JPH0563289A - Wide stripe type semiconductor laser - Google Patents

Wide stripe type semiconductor laser

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Publication number
JPH0563289A
JPH0563289A JP15761391A JP15761391A JPH0563289A JP H0563289 A JPH0563289 A JP H0563289A JP 15761391 A JP15761391 A JP 15761391A JP 15761391 A JP15761391 A JP 15761391A JP H0563289 A JPH0563289 A JP H0563289A
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JP
Japan
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semiconductor laser
stripe
wide
type semiconductor
active layer
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Application number
JP15761391A
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Japanese (ja)
Inventor
Tamio Yoshida
多見男 吉田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPH0563289A publication Critical patent/JPH0563289A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a wide strip type semiconductor laser having excellent light condensing properties in a simple structure. CONSTITUTION:A central protrusion 61a is so formed in a stripe 61 that the length of a resonator of a central part becomes longer than those of both ends in a wide stripe type semiconductor laser, thereby increasing an oscillation gain at the center of the stripe 61 over that at the other.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、高出力で集光性に優れ
た広ストライプ型半導体レーザに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wide stripe type semiconductor laser having a high output and an excellent light converging property.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体レーザの応用分野拡大のためには
高出力化が望まれるが、高出力化を図るためには、レー
ザ端面における光密度を小さくする必要がある。何故な
らレーザ端面の結晶表面には、多数の非発光再結合準位
が存在し、レーザ光の一部がそこで吸収され熱が発生す
るため光密度がある限界を越えると局部的に結晶が溶融
してしまい、回復不可能な損傷を受けるためである。そ
こで、このような問題点に対応するため、発光面積を大
きくして光密度を小さくした広ストライプ型半導体レー
ザや広ストライプアレイ型半導体レーザが種々開発され
ている。図6,図7は、窓付きダブルヘテロ構造の広ス
トライプ半導体レーザ100の基本的な構造を示してお
り、基板104上に上下2つのクラッド層102、10
3で挟み込むようにしてn型半導体の活性層101を成
長させてから、SiO2などの絶縁膜105で矩形スト
ライプ106aの形状に応じた部分にp型ドーパントを
拡散させて発光領域を形成し、最後に半導体基体100
aの上下両面に電極106,107を形成した積層構造
体となっており、活性層101の両端部には光吸収の少
ない窓部を形成した構造となっている。
2. Description of the Related Art A higher output is desired for expanding the field of application of semiconductor lasers, but in order to increase the output, it is necessary to reduce the light density at the laser end face. Because there are many non-radiative recombination levels on the crystal surface of the laser facet, part of the laser light is absorbed there and heat is generated, so if the optical density exceeds a certain limit, the crystal melts locally. This is because it causes irreparable damage. Therefore, in order to deal with such a problem, various wide stripe type semiconductor lasers and wide stripe array type semiconductor lasers having a large light emitting area and a low light density have been developed. 6 and 7 show the basic structure of a wide stripe semiconductor laser 100 having a double hetero structure with a window, in which two upper and lower clad layers 102, 10 are formed on a substrate 104.
The active layer 101 of n-type semiconductor is grown so as to be sandwiched by 3 and then the p-type dopant is diffused into a portion corresponding to the shape of the rectangular stripe 106a by the insulating film 105 such as SiO 2 to form the light emitting region. The semiconductor substrate 100
This is a laminated structure in which electrodes 106 and 107 are formed on both upper and lower surfaces of a, and window portions with little light absorption are formed at both ends of the active layer 101.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
構造の広ストライプ型の半導体レーザにあっては、活性
層に垂直な遠視野像のパターンは図8のaで示したよう
に単峰特性を呈するが、レーザ光の集光性に影響を与え
る活性層に平行な遠視野像のパターンは図8のbで示し
たように双峰特性を呈するために、レーザ光を集光して
用いるような用途には不向きとされていた。この原因は
高次モードの発振に加えて、半導体内部の電流(熱)の
分布も反映したものと考えられている。なお、図8にお
いて、θH/2、θV/2は活性層に水平、垂直方向の
出力の半値幅を示している。
However, in the wide-stripe type semiconductor laser having such a structure, the far-field pattern perpendicular to the active layer has a unimodal characteristic as shown in FIG. However, since the pattern of the far-field pattern parallel to the active layer that affects the converging property of the laser light exhibits the bimodal characteristics as shown in FIG. 8B, the laser light is condensed and used. It was not suitable for such uses. It is considered that this is due to the distribution of the current (heat) inside the semiconductor in addition to the oscillation of the higher mode. Note that, in FIG. 8, θH / 2 and θV / 2 indicate half-widths of outputs in the horizontal and vertical directions on the active layer.

