JPH0549748B2 - - Google Patents

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JPH0549748B2
JPH0549748B2 JP10909085A JP10909085A JPH0549748B2 JP H0549748 B2 JPH0549748 B2 JP H0549748B2 JP 10909085 A JP10909085 A JP 10909085A JP 10909085 A JP10909085 A JP 10909085A JP H0549748 B2 JPH0549748 B2 JP H0549748B2
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JP
Japan
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sputtering
long sample
support
belt
sample
Prior art date
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JP10909085A
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Japanese (ja)
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JPS61266570A (en
Inventor
Katsuhide Manabe
Masatoshi Tsutsui
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Toyoda Gosei Co Ltd
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Toyoda Gosei Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 (産業上の利用分野) 本発明は布、フイルム等の長尺試料を送り出し
側から巻取り側へ垂立状態で案内してスパツタリ
ング処理を施すスパツタリング装置に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a sputtering device that performs sputtering treatment by guiding a long sample of cloth, film, etc. in a vertical state from a sending side to a winding side. It is something.

(従来の技術) 従来、布、フイルム等の長尺試料に金属調の光
輝処理を施す手段として主に横型スパツタリング
装置が用いられている。しかし、横型スパツタリ
ング装置では10-3Torr台の比較的低真空のスパ
ツタしかできないために長尺試料上の金属の色調
が黒ずむ、あるいは巻取り速度が遅い等の問題が
ある。そこで、このような問題を解消するために
円筒型ターゲツトを採用した縦型スパツタリング
装置を用いることが考えられた。この装置では長
尺試料を送り出し側から巻取り側へ垂立状態で案
内しつつこの垂立状態の長尺試料にスパツタリン
グ処理を施すものであるが、長尺試料を垂立状態
で案内する際には長尺試料の自重により送り出し
側と巻取り側との間の移動経路中において垂れ下
がり、これが原因となつて巻取り時に巻しわが発
生するおそれがある。そのため、従来の縦型スパ
ツタリング装置においては送り出し側から巻取り
側へ移動している長尺試料にテンシヨンをかけて
同長尺試料を緊張させることにより巻取り時の巻
しわ発生を防止する必要がある。
(Prior Art) Conventionally, a horizontal sputtering apparatus has been mainly used as a means for applying a metallic luster treatment to a long sample such as cloth or film. However, horizontal sputtering equipment can only sputter at a relatively low vacuum of 10 -3 Torr, which causes problems such as darkening of the metal color on the long sample and slow winding speed. Therefore, in order to solve this problem, it has been considered to use a vertical sputtering device that employs a cylindrical target. This device guides the long sample vertically from the sending side to the winding side and performs sputtering on the vertically long sample. In this case, due to the weight of the long sample, the long sample may sag during the moving path between the sending side and the winding side, and this may cause winding wrinkles to occur during winding. Therefore, in conventional vertical sputtering equipment, it is necessary to apply tension to the long sample moving from the feeding side to the winding side to tighten the long sample to prevent the occurrence of wrinkles during winding. be.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、ニツト等の伸縮性のある繊物、
極薄の生地あるいはフイルム等の長尺試料には前
記のようなテンシヨンをかけることのできないも
のがあり、長尺試料を垂立状態で案内してスパツ
タリング処理を施す従来の縦型スパツタリング装
置ではすべての長尺試料に対応できないという問
題がある。
(Problem to be solved by the invention) However, stretchable textiles such as knits,
Some long samples such as ultra-thin fabrics or films cannot be subjected to tension as described above, and conventional vertical sputtering equipment, which guides the long sample vertically and performs the sputtering process, cannot apply the tension as described above. There is a problem that it cannot handle long samples.

発明の構成 (問題点を解決するための手段) そこで本発明では、垂立状態でスパツタリング
室を案内される布、フイルム等の長尺試料の送り
出し側と巻取り側との間の前記長尺試料の移動経
路上に前記長尺試料の上端部を吊下して前記移動
経路上を循環移動する吊下手段を設けた。
Structure of the Invention (Means for Solving the Problems) Therefore, in the present invention, the long sample between the sending side and the winding side of a long sample of cloth, film, etc. that is guided through the sputtering chamber in an upright state. Suspension means was provided for suspending the upper end of the elongated sample on the sample movement path and circulating the sample on the movement path.

