JPH0554772B2 - - Google Patents

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JPH0554772B2
JPH0554772B2 JP60136520A JP13652085A JPH0554772B2 JP H0554772 B2 JPH0554772 B2 JP H0554772B2 JP 60136520 A JP60136520 A JP 60136520A JP 13652085 A JP13652085 A JP 13652085A JP H0554772 B2 JPH0554772 B2 JP H0554772B2
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JP
Japan
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level
section
peak
light
signal
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Kiwamu Horiguchi
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Topcon Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光量調整機能付き眼科器械の改良に
関するものである (従来の技術) 従来から眼科器械には、被検眼の眼底に複数個
の指標像を投影し、その指標像のスプリツト量を
測定してそのスプリツト間隔に基づいて眼屈折力
を測定するようにしたものが知られている。この
従来の眼科器械では、指標像のスプリツト間隔を
求めるために、その眼底からの反射光を検出光学
系により検出して光電変換部に結像させ、その光
電変換部からの指標像を含んだ光電変換信号A
(第1図参照)を矩形波信号Bに変換し、その矩
形波信号Bの平均間隔lをその立上りと立下がり
とから求め、その平均間隔lに基づいて球面度
数、乱視軸、乱視度数(S、C、A)を措定する
ようにしている。
Detailed Description of the Invention (Industrial Field of Application) The present invention relates to an improvement in an ophthalmological instrument with a light intensity adjustment function (prior art). There is a known method in which an index image is projected, the amount of splitting of the index image is measured, and the eye refractive power is measured based on the split interval. In this conventional ophthalmological instrument, in order to determine the split interval of the index image, the reflected light from the fundus of the eye is detected by the detection optical system and imaged on the photoelectric conversion section, and the index image from the photoelectric conversion section is included. Photoelectric conversion signal A
(see Figure 1) is converted into a rectangular wave signal B, the average interval l of the rectangular wave signal B is determined from its rise and fall, and based on the average interval l, the spherical power, astigmatic axis, and astigmatic power ( S, C, A) are assumed.

(発明が解決しようとする問題点) ところが、この従来の眼科器械では、スライス
レベルの設定の仕方によつて矩形波信号Bの平均
間隔lが変化する。そこで、従来は、10数本のス
ライスレベルSLを第1図に示すように用意して
おいてこれを順次セレクトし、矩形波信号Bをと
りだしうる範囲を定めてから、その範囲の丁度真
中のスライスレベルSLを最適スライスレベルと
して用いているが、人間の眼底の反射率には個人
差があり、その差は約3倍程度に及んでおり、眼
底反射率が低い場合には、第2図に示すように指
標像信号の出力が低くなり、相対的にS/N比が
低下してデータにバラツキを生じ、眼屈折力を正
確に測定できない不具合がある。また、眼底反射
率が高い場合には2個の指標像信号がいわゆるニ
ジミにより重なり合つて指標像信号間の谷間が上
昇し、あらかじめ準備した10数本のスライスレベ
ルSLでは、最適スライスレベルの設定が困難と
なる。また、投影光学系の光源部の経年変化に基
づく光量の減衰によつて投影光量が不足して眼底
反射率が低い場合と同様の結果を招くおそれもあ
る。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in this conventional ophthalmological instrument, the average interval l of the rectangular wave signal B changes depending on how the slice level is set. Conventionally, a dozen or so slice levels SL are prepared as shown in Figure 1, and these are selected in sequence to determine the range from which the rectangular wave signal B can be extracted. Slice level SL is used as the optimal slice level, but there are individual differences in the reflectance of the human fundus, and the difference is about 3 times, so if the fundus reflectance is low, Figure 2 As shown in FIG. 2, the output of the index image signal becomes low, and the S/N ratio decreases relatively, causing variations in data, and there is a problem that the eye refractive power cannot be measured accurately. In addition, when the fundus reflectance is high, the two index image signals overlap due to so-called blurring, and the valley between the index image signals increases. becomes difficult. Furthermore, there is a risk that the projection light amount is insufficient due to attenuation of the light amount due to aging of the light source section of the projection optical system, resulting in the same result as when the fundus reflectance is low.

(発明の目的) そこで、本発明の目的は、被検眼眼底からの反
射光量に応じて投影光量を調節することのできる
眼科器械を提供することにある。
(Object of the Invention) Therefore, an object of the present invention is to provide an ophthalmological instrument that can adjust the amount of projected light according to the amount of reflected light from the fundus of the eye to be examined.

(問題点を解決するための手段) 本発明の眼科器械の特徴は、 光源部を含んで該光源部からの射出光に基づい
て複数の指標を被検眼眼底に投影する投影光学系
と、 前記投影光学系によつて投影された指標の被検
眼眼底における反射光を検出する検出光学系と、 該検出光学系によつて検出された反射光を受光
して複数個の指標像信号を含んだ光電変換信号を
出力する光電変換部と、 前記複数の指標像信号のピークレベルを検出す
るピーク検出部と、 該ピーク検出部により検出されたピークレベル
を所定レベルと比較してその結果を出力する比較
部と、 該比較部の出力を受けて前記ピークレベルが所
定レベルとなるように前記光源の光量を制御する
光量制御部と、 前記複数の指標像信号の谷底をボトムレベルと
して検出するボトムレベル検出部と、 前記比較部から出力される前記ピークレベルと
前記所定レベルとが略一致した場合、前記ピーク
レベルと前記ボトムレベルとに基づいて最適スラ
イスレベルを設定するスライスレベル設定部と、 前記スライスレベルに基づいて前記光電変換信
号を矩形波に変換し、矩形波信号を出力する矩形
波変換部と、 前記矩形波信号を受け取つて信号処理を施す信
号処理部と、 を有するところにある。
(Means for Solving the Problems) The ophthalmological instrument of the present invention is characterized by: a projection optical system that includes a light source and projects a plurality of indicators onto the fundus of the examinee's eye based on light emitted from the light source; a detection optical system that detects reflected light on the fundus of the subject's eye of the index projected by the projection optical system; and a detection optical system that receives the reflected light detected by the detection optical system and includes a plurality of index image signals. a photoelectric conversion unit that outputs a photoelectric conversion signal; a peak detection unit that detects peak levels of the plurality of index image signals; and a peak detection unit that compares the peak level detected by the peak detection unit with a predetermined level and outputs the result. a comparison section; a light amount control section that receives the output of the comparison section and controls the amount of light from the light source so that the peak level becomes a predetermined level; and a bottom level that detects the bottom of the plurality of index image signals as a bottom level. a detection unit; a slice level setting unit that sets an optimal slice level based on the peak level and the bottom level when the peak level output from the comparison unit and the predetermined level substantially match; The apparatus includes: a rectangular wave converting section that converts the photoelectric conversion signal into a rectangular wave based on the level and outputs the rectangular wave signal; and a signal processing section that receives the rectangular wave signal and performs signal processing.