【0004】そこで、このような問題に対する従来の解
決方法としては、図9に示したように、半導体基体20
0の前、後端面200a,200bに反射率の異なる部
分反射膜202,203(前面202に対して後面20
3の反射率を大きくしている)を形成し、発光領域20
1における基本モードのしきい値電流を他の高次モード
のしきい値より低下させて、基本モードの発振を容易に
する方法が提案されており、この方法では、図10に示
したように活性層に平行な遠視野像のパターンは、中央
をビーム状に尖らせた単峰特性が得られているが、製造
時には部分反射膜を形成しなければならないという複雑
なプロセスが必要となっていた。本発明は、このような
事情に鑑みてなされたもので、広ストライプ型半導体レ
ーザにおいても、簡易な方法で活性層に平行な遠視野像
のパターンが単峰特性を呈する集光性に優れた高出力半
導体レーザを提供することを目的としている。
Therefore, as a conventional solution to such a problem, as shown in FIG.
0, the front and rear end faces 200a and 200b have partial reflection films 202 and 203 having different reflectances.
3 is increased), and the light emitting region 20 is formed.
There has been proposed a method of lowering the threshold current of the fundamental mode in No. 1 below that of the other higher-order modes to facilitate oscillation of the fundamental mode. The far-field pattern parallel to the active layer has a single-peaked characteristic in which the center is sharpened in a beam shape, but a complicated process of forming a partially reflective film is required at the time of manufacturing. It was The present invention has been made in view of the above circumstances, and even in a wide-stripe semiconductor laser, the far-field pattern parallel to the active layer exhibits a single-peak characteristic with a simple method and is excellent in light converging property. It is intended to provide a high-power semiconductor laser.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的は、広ストライ
プ型の半導体レーザにおけるストライプの形状を、発光
領域の中心部における共振器長が、両端側の共振器長よ
りも長くした本発明によって達成される。
The above object is achieved by the present invention in which the stripe shape in a wide stripe type semiconductor laser is such that the resonator length in the central portion of the light emitting region is longer than the resonator lengths at both ends. To be done.

【0006】[0006]

【作用】本発明で提案された広ストライプ型半導体レー
ザによれば、ストライプ中央部での発振利得が大きくな
るので、基本モードが発振しやすくなる。このため、活
性層に水平な方向の遠視野像パターンは単峰特性を呈
し、集光特性に優れる。
According to the wide stripe type semiconductor laser proposed in the present invention, since the oscillation gain in the central portion of the stripe becomes large, the fundamental mode easily oscillates. For this reason, the far-field pattern in the direction horizontal to the active layer exhibits a single-peaked characteristic and is excellent in the light-condensing characteristic.