(作用) すなわち、スパツタリング室内を案内される長
尺試料は送り出し側において前記吊下手段により
上端部を係合吊下され、前記移動経路上を循環移
動する吊下手段とともに垂立状態で移動される。
スパツタリング室を吊下移動されてスパツタリン
グ処理を施された長尺試料は巻取り側において前
記吊下手段から解き放たれて巻取られる。送り出
し側と巻取り側との間の移動経路上において長尺
試料は吊下手段により吊下支持されることにより
自重で垂れ下がることはなく、テンシヨンをかけ
ない状態でも巻取り時に巻しわが寄ることはな
い。従つて、ニツト等の伸縮性のある織物、テン
シヨンをかけることのできない極薄の生地あるい
はフイルム等の長尺試料の場合でも垂立状態でス
パツタリング処理を施すことができる。
(Function) That is, the long sample guided in the sputtering chamber is suspended by the hanging means on the sending side by engaging the upper end thereof, and is moved vertically together with the hanging means circulating on the movement path. Ru.
The long sample that has been suspended in the sputtering chamber and subjected to the sputtering process is released from the hanging means on the winding side and is wound up. On the moving path between the sending side and the winding side, the long sample is suspended and supported by the hanging means, so it will not sag due to its own weight, and even when no tension is applied, the winding will wrinkle during winding. There isn't. Therefore, even in the case of long samples such as stretchable fabrics such as knits, extremely thin fabrics that cannot be tensioned, or films, the sputtering process can be performed in a vertical state.

(実施例) 以下、本発明を具体化した一実施例を第1〜4
図に基づいて説明する。
(Example) Hereinafter, examples 1 to 4 embodying the present invention will be described.
This will be explained based on the diagram.

スパツタリング装置本体1は、基台2と、同基
台2上に気密状態に載置されるケーシング3とか
ら構成されている。ケーシング3の上端部にはワ
イヤ4の一端側が連結されており、同ワイヤ4の
他端側が定滑車5を介してバランスウエイト6に
連結されている。第1,2図に示すようにケーシ
ング3の前面の近接位置にはガイドレール7が垂
直状態に立設されており、同レール7と対応して
ケーシング3の前面には回転子8がガイドレール
7と係合可能に回転自在に取り付けられている。
又、ケーシング3の後部には正逆転可能なモータ
9の駆動ギヤ9aと噛合するラツク10aを有す
る押上部材10が上下動可能に設けられており、
モータ9の作動により押上部材10が上下動さ
れ、これによりケーシング3が昇降されるように
なつている。同ケーシング3の昇降は前記バラン
スウエイト6の存在により容易かつ円滑に行われ
る。
The sputtering device main body 1 includes a base 2 and a casing 3 placed on the base 2 in an airtight manner. One end of a wire 4 is connected to the upper end of the casing 3, and the other end of the wire 4 is connected to a balance weight 6 via a fixed pulley 5. As shown in FIGS. 1 and 2, a guide rail 7 is vertically installed near the front surface of the casing 3, and a rotor 8 is mounted on the guide rail on the front surface of the casing 3 corresponding to the rail 7. It is rotatably attached to be able to engage with 7.
Further, at the rear of the casing 3, a push-up member 10 is provided so as to be movable up and down, and has a rack 10a that meshes with a drive gear 9a of a motor 9 that can be rotated in forward and backward directions.
The push-up member 10 is moved up and down by the operation of the motor 9, whereby the casing 3 is raised and lowered. The casing 3 can be moved up and down easily and smoothly due to the presence of the balance weight 6.