(作用) このものによれば、被検眼眼底からの反射光量
に応じて投影光量を自動的に調節することがで
き、検出に適したレベルの指標像信号が得られる
と共に、適切なスレツシヨルドレベルによつて正
確な視標像位置が得られることにより正しい測定
が行われる。
(Function) According to this device, the amount of projected light can be automatically adjusted according to the amount of reflected light from the fundus of the examined eye, and an index image signal of a level suitable for detection can be obtained, and an appropriate threshold can be adjusted. Correct measurements can be made by obtaining accurate visual target image positions based on the level.

(実施例) 以下、本発明に係る光量調整機能付き眼科器械
を自動眼屈折力測定装置に適用した実施例を図面
に基づいて説明する。
(Example) Hereinafter, an example in which an ophthalmological instrument with a light amount adjustment function according to the present invention is applied to an automatic eye refractive power measurement device will be described based on the drawings.

第3図ないし第10図はこの発明の第1実施例
を示すものであり、第3図は自動眼屈折力測定装
置の光学系である。図において、1は指標像投影
系であり、この指標像投影系1は不可視光の測定
に用いる指標板に照射することにより形成された
複数の指標像を被検眼2の眼底に投影する機能を
有し、3は検出光学系であり、この検出光学系は
指標像投影系1によつて投影された指標像の被検
眼2の眼底における反射光を検出して光電変換部
としての撮像装置4の撮像面4aに結像させる機
能を有し、5は注視目標投影系であり、この注視
目標投影系5は、他覚測定を行なう場合に注視目
標を被検眼2に投影する機能を有している。
3 to 10 show a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 shows an optical system of an automatic eye refractive power measuring device. In the figure, 1 is an index image projection system, and this index image projection system 1 has the function of projecting a plurality of index images formed by irradiating an index plate used for measuring invisible light onto the fundus of the eye 2 to be examined. 3 is a detection optical system, and this detection optical system detects the reflected light of the target image projected by the target image projection system 1 on the fundus of the eye 2 to be examined, and connects it to an imaging device 4 as a photoelectric conversion unit. 5 is a gaze target projection system, and this gaze target projection system 5 has a function of projecting a gaze target onto the subject's eye 2 when performing objective measurement. ing.

指標像投影系1は、光源部としてのLED
(Light emitting diode)6を有し、この光源6
は、被検眼2の縮瞳を防止するために、不可視光
であるところの赤外光を発する。この光源6から
の赤外光はコンデンサレンズ7を介して指標板8
に照射され、指標板8は光軸x方向に移動可能で
ある。この指標板8は、第4図に示すように4つ
のスリツト(間隔lが同じて平行な上下2組のス
リツト)を有する薄板8aとこの薄板8aに接
し、スリツトを通過した光がスリツトの長手方向
と直角な方向に光束を偏角させる4つの偏角プリ
ズム8b〜8eとから構成されている。指標板8
に照射された不可視光からなる2組の平行な指標
像は、反射プリズム9,10、リレーレンズ1
1、反射プリズム12、2つの半月状開口部を有
する半月絞り13、スリツト状の孔14aを有す
るスリツトプリズム14、イメージローテータ1
5、対物レンズ16、ビームスプリツタ17によ
り被検眼2の瞳孔を通つてその眼底に投影され
る。なお、半月絞り13は被検眼2の瞳と共役な
位置に配置されている。イメージローテータ15
は被検眼2の眼底に投影される指標像を被検眼の
所定経線方向に回転させるために、光軸yに対し
て回転可能に配置されており、イメージローテー
タ15の回転角度θ/2に対して被検眼眼底に投
影される指標像は角度にしてθ度回転するように
なつている。ビームスプリツタ17は赤外光を透
過し、可視光を反射する特性を有している。
The target image projection system 1 includes an LED as a light source.
(Light emitting diode) 6, this light source 6
emits infrared light, which is invisible light, in order to prevent miosis of the eye 2 to be examined. The infrared light from this light source 6 passes through a condenser lens 7 to an index plate 8.
The index plate 8 is movable in the optical axis x direction. As shown in FIG. 4, this indicator plate 8 has a thin plate 8a having four slits (two sets of parallel upper and lower slits with the same interval l) and is in contact with this thin plate 8a, so that the light passing through the slits is directed along the longitudinal direction of the slits. It is composed of four deflection prisms 8b to 8e that deflect the light beam in a direction perpendicular to the direction. Index board 8
Two sets of parallel index images made of invisible light irradiated on the reflection prisms 9 and 10 and the relay lens 1
1, a reflecting prism 12, a half-moon diaphragm 13 having two half-moon-shaped openings, a slit prism 14 having a slit-like hole 14a, and an image rotator 1.
5. The light is projected onto the fundus of the eye 2 through the pupil of the eye 2 by the objective lens 16 and beam splitter 17. Note that the half-moon diaphragm 13 is arranged at a position conjugate with the pupil of the eye 2 to be examined. image rotator 15
is arranged rotatably with respect to the optical axis y in order to rotate the index image projected onto the fundus of the eye to be examined 2 in a predetermined meridian direction of the eye to be examined, and is rotated with respect to the rotation angle θ/2 of the image rotator 15. The index image projected onto the fundus of the examinee's eye is rotated by θ degrees. The beam splitter 17 has a characteristic of transmitting infrared light and reflecting visible light.