【0007】このような本発明の広ストライプ型半導体
レーザは、次のようなレーザ発振開始条件から推論され
る。すなわち、一般に、共振器長Lと利得領域(発光領
域)長L1が異なる図4に示したような窓構造レーザを
考え、その閾利得係数をgth(レーザ発信が開始する
ときの利得係数)とすると(説明を簡略化するために共
振器長の全長にわたって損失係数αは同じものとす
る)、gthは gth=(L/L1)α+ln(1/R1・R2)/2L1 で与えられる。ここに、lnは自然対数であり、R1,
R2は共振器の前、後端に於ける光反射率、αは損失係
数である。この式より、L1が大きい程、閾利得係数g
thが小さくなることが分かる。閾利得係数gthは注
入電流に伴って増大するため、閾利得係数gthが小さ
い程、小さい電流値でレーザ発振が起こることになる。
したがって、このような発振条件を本発明半導体レーザ
に当てはめて考えると、ストライプの中央突出部は、そ
の両端部よりL1が大きいために、閾利得係数gthも
小さくなってレーザ発振のしきい電流値が小さくなる。
その結果、基本モードの発振(中央突出部での発振)が
他の高次モード発振より得やすくなって、活性層に平行
な遠視野像のパターンは単峰特性を呈することになる。
The wide-stripe semiconductor laser of the present invention as described above is inferred from the following laser oscillation starting conditions. That is, generally, a window structure laser as shown in FIG. 4 in which the cavity length L and the gain region (light emitting region) length L1 are different is considered, and its threshold gain coefficient is defined as gth (gain coefficient when laser emission starts). Then (to simplify the explanation, the loss coefficient α is the same over the entire length of the resonator length), gth is given by gth = (L / L1) α + ln (1 / R1 · R2) / 2L1. Here, ln is a natural logarithm, and R1,
R2 is the light reflectance at the front and rear ends of the resonator, and α is the loss coefficient. From this equation, the larger L1 is, the threshold gain coefficient g
It can be seen that th becomes smaller. Since the threshold gain coefficient gth increases with the injection current, the smaller the threshold gain coefficient gth, the smaller the current value that the laser oscillation occurs.
Therefore, when applying such an oscillation condition to the semiconductor laser of the present invention, since the central protruding portion of the stripe has L1 larger than both ends thereof, the threshold gain coefficient gth also becomes small, and the threshold current value of laser oscillation is reduced. Becomes smaller.
As a result, the fundamental mode oscillation (oscillation at the central protrusion) is more easily obtained than other higher order mode oscillations, and the far-field pattern parallel to the active layer exhibits a single-peak characteristic.

【0008】[0008]

【実施例】以下に添付図を参照して、本発明の一実施例
を説明する。図1は、本発明の一実施例を示したもの
で、1はn型半導体による活性層、2、3は活性層1を
上下より挟み込んだクラッド層、4は半導体基板であ
り、5はレーザ発振に必要な電流挟窄とストライプ61
の形状を規定するため、クラッド層2の上面に形成され
た絶縁層で、半導体基体1aの上下両面には、電極6,
7を蒸着した構造体Aとなっている。活性層1の発光領
域11はストライプに合わせた形状に形成され、本発明
ではストライプ61を、図3の(a)〜(d)に示した
ように、中央突出部61aが形成されるように両端部よ
り長くして、その部分の共振器長L1を両端部L2より
も長くした形状としているのが特徴となっている。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, in which 1 is an active layer made of an n-type semiconductor, 2 and 3 are clad layers sandwiching the active layer 1 from above and below, 4 is a semiconductor substrate, and 5 is a laser. Current constriction required for oscillation and stripe 61
In order to define the shape of the insulating layer formed on the upper surface of the clad layer 2, the electrodes 6, 6 are formed on the upper and lower surfaces of the semiconductor substrate 1a.
It is a structure A in which 7 is deposited. The light emitting region 11 of the active layer 1 is formed in a shape matching the stripe. In the present invention, the stripe 61 is formed so that the central protruding portion 61a is formed as shown in FIGS. It is characterized in that it is made longer than both ends, and the resonator length L1 at that portion is made longer than both ends L2.

