、テスタ ーによりデバイスとしてテスト治具1上のソケット2に適合したデバイス6を検 査する場合、まずテスター上にてそのデバイス6のテストプログラムを起動する と、テスターからコネクター13を通してコントローラー27にデバイス6の型 番を含む識別情報が送られる。コントローラー27はその識別信号から使用ソケ ット2の判別信号により発光ダイオード14を動作、表示を点灯させると共に、 セレクター20に信号線27aの中の1本を通してソケット2の接触子8a、8 b、8cに対応したスイッチ素子21、22、23にこれらが同時に動作するよ うな駆動信号を送る。また、コントローラー27は上記識別信号の中の型番の情 報を利用して、表示器19に図4に示す表示をさせる信号を作り、送る。スイッ チ素子21、22、21は同じ動作をするがこの内スイッチ素子21についてみ るとこの駆動信号によりコイル33に電流が流れ、磁界を発生する。この磁界は 円筒材32により強められ、磁気力の作用によりディスク31を吸引し、板バネ 28が伸びると共に、可動接触子30が下の方に動いて先端部が水銀35と接触 してNO端子21aと共通端子21bが導通する。 スイッチ素子22についても同様の動作をしてNO端子22aと共通端子22 bが、またスイッチ素子23についてはNO端子23aと共通端子23bがそれ ぞれ導通する。その結果、同軸コネクター4a、4b、4cと接触子8a、8b 、8c間が各々スイッチ素子の共通端子21b、NO端子21aを通して、また スイッチ素子22、23については共通端子22b、NO端子23bとNO端子 22a、23aを通して接続される。 次に、デバイス6としてトランジスター7を発光ダイオード14の表示と図4 に示す表示の内容を確認してソケット2に挿入し、テスト開始スタート押しボタ ンスイッチ18を押すと、テスターからトランジスター7の検査のための信号、 例えばHFEの検査であれば前記、従来装置と同じように一定のコレクター、エ ミッター間電圧12が同軸コネクター4a、4c間に加えられ、上記セレクター 20内部の接続及び接触子8a、8cを通してトランジスター7のコレクター電 極7aとエミッター電極7c間に加えられる。また、コレクター電流10、ベー ス電流11については同軸コネクター4a、4b、スイッチ素子21、22、接 触子8a、8bを通してトランジスター7のコレクター電極7aとベース電極7 bに流されるが、この時コレクター電流10が規定された一定の値になるように ベース電流11は流され、テスターにて測定されたベース電流11と既知のコレ クター電流10との比、IC/IBからHFEの測定値が得られる。 テスター内にて、HFEの規定範囲値との比較により、HFE検査の合否判定 が下され、合格、不合格いずれかの場合であっても検査結果はテスト治具1上の GO/NG表示器17に表示、オペレータに知らされる。HFEの他のリーク電 流、飽和電圧等の検査項目についても測定バイアス電圧値、加え方は異なるがテ スト治具1内の接続状態に変わりはなく、上記と同様の方法により検査されるソ ケット2の使用を終えて、n番目のソケット15を使用する場合は、前記と同じ ようにテスター上でソケット15を使用するデバイスのテストプログラムを起動 すると、そのデバイスの識別情報がテスターからコネクター13を通してコント ローラー27に送られる。コントローラー27は前述のソケット2の場合と同様 、ソケット15を使用するデバイスに対応した図4に示す表示内容と同様の表示 信号を作り、表示器19に送る。コントローラー27からはセレクター20に対 して、今度はスイッチ素子24、25、26を一緒に動作させる駆動信号が複数 の信号線27aの中の1本を通して送られる。同時に、今までスイッチ素子21 、22、23を動作させていた駆動信号がOFFになり、スイッチ素子21につ いてみるとコイル33に流されていた電流が切れ、磁界も消失し、その結果可動 接触子30は板バネ28の作用によって動作前の位置に戻り、NO端子21aと 共通端子21b間の導通がなくなる。スイッチ素子22、23についてもスイッ チ素子21と同様の動作をし、結果的に今まで接続されていた同軸コネクター4 a、4b、4cとソケット2の接触子8a、8b、8c間の接続が非導通になる 。替わって、スイッチ素子24、25、26が動作し、それらのNO端子24b 、25b、26bと共通端子24a、25a、26a間が各々導通することによ って、同軸コネクター4a、4b、4cとソケット15の接触子15a、15b 、15c間が接続される。ソケット15に適合するデバイス(図示せず)を表示 器19の表示内容を見て確認し、ソケット15に差し込んでスタート開始押しボ タンスイッチ18を押すとHFE、リーク電流、飽和電圧等の検査項目に応じた 測定バイアス信号が同軸コネクター4a、4b、4cを通してソケット15の接 触子15a、15b、15cに加えられ、上述のHFEの測定と同じことが繰り 返される。また、n個の内の上述した1番目とn番目以外の2番目からn−1番 目のソケットについても同じ動作であり、各ソケットに適合したデバイスの検査 が行われる。In the test jig configured as described above, the switch device (not shown) in the selector 20 immediately after the power is turned on is in a non-operating state (contacts are open), and the device is tested by the tester as a device. When inspecting a device 6 that fits the socket 2 on the test jig 1, first start the test program for the device 6 on the tester, and the controller 27 will include the model number of the device 6 through the connector 13 from the tester. Identification information is sent. The controller 27 operates the light emitting diode 14 according to the discrimination signal of the socket 2 to be used from the identification signal and lights up the display, and the selector 20 passes one of the signal lines 27a through the contacts 8a, 8b of the socket 2. A drive signal is sent to the switch elements 21, 22 and 23 corresponding to 8c so that they operate simultaneously. Further, the controller 27 uses the information of the model number in the identification signal to generate and send a signal for causing the display 19 to perform the display shown in FIG. The switch elements 21, 22 and 21 perform the same operation, but regarding the switch element 21, the drive signal causes a current to flow in the coil 33 to generate a magnetic field. This magnetic field is strengthened by the cylindrical member 32, the disk 31 is attracted by the action of the magnetic force, the leaf spring 28 expands, and the movable contact 30 moves downward to bring the tip end into contact with the mercury 35 and the NO terminal. 