検出光学系において、被検眼2の眼底において
反射された指標像は、ビームスプリツタ17、対
物レンズ16、イメージローテータ15、スリツ
タプリズム14のスリツト状の孔14a、円形の
開口部18aを有する開口絞り18、リレーレン
ズ19、反射プリズム20,21、黒点板22、
移動レンズ23、反射ミラー24、結像レンズ2
5を介して撮像面4aに結像される。なお、開口
絞り18は、被検眼の瞳と共役な位置に配置さ
れ、開口部18aは被検眼の瞳孔を通過する光だ
けを通す。黒点板22は対物レンズ16により反
射された測定に有害な光を除去する。移動レンズ
23は黒点板22と共に指標板8と一体で光軸Z
に沿つて移動可能となつている。この指標板8と
撮像面4aとは常に共役な位置関係に保持されて
いる。
In the detection optical system, the index image reflected on the fundus of the eye 2 to be examined is transmitted through the beam splitter 17, the objective lens 16, the image rotator 15, the slit-shaped hole 14a of the slit prism 14, and the aperture having a circular opening 18a. Aperture 18, relay lens 19, reflective prisms 20, 21, black spot plate 22,
Moving lens 23, reflecting mirror 24, imaging lens 2
5, the image is formed on the imaging surface 4a. Note that the aperture stop 18 is arranged at a position conjugate with the pupil of the eye to be examined, and the aperture 18a allows only light that passes through the pupil of the eye to be examined to pass through. The black spot plate 22 removes light reflected by the objective lens 16 that is harmful to the measurement. The movable lens 23 is integrated with the index plate 8 together with the black dot plate 22, and is aligned with the optical axis Z.
It is now possible to move along the The index plate 8 and the imaging surface 4a are always maintained in a conjugate positional relationship.

撮像面4aに結像する指標像は、イメージロー
テータ15を再び通過して来るために、被検眼2
の眼底に投影した指標像と逆方向に同角度回転す
る。従つてこの撮影面4aに結像した指標像は、
イメージローテータ15の回転角度にかかわら
ず、指標板8によつて形成された指標像のスリツ
トの向きが同じで常に一定方向に保持される。一
方、撮像装置4は、撮像面4aに結像した指標像
に応じて光電変換信号を出力する。この光電変換
信号により表示装置26は、撮像面4aに結像し
たスリツト指標像(被検眼2の眼底で反射された
像)を表示する。
Since the index image formed on the imaging surface 4a passes through the image rotator 15 again, it
The target image is rotated by the same angle in the opposite direction to the target image projected onto the fundus of the eye. Therefore, the index image formed on this photographing surface 4a is
Regardless of the rotation angle of the image rotator 15, the orientation of the slit of the index image formed by the index plate 8 is always the same and always maintained in a constant direction. On the other hand, the imaging device 4 outputs a photoelectric conversion signal according to the index image formed on the imaging surface 4a. Based on this photoelectric conversion signal, the display device 26 displays a slit index image (an image reflected from the fundus of the eye 2 to be examined) formed on the imaging surface 4a.

これら指標像投影系1と検出光学系において、
指標板8が移動し、指標像が被検眼2の眼底上に
合焦すると、移動レンズ23の移動でその合焦状
態が撮像面4aに結像される。すると、撮像装置
4はその結像に対応した光電変換信号を発する。
この光電変換信号が入力された表示装置26は、
第5図に示すように被検眼2の眼底に合焦した指
標像の上下2組の平行のスリツト間隔が等しくな
つた状態(l2=l3)を表示する。ここで、もし投
影された指標像が被検眼2の眼底の前方に合焦し
た場合、表示装置26は、第6図に示すように指
標像の上、下2組の平行なスリツト間隔l2<l3
状態を表示する。また、投影されたスリツト測定
ターゲツト像が被検眼2の眼底の後方に合焦した
場合、表示装置26は、第6図と逆に指標像の上
下2組の平行なスリツト間隔l2>l3の状態を表示
する。これにより、検者は被検眼2の眼底に投影
された指標像の合焦状態を常に観察することがで
きる。
In these target image projection system 1 and detection optical system,
When the index plate 8 moves and the index image is focused on the fundus of the eye 2 to be examined, the moving lens 23 moves to form an image of the focused state on the imaging surface 4a. Then, the imaging device 4 emits a photoelectric conversion signal corresponding to the image formation.
The display device 26 to which this photoelectric conversion signal is input,
As shown in FIG. 5, a state is displayed in which the interval between the two pairs of upper and lower parallel slits of the index image focused on the fundus of the eye to be examined 2 is equal (l 2 =l 3 ). Here, if the projected index image is focused in front of the fundus of the subject's eye 2, the display device 26 displays two sets of parallel slits, one above and one below, of the index image at an interval l 2 as shown in FIG. <l Display the status of 3 . Further, when the projected slit measurement target image is focused behind the fundus of the eye 2 to be examined, the display device 26 displays two parallel slit intervals above and below the index image, contrary to FIG. 6 . Display the status of. Thereby, the examiner can always observe the focused state of the index image projected on the fundus of the eye 2 to be examined.

注視目標投影系5において、可視光を発する光
源27からの光は、色補正フイルタ28、コンデ
ンサレンズ29により注視目標板30に照射され
る。この注視目標板30上には、注視目標が形成
されている。光源27からの光の照射で注視目標
板30によつて形成された注視目標像は、コリメ
ータレンズ31、移動レンズ32、反射ミラー3
3,34、リレーレンズ35、反射ミラー36、
対物レンズ37、反射ミラー38、ビームスプリ
ツタ17を介して被検眼2の眼底に投影される。
なお、移動レンズ32は、光軸に沿つて移動可能
であり、他覚測定の場合には被検眼の屈折度数に
応じて被検者に雲霧視させる位置に設定され、被
検眼の調節力を除去し、正確な他覚測定を可能に
する。
In the gaze target projection system 5 , light from a light source 27 that emits visible light is irradiated onto a gaze target plate 30 through a color correction filter 28 and a condenser lens 29 . A gaze target is formed on the gaze target board 30. A gaze target image formed by the gaze target plate 30 by irradiation of light from the light source 27 is formed by a collimator lens 31, a moving lens 32, and a reflecting mirror 3.
3, 34, relay lens 35, reflective mirror 36,
The light is projected onto the fundus of the eye 2 to be examined via the objective lens 37, reflection mirror 38, and beam splitter 17.
Note that the movable lens 32 is movable along the optical axis, and in the case of objective measurement, is set at a position that causes the subject to see a cloudy vision according to the refractive power of the subject's eye, and adjusts the accommodative power of the subject's eye. removal and enable accurate objective measurements.