第2,3図に示すようにケーシング3内(以
下、スパツタリング室Sという)には陰極となる
有底円筒状のターゲツト11が吊下支持されてお
り、同ターゲツト11の少なくとも表面部がスパ
ツタリング用の金属で形成され、その内部空間に
はリング状の永久磁石12を所定間隔で嵌装され
た支持筒13が配設されている。支持筒13の下
部には外部から圧縮空気を供給されるベローズ1
4が配設されており、圧縮空気の供給排気により
支持筒13が上下動されるようになつている。タ
ーゲツト11の周囲には複数本(本実施例では8
本)の陽極15が配設されており、ターゲツト1
1と陽極15との間には50〜1000Vの直流電圧が
印加されるようになつている。
As shown in Figs. 2 and 3, a bottomed cylindrical target 11 serving as a cathode is suspended in the casing 3 (hereinafter referred to as sputtering chamber S), and at least the surface portion of the target 11 is used for sputtering. A support tube 13 is disposed in the inner space of the support tube 13, into which ring-shaped permanent magnets 12 are fitted at predetermined intervals. A bellows 1 is provided at the bottom of the support tube 13 and is supplied with compressed air from the outside.
4 is disposed, and the support tube 13 is moved up and down by the supply and exhaust of compressed air. There are multiple wires around the target 11 (8 in this example).
The anode 15 of the target 1
A DC voltage of 50 to 1000 V is applied between the anode 1 and the anode 15.

基台2上においてターゲツト11を中心として
その周囲には六角環状の支持フレーム16が配設
されており、同フレーム16の角部上に立設され
た複数本(本実施例では6本)の支持軸17,1
7Aの先端には前記支持フレーム16と同形同大
の支持フレーム18が支持されている。前記複数
の支持軸のうち支持軸17は下方の支持フレーム
16に固設されているとともに、上方の支持フレ
ーム18を固定支持しており、それらの上部には
プーリ17aが回動可能に取付けられている。残
りの支持軸17Aは基台2の裏面に装着された駆
動装置19により回転可能に支持されており、そ
の上部にはプーリ17bが固設されている。そし
て、各プーリ17a,17b間にはベルト20が
掛装されており、同ベルト20の外周面には多数
本の針20aが所定間隔で突設されている。又、
支持軸17Aの外方近傍には左右一対のガイドロ
ーラ21,22が上下両支持フレーム16,18
間において回動可能に立設支持されており、さら
に一方のガイドローラ22の近傍にはローラ23
が回動可能に立設支持されている。第4図に示す
ように両ガイドローラ21,22の上部周面には
前記ベルト20の位置と対応する位置に溝21
a,22aがそれぞれ形成されているとともに、
ベルト20がその張力により両ガイドローラ2
1,22の周面に圧接されており、前記針20a
は溝21a,22a内に導入されるようになつて
いる。
A hexagonal annular support frame 16 is arranged on the base 2 around the target 11, and a plurality of support frames (six in this embodiment) are installed on the corners of the frame 16. Support shaft 17,1
A support frame 18 having the same shape and size as the support frame 16 is supported at the tip of 7A. Among the plurality of support shafts, the support shaft 17 is fixed to the lower support frame 16 and also fixedly supports the upper support frame 18, and a pulley 17a is rotatably attached to the upper part of the support shaft 17. ing. The remaining support shaft 17A is rotatably supported by a drive device 19 mounted on the back surface of the base 2, and a pulley 17b is fixedly installed on the upper part of the drive device 19. A belt 20 is hung between each pulley 17a, 17b, and a large number of needles 20a are protruded from the outer peripheral surface of the belt 20 at predetermined intervals. or,
Near the outside of the support shaft 17A, a pair of left and right guide rollers 21, 22 are connected to both the upper and lower support frames 16, 18.
A roller 23 is rotatably supported between the guide rollers 22 and 23.
is rotatably supported upright. As shown in FIG. 4, grooves 21 are formed on the upper peripheral surfaces of both guide rollers 21 and 22 at positions corresponding to the positions of the belt 20.
a, 22a are formed respectively, and
Due to the tension of the belt 20, both guide rollers 2
The needles 20a are pressed against the peripheral surfaces of the needles 1 and 22.
are introduced into the grooves 21a and 22a.