【0009】図2は、このような本発明半導体レザーを
より具体的に示したものである。n−GaAs基板4の
上に、n−Al0.3Ga0.7As,n−Al0.3Ga0.7A
sより成る上下のクラッド層2,3で挟まれるようにし
てn−Al0.06Ga0.94Asより成る活性層1を形成
し、上側のクラッド層2の上面に、図3(a)〜(d)
に示されたような中央突出部61aを形成した形状のス
トライプ61を規定する絶縁膜5をSiO2 で形成した
後、Znなどのp型ドーパントを上側のクラッド層2の
上面より活性層1内部に拡散させて発光領域11を形成
し、最後に半導体基体の上下両面にp型、n型電極6,
7を蒸着させてAlGaAs系半導体レーザAを構成し
ている。このようなものでは、n型半導体の活性層1に
Znなどのp型ドーパントを拡散させて、ストライプ6
1の中央に突出部61aが形成されるようにして発光領
域11を形成しているので、活性層1のp型ドーパント
によって拡散されていない両端部分には、発光領域11
より実効的なバンドギャップの大きい光吸収の少ない窓
部11aが形成されるので、高出力時にも活性層1の端
面が損傷に強い構造となる。
FIG. 2 more specifically shows such a semiconductor laser of the present invention. On the n-GaAs substrate 4, n-Al0.3Ga0.7As, n-Al0.3Ga0.7A
An active layer 1 made of n-Al0.06Ga0.94As is formed so as to be sandwiched between upper and lower clad layers 2 and 3 made of s, and the upper surface of the upper clad layer 2 is formed as shown in FIGS.
After forming the insulating film 5 which defines the stripe 61 having the central protruding portion 61a as shown in FIG. 2 by SiO2, a p-type dopant such as Zn is introduced from the upper surface of the upper cladding layer 2 to the inside of the active layer 1. The light emitting region 11 is formed by diffusion, and finally, the p-type and n-type electrodes 6, 6 are formed on both upper and lower surfaces of the semiconductor substrate.
7 is vapor-deposited to form an AlGaAs semiconductor laser A. In such a structure, a stripe 6 is formed by diffusing a p-type dopant such as Zn into the active layer 1 of the n-type semiconductor.
Since the light emitting region 11 is formed such that the protruding portion 61a is formed in the center of the light emitting region 1, the light emitting region 11 is formed at both end portions of the active layer 1 which are not diffused by the p-type dopant.
Since the window portion 11a having a larger effective band gap and less light absorption is formed, the end surface of the active layer 1 is resistant to damage even at high output.

【0010】本発明の半導体レーザは、以上のような構
造に限定されず、図5に示したように、共通の半導体基
体1aに、中央突出部61aを有した複数のストライプ
61を互いに平行に配列したアレイ構造体Bに構成して
もよく、このようなものでは、一層高出力化が図れる。
The semiconductor laser of the present invention is not limited to the above structure, and as shown in FIG. 5, a plurality of stripes 61 having a central protruding portion 61a are arranged in parallel on a common semiconductor substrate 1a. The array structure B may be arranged, and in such a structure, higher output can be achieved.

【0011】[0011]

【発明の効果】本発明の広ストライプ型半導体レーザに
よれば、発光領域の形状を規定するストライプの形状を
変えるのみで、活性層に平行な遠視野像のパターンが単
峰形状となるビーム特性が得られるので、集光性に優れ
た高出力半導体レーザを実現できる。
According to the wide-stripe type semiconductor laser of the present invention, the beam characteristic that the pattern of the far-field pattern parallel to the active layer becomes a unimodal shape only by changing the shape of the stripe that defines the shape of the light emitting region. Therefore, it is possible to realize a high-power semiconductor laser having excellent light-collecting properties.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の広ストライプ型半導体レーザの一部を
切欠いた斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view in which a part of a wide stripe type semiconductor laser of the present invention is cut away.

【図2】本発明の広ストライプ型半導体レーザのより具
体的な縦断面構造図である。
FIG. 2 is a more detailed vertical cross-sectional structural diagram of the wide-stripe semiconductor laser of the present invention.

【図3】(a)〜(b)は本発明において採用される広
ストライプの形状を示した図である。
3 (a) and 3 (b) are views showing the shape of a wide stripe adopted in the present invention.

【図4】窓付き半導体レーザの基本的な構造説明図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a basic structure of a windowed semiconductor laser.

【図5】本発明の広ストライプ型半導体レーザの他例を
示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing another example of the wide stripe type semiconductor laser of the present invention.

【図6】従来の広ストライプ型半導体レーザの一部を切
欠いた斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view in which a part of a conventional wide stripe type semiconductor laser is cut away.

【図7】図6に示した半導体レーザの縦断面構造図であ
る。
FIG. 7 is a vertical sectional structural view of the semiconductor laser shown in FIG.

【図8】従来の広ストライプ型半導体レーザの遠視野像
のパターンを示した図である。
FIG. 8 is a diagram showing a far-field pattern of a conventional wide-stripe semiconductor laser.

【図9】部分反射面を形成した従来の半導体レーザの説
明図。
FIG. 9 is an explanatory view of a conventional semiconductor laser having a partially reflecting surface.