21a and the common terminal 21b are electrically connected. The same operation is performed for the switch element 22 and the NO terminal 22a and the common terminal 22b are conducted, and for the switch element 23, the NO terminal 23a and the common terminal 23b are conducted. As a result, between the coaxial connectors 4a, 4b, 4c and the contacts 8a, 8b, 8c are passed through the common terminal 21b and NO terminal 21a of the switch element, respectively, and for the switch elements 22 and 23, the common terminal 22b, NO terminal 23b and NO. It is connected through terminals 22a and 23a. Next, after checking the contents of the display of the light emitting diode 14 and the display shown in FIG. 4 as the device 6, the transistor 7 is inserted into the socket 2 and the test start start push button switch 18 is pushed. For inspection of a signal for, for example, HFE, a constant collector-emitter voltage 12 is applied between the coaxial connectors 4a and 4c in the same manner as in the conventional device, and the connection inside the selector 20 and the contact 8a. , 8c between the collector electrode 7a and the emitter electrode 7c of the transistor 7. The collector current 10 and the base current 11 are sent to the collector electrode 7a and the base electrode 7b of the transistor 7 through the coaxial connectors 4a and 4b, the switch elements 21 and 22, and the contacts 8a and 8b. The base current 11 is made to flow so that the current 10 becomes a specified constant value, and the ratio of the base current 11 measured by the tester to the known collector current 10 and the measured value of HFE are obtained from IC / IB. Be done. In the tester, the HFE inspection pass / fail judgment is made by comparing with the specified range value of HFE, and the inspection result is GO / NG indicator on the test jig 1 regardless of whether it passes or fails. Displayed at 17, the operator is informed. Regarding other inspection items such as leakage current and saturation voltage of HFE, the measured bias voltage value and the application method are different, but the connection state in the test jig 1 does not change and the inspection method is the same as above. When the socket 2 is used and the nth socket 15 is used, when the test program of the device that uses the socket 15 is started on the tester in the same manner as above, the identification information of the device is output from the tester to the connector 13 Sent to the controller 27 through. Similar to the case of the socket 2 described above, the controller 27 creates a display signal similar to the display content shown in FIG. 4 corresponding to the device using the socket 15, and sends it to the display device 19. A drive signal for operating the switch elements 24, 25, 26 together is sent from the controller 27 to the selector 20 through one of the plurality of signal lines 27a. At the same time, the drive signal that had been operating the switch elements 21, 22, and 23 until now turns off, and when looking at the switch element 21, the current flowing in the coil 33 is cut off, and the magnetic field disappears, resulting in movement. The contactor 30 returns to the position before the operation by the action of the leaf spring 28, and the conduction between the NO terminal 21a and the common terminal 21b is lost. The switch elements 22 and 23 also operate in the same manner as the switch element 21, and as a result, the connection between the coaxial connectors 4a, 4b, 4c and the contacts 8a, 8b, 8c of the socket 2 that have been connected up to now is reduced. It becomes non-conductive. Instead, the switch elements 24, 25, 26 operate, and the NO terminals 24b, 25b, 26b and the common terminals 24a, 25a, 26a are electrically connected to each other, whereby the coaxial connectors 4a, 4b, 4c are connected. The contacts 15a, 15b, 15c of the socket 15 are connected. Check the device (not shown) that fits in the socket 15 by checking the contents displayed on the display 19, and insert the socket 15 into the socket 15 and press the start start push button switch 18 to check HFE, leak current, saturation voltage, etc. Is applied to the contacts 15a, 15b, 15c of the socket 15 through the coaxial connectors 4a, 4b, 4c, and the same HFE measurement as described above is repeated. The same operation is performed for the second to n-1th sockets other than the above-mentioned first and nth sockets out of n sockets, and a device suitable for each socket is inspected.
