JPH055309B2 - - Google Patents
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- JPH055309B2 JPH055309B2 JP60271889A JP27188985A JPH055309B2 JP H055309 B2 JPH055309 B2 JP H055309B2 JP 60271889 A JP60271889 A JP 60271889A JP 27188985 A JP27188985 A JP 27188985A JP H055309 B2 JPH055309 B2 JP H055309B2
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- Japan
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は受光素子が出力する指向光電流の大小
により受光素子を選別する装置に関する。
により受光素子を選別する装置に関する。
従来、受光素子を選別するには、受光素子の受
光面に対し垂直前方位置から光源より発した光を
照射し、その光を受けて受光素子が出力する指向
光電流を測定し、この測定値の大小によつて受光
素子を選別していた。
光面に対し垂直前方位置から光源より発した光を
照射し、その光を受けて受光素子が出力する指向
光電流を測定し、この測定値の大小によつて受光
素子を選別していた。
本来、受光素子は光があらゆる方向から照射さ
れても受光面積の大きさに応じた一定の指向光電
流を発生するものであるが、受光素子の表面や内
部に汚れや気泡等があると、その値は小さくな
る。つまり、光電流が光の照射される方向によつ
て不均一となり、またこれらの発生する箇所は不
定である。そのため、受光素子の表面に垂直方向
からのみの測定では光電流不足の製品を取り除け
ないという欠点があつた。
れても受光面積の大きさに応じた一定の指向光電
流を発生するものであるが、受光素子の表面や内
部に汚れや気泡等があると、その値は小さくな
る。つまり、光電流が光の照射される方向によつ
て不均一となり、またこれらの発生する箇所は不
定である。そのため、受光素子の表面に垂直方向
からのみの測定では光電流不足の製品を取り除け
ないという欠点があつた。
本発明の目的は、光電流不足の受光素子、特に
表面や内部の汚れや気泡の存在によつて光電流に
不足を生ずる受光素子を確実に取り除く選別装置
を提供することになる。
表面や内部の汚れや気泡の存在によつて光電流に
不足を生ずる受光素子を確実に取り除く選別装置
を提供することになる。
上記目的を達成するため、本発明による受光素
子の指向光電流選別装置においては、複数の光源
と、テスターと、ハンドラとを有し、受光素子の
良否を判定して選別する受光素子の指向光電流選
別装置であつて、 複数の光源は、受光素子の受光面に対して垂直
方向の定位置と、垂直方向から一定の角度をなし
て少なくとも一軸方向の対称位置とにそれぞれ配
置されたものであり、 テスターは、受光素子に接続され、各光源から
の光を受光して出力する受光素子の指向光電流か
ら光電流分布を測定し、その形状から受光素子の
受光面の均一性について、良否の程度を判断する
ものであり、 ハンドラーは、テスターの判断に基づき、受光
素子を分類、仕分けするものである。
子の指向光電流選別装置においては、複数の光源
と、テスターと、ハンドラとを有し、受光素子の
良否を判定して選別する受光素子の指向光電流選
別装置であつて、 複数の光源は、受光素子の受光面に対して垂直
方向の定位置と、垂直方向から一定の角度をなし
て少なくとも一軸方向の対称位置とにそれぞれ配
置されたものであり、 テスターは、受光素子に接続され、各光源から
の光を受光して出力する受光素子の指向光電流か
ら光電流分布を測定し、その形状から受光素子の
受光面の均一性について、良否の程度を判断する
ものであり、 ハンドラーは、テスターの判断に基づき、受光
素子を分類、仕分けするものである。
各光源からの光を受光素子に受光させて、各々
の光源からの光による指向光電流を測定すると、
受光素子の受光面が正常であるときには、光電流
分布には、左右対称形の正規分布形状が得られ
る。受光面の一部に汚れ又は気泡があるときに
は、その部分に入射した光量が減じて光電流分布
形状は正規分布形状から崩れる。光電流分布形状
及びその大きさから受光素子の良否や、受光面の
均一性について、良否を判断する。
の光源からの光による指向光電流を測定すると、
受光素子の受光面が正常であるときには、光電流
分布には、左右対称形の正規分布形状が得られ
る。受光面の一部に汚れ又は気泡があるときに
は、その部分に入射した光量が減じて光電流分布
形状は正規分布形状から崩れる。光電流分布形状
及びその大きさから受光素子の良否や、受光面の
均一性について、良否を判断する。
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
第１図ａ，ｂ，ｃにおいて本発明装置は受光素
子６の受光面６ａに対する垂直前方位置に設置す
る光源１と、受光素子６を中心として光源１を通
る同一周上に一し、受光素子６と光源１とを結ぶ
線に対し上下左右に30℃ずれた位置に各々設置す
る光源２，３，４，５と、光源１〜５からの光を
受光して受光素子６が出力する指向光電流を測定
するテスター７と、テスター７からの測定値を受
けてその値の大小によつて受光素子６を収納箱８
に分類、仕分けするハンドラ９とを有する。
子６の受光面６ａに対する垂直前方位置に設置す
る光源１と、受光素子６を中心として光源１を通
る同一周上に一し、受光素子６と光源１とを結ぶ
線に対し上下左右に30℃ずれた位置に各々設置す
る光源２，３，４，５と、光源１〜５からの光を
受光して受光素子６が出力する指向光電流を測定
するテスター７と、テスター７からの測定値を受
けてその値の大小によつて受光素子６を収納箱８
に分類、仕分けするハンドラ９とを有する。
実施例において、前方位置及びこれからずれた
一の光源１〜５からの光を受光して受光素子６の
受光面６ａに照射した場合、受光素子６が正常で