前記ローラ21,22,23の前方のスパツタ
リング室S内には布、フイルム等の長尺試料24
を送り出す送り出しローラ25及び巻取りローラ
26が回動可能に立設されており、図示しない外
部駆動機構により回転駆動されるようになつてい
る。そして、送り出し用ローラ25から供給され
る長尺試料24はガイドローラ21と駆動軸17
Aとの間を案内されて各駆動軸17の外側を経由
し、ガイドローラ22と支持軸17Aとの間及び
ガイドローラ22とローラ23との間に導かれて
巻取りローラ26に巻取られる。
A long sample 24 of cloth, film, etc. is placed in the sputtering chamber S in front of the rollers 21, 22, 23.
A feed-out roller 25 and a take-up roller 26 are rotatably provided and are rotatably driven by an external drive mechanism (not shown). The elongated sample 24 fed from the feed roller 25 is moved between the guide roller 21 and the drive shaft 17.
A, the film passes through the outside of each drive shaft 17, is guided between the guide roller 22 and the support shaft 17A, and between the guide roller 22 and the roller 23, and is wound up on the winding roller 26. .

前記基台2にはスパツタリング室S内を減圧す
るためのポンプ27に接続されたパイプ28が接
続されており、ケーシング3に接続されたパイプ
29はバルブ30,31を介してアルゴンガスボ
ンベ32及び酸素ボンベ33に接続されている。
すなわち、スパツタリング室S内の所定の真空度
に減圧した後にアルゴンガスを送り込みつつ除々
に排出することにより、スパツタリング室S内が
低圧アルゴンガス雰囲気に保持され、この状態で
ターゲツト11及び陽極15間に直流高電圧を印
加することによりグロー放電が起こる。そして、
スパツタリング室S内のアルゴンガスが放電エネ
ルギーによりイオン化し、このアルゴンイオンが
ターゲツト11側へ加速されてターゲツト11に
衝突し、ターゲツト11の表面から金属が叩き出
されて放射状に飛散する。
A pipe 28 connected to a pump 27 for reducing the pressure inside the sputtering chamber S is connected to the base 2, and a pipe 29 connected to the casing 3 is connected to an argon gas cylinder 32 and oxygen via valves 30 and 31. It is connected to the cylinder 33.
That is, by reducing the pressure in the sputtering chamber S to a predetermined degree of vacuum and then gradually discharging argon gas while supplying the sputtering chamber S, the interior of the sputtering chamber S is maintained in a low-pressure argon gas atmosphere. Glow discharge occurs by applying a high DC voltage. and,
The argon gas in the sputtering chamber S is ionized by the discharge energy, and the argon ions are accelerated toward the target 11 and collide with the target 11, and metal is knocked out from the surface of the target 11 and scattered radially.

なお、スパツタリング室S内にアルゴンガスと
ともに酸素ガスボンベ33から酸素を供給し、ス
パツタリング室S内をアルゴン及び酸素の低圧混
合気雰囲気に保持した状態でターゲツト11と陽
極15との間に直流高電圧を印加すれば、前記と
同様にターゲツト11から叩き出された金属が直
ちに酸化され、酸化金属がスパツタリング室S内
を飛散する。
Note that oxygen is supplied from the oxygen gas cylinder 33 together with argon gas into the sputtering chamber S, and a high DC voltage is applied between the target 11 and the anode 15 while maintaining the sputtering chamber S in a low-pressure mixed atmosphere of argon and oxygen. When this voltage is applied, the metal ejected from the target 11 is immediately oxidized in the same manner as described above, and the oxidized metal is scattered within the sputtering chamber S.