【図10】図9に示した半導体レーザにおける活性層に
平行な遠視野像のパターン説明図である。
10 is a pattern explanatory view of a far-field image parallel to the active layer in the semiconductor laser shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A,B・・・本発明の広ストライプ型半導体レーザ 1・・・活性層 2,3・・・クラッド層 61・・・ストライプ 61a・・・その中央突出部 11・・・発光領域(p型ドーパントによる拡散層) 11a・・・窓部 A, B ... Wide-stripe semiconductor laser of the present invention 1 ... Active layer 2, 3 ... Cladding layer 61 ... Stripe 61a ... Central protrusion 11 ... Light emitting region (p-type) Diffusion layer by dopant) 11a ... Window

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成4年9月17日[Submission date] September 17, 1992

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図面の簡単な説明[Name of item to be corrected] Brief explanation of the drawing

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の広ストライプ型半導体レーザの一部を
切欠いた斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view in which a part of a wide stripe type semiconductor laser of the present invention is cut away.

【図2】本発明の広ストライプ型半導体レーザのより具
体的な縦断面構造図である。
FIG. 2 is a more detailed vertical cross-sectional structural diagram of the wide-stripe semiconductor laser of the present invention.

【図3】(a)〜(d)は本発明において採用される広
ストライプの形状を示した図である。
3 (a) to 3 (d) are views showing the shape of a wide stripe adopted in the present invention.

【図4】窓付き半導体レーザの基本的な構造説明図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a basic structure of a windowed semiconductor laser.

【図5】本発明の広ストライプ型半導体レーザの他例を
示す斜視図である。
FIG. 5 is a perspective view showing another example of the wide stripe type semiconductor laser of the present invention.

【図6】従来の広ストライプ型半導体レーザの一部を切
欠いた斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view in which a part of a conventional wide stripe type semiconductor laser is cut away.

【図7】図6に示した半導体レーザの縦断面構造図であ
る。
FIG. 7 is a vertical sectional structural view of the semiconductor laser shown in FIG.

【図8】従来の広ストライプ型半導体レーザの遠視野像
のパターンを示した図である。
FIG. 8 is a diagram showing a far-field pattern of a conventional wide-stripe semiconductor laser.

【図9】部分反射面を形成した従来の半導体レーザの説
明図。
FIG. 9 is an explanatory view of a conventional semiconductor laser having a partially reflecting surface.

【図10】図9に示した半導体レーザにおける活性層に
平行な遠視野像のパターン説明図である。
10 is a pattern explanatory view of a far-field image parallel to the active layer in the semiconductor laser shown in FIG.

【符号の説明】 A,B・・・本発明の広ストライプ型半導体レーザ 1・・・活性層 2,3・・・クラッド層 61・・・ストライプ 61a・・・その中央突出部 11・・・発光領域(p型ドーパントによる拡散層) 11a・・・窓部[Description of Reference Signs] A, B ... Wide-stripe semiconductor laser of the present invention 1 ... Active layer 2, 3 ... Cladding layer 61 ... Stripe 61a ... Central protrusion 11 ... Light emitting region (diffusion layer by p-type dopant) 11a ... Window

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 広ストライプ型半導体レーザにおいて、 中央部の共振器長が両端部より長くなるように中央突出
部をストライプに形成して、ストライプ中央部における
発振利得を他部分よりも大きくしたことを特徴とする広
ストライプ型半導体レーザ。
1. In a wide-stripe semiconductor laser, a central protruding portion is formed in a stripe so that the cavity length of the central portion is longer than that of both ends, and the oscillation gain in the central portion of the stripe is made larger than that of other portions. Wide-stripe semiconductor laser characterized by:
JP15761391A 1991-05-31 1991-05-31 Wide stripe type semiconductor laser Pending JPH0563289A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002518857A (en) * 1998-09-23 2002-06-25 サーノフ コーポレーション High power semiconductor light source
JP2008544560A (en) * 2005-06-28 2008-12-04 ブッカム テクノロジー ピーエルシー High power semiconductor optoelectronic optical device
EP4266515A4 (en) * 2022-03-04 2023-12-20 Suzhou Everbright Photonics Co., Ltd. Highly reliable low defect semiconductor light-emitting device and preparation method therefor

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

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