あれば、その光電流分布は第２図ａのようにな
り、一方異常であれば、例えば第２図ｂにおい
て、斜線部分は受光素子６の表面の汚れや気泡が
原因して、光電流が光源の角度により小さくなつ
たことを示す。
一の光源１〜５からの光を受光して受光素子６の
受光面６ａに照射した場合、受光素子６が正常で
あれば、その光電流分布は第２図ａのようにな
り、一方異常であれば、例えば第２図ｂにおい
て、斜線部分は受光素子６の表面の汚れや気泡が
原因して、光電流が光源の角度により小さくなつ
たことを示す。
したがつて、受光素子６表面に垂直な位置に設
置した光源１と、これに対し30ずれた位置に設置
した光源２，３，４，５から順次光を照射し、そ
のとき受光素子６が発生する光電流をテスター７
で測定し、第２図ａ，ｂの特性に基づいてその値
の大きさにより受光素子６の良否を判定し、ハン
ドラ９により素子６を収納箱８に区分する。
置した光源１と、これに対し30ずれた位置に設置
した光源２，３，４，５から順次光を照射し、そ
のとき受光素子６が発生する光電流をテスター７
で測定し、第２図ａ，ｂの特性に基づいてその値
の大きさにより受光素子６の良否を判定し、ハン
ドラ９により素子６を収納箱８に区分する。
以上説明したように本発明は受光素子表面と垂
直な位置以外にも光源を設置し、それらによる光
電流を測定するテスターと、測定物を自動的に送
り出し、光電流値の大きさで区分した製品を収納
する機能を持つたハンドラとを有するため、表面
や内部気泡による光電流の変動をきたす不良の受
光素子を確実に選別してこれを分類することがで
きる効果を有するものである。
直な位置以外にも光源を設置し、それらによる光
電流を測定するテスターと、測定物を自動的に送
り出し、光電流値の大きさで区分した製品を収納
する機能を持つたハンドラとを有するため、表面
や内部気泡による光電流の変動をきたす不良の受
光素子を確実に選別してこれを分類することがで
きる効果を有するものである。
第１図ａは本発明の一実施例を示す構成図、ｂ
は受光素子と光源との関係を示す正面図、ｃは同
側面図、第２図ａ，ｂは光電流の正常な製品と異
常な製品の光照射角度に対する特性図である。 １〜５……光源、６……受光素子、７……テス
ター、９……ハンドラ。
は受光素子と光源との関係を示す正面図、ｃは同
側面図、第２図ａ，ｂは光電流の正常な製品と異
常な製品の光照射角度に対する特性図である。 １〜５……光源、６……受光素子、７……テス
ター、９……ハンドラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数の光源と、テスターと、ハンドラとを有
し、受光素子の良否を判定して選別する受光素子
の指向光電流選別装置であつて、 複数の光源は、受光素子の受光面に対して垂直
方向の定位置と、垂直方向から一定の角度をなし
て少なくとも一軸方向の対称位置とにそれぞれ配
置されたものであり、 テスターは、受光素子に
接続され、各光源からの光を受光して出力する受
光素子の指向光電流から光電流分布を測定し、そ
の形状から受光素子の受光面の均一性について、
良否の程度を判断するものであり、 ハンドラーは、テスターの判断に基づき、受光
素子を分類、仕分けするものであることを特徴と
する受光素子の指向光電流選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27188985A JPS62130365A (ja) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | 受光素子の指向光電流選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27188985A JPS62130365A (ja) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | 受光素子の指向光電流選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62130365A JPS62130365A (ja) | 1987-06-12 |
| JPH055309B2 true JPH055309B2 (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=17506307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27188985A Granted JPS62130365A (ja) | 1985-12-03 | 1985-12-03 | 受光素子の指向光電流選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62130365A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5749199B2 (ja) * | 2012-02-29 | 2015-07-15 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 指向性角度推測システム及び指向性角度推測方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5316282U (ja) * | 1976-07-22 | 1978-02-10 |
-
1985
- 1985-12-03 JP JP27188985A patent/JPS62130365A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5316282U (ja) * | 1976-07-22 | 1978-02-10 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62130365A (ja) | 1987-06-12 |
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Legal Events
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