さて、送り出しローラ25から送り出される長
尺試料24は支持軸17Aの回転駆動によりプー
リ17a,17bを結ぶ六角環状の経路を周回す
るベルト20とガイドローラ21との間に導入さ
れ、ベルト20外周面上の針20aがベルト20
とガイドローラ21との圧接作用により長尺試料
24の上端部に突き刺される。針20aを突き刺
された長尺試料24は前記六角環状の経路を周回
するベルト20に垂立状態に吊下された状態でベ
ルト20とともに支持軸17の周囲を案内され、
長尺試料24の内側にはターゲツト11から飛散
するスパツタリング金属が付着する。すなわち、
長尺試料24のスパツタリング処理は所定の循環
経路を周回するベルト20に垂立状態に吊下され
た状態で行われ、巻取り時において巻しわの原因
となる垂れ下がりは生じない。従つて、長尺試料
24にテンシヨンをかけることなく巻取るように
しても巻しわが生ずることはなく、ニツト等の伸
縮性織物、テンシヨンのかけられない極薄の生地
あるいはフイルム等のスパツタリング処理が可能
である。
Now, the long sample 24 sent out from the sending out roller 25 is introduced between the guide roller 21 and the belt 20 which goes around the hexagonal annular path connecting the pulleys 17a and 17b by the rotational drive of the support shaft 17A, and is introduced between the belt 20 and the guide roller 21, The upper needle 20a is the belt 20
The upper end of the elongated sample 24 is pierced by the pressure contact between the sample and the guide roller 21 . The long sample 24 pierced by the needle 20a is guided around the support shaft 17 together with the belt 20 in a vertically suspended state from the belt 20 that goes around the hexagonal annular path,
Sputtering metal scattered from the target 11 adheres to the inside of the long sample 24. That is,
The sputtering treatment of the long sample 24 is performed while it is suspended vertically from the belt 20 circulating in a predetermined circulation path, and no sagging that causes wrinkles occurs during winding. Therefore, even if the long sample 24 is wound without applying tension, no winding wrinkles will occur, and sputtering treatment of stretchable fabrics such as knits, ultra-thin fabrics that cannot be applied with tension, films, etc. It is possible.

又、本実施例のような構成のスパツタリング装
置においてはスパツタリング金属が付着する位置
に長尺試料24のガイドローラを配設していない
ため、スパツタリング金属の付着に起因するガイ
ドローラの高熱化が回避され、長尺試料24に悪
影響を与えることはない。
In addition, in the sputtering apparatus configured as in this embodiment, the guide roller for the long sample 24 is not disposed at the position where the sputtering metal adheres, so that the guide roller is prevented from becoming heated up due to the adhesion of the sputtering metal. Therefore, the long sample 24 is not adversely affected.

支持軸17の周囲を吊下案内される間に一面側
にスパツタリング処理を施された長尺試料24は
支持軸17Aとガイドローラ22との間に導入さ
れた後にローラ23により針20aから解き放た
れ、同ローラ23とガイドローラ22との間を経
由して巻取りローラ26に巻取られる。
The long sample 24, which has undergone sputtering treatment on one side while being suspended and guided around the support shaft 17, is introduced between the support shaft 17A and the guide roller 22, and then released from the needle 20a by the roller 23. , and is wound onto a winding roller 26 via between the same roller 23 and the guide roller 22.

なお、プーリ17a,17bを支持軸17,1
7Aに沿つて取付け位置調整可能に構成すること
によりベルト20の高さ位置を調整することがで
きるようになり、長尺試料24の幅に応じて長尺
試料24の吊下位置をスパツタリング処理に最も
適した位置に設定することができる。
Note that the pulleys 17a and 17b are connected to the support shafts 17 and 1.
By configuring the mounting position to be adjustable along line 7A, the height position of the belt 20 can be adjusted, and the hanging position of the long sample 24 can be adjusted according to the width of the long sample 24 during the sputtering process. It can be set in the most suitable position.

本発明はもちろん前記実施例のみに限定される
ものではなく、例えば第5図あるいは第6,7図
に示す実施例も可能である。
The present invention is, of course, not limited to the above-mentioned embodiments, but also includes the embodiments shown in FIG. 5 or 6 and 7, for example.

第5図に示す実施例では前記実施例と同様に長
尺試料24の上端部がベルト20に設けられた針
20aにより吊下支持されているとともに、長尺
試料24の下端部においても前記実施例の吊下手
段と同様のプーリ17c、ベルト34及び同ベル
ト34の外周面に設けられた針34aからなる支
持手段により支持されており、長尺試料24の垂
立状態の移動が一層スムーズに行われる。
In the embodiment shown in FIG. 5, the upper end of the elongated sample 24 is suspended and supported by the needle 20a provided on the belt 20, as in the previous embodiment, and the lower end of the elongated sample 24 is also It is supported by a support means consisting of a pulley 17c, a belt 34, and a needle 34a provided on the outer circumferential surface of the belt 34, similar to the suspension means in the example, and the vertical movement of the long sample 24 is made smoother. It will be done.