第7図は、上記被検眼の自動屈折力測定装置の
制御ブロツク図である。なお、図中第3図と同一
構成要素には同一符号を付してその説明を省略す
る。図において、撮像装置4は、表示装置26と
光量調節回路39と矩形波変換部40aとに接続
されている。この撮像装置4から出力される光電
変換信号によつて、表示装置26は被検眼の眼底
による反射像を表示する機能を有する。また、矩
形波変換部40aは被検眼の眼底に合焦した指標
像の位置情報を矩形波に変換する機能を有する。
この矩形波変換部40aの出力は信号処理部40
に入力され、信号処理部40は、指標像信号検出
部40b、遅延回路40c、基準信号形成部40
d、タイミング信号形成部40e、指標像位置検
出部40fから構成されている。この信号処理部
40には指標像の像緑の位置間隔情報が入力さ
れ、かつ、この情報に基づいて被検眼の屈折度数
等を算出して表示装置に表示するためのCPU4
1が接続されている。このCPU41には、測定
結果をプリントアウトするプリンタ42、駆動制
御部43が接続されている。なお、駆動制御部4
3は、指標板8及び対物レンズ23を光軸x,z
に沿つてそれぞれ移動させるための第1制御部4
3a、イメージローテータ15を光軸yの回りに
回転制御するための第2制御部43b、対物レン
ズ32を光軸に沿つて移動させるための第3制御
部43cから構成されている。これら、CPU4
1と信号処理部40とから指標像の平均間隔lが
求められ、屈折力、乱視軸、屈折度数(S、C、
A)が求められるが、本発明には直接関係しない
ので、その測定の詳細については説明を省略し、
次に光量調節回路39の説明をすることにする。
FIG. 7 is a control block diagram of the automatic refractive power measuring device for the eye to be examined. Components in the figure that are the same as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals and their explanations will be omitted. In the figure, the imaging device 4 is connected to a display device 26, a light amount adjustment circuit 39, and a rectangular wave converter 40a. The display device 26 has a function of displaying an image reflected by the fundus of the eye to be examined using the photoelectric conversion signal output from the imaging device 4. Further, the rectangular wave converter 40a has a function of converting the position information of the index image focused on the fundus of the eye to be examined into a rectangular wave.
The output of this rectangular wave converter 40a is output from the signal processor 40.
The signal processing section 40 includes an index image signal detection section 40b, a delay circuit 40c, and a reference signal formation section 40.
d, a timing signal forming section 40e, and an index image position detecting section 40f. Image green positional interval information of the index image is input to the signal processing unit 40, and the CPU 4 calculates the refractive power of the eye to be examined based on this information and displays it on the display device.
1 is connected. A printer 42 for printing out measurement results and a drive control section 43 are connected to this CPU 41. Note that the drive control section 4
3, the index plate 8 and the objective lens 23 are aligned with the optical axes x, z.
a first control unit 4 for moving each along the
3a, a second control section 43b for controlling the rotation of the image rotator 15 around the optical axis y, and a third control section 43c for moving the objective lens 32 along the optical axis. These, CPU4
1 and the signal processing unit 40, the average distance l between the index images is determined, and the refractive power, astigmatism axis, and refractive power (S, C,
A) is required, but since it is not directly related to the present invention, the details of the measurement will be omitted.
Next, the light amount adjustment circuit 39 will be explained.

光量調節回路39は、ピーク検出部44と比較
部45とボトム検出部46とスライスレベル設定
部47と光量制御部48とから大略構成されてい
る。ピーク検出部44には、撮像装置4からの光
電変換信号が入力され、このピーク検出部44
は、第8図、第9図に示すように、複数の指標像
信号のうち低い方のピークをアナログ的に検出す
る機能を有しており、そのピークレベル出力は、
比較部45とスライスレベル設定部47とに入力
されている。比較部45は、そのピークレベル出
力を所定レベルと比較してその比較結果を光量制
御部48に出力する機能を有すると共に、スライ
スレベル設定部47に出力して、スライスレベル
設定部47にボトム検出部46からの出力信号を
受け入れ可能に設定させる機能を有している。光
量制御部48は、比較部45の比較結果に基づい
てピークレベルが所定レベルと一致するように
LED6の光量を調節する機能を有し、ボトムレ
ベル検出部46は、複数の指標像信号Aの谷底を
ボトムレベルとしてアナログ的に検出する機能を
有している。このボトムレベルの出力は、スライ
スレベル設定部47に入力され、スライスレベル
設定部47は、比較部45から出力されるピーク
レベルと所定レベルとの一致結果に基づいて、ピ
ークレベルとボトムレベルとの中間レベルを最適
スライスレベルとして矩形波変換部40aに出力
する機能を有する。
The light amount adjustment circuit 39 is roughly composed of a peak detection section 44 , a comparison section 45 , a bottom detection section 46 , a slice level setting section 47 , and a light amount control section 48 . A photoelectric conversion signal from the imaging device 4 is input to the peak detection section 44 .
As shown in FIGS. 8 and 9, it has a function of detecting the lower peak of a plurality of index image signals in an analog manner, and its peak level output is as follows.
The signal is input to the comparing section 45 and the slice level setting section 47. The comparison unit 45 has a function of comparing the peak level output with a predetermined level and outputting the comparison result to the light amount control unit 48, and also outputs the comparison result to the slice level setting unit 47 so that the slice level setting unit 47 can detect the bottom. It has a function of allowing the output signal from the section 46 to be accepted. The light amount control unit 48 adjusts the peak level to match the predetermined level based on the comparison result of the comparison unit 45.
The bottom level detection section 46 has a function of adjusting the light amount of the LED 6, and a function of detecting the valley bottoms of the plurality of index image signals A as a bottom level in an analog manner. This bottom level output is input to the slice level setting section 47, and the slice level setting section 47 compares the peak level and the bottom level based on the matching result between the peak level output from the comparison section 45 and the predetermined level. It has a function of outputting the intermediate level to the rectangular wave converter 40a as the optimum slice level.