【0010】[0010]
【考案の効果】 この考案は以上説明したように、小形、低接触抵抗及び電流容量の大きい複数 のスイッチ素子によるセレクター機能により、テストアダプターの交換をしない で短時間に、かつ誤りなく使用するソケットの選択及びソケットへのデバイスの 挿入ができ、しかも微少電流、電圧から比較的電流容量の大きいデバイスの検査 ができることの他に、ソケットのみを集中配置することによってテストアダプタ ーの製作費用の削減を図れるという効果がある。As described above, the present invention provides a socket that can be used in a short time and without error without replacing the test adapter by the selector function of a plurality of switch elements having a small size, low contact resistance and large current capacity. In addition to the ability to select devices and insert devices into sockets, and to inspect devices with relatively large current capacities from minute current and voltage, centralized placement of sockets reduces test adapter manufacturing costs. There is an effect that it can be achieved.
【図1】この考案の実施例1を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a first embodiment of the present invention.
【図2】この考案の実施例1を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.
【図3】この考案の実施例1を示すスイッチ素子の断面
図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a switch element showing the first embodiment of the present invention.
【図4】この考案の実施例1を示す表示器の表示画面で
ある。FIG. 4 is a display screen of a display device showing Embodiment 1 of the present invention.
【図5】従来のテスト治具を示す正面図である。FIG. 5 is a front view showing a conventional test jig.
【図6】従来のテストアダプターの側面図である。FIG. 6 is a side view of a conventional test adapter.
【図7】従来のテスト治具の内部接続を示す接続図であ
る。FIG. 7 is a connection diagram showing internal connection of a conventional test jig.
1 テスト治具 14 発光ダイオード 19 表示器 20 セレクター 21 スイッチ素子 30 可動接触子 35 水銀 1 Test Jig 14 Light Emitting Diode 19 Display 20 Selector 21 Switch Element 30 Moving Contact 35 Mercury
Claims (1)
体デバイスの特性検査を容易にするために種類の異なる
複数個のデバイスに対応するソケットを平面上に配置し
たパネル面、デバイスの挿入方向を分かりやすくするた
めに、デバイスとソケット間の電極配置の対応を図示で
きるように液晶、プラズマパネル等から構成された表示
器、各ソケットへの測定信号を切替えるためにガラス管
内部に水銀を入れ、それに常時接触させた共通端子と、
外部電気信号により動作時、上記水銀面に接触する可動
接触子とにより形成したスイッチ素子を複数個集めて多
入力1出力回路を構成し、自動特性テスターのプログラ
ムにより制御されるセレクターとから成り、ソケットの
交換なしに複数のソケットの中から検査に使用するソケ
ットのみを自動的に選択し、識別及び測定できることを
特徴とするテスト治具。[Claims for utility model registration] 1. Sockets corresponding to a plurality of different types of devices are arranged on a plane in order to facilitate characteristic inspection of semiconductor devices having various outer shapes and electrode arrangements. In order to make it easier to understand the panel surface and the insertion direction of the device, to display the correspondence of the electrode arrangement between the device and the socket, the display composed of liquid crystal, plasma panel, etc., to switch the measurement signal to each socket A common terminal that contains mercury inside the glass tube and is in constant contact with it.
When operating by an external electric signal, a plurality of switch elements formed by the movable contactor that contacts the mercury surface are assembled to form a multi-input one-output circuit, and the selector is controlled by the program of the automatic characteristic tester. A test jig that can automatically select, identify and measure only the socket to be used for inspection from multiple sockets without replacing the socket.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5384591U JPH056378U (en) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | Test jig |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5384591U JPH056378U (en) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | Test jig |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH056378U true JPH056378U (en) | 1993-01-29 |
Family
ID=12954113
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5384591U Pending JPH056378U (en) | 1991-07-11 | 1991-07-11 | Test jig |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH056378U (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61155303U (en) * | 1985-03-16 | 1986-09-26 | ||
JPS61231201A (en) * | 1985-04-03 | 1986-10-15 | 市川 正 | Underwear for man |
-
1991
- 1991-07-11 JP JP5384591U patent/JPH056378U/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61155303U (en) * | 1985-03-16 | 1986-09-26 | ||
JPS61231201A (en) * | 1985-04-03 | 1986-10-15 | 市川 正 | Underwear for man |
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