第6,7図に示す実施例では四角環状の下部支
持フレーム35の3つの角部に支持軸36が立設
されており、それらの上端には前記支持フレーム
35と同様の上部支持フレーム37が支持固定さ
れている。又、残りの角部において両支持フレー
ム35,37間には図示しない駆動装置により回
転駆動されるガイドローラ38,39が立設支持
されており、一方のガイドローラ39の近傍には
ローラ40が配設されている。そして、支持軸3
6の上部には傘歯車36aが回転可能に止着され
ているとともに、両ガイドローラ38,39の上
部には同様の傘歯車(図示略)が固設されてお
り、各傘歯車によりリング41が噛合回転可能に
支持されている。同リング41の外周面には多数
の針41aが所定間隔で設けられており、ガイド
ローラ38,39の上部周面に形成された溝38
a,39a内を通過可能となつている。すなわ
ち、両ガイドローラ38,39の回転駆動により
リング41がターゲツト11の周囲を回転され、
送り出しローラ25から送り出される長尺試料2
4の上端部がガイドローラ38とリング41との
間で針41aに突き刺され、回転するリング41
とともにターゲツト11の周囲を吊下案内され、
スパツタリング処理を施される。ターゲツト11
の周囲をほぼ1回転した後には長尺試料24はロ
ーラ40によりリング41からき剥がされ、巻取
りローラ26に巻取られる。
In the embodiment shown in FIGS. 6 and 7, support shafts 36 are erected at three corners of a square annular lower support frame 35, and an upper support frame 37 similar to the support frame 35 is provided at the upper end of the support shafts 36. Support is fixed. Furthermore, guide rollers 38 and 39 that are rotatably driven by a drive device (not shown) are erected and supported between the support frames 35 and 37 at the remaining corners, and a roller 40 is provided near one of the guide rollers 39. It is arranged. And support shaft 3
A bevel gear 36a is rotatably fixed to the upper part of the guide roller 6, and similar bevel gears (not shown) are fixed to the upper part of both guide rollers 38, 39, and each bevel gear rotates the ring 41. are supported so that they can engage and rotate. A large number of needles 41a are provided on the outer peripheral surface of the ring 41 at predetermined intervals, and grooves 38 formed on the upper peripheral surface of the guide rollers 38, 39
a, 39a can be passed through. That is, the ring 41 is rotated around the target 11 by the rotational drive of both guide rollers 38 and 39,
Long sample 2 sent out from the sending roller 25
The upper end of 4 is inserted into the needle 41a between the guide roller 38 and the ring 41, and the ring 41 rotates.
and is suspended and guided around the target 11,
Sputtering treatment is applied. Target 11
After making approximately one rotation around the circumference, the long sample 24 is peeled off from the ring 41 by the roller 40 and wound around the winding roller 26.

この実施例によればテンシヨンをかけられない
長尺試料にスパツタリング処理を施すことができ
るのはもちろんのこと、長尺試料24の内側には
スパツタリング金属の付着を妨げる部材がほとん
どないことによりスパツタリング処理の効率が向
上するという利点がある。
According to this embodiment, not only can the sputtering process be applied to a long sample that cannot be subjected to tension, but also the sputtering process can be performed because there are almost no members on the inside of the long sample 24 that prevent sputtering metal from adhering. This has the advantage of improving efficiency.

又、本発明では例えば第6,7図に示す実施例
においてリング41の外周面に針41aに代わり
に多数のクリツプを長尺試料の上端部を挾持可能
に取り付け、両ガイドローラ38,39間におい
てカム機構により前記クリツプを開放し、両ガイ
ドローラ38,39間以外においてクリツプを閉
じるようにすれば長尺試料を垂立状態に吊下支持
することが可能である。あるいは両ガイドローラ
38,39間以外のリング41の外周面にエンド
レスベルトを圧接することによつても長尺試料の
吊下が可能である。
Further, in the present invention, for example, in the embodiment shown in FIGS. 6 and 7, a number of clips are attached to the outer peripheral surface of the ring 41 instead of the needle 41a so as to be able to hold the upper end of the long sample, and the clips are attached between the guide rollers 38 and 39. By opening the clip using the cam mechanism and closing the clip except between the guide rollers 38 and 39, it is possible to suspend and support a long sample in an upright position. Alternatively, the long sample can also be suspended by pressing an endless belt against the outer peripheral surface of the ring 41 other than between the guide rollers 38 and 39.