次に、この実施例に係る眼屈折力測定装置の作
用を第10図に示すフローチヤートを参照しつつ
説明する。
Next, the operation of the eye refractive power measuring device according to this embodiment will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.

まず、最初に、ピーク検出部44がピークレベ
ルVpをアナログ的に検出する(ステツプS1)。次
に、このピークレベルVpと所定レベルVとの差
が一定値以上であるか否かを判別する(ステツプ
S2)。ピークレベルVpが第8図に示すように、所
定レベルVよりも一定値ΔV以上である場合(Vp
>V+ΔV)には、光量制御部48がLED6の発
光量を減少させてこれを繰り返す(ステツプ
S3)。その次に、ピークレベルVpと所定レベルV
との差が一定値以下であるか否かを判別する(ス
テツプS4)。ピークレベルVpが第9図に示すよう
に、所定レベルよりも一定値ΔV以下である場合
(Vp<V−ΔV)には、光量制御部48がLED6
の発光量を増加させる(ステツプS5)。ピークレ
ベルVpと所定レベルVとの差が|Vp−V|<
ΔVである場合には、指標像信号のレベルが適切
であるとして、次にボトムレベルVbを検出する
(ステツプS6)。スライスレベル設定部47は、
このボトムレベルVbとピークレベルVpとに基づ
いて最適スライスレベルVsを決定する(ステツ
プS7)。ここでは、この最適スライスレベルVsは
ボトムレベルVbとピークレベルVpとを算術平均
して求めるものである。この最適スライスレベル
Vsが矩形波変換部40aに入力され、矩形波変
換部40aにより矩形波変換信号Bが生成され、
この矩形波変換信号Bが信号処理部40に入力さ
れ、指標像信号検出が行われる(ステツプS8)。
これにより、矩形波信号Bの平均間隔lが求めら
れて、屈折力が演算され(ステツプS9)、測定が
終了するまでこれが繰り返され(ステツプS10)、
球面度数、屈折度数、乱視軸(S、C、A)が測
定される。
First, the peak detection section 44 detects the peak level Vp in an analog manner (step S1). Next, it is determined whether the difference between this peak level Vp and the predetermined level V is greater than or equal to a certain value (step
S2). As shown in FIG. 8, when the peak level Vp is more than a certain value ΔV than the predetermined level V
>V+ΔV), the light amount control unit 48 decreases the amount of light emitted from the LED 6 and repeats this (step
S3). Next, the peak level Vp and the predetermined level V
It is determined whether the difference is less than a certain value (step S4). As shown in FIG. 9, when the peak level Vp is less than a certain value ΔV than the predetermined level (Vp<V−ΔV), the light amount control unit 48 controls the LED 6.
The amount of light emitted is increased (step S5). The difference between the peak level Vp and the predetermined level V is |Vp−V|<
If ΔV, it is assumed that the level of the index image signal is appropriate, and then the bottom level Vb is detected (step S6). The slice level setting section 47 is
The optimum slice level Vs is determined based on the bottom level Vb and the peak level Vp (step S7). Here, the optimum slice level Vs is determined by the arithmetic mean of the bottom level Vb and the peak level Vp. This optimal slice level
Vs is input to the rectangular wave converter 40a, and the rectangular wave converter 40a generates a rectangular wave converted signal B,
This rectangular wave converted signal B is input to the signal processing section 40, and index image signal detection is performed (step S8).
As a result, the average interval l of the rectangular wave signal B is determined, the refractive power is calculated (step S9), and this is repeated until the measurement is completed (step S10).
Spherical power, refractive power, and astigmatic axes (S, C, A) are measured.

次に、第11図〜第16図を参照しつつ本発明
に係る眼科器械の第2実施例を説明する。
Next, a second embodiment of the ophthalmological instrument according to the present invention will be described with reference to FIGS. 11 to 16.

この実施例では、ピーク検出部44とボトム検
出部46とが共通のカウンタ49から構成され、
比較部45が制御演算部50から構成されてい
る。カウンタ49には、矩形波変換部40aの矩
形波信号Bが入力されている。このカウンタ49
は出力端子Qa,Qbを有している。制御演算部5
0にはカウンタ49の出力が入力されれている。
この制御演算部50はカウンタ49の出力に応じ
て種々の制御をするもので、第12図に符号a〜
kで示すスライスレベルをスライスレベル設定部
47に設定させる機能を有すると共に、光量制御
部48に光量制御信号を出力する機能を有する。
カウンタ49は、矩形波変換信号によつてその出
力端子Qa,Qbの出力が制御されるもので、その
詳細は、この第2実施例の作用と共に説明する。
In this embodiment, the peak detection section 44 and the bottom detection section 46 are composed of a common counter 49,
The comparison section 45 is composed of a control calculation section 50. The counter 49 receives the rectangular wave signal B from the rectangular wave converter 40a. This counter 49
has output terminals Qa and Qb. Control calculation unit 5
The output of the counter 49 is input to 0.
This control calculation section 50 performs various controls according to the output of the counter 49, and is designated by symbols a to a in FIG. 12.
It has a function of causing the slice level setting section 47 to set a slice level indicated by k, and a function of outputting a light amount control signal to the light amount control section 48.
The counter 49 has its output terminals Qa and Qb controlled by a rectangular wave conversion signal, and its details will be explained together with the operation of this second embodiment.

スライスレベル設定部47は、制御演算部50
の制御によつてスライスレベルk〜aを設定す
る。このスライスレベルk〜aにより指標像信号
Aがスライスされるものである。たとえば、第1
3図に示すように被検眼の眼底からの反射光量が
少ない場合には指標像信号の出力が小さく、スラ
イスレベルkにおいては指標像信号がスライスさ
れないので、矩形波信号は出力されず、カウンタ
49の出力端子Qa,Qbの出力は、L、Lとな
る。このスライスレベル設定部47のスライスレ
ベルをkからaまで繰り返す(ステツプS11)。
スライスレベルk−fの間は、カウンタ49の出
力端子Qa,Qbの出力は、L、Lであり、スライ
スレベルeでは、カウンタ49の出力端子Qaの
出力がQa=Hとなり、カウンタ49の出力端子
Qbの出力がQb=Lとなり、スライスレベルd〜
bの間はカウンタ49の出力端子Qaの出力がQa
=Lとなり、カウンタ49の出力端子Qbの出力
がQb=Hとなり、スライスレベルaでは、カウ
ンタ49の出力端子Qaの出力がQa=Hとなり、
カウンタ49の出力端子Qbの出力がQb=Lとな
る(ステツプS12)。スライスレベルk−aのう
ち、カウンタ49の出力端子Qaの出力がQa=
L、出力端子Qb=Hとなるスライスレベルd〜
bの間のうち最大レベルであるスライスレベルd
が、ピークレベルとみなされる。次に、制御演算
部50はこのカウンタ49の出力が所定レベルk
と所定レベルjとの間にあるか否かを判別する。
すなわち、最大スライスレベルがa〜iの範囲内
にあるか否かを先ず判別する(ステツプS13)。
そして、最大スライスレベルがjであるか否かを
判別する(ステツプS14)。最大スライスレベル
がa〜jの範囲にある場合には反射光量が不足し
ているのであるから、制御演算部50は光量制御
部48に向かつて光量を増大させる信号を出力す
る(ステツプ15)。これにより、反射光量が増大
し、第14図に示すように指標像信号の出力レベ
ルが上昇する。この出力レベルが上昇しすぎた場
合には、スライスレベルkにおいても、カウンタ
49の出力端子Qa,Qbの出力が、Qa=L、Qb
=Hとなる。制御演算部50は、このカウンタ4
9の出力に基づいてスライスレベルkにおいて、
カウンタ49の出力端子Qa,Qbの出力が、Qa=
L、Qb=Hであるか否かを判別する(ステツプ
16)。スライスレベルkにおいて、カウンタ49
の出力端子Qa,Qbの出力が、Qa=L、Qb=H
である場合には、反射光量が大きすぎるのである
から、制御演算部50は光量制御部48に向かつ
て光量を減少させるように信号を出力する(ステ
ツプS17)。第15図に示すようにスライスレベ
ルkにおいて、カウンタ49の出力端子Qa,Qb
の出力が、Qa=L、Qb=Lであり、スライスレ
ベルjにおいて、カウンタ49の出力端子Qa,
Qbの出力が、Qa=L、Qb=Hである場合には、
反射光量が適正レベルにあるとみなして、次に最
小スライスレベルVmの検出を行う(ステツプ
S19)。この最小スライスレベルVmは、スライス
レベルをkからaまで順に変化させてカウンタ4
9の出力端子Qa,Qbの出力が、Qa=L、Qb=
Hとなるもののうち最小のものを最小スライスレ
ベルとして検出するものである。第15図では、
スライスレベルbが最小スライスレベルVmとな
つている。この最小スライスレベルVmと最大ス
ライスレベルとに基づいて最適スライスレベル
Vsを演算する(ステツプS20)。この最適スライ
スレベルVsにより指標像信号をスライスし、こ
れにより、矩形波信号を生成して指標像信号検出
部40bに入力し、指標像位置検出を行う(ステ
ツプS21)。そして、屈折力を演算し、その結果
をプリントアウトする(ステツプS22)。測定が
終了したか否かを判別して測定が終了するまでこ
れを繰り返す(ステツプS23)。
The slice level setting section 47 is connected to the control calculation section 50.
The slice levels k to a are set by the control. The index image signal A is sliced according to the slice levels k to a. For example, the first
As shown in FIG. 3, when the amount of reflected light from the fundus of the eye to be examined is small, the output of the index image signal is small, and the index image signal is not sliced at slice level k, so no square wave signal is output and the counter 49 The outputs of the output terminals Qa and Qb are L and L. The slice level set by the slice level setting section 47 is repeated from k to a (step S11).
During slice levels k-f, the outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 are L and L, and at the slice level e, the output of the output terminal Qa of the counter 49 becomes Qa=H, and the output of the counter 49 terminal
The output of Qb becomes Qb=L, and the slice level d~
During b, the output of the output terminal Qa of the counter 49 is Qa.
=L, the output of the output terminal Qb of the counter 49 becomes Qb=H, and at slice level a, the output of the output terminal Qa of the counter 49 becomes Qa=H,
The output of the output terminal Qb of the counter 49 becomes Qb=L (step S12). Of the slice level ka, the output of the output terminal Qa of the counter 49 is Qa=
L, slice level d~ at which output terminal Qb=H
slice level d, which is the maximum level between b
is considered the peak level. Next, the control calculation section 50 sets the output of this counter 49 to a predetermined level k.
and a predetermined level j.
That is, it is first determined whether the maximum slice level is within the range of a to i (step S13).
Then, it is determined whether the maximum slice level is j (step S14). If the maximum slice level is in the range a to j, the amount of reflected light is insufficient, so the control calculation section 50 outputs a signal to the light amount control section 48 to increase the amount of light (step 15). As a result, the amount of reflected light increases, and the output level of the index image signal increases as shown in FIG. If this output level rises too much, even at slice level k, the outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 will be changed to Qa=L, Qb
=H. The control calculation unit 50
At slice level k based on the output of 9,
The outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 are Qa=
Determine whether L, Qb=H or not (step
16). At slice level k, counter 49
The outputs of the output terminals Qa and Qb are Qa=L, Qb=H
If so, the amount of reflected light is too large, and the control calculation section 50 outputs a signal to the light amount control section 48 to reduce the amount of light (step S17). As shown in FIG. 15, at slice level k, the output terminals Qa and Qb of the counter 49
The outputs of the counter 49 are Qa=L and Qb=L, and at the slice level j, the output terminals Qa,
If the output of Qb is Qa=L and Qb=H, then
Assuming that the amount of reflected light is at an appropriate level, the next step is to detect the minimum slice level Vm.
S19). This minimum slice level Vm is determined by changing the slice level from k to a in order.
The outputs of output terminals Qa and Qb of 9 are Qa=L, Qb=
The minimum slice level among those resulting in H is detected as the minimum slice level. In Figure 15,
Slice level b is the minimum slice level Vm. The optimal slice level based on this minimum slice level Vm and the maximum slice level
Calculate Vs (step S20). The index image signal is sliced at this optimum slice level Vs, thereby generating a rectangular wave signal, which is input to the index image signal detecting section 40b to detect the index image position (step S21). Then, the refractive power is calculated and the result is printed out (step S22). It is determined whether the measurement is completed or not, and this process is repeated until the measurement is completed (step S23).