発明の効果 以上詳述したように、長尺試料を垂立状態でス
パツタリング室を案内移動してスパツタリング処
理を施す本発明のスパツタリング装置によれば、
長尺試料にテンシヨンをかけることなく垂立状態
でスパツタリング処理を施しても巻取り時におい
て巻しわを生じないため、ニツト等の伸縮性織
物、テンシヨンのかけられない極薄の生地あるい
はフイルム等の長尺試料にテンシヨンをかけない
でスパツタリング処理を施すことができるという
優れた効果を奏する。
Effects of the Invention As detailed above, according to the sputtering apparatus of the present invention, which performs sputtering treatment by guiding a long sample vertically through the sputtering chamber,
Even if a long sample is sputtered in a vertical state without applying tension, no wrinkles will occur during winding, so it is suitable for use with stretchable fabrics such as knits, ultra-thin fabrics that cannot be tensioned, or films. This has the excellent effect of being able to perform sputtering treatment on a long sample without applying tension.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1〜4図は本発明を具体化した一実施例を示
し、第1図はスパツタリング装置全体を示す一部
破断正面図、第2図は第1図のA−A線拡大断面
図、第3図は第2図のB−B線断面図、第4図は
第2図のC−C線断面図、第5図は本発明の別例
を示す縦断面図、第6図はさらに別例を示す平断
面図、第7図は第6図のD−D線断面図である。 吊下手段を構成する支持軸17,17A、同じ
くプーリ17a,17b,17c、同じく駆動装
置19、同じくベルト20、同じく針20a、長
尺試料24、スパツタリング室S。
1 to 4 show an embodiment embodying the present invention, FIG. 1 is a partially cutaway front view showing the entire sputtering apparatus, FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along the line A-A in FIG. 3 is a sectional view taken along line B-B in FIG. 2, FIG. 4 is a sectional view taken along line C-C in FIG. 2, FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing another example of the present invention, and FIG. A plan sectional view showing an example, FIG. 7 is a sectional view taken along the line DD in FIG. 6. Support shafts 17, 17A constituting the hanging means, pulleys 17a, 17b, 17c, drive device 19, belt 20, needle 20a, long sample 24, sputtering chamber S.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 垂立状態でスパツタリング室を案内される
布、フイルム等の長尺試料の送り出し側と巻取り
側との間の前記長尺試料の移動経路上に前記長尺
試料の上端部を吊下して前記移動経路上を循環移
動する吊下手段を設けたことを特徴とするスパツ
タリング装置。 2 前記吊下手段は、スパツタリング室内のター
ゲツトを囲む複数本の支持軸及び1本の支持駆動
軸と、前記支持軸の上端部に回動可能に取り付け
られたプーリ及び回転駆動される支持駆動軸に固
着されたプーリと、各プーリに掛装されたベルト
と、同ベルトの外周面に設けられた多数本の針と
から構成されている特許請求の範囲第1項に記載
のスパツタリング装置。
[Scope of Claims] 1. A long sample of cloth, film, etc., which is guided through a sputtering chamber in a vertical state, is placed on the movement path of the long sample between the sending side and the winding side. A sputtering device characterized in that a hanging means is provided that suspends an upper end portion and moves cyclically on the movement path. 2. The hanging means includes a plurality of support shafts and one support drive shaft that surround the target in the sputtering chamber, a pulley rotatably attached to the upper end of the support shaft, and a support drive shaft that is rotatably driven. 2. The sputtering device according to claim 1, comprising: a pulley fixed to the pulley; a belt hung around each pulley; and a plurality of needles provided on the outer peripheral surface of the belt.
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