なお、第17図に示すように指標像信号の谷間
に第3のピーク信号がニジミ、信号雑音等によつ
て生ずることがあるが、その時にはカウンタ49
の出力端子Qa,Qbの出力がQa=H、Qb=Hと
なり、谷間に2個のピーク信号が生じた場合には
カウンタ49の出力端子Qa,Qbの出力がQa=
L、Qb=Lとなり、谷間に3個のピーク信号が
生じた場合にはカウンタ49の出力端子Qa,Qb
の出力がQa=H、Qb=Lとなり、谷間に4個の
ピーク信号が生じた場合にはカウンタ49の出力
端子Qa,Qbの出力がQa=L、Qb=Hとなり、
4個のピークが谷間に生じたときは谷間に全くピ
ークが生じていない場合と同じ結果になつてこの
誤差を含むことになるが、谷間に4個以上のピー
クが生じることはほとんど問題とならない。
Note that, as shown in FIG. 17, a third peak signal may occur in the valley of the index image signal due to blurring, signal noise, etc. In that case, the counter 49
The outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 become Qa=H and Qb=H, and when two peak signals occur in the valley, the outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 become Qa=H and Qb=H, respectively.
L, Qb=L, and when three peak signals occur in the valley, the output terminals Qa, Qb of the counter 49
When the output of the counter 49 becomes Qa=H and Qb=L, and four peak signals occur in the valley, the outputs of the output terminals Qa and Qb of the counter 49 become Qa=L and Qb=H,
When four peaks occur in a valley, the result is the same as when no peaks occur in the valley, and this error will be included, but there is almost no problem when four or more peaks occur in the valley. .

(発明の効果) 本発明に係る眼科器械は、以上説明したよう
に、光源部を含んで該光源部からの射出光に基づ
いて複数の指標を被検眼眼底に投影する投影光学
系と、 前記投影光学系によつて投影された指標の被検
眼眼底における反射光を検出する検出光学系と、 該検出光学系によつて検出された反射光を受光
して複数個の指標像信号を含んだ光電変換信号を
出力する光電変換部と、 前記複数の指標像信号のピークレベルを検出す
るピーク検出部と、 該ピーク検出部により検出されたピークレベル
を所定レベルと比較してその結果を出力する比較
部と、 該比較部の出力を受けて前記ピークレベルが所
定レベルとなるように前記光源の光量を制御する
光量制御部と、 前記複数の指標像信号の谷底をボトムレベルと
して検出するボトムレベル検出部と、前記比較部
から出力される前記ピークレベルと前記所定レベ
ルとが略一致した場合、前記ピークレベルと前記
ボトムレベルとに基づいて最適スライスレベルを
設定するスライスレベル設定部と、 前記スライスレベルに基づいて前記光電変換信
号を矩形波に変換し、矩形波信号を出力する矩形
波変換部と、 前記矩形波信号を受け取つて信号処理を施す信
号処理部と、を有する構成であるから、被検眼の
反射光量に基づいて投影光量を適正に調節し、検
出に適したレベルの被評像信号が得られると共に
適切なスレツシヨルドレベルによつて正確な視標
像位置が得られることにより正しい測定が行える
という効果を奏する。
(Effects of the Invention) As explained above, the ophthalmological instrument according to the present invention includes: a projection optical system that includes a light source section and projects a plurality of indicators onto the fundus of the examinee's eye based on light emitted from the light source section; a detection optical system that detects reflected light on the fundus of the subject's eye of the index projected by the projection optical system; and a detection optical system that receives the reflected light detected by the detection optical system and includes a plurality of index image signals. a photoelectric conversion unit that outputs a photoelectric conversion signal; a peak detection unit that detects peak levels of the plurality of index image signals; and a peak detection unit that compares the peak level detected by the peak detection unit with a predetermined level and outputs the result. a comparison section; a light amount control section that receives the output of the comparison section and controls the amount of light from the light source so that the peak level becomes a predetermined level; and a bottom level that detects the bottom of the plurality of index image signals as a bottom level. a slice level setting unit that sets an optimal slice level based on the peak level and the bottom level when the peak level output from the detection unit and the comparison unit substantially matches the predetermined level; Since the configuration includes a rectangular wave converter that converts the photoelectric conversion signal into a rectangular wave based on the level and outputs the rectangular wave signal, and a signal processing unit that receives the rectangular wave signal and performs signal processing, By appropriately adjusting the amount of projected light based on the amount of reflected light from the subject's eye, an image signal to be evaluated at a level suitable for detection can be obtained, and an accurate target image position can be obtained by setting an appropriate threshold level. This has the effect of allowing accurate measurements to be made.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図、第2図は従来技術の不具合を説明する
ための説明図であつて指標像信号とスライスレベ
ルとの関係を示す図、第3図は本発明に係る眼科
器械の眼屈折力測定装置の光学系を示す図、第4
図は第3図に示す測定指標板の構成を示す斜視
図、第5図、第6図は指標像の間隔を説明するた
めの図、第7図は、本発明に係る眼科器械の第1
実施例の制御ブロツク図、第8図、第9図は第1
実施例に係る指標像信号とスライスレベルとの関
係を示す図、第10図は第1実施例に示す眼科器
械のフローチヤート、第11図〜第16図は本発
明に係る眼科器械の第2実施例を示す図であつ
て、第11図はその回路図、第12図〜第15図
は本発明に係る眼科器械の作用を説明するための
指標像信号とスライスレベルとの関係を示す図、
第16図は第2実施例に示す眼科器械のフローチ
ヤート、第17図は第2実施例の作用を補足説明
するための説明図である。 1……投影光学系、2……被検眼、3……検出
光学系、4……撮像装置、6……LED、8……
指標板、40……信号処理部、44……ピーク検
出部、45……比較部、46……ボトム検出部、
47……スライスレベル設定部、48……光量制
御部、40a……矩形波変換部、A……指標像信
号、B……矩形波信号、a〜k……スライスレベ
ル、Vs……最適スライスレベル、Vp……ピーク
レベル、Vb……ボトムレベル、V……所定レベ
ル。
FIG. 1 and FIG. 2 are explanatory diagrams for explaining the problems of the prior art and are diagrams showing the relationship between the index image signal and the slice level, and FIG. 3 is a diagram for measuring the eye refractive power of the ophthalmological instrument according to the present invention. Diagram showing the optical system of the device, No. 4
The figure is a perspective view showing the structure of the measurement index plate shown in FIG. 3, FIGS. 5 and 6 are diagrams for explaining the intervals between index images, and FIG.
The control block diagrams of the embodiment, FIGS. 8 and 9, are shown in FIG.
FIG. 10 is a flowchart of the ophthalmological instrument according to the first embodiment, and FIGS. 11 to 16 are diagrams showing the relationship between the index image signal and the slice level according to the present invention. 11 is a circuit diagram thereof, and FIGS. 12 to 15 are diagrams showing the relationship between an index image signal and a slice level for explaining the operation of the ophthalmological instrument according to the present invention. ,
FIG. 16 is a flowchart of the ophthalmological instrument shown in the second embodiment, and FIG. 17 is an explanatory diagram for supplementary explanation of the operation of the second embodiment. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Projection optical system, 2... Eye to be examined, 3... Detection optical system, 4... Imaging device, 6... LED, 8...
Indicator plate, 40...signal processing section, 44...peak detection section, 45...comparison section, 46...bottom detection section,
47...Slice level setting section, 48...Light amount control section, 40a...Square wave conversion section, A...Target image signal, B...Square wave signal, a to k...Slice level, Vs...Optimum slice Level, Vp...Peak level, Vb...Bottom level, V...Predetermined level.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 光源部を含んで該光源部からの射出光に基づ
いて複数の指標を被検眼眼底に投影する投影光学
系と、 前記投影光学系によつて投影された指標の被検
眼眼底における反射光を検出する検出光学系と、 該検出光学系によつて検出された反射光を受光
して複数個の指標像信号を含んだ光電変換信号を
出力する光電変換部と、 前記複数の指標像信号のピークレベルを検出す
るピーク検出部と、 該ピーク検出部により検出されたピークレベル
を所定レベルと比較してその結果を出力する比較
部と、 該比較部の出力を受けて前記ピークレベルが所
定レベルとなるように前記光源の光量を制御する
光量制御部と、 前記複数の指標像信号の谷底をボトムレベルと
して検出するボトムレベル検出部と、 前記比較部から出力される前記ピークレベルと
前記所定レベルとが略一致した場合、前記ピーク
レベルと前記ボトムレベルとに基づいて最適スラ
イスレベルを設定するスライスレベル設定部と、 前記スライスレベルに基づいて前記光電信号を
矩形波に変換し、矩形波信号を出力する矩形波変
換部と、 前記矩形波信号を受け取つて信号処理を施す信
号処理部と、 を有することを特徴とする光量調整機能付き眼科
器械。 2 前記ピーク検出部と前記ボトム検出部とは、
前記光電変換部に接続されて、光電変換信号が入
力され、前記ピーク検出部がアナログ的に前記指
標像信号のピークを検出する構成となつているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光
量調整機能付き眼科器械。 3 前記ピーク検出部と前記ボトム検出部とは前
記矩形波変換部の出力が入力される共通のカウン
タから構成され、かつ、前記比較部は前記スライ
スレベルを設定させると共に光量制御部を制御す
る制御演算部から構成され、前記スライスレベル
設定部は前記ピークレベル又は前記ボトムレベル
の検出の際にスライスレベルが順次変化され、前
記カウンタと前記制御演算部とが協動して前記ス
ライスレベル設定部に最適スライスレベルを設定
させることを特徴とする特許請求の範囲第1項に
記載の光量調整機能付き眼科器械。
[Scope of Claims] 1. A projection optical system that includes a light source section and projects a plurality of indices onto the fundus of the subject's eye based on light emitted from the light source section; a detection optical system that detects reflected light on the fundus; a photoelectric conversion unit that receives the reflected light detected by the detection optical system and outputs a photoelectric conversion signal including a plurality of index image signals; a peak detection section that detects peak levels of a plurality of index image signals; a comparison section that compares the peak level detected by the peak detection section with a predetermined level and outputs the result; and a comparison section that receives the output of the comparison section. a light amount control unit that controls the light amount of the light source so that the peak level becomes a predetermined level; a bottom level detection unit that detects the bottom of the plurality of index image signals as a bottom level; a slice level setting unit that sets an optimal slice level based on the peak level and the bottom level when the peak level and the predetermined level substantially match; and converting the photoelectric signal into a rectangular wave based on the slice level. An ophthalmological instrument with a light amount adjustment function, comprising: a rectangular wave conversion unit that outputs a rectangular wave signal; and a signal processing unit that receives the rectangular wave signal and performs signal processing. 2 The peak detection section and the bottom detection section are:
Claim 1, characterized in that it is connected to the photoelectric conversion section to receive a photoelectric conversion signal, and the peak detection section detects the peak of the index image signal in an analog manner. An ophthalmological instrument with a light intensity adjustment function described in . 3. The peak detection section and the bottom detection section are composed of a common counter into which the output of the rectangular wave conversion section is input, and the comparison section sets the slice level and controls the light amount control section. The slice level setting section sequentially changes the slice level upon detection of the peak level or the bottom level, and the counter and the control calculation section cooperate to set the slice level setting section. The ophthalmological instrument with a light amount adjustment function according to claim 1, wherein an optimum slice level is set.
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